´09 75 LAT MITUTOYO... Promocja ...to 75 lat doświadczeń

Komentarze

Transkrypt

´09 75 LAT MITUTOYO... Promocja ...to 75 lat doświadczeń
75 LAT MITUTOYO...
...to 75 lat doświadczeń
we wspieraniu
i rozwoju
jakości
Promocja
LUTY - GRUDZIEŃ
´09
Współrzędnościowe maszyny pomiarowe
Manualna maszyna pomiarowa Crysta Plus M443
Zakres pomiarowy: 400 x 400 x 300 mm
Niepewność pomiarowa: E=(3,0+0,4L/100) µm
W zestawie:
- indeksowana głowica uchylno - obrotowa MH20i ze zintegrowaną sondą TP20
- zestaw standardowych końcówek pomiarowych - 15 elementów
- kula kalibracyjna 20 mm
- zestaw do mocowania detali eco-fix - 66 elementów, w tym płyta bazowa 250x250 mm
- przyjazne oprogramowanie MCOSMOS-1 GEOPAK
- komputer PC z monitorem LCD 19`` i drukarką
- pakiet usług:
- instalacja i kalibracja
- szkolenie z obsługi maszyny i oprogramowania MCOSMOS - 3 dni dla 1 osoby
w siedzibie Mitutoyo Polska we Wrocławiu
Numer art.
196-683
Opis
Crysta Plus M443
Cena specjalna
16.990 Euro netto
Uwaga: * zestaw nie zawiera biurka
Manualna maszyna pomiarowa Crysta Plus M544 / Crysta Plus M574
Zakres pomiarowy
- Crysta Plus M544: 500 x 400 x 400 mm
- Crysta Plus M574: 500 x 700 x 400 mm
Niepewność pomiarowa: E=(3,5+0,45L/100) µm
W zestawie:
- indeksowana głowica uchylno - obrotowa MH20i ze zintegrowaną sondą TP20
- zestaw standardowych końcówek pomiarowych - 15 elementów
- kula kalibracyjna 20 mm
- zestaw do mocowania detali eco-fix - 66 elementów, w tym płyta bazowa 250x250 mm
- przyjazne oprogramowanie MCOSMOS-1 GEOPAK
- komputer PC z monitorem LCD 19`` i drukarką
- pakiet usług:
- instalacja i kalibracja
- szkolenie z obsługi maszyny i oprogramowania MCOSMOS - 3 dni dla 1 osoby
w siedzibie Mitutoyo Polska we Wrocławiu
Numer art.
196-472NL
196-477NL
Opis
Crysta Plus M544
Crysta Plus M574
Uwaga: * zestaw nie zawiera biurka
2
Cena specjalna
19.990 Euro netto
21.990 Euro netto
Maszyny współrzędnościowe Crysta Plus M w pomiarach
Pomiary głowicą uchylno-obrotową
Pomiary głowicą uchylno-obrotową
Pokrętła precyzyjnego dojazdu
Zarządzanie programami pomiaru części
Pomiary geometryczne
Graficzny raport
z wynikami pomiaru
Analiza wyników skanowania
Pomiary z modelem CAD 3D
3
Pomiary konturów
Profilograf Contracer CV-3100 H4
Zakres pomiarowy:
X=100 mm
Z1=50 mm (pomiar konturu)
Z2=500 mm (zakres przejazdu w kolumnie)
Niepewność pomiarowa:
oś X: ± (1+0,01L) µm
oś Z1: ± (2+ |4H|/100) µm
W zestawie:
- imadło ze szczękami symetrycznymi oraz stolik przesuwny
- zestaw standardowych ramion i końcówek pomiarowych
- wzorzec do kalibracji automatycznej
- przyjazne oprogramowanie FORMPAK 1000
- komputer PC z monitorem LCD 19`` i drukarką
- pakiet usług:
- instalacja i kalibracja
- szkolenie z obsługi urządzenia i oprogramowania FORMPAK - 2 dni
dla 1 osoby w siedzibie Mitutoyo Polska we Wrocławiu
Numer art.
