Statystyczne Sterowanie Procesami (SPC)

STUDIA STOPNIA
KIERUNEK:
AUTOMATYKA I ROBOTYKA
Tytuł przedmiotu:
Statystyczne Sterowanie Procesami (SPC)
(wybieralny)
Semestr - wymiar godzin; punkty:
V – W1, L2; 3 pkt.
WYKŁADY: Statystyczne Sterowanie Procesami jako podstawa doskonalenia procesów
produkcyjnych. Proces produkcyjny i jego naturalna zmienność. Podstawowe odmiany zmienności
w procesie produkcyjnym. Przyczyny zmienności procesu. Pomiarowa identyfikacja zmienności w
procesach zautomatyzowanych.. Modele statystyczne procesu produkcyjnego. Proces
uregulowany statystycznie i nieuregulowany statystycznie. Pojęcie zdolności procesu
uregulowanego. Wskaźniki zdolności procesu, Cp, Cpk, Pp, Ppk. Gra wskaźników. Wpływ
wskaźników na funkcję strat Taguchi’ego. Idea kontroli statystycznej procesu produkcyjnego.
Kontrola inspekcyjna a sterowalność procesu. Karty kontrolne Shewharta dla cech mierzalnych i
niemierzalnych. Kontrola wg właściwości liczbowych lub alternatywna. Parametry statystyczne
stosowane dla metody wg właściwości liczbowych (miary położenia oraz miary rozrzutu).
Parametry dla kontroli alternatywnej (frakcja sztuk niezgodnych, ilość sztuk niezgodnych, liczba
niezgodności, liczba niezgodności na jednostkę wyrobu). Losowy charakter pobrania próbki.
Liczność próbki. Ustalanie odstępów czasowych między pobraniem kolejnej próbki. Błędy
pierwszego i drugiego rodzaju. Układ karty kontrolnej. Czułość kart kontrolnych. Prowadzenie
wykresu regulacyjnego. Charakterystyka wykresu regulacyjnego. Nietypowe konfiguracje punktów
wykresu regulacyjnego. Procedura postępowania w przypadku sygnałów o rozregulowaniu
procesu. Projektowanie kart kontrolnych. Monitorowanie a ciągłe doskonalenie procesu. Zasady
wdrażania SPC do praktyki produkcyjnej. Metody pomiarowe stosowane w SPC. Obieg informacji
pomiarowych w procesie podlegającym SPC. Oprzyrządowanie dla SPC – optymalny dobór
przyrządów i wzorców. Metoda R&R w doborze. Komputerowe wspomaganie prowadzenia kart
Shewharta. Karty CUSUM oraz karty EVMA – omówienie tych kart. Badania statystyczne wg AQL
(poziom akceptowanej jakości), wg LQ (jakości granicznej).
LABORATORIA: Pomiary i prowadzenie kart wg właściwości liczbowych. Prowadzenie wykresu
regulacyjnego dla kart wielotorowych: Xsr – R, Xsr – S. Opracowanie kart dla kontroli
alternatywnej: „p” oraz „np.”. Projektowanie kart Shewharta wg danych pomiarowych (bez
zadanych wartości normatywnych). Projektowanie kart Shewharta na podstawie dokumentacji
technicznej wyrobu (z zadanymi wartościami normatywnymi). Wyznaczanie wskaźników Cp, Cpk.
Analiza przebiegów regulacyjnych na kartach – poszukiwanie nietypowych konfiguracji punktów
wykresu regulacyjnego (RUN, TREND, MIDDLE THIRD i innych). Ocena prawdopodobieństwa
występowania mylnych sygnałów dla zadanego rodzaju przebiegu. Badania statystyczne jakości
za pomocą planów jednostopniowych AQL oraz LQ. Zastosowanie planów wielostopniowych –
ocena jakości wyrobów; pomiary i kwalifikacja. Ocena czułości krzywych OC (operacyjnocharakterystycznych). Komputerowe wspomaganie SPC. Metody R&R w ocenie przyrządów do
SPC.
Osoba odpowiedzialna za przedmiot:
Dr inż. Marek Kowalski
Jednostka organizacyjna:
Instytut Technologii Maszyn i Automatyzacji
Produkcji (M-6)