Metrologia optoelektroniczna

Nabór 2008
KARTA INFORMACYJNA PRZEDMIOTU
przedmiot:
Metrologia optoelektroniczna
obowiązkowy:
wybieralny:
TAK
(obowiązek zapisu min. ... studentów)
kod przedmiotu: 5EO106S715
Wydział: Elektroniki
język realizacji:
Instytut/Katedra: Optoelektroniki
kierunek:
elektronika i telekomunikacja
rodzaj studiów:
stacjonarne studia pierwszego
stopnia - inżynierskie
semestr
polski
specjalność:
optoelektronika
forma zajęć, liczba godzin/rygor (X -egzamin, + - zaliczenia, # - projekt)
razem
wykłady
ćwiczenia
laboratoria
30
14 / +
4
12 / +
VII
punkty ECTS
projekt
seminarium
2
Autor(rzy) programu przedmiotu: ppłk dr inż. Mirosław NOWAKOWSKI
Prowadzący wykłady:
ppłk dr inż. Mirosław NOWAKOWSKI
EFEKTY KSZTAŁCENIA
ƒ
ƒ
ƒ
ƒ
zapoznać ze specyfika metrologii optoelektronicznej
nauczyć metod stosowanych do pomiaru parametrów źródeł promieniowania optycznego
nauczyć metod stosowanych do pomiaru parametrów detektorów
nauczyć metod szacowania i określania niepewności pomiarowych w pomiarach
optoelektronicznych
BEZPOŚREDNIE POWIĄZANIE Z INNYMI PRZEDMIOTAMI:
Bazuje na przedmiotach:
ƒ
ƒ
ƒ
ƒ
matematyka
fizyka
podstawy optyki
podstawy techniki laserowej
Podbudowuje przedmioty:
ƒ
specjalistyczne realizowane w IOE
TREŚĆ PRZEDMIOTU:
Podstawowe pojęcia metrologii optoelektronicznej. Ogólne warunki przeprowadzenia pomiarów.
Optyczne przetworniki pomiarowe: klasyfikacja, parametry i zastosowanie. Metody badań
podstawowych parametrów optycznych przetworników pomiarowych. Pomiar mocy i energii
promieniowania laserowego - ogólne zasady, metodyka pomiaru, baza metrologiczna, układy i
systemy pomiarowe. Badanie mierników mocy i energii promieniowania laserowego - wyznaczanie
współczynnika poprawkowego, nieliniowości i szumów własnych. Pomiar widma promieniowania
laserowego, zabezpieczenie metrologiczne pomiarów spektralnych. Pomiar długości fal
i częstotliwości promieniowania laserowego - wiadomości ogólne, warunki pomiaru. Pomiary
polaryzacji promieniowania laserowego.
LITERATURA:
ƒ
ƒ
ƒ
ƒ
J. Piotrowski, Wzorcowanie aparatury pomiarowej, 2000
Z. Bielecki, A.Rogalski, Detekcja sygnałów optycznych, 2001
K. Perlicki, Pomiary w optycznych systemach telekomunikacyjnych, 2002
J. Barzykowski, Współczesna metrologia, 2004
ZASADY ZALICZANIA:
ƒ Laboratorium – sprawozdania oraz zaliczenie kolokwiów wstępnych
Zaliczenie przedmiotu – pisemne