218-422D
Opis
Contracer CV-3100 H4
Cena specjalna
29.000 Euro netto
Bezpieczeństwo detalu i urządzenia ochrona przed kolizją
Automatyczna realizacja pomiaru
Imadło i stolik przesuwny
4
Pulpit sterujący
Wzorzec do kalibracji
automatycznej
Centrowanie detalu
Profilografy Contracer w pomiarach
Pomiar konturu
Analiza wymiarowa konturu
>Ì>ÊÓ
>Ì>Ê£
>Ì>ÊVœ“«œÃˆÌˆœ˜
Analiza wymiarowa konturu - raport
Łączenie konturów
Analiza odchyłkowa konturu
Łączenie konturów - analiza
5
Pomiary chropowatości
Chropowatościomierz Surftest SV-3100 S4
Zakres pomiarowy:
X=100 mm
Z1= 800 µm / 80 µm / 8 µm
Z2= 300 mm (zakres przejazdu w kolumnie)
Rozdzielczość:
oś X: 0,05 µm
oś Z1: 0,01 µm/800 µm; 0,001 µm/80 µm; 0,0001 µm/8 µm
W zestawie:
- standardowa końcówka pomiarowa
- wzorzec kalibracyjny
- stolik poziomujący
- przyjazne oprogramowanie SURFPAK SV
- komputer PC z monitorem LCD 19`` i drukarką
- pakiet usług:
- instalacja i kalibracja
- szkolenie z obsługi urządzenia i oprogramowania SURFPAK - 2 dni
dla 1 osoby w siedzibie Mitutoyo Polska we Wrocławiu
Numer art.
178-451D-1
Opis
Surftest SV-3100S4
Cena specjalna
24.000 Euro netto
Bezpieczeństwo detalu i urządzenia ochrona przed kolizją
Automatyczna realizacja pomiaru
Pochylanie i pozycjononowanie głowicy
Pulpit sterujący
Not aligned
Aligned
Traverse direction
Traverse direction
Start point
End point
End point
Axial line
Axial line
Recorded profiles
Stolik poziomujący
6
Poziomowanie detalu
Start point
Chropowatościomierze Surftest w pomiarach
Pomiar profilu chropowatości
Analiza profilu chropowatości
Analiza profilu
chropowatości
Analiza profilu chropowatości - raport
Pomiary po promieniu - pochylanie
i pozycjononowanie głowicy
7
POMIAR CHROPOWA
Profil i filtr (wg PN-EN ISO 4287:1999 i PN-EN ISO 11562:1998)
Rzeczywisty profil powierzchni – profil otrzymany przez przecięcie powierzchni przedmiotu
płaszczyzną. Zwykle jest to płaszczyzna prostopadła do jego tworzącej i śladów obróbki.
Profil odwzorowany – krzywa kreślona przez środek wierzchołka ostrza odwzorowującego
o idealnym kształcie (stożkowym z wierzchołkiem kulistym) i wymiarach nominalnych przy
nominalnym nacisku ostrza odwzorowującego, kiedy porusza się ono po powierzchni
w płaszczyźnie przekroju.
Profil pierwotny – powstaje przez odfiltrowanie dolnoprzepustowe krótkofalowych
składowych profilu odwzorowanego zgodnie z charakterystyką przenoszenia filtra krótkofalowego
o granicznych długościach fali filtra λs, po wcześniejszym oddzieleniu nominalnego kształtu.
