opis przedmiot zamówienia

CZĘŚĆ II – OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA
Opis przedmiotu zamówienia:
(„Parametr wymagany” oznacza, że wykonawca musi zaoferować urządzenia o
parametrach co najmniej wymaganych, w przeciwnym wypadku jest oferta zostanie
odrzucona na podstawie art. 89 ust. 1 pkt 2 ustawy Prawo zamówień publicznych.)
CZĘŚĆ I
Dip Coater. System umożliwiający osadzanie z pojedynczego naczynia na małych
próbkach- 1 sztuka.
Wymagania minimalne parametry zestawu:
 System sterowany komputerowo (stacja robocza jeśli system tego wymaga),
 System wyposażony w klips (uchwyt) na pojedynczą próbkę,
 Szybkość zanurzania w przedziale: 1-100 mm/min,
 System musi umożliwiać pracę z próbkami o wymiarach: wysokość 15-140
mm, szerokość 5-150 mm, grubość 0,15-3 mm oraz o wadze do 150 g,
 System musi mieć możliwość rozbudowy o kolejny uchwyty,
 Zestaw musi zawierać: system informatyczny, instrukcję obsługi, złącze USB i
przewód oraz naczynie o wymiarze nie mniejszym niż 70 mm.
 Instruktaż stanowiskowy z obsługi systemu dla co najmniej dwóch osób.
CZĘŚĆ II
Spin Coater. Powlekacz obrotowy do wytwarzania cienkich warstw - 1 sztuka.
Zestaw zawiera:
 obrotowy stolik, wąż do połączenia z próżnią,
 Maksymalna prędkość obrotowa 12000 rpm,
 system wyposażona w wyświetlacz LCD oraz pokrętło sterujące,
 Możliwość sterowania prędkością obrotową w pełnym zakresie o ±1 obr.,
 Możliwość zapisów co najmniej 8 programów składających z dwóch procedur
zwiększania/zmniejszania prędkości oraz dwóch okresów stałego wirowania.
Programy muszą mieć co najmniej czas 8 minut.
 System wyposażony w pompę próżniową ze wszystkimi wymaganymi
dodatkowymi oprzyrządowaniem oraz odpowiedni zasilacz jeśli jest
wymagany.
 wymagane elementy podłączeniowe,
 Instruktaż stanowiskowy z obsługi systemu dla co najmniej dwóch osób.
CZĘŚĆ III
System typu Langmuir-Blodgett- 1 sztuka.
Zestaw zawiera:
 Interfejs do sterowania jednostką oraz akcesoriami.
 Wbudowany wyświetlacz LCD.
 Klawiatura membranowa do sterowania manualnego. Interfejs USB.
 Sonda do pomiaru temperatury subfazy.
 Interfejs sondy pH oraz mieszadła magnetycznego (mieszadło nie wliczone).
 Wejście analogowe
 Rama z symetrycznie poruszającymi się barierami o wymiary nie mniejszych
niż 480x225x290 mm3.
 Maksymalna szybkość ruchu barier 270 mm/min.
 Rozdzielczość ruchu barier nie gorsza niż 0.01 mm/min
 Zestaw wyposażony w wagę z płytką Wilhelmiego Pt i papierowymi.
 Maksymalny udźwig nie mniej niż 1 g.
 Czułość nie gorsza niż 4 uN/m.
 Wanna Langmuir-Blodgett. Jednoczęściowa z nieporowatego PTFE o
powierzchni nie mniejszej niż 98 cm2 (190x50x3 mm3). Studnia zanurzeniowa
(20x30x30 mm3). Maksymalny rozmiar zanurzanej próbki (T3xW26xH26
mm2). Objętość subfazy nie mniej niż 55 ml. Możliwość zmiany na inne wanny
 Para barier hydrofilowych wykonanych z polioksymetylenu.
 Układ Dipper musi być sterowany komputerowo. Powinien być umieszczony
na niezależnym standzie, z możliwością dopasowania wysokości. Uchwyt
mocujący próbki. Przesów próbki nie mniejszy niż 80 mm. Zakres szybkości
zanurzania w przedziale: 0.1-108 mm/min.
 Oprogramowanie systemu musi współpracować z programami operacyjnymi
typu Windows 8.
 System musimy zawierać zestaw startowy w tym odważnik kalibracyjny,
poziomnicę i 20 szt. papierków Wilhelmiego. Przynajmniej jedno naczynko
szklane oraz jedną strzykawka o pojemności 50 uL. Przynajmniej 100 szkiełek
do osadzania. Pędzel do czyszczenia.
 Instruktaż stanowisko z obsługi pieca dla co najmniej dwóch osób.
