Tablica 1. emiter typ n absorber(baza) typ p grubość 0.5 μm 300 μm
Transkrypt
Tablica 1. emiter typ n absorber(baza) typ p grubość 0.5 μm 300 μm
Tablica 1. grubość domieszkowanie LD dla nośników mniejszościowych czas życia nośników mniejszościowych emiter absorber(baza) typ n typ p 0.5 µm 300 µm 19 16 -3 10 cm-3 10 cm 14 µm -6 10 s 140 µm -6 5x10 s Symulator ogniw: Możliwość eksportowania charakterystyk IV, obliczenia wykonywać należy w modzie BULK UWAGA: w symulacjach długość drogi dyfuzji w emiterze jest oznaczana Le lub Ln, a szybkość rekombinacji powierzchniowej Se. Długość drogi dyfuzji w absorberze oznaczono Lb lub Lp, szybkość rekombinacji powierzchniowej Sb lub Sp W symulacjach 1-9 wykorzystać parametry typowego ogniwa krzemowego (Tab.1), Eg=1.1, szybkości rekombinacji powierzchniowej = min, temperatura 300 K, natężenie światła 1 Sun, Rs= min, Rsh = max (chyba, że w treści zadania jest inaczej) 1. Wyznaczyć wartość oporu szeregowego, dla której FF spada o 5% dla oświetlenia 1 Sun, 2 Suns i 5 Suns (1 Sun odpowiada AM1.5). Sformułować wnioski dotyczące pracy ogniw w świetle skoncentrowanym 2. Zbadać jak rośnie wydajność ogniwa w funkcji natężenia światła słonecznego. Wykonać i zinterpretować rysunek wydajności w funkcji natężenia światła wyrażonego w „Słońcach” oraz wyciągnąć wnioski dotyczące używania skoncentrowanego światła. 3. Wyznaczyć spadek wydajności ogniwa o parametrach z tab. 1. w funkcji temperatury jeśli wskutek nagrzewania wzrośnie ona o 30o. Który z parametrów fotowoltaicznych decyduje o tym spadku 4. Wyznaczyć zależność Voc w funkcji Isc zmieniając natężenie padającego światła i zrobić rysunek ln(Isc)-Voc. Obliczyć współczynnik idealności diody A posługując się odpowiednim wzorem z wykładu 2. 5. Wyznaczyć i narysować na jednym rysunku zależności Voc(T) dla 1 Sun (AM1.5), 0.5 Sun i 3 Sun. Ile wynosi w każdym przypadku ekstrapolowana do 0 K wartość Voc? Sprawdzić wnioski z teoretycznymi przewidywaniami. 6. Obliczyć FF dla oporu szeregowego 0, 0.5Ω, 1Ω, 2Ω, 3Ω, 4Ω. Porównać symulowane wartości z obliczeniami wykonanymi w oparciu o przybliżone wzory z wykładu. 7. Zbadać wpływ oporu szeregowego na FF ogniwa dla natężenia światła 1 Sun, 2 Sun, 5 Suns. Dla jakiej wartości Rs FF spada o 10% w każdym przypadku. Jakie znaczenie ma ten wynik dla ogniwa pracującego w świetle skoncentrowanym? 8. Sprawdzić, dla jakiej szybkości rekombinacji na powierzchni emitera wydajność struktury spada o 10% w stosunku do Se=min. Wykorzystując symulacje CP określić odpowiadający tej wartości spadek Isc(λ) w stosunku do Se=min dla 400 nm i 1000 nm, a także spadek QE dla tych długości fali. Sformułować wnioski. 9. Sprawdzić, dla jakiej szybkości rekombinacji na powierzchni tylnej absorbera wydajność struktury spada o 10%? Jaki jest spadek Isc i Voc? Określić odpowiadający tej wartość spadek Isc(λ) dla 400 nm i 1000 nm wykorzystując symulacje CP oraz spadek QE dla tych długości fali. 10. Wykorzystując program CP zbadać wpływ rekombinacji na powierzchni ogniwa dla niebieskiego (400 nm) i czerwonego (1000 nm) światła. Dla jakiej wartości Se Isc(λ) spada o 10% w jednym i drugim przypadku? Sprawdzić przy pomocy symulacji QE jaki to ma wpływ na wartość wydajności kwantowej dla tych długości fali. 11. Korzystając z programu CP zbadać wpływ szybkości rekombinacji na tylnym kontakcie Sb na fotoprąd dla dużej (Lb=1000 cm) i małej (Lb=20 cm) długości drogi dyfuzji w absorberze. Określić dla jakiej wartości Sb wartość Isc spada o 10%. Sformułować wnioski, w jakiej sytuacji warto ograniczać rekombinacje na tylnym kontakcie. Założyć minimalne prawdopodobieństwo rekombinacji w emiterze. 12. Korzystając z programu CP zbadać wpływ długości drogi dyfuzji na prawdopodobieństwo zbierania dla niebieskiego (400 nm) i czerwonego (1000 nm) światła. Zaniedbać rekombinację w emiterze i na jego powierzchni. Zaobserwować i opisać zmiany w wydajności kwantowej QE w obszarze tych długości fal związane z drogą dyfuzji w absorberze. Przyjąć małą prędkość rekombinacji na tylnym kontakcie. 13. Wykorzystując symulację QE znaleźć zależność między wydajnością kwantową dla λ=1000 nm a długością drogi dyfuzji w absorberze (odczytać Lb dla QE=0.9,0.8,0.7 itd.). Założyć minimalną szybkość rekombinacji na tylnym kontakcie i zaniedbać rekombinacje w emiterze. Zrobić wykres otrzymanej zależności i porównać z przewidywaniami teoretycznymi (p. rozdz 4.4 skryptu) 14. Wykorzystując symulację QE znaleźć zależność między wydajnością kwantową dla λ=1000 nm a szybkością rekombinacji na tylnym kontakcie (odczytać Sb dla QE=0.9, 0.8, 0.7 itd.). Założyć minimalną szybkość rekombinacji w objętości absorbera i zaniedbać rekombinację w emiterze. Zrobić wykres otrzymanej zależności i porównać z przewidywaniami teoretycznymi (p. rozdz 4.4 skryptu)