Parametry uzyskane z tego profilu oznaczone są literą P i obejmują jeden odcinek pomiarowy.
lri = Odcinek elementarny chropowatości
Zalecenia dla pomiaru chropowatości (PN-ISO 4288:1998)
Profil pierwotny i linia średnia po zastosowaniu filtra λs
Profile nieokresowe
Profile
okresowe
Szlifowanie, honowanie, polerowanie,
obróbka erozyjna
Toczenie,
frezowanie,
struganie
Zalecenia według
PN-ISO 4288 PN-ISO 3274
rtip promień wierzchołka
Profil chropowatości - powstaje z profilu pierwotnego po zastosowaniu filtra krótkofalowego
λs przez odfiltrowanie górnoprzepustowe składowych długofalowych o granicznej długości fali
filtra λc. Parametry uzyskane z tego profilu oznaczane są literą R i dotyczą odcinka elementarnego
lr. Zwykle są uśredniane z pięciu odcinków elementarnych lr. Długość odcinka elementarnego lr
odpowiada długości fali λc.
Profil chropowatości i linia średnia po zastosowaniu filtra λc
Profil falistości – powstaje z profilu pierwotnego przez odfiltrowanie składowych fal profilu
filtrem o granicznej długości fali λc i składowych długofalowych o granicznej długości fali filtra
λf. Parametry uzyskane z tego profilu oznaczone są literą W i dotyczą odcinka elementarnego
lw. Zwykle są uśredniane z kilku odcinków elementarnych lw. Długość odcinka elementarnego
lw odpowiada długości fali λf. Liczba odcinków elementarnych nie jest normowana, dlatego
powinna być podawana na rysunku i zawierać się pomiędzy 5 a 10.


lr
odcinek elementarny
ln odcinek pomiarowy
lt
odcinek przejazdu igły zawiera
odcinek na rozpęd i odcinek na
hamowanie.
Rt, Rz
µm
Ra
µm
RSm
mm
> 0,025…0,1
> 0,006...0,02
> 0,013…0,04
2
> 0,1…0,5
> 0,02...0,1
> 0,04…0,13
2
> 0,5…10
> 0,1…2
> 0,13…0,4
2*)
> 10…50
> 2…10
> 0,4…1,3
> 50…200
> 10…80
> 1,3…4
rtip
µm
λc=lr
mm
ln
mm
lt
mm
0,08
0,4
0,48
0,25
1,25
1,5
0,8
4
4,8
5
2,5
12,5
15
10
8
40
48
*) Dla Rz > 3 µm lub Ra > 0,5 µm można używać igły o promieniu rtip = 5 µm
Dodatkowo normowana jest minimalna odległość pomiędzy rejestrowanymi punktami x i graniczna długość fali
filtra dolnoprzepustowego s. Te wartości ustawiane są zwykle automatycznie przez urządzenia pomiarowe.
Praktyczna rada 1: Jeśli na powierzchni mierzonego elementu jest za mało miejsca dla wymaganego lt, należy
zmniejszyć liczbę odcinków lr a informację o niej zamieścić w rysunku lub dokumentacji technicznej.
Praktyczna rada 2: Jeśli w dalszym ciągu miejsca jest za mało, należy zamiast parametrów np. Rt mierzyć parametry
profilu pierwotnego np. Pt na dostępnej długości powierzchni mierzonej. Wartości parametrów P są zwykle większe
od wartości parametrów R.
Ocena pomiaru chropowatości (PN-ISO 4288:1998)
Ponieważ wartości parametrów chropowatości jak Ra, Rt, Rz, Rz1max mogą istotnie zmieniać się na obszarze
mierzonej powierzchni, dlatego wynik pojedynczego pomiaru nie zawsze daje wystarczające informacje pozwalające
na zaklasyfikowanie wyrobu jako zgodnego z tolerancją lub nie.
Norma PN-ISO 4288 załącznik A definiuje zasady pomiaru:
Profil pierwotny po zastosowaniu filtra λf
Zasada maksimum
Jeśli przy parametrze chropowatości występuje oznaczenie „max” to wykonujemy co najmniej trzy pomiary, w tym jeden
w miejscu, gdzie powierzchnia wydaje się mieć najgorszą wartość, lub trzy pomiary równo rozmieszczone dla powierzchni
jednorodnej. Wynikiem pomiaru jest najwyższa zmierzona wartość.
