metrologia elektroniczna ii

Politechnika Opolska
Wydział Elektrotechniki, Automatyki i Informatyki
Karta Opisu Przedmiotu
Kierunek studiów
Profil kształcenia
Poziom studiów
Specjalność
Forma studiów
Semestr studiów
ELEKTRONIKA I TELEKOMUNIKACJA
Ogólnoakademicki
Studia pierwszego stopnia
Nazwa przedmiotu
METROLOGIA ELEKTRONICZNA II
Studia stacjonarne
IV
Nauki podst. (T/N)
N
Subject Title
Electronic metrology II
ECTS (pkt.)
Tryb zaliczenia przedmiotu
Kod przedmiotu
B.6
2
Zaliczenie na ocenę
Nazwy
Analiza matematyczna,Fizyka
przedmiotów
Ma wiedzę w zakresie matematyki, obejmujacą algebrę i analizę
niezbędną do opisu i analizy działania obwodów elektrycznych i
1.
elektronicznych oraz podstawowych zjawisk fizycznych w nich
występujących.
Wiedza
Ma wiedzę w zakresie fizyki, obejmujacą elektryczność i magnetyzm
Wymagania
2.
oraz fizykę ciała stałego.
wstępne w
zakresie
przedmiotu
1.
Umiejętności
Kompetencje
społeczne
Potrafi wykorzystać poznane metody matematyczne do analizy i
opracowania wyników pomiarów.
1. Potrafi współdziałać i pracować w grupie.
Program przedmiotu
Forma zajęć
Wykład
Ćwiczenia
Laboratorium
Projekt
Seminarium
Liczba godzin zajęć w
semestrze
30
Prowadzący zajęcia
(tytuł/stopień naukowy, imię i nazwisko)
Dr inż. Maria Wrzuszczak
Treści kształcenia
Laboratorium
Lp.
1.
2.
3.
4.
5.
6.
7.
8.
9.
10.
11.
Sposób realizacji w laboratorium
Tematyka zajęć
Wprowadzenie do laboratorium.
Pomiary oscyloskopowe.
Kompensatory napięcia stałego.
Pomiar mocy i energii w obwodach prądu zmiennego.
Przekładniki prądowe i napięciowe.
Pomiar rezystancji metodą techniczną i porównawczą.
Mostek Wheatstone'a i Thomsona.
Zaliczenie I serii ćwiczeń i termin na odrabianie.
Analiza statystyczna wyników pomiarów.
Komputerowy system pomiarowy do wyznaczania konduktywności właściwej
metali.
Woltomierze cyfrowe. Wyznaczanie współczynników tłumienia zakłóceń SMRR,
CMRR.
Liczba godzin
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
12.
Analiza Fouriera sygnałów okresowych. Pomiar wartości skutecznej napięć
odkształconych, wyznaczanie współczynnika zniekształceń nieliniowych.
Przetworniki cyfrowo-analogowe. Charakterystyka statyczna i pomiar parametrów
dynamicznych.
Przetworniki a/c z kompensacją równomierną i wagową, charakterystyka
14.
statyczna, błędy przetwarzania.
Zaliczenie II serii i termin na odrabianie.
15.
Liczba godzin zajęć w semestrze
Analiza wyników, sprawdzian pisemny
Sposoby sprawdzenia
zamierzonych efektów kształcenia
13.
2
2
2
2
30
Ma podstawową wiedzę w zakresie metrologii, zna i rozumie
1. metody pomiaru podstawowych wielkości elektrycznych i
magnetycznych (L).
Wiedza
Efekty kształcenia dla
przedmiotu - po
zakończonym cyklu
kształcenia
Umiejętności
2.
Zna metody obliczeniowe i narzędzia informatyczne
niezbędne do analizy wyników eksperymentu (L).
Potrafi mierzyć podstawowe wielkości elektryczne i
1. magnetyczne stosując jednostki miar układu SI oraz wzorce
wielkości mierzalnych (L).
Potrafi opracować wyniki pomiarów,ocenić błędy i
2. niepewności pomiaru, posługiwać się standardowymi
przyrządami pomiarowymi analogowymi i cyfrowymi (L).
Potrafi opracować dokumentację dotyczacą realizacji zadania
3. inżynierskiego i przygotować tekst zawierajacy omówienie
wyników realizacji tego zadania (L).
Kompetencje
społeczne
Ma świadomość odpowiedzialności za pracę własną oraz
gotowość podporządkowania się zasadom pracy w zespole i
1. ponoszenia odpowiedzialności za wspólnie realizowane
zadania (L).
Ma świadomość odpowiedzialności za pracę własną oraz
gotowość podporządkowania się zasadom pracy w zespole i
2. ponoszenia odpowiedzialności za wspólnie realizowane
zadania (L).
Metody dydaktyczne:
Ćwiczenia laboratoryjne realizowane są w grupach 2 osobowych
Forma i warunki zaliczenia przedmiotu:
Odrobienie wszystkich ćwiczeń i zaliczenie sprawozdań na ocenę pozytywną. Zaliczenie sprawdzianu
pisemnego.
Literatura podstawowa:
[1] SKUBIS T.: Opracowanie wyników pomiarów, przykłady. Wyd. Politechniki Śląskiej Gliwice 2003
[2] TUMAŃSKI S.: Technika pomiarowa, WNT Warszawa 2007
[3] PIOTROWSKI J.: Podstawy miernictwa, WNT, Warszawa 2002
[4] CHWALEBA A., PONIŃSKI M., SIEDLECKI A.: Metrologia elektryczna, WNT, Warszawa 2003
[5] PIOTROWSKI J., KOSTYRKO K.: Wzorcowanie aparatury pomiarowej, PWN, Warszawa 2000
[6] WINIECKI W.: Organizacja komputerowych systemów pomiarowych, Oficyna Wydawnicza
Politechniki
Warszawskiej, Warszawa 1997.
Literatura uzupełniająca:
[1] WRZUSZCZAK M., SZYMAŃSKI A.: Metrologia elektryczna i elektroniczna, skrypt nr 286, Politechnika
Opolska, Opole 2009.
[2] NAWROCKI W: Sensory i systemy pomiarowe. Wyd. Politechniki Poznańskiej, Poznań 2001.
______________
* niewłaściwe przekreślić
…………………………………………………..
……………………………………………………….
(kierownik jednostki organizacyjnej/bezpośredni przełożony:
(Dziekan Wydziału
pieczęć/podpis
pieczęć/podpis)