Pomiar i Symulacja EM – Efektywne projektowanie układów

Pomiar i Symulacja EM – Efektywne
projektowanie układów mikrofalowych
Miejsce: Sala Seminaryjna, INTRACO, ul. Stawki 2, Warszawa
Data: 5.11.2014
Szanowni Państwo!
Zapraszamy na seminarium organizowane wspólnie przez CST-Computer Simulation Technology AG oraz
Rohde & Schwarz Österreich GmbH Przedstawicielstwo w Polsce, na którym chcielibyśmy zapoznać
Państwa z projektowaniem układów mikrofalowych na PCB i ich pomiarami za pomocą analizatora sieci
wektorowych.
Prezentacji będzie towarzyszył praktyczny pokaz projektowania układów w CST STUDIO Suite® a także
porównanie wyników symulacji z parametrami mierzonymi za pomocą analizatora obwodów Rohde &
Schwarz.
Program
09:00 Rejestracja uczestników
10:00 Prezentacja firmy CST
10:15 Prezentacja firmy Rohde & Schwarz
10:30 Projektowanie układu mikrofalowego w CST STUDIO SUITE®
Połączenia międzywarstwowe, wpływ złącz, parametry podłoża, itp.
11:00 Przerwa na kawę
11:20 Wektorowe Analizatory Obwodów Rohde & Schwarz
Pomiar przykładowego układu.
11:40 OptenniLab – współpraca aplikacji do projektowania układów z wektorowym analizatorem obwodów w
czasie rzeczywistym
Projekt układu dopasowującego na bazie parametrów ze zmierzonych próbek.
12:00 Lunch
13:00 Kalibracja wektorowego analizatora obwodów.
Możliwe błędy w realizacji kalibracji i pomiarów rzeczywistych obwodów.
13:45 Ekstrakcja własności materiałowych podłoża
14:15 Przerwa na kawę
14:40 Projekt filtru RFw CST STUDIO SUITE®
Projekt filtru z uwzględnieniem wszystkich efektów ubocznych.
15:20 Pomiary filtru i inne możliwości wykorzystania wektorowych analizatorów obwodów
Pomiar parametrów filtru i porównanie z pierwotnymi założeniami. Obszary wykorzystania analizatorów
obwodów, np. pomiary wzmacniaczy, pomiary mieszaczy oraz pomiary w dziedzinie czasu.
Jeśli są Państwo zainteresowani przedmiotem seminarium, prosimy zarejestrować się
na naszej stronie internetowej: http://www.cst.com.