Podstawowe układy pracy tranzystora MOS
Transkrypt
Podstawowe układy pracy tranzystora MOS
L P A B O R A T O R I U M O D S T A W E L E K T R O N I K I M I E T R O L O G I I 4B Podstawowe układy pracy tranzystora MOS Ćwiczenie opracował Bogdan Pankiewicz d) zmierzyć dolną i górną 3-decybelową częstotliwość graniczną ( f 3dBL , f 3dBH ). Pomiar należy wykonać w 1. Wstęp Ćwiczenie umożliwia pomiar i porównanie właściwości trzech podstawowych konfiguracji pracy tranzystora MOS. Są to kolejno układ wspólnego źródła (CS), wspólnej bramki (CG) oraz wspólnego drenu (CD). W ramach ćwiczenia wykonuje się pomiary: wzmocnienia w środku pasma przepustowego, rezystancji wejściowej oraz wyjściowej, dolnej oraz górnej 3dBowej częstotliwości granicznej a także amplitudowej charakterystyki częstotliwościowej poza pasmem przepustowym wzmacniacza. Poszczególne konfiguracje wybiera się przy pomocy przełącznika obrotowego, który poprzez przekaźniki, przełącza pomiędzy trzema układami CS, CG i CD. Czwarta pozycja przełącznika wykorzystana jest do bezpośredniego zwarcia gniazda sygnału wejściowego z gniazdem wyjściowym. Umożliwia to pomiar napięcia wejściowego i wyjściowego przy pomocy jednego i tego samego przyrządu. Poszczególne układy wykonano tak, aby zapewniały niemalże identyczne warunki zasilania tranzystorów. Różnice pomiędzy parametrami wzmacniaczy wynikają więc głównie z różnych konfiguracji pracy elementu aktywnego, co umożliwia jakościowe porównanie układów. Dla uniezależnienia się od parametrów przyrządów pomiarowych oraz jakości połączeń, w każdym ze wzmacniaczy wbudowano bufor o wzmocnieniu jednostkowym. Przed przystąpieniem do ćwiczenia należy zapoznać się z teorią dotyczącą pracy tranzystora MOS jako wzmacniacza liniowego (zamieszczona jest ona w niniejszym opracowaniu). Prowadzący ma obowiązek sprawdzić przygotowanie do ćwiczenia. Dla każdego z układów CS, CG i CD należy: a) zmierzyć wzmocnienie dla środka pasma vo/vs (warunki pomiaru: sygnał wejściowy o częstotliwości 5kHz i napięciu ok. 30mV dla CS oraz CG, dla układu CD ok. 300mV). b) zmierzyć rezystancję wejściową (sygnał wejściowy jw., opis w części teoretycznej). Aby zmierzyć rezystancję wejściową należy (dla ustalonej amplitudy napięcia na wejściu): - zmierzyć napięcie na wyjściu układu vo; - rozewrzeć rezystor RSZER (poprzez naciśnięcie i przytrzymanie przycisku RIN ) i zmierzyć napięcie wyjściowe vo'; - wyznaczyć rezystancję wejściową ze wzoru: v o' v o − v o' ⋅ R SZER − RGEN (1) c) zmierzyć rezystancję wyjściową (sygnał wejściowy jak w pkt. a, opis w części teoretycznej). Aby zmierzyć rezystancję wyjściową należy (dla ustalonej amplitudy napięcia na wejściu): - zmierzyć napięcie na wyjściu układu vo; - zewrzeć rezystor RRÓW (poprzez naciśnięcie i