docTematy prac magisterskich do realizacji w roku
download 
Reklamacja Transkrypt
Tematy prac magisterskich do realizacji w roku
Tematy prac magisterskich do realizacji w roku akademickim 2013/2014 zatwierdzone na Radzie Wydziału w dniu 18 grudnia 2013 r. lp 1 Tytuł Imię i nazwisko promotora dr inż. Arkadiusz Antończak Zakład temat pracy w języku polskim temat pracy w języku angielskim specjalność W4 Kolorowe znakowanie metali Laser-induced colour marking of metals EOT 2 prof. dr hab. inż. Maria Dąbrowska- W12/Z4 Szata Modyfikacja właściwości materiałów półprzewodnikowych na bazie związków AIIIBV-N Modification of AIIIBV-N semiconductors properties EOT,EPM 3 prof. dr hab. inż. Maria Dąbrowska- W12/Z4 Szata Analiza niejednorodności charakterystyk I-U i C-U diod Schottky’ego z węglika krzemu (SiC) Analysis of inhomogeneities of I-V and C-V characteristics of silicon carbide (SiC) Schottky barrier diodes EOT,EPM 4 5 6 7 8 9 dr hab. inż., prof. PWr Jarosław Domaradzki dr hab. inż., prof. PWr Jarosław Domaradzki dr hab. inż., prof. PWr Jarosław Domaradzki dr hab. inż., prof. PWr Jarosław Domaradzki dr inż. Włodzimierz Drzazga dr inż. Włodzimierz Drzazga W12/Z4 Badanie właściwości optycznych powłok cienkowarstwowych w zakresie VIS-NIR W12/Z4 Projektowanie powłok optycznych na panele szklane Research on optical properties of thin-film optical EOT,EPM coatings in the VIS-NIR wavelength range Designing optical coatings for architectural glass windows EOT,EPM Investigations of oxide coatings for photovoltaics cells EOT,EPM W12/Z4 Zastosowanie metod statystycznych w analizie wyników badań elektrycznych powłok cienkowarstwowych Application of statistical methods in the analysis of results of electrical investigations of thin film coatings EOT,EPM W12/Z2 Jakość obrazu w systemie telewizji przemysłowej Image quality in CCTV system EOT W12/Z2 Bezpieczeństwo systemów biometrycznych Security of biometric systems EOT W12/Z4 Badanie powłok tlenkowych na ogniwa fotowoltaiczne 1 10 prof. dr hab. inż. Andrzej Dziedzic W12/Z6 Analiza właściwości elektrycznych reaktancyjnych elementów biernych na potrzeby elektroniki wysokotemperaturowej Analysis of electrical properties of reactive passive components for high temperature electronics EPM, EOT 11 prof. dr hab. inż. Andrzej Dziedzic W12/Z6 Analiza właściwości elektrycznych elementów biernych na potrzeby elektroniki niskotemperaturowej Analysis of electrical properties of passive components for low temperature electronics EPM, EOT 12 prof. dr hab. inż. Andrzej Dziedzic W12/Z6 Właściwości elektryczne i stabilność podzespołów biernych na podłożach elastycznych Electrical properties and stability of passive components on flexible substrates EPM,EOT 13 dr inż. Tomasz Fałat W12/Z5 Badanie właściwości mechanicznych połączeń wykonanych ze spiekanych nanocząstek srebra The study of mechanical properties of joints made of sintered silver nanoparticles EOT 14 dr inż. Tomasz Fałat W12/Z5 Ocena skuteczności przewodzenia ciepła przez połączenia wykonane ze spiekanych nanocząstek srebra Evaluation of the efficiency of heat conduction through an interface made of sintered silver nanoparticles EOT 15 dr inż. Tomasz Fałat W12/Z5 Elektryczne właściwości połączeń wykonanych ze spiekanych nanocząstek srebra Electrical properties of interfaces based on sintered silver nanoparticles EPM 16 dr inż. Tomasz Fałat W12/Z5 Elektryczne właściwości kompozytów z nanowłókien infiltrowanych metalem Electrical properties of nanofiber-metal infiltrated composites EPM 17 prof. dr hab. inż. Jan