Logo IFPAN po polsku - Instytut Fizyki PAN

INSTYTUT FIZYKI POLSKIEJ AKADEMII NAUK
PL - 02-668 WARSZAWA, AL. LOTNIKÓW 32/46
Tel. (48-22) 843 66 01 Fax. (48-22) 843 09 26
REGON: P-000326061, NIP: 525-000-92-75
DZPIE/028/2009
Specyfikacja istotnych warunków
zamówienia publicznego
Przedmiot postępowania: Ciągłe źródło promieniowania w zakresie widzialnym i
podczerwonym oraz kalibrowany spektrometr do pomiarów
czułości fotowoltaicznej.
38.43.30.00-9
Kod CPV:
38.50.00.00-0
48.46.10.00-7
Postępowanie jest prowadzone w trybie przetargu nieograniczonego
Tryb udzielenia
zgodnie z Prawem Zamówień Publicznych z dn. 29 stycznia 2004r
zamówienia:
(Dz. U. Nr 19, poz. 177 z dnia 9 lutego 2004 wraz z późniejszymi
zmianami).
Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk
Inwestor/Kupujący:
02-668 Warszawa, Al. Lotników 32/46.
NIP: 525-000-92-75.
Regon: P-000326061
Zakup przedmiotu zamówienia jest współfinansowane ze środków Europejskiego Funduszu
Rozwoju Regionalnego Unii Europejskiej w ramach Programu Operacyjnego Innowacyjna
Gospodarka nr POIG.02.02.00-00-003/08 pt.: Narodowe Laboratorium Technologii
Kwantowych.
§1. Opis przedmiotu zamówienia:
Przedmiotem zamówienia jest ciągłe źródło promieniowania w zakresie widzialnym i
podczerwonym oraz kalibrowany spektrometr do pomiarów czułości fotowoltaicznej.
Aparatura składa się z systemu do pomiarów wydajności kwantowej (QE) ogniw i komórek
fotowoltaicznych wraz z systemem śledzenia zależności prądowo-napięciowej (IV tracer),
symulatora światła słonecznego oraz kalibrowanego spektrometru z uwzględnieniem
instalacji, montażu i uruchomienia aparatury w laboratorium Zamawiającego.
Zamawiany system pomiarowy ma umożliwiać kompleksową charakteryzację ogniw i
komórek fotowoltaicznych, w tym pomiary spektralnej wydajności kwantowej oraz pomiary
charakterystyk prądowo-napięciowych w ciemności i pod oświetleniem imitującym światło
słoneczne. Na podstawie tych pomiarów system będzie wyznaczał podstawowe parametry
ogniw fotowoltaicznych, takie jak parametry obwodu zastępczego, prąd zwarcia i napięcie
obwodu otwartego pod kontrolowanym oświetleniem, optymalnego punktu pracy etc.
Muszą być także dostarczone płyty CD z kompletnym oprogramowaniem i sterownikami oraz
wszystkimi dostępnymi licencjami.
1
Aparatura musi odpowiadać wszystkim wymogom technicznym i jakościowym określonym
przez Zamawiającego w specyfikacji technicznej. Do aparatury winna być załączona
dokumentacja techniczna oraz instrukcja obsługi w jez. polskim lub angielskim.
Charakterystyka techniczna zawarta jest w załączniku nr 1.
Wymaga się aby materiały eksploatacyjne były zgodne z obowiązującymi w Polsce normami.
Dostępność części zamiennych: min. 5 lat od daty protokołu odbioru.
Warunki gwarancji: 12 miesiące od daty protokołu odbioru.
Warunki serwisu gwarancyjnego: 12 miesięcy od daty protokołu odbioru.
Termin naprawy urządzeń będzie ustalany każdorazowo przez strony.
Gwarancja musi być świadczona przez producenta lub autoryzowany przez niego serwis lub
osoby, wszystkie naprawy mają być wykonywane przez inżynierów przeszkolonych przez
wytwórcę.
Wykonawca zapewni bezpłatną aktualizację oprogramowania wymienionych w załączniku 1
wszystkich urządzeń przez minimum 1 rok od daty instalacji oraz bezpłatną likwidację
zauważonych błędów (wad) w dostarczonym oprogramowaniu (do obsługi całego systemu)
przez cały okres jego użytkowania.