przytrzymanie przycisku ROUT ) i zmierzyć napięcie wyjściowe vo'; - wyznaczyć rezystancję wyjściową ze wzoru: ROUT = 300mV / 2 , uzyskana wartość jest odpowiednią częstotliwością graniczną. e) zmierzyć amplitudową charakterystykę częstotliwościową w zakresie od 30Hz do f 3dBL oraz od f 3dBH do 2MHz w rastrze częstotliwości 1, 2, 4, 7, 10 (tj. np. dla 10Hz, 20Hz, 40Hz, 70Hz, 100Hz, ... ). Zmierzoną charakterystykę należy nanieść na wykres. Oś pionowa powinna być wzmocnieniem wyrażonym w mierze logarytmicznej tj. 20 log 10 VO V IN , oś pozioma (częstotliwość sygnału pomiarowego) powinna być logarytmiczna. Przykłady tabel pomiarowych CS CG ⎛ v ⎞ R L RBUF ⎜ 1 − 0' ⎟ ⎝ v0 ⎠ R L RBUF v0 − ' v0 R L RBUF RRÓW (2) 30 40 ... f 3dBL f 3dBH ... 1M 2M V0/VIN 3. Opracowanie wyników Dla układów CS, CG oraz CD należy obliczyć teoretycznie: • punkty pracy tranzystorów, • wzmocnienie małosygnałowe vo/vin, • częstotliwości 3-decybelowe górne i dolne, • rezystancję wejściową i wyjściową. Wyniki obliczeń należy umieścić tak, aby można było łatwo porównać je z pomiarami (np. we wspólnej tabeli). Dla każdego z układów narysować zmierzone charakterystyki częstotliwościowe modułu wzmocnienia a następnie nanieść na nie wyniki obliczeń (tj. wzmocnienie w środku pasma i częstotliwości graniczne górną i dolną). Zamieścić własne wnioski i spostrzeżenia. Porównać układy pomiędzy sobą, a także skomentować zgodność obliczeń z pomiarami. 4. Teoria (dla zainteresowanych) W ćwiczeniu wykonane są trzy wzmacniacze oznaczone konfiguracjami pracy tranzystorów tj. CS, CG oraz CD. Wszystkie układy posiadają wbudowane bufory wejściowy i wyjściowy. Bufory te są identyczne a ich parametry przedstawia poniższa tabela: Parametr Wzmocnienie Rezystancja wejściowa R BUF Rezystancja wyjściowa RGEN 2009.04.22 CD Vo/Vin [V/V] Rin [kΩ] Rout [kΩ] f3dBL [Hz] f3dBH [kHz] f [Hz] 2. Pomiary R IN = następujący sposób: - ustawić częstotliwość generatora na 5kHz, - ustalić wartość napięcia wejściowego w ten sposób, aby na wyjściu badanego układu uzyskać 300mV, - zmniejszać (dla pomiaru częstotliwości granicznej dolnej) lub zwiększać (dla pomiaru częstotliwości granicznej górnej) częstotliwość sygnału wejściowego aż do uzyskania napięcia wyjściowego równego Jednostki Wartość V/V 1 1 MΩ Ω 50 4B-2 pF Pojemność wejściowa C BUF VGS = VG − I D R S ; natomiast prąd 3 można wyrazić wzorem: drenu można wyznaczyć z układu równań: Częstotliwość graniczna MHz 4 Małosygnałowy model zastępczy przedstawiony jest na rysunku 1, tranzystora MOS ⎪⎧VGS = VG − I D R S ⎨ 2 ⎪⎩ I D = K N (VGS − VT ) (4) Rozwiązaniami powyższego układu równań są dwa różne prądy, z których ten prawidłowy spełnia nierówność: VGS = VG − I D R S > VT . Znając wartość prądu drenu można wyznaczyć napięcia na