´09 75 LAT MITUTOYO... Promocja ...to 75 lat doświadczeń
Transkrypt
´09 75 LAT MITUTOYO... Promocja ...to 75 lat doświadczeń
75 LAT MITUTOYO... ...to 75 lat doświadczeń we wspieraniu i rozwoju jakości Promocja LUTY - GRUDZIEŃ ´09 Współrzędnościowe maszyny pomiarowe Manualna maszyna pomiarowa Crysta Plus M443 Zakres pomiarowy: 400 x 400 x 300 mm Niepewność pomiarowa: E=(3,0+0,4L/100) µm W zestawie: - indeksowana głowica uchylno - obrotowa MH20i ze zintegrowaną sondą TP20 - zestaw standardowych końcówek pomiarowych - 15 elementów - kula kalibracyjna 20 mm - zestaw do mocowania detali eco-fix - 66 elementów, w tym płyta bazowa 250x250 mm - przyjazne oprogramowanie MCOSMOS-1 GEOPAK - komputer PC z monitorem LCD 19`` i drukarką - pakiet usług: - instalacja i kalibracja - szkolenie z obsługi maszyny i oprogramowania MCOSMOS - 3 dni dla 1 osoby w siedzibie Mitutoyo Polska we Wrocławiu Numer art. 196-683 Opis Crysta Plus M443 Cena specjalna 16.990 Euro netto Uwaga: * zestaw nie zawiera biurka Manualna maszyna pomiarowa Crysta Plus M544 / Crysta Plus M574 Zakres pomiarowy - Crysta Plus M544: 500 x 400 x 400 mm - Crysta Plus M574: 500 x 700 x 400 mm Niepewność pomiarowa: E=(3,5+0,45L/100) µm W zestawie: - indeksowana głowica uchylno - obrotowa MH20i ze zintegrowaną sondą TP20 - zestaw standardowych końcówek pomiarowych - 15 elementów - kula kalibracyjna 20 mm - zestaw do mocowania detali eco-fix - 66 elementów, w tym płyta bazowa 250x250 mm - przyjazne oprogramowanie MCOSMOS-1 GEOPAK - komputer PC z monitorem LCD 19`` i drukarką - pakiet usług: - instalacja i kalibracja - szkolenie z obsługi maszyny i oprogramowania MCOSMOS - 3 dni dla 1 osoby w siedzibie Mitutoyo Polska we Wrocławiu Numer art. 196-472NL 196-477NL Opis Crysta Plus M544 Crysta Plus M574 Uwaga: * zestaw nie zawiera biurka 2 Cena specjalna 19.990 Euro netto 21.990 Euro netto Maszyny współrzędnościowe Crysta Plus M w pomiarach Pomiary głowicą uchylno-obrotową Pomiary głowicą uchylno-obrotową Pokrętła precyzyjnego dojazdu Zarządzanie programami pomiaru części Pomiary geometryczne Graficzny raport z wynikami pomiaru Analiza wyników skanowania Pomiary z modelem CAD 3D 3 Pomiary konturów Profilograf Contracer CV-3100 H4 Zakres pomiarowy: X=100 mm Z1=50 mm (pomiar konturu) Z2=500 mm (zakres przejazdu w kolumnie) Niepewność pomiarowa: oś X: ± (1+0,01L) µm oś Z1: ± (2+ |4H|/100) µm W zestawie: - imadło ze szczękami symetrycznymi oraz stolik przesuwny - zestaw standardowych ramion i końcówek pomiarowych - wzorzec do kalibracji automatycznej - przyjazne oprogramowanie FORMPAK 1000 - komputer PC z monitorem LCD 19`` i drukarką - pakiet usług: - instalacja i kalibracja - szkolenie z obsługi urządzenia i oprogramowania FORMPAK - 2 dni dla 1 osoby w siedzibie Mitutoyo Polska we Wrocławiu Numer art. 218-422D Opis Contracer CV-3100 H4 Cena specjalna 29.000 Euro netto Bezpieczeństwo detalu i urządzenia ochrona przed kolizją Automatyczna realizacja pomiaru Imadło i stolik przesuwny 4 Pulpit sterujący Wzorzec do kalibracji automatycznej Centrowanie detalu Profilografy Contracer w pomiarach Pomiar konturu Analiza wymiarowa konturu >Ì>ÊÓ >Ì>Ê£ >Ì>ÊV«ÃÌ Analiza wymiarowa konturu - raport Łączenie konturów Analiza odchyłkowa konturu Łączenie konturów - analiza 5 Pomiary chropowatości Chropowatościomierz Surftest SV-3100 S4 Zakres pomiarowy: X=100 mm Z1= 800 µm / 80 µm / 8 µm Z2= 300 mm (zakres przejazdu w