Ćwiczenie 5 - Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki
Transkrypt
Ćwiczenie 5 - Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki
Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych Ćwiczenie 5. Właściwości małosygnałowe tranzystora bipolarnego 2009.11.16. 1. CEL ĆWICZENIA Celem ćwiczenia jest poznanie właściwości tranzystora bipolarnego pobudzanego sygnałem harmonicznym o małej amplitudzie w zakresie małych i średnich częstotliwości w punkcie pracy leŜącym w zakresie aktywnym normalnym. 2. WPROWADZENIE 2.1. Uwagi dotyczące tranzystora W ćwiczeniu badany jest tranzystor mocy typu BD 285. Wybór tranzystora podyktowany został moŜliwością obserwacji w laboratorium efektów związanych ze zwiększaniem częstotliwości sygnału. W przypadku tranzystora BD 285 zjawiska związane z istnieniem pojemności dyfuzyjnych i barierowych obserwuje się juŜ przy częstotliwościach rzędu kilkudziesięciu kiloherców. W ćwiczeniu dokonuje się pomiarów w nietypowym dla tranzystora BD 285 punkcie pracy I C = 50 mA , U CE = 5V . Nietypowość tego punktu pracy polega na tym, Ŝe ani prąd kolektora, ani rozpraszana w tranzystorze moc P = I C ⋅ U CE = 250 mW nie uzasadnia zastosowania tranzystora o dopuszczalnej mocy admisyjnej Ptot = 40 W i dopuszczalnym prądzie kolektora I Cmax = 7 A . Taki wybór punktu pracy ułatwia jednak pomiary, nie wpływając jakościowo na uzyskiwane wyniki. Z uwagi na ograniczony czas wykonywania ćwiczenia, wszystkie pomiary zawęŜono do jednego tylko punktu pracy. NaleŜy jednak pamiętać, Ŝe wiele parametrów tranzystora zaleŜy od punktu pracy tranzystora. Dlatego teŜ naleŜy w trakcie ćwiczenia kontrolować punkt pracy i korygować go, jeśli zachodzi taka potrzeba. 2.2. Model hybryd π b rbb' cb'c b' ub'e rb'e c Ag ⋅u m b'e cb'e gce e Rys. 1. Model hybryd π tranzystora bipolarnego Prostą wersję modelu hybryd π przedstawiono na Rys. 1. Pojemność Cb ' e w modelu hybryd π jest sumą pojemności dyfuzyjnej Cde i barierowej C je . MoŜna doświadczalnie wykazać, Ŝe wybrana w ćwiczeniu wartość składowej stałej prądu kolektora jest dostatecznie duŜa i dlatego wartość pojemności dyfuzyjnej złącza baza-emiter jest znacznie większa od wartości pojemności barierowej tego złącza tj. Cde ≫ C je , co oznacza, Ŝe dla badanych i modelowanych układów moŜna przyjąć Cb ' e ≈ Cde Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki, Katedra Systemów Mikroelektronicznych (1) 1 Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych Ćwiczenie 5. Właściwości małosygnałowe tranzystora bipolarnego 2009.11.16. Wartości pojemności dyfuzyjnej Cde i transkonduktancji g m tranzystora są proporcjonalne do wartości składowej stałej prądu kolektora I C Cde = tt N IC , nEVT I gm = C . nEVT (2) (3) MoŜna zatem stwierdzić, Ŝe pojemność Cde jest proporcjonalna do transkonduktancji g m Cde = ttN g m . (4) Współczynnik proporcjonalności ttN nazywany jest czasem przelotu nośników przez tranzystor w kierunku normalnym. Nazwa ta oddaje sens fizyczny współczynnika ttN . Czas przelotu ttN , jako wielkość w pierwszym przybliŜeniu niezaleŜna od punktu pracy tranzystora, jest bardzo często stosowany jako parametr tranzystora słuŜący do obliczania wartości Cde . Sposób doświadczalnego wyznaczania Cde i ttN jest przedstawiony niŜej. Wartość rezystancji rb ' e wiązana jest z wartością transkonduktancji g m poprzez rb ' e = h21e 0 , gm (5) gdzie h21e 0 oznacza zwarciowy małosygnałowy współczynnik wzmocnienia prądowego w układzie wspólnego emitera dla bardzo małych częstotliwości. Moduł małosygnałowego zwarciowego współczynnika wzmocnienia prądowego tranzystora h21e (oznaczany równieŜ jako β ) definiowany jest jako h21e = gdzie: Ic przy U ce = 0 , Ib (6) I c , I b – amplitudy prądu kolektora i prądu bazy, U ce – amplituda napięcia kolektor-emiter. Moduł h21e maleje ze wzrostem częstotliwości sygnału. Częstotliwość f β (to jest częstotliwość, przy której h21e maleje o 3dB w stosunku do h21e 0 ) określa zaleŜność fβ = 1 . 