źródle i drenie tranzystora MOS jako: VS = I D R S oraz V D = V DD − I D R D . W przypadku, gdy VDS ≥ VGS − VT spełniona jest nierówność: , tranzystor pracuje w zakresie nasycenia, a jego transkonduktancja Rys. 1. Małosygnałowy schemat zastępczy tranzystora MOS. gdzie: gm = 2 K N I D , I D = K N (VGS − VT )2 , rO = V A I D , VT - napięcie progowe, K N = 0,5k n W L parametr transkonduktacyjny tranzystora MOS, W, L - wymiary geometryczne obszaru kanału elementu, k n - ruchliwość nośników w kanale. Parametry tranzystorów wykorzystanych w ćwiczeniu podane są w tabeli na końcu opracowania. Ze względu na dużą wartość napięcia V A tych elementów, rezystancja wyjściowa tranzystorów MOS ćwiczeniu została pominięta. w wynosi: g m = 2 K N I D . 4.1.2 Analiza małosygnałowa: Środek pasma: Zastępczy schemat małosygnałowy w zakresie średnich częstotliwości (w paśmie przepustowym) jest tworzony przy założeniu, że pojemności sprzęgające i bocznikujące stanowią zwarcie dla sygnałów zmiennych, natomiast pojemności pasożytnicze tranzystora są rozwarciem. niniejszym 4.1 Układ w konfiguracji wspólnego źródła (CS): Rys. 4. Zastępczy schemat małosygnałowy wzmacniacza w układzie CS dla zakresu częstotliwości średnich. R IN = RG1 RG 2 (5) ROUT = R D (6) ( v 0 = − g m v gs R D R L R BUF v gs = Rys. 2. Schemat wzmacniacza z tranzystorem MOS w konfiguracji wspólnego źródła (CS). ) (7) R IN v in R IN + RGEN (8) ( v0 R IN g m R D R L R BUF =− v in R IN + RGEN ) (9) 4.1.1 Punkt pracy Ze względu na brak przepływu prądu przez bramkę tranzystora MOS napięcie stałe na jej wyprowadzeniu można obliczyć korzystając z zależności na dzielnik napięciowy: VG = V DD RG 2 R G1 + R G 2 (3) Wysokie częstotliwości: Częstotliwość graniczna górna wyznaczona jest w oparciu o stałe czasowe, powiązane z odpowiednimi pojemnościami pasożytniczymi tranzystora MOS. Korzystając z twierdzenia Millera, pojemność CGD można zamienić (patrz rys. 5) na pojemności CM1 i CM2. K= ( vo = − g m R D R L R BUF v gs ) (10) C M 1 = C gd (1 − K ) (11) 1⎞ ⎛ C M 2 = C gd ⎜ 1 − ⎟ ⎝ K⎠ (12) Rys. 5. Zastępczy schemat małosygnałowy dla wyznaczenia częstotliwości granicznej górnej. Rys. 3. Schemat do wyznaczenia punktu pracy tranzystora. Napięcie na wyprowadzeniu źródła jest równe spadkowi napięcia na rezystorze R S , stąd napięcie bramka - źródło Po zamianie CGD , w układzie są dwie stałe czasowe o następujących wartościach: τ H1 = ( C M 1 + CGS ) ⋅ ( Rin RGEN ) (13) ( τ H 2 = ( C M 2 + C BUF + C DS ) ⋅ RD RL RBUF ) (14) 4B-3 Przybliżona częstotliwość graniczna górna może być określona wzorem: f H 3dB ≈ 1 2π ⋅ (τ H 1 + τ H 2 ) (15) Niskie częstotliwości: Częstotliwość graniczna dolna wyznaczona jest w oparciu o stałe czasowe, powiązane z odpowiednimi pojemnościami sprzęgającymi