CZĘŚĆ IV
Piec muflowy (ceramiczna mufla) z programowaną zmianą temperatury- 2 sztuki
1. Temperatura maksymalnie nie mniej niż 1300 °C z możliwością nastawu
temperatury co 1 °C,
2. Wymiary komory roboczej nie mniej niż szer. x wys. x gł. 240 mm x 200 mm x
250 mm,
3. Objętość komory nie mniej niż 11 dm³,
4. Wymiary gabarytowe pieca nie większe niż szer. x wys. x gł. 290 mm x 310
mm x 460 mm (wymiary są podyktowane warunkami lokalowymi
laboratorium),
Moc pieca nie większa niż 3,5 kW,
Masa nie większa niż 85 kg,
Napięcie zasilania 230 V 50 Hz,
Czas rozgrzewania pieca do 1000°C nie dłuższy niż 35 min,
Piec wyposażony w układ sterowania temperatury typ PID, który umożliwia
zaprogramowanie krzywej wygrzewania złożonej z co najmniej 9 etapów na
jeden etap składa się temperatura zadana, czas dojścia oraz czas
przetrzymania. Możliwość zapisania co najmniej 9 programów w pamięci
programatora. Standardowe funkcje sterownika: programowany czas,
opóźnienia załączenia, czas wygrzewania, automatyczna kompensacja
zimnego końca termopary, kontrola przekroczenia zakresu pomiarowego,
kontrola rozwarcia obwodu czujnika, kontrola braku przyrostu temperatury
przy pełnej moc, wskazanie temperatury rzeczywistej, dioda sygnalizująca
działanie grzałki pieca, liniał wskazujący aktualny procent mocy. Czas trwania
programu 0 ¸ 99 h, 59 m
10. Piec musi posiadać zabudowany w stropie pieca kominek wylotowy gazów.
11. Instruktaż stanowisko z obsługi pieca dla co najmniej dwóch osób.
5.
6.
7.
8.
9.
CZĘŚĆ V
Spektrometr FTIR- 1 sztuka
 Źródło promieniowania: źródło ceramiczne z azotku krzemu na zakres co
najmniej 9 600 – 20 cm-1 nie wymagające chłodzenia wodą. Monolityczna
konstrukcja zapewniająca brak migracji punktu aktywnego. Średni czas życia >
10 lat
 Możliwość rozbudowy o automatyczny 4-pozycyjny układ przełączający:
­ dwa źródła wbudowane
­ port emisyjny dla źródła zewnętrznego z przejściem przez układ regulacji
średnicy wiązki ("J-stop")
­ detektor InGaAs do modułu Ramana
 Dzielnik wiązki (beamsplitter): Ge/KBr na zakres spektralny nie mniejszy niż 7
800 - 350 cm-1. Możliwość rozbudowy o dodatkowe beamsplittery gwarantujące
pokrycie zakresu spektralnego co najmniej 27 000 - 20 cm-1. Automatyczne
rozpoznawanie rodzaju beamsplittera przez system. Miejsce na przechowanie 2
zapasowych beamsplitterów wewnątrz aparatu w głównym przedziale optyki –
osuszanym i przedmuchiwanym.
 Możliwość rozbudowy na miejscu u użytkownika o automatyczny zmieniacz 3
beamsplitterów kompatybilny z dzielnikami używanymi bez zmieniacza.
 Detektory: DLaTGS z okienkiem KBr na zakres 12 000 - 350 cm-1
 Trójpozycyjny automatyczny układ zmiany detektorów; możliwość rozbudowy o
dodatkowe detektory
 System obsługujący maksymalnie co najmniej 5 wbudowanych, automatycznie
przełączanych detektorów
 Zdolność rozdzielcza lepsza niż 0.09 cm-1 (pomiar szerokości połówkowej pasma
CO)
















Interferometr Michelsona 90º, nie wymagający zasilania sprężonym powietrzem,
odporny na wibracje i wpływ zmian temperaturowych, justowany dynamicznie w
trakcie skanowania z częstotliwością odpowiadającą częstotliwości przejść przez
zero sygnału lasera nawet przy maksymalnej szybkości skanowania; mechanizm
dynamicznego justowania wykorzystujący wiązkę lasera He-Ne, padającą na
trójpozycyjny detektor laserowy, do monitorowania i utrzymywania idealnego
względnego położenia kątowego zwierciadeł interferometru; gwarancja na
interferometr: 5 lat
System automatycznego rozpoznawania z poziomu oprogramowania akcesoriów
(co najmniej: ATR – Golden Gate, Miracle, SplitPea, DRITFS, Specular
Reflectance, PAS) oraz elementów systemu takich jak detektory i beamsplittery
Możliwość rozbudowy na dalsze zakresy spektralne (zakres maksymalny nie
