oferta - Cittru

Laboratorium Skaningowej Mikroskopii Elektronowej
Wydział Biologii i Nauk o Ziemi
Tematyka badań naukowych:
» precyzyjne trawienie jonowe powierzchni;
» układy samoorganizujące się na powierzchniach
półprzewodników typu metal-półprzewodnik;
» precyzyjne nanoszenie przewodzących metalicznych
ścieżek platynowych (ok. 100 nm szerokości);
» modyfikacja powierzchni w wyniku oddziaływania
z wiązką jonową.
» przygotowanie preparatu „lamelki” (cienkiej folii <100 nm)
za pomocą techniki jonowej dla obrazowania TEM.
Potencjalne zastosowanie
prowadzonych badań naukowych:
Stosowane metody i techniki badawcze:
» materiały półprzewodnikowe (krzem, german,
półprzewodniki AIII-BV), materiały nieprzewodzące
(polimery, szkła), materiały przewodzące (stale, stopy),
proszki, materiały biologiczne (komórki, fragmenty
komórek organicznych – liposomy, synaptosomy,
preparaty uwodnione).
» metoda obrazowania SEM;
» metoda obrazowania ESEM;
» fluorescencja EDX i WDS;
» dyfrakcja elektronów EBSD;
» techniki jonowa FIB;
» technika nanoszenia platyny GIS.
Aparatura badawcza dostępna
do działalności komercyjnej:
nowe materiały
» skaningowy mikroskop elektronowy (SEM) FEI Quanta 3D
FEG wyposażony w kolumnę jonową FIB, 2012, FEI USA.
Potencjalne usługi badawcze:
» obrazowanie SEM w wysokiej próżni;
» obrazowanie SEM w trybie środowiskowym;
» obrazowanie SEM z równoczesnym podgrzewaniem
preparatu do 1000OC;
» analiza składu chemicznego preparatu;
» mapowanie pierwiastkowe preparatu;
» identyfikacja fazy krystalicznej preparatu;
Wykonywane zlecenia:
» analiza SEM próbki – dostarczona próbka zostaje
zobrazowana w mikroskopie SEM (tryb SE – elektrony
wtórne oraz BSE – elektrony wstecznie rozproszone),
następnie badany jest skład pierwiastkowy próbki
za pomocą techniki EDX;
» przygotowanie „lamelki” pod TEM – powierzchnia
dostarczonej próbki zostaje zabezpieczona warstwą
platyny za pomocą układu GIS, następnie wycinana jest
cienka folia za pomocą działa jonowego FIB, która zostaje
przymocowana do specjalnego holdera miedzianego.
Tak przymocowana próbka następnie jest pocieniana
za pomocą jonów aż do grubości około 100 nm.
Centrum Innowacji, Transferu Technologii i Rozwoju Uniwersytetu
www.cittru.uj.edu.pl