Felba W12/Z5 Zastosowanie kompozytów termoprzewodzących do efektywnego odprowadzania ciepła z systemów oświetleniowych LED Thermally conductive composites for efficient heat dissipation in LED lighting systems EOT 18 prof. dr hab. inż. Jan Felba W12/Z5 Właściwości ścieżek elektrycznie przewodzących nanoszonych metodą niskociśnieniowego natryskiwania na zimno Properties of electrically conductive paths made by low-pressure cold spraying method EPM 19 dr inż. Łukasz Gelczuk W12/Z4 Charakteryzacja głębokich poziomów defektowych w półprzewodnikach z szeroką przerwą energetyczną metodami pojemnościowymi Characterization of deep-level defects in wide bandgap semiconductors by means of capacitance methods EPM 20 dr inż. Łukasz Gelczuk W12/Z4 Elektrycznie aktywne defekty w strukturach (In,Ga)(As,N)/GaAs ze studniami kwantowymi do zastosowań fotowoltaicznych Electrically active defects in(In,Ga)(As,N)/GaAs quantum well structures for photovoltaic applications EPM 2 21 dr inż. Łukasz Gelczuk W12/Z4 Niejednorodności bariery w diodach prostowniczych Schottky'ego z węglika krzemu 4H-SiC Barrier inhomogeneities in 4H-SiC Schottky rectifiers EPM 22 dr inż. Łukasz Gelczuk W12/Z4 Badania właściwości elektrycznych defektów w heterostrukturach GaAsN/GaAs za pomocą metody DLTS Investigation of electrical properties of defects in GaAsN/GaAs heterostructures by means of DLTS method EOT 23 dr inż. Łukasz Gelczuk Zastosowanie wysokorozdzielczej spektroskopii W12/Z4 pojemnościowej w badaniach półprzewodników grupy III-V rozrzedzanych azotem Application of high-resolution capacitance spectroscopy for investigation of III-V group semiconductors diluted with nitride EOT 24 dr inż. Łukasz Gelczuk W12/Z4 Analiza wpływu szybkiego wygrzewania termicznego na właściwości elektro-optyczne struktur III-V-N Influence of rapid thermal annealing on the electro-optical properties of III-V-N structures EOT 25 dr inż. Łukasz Gelczuk W12/Z4 Badania głębokiego centrum Z1/Z2 w 4H-SiC za pomocą metody Laplace DLTS Investigation of Z1/Z2 deep center in 4H-SiC by Laplace DLTS EOT 26 inż. Dr inż. inż. Leszek Golonka W12/Z6 Układ mikrofalowy LTCC typu 3D Microwave LTCC 3D circuit EPM 27 inż. Dr inż. inż. Leszek Golonka W12/Z6 Pomiar ciśnienia w komorze LTCC Pressure measurement in LTCC chamber EPM 28 inż. Dr inż. inż. Leszek Golonka W12/Z6 Mikroreaktor LTCC z precyzyjnym pomiarem temperatury LTCC microreactor with precise temperature measurement EPM 29 inż. Dr inż. inż. Leszek Golonka W12/Z6 Formowanie struktur przestrzennych w LTCC metodą wytłaczania Embossing of 3D LTCC structures EPM 30 inż. Dr inż. inż. Leszek Golonka W12/Z6 Ceramiczny detektor promieniowania – prace wstępne Ceramic radiation detector – preliminary work EPM i EOT 31 inż. Dr inż. inż. Teodor Gotszalk W12/Z3 Badania właściwości mechanicznych układów MEMS w próżni. Investigation of MEMS mechanical properties in vacuum EPM i EOT 32 inż. Dr inż. inż. Teodor Gotszalk W12/Z3 Badania ugięcia układów MEMS w systemach optycznych z przemianą częstotliwościową Investigation of MEMS deflection using optical systems with frequency mixing EPM i EOT 3 33 dr inż. inż. Anna Górecka-Drzazga W12/Z7 Bonding anodowy szklanych podłoży poprzez pośrednie warstwy transparentne i/lub przewodzące Anodic bonding of glass substrates using transparent and/or conductive layers EOT 34 dr inż. inż. Anna Górecka-Drzazga W12/Z7 Miniaturowe czujniki do pomiaru próżni Miniature vacuum sensors EPM 35 dr inż. Grzegorz Jóźwiak W12/Z3 Oprogramowanie do testowania i kalibracji komponentów systemów