Wykonawca gwarantuje najwyższą jakość dostarczonego produktu zgodnie ze specyfikacją
techniczną. Odpowiedzialność z tytułu gwarancji jakości obejmuje zarówno wady powstałe z
przyczyn tkwiących w przedmiocie zamówienia w chwili dokonania odbioru przez
zamawiającego jak i wszelkie inne wady fizyczne, powstałe z przyczyn, za które wykonawca
ponosi odpowiedzialność. Gwarancja ulega automatycznie przedłużeniu o okres naprawy. W
przypadku trzykrotnej awarii tego samego elementu wykonawca zobowiązany jest do
wymiany wadliwego elementu na nowy.
Zakupione oprzyrządowanie musi zawierać wszystkie potrzebne przewody zasilające,
przyłączeniowe, kable pomiarowe oraz światłowody.
Wykonawca zamontuje i uruchomi aparaturę w Laboratorium Zamawiającego. Zostanie to
potwierdzone obustronnie podpisanym protokołem odbioru aparatury.
Oferta musi zawierać wyszczególnienie oferowanych urządzeń poprzez podanie marki,
producenta wraz ze stosowaną przez niego nazwą i oznaczeniem w takim zakresie w jakim
pozwoli to na ustalenie, na podstawie powszechnie dostępnych materiałów (np. strona
internetowa producenta), zgodności oferowanego produktu z wymaganiami dotyczącymi
przedmiotu zamówienia przedstawionymi w załączniku nr 1 specyfikacji.
Urządzenia muszą być przystosowane i dopuszczone do pracy na terytorium RP, tzn. posiadać
wszelkie wymagane certyfikaty (CE) oraz muszą być dostarczone w stanie gotowym do pracy
bez konieczności kupowania dodatkowych przystawek, licencji, kabli oraz materiałów
niezbędnych do jego uruchomienia poza materiałami eksploatacyjnymi.
§2. Termin wykonania zamówienia:
Wymaga się aby ostateczne wykonanie przedmiotu zamówienia nastąpiło nie później niż w
ciągu 16 tygodni od daty podpisania umowy.
2
§3. Opis warunków udziału w postępowaniu oraz opis sposobu dokonania
oceny tych warunków:
O udzielenie zamówienia mogą ubiegać się wykonawcy, którzy:
1) posiadają uprawnienia do wykonywania określonej działalności lub czynności, jeżeli
ustawy nakładają obowiązek posiadania takich uprawnień;
2) posiadają niezbędną wiedzę i doświadczenie oraz dysponują potencjałem technicznym i
osobami zdolnymi do wykonania zamówienia lub przedstawią pisemne zobowiązanie innych
podmiotów do udostępnienia potencjału technicznego i osób zdolnych do wykonania
zamówienia;
3) znajdują się w sytuacji ekonomicznej i finansowej zapewniającej wykonanie zamówienia;
4) nie podlegają wykluczeniu z postępowania o udzielenie zamówienia.
Zamawiający zweryfikuje ofertę pod względem obecności oświadczenia o spełnianiu
warunków udziału w postępowaniu oraz stosownego odpisu.
Zamawiający oceni warunki udziału w postępowaniu na zasadzie TAK/NIE (spełnia/nie
spełnia) na podstawie wymaganych dokumentów z §4 SIWZ.
§4. Wykaz oświadczeń i dokumentów, jakie maja dostarczyć wykonawcy
w celu potwierdzenia spełniania tych warunków:
1
2
Oświadczenie o spełnianiu warunków udziału w postępowaniu (Art. 22 ust 1 i Art. 24
ust. 1 Ustawy PZP).
Aktualny odpis z właściwego rejestru albo aktualne zaświadczenie o wpisie do ewidencji
działalności gospodarczej, jeżeli odrębne przepisy wymagają wpisu do rejestru lub
zgłoszenia do ewidencji działalności gospodarczej, wystawiony nie wcześniej niż 6
miesięcy przed upływem terminu składania ofert.
§5. Informacje o sposobie porozumiewania się zamawiającego z
wykonawcami, a także wskazanie osób uprawnionych do
porozumiewania się z wykonawcami:
1
2
Zamawiający będzie kontaktował się z wykonawcami drogą faksu lub na piśmie.
Osoby przewidziane do kontaktu z wykonawcami:
 Maciej Zajączkowski
tel/fax: (22) 847 00 82
§6. Termin związania ofertą:
1
Zamawiający ustala termin związania ofertą na okres 30 dni od daty terminu składania
ofert.
§7. Opis sposobu przygotowania oferty:
1
Ofertę sporządza się w języku polskim z zachowaniem formy pisemnej, trwałą, czytelną
3
2
4
5
6
techniką.
