opis przedmiotu zamówienia - AXXON

ul. Puławska 314, 02-819 Warszawa; tel.: +48 22 855 40 93 e-mail: [email protected]
Załącznik nr 1 do SIWZ
Nr zamówienia 05/2015
OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA
Spektrofotometr UV-Vis
Opis:
Spektrofotometr dwuwiązkowy z pulpitem sterowniczym, oprogramowaniem wewnętrznym oraz
oprogramowaniem komputerowym.
Lp.
Parametr
Układ fotometryczny: optyka dwuwiązkowa (równoczesny pomiar
1.
po stronie kuwety pomiarowej i referencyjnej);
1.1.
Zakres pracy: co najmniej od 190 do 1100 nm;
1.2.
Szerokość spektralna szczeliny: nie większa niż 1 nm w całym zakresie pracy;
1.3.
Wyświetlanie i nastawianie długości fali z krokiem nie gorszym niż ± 0.1 nm;
1.4.
Monochromator Czerny-Turnera z korekcją aberracji;
1.5.
Siatka holograficzna typu „blazed”, co najmniej 1200 linii/mm;
1.6.
Dokładność długości fali ± 0.1 nm dla piku D2 656,1 nm
1.7.
1.8.
1.9.
Poziom światła rozproszonego nie większy niż 0.02% T (przy 220 nm, NaI) oraz
nie większy niż 0.02% (przy 340 nm NaNO2);
Powtarzalność długości fali nie gorsza niż ± 0.1 nm;
Zakresy pomiarowe: absorbancja co najmniej od -4 do 4 Abs, transmitancja od
0.0 do 400%;
1.10.
Dokładność fotometryczna nie gorsza niż ± 0.004 Abs (przy 1.0 Abs);
1.11.
Powtarzalność fotometryczna nie gorsza niż ± 0.001 Abs (przy 1.0 Abs);
1.12.
Stabilność linii bazowej: nie większa niż ± 0.0003 Abs/h (700 nm, pomiar po
godzinie od włączenia źródła światła);
1.13.
Płaskość linii bazowej: nie większa niż ± 0.0006 Abs (w zakresie 190-1100 nm;
1.14.
Poziom szumów: nie większy niż 0.00005 Abs;
1.15.
Dwa detektory zbudowane z fotodiod krzemowych;
Źródła światła: dwie lampy (deuterowa i wolframowa halogenowa)
1.16.
automatycznie
przełączane,
z
wbudowaną
funkcją
automatycznego
ustawiania właściwej pozycji lampy;
Możliwość automatycznej i programowalnej zmiany długości fali przełączenia
1.17.
lamp, oraz zaprogramowania wyłączenia jednej z lamp w zakresie od 295 do
364 nm (z krokiem co 0.1 nm);
1
ul. Puławska 314, 02-819 Warszawa; tel.: +48 22 855 40 93 e-mail: [email protected]
1.18.
1.19.
1.20.
Optyka: szczelna, bezsoczewkowa, zwierciadła pokryte kwarcem;
Nastawna szybkość skanowania widma w zakresie od 2 nm/min - 3000
nm/min;
Szybkość przechodzenia do wybranej długości fali nie mniejsza niż 6000
nm/min
Oprogramowanie wewnętrzne:
2.
2.1.
2.2.
2.3.
2.4.
umożliwiające pełną kontrolę aparatu, zbieranie, obróbkę danych,
umożliwiające pomiary stężenia w wybranych jednostkach stężenia,
skanowanie, pomiary zmiany absorbancji w czasie,
zawierające system walidacji spektrometru pozwalający na sprawdzenie
poprawności pracy aparatu nawet przed każdym pomiarem,
pozwalające na równoczesny pomiar dla co najmniej 8 wybranych długości fali,
umożliwiające pomiary kinetyczne: pomiar absorbancji w czasie i obliczanie
aktywności enzymatycznej, metody pomiarowe: przy jednej i dwóch
2.5.
