M41 Laboratorium Wzorców Wielkości Elektrycznych

ZAKŁAD ELEKTRYCZNY
Laboratorium Wzorców Wielkości Elektrycznych
Główne zadania Laboratorium Wzorców Wielkości Elektrycznych
• realizacja i rozpowszechnianie jednostek miar SI napięcia elektrycznego, rezystancji,
pojemności elektrycznej i indukcyjności,
• rozwój i utrzymywanie wzorców tych jednostek,
• prowadzenie prac badawczo-rozwojowych związanych z państwowymi wzorcami
jednostek miar napięcia elektrycznego, rezystancji, pojemności elektrycznej i
indukcyjności,
• opracowywanie nowych precyzyjnych metod pomiarowych,
• wzorcowanie, badanie i ekspertyzy przyrządów pomiarowych.
Wzorzec jednostki miary napięcia elektrycznego
Państwowym wzorcem jednostki miary napięcia elektrycznego jest układ pomiarowy,
składający się z wzorca pierwotnego opartego na zjawisku kwantowym Josephsona oraz
systemu pomiarowego do kontroli charakterystyk i kalibracji.
Wzorcujemy i badamy
• ogniwa Westona,
• wzorce elektroniczne oparte na diodach Zenera,
• kompensatory.
Wzorzec jednostki miary rezystancji
Państwowy wzorzec jednostki miary rezystancji składa się z grupy sześciu oporników
wzorcowych o wartości nominalnej rezystancji 1 om oraz z prądowego komparatora
rezystancji.
Wzorcujemy i badamy
• oporniki wzorcowe,
• dekady oporowe wysokoomowe,
• mostki temperaturowe.
Wzorzec jednostki miary pojemności elektrycznej
Państwowy wzorzec jednostki miary pojemności elektrycznej składa się z grupy czterech
termostatyzowanych kondensatorów wzorcowych z dielektrykiem kwarcowym o wartości
nominalnej pojemności 10 pF i z precyzyjnych mostków transformatorowych.
Wzorzec jednostki miary indukcyjności
Państwowy wzorzec jednostki miary indukcyjności składa się z grupy czterech cewek
indukcyjnych wzorcowych o wartości nominalnej indukcyjności 10 mH oraz precyzyjnych
komparatorów i mostków.
Wzorcujemy i badamy w zakresie częstotliwości do 1 MHz
•
•
•
•
•
kondensatory – wzorce pojemności,
cewki indukcyjne – wzorce indukcyjności,
wzorce impedancji,
rezystory wzorcowe AC,
mostki i mierniki RLC.
Laboratorium działa zgodnie z normą PN EN ISO/IEC 17025
Wykaz usług pomiarowych
Napięcie elektryczne i rezystancja DC
L. p.
Usługa
Wartość
nominalna
Najlepsza możliwość
pomiarowa
V
µV/V
1
1,018
10
0,05
0,05
0,01
Stanowisko prądowego
komparatora rezystancji
µΩ/Ω
14
6
0,5
0,3
0,2
0,2
1.
Wzorcowe źródła napięcia DC pojedyncze wartości
2.
Ω
÷ 10-4
10-4
10-3
0,01
0,1 ÷ 1
1 ÷ 104
10-5
Stanowisko
rezystancyjnego
Stanowisko
mostka
teraomomierza
wysokoomowego
Wzorcowanie rezystorów
wzorcowych
Ω
105
106
107
108
109
1010
1011
1012
1013
1014
µΩ/Ω
0,3
0,3
0,3
0,5
3
110
300
670
-
µΩ/Ω
350
500
700
1000
2400
3000
5800
5800
Pojemność elektryczna, indukcyjność, rezystancja AC
Usługa
wzorcowanie
kondensatorów
wzorcowych o małej
stratności
Usługa
wzorcowanie
kondensatorów
wzorcowych stałych
i regulowanych
z dielektrykiem
(metoda
bezpośredniego
pomiaru)
Zakres
pomiarowy
0.1 pF
1 pF
10 pF
100 pF
1 nF
10 nF
Możliwość pomiarowa
µF/F
1 kHz
1.59 kHz
40
5
0.5
0.5
2
2
5
5
10
-
Zakres
pomiarowy
0.001 pF
0.01 pF
0.1 pF
1 pF
10 pF ÷ 1 nF
10 nF
100 nF
1 µF
10 µF ÷ 25 µF
wzorcowanie
kondensatorów
wzorcowych
regulowanych z
dielektrykiem (metoda
25 µF ÷ 100 mF
bezpośredniego
pomiaru)
Możliwość pomiarowa µF/F
20 Hz
950
950
950
100 Hz
2000
350
80
60
120
200
350
450
1 kHz
10000
1000
100
60
70
30
50
50
400
20 Hz
100 Hz ÷ 120
Hz
1 kHz
950 ÷
100000
500 ÷ 130000
600 ÷
5000
1.59 kHz
10000
1000
100
60
60
30
50
-
10 kHz
3000
300
100
100
-
100 kHz
2000
-
1 MHz
2000
-
-
-
Usługa
Zakres
pomiarowy
współczynnik
stratności
Możliwość
pomiarowa
1 kHz
1E-06 ÷ 1E-03
1E-06 ÷ 2E-04
Usługa
wzorcowanie cewek
indukcyjnych
wzorcowych stałych i
regulowanych
(metoda
bezpośredniego
pomiaru)
wzorcowanie cewek
indukcyjnych
wzorcowych stałych
(metoda podstawienia
lub LCR komparator)
Usługa
wzorcowanie
rezystorów stałych i
regulowanych
(metoda
bezpośredniego
pomiaru)
wzorcowanie
rezystorów stałych
Zakres
pomiarowy
Możliwość pomiarowa µH/H
1 kHz
1 µH
50000
2 µH
25000
3 µH
20000
5 µH
15000
10 µH
5000
20 µH
2500
30 µH
2000
50 µH ÷ 100 µH
400
200 ÷ 300 µH 700 ÷ 1000
500 µH
600
100 kHz
2000
2000
2000
2000
2000
2000
2000
2000
-
1 MHz
5000
5000
5000
5000
-
1 kHz
200
300
200
10 kHz
1000
700
500
0.1 MHz
2000
-
300
500
200
300
500
-
-
1 H ÷ 10 H
100 Hz
800 ÷ 900
200 Hz
550 ÷ 700
400 Hz
400 ÷ 500
1 mH
10 mH
100 mH
1H
1 kHz
100
40
40
100
1 mH
2 mH ÷ 5 mH
10 mH
10 mH ÷ 100
mH
100 mH
100 mH ÷ 1 H
Zakres
pomiarowy
0.1 Ω
0.2 Ω
0.5 Ω
1Ω
2Ω
5Ω
6.25 Ω ÷ 410
kΩ
500 kΩ
1000 kΩ
Możliwość
pomiarowa µΩ/Ω
1 kHz
6000
3200
1400
800
450
250
200
250
400
1 kHz
1 kHz
200 ÷ 300
(metoda
podstawienia)
0.1 Ω
1 Ω ÷ 10000 Ω
1000 kΩ
100
10
100
Zakres
pomiarowy
Możliwość
pomiarowa
R: 0.1 Ω ÷ 1 MΩ
10 µΩ/Ω ÷ 10 mΩ/Ω
wzorcowanie
L: 1 µH ÷ 10 H
mostków i mierników C: 0.01 pF ÷ 100
RLC
µF
Q: 1 ÷ 500
50 µH/H ÷ 50 mH/H
Usługa
10 µF/F ÷ 1 mF/F
0.1 % ÷ 10 %