PL - PTCer
Transkrypt
PL - PTCer
MATERIA£Y CERAMICZNE /CERAMIC MATERIALS/, 66, 1, (2014), 27-31 www.ptcer.pl/mccm Optyczne i strukturalne badania szkieá tellurowych z ukáadu TeO2–WO3–PbO mody¿kowanych tlenkami lutetu i lantanu BOĩENA BURTAN1, IWONA GRELOWSKA2, JAN WASYLAK2, MANUELA REBEN2* 1 Politechnika Krakowska, Wydziaá Fizyki, Matematyki i Informatyki, Instytut Fizyki, ul. PodchorąĪych 1, 30–084 Kraków AGH Akademia Górniczo-Hutnicza, Wydziaá InĪynierii Materiaáowej i Ceramiki, KSiPA, al. A. Mickiewicza 30, 30-059 Kraków *e-mail: [email protected] 2 Streszczenie W artykule przedstawiono badania dotyczące wpáywu tlenków lutetu i lantanu na wáaĞciwoĞci ¿zykochemiczne szkieá tellurowych z ukáadu TeO2–WO3–PbO. Przebieg przemian fazowych, zachodzących podczas ogrzewania szkieá, badano przy pomocy metody DTA, XRD oraz SEM. Przy pomocy spektroskopii MIR oraz Ramana okreĞlono wpáyw mody¿katorów w postaci lantanu i lutetu na strukturĊ szkieá tellurowych. Na podstawie badaĔ optycznych transmisji i odbicia potwierdzono wysoką przepuszczalnoĞü szkieá zwáaszcza w Ğrodkowej podczerwieni. Przy pomocy badaĔ elipsometrycznych stwierdzono, Īe mody¿katory w postaci jonów Lu3+ i La3+ obniĪają wartoĞü wspóáczynnika zaáamania Ğwiatáa. Sáowa kluczowe: szkáa tellurowe, wspóáczynnik zaáamania, mody¿kator szkáa, La2O3, Lu2O3 OPTICAL, THERMAL AND STRUCTURAL STUDIES OF TERNARY TeO2–WO3–PbO GLASSES MODIFIED WITH LANTHANUM AND LUTETIUM OXIDES The goal of this work was to investigate the inÀuence of lanthanum and lutetium oxides on physicochemical properties of the TeO2-WO3-PbO glass matrix. Differential thermal analysis DTA, XRD, SEM measurements have been considered in terms of the La2O3 and Lu2O3 addition. Raman and MIR spectroscopy was used for characterization of glasses. The Raman spectra of the glasses were interpreted in terms of the structural transformations produced by the modi¿ers. The reÀectance, transmittance and ellipsometric measurements have been done. Decreasing of the refractive index of the base glass with the Lu3+ and La3+ ion doping has been found. Keywords: Tellurite glasses, Refractive index, Glass modi¿er, La2O3, Lu2O3 1. Wprowadzenie Szkáa specjalne mogą przekazywaü Ğwiatáo na duĪe odlegáoĞci, zmieniaü czĊstotliwoĞü padającego na nie promieniowania i stąd ich zastosowanie w technice Ğwiatáowodowej i optoelektronice dla telekomunikacji [1-6]. Najistotniejszą z punktu widzenia optoelektroniki cechą szkieá tellurowych jest zakres przepuszczalnoĞci w podczerwieni, który siĊga do 7 m [7-8]. WĞród róĪnych matryc szklistych, szkáa z ukáadu TeO2–WO3–PbO są odpowiednim materiaáem optycznym, posiadającym wysoką stabilnoĞü termiczną oraz wysoki wspóáczynnik zaáamania Ğwiatáa [9]. Tabela. 1. Skáady topionych szkieá. Table 1. Chemical composition of glasses. StĊĪenie [% mol.] Nazwa szkáa TeO2 WO3 PbO La2O3 Lu2O3 TWP 60 30 10 - - TWPLa 60 27 10 3 - TWPLu 60 27 10 Szkáa optyczne mody¿kowane tlenkiem lantanu i tlenkiem lutetu uzyskują nowe specy¿czne wáaĞciwoĞci, które wynikają ze struktury elektronowej tych pierwiastków. Szkáa tellurowe mody¿kowane tlenkiem lantanu, ze wzglĊdu na niską energiĊ fononów (750 cm-1), są dobrym kandydatem na bazowe materiaáy do budowy wzmacniaczy i urządzeĔ laserowych. 