Zasada 16%
Stosowana jest do parametrów chropowatości bez oznaczenia „max”. Oznacza, że jeśli nie więcej niż 16% wszystkich
wartości zmierzonych na jednym odcinku pomiarowym przekracza wartość podaną na rysunku, to powierzchnia
uznawana jest za zgodną z wymaganiami.
Profil falistości po zastosowaniu filtra λc
Krótkofalowe
składowe profilu
Chropowatość
Charakterystyki przenoszenia profili chropowatości i falistości
Mitutoyo Polska Sp. z o.o.
Mitutoyo
GmbH
ul.3 Mińska Messgeräte
54-56
M
Solution
Center Europe
54-610
Wrocław
Borsigstraße 8-10
Tel. +48Neuss
(0)71/354-83-50
41469
+48
(0)71/354-83-55
TFax
+49
(0)2137-102-0
[email protected]
+49 (0)2137- 8685
www.mitutoyo.pl
www.mitutoyo.de
Falistość
Długofalowe
składowe profilu
Sposób postępowania:
1. Jeśli pierwsza wartość zmierzona nie przekracza 70% wartości dopuszczalnej to powierzchnia uznawana jest za
zgodną a pomiar zakończony.
2. Jeśli trzy wartości zmierzone nie przekraczają wartości dopuszczalnej to powierzchnia uznawana jest za zgodną a
pomiar zakończony.
3. Jeśli nie więcej niż jedna z sześciu wartości zmierzonych przekracza wartość dopuszczalną to powierzchnia
uznawana jest za zgodną a pomiar zakończony.
Mitutoyo Messgeräte GmbH
M3 Solution Center Leonberg
Steinbeisstraße 2
71229 Leonberg
T +49 (0)7152-6080-0
F +49 (0)7152-6080-60
Mitutoyo Messgeräte GmbH
M3 Solution Center Hamburg
Tempowerkring 9
21079 Hamburg
T +49 (0)40-791894-0
F +49 (0)40-791894-50
Mitutoyo Mess
M3 Solution Ce
Paradiesstraße 20
12526 Berlin
T +49 (0)30-2611
F +49 (0)30-2629
ATOŚCI POWIERZCHNI
Oznaczenia na rysunku (PN-EN ISO 1302:2004)
Symbol podstawowy
Symbol oznaczający,
że wymagane jest
usunięcie materiału
Symbol dotyczący
wszystkich powierzchni
pierwsze wymaganie dotyczące struktury geometrycznej
powierzchni
b
drugie wymaganie dotyczące struktury geometrycznej
powierzchni
Rmr(c) – udział materiałowy profilu: iloraz długości materiałowych elementów profilu na
zadanym poziomie c (w µm) i odcinka pomiarowego ln.
metoda obróbki
RSm – średnia szerokość elementów profilu: wartość średnia szerokości elementów profilu
Xs wewnątrz odcinka elementarnego.
d
oznaczenie kierunku obróbki
e
naddatek obróbkowy
x
Ra – średnia arytmetyczna rzędnych profilu: średnia arytmetyczna bezwzględnych wartości
rzędnych wewnątrz odcinka elementarnego.
Rt – całkowita wysokość profilu: suma wysokości najwyższego wzniesienia profilu Zp i
największej głębokości wgłębienia profilu Zv wewnątrz odcinka pomiarowego ln.
Litera pozwalająca na wprowadzenie danych, kiedy miejsce jest
ograniczone

Rz - najwyższa wysokość profilu chropowatości: suma wysokości najwyższego wzniesienia
profilu Zp i głębokości najniższego wgłębienia profilu Zv wewnątrz odcinka elementarnego. Dotyczy
odcinka elementarnego lr. W procedurach obliczeniowych Rz zwykle jest uśredniane spośród pięciu
wartości w odcinkach elementarnych lri składających się na odcinek pomiarowy ln.