2π rb ' e ( Cb ' e + Cb ' c ) (7) Warto przypomnieć, Ŝe zmniejszenie wartości h21e o 3dB oznacza, Ŝe h21e ( f β ) = h21e 0 2 . (8) W przyjętym w ćwiczeniu punkcie pracy wartości pojemności barierowych są znacznie mniejsze od pojemności dyfuzyjnej Cde , co oznacza, Ŝe 1 fβ ≈ . (9) 2π rb ' e Cb ' e Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki, Katedra Systemów Mikroelektronicznych 2 Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych Ćwiczenie 5. Właściwości małosygnałowe tranzystora bipolarnego 2009.11.16. 2.3. Wyznaczanie modułu współczynnika wzmocnienia i pojemności dyfuzyjnej złącza baza-emiter prądowego Układ do wyznaczania zaleŜności h21e ( f ) powinien spełniać następujące wymagania: • • zapewnić odpowiedni punkt pracy, umoŜliwić pomiar amplitudy I c w funkcji częstotliwości przy kolektorze zwartym z emiterem dla składowej zmiennej, umoŜliwić pomiar amplitudy I b w funkcji częstotliwości. • Z wystarczająco dobrym przybliŜeniem wymagania te spełnia układ przedstawiony na Rys. 2a. Schemat zastępczy tego układu dla składowej zmiennej przedstawia Rys. 2b. Punkt pracy ustalany jest przez źródło napięcia U CC = U Z1 i regulowane źródło napięcia stałego RZN o wydajności tak dobranej, aby uzyskać poŜądaną wartość składowej stałej prądu bazy I B , a w rezultacie prądu kolektora I C . Pojemności C1 i C2 są na tyle duŜe, Ŝe stanowią zwarcia dla składowej zmiennej. OS-9000SRS YA uce 29 YB 30 zwora Metex 16 46 44 43 42 A A R1 39 24 10 IC + BD285 UZ1=+5V 10k 19 TM 1 RZN R3 22 7 21 14 R2 13 _ C2_ 6 5+ 4 12 11 22µ 9 ~ 20 ug 10 ube - do YB (punkt 2.4) 3k3 a) Imax=5mA R3 10kΩ b rbb' cb'c b' ub'e ~ rb'e c Ag ⋅u m b'e cb'e gce R1 10Ω ug e b) Rys. 2. Układ do wyznaczania zaleŜności h21e ( f ) : a) schemat ideowy, b) małosygnałowy schemat zastępczy Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki, Katedra Systemów Mikroelektronicznych 3 Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych Ćwiczenie 5. Właściwości małosygnałowe tranzystora bipolarnego 2009.11.16. Rezystor R1 słuŜy do pomiaru amplitudy składowej zmiennej I c . Jego wartość powinna być moŜliwie mała, aby z dobrym przybliŜeniem spełnione było wymaganie zwarcia kolektor emiter dla składowej zmiennej. Amplituda prądu kolektora określana jest jako Ic = U ce . R1 (10) Amplitudy składowych zmiennych napięcia kolektor-emiter i napięcia baza emiter mogą być zmierzone oscyloskopem. Rezystancje R1 i R2 są tak dobrane, aby kaŜda z nich była duŜo większa od rezystancji wejściowej tranzystora dla małych częstotliwości. Amplituda prądu bazy moŜe być zatem określona jako Ug Ib ≈ , (11) R3 gdzie U g jest amplitudą napięcia na wyjściu generatora. Z zaleŜności (6), (10) i (11) wynika, Ŝe moduł h21e ( f ) moŜe być określony jako h21e ( f ) = U ce ( f ) ⋅ R3 U g ( f ) ⋅ R1 . (12) Z przebiegu zaleŜności h21e ( f ) moŜna określić wartość częstotliwości f β Znane wartości f β , współczynnika h21e 0 , składowej stałej prądu kolektora I C i współczynnika nE umoŜliwiają wyznaczenie wartości pojemności Cb ' e oraz czasu przelotu ttN . Po przekształceniu zaleŜności (9) przy uwzględnieniu zaleŜności (3) i (5) otrzymujemy Cb ' e = IC . 