2. Opis eksperymentu Zestawy szkieá tellurowych z ukáadu TeO2–WO3–PbO mody¿kowane tlenkiem lantanu (La2O3) i tlenkiem lutetu (Lu2O3) topiono przy uĪyciu chemicznie czystych surowców: TeO2 (60% mol.), WO3 (27% mol.), PbO (10% mol.), La2O3 (3% mol.), Lu2O3 (3% mol.). Topienie 25 gramowych zestawów przeprowadzono w tyglach ze záota z platynową pokrywką w piecu elektrycznym w temperaturze 850 °C w atmosferze powietrza. Stopione zestawy wylano do mosiĊĪnej formy, podgrzanej do temperatury 330 °C. Otrzymane szkáa odprĊĪono w temperaturze w zakresie 320–340 °C. Skáady wytopionych szkieá przedstawiono w Tabeli 1. 3 27 B. BURTAN, I. GRELOWSKA, J. WASYLAK, M. REBEN 2.1. Metodyka badaĔ Badania strukturalne szkieá tellurowych z ukáadu TeO2 – WO3 – PbO – La2O3 oraz TeO2 – WO3 – PbO – Lu2O3 przeprowadzono przy uĪyciu spektroskopii w podczerwieni (MIR – ang. mid-infrared oraz spektroskopii Ramana). Pomiary w obszarze MIR zastaáy wykonane na spektrometrze fourierowskim Vertex 70v ¿rmy Bruker. Widma zarejestrowano w skali absorbancji w zakresie 4000–400 cm-1, przy 256 skanach i rozdzielczoĞci 4 cm-1. Pomiary ramanowskie wykonano na spektrometrze Horiba Jobin Yvon LabRam HR800. Jako Ĩródáa wzbudzającego uĪyto lasera Ar+ 532 nm. Widma rejestrowano w zakresie 50–4000 cm-1. Charakterystyczne efekty termiczne zachodzące podczas ogrzewania szkieá tellurowych zbadano przy wykorzystaniu termicznej analizy róĪnicowej (DTA – ang. differential thermal analysis) i skaningowej kalorymetrii róĪnicowej (DSC – ang. differential scanning calorimetry). Amor¿cznoĞü otrzymanych szkieá bezpoĞrednio po wytopie potwierdzono przy pomocy badaĔ rentgenowskich (XRD – ang. X-ray diffraction). Pomiary elipsometryczne badanych szkieá tellurowych polegaáy na wyznaczeniu parametrów Ȍ i ǻ w funkcji dáugoĞci fali w zakresie widmowym 190–1700 nm [10]. Pomiary przeprowadzono dla trzech kątów padania, tj. 60°, 65° i 70°, wykorzystując elipsometr spektroskopowy M-2000 ¿rmy J.A. Woollam. ZnajomoĞü parametrów elipsometrycznych pozwoliáa na okreĞlenie zaleĪnoĞci dyspersyjnych staáych optycznych badanych szkieá, a dodatkowo ich chropowatoĞci [11]. Zarówno do rejestracji danych doĞwiadczalnych, jak i dopasowywania odpowiedniego modelu teoretycznego sáuĪyáo oprogramowanie CompleteEASE v. 4.1, w jaki elipsometr M-2000 jest wyposaĪony. Ze wzglĊdu na bardzo sáabą absorpcjĊ w obszarze 400–1700 nm, moĪna zastosowaü model Sellmeiera, pozwalający na otrzymanie zaleĪnoĞci analitycznej dyspersji wspóáczynnika zaáamania dla badanych szkieá, tym bardziej, Īe model ten bardzo dobrze opisuje róĪnego rodzaju szkáa, w tym tellurowe, dla których wspóáczynniki zaáamania wyznaczono bezpoĞrednio innymi metodami [12]. Dopasowanie parametrów elipsometrycznych w zakresie 400–1700 nm umoĪliwiáo wyznaczenie dyspersji wspóáczynnika