gorszy niż 27 000 - 20 cm-1) i do pracy z technikami łączonymi: GC/IR, TG/IR,
FT-Raman, mikroskopia IR
Skanowanie liniowe z szybkością regulowaną w zakresie co najmniej 2 - 60
mm/s
Możliwość rozbudowy do skanowania krokowego ("step-scan") zarówno z
zatrzymaniem lustra (modulacja amplitudy, pomiary czasowo-rozdzielcze) jak z
oscylacją lustra wokół zatrzymanej pozycji (modulacja fazy - w tym pomiary
fotoakustyczne z profilowaniem w głąb próbki) oraz z modulacją wielokrotną
Apertura regulująca moc wiązki, o powtarzalnej regulacji średnicy w zakresie 0100% co 1%
Elementy układu optycznego montowane stabilnie na ławie optycznej za pomocą
kołków pozycjonujących
Monolityczne zwierciadła w układzie optycznym pokrywane złotem
Możliwość rozbudowy o układ wejścia-wyjście promieniowania obejmujący co
najmniej:
­ wyprowadzenie wiązki na zewnątrz w prawo
­ wyprowadzenie wiązki na zewnątrz w lewo
­ wprowadzenie wiązki skolimowanej
­ wprowadzanie wiązki zogniskowanej przez układ aperturowania wiązki
Poziom szumów (amplituda międzyszczytowa) nie przekraczający 7.9 x 10 -6Abs
(sygnał/szum  55 000 : 1) dla detektora DLaTGS, rozdzielczości 4 cm -1 przy
pomiarze 1 min
Maksymalna szybkość zbierania danych nie gorsza niż 65 skanów/s dla
rozdzielczości 16 cm-1 (odstęp danych 8 cm-1) z opcją rozbudowy do co najmniej
90 skanów/s
Układ optyczny szczelny i osuszany z oddzielającymi przedział próbek okienkami
KBr z powłoką niehigroskopijną
Możliwość
rozbudowy
o
zastępujące
okienka
KBr
automatycznie
otwierane/zamykane przesłony między przedziałem próbek a wnętrzem
spektrometru
Podłączenia do opcjonalnego przedmuchu osuszonym gazem
Duża komora pomiarowa o wymiarach podstawy co najmniej 21 x 26 cm z
wysokością wiązki 3.5" ponad podstawą; proste zdejmowanie pokrywy przedziału
próbek bez używania narzędzi umożliwiające wygodną pracę w przypadku
używania różnorodnych akcesoriów
Przyciski do szybkiego uruchomienia pomiaru w poszczególnych modułach
pomiarowych









Wbudowana na stałe w aparat automatyczna przystawka do testowania
spektrometru z kołem z wzorcami, sterowana z poziomu oprogramowania,
zawierająca co najmniej następujące wzorce:
­ folia polistyrenowa o grubości ok. 38µm (1.5mil)
­ filtr szklany typu NG11
Wbudowana przystawka diamentowa ATR z kryształem monolitycznym, nie
zajmująca przedziału pomiarowego i z funkcją automatycznego przełączania
wiązki między przedziałem próbek i przystawką
Wyposażenie do pomiarów metodą pastylek w KBr: prasa hydrauliczna,
pastylkarka, moździerz agatowy, uchwyt do pastylek, proszek KBr 100g
Wyposażenie do pomiarów transmisyjnych cieczy, past, olejów itp.: oprawka do
płytek solnych wraz z okienkami o średnicy 25mm: KBr - 6szt., ZnSe - 2 szt.,
rozbieralna kuweta do pomiaru cieczy z kompletem przekładek od 0.05 do 1mm,
strzykawkami do napełniania, dwoma kompletami okienek z KBr i jednym z CaF 2;
karty jednorazowe z okienkami z polietylenu i PTFE - po 25 szt.
Przystawka do pomiarów cienkich warstw metodą "grazing angle" ATR: kąt
padania regulowany w zakresie 60-65°, półsferyczny kryształ Ge, podstawa do
zamontowania w przedziale pomiarowym FTIR
Możliwość rozbudowy o polaryzator z automatyzacją regulacji kąta obrotu i
wprowadzenia/usunięcia polaryzatora z wiązki
Komunikacja aparatu z jednostką sterującą przez szybki port USB 2.0
Zasilacz spektrometru umieszczony na zewnątrz aparatu eliminujący
wprowadzanie wysokiego napięcia (prądu zmiennego 230V) do aparatu i
zapewniający podwyższoną stabilność termiczną systemu
Pełny program obsługi spektrometru co najmniej w języku polskim i angielskim
zgodny z systemem operacyjnym Windows 7 32-bit i 64-bit. Automatyczny wybór
wersji językowej przy logowaniu do Windows lub przez wybór opcji regionalnych
w panelu sterowania Windows.