Każdy wykonawca może złożyć tylko jedną ofertę. Wykonawca, który przedłożył więcej
niż jedną ofertę, zostanie wyłączony z postępowania.
Nie dopuszcza się składania ofert częściowych i wariantowych.
Wszystkie zapisane strony oferty powinny być ponumerowane, podpisane i zszyte
(zbindowane).
Oferent powinien zamieścić ofertę w dwóch kopertach:
Na kopercie wewnętrznej powinien znajdować się adres i nazwa Zamawiającego oraz
napis: "Postępowanie o udzielenie zamówienia publicznego w trybie przetargu
nieograniczonego na ciągłe źródło promieniowania w zakresie widzialnym i
podczerwonym oraz kalibrowany spektrometr do pomiarów czułości fotowoltaicznej –
DZPIE/028/2009", koperta zewnętrzna poza oznakowaniem jak wewnętrzna, powinna
być opisana nazwą i adresem Oferenta.
§8. Miejsce oraz termin składania i otwarcia ofert:
1
2
3
Ofertę należy złożyć w siedzibie Zamawiającego, budynek I pok. Nr. 101 (kancelaria
ogólna) w godzinach 9.00 ÷ 15.00 w dni robocze, do dnia 30 listopada 2009 r. do godz.
12.00.
W przypadku wysłania oferty pocztą (lub pocztą kurierską) za termin złożenia przyjmuje
się termin otrzymania oferty, a nie datę stempla pocztowego (nadania).
Otwarcie ofert odbędzie się w ostatnim dniu ich składania, w siedzibie Zamawiającego,
budynek I sala 203 o godzinie 13:00.
§9. Opis sposobu obliczenia ceny:
1
Cena wyrażona w walucie polskiej „PLN” lub „EUR”
§10. Opis kryteriów, którymi zamawiający będzie się kierował przy
wyborze oferty w celu zawarcia umowy w sprawie zamówienia
publicznego:
1
2
3
4
5
Cena
Gwarancja
Parametry techniczne
Przy przeliczaniu punktów za cenę Zamawiający posłuży się wzorem:
C min .
x70
C bad
gdzie:
Cmin – cena najtańszej oferty;
Cbad – cena oferty badanej
Przy przeliczaniu punktów za gwarancję Zamawiający oceni:
1. dodatkowy rok pełnej gwarancja na cały system:
 tak – 5 pkt.
 nie – 0 pkt.
70 pkt.
20 pkt.
10 pkt.
4
6
2. dodatkowa pełna gwarancja na elektronikę kamery CCD (kalibrowanego
spektrometru):
 na dwa lata – 2 pkt.
 na 5 i więcej lat – 5 pkt.
3. dodatkowa pełna gwarancja na próżnię kamery CCD (kalibrowanego
spektrometru):
 na dwa lata – 2 pkt.
 na 5 i więcej lat – 5 pkt.
4. dodatkowa pełna gwarancja na kalibrowany spektrometr:
 na dwa lata – 2 pkt.
 na 5 i więcej lat – 5 pkt.
Przy przeliczaniu punktów za parametry techniczne Zamawiający oceni:
1. możliwość wykonywania pomiarów dynamicznych (w funkcji czasu), co
najmniej 70 widm na sekundę w modzie pełnego pionowego binningu w
kalibrowanym spektrometrze:
 tak – 5 pkt.
 nie – 0 pkt.
2. możliwość programowania ze sterowaniem sprzętem zewnętrznym przez złącze
GPIB w kalibrowanym spektrometrze
 tak – 5 pkt.
 nie – 0 pkt.
§11. Informacje o formalnościach, jakie powinny zostać dopełnione po
wyborze oferty w celu zawarcia umowy w sprawie zamówienia
publicznego:
1
Wykonawca, który wygra postępowania o udzielenie zamówienia publicznego, powinien
podpisać umowę w ciągu 7 dni od daty zakończenie terminu na wnoszenie protestów i
odwołań, na warunkach określonych w niniejszej specyfikacji istotnych warunków
zamówienia, jednak nie później niż termin związania ofertą.
§12. Istotne dla stron postanowienia, które zostaną wprowadzone do treści
zawieranej umowy w sprawie zamówienia publicznego:
1
2
3
Warunki płatności:
 254.500,00 PLN, lub równowartość tych środków w EUR, przelewem w ciągu 21
dni od daty otrzymania i zatwierdzenia przez Zamawiającego projektów
technicznych wykonania przedmiotu zamówienia, na podstawie faktury proforma;
 pozostałą kwotę po dostawie i montażu oraz po odbiorze protokolarnym przez
wyznaczonych pracowników IF PAN, na podstawie faktury VAT z 21 dniowym
terminem płatności.