zaáamania n(Ȝ) w oparciu o jedną z wersji modelu Sellmeiera w postaci [13]: natomiast sumując natĊĪenia wiązek opuszczających dolną powierzchniĊ otrzymujemy caákowitą transmisjĊ T. Dla dowolnego kąta padania, wzory są bardzo skomplikowane [15], natomiast przy padaniu normalnym (M0 = M1 = 0) i przy zaáoĪeniu, Īe warstwa o gruboĞci d, wspóáczynniku zaáamania n i wspóáczynniku ekstynkcji k, jest otoczona przez powietrze (tj. n = 1), otrzymuje siĊ wzory, które moĪna przedstawiü w zwartej postaci jako [15]: T = [1 + ρ2 − 2 Re(r 2 ) ]τ 1 + ρ τ − 2τ Re(r 2 ) cos 2ϕ + 2τ Im( r 2 ) sin 2ϕ 2 2 (2) R= ρ(1 + τ 2 ) − 2ρτ cos 2ϕ 1 + ρ 2 τ 2 − 2τ Re(r 2 ) cos 2ϕ + 2τ Im( r 2 ) sin 2ϕ (3) gdzie τ = exp( −ad ) , a ϕ = (1) gdzie A, B, C i D są staáymi dopasowania. W celu wyznaczenia transmisji oraz odbicia, próbki zostaáy poddane badaniom na dwuwiązkowym spektrofotometrze JASCO V-570, pracującym w zakresie dáugoĞci fal 190–2500 nm, tj. w obszarze nad¿oletu, Ğwiatáa widzialnego i bliskiej podczerwieni (UV – Vis – NIR). Widma wspóáczynnika absorpcji wyznaczono uwzglĊdniając wielokrotne odbicia w próbkach o gruboĞci d, wspóáczynnik zaáamania, odbicie od i transmisjĊ przez górną i dolną powierzchnie próbek, które opisują wspóáczynniki Fresnela [14]. Sumując natĊĪenia wiązek opuszczających górną powierzchniĊ warstwy uzyskujemy caákowite odbicie R, 28 MATERIA£Y CERAMICZNE /CERAMIC MATERIALS/, 66, 1, (2014) , r – wspóáczynnik odbicia Fresnela, Re i Im - czĊĞci rzeczywista i urojona liczby zespolonej r2. ObecnoĞü czáonów trygonometrycznych w powyĪszych wzorach sprawia, Īe zaleĪnoĞci T(Ȝ) i R(Ȝ) mają, w obszarze sáabej absorpcji, charakter oscylacyjny, przy czym maksimom interferencyjnym w transmisji odpowiadają minima w odbiciu i odwrotnie. W miarĊ wzrostu gruboĞci warstwy, liczba ekstremów interferencyjnych w okreĞlonym przedziale dáugoĞci fali roĞnie i w przypadku, kiedy zdolnoĞü rozdzielcza aparatury mierzącej T i R staje siĊ mniejsza niĪ odlegáoĞü miĊdzy ekstremami, nastĊpuje ich uĞrednienie, co prowadzi do uzyskania gáadkich widm T(Ȝ) i R(Ȝ). Takie uĞrednienie moĪna przeprowadziü matematycznie, w wyniku czego wspomniane powyĪej wzory przybierają nastĊpującą, prostą postaü [15-16]: R = ρ(1 + τT ) , gdzie T= τ(1 − ρ)2 1 − ρ2 τ2 i ρ= (4) (1 − n )2 + k 2 . (1 + n )2 + k 2 WielkoĞü U opisuje odbicie od górnej powierzchni próbki, bez uwzglĊdnienia odbiü wielokrotnych i jest związana ze wspóáczynnikiem odbicia Fresnela r relacją: 0,5 B λ2 ⎛ ⎞ n( λ ) = ⎜ A + 2 − D λ2 ⎟ , 2 λ −C ⎝ ⎠ 2πn d λ 2 ρ= r = 1− n + i k 1+ n − i k 2 (5) 3. Dyskusja i omówienie wyników Zarejestrowane widma Ramana szkieá z ukáadu TeO2-WO3-PbO mody¿kowanych tlenkiem lantanu i lutetu, przedstawione na Rys. 1a, charakteryzują siĊ obecnoĞcią trzech grup intensywnych pasm absorpcyjnych, poáoĪonych w zakresach 300–560 cm-1, 550–850 cm-1 oraz 850–1000 cm-1 [17]. Pasma z maksimami przy ok. 475 cm-1, 665 cm-1 oraz 720 cm-1 przypisywane są wiązaniom Te–O–Te i O–Te–O i odpowiadają drganiom rozciągającym Te-O, wystĊpującym zarówno w trójkątnych