Wymagana charakterystyka:
- logowanie użytkowników z hasłami i różnymi poziomami dostępu,
- funkcja automatycznego doboru wzmocnienia sygnału
- podgląd widm zapisanych na dysku przed ich otwarciem (jak podgląd
dokumentów w pakiecie Office)
- dostęp do surowych danych łącznie z interferogramem z możliwością ich
przenoszenia (eksportu) do zewnętrznych programów w postaci danych
ASCII
- funkcje przetwarzania widm: korekcja linii bazowej – automatyczna i
manualna, dekonwolucja, odejmowanie spektralne, wyznaczanie
pochodnych, znajdowanie maksimów, wygładzanie, transformacja
Kramersa Kroniga, korekcja ATR, pomiar wysokości i położenia pasma,
pomiar pola powierzchni pasm - bezwględnej i względnej
- funkcja rozkładu pasm na składowe z algorytmem konwergencji typu
Fletcher-Powell-McCormick, uzględniająca co najmniej następujące typy
pasm: Gaussian, Lorentzian, mieszany Gaussian/Lorentzian, Voigt
- przeszukiwanie bibliotek w celu identyfikacji widma nieznanej próbki
oraz/lub porównania z widmem wzorca
- tworzenie własnych bibliotek użytkownika,
- moduł rozszerzonej analizy widm obejmujący algorytm jednoczesnej
wieloskładnikowej identyfikacji widm, pozwalający na identyfikację


składników próbki w trakcie pojedynczego przeszukiwania biblioteki, bez
konieczności stosowania odejmowania widm poszczególnych składników
- moduł rozszerzonej analizy widm obejmujący algorytm jednoczesnej
wieloskładnikowej identyfikacji widm, pozwalający na identyfikację
składników próbki w trakcie pojedynczego przeszukiwania biblioteki, bez
konieczności stosowania odejmowania widm poszczególnych składników
- w zestawie biblioteki widm wysokiej rozdzielczości obejmujące co najmniej
22 000 widm w tym co najmniej 4 000 widm polimerów wraz z
przewodnikiem analizy widm IR polimerów
- moduł oprogramowania do analiz chemometrycznych obejmujący
algorytmy analizy ilościowej i klasyfikacyjnej – co najmniej następujące:
 do analiz ilościowych
* Prawo Lamberta-Beera
* CLS (klasyczna metoda najmniejszych kwadratów)
 do analiz klasyfikacyjnych
* Search Standards (przeszukiwanie biblioteki wzorców z analizą
korelacji, także dla pochodnych widm)
* Similarity match (wektorowa analiza podobieństwa)
* QC compare (analiza korelacyjna widm uśrednionych)
- moduł do tworzenia i wykonywania makroinstrukcji,
- moduł spektralnej interpretacji widm,
- automatyczna korekcja zawartości CO2 i pary wodnej przez
oprogramowanie bez konieczności zbierania widm referencyjnych
- wyświetlanie widm w czasie rzeczywistym (w trakcie pomiaru),
- automatyczne wykonywanie testów jakości widm z informowaniem
użytkownika m.in. o niepożądanych pasmach spektralnych w widmie tła,
nieprawidłowym
kształcie
pasm,
obecności
pasm
całkowicie
absorbujących, nachyleniu linii podstawowej, zbyt małej energii
interferogramu,
- aktywna diagnostyka w trakcie pomiaru z ciągłym monitorowaniem stanu
elementów systemu i wizualnym wskaźnikiem poprawnej pracy aparatu,
- wbudowany edytor do tworzenia raportów według własnych szablonów,
- archiwizowanie gotowych raportów w nieedytowalnych skoroszytach
elektronicznych z funkcją przeszukiwania skoroszytów umożliwiającą
szybkie dotarcie do każdego raportu
Zestaw komputerowy klasy PC parametrach minimalnych: procesor Intel Core i5,
4GB RAM, 500 GB HDD, DVD-RW, karta sieciowa, klawiatura, mysz optyczna,
monitor LCD 19", Windows 7 Professional. Obudowa, klawiatura i mysz
bezprzewodowa w kolorystyce zgodna z monitorem; kolorowa drukarka laserowa.
Pomocniczy system automatycznego przygotowania próbki do obrazowani MALDI
zapewniający wysoką jakość i powtarzalność uzyskiwanych wyników (minimalna
rozdzielczość boczna 50 µm uzyskiwana na tkance), który musi współpracować
ze spektrometrami MALDI-TOF firmy Bruker z laserem smartbeam™ oraz jego
oprogramowaniem:
 generowanie aerozolu matrycy przez odparowanie wibracyjne,
 nanoszenie matrycy na tkankę w kontrolowanych warunkach,
 przygotowanie matrycy w następujących, powtarzających się krokach:
a. nanoszenie warstwy matrycy na tkankę,
b. inkubacja w atmosferze obojętnej,
c. częściowe lub całkowite schnięcie,

d. nanoszenie kolejnej warstwy matrycy,
 czujnik optyczny monitorujący światło rozproszone na warstwie matrycy
umożliwiający bieżącą kontrolę wszystkich istotnych parametrów: czas
nanoszenia, przerwy w nanoszeniu, grubość warstwy matrycy, wilgotność
oraz szybkość schnięcia,
 cały proces musi przebiegać w całości automatycznie,
 zestaw akcesoriów:
 płytka typu MTP Slide Adapter II na 2 szklane płytki z preparatami
 opakowanie minimum 100 szt. szklanych płytek na preparaty
 Oprogramowania do obsługi systemu do obrazowania oraz pakiet
oprogramowania do analiz polimerów i pakiet oprogramowania do analiz
ko-polimetrów z wykorzystaniem wyników ze spektrometrii mas (MALDI
oraz LC/MS.
