Metrologia papiernicza i poligraficzna

Zakład Technologii Poligraficznych
Metrologia papiernicza i poligraficzna
METROLOGY OF GRAPHIC ARTS AND PAPER INDUSTRY
1. Identyfikator przedmiotu
Rodzaj studiów : Studia I-go stopnia (inżynierskie zaoczne)
Kierunek : Papiernictwo i Poligrafia
Specjalność : Technologia poligrafii
Symbol jednostki dydaktycznej: METPOL
W24
Rodzaj: Obowiązkowe
Grupa: Techniczne (Kierunkowe)
Semestr: 6
ECTS: 3
Data opracowania : 2008
2. Oczekiwane efekty kształcenia
W ramach prowadzonych zajęć studenci mają możliwość zapoznania się z podstawami metrologii ogólnej i
właściwościami metrologicznymi stosowanymi w przemyśle poligraficznym i papierniczym.
Efektem kształcenia powinna być znajomość następujących zagadnień: teoria i filozofia pomiaru; rozwój teorii
pomiaru; elementy formalnej teorii pomiaru; empiryczny system relacyjny; liczbowy system relacyjny; definicja
pomiaru; warunki reprezentatywności; warunki jednoznaczności przekształceń pomiędzy empirycznym i liczbowym
systemem relacyjnym; skale pomiarowe i miary; pomiar ekstensywny; definicja wielkości pomiarowej; wielkości
addytywne; skala pomiarowa wielkości addytywnej; skala odpowiedniościowa właściwości; skala uszeregowana
właściwości; pomiar pośredni i pośrednie skale pomiarowe; pomiary wielowymiarowe; klasyfikacja skal
pomiarowych: nominalna, porządkowa, interwałowa, ilorazowa; transformacje dopuszczalne; proces pomiarowy na
potrzeby badań naukowych; definicja doświadczenia naukowego; uproszczona definicja pomiaru; układy jednostek
miar: SI, CGS, MKS, MTS, MkGS, system brytyjski; wtórne jednostki miar (przedrostki); narzędzia pomiarowe;
wzorce (etalony) i ich klasyfikacja; przyrządy pomiarowe; parametry przyrządów pomiarowych: rozdzielczość,
powtarzalność, odtwarzalność, dokładność; przetworniki pomiarowe; układy pomiarowe; systemy pomiarowe; metody
pomiarowe i ich klasyfikacja (metody analogowe i cyfrowe; metody bezpośrednie, pośrednie i złożone, metody
porównawcze, odchyłowe, różnicowe, zerowe, podstawieniowe i przedstawieniowe;
Podstawy rachunku błędów; definicja błędu, błędu względnego, wartości poprawki oraz błędu granicznego;
klasyfikacja błędów pomiarów (podstawowe i dodatkowe; wzorcowania, odczytu, próbkowania i zliczania;
systematyczne i przypadkowe);
Elementy rachunku prawdopodobieństwa w zastosowaniach metrologicznych; parametry rozkładu zmiennej losowej:
przestrzeń mierzalna, prawdopodobieństwo, zmienna losowa, dystrybuanta zmiennej losowej, gęstość
prawdopodobieństwa, wartość oczekiwana, wariancja, unormowane i standaryzowane zmienne losowe. Przykłady
rozkładów zmiennych losowych używanych w procesach pomiarowych: zero-jedynkowy, dwumianowy
(Bernoulliego), Poissona, równomierny (jednostajny), normalny (Moivre’a-Gaussa, Gaussa-Laplace’a), rozkład
Studenta, rozkład logarytmiczno-normalny, rozkład Gamma (w tym wykładniczy oraz chi-kwadrat).
Charakterystyka błędów losowych pomiaru: estymatory – średnia arytmetyczna, odchylenie kwadratowe średniej
arytmetycznej, odchylenie standardowe; przedziały ufności; opracowywanie wyników pomiarów.
Podczas zajęć studenci poznają również przykładowe wielkości pomiarowe i warunki przeprowadzania pomiarów w
papiernictwie i poligrafii na podstawie norm ISO: 5-1:1984, 5-2:2001, 5-3:1995, 5-4:1995, 186:2002, 187:1990,
2470:1999, 2836:2004, 2846-1:1997, 2846-2:2000, 2846-3:2002, 2846-4:2000, 2846-5:2005, 3664:2000, 4046-1:2002,
4046-3:2002, 4046-5:2002, 12218:1997, 12646:2004, 12647-1:2004, 12647-2:2004, 12647-3:2005, 12647-4:2005,
12647-5:2001, 12647-6:2006, 13656:2000, 14981:2000, 15790:2004.
3. Forma zaliczenia zajęć:
Wykład – zaliczenie na podstawie wyników pisemnego sprawdzianu wiedzy
Kierownik przedmiotu: dr inż. Konrad Blachowski
strona 1 / 2
Zakład Technologii Poligraficznych
Metrologia papiernicza i poligraficzna
strona 2 / 2