Grzegorz ¯egliński - Poznańskie Warsztaty Telekomunikacyjne
Transkrypt
Grzegorz ¯egliński - Poznańskie Warsztaty Telekomunikacyjne
Grzegorz Żegliński Jerzy Gajda Andrzej Niesterowicz Instytut Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki 26 Kwietnia 10, Szczecin [email protected] 2006 Poznańskie Warsztaty Telekomunikacyjne Poznań 7 - 8 grudnia 2006 WYNIKI BADAŃ INTERFEROMETRYCZNYCH WYSOKOŚCI SFERYCZNEJ WŁÓKIEN W ZŁĄCZKACH ŚWIATŁOWODOWYCH Streszczenie: W pracy przedstawiono wyniki badań interferometrycznych wybranych typów złącz światłowodowych. Analizowano parametr wysokości sferycznej: wysunięcie i podcięcie. Zakończenie toru światłowodowego w celu podłączenia takich elementów jak izolatory, sprzęgacze, wzmacniacze optyczne odbywa się za pośrednictwem złącz światłowodowych. W pracy przedstawiono wyniki parametru dla złączek różnych producentów. APC 12°, APC 14°. Budowę złączki FC zaprezentowano na rysunku 1. Elementem istotnym jest ferrula, w której znajduje się włókno światłowodowe. Ferrula najczęściej jest wykonana z ceramiki cyrkoniowej. Spotykane są również inne typy ferrul jak metalowe, czy też plastikowe. Najczęściej spotykane obecnie ferrule mają średnicę 2.5mm. Na rysunkach 2-4 pokazano inne popularne typy złączek. 1. WSTĘP Rozwój złącz światłowodowych oraz wymagania stawiane traktom światłowodowym powodują rozwój technologii złącz światłowodowych. Pomiar takich parametrów jak tłumienność i reflektancja złączek jest nie wystarczające w stosunku do obecnie stawianych wymagań na określoną jakość złączek. Standardem stają się pomiary geometryczne wykonywane w układzie interferometrycznym z uwagi na dużą dokładność pomiarową. W pracach [1-4] wykonanych w ostatnich kilku latach zaprezentowano problematykę pomiarów interferometrycznych. Pomiary interferometryczne wykonywano zgodnie ze standardami międzynarodowymi IEC [5]. Jednym z ważniejszych parametrów, który decyduje o parametrach transmisyjnych złącza oraz ma duży wpływ na odporność klimatyczną i mechaniczną jest wysokość sferyczna. Parametr ten ma duży związek z jakością i technologią wykonanych złącz światłowodowych Ferrula Korpus złączki Tuleja krępująca Nasówka ochronna kabla Rys.1. Budowa złączki światłowodowej FC. Rys.2. Złączka typu ST. 2. ZŁĄCZKI ŚWIATŁOWODOWE Najczęściej stosowane złączki światłowodowe w sieciach optotelekomunikacyjnych oraz sieciach światłowodowych to: ST, FC, SC, E-2000. Można spotkać również złączki: F-3000, LC, MT-RJ, MU, DIN, AVIO/AVIM, MFS, MPO, MTP, D4, F-SMA, ESCON, FDDI, VFO, EC/RACE, HRL-11. Ze względu na metodę szlifowania czoła ferruli wyróżniamy złączki pa płaskie typu PC, SPC, UPC i kątowe APC 8°, APC 9°, Rys.3. Złączka typu SC. uszkodzenia włókna lub jego niepoprawną pracę np.: wysunięcie, mimo istnienia kleju, bądź schowanie. Rys. 4. Złączka typu E-2000. 3. UKŁAD POMIAROWY Układ pomiarowy oparty jest na interferometrze Michelsona. Światło odbite od czoła mierzonej ferruli interferuje z wiązką podzieloną i odbitą o ruchomego zwierciadła. Obraz jest rejestrowany dla czterech wartości przesunięcia fazowego π/2, π, 3π/4, 2π. Zarejestrowane obrazy pozwalają na dokładną rekonstrukcję powierzchni 3D ferruli złączki w okolicy włókna światłowodowego. Budowę interferometru pokazano na rys. 5. ruchome zwierciadło wprowadzające przesunięcie fazowe laser półprzewodnikowy λ=0.665µm kostka światłodzieląca układ optyczny i badany obiekt rejestrator CCD obrazu interferencyjnego Rys.6. Obszary obliczeniowe czoła ferruli [6]. Analiza przestrzenna pozwala numerycznie rozwinąć powierzchnię czoła ferruli i określić parametr wysokości sferycznej, wyrażany najczęściej w postaci podcięcia włókna światłowodowego lub wystawania włókna światłowodowego (rys. 7). Według zaleceń IEC parametr w nie powinien przekroczyć 100nm. Rys. 5. Interferometr pomiarowy oparty na interferometrze Michelsona Dokładność pomiarowa wysokości sferycznej wynosi 1nm w badanym układzie. Układ może być kalibrowany na bieżąco. Zarejestrowane obrazy podlegają analizie wykonywanej za pomocą komputera współpracującego. Pomiar nie przekracza 1s [6]. 