mikroskopii bliskich oddziaływań Software for SPM systems calibration and testing EOT 36 dr inż. Grzegorz Jóźwiak W12/Z3 Oprogramowanie do analizy sygnału wideo drgań układów mikromechanicznych Software for analysis of video signal of MEMS vibrations EOT 37 dr inż. Grzegorz Jóźwiak W12/Z3 Oprogramowanie do wzajemnego pozycjonowania obrazów w mikroskopii bliskich oddziaływań Software for SPM image registration EOT 38 dr inż. Grzegorz Jóźwiak W12/Z3 Oprogramowanie do testowania i kalibracji komponentów systemów mikroskopii bliskich oddziaływań Software for SPM systems calibration and testing EPM 39 dr inż. Grzegorz Jóźwiak W12/Z3 Oprogramowanie do analizy sygnału wideo drgań układów mikromechanicznych Software for analysis of video signal of MEMS vibrations EPM 40 dr inż. Grzegorz Jóźwiak W12/Z3 Oprogramowanie do wzajemnego pozycjonowania obrazów w mikroskopii bliskich oddziaływań Software for SPM images positioning EPM 41 prof. dr hab. inż. W12/Z4 Danuta Kaczmarek Badanie zwilżalności powierzchni wytworzonych powłok metalicznych Research on wettability of deposited metallic coatings surfaces EOT 42 prof. dr hab. inż. W12/Z4 Danuta Kaczmarek Badanie parametrów swobodnej energii powierzchniowej dla cienkich warstw tlenkowych Investigation of surface free energy parameters of thin oxide films EOT 43 prof. dr hab. inż. W12/Z4 Danuta Kaczmarek Badanie topografii modyfikowanej powierzchni powłok mechanicznych Investigation of the topography of modified surface of metallic coatings EOT 44 prof. dr hab. inż. W12/Z4 Danuta Kaczmarek Badanie chropowatości powierzchni cienkich warstw tlenkowych Study on the roughness of thin oxide films surfaces EOT Wykorzystanie konwejerów prądowych drugiej generacji do symulacji indukcyjności uziemionej Application of the current conveyors CCII to simulation of grounded inductance EOT 45 dr inż. Czesław Kirczuk W12/Z2 4 46 47 48 49 50 51 52 dr inż. Paweł Knapkiewicz dr inż. Paweł Knapkiewicz dr hab. inż. Ryszard Korbutowicz dr hab. inż. Ryszard Korbutowicz dr hab. inż. Ryszard Korbutowicz dr hab. inż. Ryszard Korbutowicz dr hab. inż. Ryszard Korbutowicz W12/Z7 Mikroformowanie polimerów - projekt i wykonanie stanowiska Polymers microforming - design and construction of the test bench EPM W12/Z7 Elektroniczny system pomiarowy czujników siły dla łodzi wioslarskiej - projekt i wykonanie The electronic measuring system of force sensors for rowing boats - design and construction EPM W12/Z1 Utlenianie termiczne związków półprzewodnikowych AIIIN Thermal oxidation of AIIIN semiconductors compounds EOT W12/Z1 Badania parametrów tlenków termicznych azotków galu i glinu Study of the parameters of thermal oxides of gallium and aluminum nitrides EOT W12/Z1 Analogowe metody kompensacji temperaturowej modułu LED Analog methods of temperature compensation of LED module EOT W12/Z1 Cyfrowe metody kompensacji temperaturowej modułu LED Digital methods of temperature compensation of LED module EOT Selection of an optimal solution for the system supplied directly from the network for LEDs, fabricated in MJT (MultiJunctionTechnology) EOT Dobór optymalnego rozwiązania do zasilania systemu bezpośrednio z sieci energetycznej dla diod W12/Z1 wykonanych w technologii MJT (MultiJunctionTechnology) 53 prof. dr hab. inż. W12/Z3 Zbigniew Kowalski Bioniczne oko – osiągnięcia i perspektywy Bionic eye – achievements and prospects EOT 54 prof. dr hab. inż. W12/Z3 Zbigniew Kowalski Elektroniczny słuch – pomoc w niedosłuchu i głuchocie Electronic hearing - aid in hearing loss and deafness