2π h21e 0 f β nE VT (13) Korzystając z otrzymanego wyraŜenia na Cb ' e oraz zaleŜności (1), (3) i (4) stwierdzamy, Ŝe czas przelotu ttN wyraŜa się wzorem tt N = 1 2π h21e 0 f β . (14) Pamiętając, Ŝe częstotliwość graniczna fT , przy której h21e = 1 , wyraŜa się wzorem fT = h21e f β , (15) 1 . 2π fT (16) moŜna zauwaŜyć, Ŝe tt N = 2.4. Wyznaczanie h11e i rbb ' Moduł współczynnika h11e jest definiowany jako h11e = U be przy U ce = 0 , Ib Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki, Katedra Systemów Mikroelektronicznych (17) 4 Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych Ćwiczenie 5. Właściwości małosygnałowe tranzystora bipolarnego 2009.11.16. gdzie symbole U be , I b , U ce mają znaczenie amplitud składowych zmiennych. Z definicji (17) wynika, Ŝe wartość h11e dla małych częstotliwości moŜe być wyznaczana w tym samym układzie, co współczynnik h21e 0 , przedstawionym na Rys. 2a i przedyskutowanym w punkcie 2.3. W tym celu naleŜy przy małej częstotliwości sygnału zmierzyć dodatkowo amplitudę składowej zmiennej napięcia baza-emiter U be . Pomiaru moŜna dokonać za pomocą oscyloskopu. Określenie „mała częstotliwość” oznacza częstotliwość tak małą, Ŝe w modelu tranzystora nieistotne są pojemności, jednak dostatecznie wysoką, aby pojemności C1 i C2 w układzie pomiarowym moŜna było uwaŜać za zwarcie dla składowej zmiennej. Układ pomiarowy przedstawiony na Rys. 2a został tak zaprojektowany, aby umoŜliwiał pomiar h11e przy f = 1 kHz . Ze schematu zastępczego układu pomiarowego (Rys. 2b) wynika, Ŝe parametr h11e dla małych częstotliwości moŜna przedstawić jako h11e = R3 ⋅U be . U g − U be (18) Znana wartość h11e dla małych częstotliwości wraz z obliczoną według wzoru (5) wartością rb ' e umoŜliwiają wyznaczenie rezystancji szeregowej bazy rbb ' w punkcie pracy rbb ' = h11e − rb ' e . (19) Trzeba zaznaczyć, Ŝe znanych jest wiele metod wyznaczania rezystancji szeregowej bazy rbb ' . Przedstawiona metoda naleŜy do najprostszych. Wartości rbb ' wyznaczone róŜnymi metodami mogą się znacznie róŜnić. RóŜnice mogą sięgać kilkudziesięciu, a nawet kilkuset procent. Wynikają one z uproszczeń przyjętych przy tworzeniu modeli Ebersa-Molla, GummellaPoona i hybryd π . Przy wyznaczaniu parametrów tranzystora dla celów profesjonalnych wybór metody określania rbb ' naleŜy uzaleŜnić od celu, jakiemu ma słuŜyć model. 2.5. Wzmacniacz w konfiguracji wspólnego emitera Schemat ideowy badanego wzmacniacza przedstawiono na Rys. 3a, zaś jego małosygnałowy schemat zastępczy – na Rys. 3b. Pojemności C1 i C2 stanowią zwarcia dla składowej zmiennej (dla f ≥ 1 kHz ). Dla wyznaczenia częstotliwości bieguna wzmacniacza naleŜy uwzględnić obie pojemności w modelu tranzystora: Cb ' e oraz Cb ' c . W analizie małosygnałowej naleŜy uwzględniać konduktancję g ce , z uwagi na jej stosunkowo duŜą wartość dla badanego tranzystora. Wyznaczanie przebiegu napięciowej funkcji przenoszenia wzmacniacza K ( s ) w pobliŜu częstotliwości dominującej bieguna f3 dB moŜna znacznie uprościć przez przekształcenie schematu zastępczego do postaci przedstawionej na Rys. 3c. Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki, Katedra Systemów Mikroelektronicznych 5 Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych Ćwiczenie 5. Właściwości małosygnałowe tranzystora bipolarnego 2009.11.16. OS-9000SRS 16 R1 + 12 8 9 UZ1=+10V ~ RZN _ R2 100 17 29 14 C2 _ C1 3k3 30 + 13 7 22 24 BD285 11 ug 22µ YB 39 Metex V 21 10 YA UCC=10 V UCE 40 TM 1 a) b rbb' cb'c b' ub'e rb'e ~ c Ag ⋅u m b'e cb'e R2 100Ω gce ug e b) b rbb' c b' gm⋅ub'e ub'e ~ rb'e cb'e (1-k)cb'c Acb'c R2 100Ω gce ug e c) Rys. 3. Wzmacniacz w konfiguracji WE: a) schemat ideowy, b) małosygnałowy schemat zastępczy, c) przekształcony małosygnałowy schemat zastępczy dla analizy napięciowej funkcji przenoszenia Zamiast pojemności Cb ' c w schemacie 3c występują dwie pojemności, jedna o wartości (1 + k ) Cb ' c włączona równolegle do Cb ' e i druga o wartości Cb ' c włączona równolegle do sterowanego źródła prądowego. Symbol „ k ” oznacza stosunek amplitud napięć kolektor-emiter i baza wewnętrzna-emiter k= U ce . U b 'e (20) Funkcja przenoszenia K ( s ) , gdzie s jest operatorem Laplace’a, w pobliŜu dominującego bieguna wyraŜa się następującą przybliŜoną zaleŜnością Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki, Katedra Systemów Mikroelektronicznych 6 Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych Ćwiczenie 5. Właściwości małosygnałowe tranzystora bipolarnego K (s) = 2009.11.16. − g m RL , 1 1 + rbb ' + s ⋅ Csum r b ' e (21) gdzie RL oznacza wypadkową rezystancję w obwodzie kolektora RL = R2 , 1 + R2 ⋅ g ce (22) natomiast Csum oznacza wypadkową pojemność w obwodzie bazy na Rys. 3c Csum = Cb ' e + (1 + g m RL ) ⋅ Cb ' c . (23) Z zaleŜności (21) moŜna wyznaczyć wzmocnienie wzmacniacza dla średnich częstotliwości ( s = j ⋅ ω , przy ω → 0 ) K0 = − g m RL , rbb ' 1+ rb ' e (24) oraz wartość częstotliwości bieguna wzmacniacza f 3dB ≈ rbb ' + rb ' e . 2π ⋅ Csum rbb ' rb ' e (25) 3. ZADANIA UWAGI: 1) Do obliczeń przyjąć wartość potencjału termicznego VT = 25 mV . 2) Dla większości tranzystorów, w tym równieŜ dla badanych tranzystorów typu BD 285, współczynnik nieidealności nE jest bliski 1 (z dokładnością 1% ). Dlatego do obliczeń polecanych w dalszej części instrukcji moŜna przyjąć wartość nE = 1 . Błędy spowodowane takim przybliŜeniem wartości nE są mniejsze od błędów charakterystycznych dla klasy przyrządów pomiarowych uŜywanych w laboratorium. 3) W ćwiczeniu badane są właściwości tranzystora typu BD 285 w punkcie pracy I C = 50 mA , U CE = 5V . Po zmontowaniu układów pomiarowych przedstawionych na Rys. 2 i 3 w pierwszej kolejności naleŜy ustawić wartość składowej stałej prądu kolektora. W trakcie pomiarów naleŜy często kontrolować i w miarę potrzeby korygować tę wartość. W stosowanych w ćwiczeniu układach dobór wartości I C polega na regulacji prądu bazy tranzystora przy pomocy regulowanego źródła napięcia RZN. Odpowiednia wartość składowej stałej napięcia kolektor-emiter jest zapewniana poprzez zastosowanie w układach napięć zasilania i rezystancji zgodnych z instrukcją. Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki, Katedra Systemów Mikroelektronicznych 7 Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych Ćwiczenie 5. Właściwości małosygnałowe tranzystora bipolarnego 2009.11.16. 3.1. Badanie tranzystora BD 285 Z1. W układzie przedstawionym na Rys. 2a zbadać zaleŜność h21e ( f ) . W tym celu ustawić częstotliwość generatora f = 1 kHz . Napięcie wyjściowe generatora dobrać tak, aby wartość międzyszczytowa składowej zmiennej napięcia kolektor-emiter U ce pp była równa 100 mV . Zanotować wartość międzyszczytową napięcia generatora U g pp . Na tej podstawie obliczyć wartość h21e 0 . Zbadać zaleŜność napięcia U ce pp od częstotliwości w zakresie od 1 kHz do 1 MHz . Wartość U g pp utrzymywać na stałym poziomie tak, aby nie zmieniała się z częstotliwością. Sporządzić wykres h21e ( f ) . Określić doświadczalnie wartość częstotliwości f β , tj. znaleźć tę wartość częstotliwości, dla której moduł wzmocnienia h21e ( f β ) = Obliczyć transkonduktancję gm , h21e 0 2 , a zatem U ce pp = pojemność dyfuzyjną 100 mV ≅ 70.7 mV . 