Spektrometria XRF w teorii i praktyce

Spektrometria XRF w teorii i praktyce
PANalytical B.V. i Instytut Metali Nieżelaznych w Gliwicach mają przyjemność zaprosić wszystkich obecnych
oraz przyszłych użytkowników spektrometrów rentgenowskich a także osoby zainteresowane tematyką XRF
na seminarium pt. Spektrometria XRF w teorii i praktyce, które odbędzie się w Katowicach w dniach
23-25 maja 2016.
Seminarium prowadzone będzie przez wiodących naukowców w dziedzinie techniki XRF z polskich instytucji
naukowych oraz wykwalifikowanych specjalistów PANalytical.
Do dyspozycji uczestników przeznaczone będą spektrometry XRF, stapiarka elektryczna, notebooki
z oprogramowaniem analitycznym a każdy z uczestników otrzyma podręcznik Spektrometria XRF –
wprowadzenie do podstawowych zagadnień oraz certyfikat ukończenia szkolenia.
Celem seminarium jest rozpowszechnianie wiedzy zarówno teoretycznej jak i praktycznej w zakresie
przygotowania prób, analizy XRF, kalkulacji wpływów matrycowych, tematyki związanej ze źródłami błędów
a także wymiana doświadczeń pomiędzy użytkownikami różnych typów spektrometrów rentgenowskich.
Gorąco zachęcamy Państwa do udziału w seminarium.
Organizacja
Seminarium odbędzie się w Hotelu Novotel w Katowicach. Koszt udziału w seminarium wynosi 1000 PLN
netto i obejmuje koszty wyżywienia oraz materiały szkoleniowe.
Osobą odpowiedzialną za rezerwacje i sprawy organizacyjne jest Pan Szymon Stolarek.
Zgłoszenia uczestnictwa prosimy kierować na adres: [email protected]
lub telefonicznie: 22.8632009 w godz. 9.00 – 17.00 do dnia 15.04.2016.
Szczegółowy program seminarium wraz z niezbędnymi informacjami oraz potwierdzeniem rezerwacji prześlemy
Państwu w późniejszym terminie po zarejestrowaniu Państwa zgłoszenia.