Instruktaż specjalistyczny dla co najmniej dwóch osób. W przypadku szkolenie w
ośrodku referencyjnym cały koszt szkolenia pokrywa Wykonawca (diety, koszt
noclegu i dojazdu). Instruktaż powinien być przeprowadzony na tym samym
modelu urządzenia oraz tej samej wersji oprogramowania.
CZĘŚĆ VI
DLS Urządzenie do pomiarów wielkości cząstek (metodą dynamicznego
rozpraszania światła -Dynamic Light Scattering) + Zeta Potential - 1 sztuka
1. Pomiar wielkości cząstek:
 Pomiar metodą dynamicznego rozpraszania światła (DLS)
 Zakres pomiarowy co najmniej od 0,3 nm do 10 μm
 Zakres stężeń badanych roztworów co najmniej od 0,1 ppm do 40 %
wag./obj.
 Czułość pomiaru: 0,1 mg/ml dla białka 15 kDa
 Kąt pomiaru: nie mniejszy niż 160 stopni (rozpraszanie wsteczne)
 Pomiar w kuwetach jednorazowych, zapas kuwet na minimum 100
pomiarów
 Możliwość pomiaru w kuwetach szklanych, co najmniej jedna kuweta w
zestawie
2. Pomiar potencjału zeta:
 Technika pomiaru: PALS
 Zakres potencjału zeta co najmniej od – 300mV do +300mV
 Zakres wielkości cząstek przy pomiarze potencjału zeta co najmniej 5 nm
– 100 μm.
 Pomiar w kuwetach całkowicie jednorazowych (włączając elektrody),
zapas kuwet na minimum 100 pomiarów.
3. Pomiar masy cząsteczkowej:
 Pomiar metodą Statycznego Rozpraszania Światła
 Pomiar w zakresie od 1 x 103 do 2 x 107 Da
4. Inne cechy:
 Źródło światła: laser czerwony (długość fali z zakresu 630-680nm).



Detektor: fotodioda lawinowa.
Pomiar w zakresie temperatur od 0 do 90oC
Urządzenie musi mieć możliwość współpracy z systemami GPC/SEC i
FFF.
5. System informatyczny:
 Oprogramowanie sterujące pracujące w środowisku Windows
 Rozkłady wielkości cząstek i potencjału zeta w wersji graficznej i
tabelarycznej
 Możliwość eksportu danych do innych aplikacji
 Możliwość tworzenia i drukowania własnych raportów
 Możliwość prowadzenia pomiaru w użyciem standardowych procedur
pomiarowych (SOP)
 Automatyczny dobór parametrów pomiarów przez urządzenie w
zależności od intensywności
 natężenia rozpraszanego światła
 Możliwość obróbki danych bez konieczności łączenia się z aparatem,
licencja wielostanowiskowa
7. Stacja sterująca umożliwiającą obsługę urządzenia z oprogramowaniem
zarządzającym urządzeniem i pozwalającym na wykorzystanie powyższego
oprogramowania. Pakiet biurowy z dożywotnią licencją (arkusz kalkulacyjny,
edytor tekstu, program do prezentacji wyników). Program antywirusowy z co
najmniej trzyletnią licencją. Dysk przenośny o pojemności nie mniejszej niż 1
TB z gniazdem USB 3.0. Pamięć przenośna o pojemności minimum 64 GB.
Systemy informatyczne w stacji sterującej muszą być w języku polskim.
Przedłużacz minimum 3 metrowy z minimum 3 gniazdkami z uziemieniem.
8. Instruktaż specjalistyczny dla co najmniej dwóch osób. W przypadku szkolenie
w ośrodku referencyjnym cały koszt szkolenia pokrywa Wykonawca (diety,
koszt noclegu i dojazdu). Instruktaż powinien być przeprowadzony na tym
samym modelu urządzenia oraz tej samej wersji oprogramowania.
CZĘŚĆ VII
Spektrofotometr UV-VIS- 1 sztuka.
Wymagane minimalne parametry zestawu:
1. Spektrofotometr jednowiązkowy z panelem sterowniczym z ekranem LCD.
2. Źródło światła: lampa ksenonowa.