W przypadku wystąpienia zwłoki w wykonaniu przedmiotu umowy, Wykonawca
zobowiązuje się zapłacić na rzecz Zamawiającego kary umowne w wysokości 0,1%
wartość umowy za każdy dzień zwłoki, począwszy od pierwszego dnia następującego po
umownym terminie wykonania. Suma kar nie może przekroczyć 5% wartości umowy.
Wykonawca dostarczy wraz z urządzeniem instrukcję obsługi w języku polskim lub
5
4
5
angielskim oraz kartę(y) gwarancyjną(e) z zasadami świadczenia usług przez
autoryzowany(e) serwis(y) w okresie gwarancyjnym i pogwarancyjnym.
Gwarancja obejmuje: koszty serwisu, niezbędnych części zamiennych (bez materiałów
eksploatacyjnych), dojazdy pracownika serwisu oraz transport niesprawnego sprzętu.
Wykonawca usunie na swój koszt wszystkie wady ukryte sprzętu w ciągu 2 miesięcy od
daty ich ujawnienia w okresie trwania gwarancji (koszty pokrywa Wykonawca).
§13. Pouczenie o środkach ochrony prawnej:
Środki ochrony prawnej, przysługujące wszystkim wykonawcom, opisane są w Dziale VI
Prawa Zamówień Publicznych z dn. 29 stycznia 2004r (Dz. U. Nr 19, poz. 177 z dnia 9 lutego
2004 wraz z późniejszymi zmianami).
6
……………………………
……………………………
pieczęć adresowa Oferenta
data
Oświadczenie
Przystępując do postępowania w sprawie udzielenia zamówienia publicznego oświadczam/y,
że spełniam/y warunki udziału w niniejszym postępowaniu zawarte w art. 22 ust. 1 Ustawy –
Prawo zamówień publicznych, który stanowi, że o udzielenie zamówienia mogą ubiegać się
wykonawcy, którzy:
1) posiadają uprawnienia do wykonywania określonej działalności lub czynności, jeżeli
ustawy nakładają obowiązek posiadania takich uprawnień;
2) posiadają niezbędną wiedzę i doświadczenie oraz dysponują potencjałem technicznym
i osobami zdolnymi do wykonania zamówienia lub przedstawią pisemne
zobowiązanie innych podmiotów do udostępnienia potencjału technicznego i osób
zdolnych do wykonania zamówienia;
3) znajdują się w sytuacji ekonomicznej i finansowej zapewniającej wykonanie
zamówienia;
4) nie podlegają wykluczeniu z postępowania o udzielenie zamówienia.
…………………………
pieczęć imienna Oferenta
……………………………
……………………………
pieczęć adresowa Oferenta
data
Wykaz części zamówienia, które Wykonawca powierzy
podwykonawcom1.
Lp
Zakres zamówienia, który Wykonawca zamierza powierzyć
podwykonawcom
1
2
3
4
5
…………………………
pieczęć imienna Oferenta
1
w przypadku, gdy Wykonawca wykona zamówienia samodzielnie, należy wypełnić tabelkę kreskami. W
przypadku nie załączenia wykazu do oferty, Zamawiający zinterpretuje to jako brak części zamówienia, które
Wykonawca powierzy podwykonawcom.
……………………………
pieczęć adresowa Oferenta
……………………………
data
Wymagane parametry techniczne
oferowanego wyposażenia określone w dwóch zadaniach
(załącznik nr 1)
Lp.
1.
Minimalne wymagane parametry – niespełnienie spowoduje
odrzucenie oferty.
Parametry doposażenia
oferowanego przez
Oferenta.
Do wypełnienia przez
Oferenta
Potwierdzić lub opisać
Źródło promieniowania w zakresie widzialnym i
podczerwonym oraz kalibrowany spektrometr do
pomiarów czułości fotowoltaicznej dla układu do
pomiarów optycznych.
Opis:
Źródło promieniowania w zakresie widzialnym i
podczerwonym oraz kalibrowany spektrometr do pomiarów
czułości fotowoltaicznej dla układu do pomiarów
optycznych składa się z
stanowiska do badania
charakterystyk wydajności kwantowej (QE), pomiarów
prądowo-napięciowych (IV) ogniw i komórek słonecznych,
symulatora światła słonecznego oraz kalibrowanego
spektrometru.