4. WYSOKOŚĆ SFERYCZNA Obliczenie wysokości sferycznej związane jest z analizą numeryczną zarejestrowanych obrazów interferencyjnych w trzech obszarach obliczeniowych oznaczonych na rysunku 6 jako D, E i F. Obszar D dotyczy analizy powierzchni czoła ferruli pod kątem promienia krzywizny oraz innych parametrów jak kąt szlifowania, najwyższy punkt sfery, odległość punktu sfery od osi światłowodu. Parametry te mają znaczenie na pracę złącza. Obszar obliczeniowy E dotyczy światłowodu i jego otoczenia w postaci kleju oraz otworu ferruli. Obszar F dotyczy czoła włókna światłowodowego. Pozwala stwierdzić ewentualne Światłowód Ferrula +w -w R Rys.7. Wysokość sferyczna (wystawanie lub podcięcie włókna). 5. WYNIKI POMIARÓW Prezentowane wyniki dotyczą złącz kątowych pochodzących od różnych producentów. Przedstawione wyniki dotyczą złącz FC-APC, SC-APC, E2000-APC. Złącza te są dość powszechnie używane w sieciach telekomunikacyjnych oraz komputerowych. Wyniki przedstawiono dla N=168 złącz FC-APC, N= 406 SCAPC oraz N=397 E2000-APC. Średnie wartości wysokości sferycznej wyniosły odpowiednio dla wyżej wymienionych złącz -16.7nm, -13.5nm, +33.3nm. Histogramy mierzonego parametru pokazano na rysunkach 8-10. Rys.10. Histogram wysokości sferycznej dla złączek E2000-APC. 6. PODSUMOWANIE Rys.8. Histogram wysokości sferycznej dla złączek FC-APC. Rys.8. Histogram wysokości sferycznej dla złączek SC-APC Z analizy otrzymanych wyników dla 971 złącz wynika, że parametr ten dość często przekracza wartość zakładaną zgodnie ze standardami IEC (w=100nm). Standardu nie spełnia 28% przebadanych złączek FCAPC, 14% SC-APC, 21% złączek E2000-APC. Zdarzają się złączki dla których przekroczenia te są rzędu 3-4 razy. 37% złącz charakteryzowało się podcięciem, a 63% wysunięciem. W trakcie prowadzonych badań stwierdzono, że ma to duży wpływ wynik badań odporności na wibracje oraz odporności na zmiany temperatury w zakresie -400- +700C. Należy wnioskować, że złącza tego typu poddane narażeniom środowiskowym mogą spowodować zmian parametrów transmisyjnych. Wpływ na ogólny wynik tych badań mają również inne parametry geometryczne, jakość użytego kleju oraz proces technologiczny. Przeprowadzone badania na wielokrotne łączenie i rozłączanie wykazują zmianę parametru wysunięcia na podcięcie w przypadku złącz przekraczających wartość 100nm. Badania przeprowadzono dla 1000 łączeń i rozłączeń. Złącza najlepsze w niewielkim stopniu mają zmniejszoną wartość tego parametru. Przykład pracy złącza złożonego z dwóch półzłączek i adaptera dla przypadku przekroczenia wartości wysokości sferycznej pokazano na rysunku 11. Złącze poddano 5 cyklom zmiany temperatury. Pojedynczy cykl trwał 6 godzin: 3 godziny w temperaturze -400C i 3 godziny +700C. Według standardu IEC zmiana tłumienności złącza nie powinna przekroczyć 0.2dB podczas tego testu. Zbyt duża wartość wysunięcia spowodowała, że złącze odtworzyło przebieg zmian temperaturowych. Wartość tłumienności po teście wzrosła blisko pięciokrotnie. Rys.11. Wykres zmian tłumienności złącza o dużych wartościach podcięcia w czasie testu klimatycznego. Reasumując problematyka zaprezentowana w niniejszym artykule jest istotna szczególnie w "świetle" najnowszych wymagań jakie stawia się złączkom światłowodowym np.: zachowanie stanu polaryzacji. LITERATURA [1] Gajda J., Niesterowicz A., Żegliński G.„Interferometryczne urządzenie do pomiaru jakości światłowodowych złączek rozłącznych”, Poznańskie Warsztaty Telekomunikacyjne '2000: referaty, Poznań: PP, 2000. S. 2.1-1 - 2.1-5, 2000. [2] Gajda J., Niesterowicz A., Żegliński G. – „Badania interferometryczne złączek światłowodowych”, Krajowe Sympozjum Telekomunikacji '2001. [T.] C. 4. Problemy sieciowe; 5. Systemy komutacyjne, 2001. [3] Gajda J., Niesterowicz A., Żegliński G.„Interferometryczna ocena jakości wykonania złącz rozłącznych”, VII Sympozjum Techniki Laserowej: Komunikaty, Szczecin: Wydaw. Uczelniane Politechniki Szczecińskiej, 2002. [4] Żegliński G., Gajda J., Niesterowicz A., Pomiary parametrów geometrycznych złącz światłowodowych, 8 Sympozjum Techniki Laserowej- komunikaty, Szczecin-Świnoujście, s.225-230, 2006. [5] IEC 61300-3-23 (1998-04). Fibre optic interconnecting devices and passive components Basic test and measurement procedures Part 323: Examinations and measurements – Fibre position relative to ferrule endface. [6] ATOS, GMBH Pfunstadt, Deutchland.