lub bocznikującymi (licząc stałe czasowe dla każdej z pojemności, pozostałe należy traktować jako zwarcie). Pojemności pasożytnicze tranzystora MOS traktuje się jako rozwarcia. Rys. 8 Zastępczy schemat małosygnałowy wzmacniacza w układzie CG z rys. 7 dla zakresu częstotliwości średnich. R IN = R S 1 gm ROUT = R D (20) ( v 0 = − g m v gs R D R L R BUF v gs = − Rys. 6. Zastępczy schemat małosygnałowy wzmacniacza z rys. 2 dla częstotliwości niskich. Wykorzystując schemat zastępczy z rys. 6 poszczególne stałe czasowe związane z kolejnymi pojemnościami można wyrazić nastąpująco: τ L1 = C G ( RGEN + RG1 RG 2 ) ⎛ τ L 2 = C S ⎜⎜ R S ⎝ 1 ⎞ ⎟ g m ⎟⎠ τ L 3 = C D ( R D + R L R BUF ) (16) (17) (18) Przybliżona częstotliwość graniczna dolna może być określona wzorem: f L 3dB 1 ⎛ 1 1 1 ⎞ ≈ + + ⎜ ⎟ 2π ⎝ τ L1 τ L 2 τ L 3 ⎠ 4.1.1 Punkt pracy Punkt pracy liczy się identycznie jak dla układu w konfiguracji CS. 4.2.2 Analiza małosygnałowa: Środek pasma: Zastępczy schemat małosygnałowy w zakresie średnich częstotliwości (w paśmie przepustowym) jest tworzony przy założeniu, że pojemności sprzęgające i bocznikujące stanowią zwarcie dla sygnałów zmiennych, natomiast pojemności pasożytnicze tranzystora są rozwarciem. (22) R IN v R IN + RGEN in ( (23) ) (24) Wysokie częstotliwości: Częstotliwość graniczna górna wyznaczona jest w oparciu o stałe czasowe powiązane z odpowiednimi pojemnościami pasożytniczymi tranzystora MOS. Stałe te liczy się dla danej pojemności pasożytniczej przy założeniu, że pozostałe pojemności pasożytnicze stanowią rozwarcie. Z rys. 9 wynika, że poszczególne stałe czasowe są równe: ⎛ τ H1 = CGS ⎜⎜ RGEN R S ⎝ 1 ⎞⎟ g m ⎟⎠ ( τ H 2 = (C GD + C BUF ) ⋅ R D R L R BUF τ H3 Rys. 7. Schemat wzmacniacza z tranzystorem MOS w konfiguracji wspólnej bramki (CG). ) v0 R IN g m R D R L R BUF = v in R IN + RGEN (19) 4.2 Układ w konfiguracji wspólnej bramki (CG): (21) (25) ) ⎛ ⎞ ⎜ ⎟ R R R g − 1 D L BUF m ⎟ = C DS ⎜ R D R L R BUF + ⎜ ⎟ 1 − gm ⎟ ⎜ RGEN RS ⎝ ⎠ (26) (27) Rys. 9. Zastępczy schemat małosygnałowy układu CG dla wyznaczenia częstotliwości granicznej górnej. Przybliżona częstotliwość graniczna górna może być określona wzorem: f H 3dB ≈ 1 2π ⋅ (τ H 1 + τ H 2 + τ H 3 ) (28) Niskie częstotliwości: Częstotliwość graniczna dolna wyznaczona jest w oparciu o stałe czasowe powiązane z odpowiednimi pojemnościami sprzęgającymi lub bocznikującymi (licząc stałe czasowe dla każdej z pojemności, pozostałe należy traktować jako zwarcie). Pojemności pasożytnicze tranzystora MOS traktuje się jako rozwarcia. Stała czasowa związana z pojemnością CG nie występuje ze względu na nie przechodzenie sygnału z wyprowadzenia źródła na wyprowadzenie bramki (ze względu na nieskończenie wielką rezystancję bramki). 