PDF version - Politechnika Śląska, Wydział Elektryczny
Transkrypt
PDF version - Politechnika Śląska, Wydział Elektryczny
ELEKTRYKA Zeszyt 2 (234) 2015 Rok LXI Artur SZEWCZUK, Marek BŁAHUT Katedra Optoelektroniki, Politechnika Śląska w Gliwicach MODEL CZUJNIKA ŚWIATŁOWODOWEGO NA BAZIE WIELOMODOWYCH STRUKTUR INTERFERENCYJNYCH Streszczenie. W pracy został zaprezentowany model czujnika światłowodowego na bazie wielomodowych struktur interferencyjnych. Analizowano teoretycznie struktury o gradientowym profilu współczynnika załamania uzyskanym w procesie wymiany jonowej K-Na. Przeprowadzoną analizę wykonano opierając się na numerycznej metodzie propagacji światła BPM (ang. beam propagation method). Otrzymane wyniki wykazują, że zmiana parametrów pokrycia sekcji MMI prowadzi do zmiany natężenia sygnału wyjściowego. Słowa kluczowe: czujnik światłowodowy, optoelektronika, interferencja międzymodowa MODEL OF WAVEGUIDE SENSOR BASED ON MULTIMODE INTERFERENCE STRUCTURES Summary. Model of sensor based on multimode interference structures is presented in the paper. The gradient index waveguide structures obtained in the K-Na ion-exchange process are analyzed theoretically. Analysis were carried out on the basis of a BPM method (beam propagation method). The obtained results show that changes of MMI section cladding parameters lead to changes in the output signal intensity. Keywords: waveguide sensor, optoelectronics, multimode interference 1. WPROWADZENIE Sensory wykonane w technologii optyki zintegrowanej mają wiele zalet. Przede wszystkim charakteryzują się małymi rozmiarami, są lekkie, odporne na zakłócenia elektromagnetyczne oraz cechują się bardzo szybką odpowiedzią [1, 2]. Ponadto sygnał sensorowy może być przesyłany za pomocą światłowodów, co w wielu przypadkach znacząco upraszcza konstrukcje i pozwala zastosować sieć czujników, która może monitorować różne parametry fizyczne z większego obszaru. 56 A. Szewczuk, M. Błahut Bardzo perspektywicznie przedstawia się możliwość rozwoju nowej klasy sensorów optycznych – wielomodowych światłowodowych czujników interferencyjnych. Pobudzając falowód wielomodowy, obserwujemy efekty dopasowywania pola wejściowego do pól modowych falowodu wielomodowego, a następnie interferencję powstałych fal. Interferencji międzymodowej towarzyszą efekty tzw. samoobrazowania pola wejściowego, pobudzającego falowód wielomodowy. W wyniku tych efektów pole wejściowe jest odtwarzane w obrazach prostych, odbitych i wielokrotnych. Zjawisko interferencji międzymodowej jest podstawą działania wielomodowych struktur interferencyjnych MMI (multimode interference structures) [3, 4]. Zmiany zewnętrznych warunków propagacji sygnału optycznego, wpływające na własności modowe sekcji MMI, mogą być rejestrowane w zmianach rozkładów pola w obrazie interferencyjnym. Sensory takie analizowane były w pracach [5-9] przez autorów publikacji. W pracy [5] analizowano wpływ geometrii i rozmiarów struktur MMI na otrzymywane charakterytyki pracy projektowanych czujników. Podobne rozważania, ale odnosząca się do cienkich warstw sensorowych o wysokim współczynniku załmania zostały przedstawione w artykule [6]. Pokazano, że przy zastosowaniu takiej konfiguracji otrzymuje się znacznie wyższe czułości, niż ma to miejsce w przypadku wcześniej rozważanych grubszych warstw pokrywających sekcję MMI. W pracach [7, 8] analizowano struktury MMI pokrywane cienkimi warstwami tlenków metali. W takich konfiguracjach wpływ na sygnał wyjściowy ma głównie zmiana wartości współczynnika ekstynkcji. W pracy [9] został zaprezentowany czujnik amoniaku opierający się na warstwie sensorowej na bazie cienkiej warstwy purpury bromokrezolowej. Badany sensor charakteryzował się wysoką czułością już przy niskich stężeniach amoniaku. W niniejszym artykule omówione zostały wyniki badań uzyskane dla czujnika światłowodowego na bazie struktur MMI, których sekcja wielomodowa została pokryta dielektryczną warstwą sensorową. Badania teoretyczne wykonano na podstawie numerycznej analizy propagacji światła przy wykorzystaniu metody BPM. 2. WIELOMODOWE STRUKTURY INTERFERENCYJNE Wielomodowe struktury interferencyjne składają się z trzech grup falowodów: jednomodowych falowodów wejściowych i wyjściowych oraz umieszczonego między nimi falowodu wielomodowego (rys. 1). Model czujnika światłowodowego... 