Systemy obróbki obrazu

Systemy obróbki obrazu
system obróbki obrazu
QUICK IMAGE
strona 424
system obróbki obrazu
QUICK SCOPE manualny
strona 425
system obróbki obrazu
QUICK SCOPE CNC
strona 425
system obróbki obrazu 3D CNC
QUICK VISION ELF
strona 426
system obróbki obrazu 3D CNC
QUICK VISION APEX / HYPER QUICK VISION
QUICK VISION HYBRID
strony 426–427
system obróbki obrazu 3D CNC
QUICK VISION ACCEL
strona 427
system obróbki obrazu 3D CNC
ULTRA QUICK VISION
strona 428
systemy UMAP VISION
strona 429
M-NanoCoord
strona 430
423
system obróbki obrazu QUICK IMAGE
Duża głębia ostrości, ekstra duże pole widzenia, włącznie z oprogramowaniem.
฀Podwójny system telecentryczny
Dzięki dużemu zakresowi głębi ostrości można prosto i bez ponownego ogniskowania
zmierzyć detale o różnorodnej wysokości lub stopniowanej powierzchni, na przykład części
toczone lub narzędzia skrawające.
฀Ekstra duże pole widzenia
Pole widzenia 32 x 24 mm pozwala na całkowite wykrycie małych detali w jednym spojrzeniu –
do szybkich, prostych i automatycznych pomiarów.
฀Seryjne oprogramowanie
Wygodne powtórzeniowe, programowalne przebiegi pomiarowe jak również duża prędkość
analizy dzięki zintegrowanemu oprogramowaniu QIPAK. Dla uzyskania najlepszych wyników
z różnorodnych analiz i jakości.
฀Do połączenia z Desktop-PC lub Notebook.
QI-A2010B
QI-B4020B
Model
Powiększenie
Model
Powiększenie
Zakres pomiarowy X, Y (mm)
Z (mm)
Tryb pomiarowy
Odchylenie
w obrazie
długości
(U1 xy)
Kamera
System optyczny odstęp roboczy
ostrość
QI-A505B
0,2 x
QI-B505B
0,5 x
50 x 50
25
Oświetlenie
Max. masa detalu
5 kg
QI-A1010B QI-A2010B QI-A2017B QI-A3017B QI-A4020B
0,2 x
0,2 x
0,2 x
0,2 x
0,2 x
QI-B1010B QI-B2010B QI-B2017B QI-B3017B QI-B4020B
0,5 x
0,5 x
0,5 x
0,5 x
0,5 x
100 x 100
200 x 100
200 x 170
300 x 170
400 x 200
100
100
100
100
100
tryb wysokiej rozdz. i tryb normalny
QI-A: ± 5 µm (tryb wysokiej rozdz.), ± 8 µm (tryb normalny)
QI-B: ± 2,7 µm (tryb wysokiej rozdz.), ± 4 µm (tryb normalny)
± (5 + 0,08L) µm L = w mm
1,3 Mega-Pixel 1/2” kamera
90 mm
tryb wysokiej rozdz.: ± 0,6 mm,
tryb normalny: ± 11 mm (± 1,8 mm) ( ): QI-B
LED - światło przechodzące, światło halogenowe współosiowe,
4 segmentowe światło pierścieniowe-LED
5 kg
10 kg
20 kg
20 kg
15 kg
424
Zapytajcie o nasze szczegółowe prospekty!
system obróbki obrazu QUICK SCOPE manualny
Dane techniczne
Rozdzielczość:
0,0001 mm
Odchylenie długości
(E1) przy 20 °C (XY): (3 + 2 L/100) µm
Powiększenie
na monitorze (17“): z obiektywem stałym 1 x:
42 x
z obiektywem stałym 2,5 x:
105 x
z obiektywem stałym 5 x:
210 x
z Powerzoom:
21 x do 147 x
QUICK SCOPE manualny:
฀Kompaktowy, przemysłowy przyrząd stołowy do łatwych, manualnych pomiarów pojedyńczych części.
Urządzenie ze stałym obiektywem:
฀Bardzo precyzyjne obiektywy pomiarowe 1 x, 2,5 x i 5 x.
Urządzenie z Powerzoom:
฀Programowalny „Powerzoom“ z automatycznym dopasowaniem natężenia światła i wielkości pixel.