kolumnie) Rozdzielczość: oś X: 0,05 µm oś Z1: 0,01 µm/800 µm; 0,001 µm/80 µm; 0,0001 µm/8 µm W zestawie: - standardowa końcówka pomiarowa - wzorzec kalibracyjny - stolik poziomujący - przyjazne oprogramowanie SURFPAK SV - komputer PC z monitorem LCD 19`` i drukarką - pakiet usług: - instalacja i kalibracja - szkolenie z obsługi urządzenia i oprogramowania SURFPAK - 2 dni dla 1 osoby w siedzibie Mitutoyo Polska we Wrocławiu Numer art. 178-451D-1 Opis Surftest SV-3100S4 Cena specjalna 24.000 Euro netto Bezpieczeństwo detalu i urządzenia ochrona przed kolizją Automatyczna realizacja pomiaru Pochylanie i pozycjononowanie głowicy Pulpit sterujący Not aligned Aligned Traverse direction Traverse direction Start point End point End point Axial line Axial line Recorded profiles Stolik poziomujący 6 Poziomowanie detalu Start point Chropowatościomierze Surftest w pomiarach Pomiar profilu chropowatości Analiza profilu chropowatości Analiza profilu chropowatości Analiza profilu chropowatości - raport Pomiary po promieniu - pochylanie i pozycjononowanie głowicy 7 POMIAR CHROPOWA Profil i filtr (wg PN-EN ISO 4287:1999 i PN-EN ISO 11562:1998) Rzeczywisty profil powierzchni – profil otrzymany przez przecięcie powierzchni przedmiotu płaszczyzną. Zwykle jest to płaszczyzna prostopadła do jego tworzącej i śladów obróbki. Profil odwzorowany – krzywa kreślona przez środek wierzchołka ostrza odwzorowującego o idealnym kształcie (stożkowym z wierzchołkiem kulistym) i wymiarach nominalnych przy nominalnym nacisku ostrza odwzorowującego, kiedy porusza się ono po powierzchni w płaszczyźnie przekroju. Profil pierwotny – powstaje przez odfiltrowanie dolnoprzepustowe krótkofalowych składowych profilu odwzorowanego zgodnie z charakterystyką przenoszenia filtra krótkofalowego o granicznych długościach fali filtra λs, po wcześniejszym oddzieleniu nominalnego kształtu. Parametry uzyskane z tego profilu oznaczone są literą P i obejmują jeden odcinek pomiarowy. lri = Odcinek elementarny chropowatości Zalecenia dla pomiaru chropowatości (PN-ISO 4288:1998) Profil pierwotny i linia średnia po zastosowaniu filtra λs Profile nieokresowe Profile okresowe Szlifowanie, honowanie, polerowanie, obróbka erozyjna Toczenie, frezowanie, struganie Zalecenia według PN-ISO 4288 PN-ISO 3274 rtip promień wierzchołka Profil chropowatości - powstaje z profilu pierwotnego po zastosowaniu filtra krótkofalowego λs przez odfiltrowanie górnoprzepustowe składowych długofalowych o granicznej długości fali filtra λc. Parametry uzyskane z tego profilu oznaczane są literą R i dotyczą odcinka elementarnego lr. Zwykle są uśredniane z pięciu odcinków elementarnych lr. Długość odcinka elementarnego lr odpowiada długości fali λc. Profil chropowatości i linia średnia po zastosowaniu filtra λc Profil falistości – powstaje z profilu pierwotnego przez odfiltrowanie składowych fal profilu filtrem o granicznej długości fali λc i składowych długofalowych o granicznej długości fali filtra λf. Parametry uzyskane z tego profilu oznaczone są literą W i dotyczą odcinka elementarnego lw. Zwykle są uśredniane z kilku odcinków elementarnych lw. Długość odcinka elementarnego lw odpowiada długości fali λf. Liczba odcinków elementarnych nie jest normowana, dlatego powinna być podawana na rysunku i zawierać się pomiędzy 5 a 10. lr odcinek elementarny ln odcinek pomiarowy lt odcinek przejazdu igły zawiera odcinek na rozpęd i odcinek na hamowanie. Rt, Rz