docLeica TCS SP8 - dokumentacja techniczna - j
download 
Reklamacja Transkrypt
Leica TCS SP8 - dokumentacja techniczna - j
Dane techniczne Statyw mikroskopowy Prosty Mikroskop Odwrócony Izolacja wibracji Opcje izolacji Stół antywibracyjny Stolik mikroskopowy Vibration Opcje stolika Autofokus Zmotoryzowana ostrość (statyw) isolation Galwanometr Z Lasery fali ciągłej Microscope stage Laser VIS Opcje Leica DM5000 CS Leica DM6000 CS Leica DM6000 CFS Leica DMI6000 CS Leica DMI6000 CEL Leica DMI6000 AFC CS Dane Tak Dane Opcjonalnie dla Leica DMI6000 CS Zakres pracy zależny od mechaniki mikroskopu/ krok 15 nm Wybór trybów w osi Z (Galvo Flow/odrębne kroki) 1500 μm / krok 3nm Dane techniczne Laser na ciele stałym 40 mW: 448 nm Laser na ciele stałym 20 mW: 488 nm Laser na ciele stałym 20 mW: 514 nm Laser na ciele stałym 20 mW: 552 nm Laser na ciele stałym 30 mW: 638 nm Dioda 40 mW: 442 nm Ar 65 mW: 458, 476, 488, 496, 514 nm Continuous wave lasers HeNe, 2 mW: 594 nm HeNe, 10 mW: 633 nm UV Lasery pulsacyjne Laser IR Laser do CARS picoEmerald VIS Pulsed lasers DPSS, 20 mW: 561 nm UV OPSL 80 mW: 355 nm Dioda, 50 mW: 405 nm Dane techniczne Moc i zakres długości fali w zależności od wybranego modelu. Pełna integracja z laserami Coherent Chameleon i Newport MaiTai z lub bez kompensacji, systemem OPO dla używania długości fal do1300 nm OPO, > 600 mW @ 780 nm do 940 nm, szer. pulsu 5 do 6 ps, 80 MHz; Pompa > 750 mW @ 1064 nm, długość pulsu 7 ps, 80 MHz WLL, średnia moc 1.5 mW: 470 – 670 nm, 78 Mhz; z wbudowanym próbnikiem impulsów (Pulse Picker): 78, 39, 19.5, 9.75 MHz Dioda, 3 mW: 640 nm; 40, 20, 10, 5 MHz Dioda, 3 mW: 470 nm; 40, 20, 10, 5 MHz Super-resolution Super rozdzielczość UV STED CW gated STED Dioda, 3 mW: 440 nm; 40, 20, 10, 5 MHz Dioda, 3 mW: 405 nm; 40, 20, 10, 5 MHz Rozdzielczość XY: < 80 nm FWHM Rozdzielczość XY: < 50 nm FWMH Dane techniczne Modulacja wzbudzenia Optyka Typ modulacji AOTF VIS AOTF UV EOM IR AOTF CARS Sterownik laserów pulsacyjnych Bezpośrednia modulacja Dane techniczne Do 8 kanałów Do 3 kanałów Tak Do 2 kanałów Opcja Dla 405 nm Liczba portów lasera Liczba laserów VIS Rozdział światła wzbudzenia od emisji Do 4 (UV-VIS-IR-STED) Do 8 kanałów Acousto-Optical Beam Splitter (AOBS) lub zwierciadła dichroiczne o niskim kącie padania (LIAchroics) 400 – 800 nm Sekwencyjne (między liniami lub ramkami) lub jednoczesne Tak (większość opcji np. STED, multifoton) Ujednolicona optyka CS2 Stabilna pojedyncza przysłona (bezobsługowa) Zmotoryzowana, z poziomu oprogramowania, możliwość automatycznej korekcji wg długości fali Dysk z filtrami z wieloma opcjami Dane techniczne Skaner X2Y z prawidłowym optycznym skanowaniem w niskiej bezwładności Skaner FOV i rezonansowy w jednym systemie (opcja) Zakres detekcji Obrazowanie UV i IR Możliwość rozbudowy Korekcja UV Pinhole Kontrola średnicy pinhole Skaner Filtry odcinające Projekt skanera Rodzaj skanowania Przełączanie pomiędzy skanerem FOV a skanerem rezonansowym Skaner FOV Maks. częstotliwość linii Min. częstotliwość linii Maks. szybkość dla zdjęć 512 x 512 Maks. szybkość dla zdjęć 512 x 16 Zatrzymywanie wiązki Maks. rozdzielczość ramki Powiększenie skanera Panorama Obrót pola widzenia Wielkość pola widzenia Dane techniczne 3600 Hz (w dwie strony) 1 Hz 7 Hz 84 Hz Tak 8192 x 8192 (FLIM: do 512x512) 0.75 – 48x Tak 200° metodą optyczną 22 mm Dane techniczne Skaner Skaner rezonansowy 8 kHz Dane techniczne Maks. częstotliwość linii Min. częstotliwość linii Maks. szybkość dla zdjęć 512 x 512 Maks. szybkość