Stanowisko do badania charakterystyk wydajności
kwantowej (QE), pomiarów prądowo-napięciowych (IV)
ogniw i komórek fotowoltaicznych wraz z maksymalnym
wyposażeniem muszą być fabrycznie nowe (rok produkcji
2009), dobrej jakości i muszą posiadać właściwości typowe
dla towaru tego rodzaju zwyczajowo przyjęte w obrocie
międzynarodowym. Stanowisko QE i IV musi składać się
z monochromatora o długości drogi optycznej 150mm lub
więcej, wzmacniacza o wysokiej szybkości i przetwornika
IV o szerokim zakresie prądu wejścia (amplifier),
kołowego modulatora mechanicznego (choppera) wraz z
kontrolerami, źródła światła halogenowego, symulatora
światła słonecznego, oprogramowania do charakteryzacji i
oceny odpowiedzi spektralnej ogniw i komórek
słonecznych oraz z kompletu światłowodów, przewodów,
mierników, uchwytów do mocowania luster i soczewek.
W pełni funkcjonalne stanowisko do badania
1
charakterystyk QE i IV ogniw i komórek słonecznych musi
być sterowane cyfrowo za pomocą oprogramowania
zainstalowanego na komputerze klasy PC lub laptopie i
uruchamianego w środowisku Windows Vista. Do
komputera klasy PC musi być dołączony monitor LCD 19
calowy lub większy.
Urządzenie do badania QE musi być umieszczone w
obudowie tak, aby stanowiło całość systemu.
Układ musi umożliwiać badanie ogniw i komórek
słonecznych cienkich warstw i materiałów objętościowych
związków grupy II-VI, III-V, polysilikonów, CIS, CIGS,
materiałów c-Si, mc-Si, nc-Si, materiałów organicznych, a
także innych materiałów.
System do pomiarów QE i IV, symulator światła
słonecznego
oraz
kalibrowany
spektrometr
(monochromnator) muszą mieć możliwość dalszej ich
rozbudowy.
Test pomiaru QE i IV komórki słonecznej CdTe będzie
podstawą odbioru urządzenia.
System do badania QE:
- musi zawierać 100mA konwerter IV (I-natężenie,Vnapięcie) umożliwiający rzeczywiste pomiary Isc,
- musi umożliwiać pomiary wg standardów ASTM ,
- musi umożliwiać korygowanie współczynnika
niedopasowania wg standardów ASTM,
- musi zawierać źródło zmiennego światła polaryzującego
(Variable bias light).
System po pomiarów IV musi umożliwiać:
- kontrolę połączenie/polaryzacja - connection/polarization
check,
- korektę STC (sound transmission class) wg standardów
IEC - Correction to STC (IEC standards),
- dodatkowe metody ekstrakcji Rs (Additional Rs
extracting methods),
- dopasowanie do modeli: jednej i dwóch diod (Fitting to
one and two diode models).
Główne składniki systemu QE i IV:
A. Woltomierz homodynowy (Lock-In Amplifier)
synchronizujący światło pulsujące i umożliwiający pomiary
spektralne i testowanie ogniw i komórek fotowoltaicznych
musi spełniać następujące wymagania:
- Tryby pomiarowe (measurement modes): co najmniej
X (w fazie), Y (z przesunięciem o 90º), R (wartość
bezwzględna), θ (kąt przesunięcia fazowego), szumy.
- Częstotliwość mierzonych sygnałów: co najmniej od
10mHz do 45kHz.
2
- Wejścia napięciowe.
Co najmniej dwa wejścia pojedyncze A i B oraz różnicowe
A-B. Impedancja wejściowa: rezystancja większa od
9,5MΩ, pojemność włączona równolegle do rezystancji
mniejsza od 33 pF. Zakres mierzonych napięć co najmniej
od 4nV do 1V. Szumy własne na najczulszym zakresie:
mniejsze od 8nV / Hz dla 1kHz. Współczynnik tłumienia
sygnału wspólnego (CMRR) > 90dB dla 1kHz. Rezerwa
dynamiczna (dynamic reserve) >100dB.
- Wejście prądowe.
Co najmniej 1 wejście prądowe o następujących
parametrach: a) zakres mierzonych prądów co najmniej od
4fA do 800nA. b) szumy własne na najczulszym zakresie
25 fA/ Hz dla 100Hz. c) rezerwa dynamiczna (dynamic
reserve) > 100dB, d) rezystancja wejściowa mniejsza od
2,6kΩ.