3. Minimalny zakres długości fali: 195-900 nm.
4. Szerokość spektralna: poniżej 3,25 nm.
5. Dokładność ustawienia długości fali: ± 1 nm.
6. Powtarzalność ustawienia długości fali: ± 0,5 nm.
7. Zakres fotometryczny (pomiarowy) od - 3,0 do +3,0 A, od 0,1 do 200 % T.
8. Dokładność fotometryczna ± 0,003 A przy 3,000 A.
9. Stabilność +/- 0,001 A na godzinę.
10. Statyw na kuwety obrotowy co najmniej na 7 kuwet.
11. Posiadanie systemu autodiagnostyki z raportem w standardzie GLP.
12. Wymagane zaprogramowane metody pomiarowe aparatu:

pomiar przy jednej długości fali (absorbancja, transmitancja,
wyznaczanie stężenia w oparciu o współczynnik)
 skanowanie (widma – zmienna szybkość skanowania, identyfikacja
pików i ich parametrów, drukowanie skanów)
 kinetyka reakcji
 wyznaczanie szybkości reakcji
 tworzenie krzywych standardowych w oparciu o minimum 10 standardów
w kilku (minimum trzech) powtórzeniach, wybór metody dopasowania
krzywej, zapisywanie krzywej do późniejszego wykorzystania.
 pomiar przy wielu długościach fali wraz z wprowadzaniem równań do
przeliczania zmierzonych wartości
 oznaczanie stężenia kwasów nukleinowych (DNA, RNA, oligonukleotydy)
wraz z wyznaczaniem czystości preparatów
 zapis i przechowywanie metod pomiaru zdefiniowanych przez
użytkownika (nie mniej niż 18 metod)
13. Bezpośrednie wyjście na drukarkę, umożliwiające wydruk wyników pomiarów
oraz wykresów (graficznie)
14. Możliwość eksportu wyników do arkusza kalkulacyjnego
15. Możliwość stosowania kuwet standardowych oraz do pomiaru małych
objętości próbki (5 μl przy drodze optycznej 0,5 cm, 70 μl przy drodze optycznej
10 mm)
16. System do odczytywania i analizy danych z pakietem biurowy z dożywotnią
licencją: arkusz kalkulacyjny, edytor tekstu, program do prezentacji. Monitor o
przekątnej 24 cale o minimalnej rozdzielczości 1920x1200 piksela, klawiatura i
mysz. Program antywirusowy z co najmniej trzy letnią licencją. Dysk
przenośny o pojemności nie mniejszej niż 1 TB z gniazdem USB 3.0. Pamięć
przenośna o pojemności minimum 32 GB.
17. Zewnętrzne oprogramowanie kompatybilne z systemem operacyjnym Windows
XP umożliwiające sterowanie urządzeniem oraz rozszerzające możliwości
spektrofotometru w zakresie:
 skanowania (wyznaczanie pochodnych skanów, nakładanie i
odejmowanie widm, ilościowa analiza pików)
 kinetyki (kinetyka równoległa i szeregowa, wyznaczanie Km i Vmax,
monitorowanie reakcji przy wielu długościach fali, nakładanie krzywych
wynikowych, obróbka matematyczna danych - Michaelis-Menten,
Lineawaver-Burke, Eadie Hofstee, Hanes Woolf, współczynnik Hilla)
 oznaczeń ilościowych (krzywe standardowe wyznaczane w oparciu o
minimum 20 standardów w co najmniej 10 powtórzeniach),
 moduł analizy frakcji (graficzna prezentacja danych ze zmierzonych
frakcji zebranych do kolektora)
 moduł pomiarów w odstępach czasowych (pomiar absorbancji w czasie
rzeczywistym jednocześnie przy wielu długościach fali, definiowanie
czasu trwania pomiaru i odstępów pomiędzy pomiarami, ilościowa
analiza pików, nakładanie wykresów)
 moduł pomiaru wzrostu kultury komórkowej
 moduł wyznaczania Tm.
18. Posiadać możliwość rozbudowy o:
 pojedyncze oraz obrotowe wielopozycyjne (na minimum 6 kuwet) statywy
termostatowane: elementem Peltier i wodą,

wielopozycyjne obrotowe statywy do pomiaru w kuwetach o dłuższej
drodze optycznej (do 50 mm),
 statywy do pomiaru w kuwetach standardowych i cylindrycznych o
drodze optycznej 100 mm,
 kuwety do podłączenia systemu HPLC,
 moduł do automatycznego zasysania próbek do kuwety.
19. Zestaw startowy materiałów zużywalnych:
 2000 sztuk kuwet z tworzywa PS, 10 mm, 0,8 ml,
 zestaw znaczników fluorescencyjnych typu Cy, zestaw powinien
umożliwiać barwienie białek czterema znacznikami typu Cy.
20. Instruktaż stanowiskowy z obsługi systemu dla co najmniej dwóch osób.
CZĘŚĆ VIII
Spektrofluorymetr z wyposażeniem- 1 sztuka
Wymagania minimalne parametry zestawu:
1. Spektrofluorymetr
 Tryb pomiarowy: fluorescencja, luminescencja i fosforescencja
 Rozdzielczość nie gorsza niż 1,0 nm
 Dokładność dł. fali nie gorsza niż 1 nm
 Szybkość skanowania: do 60.000 nm/min
 Szybkość ustawiania wybranej dł. fali: 60.000 nm/min
 Przedział odczytu długości fali nie gorszy niż 0.2 nm (Data interval-wavelength)
 Próbkowanie sygnału nie gorsze niż 0.001 s (Minimum data interval - time)
 Źródło promieniowania: lampa ksenonowa o mocy nie mniejszej niż 150W
 Monochromator wyposażony w rytą, korygującą odchylenia wklęsłą siatkę
dyfrakcyjną nie gorszą niż 900linii/mm i jasności F 2.2 zapewniających duży
poziom energii sygnału
 Czułość (stosunek sygnału do szumu) nie gorsza niż 15000: 1
 Zakres spektralny po stronie wzbudzania i emisji nie gorszy niż 200 do 730 nm z
możliwością rozszerzenia opcjonalnym fotopowielaczem do 900 nm.