dla zdjęć 512 x 16 Maks. rozdzielczość ramki Powiększenie skanera Panorama Obrót pola widzenia Wielkość pola widzenia Skaner rezonansowy 12 kHz Maks. częstotliwość linii Min. częstotliwość linii Maks. szybkość dla zdjęć 512 x 512 Maks. szybkość dla zdjęć 512 x 16 Maks. rozdzielczość ramki Powiększenie skanera Panorama Obrót pola widzenia 16 kHz (w dwie strony) 8 kHz 28 ramek/s 290 ramek/s 1024 x 1024 pikseli 1,3 – 48x Tak 200° metodą optyczną 13 mm Dane techniczne 24 kHz (w dwie strony) 12 kHz 40 ramek/s 428 ramek/s 832 x 832 pikseli 2 – 48x Tak 200° metodą optyczną 8 mm Wielkość pola widzenia Moduły skanowania Opcje skanowania xyz xzy xt xyt xzt xyzt xzyt xyλ xzλ xyλt xzλt xyλz xyzλt xyΛ xzΛ xyzΛ xyΛt xyλΛ xzλΛ Dostępność Tak Tak Tak Tak Tak Tak Tak Tak Tak Tak Tak Tak Tak Tylko dla białego lasera (WLL) Tylko dla białego lasera (WLL) Tylko dla białego lasera (WLL) Tylko dla białego lasera (WLL) Tylko dla białego lasera (WLL) Tylko dla białego lasera (WLL) Dane techniczne Wewnętrzne detektory Detektory hybrydowe Dane techniczne Separacja emisji Wysokiej czułości detektory ze spektralnym rozdziałem na pryzmacie (HyD SP) lub na kostkach filtrowych (HyD RLD) Tak 4 (+ 1 PMT) Tak 400 – 720 nm 45% (@500 nm) 1 nm 5 nm Tak Tak Detektory hybrydowe GsAsP 12 lub 18 bitów na kanał > 600 MHz 16 bit Dane techniczne Wysokiej czułości detektory ze spektralnym rozdziałem na pryzmacie do 5 Tak 400 – 800 nm 30% (@ 500 nm) 1nm 5 nm Wysokiej czułości PMT o niskim szumie 12 lub 18 bitów na kanał 40 MHz nadpróbkowanie 16 bit Dane techniczne Bramkowanie czasowe Maks. liczba detektorów Dostrajanie zakresów emisji Zakres detekcji spektralnej Typowa efektywność kwantowa Krok ustawiania zakresów emisji Min. zakres detekcji Zliczanie fotonów Możliwość pomiarów FLIM Sensory Digitalizacja Częstotliwość odczytu Maks. skala szarości Detektory PMT do obrazowania Separacja emisji Maks. liczba detektorów Dostrajanie zakresów emisji Zakres detekcji spektralnej Typowa efektywność kwantowa Krok ustawiania zakresów emisji Min. zakres detekcji Sensory Digitalizacja Częstotliwość odczytu Maks. skala szarości Detektory PMT dla FLIM i do obrazowania Separacja emisji Maks. liczba detektorów Dostrajanie zakresów emisji Zakres detekcji spektralnej Krok ustawiania zakresów emisji Min. zakres detekcji Zliczanie fotonów Możliwość FLIM Sensory Digitalizacja Częstotliwość odczytu Maks. skala szarości Wysokiej czułości detektory ze spektralnym rozdziałem na pryzmacie do 2 (+ do 3 dodatkowych detektorów wewnętrznych) Tak 400 – 800 nm 1 nm 5 nm Tak Tak Szybkiego czasu reakcji 12 lub 18 bitów na kanał 40 MHz nadpróbkowanie 16 bit Dane techniczne Zewnętrzne detektory External confocal detection konfokalneNon-confocal detection Electronics Extensions Detektory nie-konfokalne Elektronika Rozszerzenia Software Typ detektora PE APD MPD APD PMT Aplikacje 2, dla FCS i obrazowania 2, dla FCS, FLCS, FLIM i obrazowania 1, dla FLIM Typ detektora Detektor światła przechodzącego Bezpośrednie kanały do światła przechodzącego Bezpośrednie kanały do światła odbitego Bezpośrednie detektory HyD do światła odbitego Maks. liczba detektorów Urządzenia Kontrola skanera Wyzwalanie w/z Wejściowe kanały pomocnicze Komputer Monitor Kontrola programu Dla obrazowania Urządzenia Pomocniczy port emisji Kontrola środowiska próbki Ergonomia Zbieranie danych Skan mozaikowy/Przyleganie Separacja barwników w czasie rzeczywistym Statystyka fotonów LAS AF Dekonwolucja Leica HCS A LAS AF Wizualizacja 3D Intuicyjne aplikacje do