Rzi (JIS) – maksymalna wysokość profilu: suma wysokości najwyższego wzniesienia Zp i
głębokości najniższego wgłębienia Zv wewnątrz odcinka elementarnego lri.
Pozycje symboli (powyżej)
Kierunki i symbole obróbki (pozycja d
poniżej)
Rz1max (JIS) – maksymalna wysokość chropowatości: największa wartość Rzi spośród
pięciu wartości w odcinkach elementarnych lri składających się na odcinek pomiarowy ln.

=

X
M
C
R
P
Równoległy*
Prostopadły*
Krzyżowy
Wielokierunkowy
Współśrodkowy
Promieniowy
Nieregularny
Ra – średnia arytmetyczna rzędnych profilu
*)... do widoku płaszczyzny rzutowania, do której stosuje się symbol
sgeräte GmbH
enter Berlin
08
1267
9209
a
c
Symbol oznaczający,
że nie dopuszcza się
usunięcia materiału
Wybrane parametry chropowatości według (PN-EN ISO 4287:1999)
Przykład
Wyjaśnienie
Niedopuszczalne jest usunięcie materiału w procesie produkcji, tolerancja
jednostronna górna, znormalizowane pasmo przenoszenia, profil R, największa
wysokość profilu 5 µm, odcinek pomiarowy złożony z pięciu odcinków
elementarnych, zasada 16%.
Rt – całkowita wysokość profilu, Rz - największa wysokość profilu i Rz1max – maksymalna wysokość
chropowatości
Powinno się usunąć materiał w procesie produkcji, tolerancja jednostronna
górna, znormalizowane pasmo przenoszenia, profil R, największa wysokość
profilu 3 µm, odcinek pomiarowy złożony z pięciu odcinków elementarnych,
zasada maksimum. Naddatek na obróbkę 0,2 mm.
Powinno się usunąć materiał w procesie produkcji, tolerancja jednostronna
górna, znormalizowane pasmo przenoszenia, profil R, największa wysokość
profilu 4µm, odcinek pomiarowy złożony z trzech odcinków elementarnych,
zasada 16%. Ślady obróbki współśrodkowe względem środka powierzchni.
Powinno się usunąć materiał w procesie produkcji, tolerancja jednostronna
górna, znormalizowane pasmo przenoszenia, profil R, zasada 16%, największa
wysokość profilu 5µm, średnia arytmetyczna rzędnych profilu 1 µm.
RSm – jest wartością średnią szerokości elementów profilu Xsi
Powinno się usunąć materiał w procesie produkcji, znormalizowane pasmo
przenoszenia, profil R, zasada 16%, największa wysokość profilu powinna
zawierać się pomiędzy 1 µm a 3 µm.
Powinno się usunąć materiał w procesie produkcji, znormalizowane pasmo
przenoszenia dla λs bez filtru długofalowego λc, profil P, odcinek elementarny
równy odcinkowi pomiarowemu, zasada 16%, całkowita wysokość profilu 25
µm, tolerancja jednostronna górna.
Powinno się usunąć materiał w procesie produkcji, pasmo przenoszenia λc=0,8
do λf=lw=25 mm, profil W, odcinek pomiarowy składa się z 5 odcinków
elementarnych ln=5 x lw=125 mm, zasada 16%, całkowita wysokość profilu
10 µm, tolerancja jednostronna górna.
Rmr(c) udział materiałowy profilu, zadany poziom cięcia c w odcinku pomiarowym ln. (Krzywa AbbotaFirestona)
Powinno się usunąć materiał w procesie produkcji, znormalizowane pasmo
przenoszenia, profil R, zasada 16%, całkowita wysokość profilu 1µm, tolerancja
jednostronna górna, względny udział materiałowy 90% na poziomie cięcia
c=0,3, tolerancja jednostronna dolna.
Właściwości parametrów
Powinno się usunąć materiał w procesie produkcji, znormalizowane pasmo
przenoszenia, profil R, zasada 16%, średnia szerokość rowków profilu powinna
zawierać się pomiędzy 0,1 mm a 0,3 mm.