µm Ra µm RSm mm > 0,025…0,1 > 0,006...0,02 > 0,013…0,04 2 > 0,1…0,5 > 0,02...0,1 > 0,04…0,13 2 > 0,5…10 > 0,1…2 > 0,13…0,4 2*) > 10…50 > 2…10 > 0,4…1,3 > 50…200 > 10…80 > 1,3…4 rtip µm λc=lr mm ln mm lt mm 0,08 0,4 0,48 0,25 1,25 1,5 0,8 4 4,8 5 2,5 12,5 15 10 8 40 48 *) Dla Rz > 3 µm lub Ra > 0,5 µm można używać igły o promieniu rtip = 5 µm Dodatkowo normowana jest minimalna odległość pomiędzy rejestrowanymi punktami x i graniczna długość fali filtra dolnoprzepustowego s. Te wartości ustawiane są zwykle automatycznie przez urządzenia pomiarowe. Praktyczna rada 1: Jeśli na powierzchni mierzonego elementu jest za mało miejsca dla wymaganego lt, należy zmniejszyć liczbę odcinków lr a informację o niej zamieścić w rysunku lub dokumentacji technicznej. Praktyczna rada 2: Jeśli w dalszym ciągu miejsca jest za mało, należy zamiast parametrów np. Rt mierzyć parametry profilu pierwotnego np. Pt na dostępnej długości powierzchni mierzonej. Wartości parametrów P są zwykle większe od wartości parametrów R. Ocena pomiaru chropowatości (PN-ISO 4288:1998) Ponieważ wartości parametrów chropowatości jak Ra, Rt, Rz, Rz1max mogą istotnie zmieniać się na obszarze mierzonej powierzchni, dlatego wynik pojedynczego pomiaru nie zawsze daje wystarczające informacje pozwalające na zaklasyfikowanie wyrobu jako zgodnego z tolerancją lub nie. Norma PN-ISO 4288 załącznik A definiuje zasady pomiaru: Profil pierwotny po zastosowaniu filtra λf Zasada maksimum Jeśli przy parametrze chropowatości występuje oznaczenie „max” to wykonujemy co najmniej trzy pomiary, w tym jeden w miejscu, gdzie powierzchnia wydaje się mieć najgorszą wartość, lub trzy pomiary równo rozmieszczone dla powierzchni jednorodnej. Wynikiem pomiaru jest najwyższa zmierzona wartość. Zasada 16% Stosowana jest do parametrów chropowatości bez oznaczenia „max”. Oznacza, że jeśli nie więcej niż 16% wszystkich wartości zmierzonych na jednym odcinku pomiarowym przekracza wartość podaną na rysunku, to powierzchnia uznawana jest za zgodną z wymaganiami. Profil falistości po zastosowaniu filtra λc Krótkofalowe składowe profilu Chropowatość Charakterystyki przenoszenia profili chropowatości i falistości Mitutoyo Polska Sp. z o.o. Mitutoyo GmbH ul.3 Mińska Messgeräte 54-56 M Solution Center Europe 54-610 Wrocław Borsigstraße 8-10 Tel. +48Neuss (0)71/354-83-50 41469 +48 (0)71/354-83-55 TFax +49 (0)2137-102-0 [email protected] +49 (0)2137- 8685 www.mitutoyo.pl www.mitutoyo.de Falistość Długofalowe składowe profilu Sposób postępowania: 1. Jeśli pierwsza wartość zmierzona nie przekracza 70% wartości dopuszczalnej to powierzchnia uznawana jest za zgodną a pomiar zakończony. 2. Jeśli trzy wartości zmierzone nie przekraczają wartości dopuszczalnej to powierzchnia uznawana jest za zgodną a pomiar zakończony. 3. Jeśli nie więcej niż jedna z sześciu wartości zmierzonych przekracza wartość dopuszczalną to powierzchnia uznawana jest za zgodną a pomiar zakończony. Mitutoyo Messgeräte GmbH M3 Solution Center Leonberg Steinbeisstraße 2 71229 Leonberg T +49 (0)7152-6080-0 F +49 (0)7152-6080-60 Mitutoyo Messgeräte GmbH M3 Solution Center Hamburg Tempowerkring 9 21079 Hamburg T +49 (0)40-791894-0 F +49 (0)40-791894-50 Mitutoyo Mess M3 Solution Ce Paradiesstraße 20 12526 Berlin T +49 (0)30-2611 F +49 (0)30-2629 ATOŚCI POWIERZCHNI Oznaczenia na rysunku (PN-EN ISO 1302:2004) Symbol podstawowy Symbol oznaczający, że wymagane jest usunięcie