bipiramidach [TeO4], jak równieĪ w trójkątnych piramidach [TeO3] [18]. OPTYCZNE I STRUKTURALNE BADANIA SZKIEà TELLUROWYCH Z UKàADU TeO2–WO3–PbO MODYFIKOWANYCH TLENKAMI LUTETU I LANTANU Sáabo widoczne przegiĊcie, wystĊpujące przy ok. 675 cm-1, przypisywane jest trójkątnym piramidom [TeO3], podczas gdy pasmo leĪące przy ok. 725 cm-1 przypisywane jest wiązaniom typu Te-Oeq, wystĊpującym w znieksztaáconej trójkątnej bipiramidzie [TeO4] [18]. Dodanie tlenków La2O3 oraz Lu2O3 powoduje uwypuklenie pasma, któremu przypisywane są drgania Te-O w jednostce [TeO3]. Natomiast obserwowane zmniejszenie intensywnoĞci pasma związanego z drganiami Te-Oeq, wystĊpującego w znieksztaáconej jednostce [TeO4], moĪe Ğwiadczyü o wbudowywaniu siĊ jonów Ln do struktury szkieá poprzez zamia- a) b) Rys. 1. Widma Ramana (a) i widma w podczerwieni (MIR) (b) szkieá tellurowych z ukáadu TeO2-WO3-PbO (TWP), mody¿kowanych tlenkami lantanu (TWPLa) oraz lutetu (TWPLu). Fig. 1. Raman spectra (a) and infrared spectra (MIR) (b) tellurite glasses from the TeO2-WO3-PbO system (TWP) modi¿ed with lanthanum oxide (TWPLa) and lutetium oxide (TWPLu). nĊ wiązaĔ O–Te–O, czy Te–O–Te na wiązania Ln–Te–O, Ln–O–Te czy O–Ln–O. Intensywne pasmo, widoczne przy ok. 911 cm-1, jest charakterystyczne dla jonów wolframu wystĊpujących w jednostce [WO6] i [WO4]. Pasma przy ok. 470 i 350 cm-1 przypisywane są wiązaniom Te-O-W i Te-O-Te (470 cm-1) i W-O-W w [WO6] i Pb-O w PbO4. [17]. Na Rys. 1b przedstawiono zestawienie widm MIR badanych szkieá. Na widmie szkáa wyjĞciowego (nie zawierającego jonów La i Lu) widoczne są cztery pasma lub przegiĊcia przy ok. 926 cm-1, 843 cm-1, 774 cm-1 i 662 cm-1. Pasma te związane są z drganiami rozciągającymi W-O (925 cm-1) w [WO4] i [WO6], drganiami poáączeĔ W-O-W, drganiami Te-Oeq (775 cm-1) w [TeO4] i Te-Oax (660 cm-1) w [TeO4] [19]. Podobny ukáad pasm zaobserwowano na widmach szkieá zawierających jony La i Lu. Pewne róĪnice uwidaczniają siĊ tylko w przypadku gáównego pasma poáoĪonego przy ok. 662 cm-1. Widoczne jest znaczące przesuniĊcie tego pasma w kierunku niĪszych liczb falowych (650–655 cm-1), co jest charakterystyczne dla wiązaĔ Te-O-. Fakt ten wskazuje, Īe wprowadzenie jonów La i Lu doprowadza do zrywania mostków Te-O-Te i/lub Te-O-W i pojawienia siĊ wiązaĔ Te-O-Ln. Na podstawie analizy krzywych DSC, które przedstawiono na Rys. 2, oraz obliczonych wartoĞci zmian parametrów termicznych, towarzyszących pojawiającym siĊ efektom, potwierdzono wpáyw mody¿kacji skáadu wyjĞciowego TWP szkieá tellurowych na przebieg zmian zachodzących w trakcie ogrzewania omawianych szkieá. Najmniejsza wartoĞü zmiany ciepáa molowego 'Cp (0,371 Jg-1qC-1) szkáa TWPLa wskazuje na wzrost trwaáoĞci wiĊĨby tellurowej utrudniającej krystalizacjĊ, a przez to efekt krystalizacji pojawiający siĊ w przypadku szkáa TWP bez dodatku tlenku lantanu, ulega zanikowi (Rys. 2). RozwaĪając wpáyw zawartoĞci poszczególnych skáadników badanych szkieá na ich charakterystykĊ termiczną stwierdzono, Īe mody¿kacja skáadu podstawowego