QUICK SCOPE
Model
Sterowanie
QS-E 1020
QS-L 1020AF
QS-L 1020Z
QS-L 1020Z/AF
manualne
manualne
manualne
manualne
Zakres
pomiarowy
X : Y : Z (mm)
200 : 100 : 150
200 : 100 : 150
200 : 100 : 150
200 : 100 : 150
Światło
Światło
Światło AutoObiek- ObiekOdchylenie
tyw przechodz. współosiow. pierścien. fokus
tyw
długości
stały Zoom
E1 (XY)
–
–
–
(3 + 2,0 L/100) µm
(3 + 2,0 L/100) µm
–
(3 + 2,0 L/100) µm
–
–
(3 + 2,0 L/100) µm
–
system obróbki obrazu QUICK SCOPE CNC
Dane techniczne
Rozdzielczość:
0,0001 mm
Odchylenie długości
(E1) przy 20 °C (XY): (2,5 + 0,6 L/100) µm
Powiększenie
na monitorze (17“): z obiektywem stałym 1 x:
42 x
z obiektywem stałym 2,5 x:
105 x
z obiektywem stałym 5 x:
210 x
z Powerzoom:
21 x do 147 x
QUICK SCOPE CNC:
฀Przyrząd stołowy ze sterowaniem cyfrowym i dobrym stosunkiem ceny do wydajności. Idealny do
pomiarów małych i średnich serii.
Przyrząd ze stałym obiektywem:
฀Bardzo precyzyjne obiektywy pomiarowe 1 x, 2,5 x i 5 x.
Przyrząd z Powerzoom:
฀Programowalny „Powerzoom“ z automatycznym dopasowaniem natężenia światła i wielkości pixel.
QUICK SCOPE CNC
Zapytajcie o nasze szczegółowe prospekty!
Model
Sterowanie
QS 200
QS 250
QS 200 Z
QS 250 Z
CNC
CNC
CNC
CNC
Zakres
pomiarowy
X : Y : Z (mm)
200 : 200 : 100
200 : 250 : 100
200 : 200 : 100
200 : 250 : 100
Odchylenie
Obiektyw Obiektyw Światło
Światło
Światło Autodługości
stały
Zoom przechodz. współosiow. pierścien. fokus
E1 (XY)
–
(2,5 + 0,6 L/100) µm
(2,5 + 0,6 L/100) µm
–
(2,5 + 0,6 L/100) µm
–
(2,5 + 0,6 L/100) µm
–
425
system obróbki obrazu QUICK VISION ELF
Kompaktowy, przyrząd stołowy ze sterowaniem CNC przeznaczony do wydajnych,
przemysłowych pomiarów obróbki obrazu.
Wersja PT:
฀światłowód halogenowy.
Dane techniczne
Rozdzielczość:
0,0001 mm
Odchylenie długości
(E1) przy 20 °C (XY): (2 + 0,3 L/100) µm
Wersja Pro:
฀światłowód halogenowy.
฀programowalne oświetlenie pierścionowe „4 segmentowe“-LED.
QUICK VISION ELF
Model
QVE 202 PRO
Zakres pomiarowy Odchylenie długości
X : Y : Z (mm)
E1 (XY)
200 : 250 : 100
(2 + 0,3 L/100) µm
system obróbki obrazu
QUICK VISION APEX / HYPER QUICK VISION
Stanowiskowy model do wymagających zadań w pomiarach przy wykorzystaniu technik
obróbki obrazu. Czterokolorowe współosiowe i pierścieniowe oświetlenie -LED.
Dane techniczne
Rozdzielczość:
0,0001 mm (APEX),
0,00002 mm (HYPER)
Odchylenie długości
(E1) przy 20 °C (XY): 1,5 + 0,3 L/100 µm (APEX),
0,8 + 0,2 L/100 µm (HYPER)
QUICK VISION
Zapytajcie o nasze szczegółowe prospekty!
Zakres pomiarowy
X : Y : Z (mm)
QUICK VISION APEX
QVX 302 PRO
300 : 200 : 200
QVX 404 PRO
400 : 400 : 250
QVX 606 PRO
600 : 650 : 250
Model
Odchylenie długości
E1 (XY)
(1,5 + 0,3 L/100) µm
(1,5 + 0,3 L/100) µm
(1,5 + 0,3 L/100) µm
426
Zakres pomiarowy
X : Y : Z (mm)
HYPER QUICK VISION
HQV 302 PRO 300 : 200 : 200
HQV 404 PRO 400 : 400 : 250
HQV 606 PRO 600 : 650 : 250
Model
Odchylenie długości
E1 (XY)
(0,8 + 0,2 L/100) µm
(0,8 + 0,2 L/100) µm
(0,8 + 0,2 L/100) µm
Wskazówka: Produkty tej serii zostały wyposażone w system
zabezpieczeń rozpoznawania, negatywnie wpływających na system
pomiarowy, wibracji. Wywołanie systemu prowadzi do zatrzymania
przyrządu. Wskazana funkcja przyrządu może zostać wyłączona przez
serwis Mitutoyo, dzięki czemu nie dojdzie do przestojów.
Dane techniczne
Rozdzielczość:
0,0001 mm,
Odchylenie długości
(E1) przy 20 °C (XY): 1,5 + 0,3 L/100 µm,
system obróbki obrazu
QUICK VISION STREAM PLUS
Pomiar ciągły szczegółów detalu.