57 Rys. 1. Schemat struktury MMI 2x2: a) jednomodowe falowody wejściowe, b) sekcja wielomodowa, c) jednomodowe falowody wyjściowe Fig. 1. Scheme of MMI 2x2 structure: a) singlemodes input waveguides, b)multimode section, c) single modes output waveguides Pole pochodzące od jednomodowych falowodów wejściowych w sekcji wielomodowej rozkłada się na pola modowe [6]. Poszczególne mody propagują się wewnątrz sekcji wielomodowej z różnymi prędkościami fazowymi. Różne prędkości propagacji powodują różnice faz poszczególnych modów, co wpływa na występowanie konstruktywnej bądź destruktywnej interferencji. Rozkład pola w sekcji MMI jest wynikiem interferencji pól modowych wzdłuż drogi propagacji. W punkcie z od miejsca wprowadzenia pola wejściowego powstaje wypadkowe pole, będące superpozycją pól modowych. Rozkład w wybranych punktach sekcji wielomodowej odpowiada rozkładowi pola wejściowego. Odtwarzanie pola wejściowego jest charakterystycznym zjawiskiem występującym w strukturach MMI [6]. Rozkład pola elektromagnetycznego wewnątrz sekcji MMI zależy od sposobu pobudzenia falowodu wielomodowego (rys. 2). W zależności od umiejscowienia sygnału wejściowego, wyróżnia się tutaj trzy typy interferencji. Interferencja ogólna występuje w przypadku pobudzenia wszystkich modów mogących się propagować w danym falowodzie. Interferencję par modów uzyskuje się w przypadku pobudzenia sekcji wielomodowej w 2/3 bądź 1/3 szerokości. W takiej sytuacji wzbudzane są tylko mody rzędów 0,1, 3,4, 6,7 itd. W przypadku pobudzenia struktury w połowie szerokości wzbudzone zostaną tylko mody parzyste – do czynienia mamy z tzw. interferencją symetryczną. Jest to konfiguracja, która była wykorzystywana w ramach badań przedstawionych w artykule. 58 A. Szewczuk, M. Błahut Rys. 2. Rozkład pola w falowodzie wielomodowym Fig. 2. Field distribution in multimode waveguide 3. KONFIGURACJA UKŁADU OPTYCZNEGO Model czujnika światłowodowego na bazie struktur MMI składa się z sekcji wielomodowej pokrytej warstwą dielektryczną, która zmienia wartość współczynnika załamania w trakcie kontaktu z badanym analitem (rys. 3). Rys. 3. Konfiguracja struktury sensorowej Fig. 3. Configuration of sensor structure Rozpatrywane struktury bazowały na gradientowych falowodach wykonanych w technologii wymiany jonowej K+ - Na+. Parametry procesu oraz geometria falowodów Model czujnika światłowodowego... 59 zostały tak dobrane, aby falowód wejściowy i wyjściowy były jednomodowe. Na skutek interferencji międzymodowej tworzył się charakterystyczny dla struktur wielomodowych rozkład pola, a w szczególności w wybranych odległościach od początku sekcji odtwarzane były obrazy pola wejściowego. Długość sekcji tak dobrano, aby na wyjściu uzyskać pojedynczy obraz pola wejściowego. W miejscu formowania się obrazu pola wejściowego umieszczono jednomodowy falowód wyjściowy. Pokrycie sekcji MMI stanowiła warstwa zmieniająca wartość współczynnika załamania. Grubość tej warstwy była na tyle duża, iż mogła być traktowana jako warstwa pół nieskończona dla propagującego się sygnału. Warstwa sensorowa, zmieniając współczynnik załamania i tym samym własności modowe falowodu wielomodowego, wpływa w rezultacie na położenie obrazu pola wejściowego, co zostało pokazane na rys. 4. Widoczne jest dla pokrycia o wyższym współczynniku załamania wydłużenie drogi propagacji, dla której tworzy się obraz pola wejściowego. Zmiany położenia obrazu rejestruje jednomodowy falowód wyjściowy. Rys. 4. Zmiana położenia obrazu pola wejściowego wywołana przez zmianę współczynnika załamania pokrycia dla współczynników załamania spełniających warunek n1>n2 Fig. 4. Changes of input field image position caused by changes of cladding refractive index for the refractive indices n1>n2 4. CHARAKTERYSTYKI PRACY Na podstawie numerycznej analizy propagacji światła sporządzono charakterystyki transmisyjne badanych struktur w funkcji współczynnika załamania pokrycia. Analiza została wykonana na bazie metody propagacji wiązki BPM. Współczynnik załamania pokrycia zmieniano w zakresie 1,33 - 1,51. Długości sekcji MMI każdej analizowanej szerokości odpowiadają formowaniu się obrazu pola wejściowego dla współczynnika załamania pokrycia n = 1,33. Dla analizowanych sekcji MMI, długości wynosiły 333, 2390, 5240 um dla szerokości odpowiednio 15, 30, 45 um. 60 A. Szewczuk, M. Błahut (b) (a) 1.2 1.0 Moc, j.u. Moc, j.u. 1.0 0.8 0.6 15um 30um 45um 0.8 15um 30um 45um 0.6 0.4 