- Kanał sygnału odniesienia (reference channel).
Zakres częstotliwości co najmniej od 10 mHz do 45kHz.
Możliwość zastosowania co najmniej następujących
zewnętrznych sygnałów odniesienia
a) TTL, b)
sinusoidalnych.
Minimalny poziom sinusoidalnego sygnału odniesienia
wymagany do poprawnego działania woltomierza
homodynowego nie większy od 1Vrms.
- Demodulator.
Tłumienie harmonicznych nie gorsze od - 90dB. Zakres
ustawiania stałej czasowej co najmniej od 5ms do 3000s.
- Sygnał wyjściowy dostarczany przez wewnętrzny
generator woltomierza.
Co najmniej sygnał sinusoidalny o następujących
parametrach; a) zakres częstotliwości co najmniej od
10mHz do 45kHz, b) zdolność rozdzielcza ustawienia
częstotliwości nie gorsza od 1mHz dla częstotliwości od
10mHz do 10Hz, nie gorsza od 10-4 * f dla 10Hz < f ≤
45kHz, gdzie f – ustawiona częstotliwość, c) poziom
sygnału wyjściowego ustawiany w zakresie co najmniej od
6mVrms do 2,5Vrms ze zdolnością rozdzielczą nie gorszą od
2 mV.
- Odczyt wyników pomiaru co najmniej w następujący
sposób: a) na wyświetlaczu co najmniej 4 1 cyfrowym,
2
b) przez pomiar napięcia na wyjściach analogowych, c) za
pośrednictwem interfejsu cyfrowego.
- Interfejs cyfrowy: co najmniej IEEE-488.
B. Wbudowany Monochromator w układ do badania QE
musi posiadać parametry nie gorsze niż:
długość ogniskowa 150mm lub więcej,
3
konfiguracja Czerny-Turner,
apertura numeryczna w zakresie f/4.0 – f/4.5
(współczynnik apertury)
rozdzielczość spektralna (bandwidth) w
zakresie 0,5 - 15 nm, justowana szczeliną ze
śrubą mikrometryczną,
dostępny zakres długości fali od 300nm do
1700nm,
z monochromatorem musi być dostarczona
siatka
dyfrakcyjna
1200
l/mm
optymalizowaną na 500nm o rozdzielczości
lepszej lub równej 0,4nm,
konstrukcja
monochromatora
musi
umożliwiać wymianę siatek dyfrakcyjnych,
dokładność ustawienia długości fali ≤ ±
0,3nm,
powtarzalność ustawienia długości fali ≤
0,1nm,
wielkość kroku spektralnego 0,01nm lub
lepsza,
zautomatyzowany kołowy filtr z 6 filtrami.
Filtry wykonane z szkła Schott’a z 50%
odcinaniem fali o długościach 350, 550,
650, 800, 1100 nm.
monochromator musi być całkowicie
kontrolowany przez komputer dostarczony
przez zamawiającego,
oprogramowanie do obsługi
monochromatora musi zawierać system
odpowiedzi spektralnych i oprogramowanie
do pomiarów kwantowej wydajności wraz z
systemem zbierania danych pracującym w
oparciu o referencyjny detektor krzemowy,
musi być wyposażony i obsługiwany przez
dostarczone oprogramowanie do kontroli
pracy monochromatora wraz z wszystkimi
dostępnymi licencjami,
musi zawierać dokumentacje która umożliwi
stworzenie własnego oprogramowania do
kontroli jego pracy.
C. Źródło Światła Halogenowego typu QTH
- moc 100W lub większej,
- kondensor f 1,3 lub mniej,
- zasilacz umożliwiający sterowanie mocą lampy,
- minimum 4 zapasowe żarówki.
4
D. Referencyjne ogniwo słoneczne
- Musi ono składać się z (co najmniej 20mm2)
monokrystalicznej krzemowej komórki fotowoltaicznej
zamkniętej w metalowej osłonie z ochronnym kwarcowym
okienkiem oraz 4 sondowego czujnika temperaturowego
Pt100. Wyjściowe napięcie musi być proporcjonalne do
nasłonecznienia oraz temperatury.
- Wraz z referencyjnym ogniwem słonecznym musi być
dostarczone Świadectwo kalibracji nasłonecznienia dla QW
i I-V, zgodne z normami Unii Europejskiej (25C
1000W/m2).