materiału Symbol dotyczący wszystkich powierzchni pierwsze wymaganie dotyczące struktury geometrycznej powierzchni b drugie wymaganie dotyczące struktury geometrycznej powierzchni Rmr(c) – udział materiałowy profilu: iloraz długości materiałowych elementów profilu na zadanym poziomie c (w µm) i odcinka pomiarowego ln. metoda obróbki RSm – średnia szerokość elementów profilu: wartość średnia szerokości elementów profilu Xs wewnątrz odcinka elementarnego. d oznaczenie kierunku obróbki e naddatek obróbkowy x Ra – średnia arytmetyczna rzędnych profilu: średnia arytmetyczna bezwzględnych wartości rzędnych wewnątrz odcinka elementarnego. Rt – całkowita wysokość profilu: suma wysokości najwyższego wzniesienia profilu Zp i największej głębokości wgłębienia profilu Zv wewnątrz odcinka pomiarowego ln. Litera pozwalająca na wprowadzenie danych, kiedy miejsce jest ograniczone Rz - najwyższa wysokość profilu chropowatości: suma wysokości najwyższego wzniesienia profilu Zp i głębokości najniższego wgłębienia profilu Zv wewnątrz odcinka elementarnego. Dotyczy odcinka elementarnego lr. W procedurach obliczeniowych Rz zwykle jest uśredniane spośród pięciu wartości w odcinkach elementarnych lri składających się na odcinek pomiarowy ln. Rzi (JIS) – maksymalna wysokość profilu: suma wysokości najwyższego wzniesienia Zp i głębokości najniższego wgłębienia Zv wewnątrz odcinka elementarnego lri. Pozycje symboli (powyżej) Kierunki i symbole obróbki (pozycja d poniżej) Rz1max (JIS) – maksymalna wysokość chropowatości: największa wartość Rzi spośród pięciu wartości w odcinkach elementarnych lri składających się na odcinek pomiarowy ln. = X M C R P Równoległy* Prostopadły* Krzyżowy Wielokierunkowy Współśrodkowy Promieniowy Nieregularny Ra – średnia arytmetyczna rzędnych profilu *)... do widoku płaszczyzny rzutowania, do której stosuje się symbol sgeräte GmbH enter Berlin 08 1267 9209 a c Symbol oznaczający, że nie dopuszcza się usunięcia materiału Wybrane parametry chropowatości według (PN-EN ISO 4287:1999) Przykład Wyjaśnienie Niedopuszczalne jest usunięcie materiału w procesie produkcji, tolerancja jednostronna górna, znormalizowane pasmo przenoszenia, profil R, największa wysokość profilu 5 µm, odcinek pomiarowy złożony z pięciu odcinków elementarnych, zasada 16%. Rt – całkowita wysokość profilu, Rz - największa wysokość profilu i Rz1max – maksymalna wysokość chropowatości Powinno się usunąć materiał w procesie produkcji, tolerancja jednostronna górna, znormalizowane pasmo przenoszenia, profil R, największa wysokość profilu 3 µm, odcinek pomiarowy złożony z pięciu odcinków elementarnych, zasada maksimum. Naddatek na obróbkę 0,2 mm. Powinno się usunąć materiał w procesie produkcji, tolerancja jednostronna górna, znormalizowane pasmo przenoszenia, profil R, największa wysokość profilu 4µm, odcinek pomiarowy złożony z trzech odcinków elementarnych, zasada 16%. Ślady obróbki współśrodkowe względem środka powierzchni. Powinno się usunąć materiał w procesie produkcji, tolerancja jednostronna górna, znormalizowane pasmo przenoszenia, profil R, zasada 16%, największa wysokość profilu 5µm, średnia arytmetyczna rzędnych profilu 1 µm. RSm – jest wartością średnią szerokości elementów profilu Xsi Powinno się usunąć materiał w procesie produkcji, znormalizowane pasmo przenoszenia, profil R, zasada 16%, największa wysokość profilu powinna zawierać się pomiędzy 1 µm a 3 µm. Powinno