Generuj PDF tej strony

Nazwa modułu:
Techniki badawcze warstw wierzchnich i powłok
Rok akademicki:
Wydział:
Kierunek:
2015/2016
Kod: MIC-1-606-s
Punkty ECTS:
6
Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
Inżynieria Ciepła
Poziom studiów:
Specjalność:
Studia I stopnia
Język wykładowy: Polski
Profil kształcenia:
-
Forma i tryb studiów:
Ogólnoakademicki (A)
Semestr: 6
Strona www:
Osoba odpowiedzialna:
dr hab. inż. Kopia Agnieszka ([email protected])
Osoby prowadzące: dr inż. KĄC Sławomir ([email protected])
Kalemba Izabela ([email protected])
dr inż. Cieniek Łukasz ([email protected])
dr hab. inż. Kopia Agnieszka ([email protected])
Radziszewska Agnieszka ([email protected])
dr hab. inż. Kowalski Kazimierz ([email protected])
Opis efektów kształcenia dla modułu zajęć
Kod EKM
Student, który zaliczył moduł zajęć
wie/umie/potrafi
Powiązania z EKK
Sposób weryfikacji
efektów kształcenia
(forma zaliczeń)
M_W001
zna podstawowe operacje i procesy
realizowane w praktyce laboratoryjnej
IC1A_W04
Kolokwium,
Sprawozdanie
M_W002
Zna metodologię i instrumentarium
podstawowych analitycznych metod
chemicznych i spektralnych stosowanych w
badaniach materiałów
IC1A_W02, IC1A_W03,
IC1A_W04, IC1A_W18
Kolokwium,
Sprawozdanie
M_U001
Potrafi ocenić przydatność rutynowych metod
i narzędzi wykorzystywanych do badania
materiałów oraz wybrać i zastosować
właściwą metodę i narzędzia
IC1A_U02, IC1A_U03,
IC1A_U08, IC1A_U12
Kolokwium,
Sprawozdanie
M_U002
Posiada umiejętność prowadzenia badań
umożliwiających charakterystykę materiałów
IC1A_U02, IC1A_U03,
IC1A_U08, IC1A_U12
Kolokwium,
Sprawozdanie
Wiedza
Umiejętności
Kompetencje społeczne
1/4
Karta modułu - Techniki badawcze warstw wierzchnich i powłok
M_K001
ma świadomość odpowiedzialności za
wspólnie realizowane zadania, związaną z
pracą zespołowąma świadomość
odpowiedzialności za wspólnie realizowane
zadania, związaną z pracą zespołową
IC1A_K04
Aktywność na
zajęciach,
Sprawozdanie
Matryca efektów kształcenia w odniesieniu do form zajęć
Konwersatori
um
Zajęcia
seminaryjne
Zajęcia
praktyczne
Zajęcia
terenowe
Zajęcia
warsztatowe
zna podstawowe operacje i
procesy realizowane w
praktyce laboratoryjnej
+
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
M_W002
Zna metodologię i
instrumentarium
podstawowych analitycznych
metod chemicznych i
spektralnych stosowanych w
badaniach materiałów
+
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
M_U001
Potrafi ocenić przydatność
rutynowych metod i narzędzi
wykorzystywanych do
badania materiałów oraz
wybrać i zastosować właściwą
metodę i narzędzia
-
-
+
-
-
-
-
-
-
-
-
M_U002
Posiada umiejętność
prowadzenia badań
umożliwiających
charakterystykę materiałów
-
-
+
-
-
-
-
-
-
-
-
+
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
E-learning
Ćwiczenia
projektowe
M_W001
Inne
Ćwiczenia
laboratoryjne
Forma zajęć
Ćwiczenia
audytoryjne
Student, który zaliczył moduł
zajęć wie/umie/potrafi
Wykład
Kod EKM
Wiedza
Umiejętności
Kompetencje społeczne
M_K001
ma świadomość
odpowiedzialności za
wspólnie realizowane
zadania, związaną z pracą
zespołowąma świadomość
odpowiedzialności za
wspólnie realizowane
zadania, związaną z pracą
zespołową
Treść modułu zajęć (program wykładów i pozostałych zajęć)
Wykład
Wykład
2/4
Karta modułu - Techniki badawcze warstw wierzchnich i powłok
Na wykładzie omówione zostaną techniki badawcze stosowane do analizy warstw
wierzchnich i powłok. Pod tym kątem omówione zostaną techniki badawcze w
następujących grupach: Mikroskopowe metody badania warstw wierzchnich oraz
powłok, Spektroskopowe metody badania warstw wierzchnich oraz powłok, Badania
topografii powierzchni i grubości warstw i powłok, Metody badań własności
mechanicznych i tribologicznych warstw wierzchnich i powłok, Defektoskopia warstw
wierzchnich i powłok :
1. Mikroskopowe metody badania warstw wierzchnich oraz powłok
Mikroskopia świetlna i skaningowa mikroskopia elektronowa SEM. Grupa metod
mikroskopowych z użyciem sondy skanującej SPM: mikroskop sił atomowych AFM,
mikroskop sił poprzecznych LFM, mikroskop z modulacją siły FMM, skaningowy
mikroskop tunelowy STM, mikroskop sił magnetycznych MFM.