- Referencyjne ogniwo musi być kompletne wraz z
odpowiednimi kablami.
- Limit temperatury roboczej musi być co najmniej od 10C
do 40C.
- Błąd pomiaru prądu Isc nie może być większy niż ± 4%.
- Wymiary obudowy w której znajduje się referencyjne
ogniwo słoneczne nie mogą być większe niż (dł x szer x
wys) 12mm x 75mm x 15mm.
E. Zestaw komputerowy do kontroli pracy stanowiska o
parametrach nie gorszych niż:
- Procesor Intel Core 2 duo częstotliwość zegara minimum
2,8 GHz lub lepszy,
- Pamięć RAM 2 GB lub większa,
- Dysk twardy min 500GB,SATAII, 7200obr/min,
- Nagrywarka DVD/CD,
- Minimum 6 porty USB w tym minimum 2 porty USB 2.0,
- Karta sieciowa 100/1000,
- Karta grafiki o rozdzielczości minimum 2048x1152,
minimum 16e+6 kolorów,
- System operacyjny Windows Vista Business z
możliwością downgrade’u do Windows XP, komplet
sterowników do systemu Windows Vista i Windows XP,
- Monitor LCD 19” lub większy.
F. System do pomiarów prądowo-napięciowych (IV) ogniw
i komórek słonecznych musi być wyposażony w Keithley
2601A single channel system source meter, 3A DC, 10A
Pulse..
Ze względu na konieczność zachowania kompatybilności z
istniejącym oprzyrządowaniem i oprogramowaniem do
pomiarów optycznych i transportowych, nie można
zastosować przyrządów innego producenta. Co więcej
niezbędne jest zapewnienie kompatybilności typu kabli i
gniazd elektrycznych.
G. Podstawowe spektralne oprogramowanie kontrolno
pomiarowe systemu QE i IV:
5
- musi być kompatybilne z przyrządem pomiarowym
Keithley 2601A i zastosowanym woltomierzem
homodynowym,
- oprogramowanie musi obsługiwać Keithley 2601A i
zastosowany woltomierzem homodynowy,
- musi istnieć możliwość wyboru przez użytkownika od 10
do 1000 punktów pomiarowych,
- oprogramowanie musi umożliwiać wizualizację na
wykresach zmierzonych danych i obliczeniowych lub
odczytanych z plików pomiarowych,
- musi istnieć możliwość zapisu danych do plików ASCII
w celu analizy przez inne oprogramowanie,
- oprogramowanie musi umożliwiać pomiar podstawowych
parametrów ogniw słonecznych (Voc, Isc, Vmpp, Impp,
Pmax, fill factor, efficiency, I-V),
- musi istnieć normalizacja impulsu przy wykorzystaniu
krzemowego detektora referencyjnego,
- musi istnieć możliwość pomiaru „jasnych” oraz
„ciemnych” charakterystyk I-V (przy oświetleniu oraz
zasłoniętej próbce),
- musi istniej możliwość pomiaru znormalizowanej
wydajność kwantowej w funkcji długości fali λ,
- muszą być dostarczone sterowniki i biblioteki dll do
zintegrowania pracy ze środowiskiem LabView,
H. Symulator światła słonecznego
W pełni funkcjonalne szerokopasmowe źródło światła musi
symulować naturalne światło słoneczne docierające nad
poziom morza w celu oświetlania badanej próbki.
Oprogramowanie do urządzenia symulującego światło
słoneczne musi współpracować z oprogramowaniem
stanowiska do badania charakterystyk wydajności
kwantowej (QE) oraz pomiarów prądowo-napięciowych
(IV) ogniw i komórek słonecznych i musi stanowić całość.
Urządzenie musi być wyposażone w przesłonę
do
zasłaniania światła słonecznego. Do przesłony musi być
dostarczony kabel sterujący przesłoną który umożliwi
zamykanie i otwieranie przesłoną.
Parametry Symulatora światła słonecznego:
- Symulator światła słonecznego musi odpowiadać
standardowi ASTM,
- Promień światła słonecznego na wyjściu musi być
skolimowany do średnicy 50 mm, ± 3°.
- Jednolitość promienia musi być na poziomie ± 5 %.
- Intensywność światła musi być nie mniejsza niż 1 słońce
(1 sun). Musi istnieć możliwość zmiany tej intensywności z
krokiem nie większym niż 0,1 sun.
- Musi być zamontowany filtr globalny o parametrach
6
AM1,5, o wymiarach 50 x 50 mm².