szkáa TWP tlenkiem lutetu kosztem zmniejszenia zawartoĞci WO3 powoduje wzrost skokowej zmiany ciepáa molowego 'Cp od 0,376 Jg-1qC-1 (TWP) do 0,419 Jg-1qC-1 (TWPLu) (Tabela 2). Zgodnie z prawidáowoĞcią, wedáug której 'Cp jest wskaĨnikiem wzrostu entropii kon¿guracyjnej [18], obserwowana najwiĊksza wartoĞü skokowej zmiany ciepáa molowego Ğwiadczy o zwiĊkszonej iloĞci zerwanych wiązaĔ chemicznych w trakcie przemiany stanu szklistego. Zjawisku temu towarzyszy wzrost tendencji szkáa do krystalizacji, przejawiający siĊ obniĪeniem temperatury krystalizacji w stosunku do szkáa podstawowego TWP oraz zmniejszeniem wartoĞci parametru stabilnoĞci termicznej 'T = 117 qC dla szkáa TWPLu, ('T = 161 qC dla szkáa podstawowego TWP). ObecnoĞü krystalizujących faz TeO2 i WO3, powstaáych po obróbce termicznej szkieá TWP oraz TWPLu w temperaturze krystalizacji potwierdzono rentgenogra¿cznie, co przedstawiają Rys. 3a i Rys. 3b. Przedstawione na Rys. 4. zaleĪnoĞci dyspersyjne wspóáczynnika zaáamania dla badanych szkieá tellurowych są bardzo podobne. W obszarze fal dáugich, wielkoĞü wspóáczynnika zaáamania mieĞci siĊ w zakresie 2,09 – 2,12 i wzrasta do 2,32 – 2,38 przy 400 nm. W wyniku dopasowania do z góry zaáoĪonego modelu, otrzymano wartoĞci parametrów Sellmeiera, a takĪe wartoĞü wspóáczynnika zaáamania dla standardowej dáugoĞci fali 633 nm oraz chropowatoĞü badanych próbek (Tabela na Rys. 4). MATERIA£Y CERAMICZNE /CERAMIC MATERIALS/, 66, 1, (2014) 29 B. BURTAN, I. GRELOWSKA, J. WASYLAK, M. REBEN a) Counts 2_553C Rys. 2. Krzywe DTA szkieá tellurowych. Fig. 2. DTA curves of tellurite glasses. 100 80 Tabela 2. Charakterystyka termiczna przemian fazowych zachodzących w trakcie ogrzewania szkieá tellurowych. Table 2. Thermal characteristics of tellurite glasses. 60 0 ¨Cp Tmax kryst. [Jg-1qC-1] [qC] ¨Hkryst.. [Jg-1] ¨T = Tmax.kryst. – Tg [qC] 548 54,483 161 0,371 – – – 0.419 528 17,204 117 Szkáo Tg [qC] TWP 387 0,376 TWPLa 405 TWPLu 411 20 30 40 50 60 70 Position [°2Theta] Peak List Wyniki pomiarów spektrofotometrycznych dla szkieá tellurowych TWP, TWPLa oraz TWPLu przedstawiono na Rys. 5. W oparciu o widma transmisji i odbicia okreĞlono zaleĪnoĞci dyspersyjne wspóáczynnika absorpcji, które przedstawiono na Rys. 6. PrzepuszczalnoĞü szkieá TWP i TWPLu w zakresie 900– 2500 nm jest podobna – na poziomie ok. 70%. Odbicie szkáa TWP wynosi poniĪej 20%. Dodatek tlenku lantanu do szkáa TWP polepsza przepuszczalnoĞü, która jest na poziomie ok. 75% w zakresie 900-2500 nm, przy odbiciu na poziomie ok. 25%. W obszarze sáabej absorpcji suma (T+R) dla szkáa TWPLa wynosi ok. 98%, co Ğwiadczy o tym, Īe rozpraszanie Ğwiatáa przez powierzchniĊ i w objĊtoĞci próbki jest bardzo niewielkie, a tym samym, Īe szkáo jest jednorodne optycznie. Celem uwypuklenia róĪnicy miĊdzy matrycą TWP, TWPLa i TWPLu w zakresie fal krótkich, na Rys. 6 przedstawiono zaleĪnoĞci spektralne wspóáczynnika absorpcji Į w funkcji energii fotonów. Podstawowa róĪnica miĊdzy obiema matrycami polega na tym, Īe krawĊdĨ absorpcji w przypadku szkieá