Intensywne oświetlenie LED
Specyfikacja:
฀Duża wydajność w pracy ciągłej dzięki pomiarowi optycznemu.
฀Opcjonalnie Autofokus laserowy do szybkiego ogniskowania.
฀Prędkość przesuwu max. 400 mm/s.
฀Możliwość zaprogramowania zmiany powiększenia.
Model
Zakres pomiarowy
X : Y : Z (mm)
QVSP 302 PRO
300 : 200 : 200
QVSP 404 PRO
400 : 400 : 250
QVSP 606 PRO
600 : 650 : 250
QVSP 302 PRO5 300 : 200 : 200
QVSP 404 PRO5 400 : 400 : 250
QVSP 606 PRO5 600 : 650 : 250
Odchylenie długości
E1 (XY)
(1,5 + 0,3 L/100) µm
(1,5 + 0,3 L/100) µm
(1,5 + 0,3 L/100) µm
(1,5 + 0,3 L/100) µm
(1,5 + 0,3 L/100) µm
(1,5 + 0,3 L/100) µm
system obróbki obrazu QUICK VISION ACCEL
Dane techniczne
Rozdzielczość:
0,0001 mm
Odchylenie długości
(E1) przy 20 ÑC (XY): od 2,5 + 0,4 L/100 µm
Urządzenie stanowiskowe ze stałym stołem pomiarowym o dużym przyśpieszeniu
i prędkości przesuwu. Dynamiczne rozwiązanie optymalizujące czas kontroli serii.
Wersja Pro:
฀programowalne czterokolorowe oświetlenie pierścieniowe LED.
QUICK VISION ACCEL 808 PRO
Zapytajcie o nasze szczegółowe prospekty!
Model
Wskazówka: Produkty tej serii zostały wyposażone w system
zabezpieczeń rozpoznawania, negatywnie wpływających na system
pomiarowy, wibracji. Wywołanie systemu prowadzi do zatrzymania
przyrządu. Wskazana funkcja przyrządu może zostać wyłączona przez
serwis Mitutoyo, dzięki czemu nie dojdzie do przestojów.
QVA 808 PRO
QVA 1212 PRO
QVA 1517 PRO
QVA 2021 PRO
427
Zakres pomiarowy
X : Y : Z (mm)
800 : 800 : 150
1250 : 1250 : 100
1500 : 1500 : 100
2000 : 2000 : 100
Odchylenie długości
E2 (XY)
(2,5 + 0,4 L/100) µm
(3,5 + 0,4 L/100) µm
(3,5 + 0,4 L/100) µm
(4,5 + 0,5 L/100) µm
system obróbki obrazu ULTRA QUICK VISION
Stacjonarny system z napędem CNC- i powietrznym ułożyskowaniem osi dla wysoko
postawionych wymagań w zakresie odchylenia długości, także przy kontroli seryjnej.
Dane techniczne
Rozdzielczość:
0,00001 mm
Odchylenie długości
(E1) przy 20 °C (XY): (0,3 + 0,1 L/100) µm
ULTRA QUICK VISION 350 PRO
Model
UQV 350 PRO
Zakres pomiarowy
X : Y : Z (mm)
350 : 350 : 150
Odchylenie długości
E1 (XY)
(0,3 + 0,1 L/100) µm
Zapytajcie o nasze szczegółowe prospekty!
Wskazówka: Produkty tej serii zostały wyposażone w system
zabezpieczeń rozpoznawania, negatywnie wpływających na system
pomiarowy, wibracji. Wywołanie systemu prowadzi do zatrzymania
przyrządu. Wskazana funkcja przyrządu może zostać wyłączona przez
serwis Mitutoyo, dzięki czemu nie dojdzie do przestojów.
428
system obróbki obrazu UMAP VISION
Pomiar dotykowy ekstra małą końcówką do drobnych krawędzi
„UMAP 103“ umożliwia pomiar dotykowy ekstra małą końcówką bardzo wąskich otworów –
średnica kulki 30 µm – długość trzpienia 2 mm – stosunek dł. 66,7.
Sensor optyczny umżliwia powiększenie dowolnego miejsca detalu i jego pomiar przy
pomocy technik obróbki obrazu.
฀Dzięki sensorowi optycznemu końcówka może łatwo i dokładnie pozycjonować trudno
rozpoznawalne okiem miejsca na detalu. W ten sposób sensor znalazł zastosowanie w
systemach obróbki obrazu.