1.32 1.38 1.44 1.50 n 1.32 1.38 1.44 1.50 n Rys. 5. Zależność mocy sygnału wyjściowego w funkcji współczynnika załamania pokrycia dla polaryzacji TE i TM Fig. 5. Changes of input signal as a function of the refractive index for TE and TM polarization Modelowane struktury były pobudzane sygnałem wejściowym o rozkładzie pola opisanym funkcją Gaussa. Taki rozkład dobrze odzwierciedla parametry sygnału wejściowego w przypadku pobudzania rzeczywistej struktury za pomocą jednomodowego światłowodu włóknistego. Otrzymane charakterystyki przedstawiono na rys. 5a i 5b odpowiednio dla polaryzacji TE i TM. Rys. 6. Rozkład pola w sekcji wielomodowej Fig. 6. Field distribution in multimode waveguide Analizowane struktury zapewniają zadowalającą czułość tylko w pewnym wybranym zakresie zmian parametrów pokrycia. Czułości uzyskiwane dla każdej z polaryzacji są na zbliżonym poziomie. W przypadku zmian współczynnika załamania w zakresie wartości 1.33 - 1.45 wartość sygnału wyjściowego niewiele się zmienia. Czułość takich struktur można łatwo zwiększyć przez wydłużenie sekcji MMI. Jeśli dla pewnej ustalonej długości sekcji MMI uzyskujemy na jej końcu obraz pola wejściowego, to dla długości N razy większej na końcu sekcji odtworzony będzie obraz N-krotny (rys. 6). Model czujnika światłowodowego... 61 Moc, j.u. 0.9 0.6 45 um pierwszy obraz 45 um piaty obraz 0.3 1.32 1.38 1.44 1.50 n Rys. 7. Zależność mocy sygnału wyjściowego w funkcji współczynnika załamania pokrycia dla polaryzacji TE Fig. 7. Changes of input signal as a function of the refractive index for TE polarization W takiej sytuacji przesunięcie N-tego obrazu będzie N razy większe od przesunięcia pierwszego obrazu. Zostało to potwierdzone na dołączonej charakterystyce (rys. 7), na której zestawiono wyniki otrzymane dla struktur MMI o sekcjach długości zapewniającej powstanie na jej końcu pierwszego i piątego obrazu pola wejściowego. 5. PODSUMOWANIE Przedstawiona w artykule koncepcja czujnika światłowodowego bazowała na sekcji wielomodowej, której pokrycie stanowiła dielektryczna warstwa zmieniająca wartość części rzeczywistej współczynnika załamania w przypadku kontaktu z mierzonym analitem. W trakcie analiz numerycznych współczynnik załamania pokrycia mieści się w zakresie 1.33 - 1.51. Zmianie wartości współczynnika załamania pokrycia towarzyszy zmiana wartości sygnału wyjściowego. Obserwowane zmiany nie są wielkie. Zastosowanie tej konfiguracji do celów sensorowych możliwe jest dla zakresu zmian współczynnika załamania w pobliżu punktów odcięcia modów, bliskich współczynnika załamania podłoża szklanego. Jak pokazano w pracy, czułość takich struktur można łatwo zwiększyć przez odpowiednią zmianę długości sekcji MMI, odpowiadającą drodze formowania się obrazu n-krotnego. 62 A. Szewczuk, M. Błahut BIBLIOGRAFIA 1. 2. 3. 4. 5. 6. 7. 8. 9. Brandenburg A., Hinkov V. Konz W.: Integrated optic sensors. “Sensors Set: A Comprehensive Survey” 1992, p. 399-420. Lukosz W.: Integrated optical chemical and direct biochemical sensors. “Sensors and Actuators B: Chemical 29”, 1995, No. 1, p. 37-50. Bryngdahl O.: Image formation using self-imaging techniques. “JOSA” 1973, No. 4, p. 416-419. Soldano L. B., Pennings E. C.: Optical multi-mode interference devices based on selfimaging: principles and applications. “The Journal of Lightwave Technology” 1995, No. 4, p. 615-627. Szewczuk A., Błahut M.: Model of optical sensor on the base of MMI structures. “Acta Physica Polonica A” 2010, No. 6, p. 1250-1253. Szewczuk A., Błahut M., Pyka W.: Multimode interference structures of variable geometry for optical sensor application. “Acta Physica Polonica A” 2010, No. 6, p. 12541258. Szewczuk A., Błahut M.: Applications of Gradient Index Multimode Interference Structures in the Technology of Optical Sensor, “Acta Physica Polonica A” 2011, No. 4, p. 740-743. Szewczuk A., Błahut M.: MMI structures covered by bromocresol Purple for amonia detection, “Acta Physica Polonica A” 2013, No. 3, p. 570-573. Szewczuk A., Błahut M.: Polarization effects in K+-Na+ ion exchanged MMI structures with absorption cover, “Optica Applicata” 2013, No. 3, p. 441-452. Dr inż. Artur SZEWCZUK Dr hab. inż. Marek BŁAHUT, prof. Pol. Śl. Politechnika Śląska Wydział Elektryczny, Katedra Optoelektroniki ul. Akademicka 2 44-100, Gliwice Tel. (32) 237 1472; [email protected] Tel. (32) 237 2540; marek.bł[email protected]