Zaproszenie dni otwarte mikolow 2017

DNI OTWARTE MASZYN OPTYCZNYCH
17 lutego 2017 r.
Centrum Pomiarów Wspó³rzêdnoœciowych ZEISS ul. Wyzwolenia 26, Miko³ów
Szanowni Pañstwo! Serdecznie zapraszamy na Dzieñ Otwarty z optycznymi urz¹dzeniami pomiarowymi,
który odbêdzie siê w dniu 17 lutego 2017 roku w Centrum Pomiarów Wspó³rzêdnoœciowych ZEISS.
Uczestnictwo w warsztatach jest bezp³atne. Obowi¹zuje kolejnoœæ zg³oszeñ.
AGENDA
Zg³oszenie uczestnictwa telefonicznie
9:30 - 10:00 - rejestracja goœci - poranna kawa
(tel.22 205 55 27)
10:00 - 10:45 - prezentacja techniczna
10:45 - 11:30 - pomiary 3D na maszynie ZEISS O-INSPECT
lub mailem ([email protected])
11:30 - 12:15 - pomiary na projektorze 2D ZEISS O-SELECT
12:15 - 12:45 - przerwa na lunch
12:45 - 13:30 - pomiary za pomoc¹ skanera ZEISS 3D COMET L3D
13:30 - 14:15 - pomiary za pomoc¹ skanera rêcznego ZEISS T-SCAN
14:15 - 15:00 - mikroskopy ZEISS - badania jakoœciowe
Zaprezentowane zostan¹ nastêpuj¹ce urz¹dzenia:
ZEISS O-INSPECT 322
stykowo-optyczna maszyna pomiarowa
Maszyna O-INSPECT to maszyna posiadaj¹ca 2 g³owice: stykow¹ i optyczn¹.
Wyposa¿ona jest w zintegrowany interfejs kompensacji temperatury, czujnik pomiaru
temperatury czêœci oraz opcjonalnie palet podawczych z interfejsem pomiaru
temperatury. Podstawa maszyny jest zintegrowana z pasywnym uk³adem t³umienia
drgañ. Istnieje mo¿liwoœæ dozbrojenia maszyny w sensor chromatyczny œwiat³a bia³ego
i/lub stó³ obrotowy.
Dane techniczne
Zakres pomiarowy XYZ [mm]:
Dok³adnoœæ pomiaru stykowego [mm]:
Dok³adnoœæ pomiaru optycznego[mm]:
300 x 200 x 200
od 1.6 +L/200 (g³owica VAST XXT)
od 1.6 +L/200 (g³owica Discovery.V12)
ZEISS COMET L3D 2
skaner 3D ze stolikiem obrotowym
Ten niezwykle kompaktowy i lekki system mo¿e byæ ³atwo przenoszony miêdzy
miejscami wykonywania pomiarów bez wiêkszych trudnoœci. Ponadto umo¿liwia
prost¹ kalibracjê na miejscu i zmianê pola pomiarowego poprzez prost¹ wymianê
soczewek. To sprawia, ¿e system jest gotowy do nowych zadañ pomiarowych
w krótkim czasie. Dziêki zminimalizowanej odleg³oœci roboczej (45-500 mm)
system mo¿e pracowaæ w ciasnych pomieszczeniach.
Dane techniczne
RozdzielczoϾ:
3
Mierzona objêtoœæ w mm :
2448 x 2050
Mierzone pole 45:
Mierzone pole 75:
Mierzone pole 100:
Mierzone pole 250:
Mierzone pole 500:
45x38x30
74x62x45
118x98x60
255x211x140
481x404x250
ZEISS T-SCAN
rêczny skaner 3D
T-SCAN jest to skaner rêczny, laserowy. Wystêpuje w 2 konfiguracjach
mierz¹cych objêtoœci pomiarowe do 6,5 m3(z trakerem ZEISS T-TRACK CS+)
oraz do 30 m3(z trakerem ZEISS T-TRACK LV).
Obszary zastosowañ: kontrola jakoœci w obszarze nominalna, kontrola
z³o¿onych konstrukcji spawanych, zbieranie danych 3D do szybkiego
prototypowania, in¿ynieria odwrotna, dokumentacja dzie³ sztuki,
technika medyczna (analiza ruchu, itd.)