eksperymentów LAS AF MicroLab LAS AF Live Data Mode LAS AF Electrophysiology LAS AF SMD FLIM LAS AF SMD FCS Opcja, pozwala na jasne pole, kontrasty, itp. do 4 (multifoton) do 4 (multifoton) do 2 (multifoton), dla obrazowania i FLIM 6 NDD, 1 BF-TLD Dla obrazowania Cyfrowa (FPGA – polowe programowanie macierzy bramek) Tak Do 2 Stacja Premium HP dla prawdziwego przetwarzania 64 bitowego 30“ wysokiej jakości Programowalny panel sterowania z funkcją wyświetlania wartości na LCD Dla obrazowania Opcja Różne opcje i akcesoria Optymalizacja dla ciemnych pomieszczeń i obróbki obrazu (GUI) Skalowalny interfejs użytkownika dla maksymalnej elastyczności Całkowicie modułowe i elastyczne rozmieszczenie funkcji Wielowymiarowe zbieranie danych, pełna kontrola zmotoryzowanego sprzętu Łączenia obrazów za pomocą algorytmu Szybka separacja barwień dla obrazowania VIS i MP Odczyt z liczby fotonów (HyD) W pełni zintegrowany algorytm do dekonwolucji, odczytywanie potrzebnych parametrów od razu z eksperymentu Dla wielowymiarowych obserwacji (Screening) Szybka, oparta na GPU obróbka dużych obiektów 3D, unikatowe narzędzie do wycinania obszarów FRAP, FLIP, fotokonwersja, FRET (wyświecanie akceptora, badanie emisji) Nagrywanie ręczne lub zautomatyzowane, programator funkcji, funkcje wyzwalania, złożone serie czasowe. Live Data Mode połączone z nagrywaniem danych z elektrofizjologii Ustawienia i obróbka dla pomiarów FLIM wykonywanych przy użyciu komponentów SMD Ustawienia i obróbka dla pomiarów FCS wykonywanych przy użyciu komponentów SMD 1. Mikroskop 2. Skaner 3. Stół antywibracyjny 4. Oświetlacz fluorescencyjny EL6000 5. Zasilacz mikroskopu 6. Joystick 7. Monitor 8. Panel kontrolny 9. Klawiatura 10. Myszka do komp. 11. Stolik 12. Rozbudowana jednostka zasilająca 13. Włączniki 14. Komputer Mikroskop Leica TCS SP8 z rozbudowanym układem zasilającym i odwróconym statywem. 1. Mikroskop 2. Skaner 3. Stół antywibracyjny 4. Oświetlacz fluorescencyjny EL6000 5. Zasilacz mikroskopu 6. Joystick 7. Monitor 8. Panel kontrolny 9. Klawiatura 10. Myszka do komp. 11. Stolik 12. Kompaktowa jednostka zasilająca 13. Włączniki 14. Komputer Mikroskop Leica TCS SP8 z kompaktowym układem zasilającym i prostym statywem. www.leica-microsystems.com WYMAGANIA DO INSTALACJI Waga systemu Maks. 330 kg Moc maksymalna VIS: 1.7 kW (CSU); 3.2 kW (FSU) UV: 0.5 kW IR: 2.0 kW 2 (systemy CSU); 3 (systemy FSU); niektóre opcje mogą wymagać dodatkowych podłączeń 100 V~ to 240 V~ ± 10%, z uziemieniem FSU: 2x 1600 VA (z dodatkowymi urządzeniami podłączonymi do zasilacza) CSU: 700 VA FSU: proces zautomatyzowany / CSU: 2x T8AH, 250 V AC I przykryta kontrukcja II 50/60 Hz Parametry elektryczne Min. liczba faz Napięcie Zużycie energii Bezpieczniki Klasa ochrony Rodzaj ochrony Kategoria przepięciowa Częstotliwość Dopuszczalna wilgotność Maks. wys. n.p.m. Stopień zanieczyszczeń Tolerowane wibracje Temperatura pracy Bezpieczeństwo laserów 20% do 60% (bez kondensacji) 2000 m n.p.m. 2 (chronić system przed kurzem) Częstotliwość [5 Hz –30 Hz]: mniej niż 30 μm/s średniej kwadratowej Częstotliwość [> 30 Hz]: mniej niż 60 μm/s średniej kwadratowej Dostęp do Internetu dla zaawansowanych narzędzi diagnostycznych. Pokój dostosowany do regionalnych przepisów dotyczących bezpieczeństwa laserowego. Zalecane zaciemnienie pokoju. Temperatura używania 18 do 25 °C Optymalna temperature dla optyki 22 °C ± 1 °C Klasa laserów 3B/ IIIb, 4/IV ROZMIARY SYSTEMU Statyw prosty z kompaktowym zasilaczem Statyw odwrócony z kompaktowym zasilaczem