EPM 55 prof. dr hab. inż. W12/Z3 Zbigniew Kowalski Źródła plazmowe i ich zastosowania Plasma sources and their applications EPM 56 prof. dr hab. inż. W12/Z3 Zbigniew Kowalski Atmosferyczne źródła plazmowe Atmospheric plasma sources EPM 57 prof. dr hab. inż. W12/Z3 Zbigniew Kowalski Systemy ze zogniskowaną wiązką jonów Focused ion beam (FIB) systems EPM 5 58 dr inż. Michał Krysztof W12/Z2 Dedykowany układ cyfrowy do komunikacji zgodnej ze standardem FireWire Digital hardware dedicated for FireWire communication EPM 59 dr inż. Karol Malecha W12/Z6 Mikroprzepływowy czujnik fluorescencyjny wykonany techniką LTCC Microfluidic fluorescent sensor made in LTCC technology EOT 60 dr inż. Karol Malecha W12/Z6 Pompka mikrofluidyczna wykonana techniką LTCC Microfluidic pump made in LTCC technology EPM 61 dr inż. Karol Malecha W12/Z6 Mikroreaktor enzymatyczny z elektrochemiczną detekcją produktów Enzymatic microreactor with electrochemical detection EPM 62 dr inż. Janusz Markowski Emisyjna spektroskopia optyczna widma W12/Z2 promieniowania plazmy w procesie magnetronowego rozpylania hafnu. Optical emission spectroscopy of plasma radiation in hafnium magnetron sputtering process. EOT 63 dr inż. Piotr Markowski W12/Z6 Generator termoelektryczny wykonany w technice LTCC do zasilania układów mikroprocesorowych Thermoelectric generator fabricated in LTCC technology to power microprocessor systems EOT, EPM 64 dr inż. Piotr Markowski W12/Z6 Generator elektromagnetyczny wykonany w technice LTCC do zasilania układów mikroprocesorowych Electromagnetic generator fabricated in LTCC technology to power the microprocessor systems EOT, EPM 65 dr inż. Piotr Markowski W12/Z6 Automatyczne stanowisko do charakteryzacji parametrów termoelektrycznych struktur wielowarstwowych Automatic system for characterization of EOT, EPM thermoelectric parameters of multilayer structures 66 dr inż. Przemysław Ocena wpływu parametrów technologicznych procesu W12/Z5 Matkowski lutowania na strukturę połączeń lutowanych Evaluation of the impact of technological parameters of a soldering process on the structure of solder joints EPM 67 dr inż. Przemysław W12/Z5 Matkowski Ocena skuteczności odprowadzania ciepła ze struktur elektronicznych przez hybrydowe materiały termoprzewodzące Assessment of the effectiveness of heat dissipation from electronic structures by thermally conductive hybrid material EPM 68 Identyfikacja czynników technologicznych dr inż. Przemysław W12/Z5 wpływających na niezawodność półprzewodnikowych Matkowski źródeł światła dużej mocy Identification of technological factors affecting the reliability of semiconductor high-power light sources EOT 6 69 dr inż. Przemysław Badanie właściwości mechanicznych oraz termicznych W12/Z5 Matkowski stopów lutowniczych 70 dr inż. Przemysław W12/Z5 Matkowski The study of the mechanical and thermal properties of solders Pomiar przewodności cieplnej materiałów w oparciu o Measurement of thermal conductivity of materials zmodyfikowaną metodę dynamiczną z płaskiego by modified transient plane source technique źródła ciepła EPM EPM 71 prof. dr hab. inż. Karol Nitsch W12/Z3 Przegląd i analiza literatury dotyczącej zastosowań spektroskopii impedancyjnej w mikrobiologii Literature review concerning the application of impedance spectroscopy in microbiology EPM 72 prof. dr hab. inż. Karol Nitsch W12/Z3 Budowa ferrotestera do badań magnetycznych materiałów amorficznych i nanokrystalicznych Construction of a ferrotester for magnetic measurements of amorphous and nanocrystalline materials