Wyżej wymieniony system (od A do H pkt) musi
umożliwiać:
-wyznaczanie natężenia oświetlenia i ciemnych krzywych
- Illumination and Dark curve
-bezpośrednie pomiary Voc & ISC - Direct measurement of
Voc & Isc
-kontrolę połączenia/ polaryzacji - Connection/Polarization
check
-pomiary natężenia słońc ponad Voc - Suns over Voc
measurement
System musi umożliwiać dokonywanie analiz:
-podstawowych parametrów : Voc, Isc, Jsc, Vmpp, Impp,
FF, Eta,R shunt,
-nachylenia w pobliżu Voc (Rs) - Slope near Voc (Rs),
-prądu ciemnego oraz współczynnika idealności - Dark
current and ideality factor,
-korektę do STC wg standardów IEC- Correction to STC
(IEC standards),
-uśrednianie krzywych - Curve averaging.
Kalibrowany spektrometr (monochromator + CCD),
wraz z maksymalnym wyposażeniem muszą być fabrycznie
nowe (rok produkcji 2009), dobrej jakości i muszą posiadać
właściwości typowe dla towaru tego rodzaju zwyczajowo
przyjęte w obrocie międzynarodowym.
Zadaniem kalibrowanego spektrometru będzie analiza
spektralna ogniw i komórek słonecznych. Minimalne
wymagania sprzętowe kamery CCD i monochromatora:
Parametry kamery CCD
- Sensor z otwartą elektrodą (open electrode).
- Aktywne piksele - nie mniej niż 1024 x 255.
- Rozmiar piksela - 26 x 26 μm.
- Szczytowa efektywność kwantowa przy 550 nm nie mniej
niż 40% (do oferty należy dołączyć krzywe efektywności
kwantowej).
- System chłodzenia - termoelektryczny.
- Ciemny prąd dla schłodzonej kamery (dark current) - nie
więcej niż 0.002 elektronów/piksel/sekundę.
- Szum odczytu (read noise)- nie więcej niż 4 elektrony na
piksel.
- Szybkość czytania rejestru (pixel readout rate)- co
najmniej 33 kHz.
Monochromator
- Monochromator obrazujący ze wszystkimi niezbędnymi
przystawki.
- Urządzenie zestawione (pre-aligned).
7
- Długość ogniskowa 450 - 550 mm.
- Apertura wejściowa f/5,5 - f/7.5.
- Dwa wejścia ze szczelinami mechanicznymi z zakresem
regulacji od minimum 10 μm i przesłonami sterowanymi z
komputera.
- Dwa wyjścia: jedno z zamontowaną kamerą CCD, drugie
ze szczeliną mechaniczną z zakresem regulacji od
minimum 10 μm służące do zamontowania diody
lawinowej.
- Światło rozproszone: nie więcej niż 1.5 10-4 (20 nm od
linii laserowej w 633 nm) z siatką 1200 linii/mm.
- Dyspersja odwrotna: maksimum 1.7 nm/mm dla długości
fali 436 nm, szczeliny 10μm i siatki 1200 linii/mm .
- Sterowanie z komputera przez złącze USB.
- Wymienialny uchwyt z trzema siatkami dyfrakcyjnymi.
- Trzy siatki dyfrakcyjne. Do oferty należy dołączyć
wykresy efektywności siatek. Dla każdej siatki - względna
efektywność w 550 nm nie mniej niż 50%.
 Siatka 1: 300 linii/mm blazowana na 500 nm.
 Siatka 2: 600 linii/mm blazowana na 500 nm.
 Siatka 3: 1800 linii/mm holograficzna
zoptymalizowana na zakres miedzy 360 a 900 nm.
- Uchwyt do zamocowania na szczelinie wejściowej
światłowodu o końcówce SMA i możliwości regulacji
wzdłuż osi leżącej w poprzek szczeliny wejściowej
monochromatora.
Oprogramowanie do kalibrowanego spektrometru
- Oprogramowanie pozwalające na wykonywanie
pomiarów i zapisywanie wyników w formacie ASCII.
- Biblioteki pozwalające na zintegrowanie pracy
monochromatora i kamery CCD ze środowiskiem
LabView.
Muszą być dostarczone certyfikaty kalibracji dla
wszystkich
urządzeń
oraz
charakterystyczne
charakterystyki spektralne.
Wszystkie urządzenia muszą współpracować z siecią AC
230V, 50Hz.
…………………………
pieczęć imienna Oferenta
8