TWPLa i TWPLu jest przesuniĊta w stronĊ wyĪszych energii w stosunku do szkáa TWP o ok. 0,1 eV, a ponadto zaleĪnoĞü dyspersyjna wspóáczynnika absorpcji dla szkieá TWP i TWPLu jest wyĪsza i wykazuje dodatkową absorpcjĊ w zakresie 1,5–2,2 eV niewiadomego pochodzenia. Porównanie to pokazuje, Īe dodanie La2O3 do szkáa TWP wyraĨnie poprawia przepuszczalnoĞü, co ma duĪe znaczenie w perspektywie ewentualnych zastosowaĔ szkáa TWPLa jako matrycy dla aktywnych optycznie jonów lantanowców. 30 MATERIA£Y CERAMICZNE /CERAMIC MATERIALS/, 66, 1, (2014) 00-052-1005; Tellurium Oxide; Te O2 b) Rys. 3. Dyfraktogramy szkieá poddanych obróbce termicznej: a) szkáo TWP wygrzane w temperaturze krystalizacji 548 oC przez 2 h, b) szkáo TWPLu wygrzane w temperaturze krystalizacji 528 oC przez 2 h. Fig. 3. X-ray diffraction patterns of glasses after heat treatment for 2 h: a) glass TWP at 548 oC, b) glass TWPLu at 528 oC. Rys. 4. ZaleĪnoĞü dyspersyjna wspóáczynnika zaáamania Ğwiatáa dla szkáa TWP, TWPLa oraz TWPLu. Fig. 4. Dispersion relations, n(Ȝ), of TWP, TWPLa and TWPLu glasses. OPTYCZNE I STRUKTURALNE BADANIA SZKIEà TELLUROWYCH Z UKàADU TeO2–WO3–PbO MODYFIKOWANYCH TLENKAMI LUTETU I LANTANU absorpcji (400-1700 nm) moĪe byü opisana zaleĪnoĞcią Sellmeiera. Na podstawie badaĔ spektrofotometrycznych stwierdzono, Īe dodanie tlenku lantanu (La2O3) do szkáa TWP zwiĊksza ich przepuszczalnoĞü, a tym samym przesuwa krawĊdĨ absorpcji w stronĊ wyĪszych energii natomiast zastąpienie La2O3 przez Lu2O3 pogarsza przepuszczalnoĞü matrycy. PodziĊkowanie Praca s¿nansowana z dziaáalnoĞci statutowej Wydziaáu InĪynierii Materiaáowej i Ceramiki, Akademii Górniczo-Hutniczej nr 11.11.160.365 za rok 2013. Literatura Rys. 5. Widma transmisji i odbicia dla szkieá TWP, TWPLa i TWPLu. Fig. 5. Transmittance and reÀection spectra of TWP, TWPLa and TWPLu glasses. [1] [2] [3] [4] [5] [6] [7] [8] [9] Rys. 6. Widmo wspóáczynnika absorpcji Į(E) dla szkieá tellurowych TWP, TWPLa i TWPLu. Fig. 6. Absorption spectra of TWP, TWPLa and TWPLu glasses. [10] [11] 4. Podsumowanie [12] W oparciu o badania termiczne okreĞlono parametr stabilnoĞci termicznej badanych materiaáów amor¿cznych oraz wartoĞci charakterystycznych dla szkieá temperatur. Stwierdzono, Īe wzrost temperatury transformacji Tg, obserwowany w przypadku szkáa tellurowego mody¿kowanego tlenkiem lantanu oraz mniejsze zmiany ciepáa molowego ǻCp, towarzyszące zakresowi transformacji, są dowodem na wzrost wytrzymaáoĞci, jak równieĪ elastycznoĞci tego szkáa. Ponadto dodatek tlenku lantanu do podstawowej matrycy szkáa tellurowego powoduje zanik egzotermicznego efektu krystalizacji związanego z krystalizacją faz TeO2 i WO3. Opierając siĊ na wynikach badaĔ spektroskopowych w podczerwieni ustalono, Īe dodanie tlenków La2O3 lub Lu2O3 do szkáa o skáadzie TeO2-WO3-PbO (TWP) doprowadza do zrywania mostków Te-O-Te i/lub Te-O-W i pojawienia siĊ wiązaĔ Te-O-La (Lu), a najwiĊksza energia drgaĔ sieci nie przekracza 1000 cm-1. Badania elipsometryczne wykazaáy, Īe badane szkáa tellurowe posiadają