EPM, EOT 73 dr inż. Waldemar Oleszkiewicz W12/Z1 Optymalizacja procesu osadzania warstw diamentopodobnych (DLC) nanoszonych metodą RF ICP PECVD Optimization of RF ICP PECVD deposition process of diamond-like carbon (DLC) films EOT 74 dr inż. Marek Panek W12/Z1 Modelowanie tandemowego ogniwa słonecznego przy pomocy programu symulujacego układy elektroniczne Tandem solar cell modeling using a program for cuircuit simulation EPM 75 dr hab. inż. Sergiusz Patela W12/Z6 Wytwarzanie i zastosowanie taperów światłowodowych Fabrication and application of optical fiber tapers EOT, EPM 76 dr hab. inż. Sergiusz Patela W12/Z6 Wytwarzanie i badanie periodycznych fotonicznych wzorów jedno i dwuwymiarowych Fabrication and investigation of periodic photonic EOT, EPM one and two-dimensional patterns. 77 dr hab. inż. Sergiusz Patela W12/Z6 Zintegrowany układ LTCC do pomiarów spektroskopowych Integrated LTCC circuit for spectroscopic measurements EOT, EPM 78 dr inż. Tomasz Piasecki W12/Z3 Badanie adsorpcji białek metodą spektroskopii impedancyjnej Investigation of proteine adsorption using impedance spectroscopy EPM, EOT 79 dr inż. Tomasz Piasecki W12/Z3 Oprogramowanie uniwersalnego sterownika temperatury do badań właściwości elektrycznych materiałów Firmware for universal temperature controller for electrical properties measurement of materials EPM 7 80 dr hab. inż. Witold Warstwy bio-kompatybilne do celów preparatyki dla W12/Z2 Posadowski środowiskowej skaningowej mikroskopii elektronowej 81 mgr inż. Eugeniusz W12/Z4 Prociów 82 mgr inż. Eugeniusz Badanie właściwości heterozłącza w wielowarstwie a- Investigation of the properties of heterojunction in W12/Z4 EOT, EPM Prociów SiC/CNx/Me(Cr,Ni)Si-Ag. a multilayer SiC/CNx/Me(Cr,Ni)Si-Ag system. Charakteryzacja elektrycznych właściwości przewodzących i przeźroczystych warstw TiO2 nanoszonych rozpylaniem magnetronowym. Opracowanie algorytmów i metod numerycznych wyznaczania modeli pasmowych wybranych heterostruktur półprzewodnikowych. Bio-compatible layers for sample preparation for environmental scanning electron microscopy EOT Electrical characterization of conductive and transparent TiO2 thin films deposited by magnetron sputtering. EOT, EPM 83 dr inż. Damian Pucicki W12/Z1 Development of algorithms and numerical methods for determining energy-band diagram of selected semiconductor heterostructures. EPM 84 dr inż. Damian Pucicki Opracowanie warstwy logicznej oraz interfejsu Development of logical layer and user interface of użytkownika oprogramowania do wyznaczania modeli W12/Z1 the software for determining energy-band diagram pasmowych wybranych heterostruktur of selected semiconductor heterostructures. półprzewodnikowych. EPM 85 dr inż. Jacek Radojewski W12/Z3 Układ detekcji ugięć mikrodźwigni o podwyższonej czułości Cantilever deflection detection system with enhanced sensitivity 86 dr inż. Jacek Radojewski W12/Z3 Dydaktyczny model łącza światłowodowego do transmisji danych 87 dr inż. Damian Radziewicz W12/Z1 Domieszkowanie warstw InP krzemem w technice PL MOVPE Educational model of a fiber optic link for data transmission Silicon doping of InP epilayers grown by LP MOVPE technology 88 dr inż. Anna Sankowska W12/Z3 Interferometr światłowodowy do pomiarów wychyleń subnanometrowych Fiber optic interferometer for subnanometer displacement measurements EOT 89 dr inż. Anna Sankowska W12/Z3 Model czujnika zaburzenia warunków całkowitego wewnętrznego odbicia Sensor of disturbed total internal reflection conditions EOT 90 dr inż. Jarosław Serafińczuk W12/Z3 