Pobierz streszczenie

STRESZCZENIE
Pierwsza na polskim rynku monografia w całości odnosząca się do problemu testowania pamięci
RAM. W publikacji autorzy skupili się nad jednym z aspektów powyższego problemu, a mianowicie
nad testowaniem funkcjonalnym. Szczególna uwaga poświęcona została testom transparentnym (ang.
transparent memory tests) jak również testom wieloprzebiegowym. Te pierwsze pozwalają testować
pamięć bez konieczności przerywania normalnej pracy urządzenia, podczas gdy te drugie wykazują się
dużą efektywnością w wykrywaniu uszkodzeń złożonych np. uszkodzeń uwarunkowanych
zawartością (ang. Pattern Sensitive Faults). W poszczególnych rozdziałach monografii, przedstawione
zostały znane z literatury modele uszkodzeń, jak również algorytmy pozwalające efektywnie
wykrywać uszkodzenia przez nie definiowane. Obszerną część pracy stanowią oryginalne analizy
i yniki badań dotyczące powyższej tematyki, zaprezentowane wcześniej w licznych publikacjach.
W wypadku testowania transparentnego szczegółowo omówiono autorską technikę wykorzystującą
wysoki stopień symetrii testów krokowych, a mianowicie technikę testów symetrycznych (ang.
symmetric transparent tests). Przedstawiając testowanie wieloprzebiegowe autorzy przeanalizowali
dogłębnie zarówno technikę zmiany adresacji jak też zmiany zawartości początkowej pamięci.
Zaproponowano algorytmy umożliwiające w sposób optymalny dobierać parametry początkowe
poszczególnych iteracji testu.
Monografia adresowana jest do studentów i doktorantów wydziału informatyki, elektroniki,
telekomunikacji i automatyki. Ponadto, algorytmy w niej przedstawione oraz zaproponowane techniki
mogą zostać bezpośrednio wykorzystane przez inżynierów i projektantów systemów cyfrowych.