się usunąć materiał w procesie produkcji, znormalizowane pasmo przenoszenia dla λs bez filtru długofalowego λc, profil P, odcinek elementarny równy odcinkowi pomiarowemu, zasada 16%, całkowita wysokość profilu 25 µm, tolerancja jednostronna górna. Powinno się usunąć materiał w procesie produkcji, pasmo przenoszenia λc=0,8 do λf=lw=25 mm, profil W, odcinek pomiarowy składa się z 5 odcinków elementarnych ln=5 x lw=125 mm, zasada 16%, całkowita wysokość profilu 10 µm, tolerancja jednostronna górna. Rmr(c) udział materiałowy profilu, zadany poziom cięcia c w odcinku pomiarowym ln. (Krzywa AbbotaFirestona) Powinno się usunąć materiał w procesie produkcji, znormalizowane pasmo przenoszenia, profil R, zasada 16%, całkowita wysokość profilu 1µm, tolerancja jednostronna górna, względny udział materiałowy 90% na poziomie cięcia c=0,3, tolerancja jednostronna dolna. Właściwości parametrów Powinno się usunąć materiał w procesie produkcji, znormalizowane pasmo przenoszenia, profil R, zasada 16%, średnia szerokość rowków profilu powinna zawierać się pomiędzy 0,1 mm a 0,3 mm. Rmr(c) – udział materiałowy profilu - użyteczny jest dla powierzchni prowadzących i dla szczelności powierzchni poruszających się po innych. Sposób zapisu jeśli na rysunku jest zbyt mało miejsca. Wyjaśnienie znaczenia litery powinno znaleźć się w innym miejscu na rysunku. Mitutoyo Messgeräte GmbH M3 Solution Center im tbz Eisenach Heinrich Ehrhardt Platz 99817 Eisenach T +49 (0)3691-88909-0 F +49 (0)3691-88909-9 Mitutoyo Messgeräte GmbH M3 Solution Center Ingolstadt Ziegeleistraße 66 85055 Ingolstadt T +49 (0)841-954920 F +49 (0)841-9549250 Rz1max – maksymalna wysokość chropowatości – użyteczna jest dla powierzchni gdzie ze względu na charakter pracy ważne są miejscowe zmiany, np. uszczelnienia. Rz - największa wysokość profilu: użyteczny dla większości powierzchni. Ra - średnia arytmetyczna wartości rzędnych profilu, słabo reaguje na miejscowe zmiany a jej wartość nie daje jasnego obrazu stanu powierzchni. Pomiary odchyłek okrągłości Urządzenie do pomiarów odchyłek okrągłości Roundtest RA-2100 DS Zakres pomiarowy: - maksymalna mierzona średnica: 300 mm - maksymalna średnica detalu: 580 mm - Z: 300 mm - maksymalna wysokość pomiaru Niepewność pomiarowa: - promieniowa: (0,02+5H/10000) µm - osiowa: (0,02+6X/10000) µm W zestawie: - standardowa końcówka pomiarowa - adapter do końcówek pomiarowych CMM z gwintem M2 - zestaw kalibracyjny - uchwyt trójszczękowy mocowany na stole obrotowym - przyjazne oprogramowanie ROUNDPAK - komputer PC z monitorem LCD 19`` i drukarką - pakiet usług: - instalacja i kalibracja - szkolenie z obsługi oprogramowania ROUNDPAK - 2 dni dla 1 osoby w siedzibie Mitutoyo Polska we Wrocławiu Numer art. 211-863D-1 Opis Roundtest RA-2100DS Cena specjalna 34.500,00 Euro netto DAT (Digital Adjustment Table): � Workpiece centering/leveling with Digimatic micrometer heads Turntable� axis Initial misalignment � of axes Turntable axis Workpiece Workpiece Initial misalignment� of centers at � turntable surface Centering range: ± 5 mm� Leveling range of inclination: ± 1°� Preliminary� Display of misalignments measurement Preliminary measurement of � two cross-sections ‘A’ and ‘B’. Feed the digital micrometer � head of the turntable by � the deviation displayed. Simple � adjustment Centering/leveling � complete Centrowanie i poziomowanie detalu Automatyczna realizacja pomiaru Uchwyt