4B-4 Rys. 12. Zastępczy schemat małosygnałowy wzmacniacza w układzie CD z rys. 11 dla zakresu częstotliwości średnich. Rys. 10. Zastępczy schemat małosygnałowy wzmacniacza z rys. 7 dla częstotliwości niskich. Wykorzystując schemat zastępczy z rys.10, poszczególne stałe czasowe są równe: ⎛ 1 ⎞ ⎟ g m ⎟⎠ (29) τ L 2 = C D ( R D + R L R BUF ) (30) τ L1 = C S ⎜⎜ RGEN + R S ⎝ Przybliżona częstotliwość graniczna dolna może być określona wzorem: f L 3dB 1 ⎛ 1 1 ⎞ ≈ + ⎜ ⎟ 2π ⎝ τ L1 τ L 2 ⎠ (31) 4.3 Układ w konfiguracji wspólnego drenu (CD): Na podstawie schematu przedstawionego na rys. 12 poszczególne rezystancje, napięcia oraz wzmocnienie można określić następująco: R IN = RG1 RG 2 (32) ROUT = R S ( 1 gm (33) v 0 = g m v gs R S R L R BUF vg = ) (34) R IN v R IN + RGEN in (35) ( v gs = v g − v s = v g − v 0 = v g − g m v gs R S R L R BUF v gs = v g ( 1 1 + g m R S R L R BUF ( ) Rys. 11. Schemat wzmacniacza z tranzystorem MOS w konfiguracji wspólnego drenu (CG). 4.3.1 Punkt pracy Punkt pracy liczy się jak dla układu w konfiguracji CS. Jedyną różnicą jest to, że napięcie stałe na wyprowadzeniu drenu tranzystora jest równe napięciu zasilania. 4.3.2 Analiza małosygnałowa: Środek pasma: Zastępczy schemat małosygnałowy z zakresie średnich częstotliwości (w paśmie przepustowym) jest tworzony przy założeniu, że pojemności sprzęgające i bocznikujące stanowią zwarcie dla sygnałów zmiennych, natomiast pojemności pasożytnicze tranzystora są rozwarciem. Dodatkowa niewielka pojemność C 0 (35pF) ma wpływ na wysokie częstotliwości, (36) (37) ) g m R S R L R BUF v0 R IN = v in R IN + RGEN 1 + g m R S R L R BUF ( ) ) (38) Wysokie częstotliwości: Częstotliwość graniczna górna wyznaczona jest w oparciu o stałe czasowe powiązane z odpowiednimi pojemnościami pasożytniczymi tranzystora MOS. Stałe te liczy się dla danej pojemności pasożytniczej przy założeniu, że pozostałe pojemności pasożytnicze stanowią rozwarcie. Korzystając z rys. 13 poszczególne stałe czasowe są równe: ( τ H1 = CGD RGEN RG1 RG 2 ) (39) ⎛ 1 ⎞ R S R L R BUF ⎟ g ⎝ m ⎠ τ H 2 = (C DS + C0 + C BUF ) ⋅ ⎜ ⎛R ⎞ ⎜ GEN RG1 RG 2 + R S R L R BUF ⎟ ⎟ 1 + g m R S R L R BUF ⎜ ⎟ ⎝ ⎠ τ H 3 = CGS ⎜ f H 3dB ≈ 1 2π ⋅ (τ H 1 + τ H 2 + τ H 3 ) (40) (41) (42) więc w środku pasma można ją traktować jako rozwarcie. Rys. 13. Zastępczy schemat małosygnałowy układu CD z rys. 11 dla wyznaczenia częstotliwości granicznej górnej. Niskie częstotliwości: Częstotliwość graniczna dolna wyznaczona jest w oparciu o stałe czasowe powiązane z odpowiednimi pojemnościami 4B-5 sprzęgającymi lub bocznikującymi (licząc stałe czasowe dla każdej z pojemności, pozostałe należy traktować jako zwarcie). Pojemności pasożytnicze tranzystora oraz niewielką pojemność C 0 traktuje się jako rozwarcia. 