 Zmienna szerokość szczeliny po stronie wzbudzania – regulowana w min. 5
krokach: 1, 2.5, 5, 10 i 20 nm
 Zmienna szerokość szczeliny po stronie emisji – regulowana w min. 5 krokach: 1,
2.5, 5, 10 i 20 nm
 Poziome wzbudzanie próbki umożliwiające wykonywanie pomiarów z ilości
nieprzekraczającej 1 ml roztworu przy użyciu standardowej 10 mm kuwetki o
objętości 3.5 ml
 Zakres dynamiczny pomiaru: – 6 lub więcej rzędów wielkości
 Możliwość wykonywania pomiarów fosforescencji z czasem życia nie dłuższym
niż 1 ms bez dodatkowych akcesoriów.
 Aparat wyposażony w zestaw do kwantowej korekcji widma zarówno po stronie
wzbudzania jak też emisji: (Rodamina B, kuweta trójkątna, diffuser)



Możliwość rozbudowy aparatu o co najmniej następujące akcesoria: kulę
całkującą do badania wydajności kwantowej, zestaw do kwantowej korekcji
widma w zakresie nie gorszym niż 550-700 nm, przystawkę do wykonywania
pomiarów w temperaturze ciekłego azotu, przystawkę do próbek stałych,
automatyczne podajniki dużej ilości próbek (sipper, auto sampler), minimum 6pozycyjny podajnik kuwet, przystawkę termostatowaną do odczytu mikropłytek.
Komunikacja pomiędzy spektrofluorymetrem i komputerem – kabel USB
zapewniający szybką transmisję danych.
Oprogramowanie pracujące w środowisku Windows 7 umożliwiające:
o Skanowanie w funkcji dł. fali. Możliwość wykonywania widm: fluorescencji,
fosforescencji, luminescencji oraz widm synchronicznych. Korekcja widm
przy pomocy Rodaminy.
o Skanowanie w funkcji czasu. Możliwość wykonywania widm: fluorescencji
fosforescencji.
o Pomiary fotometryczne. Obliczenia ilościowe dla: fluorescencji,
fosforescencji i luminescencji wykonywane: przy określonej długości fali, na
podstawie pola powierzchni piku lub jego wysokości, stosunku (ratio) lub
metodą pochodnej. Pomiar fosforescencji z czasem życia 1 ms. Możliwość
wykreślenia krzywej wzorcowej w postaci linii przechodzącej przez
wszystkie punkty odpowiadające roztworom wzorcowym, lub w postaci
krzywej regresji, obliczonej za pomocą metody najmniejszych kwadratów.
Możliwość wykonywania obliczeń statystycznych, w tym: obliczenia
wartości średniej z uzyskanych pomiarów, wartości odchylenia
standardowego (SD) i współczynnika zmienności (CV).
o Wykonywanie widm trójwymiarowych w funkcji dł. fali z funkcją wyświetlania
tabeli pików
o Wykonywanie widm trójwymiarowych w funkcji czasu z funkcją wyświetlania
tabeli pików.
o Automatyczny pomiaru czułości. Funkcja umożliwiająca wybór optymalnych
warunków wzbudzania i emisji dla danej próbki z automatycznym
odrzucaniem widm Ramanowskich.
o Przetwarzanie danych: automatyczne odczytanie warto ci fotometrycznej
dla punktu wskazywanego aktualną pozycją kursora, automatyczne
wykrywanie pików i dolin, zmiana skali wykresu zmierzonego widma,
wygładzanie widma w celu wyeliminowania szumów, uzyskiwanie widma
pochodnej (do czwartego rzędu), działania arytmetyczne na widmach (+, -,
x ,÷), obliczanie pola powierzchni wybranego piku, możliwość konwersji
piku do formatu tekstowego ASCII (*.txt) lub formatu JCAMP-DX (*.dx) oraz
zapisywanie obrazu widma i krzywej kalibracyjnej do pliku Windows meta
file (*.wmf) , możliwość przenoszenia danych do programu Microsoft Excel
i Microsoft Word. W przypadku przenoszenia danych z pomiaru widm
trójwymiarowych do MS Excel dane muszą być wyświetlane w postaci 3
kolumn (wartość wzbudzania, wartość emisji oraz wartość zmierzona)
o wykonywanie pomiaru wartości intensywności fluorescencji jednocześnie
przy dwóch dł. fali i obliczanie stężenia wewnątrzkomórkowych jonów
wapnia.
o Dodatkowe oprogramowanie umożliwiające ustalanie kroku wzrostu lub
obniżania się temperatury przystawki Peltiera. Możliwość oglądania
jednocześnie wykresów zmiany temperatury w zależności od czasu dla
przystawki oraz sondy temperaturowej
 Dokumentacja IQ i OQ w języku polskim. Certyfikat CE
2. Termostatowana elementami Peltiera przystawka umożliwiająca termostatowanie i
mieszanie.