Rmr(c) – udział materiałowy profilu - użyteczny jest dla powierzchni prowadzących i dla
szczelności powierzchni poruszających się po innych.
Sposób zapisu jeśli na rysunku jest zbyt mało miejsca. Wyjaśnienie znaczenia
litery powinno znaleźć się w innym miejscu na rysunku.
Mitutoyo Messgeräte GmbH
M3 Solution Center im tbz Eisenach
Heinrich Ehrhardt Platz
99817 Eisenach
T +49 (0)3691-88909-0
F +49 (0)3691-88909-9
Mitutoyo Messgeräte GmbH
M3 Solution Center Ingolstadt
Ziegeleistraße 66
85055 Ingolstadt
T +49 (0)841-954920
F +49 (0)841-9549250
Rz1max – maksymalna wysokość chropowatości – użyteczna jest dla powierzchni gdzie
ze względu na charakter pracy ważne są miejscowe zmiany, np. uszczelnienia.
Rz - największa wysokość profilu: użyteczny dla większości powierzchni.
Ra - średnia arytmetyczna wartości rzędnych profilu, słabo reaguje na miejscowe zmiany a jej
wartość nie daje jasnego obrazu stanu powierzchni.
Pomiary odchyłek okrągłości
Urządzenie do pomiarów odchyłek okrągłości Roundtest RA-2100 DS
Zakres pomiarowy:
- maksymalna mierzona średnica: 300 mm
- maksymalna średnica detalu: 580 mm
- Z: 300 mm - maksymalna wysokość pomiaru
Niepewność pomiarowa:
- promieniowa: (0,02+5H/10000) µm
- osiowa: (0,02+6X/10000) µm
W zestawie:
- standardowa końcówka pomiarowa
- adapter do końcówek pomiarowych CMM z gwintem M2
- zestaw kalibracyjny
- uchwyt trójszczękowy mocowany na stole obrotowym
- przyjazne oprogramowanie ROUNDPAK
- komputer PC z monitorem LCD 19`` i drukarką
- pakiet usług:
- instalacja i kalibracja
- szkolenie z obsługi oprogramowania ROUNDPAK - 2 dni
dla 1 osoby w siedzibie Mitutoyo Polska we Wrocławiu
Numer art.
211-863D-1
Opis
Roundtest RA-2100DS
Cena specjalna
34.500,00 Euro netto
DAT (Digital Adjustment Table): �
Workpiece centering/leveling with Digimatic micrometer heads
Turntable�
axis
Initial misalignment �
of axes
Turntable axis
Workpiece
Workpiece
Initial misalignment�
of centers at �
turntable surface
Centering range: ± 5 mm�
Leveling range of inclination: ± 1°�
Preliminary�
Display of misalignments
measurement
Preliminary measurement of �
two cross-sections ‘A’ and ‘B’.
Feed the digital micrometer �
head of the turntable by �
the deviation displayed.
Simple �
adjustment
Centering/leveling �
complete
Centrowanie i poziomowanie detalu
Automatyczna realizacja pomiaru
Uchwyt trójszczękowy
Pomiar wycinka walca
10
Okrągłościomierze Roundtest w pomiarach
Analiza odchyłek okrągłości
Analiza odchyłek okrągłości
Analiza walcowości - raport graficzny
Analiza walcowości - raport graficzny
11
Systemy obróbki obrazu
Manualny system obróbki obrazu Quick Scope QS 1020 Z/AF
Zakres pomiarowy:
X=200 mm
Y=100 mm
Z=150 mm
Niepewność pomiarowa: E=(3,0+0,02L) µm
W zestawie:
- obiektyw Powerzoom - zmiana powiększenia - 8 wartości
- Autofokus - automatyczne ogniskowanie, pomiar w osi Z
- oświetlenie: osiowe, pierścieniowe i przechodzące
- zestaw do mocowania detali opti-fix - 12 elementów
- przyjazne oprogramowanie QS-PAK
- komputer PC z monitorem LCD 19`` i drukarką
- pakiet usług:
- instalacja i kalibracja
- szkolenie z obsługi oprogramowania QS-PAK - 2 dni
dla 1 osoby w siedzibie Mitutoyo Polska we Wrocławiu
Numer art.