2. Spektroskopowe metody badania warstw wierzchnich oraz powłok
Analiza rentgenowska w mikroobszarze EPMA (EDS, WDS), rentgenowska
spektroskopia fotoelektronów XPS, spektroskopia elektronów Augera AES,
spektrometria mas jonów wtórnych SIMS. Zastosowanie dyfrakcji rentgenowskiej XRD
do badania składu fazowego i naprężeń w warstwach wierzchnich i powłokach.
3. Badania topografii powierzchni i grubości warstw i powłok
Profilometria optyczna (świetlna) i mechaniczna (igłowa) w badaniach topografii.
Zastosowanie elipsometrii w badaniach grubości powłok.
4. Metody badań własności mechanicznych i tribologicznych warstw wierzchnich i
powłok
Badania mikrotwardości i twardości. Określanie odporności na ścieranie i adhezji
powłok.
5. Defektoskopia warstw wierzchnich i powłok
Nieniszczące metody badania zdefektowania warstw wierzchnich i powłok: wizualne,
penetracyjne, prądów wirowych i magnetyczne.
Ćwiczenia laboratoryjne
Ćwiczenia laboratoryjne
1.Mikroskopia skaningowa w badaniach warstw i powłok
2. Badania adhezji i twardości metodą Knoopa warstw i powłok
3. Badania odporności korozyjnej warstw i powłok
4. Mikroanaliza rentgenowska cienkich warstw
5. Metody dyfrakcji rentgenowskiej w badaniach warstw i powłok
6. Określanie topografii powierzchni przy użyciu mikroskopii sił atomowych AFM i
profilometru optycznego
7. Badanie warstw wierzchnich metodą spektrometrii mas jonów wtórnych
Sposób obliczania oceny końcowej
Ocena końcowa jest średnią oceną z ćwiczeń laboratoryjnych i z kolokwium zaliczeniowego.
Wymagania wstępne i dodatkowe
Zgodnie z Regulaminem Studiów AGH podstawowym terminem uzyskania zaliczenia jest ostatni dzień
zajęć w danym semestrze. Termin zaliczenia poprawkowego (tryb i warunki ustala prowadzący moduł na
zajęciach początkowych) nie może być późniejszy niż ostatni termin egzaminu w sesji poprawkowej (dla
przedmiotów kończących się egzaminem) lub ostatni dzień trwania semestru (dla przedmiotów
niekończących się egzaminem).
Zalecana literatura i pomoce naukowe
1.Burakowski T., Wierzchoń T.: Inżynieria powierzchni, WNT, Warszawa 1995.
3/4
Karta modułu - Techniki badawcze warstw wierzchnich i powłok
2.J. Pacyna: Metaloznawstwo-Wybrane zagadnienia. Uczelniane Wyd. Naukowo-Dydaktyczne, Kraków
2005
3.K. Kowalski: Zastosowanie metod spektroskopowych XPS i SIMS w badaniach procesów transportu w
warstwie wierzchniej materiałów” Wydawnictwa AGH, 2009
Publikacje naukowe osób prowadzących zajęcia związane z tematyką modułu
http://www.bpp.agh.edu.pl/
Informacje dodatkowe
Brak
Nakład pracy studenta (bilans punktów ECTS)
Forma aktywności studenta
Obciążenie
studenta
Udział w wykładach
28 godz
Udział w ćwiczeniach laboratoryjnych
28 godz
Samodzielne studiowanie tematyki zajęć
25 godz
Przygotowanie do zajęć
26 godz
Przygotowanie sprawozdania, pracy pisemnej, prezentacji, itp.
28 godz
Dodatkowe godziny kontaktowe z nauczycielem
15 godz
Sumaryczne obciążenie pracą studenta
150 godz
Punkty ECTS za moduł
6 ECTS
4/4