Prof. dr hab. inż. Jan SIKORA

Prof. dr hab. inż. Jan SIKORA
ukończył Wydział Elektryczny Politechniki Warszawskiej.
W ciągu 34 lat pracy zawodowej zdobył na swojej
macierzystej uczelni wszystkie stopnie, tytuły i stanowiska,
łącznie
ze
stanowiskiem
profesora
zwyczajnego.
Z Instytutem Elektrotechniki w Warszawie jest związany
od 1998 roku. Od 2008 r. pracuje na Wydziale Elektrotechniki
i Informatyki Politechniki Lubelskiej w Katedrze Elektroniki.
W latach 2001-2004 pracował jako Senior Research Fellow
w University College London w Grupie Tomografii Optycznej
Prof. S.R. Arridge’a. Jego zainteresowania naukowe skupiają
się wokół numerycznych metod pola elektromagnetycznego
i ich zastosowań w tomografii dyfuzyjnej. Autor kilku książek
i wielu artykułów oraz referatów na konferencje.
Ważniejsze publikacje:
J. Sikora: Boundary Element Method for Impedance and Optical Tomography, Oficyna
Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, 2007
J. Sikora: Podstawy Metody Elementów Skończonych: Zagadnienia Potencjalne,
Wydawnictwa IEL, 2008.
J. Sikora: Podstawy Metody Elementów Brzegowych: Zagadnienia Potencjalne,
Wydawnictwa IEL, 2009.
Sikora J., Zacharopoulos A., Douiri A., Schweiger M., Horesh L., Arridge S.R. and Ripoll J.:
Diffuse photon propagation in multilayered geometries. Physics in Medicine and Biology, vol.
51, 2006, pp. 497-516. (25%) pozycja 4 977, (Impact Factor 2.683).
A. Zacharopoulos, S.R. Arridge, O. Dorn, V. Kolehmainen, and J. Sikora: Threedimensional reconstruction of shape and picewise constant region values for optical
tomography using spherical harmonic parametrization and a boundary element method
BEM. Inverse Problems, vol. 22, 2006, pp. 1-24. (20%) pozycja 2 902, (Impact Factor
1.541).
A. Zacharopoulos, S.R. Arridge, O. Dorn, V. Kolehmainen, and J. Sikora: 3D Shape
Reconstruction in Optical Tomography Using Spherical Harmonics and BEM. Journal of
Electromagnetic Waves and Applications, vol. 20, no. 13, 2006, pp. 1827-1836. (20%)
pozycja 3 274, (Impact Factor 0.285).
Stasiak, M., Sikora, J., Filipowicz, S.F., Nita, K.: Principal component analysis and artificial
neural network approach to electrical impedance tomography problems. Engineering
Analysis with Boundary Elements, 31 (8), p.713-720, Aug 2007. (25%) pozycja 1 842,
(Impact Factor 0.894).
P. Wieleba, J. Sikora: Open Source BEM Library - Advances in Engineering Software,
2008, issn = 0965-9978, doi = 10.1016/j.advengsoft.2008.10.007. (lista ministerialna
poz.210-pkt.15)
Grzywacz T., Sikora J., Wójtowicz S.: Object shape virtualization in impedance tomography,
Compel, The international journal for computation and mathematics in electric al and
electronic engineering, Vol. 28, No. 1, 2009, pp. 221-230.
Rymarczyk T., Filipowicz S.F., Sikora J., Polakowski K.: Applying the level set methods
and the immersed interface method in EIT, PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY
(Electrical Review), R. 85 NR 4/2009, pp. 68-70. (lista ministerialna B czasopisma polskie
poz.929- 6 pkt.)
Pańczyk M., Sikora J.: 3D mapped infinite boundary elements usage in Electrical
Impedance Tomography , PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY (Electrical Review), R. 85
NR 5/2009, pp. 71-74. (lista ministerialna B czasopisma polskie poz.929- 6 pkt.)
Rymarczyk T., Filipowicz S.F., Sikora J., Polakowski K.: A piecewise-constant minimal
partition problemin the image reconstruction, PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY
(Electrical Review), R. 85 NR 12/2009, pp. 141-143. (lista ministerialna B czasopisma
polskie poz.929- 6 pkt.)
Polakowski K., Filipowicz S.F., Sikora J., Rymarczyk T.: Jakość obrazowania w tomografii
wielościeżkowej, PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY (Electrical Review), R. 85 NR
12/2009, pp. 134-136. (lista ministerialna B czasopisma polskie poz.929- 6 pkt.)