359-605D
Oświetlenie przechodzące - cieniowe
Opis
Cena specjalna
Quick Scope QS-L1020 Z/AF 18.500,00 Euro netto
Oświetlenie pierścieniowe
Oświetlenie osiowe
Przyjazne oprogramowanie QS-PAK
Zamocowanie detalu - system opti-fix
12
Systemy Quick Scope w pomiarach
13
Systemy obróbki obrazu
Automatyczny system obróbki obrazu Quick Scope QS 250 Z CNC
Zakres pomiarowy:
X=200 mm
Y=250 mm
Z=100 mm
Niepewność pomiarowa: E=(2,5+0,6L/100) µm
W zestawie:
- obiektyw Powerzoom - zmiana powiększenia - 8 wartości
- Autofokus - automatyczne ogniskowanie, pomiar w osi Z
- oświetlenie: osiowe, pierścieniowe i przechodzące
- zestaw do mocowania detali opti-fix - 12 elementów
- joystick sterujący
- przyjazne oprogramowanie QS-PAK
- komputer PC z monitorem LCD 19`` i drukarką
- pakiet usług:
- instalacja i kalibracja
- szkolenie z obsługi oprogramowania QS-PAK - 2 dni
dla 1 osoby w siedzibie Mitutoyo Polska we Wrocławiu
Numer art.
359-508-7EU
Opis
Quick Scope QS-250Z CNC
Oświetlenie przechodzące - cieniowe
Oświetlenie pierścieniowe
Cena specjalna
24.000,00 Euro netto
Oświetlenie osiowe
Przyjazne oprogramowanie QS-PAK
Zamocowanie detalu - system opti-fix
14
Systemy Quick Scope w pomiarach
15
Informacje ogólne
Centrum demonstracyjno - szkoleniowe
Mitutoyo Polska we Wrocławiu:
- świadczy doradztwo w dziedzinie
rozwiązań pomiarowych
- wykonuje szkolenia i prezentacje
w następujących dziedzinach:
Uwaga:
Wszystkie szczegóły dotyczące produktów, w
szczególności zdjęcia, rysunki, wymiary, parametry
użytkowe i inne specyfikacje techniczne zawarte w tym
katalogu mają charakter jedynie poglądowy.
Zastrzegamy sobie prawo do zmian w wyglądzie
i parametrach użytkowych oraz technicznych prezentowanych urządzeń. To samo dotyczy oprogramowania i
świadczonych usług.
Informacje zawarte w niniejszym katalogu są aktualne
z chwilą jego wydrukowania.
Publikowanie tego katalogu w jakiejkolwiek formie
(w całości lub części) i wykorzystywanie zawartych w
nim informacji wymaga pisemnej zgody firmy Mitutoyo.
Pomiary
współrzędnościowe
Pomiary
konturów
Pomiary odchyłek
okrągłości
Pomiary
chropowatości
Mitutoyo Polska Sp. z o.o.
ul. Mińska 54-56
54-610 Wrocław
Tel. +48 (0)71/354-83-50
Fax +48 (0)71/354-83-55
[email protected]
www.mitutoyo.pl
Pomiary
optyczne
Uwaga: Ulotka nie stanowi oferty handlowej. Podane ceny są cenami netto bez podatku VAT 22%. Szczegółowa oferta dotycząca prezentowanych produktow jest dostępna na zapytanie.
Akcja promocyjna trwa w podanym okresie lub do wyczerpania zapasow. Mitutoyo Polska zastrzega prawo do odwołania akcji promocyjnej bez podania przyczyn.

Podobne dokumenty