bardzo wysoki wspóáczynnik zaáamania Ğwiatáa (powyĪej 2), a jego dyspersja w obszarze sáabej [13] [14] [15] [16] [17] [18] [19] El-Mallawany, R. A .H.: Tellurite Glasses: Physical Properties and Data, CRC Press, Boca Raton, Florida, 2002. Yamauchi, H., Senthil Murugan, G., Ohishi ,Y.: Optical properties of Er3+ and Tm3+ ions in a tellurite glass, J. Appl. Phys., 97, (2005), 043505. Kaminskii, A. A.: Achievements of modern crystal-laser physics, Ann. Phys., Paris, 16, (1991), 639-706. Kaminskii, A. A.: Laser crystals, Springer-Verlag, Berlin, 1990. Lobbett, R., Wyatt, R., Eardley, P., Whitley, T. J., Smyth, P., Szebsta, D., Carter, S. F., Davey, S. T., Millar, C. A., BrieÀy, M. C.: System characterization of high gain and high saturated output power Pr3+-doped Àuorozirconate ¿ber ampli¿ers at 1.3 m, Electron. Lett. 27, (1991), 1472. Romaniuk, R., Dorosz, J.: Przegląd materiaáów dla techniki Ğwiatáowodowej w Ğredniej podczerwieni, Szkáo i ceramika, 44, (1983), 49-55. El-Mallawany, R. A. H.: The optical properties of tellurite glasses, J. Appl. Phys., 72, (1992), 1774-1777. El-Mallawany, R. A. H.: Tellurite Glasses Handbook, Physical Properties and Data, CRC Press, Boca-Raton (USA), 2010. Ryba-Romanowski, W.: Effect of temperature and activator concentration on luminescence decay of erbium-doped tellurite glass, J. Lumin., 46, (1990), 163. Jellison, G. E.: Spectroscopic ellipsometry data analysis: measured versus calculated quantities, Thin Solid Films, 313-314, (1998), 33. Reben, M., Wasylak, W., Jaglarz, J.: Changes of refractive index of tellurite glass, Photonics Letters of Poland, 2, 1, (2010), 13-15. Mito, T., Fujino, S., Takebe, H., Moringa, K., Todoroki, S., Sakaguchi, S.: Refractive index and material dispersions of multi-component oxide glasses, J. Non-Cryst. Solids, 210, (1997), 155-162. Liu, J., Cano-Torres, J. M., Esteban-Betegon, F., Serrano, M. D., Cascales, C., Zaldo, C., Rico, M., Griebner, V., Petrov, V.: Opt. Laser Techn., 39, (2007), 558. Heavens, O. S.: Optical properties of thin solid ¿lms, Dover Publ., New York, 1965. Cunsolo, S., Dore, P., Varsamis, C. P.: Refractive index of crystals from transmission and reÀection measurements: MgO in the far-infrared region, Appl. Opt., 31, (1992), 4554-4558. Nicolau, V. P., Balen, F. J.: Spectral radiative properties of glass samples, High Temp. High Press., 33, (2001), 533-541. Sharaf El-Deen, L. M., Al Salhi, M. S., Elkholy, Meawad M.: IR and UV spectral studies for rare earths-doped tellurite glasses, J. Alloys Compd., 465, (2008,) 333–339. Upender, G., Sathe, Vasant G., Mouli, V. Chandra: Raman spectroscopic characterization of tellurite glasses containing heavy metal oxides, Physica B, 405, (2010), 1269–1273. Munoz-Martin, D., Villegas, M.A., Gonzalo, J., Fernandez-Navarro, J. M.: Characterisation of glasses in the TeO2-WO3-PbO system, J. Eur. Ceram. Soc., 29, (2009) 2903-2913. i Otrzymano 10 paĨdziernika 2013, zaakceptowano 22 stycznia 2014 MATERIA£Y CERAMICZNE /CERAMIC MATERIALS/, 66, 1, (2014) 31