długościach fali, pomiar szybkości, możliwość pomiaru od jednej do sześciu
kuwet z automatyczną zmianą kuwet, wybór zakresu czasu pomiaru co
najmniej od 1 sek. do 9999 min.,
2.6.
zawierające wbudowane metody do oznaczania ilościowego DNA i białek Lowry'ego, BCA, biuretową, CBB (Bradforda),
Komputer i oprogramowanie zewnętrzne:
3.
oprogramowanie działające w środowisku Windows 7 64 bity, sterujące całym
3.1.
przyrządem, posiadające następujące tryby pracy: tryb spektralny (zbieranie
widma), tryb fotometryczny (obliczenia ilościowe), tryb kinetyczny (przebieg w
czasie), umożliwiające ich opracowywanie zgodne z wymogami GMP/GLP.
3.2.
laptop dostosowany do oprogramowania sterującego aparatem, mysz
optyczna
dające możliwość porównywania wielu widm/przetwarzania relatywnego,
3.3.
powiększania i pomniejszania widma, autoskalowania, cofania i powtarzania
tych operacji oraz mające możliwość wstawienia komentarza na ekranie
widma,
W trybie spektralnym umożliwiające następujące przekształcenia: pochodne
od 1 do 4 rzędu, wygładzanie, odwrotność, pierwiastek kwadratowy, logarytm
3.4.
naturalny, konwersja Abs na %T, przekształcenie wykładnicze, konwersję
Kubelka-Munk, interpolacja, działania arytmetyczne na zbiorach danych i na
stałych (pomiędzy widmami, pomiędzy widmami i stałymi)
2
ul. Puławska 314, 02-819 Warszawa; tel.: +48 22 855 40 93 e-mail: [email protected]
w trybie fotometrycznym umożliwiające obliczenia ilościowe na widmach (piki,
wartości maksymalne i powierzchnia itp. w określonych przedziałach długości
fali), obliczenia z współczynnikiem K, tworzenie krzywych kalibracyjnych
3.5.
jedno- i wielopunktowych (dopasowywanie funkcji 1, 2 i 3 rzędu, wymuszanie
przejścia
przez
zero),
dające
możliwość
przetwarzania
danych
fotometrycznych przy użyciu funkcji definiowanych przez użytkownika (+, -, x,
÷, Log i Exp i inne funkcje, włącznie ze współczynnikami),
w trybie kinetycznym pozwalające na równoczesne wyświetlanie danych
przebiegu w czasie (krzywe i dane pomiarowe), umożliwiające obliczenia
3.6.
kinetyczne dla enzymów, obliczenia Michaelisa-Mentena i tworzenie
wykresów (Michaelis-Menten, Lineweaver-Burk, Hanes, Woolf, EadieHofstee), konstrukcję wykresu Dixona oraz wykresu Hilla.
Wymagania techniczne
4.
4.1.
4.2.
wbudowaną klawiaturę, wyświetlacz ciekłokrystaliczny oraz co najmniej cztery
złącza USB,
uchwyt do próbek na dwie kuwety 10 mm,
możliwość jednoczesnego podłączenia komputera, drukarki i pamięci
4.3.
przenośnej za pomocą niezależnych
portów USB,
kabel zasilający
spektrofotometr.
Kwalifikacja IQ/OQ, dokumentacja i szkolenia
5.
5.1.
5.2.
Kwalifikacja IQ, OQ, (raportu z kwalifikacji wypełnianego na bieżąco
podczas kwalifikacji);
Komplet dokumentacji technicznej wraz z instrukcją obsługi dla
wszystkich urządzeń zestawu wydane w języku polskim i angielskim;
szkolenie podstawowe z obsługi aparatu w trakcie instalacji- min. 8h,
na terenie laboratorium
5.3.
szkolenie okresowe- min 8h w terminie wyznaczonym przez
Zamawiającego (do roku od daty instalacji urządzenia), na terenie
laboratorium
3