4.5 Pomiar rezystancji wyjściowej wzmacniaczy Rezystancję wyjściową mierzy się wykorzystując dodatkowy rezystor R RÓW włączany równolegle z rezystancją obciążenia wzmacniacza R L . Podczas normalnej pracy rezystor R RÓW jest odłączony. W czasie pomiaru rezystancji dołącza się go przełącznikiem umieszczonym na płycie czołowej i oznaczonym ROUT . Rys. 14. Zastępczy schemat małosygnałowy wzmacniacza z rys. 11 dla częstotliwości niskich. Według rys. 14 poszczególne stałe czasowe odpowiadające za częstotliwość graniczną dolną są równe: τ L1 = CG ( RGEN + RG1 RG 2 ) (43) ⎛ 1 ⎞ R S + R L R BUF ⎟ ⎝ gm ⎠ τ L2 = CS ⎜ (44) f L 3dB Oznaczając odpowiednio napięcia wyjściowe przy odłączonym i Częstotliwość trzydecybelową dolną można wyznaczyć za pomocą wzoru przybliżonego: 1 ⎛ 1 1 ⎞ ≈ + ⎜ ⎟ 2π ⎝ τ L1 τ L 2 ⎠ Rys. 16. Metoda pomiaru rezystancji wyjściowej wzmacniacza. dołączonym (45) vo = K ⋅ v o' = K ⋅ Rezystancję wejściową mierzy się wykorzystując dodatkowy RSZER włączony szeregowo z rezystancją rezystor vo v o' = wewnętrzną generatora RGEN . Podczas normalnej pracy jest on zwierany przez przełącznik umieszczony na płycie Po naciśnięciu przycisku oznaczonego R RÓW jako v0 oraz v 0' , otrzymujemy: 4.4 Pomiar rezystancji wejściowej wzmacniaczy czołowej. rezystorze R IN następuje rozwarcie, powodujące dołączenie rezystora R SZER , co prowadzi do zmniejszenia wzmocnienia. ROUT RL ⋅v R L + ROUT in (50) R L R RÓW R L R RÓW + ROUT R L R RÓW + ROUT R L R RÓW ⋅ v in (51) RL R L + ROUT (52) ⎛ v ⎞ R L ⎜⎜ 1 − 0' ⎟⎟ ⎝ v0 ⎠ = v0 RL − v 0' R L R RÓW (53) 4.6 Dane elementów i parametry tranzystorów w poszczególnych konfiguracjach układowych. Rys. 15. Metoda pomiaru rezystancji wejściowej wzmacniacza. Oznaczając odpowiednio napięcia wyjściowe przy zwartym i ' rozwartym rezystorze R SZER jako v 0 oraz v 0 , otrzymujemy: R IN ⋅v R IN + RGEN in R IN v o' = K ⋅ ⋅ v in R IN + RGEN + R SZER vo = K ⋅ vo v o' = R IN + RGEN + R SZER R IN + RGEN R IN = v o' v o − v o' ⋅ R SZER − RGEN (46) (47) (48) (49) Parametr KN VT CDS CGS CGD RGEN RBUF CBUF C0 RSZER RRÓW CG CS CD RG1 RG2 RS RD RL VDD Jednostki μA/V2 V pF pF pF Ω MΩ pF pF kΩ kΩ nF μF nF kΩ kΩ kΩ kΩ kΩ V CS 312,32 1,272 12,34 9,33 1,7 50 1 3 nie ma 300,8 21,8 9,15 0,98 100 752,8 479 21,97 46,68 46,8 12 CG 323,46 1,264 12,36 9,74 1,84 50 1 3 nie ma 2,87 20,49 9,20 0,98 100 755,5 481,3 22,26 46,83 46,78 12 CD 309,15 1,252 11,42 8,99 1,93 50 1 3 35 306,5 3,142 9,17 1,001 100 754,5 480,6 22,31 nie ma 13,35 12 4B-6 Rys. 17. Widok płyty czołowej ćwiczenia. Literatura: [1] Z. J. Staszak, J. Glinianowicz, D. Czarnecki, „Materiały pomocnicze do przedmiotu Układy elektroniczne liniowe”. [2] A. Guziński, „Liniowe elektroniczne układy analogowe”, WNT, Warszawa 1992. [3] A. Filipkowski, „Układy elektroniczne analogowe i cyfrowe”, WNT, Warszawa 1978.