Laserowe urządzenie do pomiaru chropowatości i reflektancji

SKATEROMETR LASEROWY
SL 31
Laserowe urządzenie do pomiaru chropowatości i reflektancji
powierzchni
•
•
•
•
•
•
bezstykowe badanie powierzchni
małe rozmiary głowicy pomiarowej
zastosowanie w laboratoriach i w warunkach warsztatowych
odczyt cyfrowy
pamiętanie wyników pomiaru
możliwość współpracy z komputerem lub innym urządzeniem zewnętrznym
Zasada działania skaterometru i jego budowa
Działanie przyrządu jest oparte na zasadzie pomiaru całkowitej mocy światła
rozproszonego przez mierzoną powierzchnię oraz pomiaru mocy światła odbitego od niej
pod kątem równym kątowi padania. Pomiar tych wielkości umożliwia określenie reflektancji
rozproszeniowej i zwierciadlanej powierzchni oraz parametru TIS (Total Integrated Scatter),
na podstawie którego można obliczyć średnie kwadratowe odchylenie profilu chropowatości
(Rq). Przyrząd może również wskazywać średnie odchylenie profilu chropowatości (Ra).
Urządzenie składa się z głowicy pomiarowej i modułu sterującego. Głowica
pomiarowa zawiera laser półprzewodnikowy, układ optyczny, układ detekcji sygnału
optycznego oraz mikrokontroler przetwarzający sygnały analogowe na cyfrowe i sterujący
pracą lasera. Moduł sterujący zawierający układ mikroprocesorowy realizuje funkcje
obliczania i wyświetlania wyników pomiarów, gromadzenia danych pomiarowych,
wprowadzania poleceń operatora dotyczących pomiarów i komunikacji z komputerem itp.
Przykłady zastosowań
•
•
•
•
•
ocena jakości obróbki polerskiej metali
ocena gładkości powierzchni elementów optycznych
pomiar parametrów płytek podłożowych w mikroelektronice
ocena jakości naparowywanych warstw cienkich, np. ochronnych
pomiar reflektancji i kontrola jakościowa powierzchni papieru i innych materiałów
Podstawowe dane techniczne
chropowatość Ra i Rq, reflektancja rozproszeniowa
i zwierciadlana
Mierzone parametry powierzchni
Zakres pomiaru chropowatości
Ra
od 1 nm do 200 nm
Rq
od 1 nm do 250 nm
Zakres pomiaru reflektancji
od ok. 0% do 100%
Rozdzielczość wskazań chropowatości
0,1 nm
Rozdzielczość wskazań reflektancji
0,1%
Parametry wiązki światła
− długość fali – 655 nm (światło czerwone)
− moc średnia – poniżej 1 mW
− średnica wiązki światła na powierzchni
badanej – 1,5 mm
Czas pomiaru
0,1 s
Wyświetlacz
alfanumeryczny LCD, 4x20 znaków
Komunikacja z komputerem PC
RS-232
Zewnętrzny sygnał wyzwalający
TTL
− pomiar pojedynczy
− pomiar wielokrotny, wielkości nastawiane: liczba
Rodzaj pomiarów
pomiarów (do 9999), okres powtarzania pomiaru
(do 100 minut)
− pomiar wyzwalany zewnętrznie
− wielkości pamiętane: wyniki pomiaru, numer
Pamiętanie wyników pomiaru
pomiaru, data i czas pomiaru
− liczba pamiętanych wyników do 1000
data i czas
rodzaj pomiaru
numer pomiaru przy pomiarach wielokrotnych
sygnalizacja pamiętania wyników
Wyświetlane informacje dodatkowe
−
−
−
−
Drukowanie wyników
drukarka termiczna (np. Kafka SQ)
Wymiary
− głowica pomiarowa - φ 80 x 80 mm
− moduł sterujący - 245 x 90 x 245 mm
Masa
− głowica pomiarowa – 700 g
− moduł sterujący – 3 kg
Zasilanie
230V, 20VA
INSTYTUT MASZYN MATEMATYCZNYCH
02-078 Warszawa, ul. Krzywickiego 34, tel. (22) 621 75 17, fax. (22) 629 92 70
e-mail: [email protected], http://www.imm.org.pl