ZEISS O-SELECT
cyfrowy projektor pomiarowy
Urz¹dzeniem mo¿na ³atwo i niezawodnie zmierzyæ nieznane czêœci
bez planu pomiarowego. W tym celu system identyfikuje cechy takie
jak np. okrêgi i proste, a operator wybiera w³aœciwe.
O-SELECT u³atwia te¿ pomiary czêœci o znanych parametrach
oraz pomiary seryjne. System automatycznie identyfikuje obiekt
i wczytuje odpowiedni, uprzednio przygotowany program pomiarowy.
Nastêpnie automatycznie wykonuje zorientowanie czêœci,
dobiera w³aœciw¹ p³aszczyznê ogniskowania,
ostroœæ oraz optymalne podœwietlenie.
Dane techniczne
Wymiary: 402 x 510 x 727 mm
(szer. x d³. x wys.)
Zakres pomiarowy:
114 x 91,5 mm
ZEISS Stemi 508
mikroskop stereoskopowy
ZEISS Stemi 508 mikroskop stereoskopowy. Posiada zintegrowane oœwietlenie
z mo¿liwoœci¹ u¿ycia technik mieszanych. Uk³ad ci¹g³ej zmiany powiêkszenia
umo¿liwia wygodn¹ pracê ze zró¿nicowanym powiêkszeniem i polem widzenia.
Wiele mo¿liwoœci konfiguracji pozwala na zastosowanie mikroskopu w wiêkszoœci
aplikacji materia³oznawczych (statywy z wysiêgnikiem, oœwietlacze do specjalnych
technik obserwacji, precyzyjne stoliki œlizgowe, mechaniczne i polaryzacyjne).
Dane techniczne
System optyczny: Greenough
Korekcja: apochromatyczna
Zoom: 8:1
Zakres powiêkszeñ: 1,9x…250x
Odleg³oœæ robocza: 92mm
ZEISS Axio Vert.A1 MAT
mikroskop odwrócony materiałograficzny
Mikroskop ZEISS Axio Vert.A1 to kompaktowy mikroskop odwrócony, do rutynowych
badañ przy u¿yciu klasycznych technik obserwacyjnych, w œwietle odbitym i przechodz¹cym. W po³¹czeniu z kamer¹ cyfrow¹ i oprogramowaniem materia³owym mikroskop
umo¿liwia analizê wielkoœci ziaren, sk³adników fazowych, gruboœci warstw, czy te¿
interaktywne pomiary charakterystycznych struktur.
Dane techniczne:
• 5-pozycyjny rewolwer obiektywowy do jasnego i ciemnego pola
• Oświetlenie microLED lub halogenowe 50W lub 100W
•Optyka korygowana na nieskoñczonoœæ
•Techniki obserwacji: jasne pole, ciemne pole, kontrast DIC lub C-DIC, polaryzacja
ZEISS SmartZoom 5
mikroskop cyfrowy
Smartzoom 5 to w pe³ni apochromatyczny system cyfrowy s³u¿¹cym do inspekcji jakoœciowych i pomiarów iloœciowych. Posiada zmotoryzowany uk³ad zmiany powiêkszenia
oraz zmotoryzowany stolik. System zaopatrzony jest w dwie kamery: przegl¹dow¹
g³ówn¹. Pozyskany obraz kalibrowany jest przez oprogramowanie. Mo¿liwoœci analityczne oprogramowania obejmuj¹ algorytmy EDF (poszerzonej g³êbi ostroœci),
3D (rekonstrukcja 3D), mozaikê (poszerzone pole widzenia), szeregi czasowe,
segmentowanie itp..G³owica optyczna osadzona jest na uchylnym statywie. K¹t
pochylenia g³owicy jest kodowany, co umo¿liwia automatyczne obliczanie punktu
obrotu (zachowywanie pola widzenia bez wzglêdu na ustawienie k¹towe obiektywu).
Dane techniczne
Zoom: 10:1
Zakres powiêkszeñ: do 1011x
Odleg³oœæ robocza: 30mm
Obiektywy:
APO Z 0,5x; 1,6x; 5,0x;