2 baza-emiter Cb ' e ≅ Cde , częstotliwość fT i czas przelotu fT . Z2. W tym samym układzie pomiarowym wyznaczyć wartość h11e dla małych częstotliwości i wartość rbb ' . W tym celu ustawić częstotliwość generatora f = 1 kHz . Upewnić się, Ŝe napięcie wyjściowe generatora nadal dobrane jest tak, jak w zadaniu Z1. Dołączyć wejście kanału B oscyloskopu do bazy tranzystora (między węzły 19, 20 lub do odpowiedniego gniazda koncentrycznego). Zanotować wartości międzyszczytowe składowych zmiennych napięć generatora U g pp i baza-emiter U be pp . Obliczyć wartość parametru h1e dla małych częstotliwości, a następnie wartość rezystancji szeregowej bazy rbb ' . 3.2. Badanie wzmacniacza w konfiguracji wspólnego emitera W układzie wzmacniacza przedstawionym na Rys. 3 dołączyć wejście kanału A oscyloskopu do wyjścia generatora (między węzły 12, 11 lub do odpowiedniego gniazda koncentrycznego), a wejście B do kolektora tranzystora (między węzły 29, 30 lub do odpowiedniego gniazda koncentrycznego). Biorąc pod uwagę, Ŝe pojemność C1 stanowi zwarcie dla składowej zmiennej, w kanale A obserwujemy przebieg składowej zmiennej napięcia baza-emiter ube ( t ) . Natomiast w kanale B obserwujemy napięcie uce ( t ) . Dla częstotliwości f = 1 kHz ustalić wartość międzyszczytową składowej zmiennej napięcia baza-emiter U be pp taką, Ŝeby napięcie kolektor-emiter U ce pp = 1.41 V . Zanotować wartość międzyszczytową napięcia U be pp oraz fazę ϕ składowej zmiennej uce ( t ) względem składowej zmiennej napięcia baza-emiter ube ( t ) dla średnich częstotliwości. Obliczyć na podstawie tego pomiaru wartość wzmocnienia wzmacniacza dla średnich częstotliwości Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki, Katedra Systemów Mikroelektronicznych 8 Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych Ćwiczenie 5. Właściwości małosygnałowe tranzystora bipolarnego K0 = U ce pp U be pp 2009.11.16. . (26) Zwiększyć częstotliwość generatora do wartości f3dB , przy której moduł wzmocnienia K spadnie o 3dB w stosunku do wartości K 0 , to jest do wartości K 3 dB = K0 (27) 2 czyli napięcie U ce pp obniŜy się do wartości 1V . Zanotować wartość częstotliwości f3dB oraz określić fazę ϕ3dB przebiegu składowej zmiennej napięcia kolektor-emiter uce ( t ) względem napięcia baza-emiter ube ( t ) . Na podstawie wyznaczonych w punkcie 3.1 parametrów tranzystora i zaleŜności z punktu 2.5 obliczyć przewidywane wartości wzmocnienia dla średnich częstotliwości K 0 i częstotliwości bieguna wzmacniacza f3dB . Do obliczeń przyjąć Cb ' c = 250 pF oraz g ce = 2 mS . Obliczone wartości K 0 i f3dB porównać z wartościami określonymi doświadczalnie. Skomentować ewentualne rozbieŜności. WYPOSAśENIE STANOWISKA LABORATORYJNEGO 1. Napięcia zasilające: stałe +5V oraz +10V . 2. Układy laboratoryjne i podzespoły: • tablica montaŜowa TM1 z modułem regulowanego źródła napięcia RZN, • tranzystor BD 285 na łączówce, • rezystory o rezystancji 10 Ω , 100 Ω , 3.3 k Ω , 10 k Ω , • kondensator elektrolityczny o pojemności 22 µ F na łączówce, zwora Z3, • sonda RC typu S 12 A, 3. Generator funkcyjny G432. • Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki, Katedra Systemów Mikroelektronicznych 9