Harmonogram NOC NAUKOWCÓW 30 września

Harmonogram
NOC NAUKOWCÓW
30 września 2016 – g. 19.00 – 23.00
Instytut Zaawansowanych Technologii Wytwarzania
ul. Wrocławska 37a, 30-011 Kraków
Wejście – portiernia przy bramie wjazdowej (budynek E)
Miejsce zbiórki – hol przy portierni (budynek E)
Pokazy przeznaczone są dla osób powyżej 8 roku życia
Na wszystkie zajęcia obowiązuje rejestracja e-mailowa: [email protected]
Rejestracja od 21 września g. 9.00
HASŁO: Jak Zaawansowane Technologie Wytwarzania zmieniają nasz świat,
czyli badania naukowe z bliska
Centrum Inżynierii Materiałowej i Technik Spiekania SINTERCER
Temat
Współczesne materiały – czego nie widać gołym okiem
Badanie właściwości materiałów: materiały
supertwarde, ceramika, stal – 1 h
(zwiedzanie laboratorium, prezentacje przy
urządzeniach, warsztaty, możliwość wykonania własnych
pomiarów – maks. 12 osób, po 4 osoby na stanowisko)
1. Badania mikrostruktury (SEM i EDS): skaningowy
mikroskop elektronowy, spektrometr rentgenowski
2. Pomiar modułu Younga – cyfrowy defektoskop
ultradźwiękowy
3. Pomiar twardości - twardościomierz analogowy,
mikrotwardościomierz cyfrowy
Materiały przyszłości „z piekarnika”
Wytwarzanie materiałów wysokotopliwych: urządzenia
i technologie – 1 h
(zwiedzanie laboratorium, wykłady wprowadzające i
prezentacje przy urządzeniach – maks. 12 osób)
Prezentacja urządzeń i technologii:
- spiekanie HP-HT (diament, cBN)
- spiekanie konwencjonalne
- spiekanie mikrofalowe
- spiekanie SPS
19.00
grupa 1 12 os.
grupa 3 12 os
20.00
21.00
grupa 212 os.
22.00
grupa 4 12 os
Centrum Inżynierii Materiałowej i Technik Spiekania
Centrum Zaawansowanych Technologii Wytwarzania
Temat
Aż wióry lecą
Obróbka skrawaniem toczenie i frezowanie– 1,5 h
(wykłady wprowadzające, prezentacje przy
urządzeniach, warsztaty – maks. 10 osób)
1. Frezowanie na 5-osiowym centrum obróbkowym
CNC (DMC 75 V linear prod. Deckel Maho) – proces
obróbkowy i wymiana narzędzi
2. Toczenie na centrum obróbkowym tokarskim CNC
(NL2000SY/500 prod. Mori Seiki)
3. Pomiar temperatury z zastosowaniem kamery
termowizyjnej i pirometru
4. Rejestracja procesu tworzenia wióra szybką kamerą
19.00
20.00
grupa 5 –
10 os.
21.00
22.00
Centrum Zaawansowanych Technologii Wytwarzania
Temat
19.00
Ścierna rozrywka
Obróbka ścierna - ściernice diamentowe i z regularnego
azotku boru, badania narzędzi obrotowych – 1 h
(zwiedzanie laboratorium, wykłady wprowadzające i
prezentacje przy urządzeniach – maks. 12 osób)
1. Przecinanie i szlifowanie – narzędzia ścierne
2. Badania wytrzymałościowe narzędzi obrotowych
Iskiereczka mruga
Obróbka elektroerozyjna– 45 min.
(zwiedzanie laboratorium, wykłady wprowadzające i
prezentacje przy urządzeniach – maks. 10 osób)
1. Elektroerozyjne drążenie i wycinanie drutowe
2. Fakturowanie powierzchni złożonych
grupa 8 10 os
Niezwykłe drukarki laserowe
Pomiary i analiza topografii powierzchni – 45 min.
(wykład wprowadzający i prezentacje przy urządzeniach
– maks. 12 osób, po 4 osoby na stanowisko)
Pokaz pomiarów chropowatości i kształtu - prezentacja
pomiarów, możliwość wykonania pomiarów na próbkach
dostarczonych przez uczestników, demonstracja możliwości
analizy wyników na następujących urządzeniach
pomiarowych:
1. profilometr stykowy TOPO 01
2. profilometr stykowy TOPO 02
3. profilometr optyczny Altisurf 500
21.00
grupa 12 12 os.
22.00
grupa 7 12 os
grupa 9 10 os
grupa 10 10 os
Druk 3D w metalu (SLS, SLM)– 45 min.
(zwiedzanie laboratorium, wykłady wprowadzające i
prezentacje przy urządzeniach – maks. 10 osób)
1. Spiekanie laserowe SLS i SLM – Urządzenie AM 250
firmy RENISHAW i EOSINT M 250XT
Gładkie czy chropowate? Odkryj całą prawdę!
20.00
grupa 6 12 os
grupa 11 10 os
grupa 13 12 os.
Zakład Certyfikacji
Temat
Zakłócanie ciszy nocnej
Pomiar hałasu i rozpoznawanie źródeł dźwięku. Pomiar
EMC (kompatybilność elektromagnetyczna) - 45 min.
(zwiedzanie laboratorium – komora akustyczna i EMC,
prezentacje przy urządzeniach - maks 7 osób)
1. Pokaz rozpoznawania dominujących źródeł dźwięku metoda beamforming (holografia akustyczna)
2. Pokaz pomiaru mocy akustycznej przykładowego
źródła – możliwość pomiaru urządzeń przyniesionych
przez uczestników
3. Pokaz badania kompatybilności elektromagnetycznej
(EMC) przykładowego urządzenia – obserwowanie
przebiegu pomiaru za pomocą kamery ze sterówki
komory
19.00
grupa 14 7 os.
20.00
21.00
grupa 15 7 os.
22.00