Zastosowanie metod analizy map węzłów sieci odwrotnej do wyznaczania parametrów struktury w materiałach III-N The use of methods of analysis of reciprocal lattice maps to determine the structure parameters in III-N materials EOT 8 EOT,EPM EOT, EPM EOT 91 dr inż. Jarosław Serafińczuk W12/Z3 Opracowanie nowego modułu graficznego do oprogramowania analitycznego NSCA Development of a new graphical module for NSCA analytic software EOT 92 dr inż. Zdzisław Synowiec W12/Z1 Organiczne diody elektroluminescencyjne (OLED) dla emisji światła białego Organic light emitting diodes (OLEDs) for white light emission EOT 93 dr inż. Adam Szyszka W12/Z1 Oprogramowanie sterujące ruchem ostrza mikroskopu AFM Software for controlling of AFM tip movement EPM 94 dr inż. Beata Ściana W12/Z1 Domieszkowanie warstw InGaAs krzemem w technice LP MOVPE Silicon doping of InGaAs epilayers grown by LP MOVPE technology EOT 95 dr hab. inż. Helena W12/Z6 Teterycz Ocena stabilności rezystancyjnych czujników gazu Analysis of long time stability of resistive gas sensors EOT 96 dr hab. inż. Helena W12/Z6 Teterycz Analizy składu mieszanin związków organicznych Analyses of composition of organic compounds mixtures EOT 97 dr hab. inż. Helena W12/Z6 Teterycz Konstrukcja układu do analizy składu mieszanin związków organicznych The design of a system to analyze the composition of organic compounds mixtures EOT 98 dr inż. Krzysztof Urbański W12/Z5 Opracowanie architektury sieci bezprzewodowych czujników lokalizacyjnych dla wyrobisk podziemnych Design of wireless location sensor network architecture for underground mines EPM 99 dr inż. Krzysztof Urbański W12/Z5 Obiektowa platforma czujnikowa - możliwości implementacji w różnych systemach operacyjnych Object-oriented sensor platform - the possibilities of implementation in various operating systems EPM W12/Z7 Lab-chip spektrofotometryczny wykonany w technologii druku 3D Spectrophotometric lab-on-a-chip fabrictetd in 3D printing technology EOT W12/Z7 Holografia bezsoczewkowa w lab-chipach Lens-free holography in lab-on-a-chips EOT W12/Z7 Smartphone - przenośna paltforma diagnostyczna Smartphone - portable diagnostic platform EPM W12/Z7 Lab-chip do określania poziomu progesteronu Lab-on-a-chip for determination of a progesteron level EPM W12/Z7 Bonding termicznego szkło-szkło z wykozrystaniem promienika podczerwieni Glass-glass bonding with application of infrared radiator EPM 100 101 102 103 104 dr inż. Rafał Walczak dr inż. Rafał Walczak dr inż. Rafał Walczak dr inż. Rafał Walczak dr inż. Rafał Walczak 9 W12/Z2 Badanie parametrów plazmy wyładowania jarzeniowego za pomocą sondy Langmuira w zasilanym impulsowo magnetronowym układzie rozpylającym Investigation of characteristics of glow discharge in a pulse powered magnetron sputtering system using Langmuir probe EOT dr inż. Mateusz Wośko W12/Z1 Wspomagana programowo analiza reflektrogramów uzyskanych w trakcie wzrostu warstw AIIIN Computer aided anlysis of reflectance graphs during the growth of AIIIN layers EOT 107 dr inż. Mateusz Wośko W12/Z1 Analiza wpływu warunków grzania grafitowego sussceptora w systemie CSS 3x2 na jednorodność parametrów warstw AIIIN Analysis of the influence of graphite sussceptor heating parameters in a CSS 3x2 system on the uniformity of AIIIN layers EOT 108 dr hab. inż. Artur Wymysłowski W12/Z5 Zastosowanie metod modelowania molekularnego do analizy sił adhezji Application of molecular modeling methods for analysis of adhesion forces EOT 109 dr hab. inż. Artur Wymysłowski W12/Z5 Analizy numeryczna