Przystawka umożliwiająca ustawienie dowolnej temperatury z zakresu nie
gorszego niż -300C do 1000C oraz programowanie szybkości wzrostu lub
obniżania się temperatury w podanych przedziałach czasowych. Możliwość
mieszania badanej próbki przy pomocy mieszadła magnetycznego.
 Sonda temperaturowa pokazująca i mierząca temperaturę w kuwecie
 Szybkość zmiany temperatury nie gorsza niż 0.02 0C/min
 Precyzja temperatury nie gorsza niż +/-0.020C
 Dokładność temperatury nie gorsza niż +/- 0.40C w zakresie od 00C do + 800C
 Powtarzalność temperatury lepsza od 0.050C
 Kontroler temperatur TC1
 Cyrkulator do odprowadzania ciepła
 Mieszadło magnetyczne
 Króciec do przedmuchiwania komory pomiarowej
 Płaszcz wyposażony w szybki kwarcowe zabezpieczający kuwetę przed
szronieniem
3. Holder z kuwetą przepływową o pojemności nie większej niż 100 Lz kuwetą
przepływową o poj. nie większej niż 20 L umożliwiający współpracę
spektrofluorymetru z systemem chromatografii cieczowej. Łączna ilość używanej
próbki (kuweta + wężyk): nie większa niż 60 L.
4. Kuweta kwarcowa 10 mm, objętość 3,5 ml- 2 sztuki.
5. Mikrokuweta kwarcowa o objętości nie większej niż 50 µL
6. Uchwyt na filtry
7. Instruktaż specjalistyczny dla co najmniej dwóch osób. W przypadku szkolenie w
ośrodku referencyjnym cały koszt szkolenia pokrywa Wykonawca (diety, koszt
noclegu i dojazdu). Instruktaż powinien być przeprowadzony na tym samym modelu
urządzenia oraz tej samej wersji oprogramowania.
8. Zestaw komputerowy umożliwiający obsługę urządzenia o parametrach nie
gorszych niż:
 procesor: Intel Core i3-2100, 3.10GHz lub równoważny,
 RAM: 8GB,
 Dysk twardy HDD: 500GB,
 Nagrywarka DVD,
 18.5” Kolorowy Monitor,
 Klawiatura, Mysz optyczna,



Czytnik kart flash wewnętrzny 3.5'',
Windows 7 Professional 32 bit. lub równoważny,
oprogramowanie do obróbki danych typu Microsoft Office,
Wymagany jest specjalistyczny instruktaż dla co najmniej dwóch osób w miejscu
dostawy, z zastrzeżeniem, iż jeżeli producent wymaga szkolenia w swoim ośrodku, to
Wykonawca zobowiązany jest do organizacji takiego szkolenia (koszty dojazdu i
pobytu szkolonych pokrywa wykonawca)
WARUNKI ODBIORU:
-Specjalistyczny instruktaż dla co najmniej dwóch osób w miejscu dostawy, z
zastrzeżeniem, iż jeżeli producent wymaga szkolenia w swoim ośrodku, to
Wykonawca zobowiązany jest do organizacji takiego szkolenia (koszty dojazdu i
pobytu szkolonych pokrywa wykonawca)
-Dostawca dostarczy instrukcję obsługi urządzenia napisaną w języku angielskim.
-Gwarancja na dostarczony system powinna obejmować co najmniej 24 miesiące.
Dotyczy wszystkich części:
Wymagana jest gwarancja na okres co najmniej 24 miesiące od daty podpisania
umowy.
Oferowany sprzęt musi być fabrycznie nowy i w pełni sprawny, musi odpowiadać
standardom jakościowym i technicznym, wynikającym z funkcji i przeznaczenia, musi
być wolny od wad materiałowych, konstrukcyjnych i prawnych, musi spełniać
wymagania określone przez Zamawiającego w Specyfikacji Istotnych Warunków
Zamówienia oraz nie może być obciążony żadnymi prawami na rzecz osób trzecich,
a także nie może być prototypem.
Przedmiot zamówienia obejmuje również:
-instruktaż dwóch osób, koszty dojazdu, hotelu i diet,
-materiały eksploatacyjne w okresie gwarancji,
-konserwacje oraz wszelkie niezbędne czynności dla prawidłowego działania
urządzenia w okresie gwarancji.
Wraz ze sprzętem wykonawca dostarczy istotne wytyczne dotyczące montażu,
rozruchu i obsługi w języku polskim