trójszczękowy Pomiar wycinka walca 10 Okrągłościomierze Roundtest w pomiarach Analiza odchyłek okrągłości Analiza odchyłek okrągłości Analiza walcowości - raport graficzny Analiza walcowości - raport graficzny 11 Systemy obróbki obrazu Manualny system obróbki obrazu Quick Scope QS 1020 Z/AF Zakres pomiarowy: X=200 mm Y=100 mm Z=150 mm Niepewność pomiarowa: E=(3,0+0,02L) µm W zestawie: - obiektyw Powerzoom - zmiana powiększenia - 8 wartości - Autofokus - automatyczne ogniskowanie, pomiar w osi Z - oświetlenie: osiowe, pierścieniowe i przechodzące - zestaw do mocowania detali opti-fix - 12 elementów - przyjazne oprogramowanie QS-PAK - komputer PC z monitorem LCD 19`` i drukarką - pakiet usług: - instalacja i kalibracja - szkolenie z obsługi oprogramowania QS-PAK - 2 dni dla 1 osoby w siedzibie Mitutoyo Polska we Wrocławiu Numer art. 359-605D Oświetlenie przechodzące - cieniowe Opis Cena specjalna Quick Scope QS-L1020 Z/AF 18.500,00 Euro netto Oświetlenie pierścieniowe Oświetlenie osiowe Przyjazne oprogramowanie QS-PAK Zamocowanie detalu - system opti-fix 12 Systemy Quick Scope w pomiarach 13 Systemy obróbki obrazu Automatyczny system obróbki obrazu Quick Scope QS 250 Z CNC Zakres pomiarowy: X=200 mm Y=250 mm Z=100 mm Niepewność pomiarowa: E=(2,5+0,6L/100) µm W zestawie: - obiektyw Powerzoom - zmiana powiększenia - 8 wartości - Autofokus - automatyczne ogniskowanie, pomiar w osi Z - oświetlenie: osiowe, pierścieniowe i przechodzące - zestaw do mocowania detali opti-fix - 12 elementów - joystick sterujący - przyjazne oprogramowanie QS-PAK - komputer PC z monitorem LCD 19`` i drukarką - pakiet usług: - instalacja i kalibracja - szkolenie z obsługi oprogramowania QS-PAK - 2 dni dla 1 osoby w siedzibie Mitutoyo Polska we Wrocławiu Numer art. 359-508-7EU Opis Quick Scope QS-250Z CNC Oświetlenie przechodzące - cieniowe Oświetlenie pierścieniowe Cena specjalna 24.000,00 Euro netto Oświetlenie osiowe Przyjazne oprogramowanie QS-PAK Zamocowanie detalu - system opti-fix 14 Systemy Quick Scope w pomiarach 15 Informacje ogólne Centrum demonstracyjno - szkoleniowe Mitutoyo Polska we Wrocławiu: - świadczy doradztwo w dziedzinie rozwiązań pomiarowych - wykonuje szkolenia i prezentacje w następujących dziedzinach: Uwaga: Wszystkie szczegóły dotyczące produktów, w szczególności zdjęcia, rysunki, wymiary, parametry użytkowe i inne specyfikacje techniczne zawarte w tym katalogu mają charakter jedynie poglądowy. Zastrzegamy sobie prawo do zmian w wyglądzie i parametrach użytkowych oraz technicznych prezentowanych urządzeń. To samo dotyczy oprogramowania i świadczonych usług. Informacje zawarte w niniejszym katalogu są aktualne z chwilą jego wydrukowania. Publikowanie tego katalogu w jakiejkolwiek formie (w całości lub części) i wykorzystywanie zawartych w nim informacji wymaga pisemnej zgody firmy Mitutoyo. Pomiary współrzędnościowe Pomiary konturów Pomiary odchyłek okrągłości Pomiary chropowatości Mitutoyo Polska Sp. z o.o. ul. Mińska 54-56 54-610 Wrocław Tel. +48 (0)71/354-83-50 Fax +48 (0)71/354-83-55 [email protected] www.mitutoyo.pl Pomiary optyczne Uwaga: Ulotka nie stanowi oferty handlowej. Podane ceny są cenami netto bez podatku VAT 22%. Szczegółowa oferta dotycząca prezentowanych produktow jest dostępna na zapytanie. Akcja promocyjna trwa w podanym okresie lub do wyczerpania zapasow. Mitutoyo Polska zastrzega prawo do odwołania akcji promocyjnej bez podania przyczyn.