połączeń lutowanych Numerical analysis of solder joints EOT 110 dr hab. inż. Artur Wymysłowski W12/Z5 111 dr hab. inż. Artur Wymysłowski W12/Z5 105 dr inż. Artur Wiatrowski 106 dr inż. Iwona 112 W12/Z1 Zborowska-Lindert Analiza numeryczna rozpraszania ciepła dla satelity X- Numerical analysis of heat dissipation for X-Cube Cube satellite EPM Analiza i optymalizacja numeryczna mikromechanicznego czujnika ciśnienia Numerical analysis and optimization of a micromechanical pressure sensor EPM Wykorzystanie warstw typu AIIIBV z fosforkiem w technologii struktur optoelektronicznych. Application of phosphorous based AIIIBV semiconductor epilayers in optoelectronic devices technology. EOT Development of the technology of wet chemical etching of InP EOT Opracowanie technologii kontaktów omowych do warstw InP typu n Development of the technology of ohmic contacts for n-type InP layers EOT 113 dr inż. Iwona Opracowanie technologii mokrego trawienia fosforku W12/Z1 Zborowska-Lindert indu 114 dr inż. Iwona W12/Z1 Zborowska-Lindert 115 dr inż. Zbigniew Znamirowski W12/Z2 Charakterystyki emisyjne polowych emiterów elektronów na bazie materiałów kompozytowych. Emmission characteristics of the field electron emitters made of composite materials. EPM 116 dr inż. Zbigniew Znamirowski W12/Z2 Cyfrowa akwizycja danych pomiaru charakterystyk emiterów polowych Digital acquisition of measurements data of the characteristics of field electron emitters EPM 10 117 dr inż. Zbigniew Znamirowski W12/Z2 Badanie wpływu poziomu próżni na polową emisję elektronową katod kompozytowych. 118 dr hab. inż. Irena Zubel W12/Z1 Zastosowanie wytrząsania jako alternatywnej metody mieszania w procesie anizotropowego trawienia krzemu 119 dr hab. inż. Irena Zubel W12/Z1 Trawienie anizotropowe krzemu w roztworach trójskładnikowych: TMAH+Triton+alkohole Silicon anisotropic etching in three-component etchants: TMAH+Triton+alcohols EOT, EPM 120 dr hab. inż. Irena Zubel W12/Z1 Trawienie anizotropowe krzemu z wykorzystaniem dwóch czynników trawiących: KOH i TMAH Silicon anisotropic etching with the use of two etching agents: KOH and TMAH EOT, EPM 121 dr inż. Tadeusz Żdanowicz W12/Z7 Analiza właściwości warstw ZnO wytwarzanych metodą Atomic Layer Deposition do zastosowań w organicznych ogniwach słonecznych jako transparentna elektroda Properties of ZnO thin fims deposited by atomic layer deposition technique for the application as a transparent electrode in organic solar cells EOT 122 dr inż. Tadeusz Żdanowicz W12/Z7 Chemiczne metody strukturyzacji warstw TCO do zastosowań w technologii barwnikowych i organicznych ogniwach słonecznych Structuring of TCO layers using wet chemistry methods for the application in the technology of dye-sensitized and organic solar cells EOT 123 dr inż. Tadeusz Żdanowicz W12/Z7 Poprawa dokładności pomiaru natężenia promieniowania poprzez zastosowanie autokompensacji zmian temperaturowych w ogniwie referencyjnym 124 dr inż. Tadeusz Żdanowicz W12/Z7 Ocena błędu niedopasowania spektralnego przy pomiarach parametrów elektrycznych ogniw barwnikowych i organicznych 11 Investigation of the influence of vacuum level on the field electron emission of composite cathodes. EPM Use of shaking as an alternative method of stirring EOT, EPM for the process of silicon anisotropic etching Improvement of irradiance measurement accuracy by applying autocompensation of temperature EOT, EPM effects in a reference cell Estimation of a spectral mismatch error in characterization of dye-sensitized and organic solar cells EOT, EPM