Sensor optyczny do pozycjonowania i obróbki
obrazu
Ø 15 µm
UMAP101
Stylus
Ø 15 µm
Ø 30 µm
UMAP103
Stylus
Ø 70 µm
Ø 100 µm
UMAP107
Stylus
UMAP110
Stylus
16 mm
10 mm
5 mm
2 mm
0,2 mm
Pomiar krawędzi poprzez Scanning dotykowy
฀Sonda UMAP umożliwia pomiar detali o zwartych kształtach geometrycznych metodą punkt po
punkcie oraz poprzez Scanning.
Ø 300 µm
UMAP130
Stylus
Ø 30 µm
Ø 70 µm
Ø 100 µm
Ø 300 µm
Zapytajcie o nasze szczegółowe prospekty!
Wskazówka: Produkty tej serii zostały wyposażone w system
zabezpieczeń rozpoznawania, negatywnie wpływających na system
pomiarowy, wibracji. Wywołanie systemu prowadzi do zatrzymania
przyrządu. Wskazana funkcja przyrządu może zostać wyłączona przez
serwis Mitutoyo, dzięki czemu nie dojdzie do przestojów.
System UMAP VISION HYPER 302 Typ 1
429
system obróbki obrazu M-NanoCoord
System obróbki obrazu w wymiarze 3-D dla zakresów pomiarowych Nano.
฀Urządzenie podstawowe wyposażone w różne sensory (np. UMAP) do każdego zadania.
฀Wysoka dokładność MPE: (0,3 + L/1000) µm.
฀Duży zakres pomiarowy: 300 x 200 x 100 mm.
M-NanoCoord
System pomiarowy M-NanoCoord
Sensor systemu obróbki obrazu
(standard)
฀ Bardzo dokładny system optyczny
฀ Ogniskowanie wzorcowe
฀ Możliwość zaprogramowania
zmiany powiększenia (3 stopnie)
M-NanoCoord
+
Long Range Nano Probe LNP
฀ Umożliwia bardzo dokładny pomiar
powierzchni z małym naciskiem pomiarowym
฀ Rozdzielczość osi X 0,25 mm (0,00025 µm)
฀ Nacisk pomiarowy 10 µN - 750 µN
Sonda przełączająca UMAP
฀ Szczególnie mała średnica końcówek
(np. UMAP 103: średnica 30 µm)
฀ Powtarzalność: 3s = 0,1 µm
Wskazówka: Produkty tej serii zostały wyposażone w system
zabezpieczeń rozpoznawania, negatywnie wpływających na system
pomiarowy, wibracji. Wywołanie systemu prowadzi do zatrzymania
przyrządu. Wskazana funkcja przyrządu może zostać wyłączona przez
serwis Mitutoyo, dzięki czemu nie dojdzie do przestojów.
430
Software QIPAK, QSPAK, QVPAK
Zdziwiająca wielostronność a mimo to przyjazne dla użytkownika oprogramowanie
bazowe do system obróbki obrazu.
฀Przemyślana budowa, praktyczne „narzędzia“ i doskonałe przedstawienie ekranu otwierają
zupełnie nowy wymiar efektywnych pomiarów. Z programem QIPAK, QSPAK i QVPAK można
samodzielnie planować kompleksowe przebiegi pomiarowe,kontrolować je i analizować.
Dzięki zintegrowanej pomocy Online nawet nie przeszkolony użytkownik bezproblemowo,
w przeciągu krótkiego czasu wejdzie w świat systemu obróbki obrazu.
System obróbki
obrazu
QV
QVPAK 2
MCOSMOS
Pakiet programów
Moduły uzupełniające
MeasurLink
Moduł do statystycznego zarządzania danymi pomiarowymi oraz analizy i zapisu danych
pomiarowych.
QV CAD-IMPORT/EXPORT
Konwertuje dane z QVPAK do systemu CAD. Bezproblemowy import i export formatów
plików IGES i DXF.
QV EIO
Służy do komunikacji systemów QUICK VISION z programowalnymi, zewnętrznymi
kontrolerami.
QV EIO PC
Program do komunikacji między systemem QUICK VISION, a zewnętrznym komputerem
PC przez złącze RS-232 C.
QV PARTMANAGER
Program zarządzający paletami umożliwi kontrolę większej ilości,także różnorodnych
detali po koleji w jednym przebiegu pomiarowym. Podczas pomiaru następuje ocena
„na pierwszy rzut“.
PAGPAK
Generuje programy częściowe specjalnie do pomiaru otworów. Czyta dane CNC- lub NC
z frezarek lub wiertarek i korzysta z tych danych podczas kontroli.
EASYPAG
Używa danych IGES- lub DXF do tworzenia Offline programów częściowych.
FORMPAK-QV
Efektywny, prosty w obsłudze program do analizy i oceny kształtu.
QV GEARPAK
Zapytajcie o nasze szczegółowe prospekty!
Tworzy program częściowy do pomiaru kół zębatych -włącznie z modułem analizy
parametrów koła zębatego.
431