Statystyczne sterowanie procesem SPC z analizą

Statystyczne sterowanie procesem SPC z analizą systemów pom
Opublikowany na TQMsoft (https://tqmsoft.com)
Statystyczne sterowanie procesem SPC z analizą
systemów pomiarowych MSA
Przedmiot szkolenia
Podstawy SPC (Statystycznego Sterowania Procesem) w zastosowaniu do monitorowania procesów
produkcyjnych i pomiarowych. Źródła zmienności procesu produkcyjnego i procesu pomiarowego.
Rola jakości systemu pomiarowego w kontroli jakości i w sterowaniu procesem produkcyjnym. Ocena
zdolności i stabilności procesu produkcji i procesu pomiaru. Karty kontrolne Shawharta. Wskaźniki
zdolności procesu produkcji– Cp, Cpk, Pp, Ppk. Wskaźniki zdolności systemu pomiarowego – Cg, Cgk.
Liczne przykłady i ćwiczenia.
Termin i miejsce
12 - 14 kwiecień 2017
do rozpoczęcia pozostało 39 dni
26 - 28 czerwiec 2017
do rozpoczęcia pozostało 114 dni
Kraków, ul. Bociana 22a [1]
Symbol szkolenia
SPC-MSA
Program i ćwiczenia
• Przyczyny i skutki zmienności procesu, statystyczny opis zmienności, pojęcie stabilności procesu.
• Rozkład normalny (Gaussa), reguła trzech odchyleń standardowych, graficzny test normalności.
• Ocena i interpretacja współczynników zdolności procesu: Cp, Cpk, Pp, Ppk.
• Zdolność a frakcja realizacji poza granicami specyfikacji.
• Ocena zdolności procesu w przypadku rozkładów innych od normalnego.
• Karty kontrolne Shewharta dla właściwości mierzalnych oraz według oceny alternatywnej –
konstrukcja, interpretacja, obliczanie Cp, Cpk na podstawie kart dla właściwości mierzalnych.
• Zdolność procesu w przypadku oceny alternatywnej. • SPC w Six Sigma.
Ćwiczenia:
• Graficzny test normalności, ocena spodziewanej frakcji realizacji poza granicami specyfikacji na
podstawie rozkładu normalnego.
• Wyznaczanie współczynników zdolności procesu Cp, Cpk, Pp, Ppk.
• Konstrukcja kart kontrolnych Shewharta dla właściwości mierzalnych.
• Konstrukcja kart kontrolnych Shewharta według oceny alternatywnej.
• Wyznaczanie wskaźników Cg, Cgk dla prostego zadania pomiarowego.
Adresaci
Strona 1 z 3
Statystyczne sterowanie procesem SPC z analizą systemów pom
Opublikowany na TQMsoft (https://tqmsoft.com)
•Osoby odpowiedzialne za wdrożenie, utrzymanie i doskonalenie procedur SPC w przedsiębiorstwie,
•Średni szczebel nadzoru procesu produkcji – kierownicy, inżynierowie procesu, technolodzy, liderzy
zespołów, brygadziści, mistrzowie,
•Osoby odpowiedzialne za jakość, pracownicy działów zapewnienia jakości, inżynierowie jakości,
analitycy,
•Osoby odpowiedzialne za nadzorowanie systemów / procesów pomiarowych,
•Pracownicy izb pomiarów, szefowie kontroli jakości,
•Osoby realizujące projekty doskonalące w procesie produkcyjnym.
Korzyści dla przedsiębiorstwa
•Poznanie metod pozwalających na prewencyjne zapewnienie jakości poprzez niedopuszczanie do
niezgodności w miejsce ich wykrywania,
•Uzyskanie umiejętności projektowania i stosowania kart kontrolnych Shewharta,
•Poznanie sposobów oceny zdolności procesów produkcyjnych i pomiarowych,
•Uzyskanie umiejętności przeprowadzenia podstawowych analiz zdolności systemów pomiarowych,
pozwalających na identyfikację zagrożeń w procesach pomiarowych (kontroli jakości, nadzorowaniu
procesu),
•Możliwość skonsultowania z trenerem problemów napotkanych w praktyce.
Zastosowanie
Celem metod SPC jest przede wszystkim zapobieganie niezgodnościom poprzez odpowiednio
wczesne wykrywanie destabilizacji procesu i przywracanie mu stanu stabilnego zanim powstanie
niezgodność.
Metodologia SPC nadaje się zarówno do monitorowania procesów produkcyjnych, jak i do
nadzorowania procesów pomiarowych (np. dla kontroli jakości).
Z sukcesem stosowana jest także dla procesów nieprodukcyjnych (np. usługowych).
Podstawowym narzędziem SPC są karty kontrolne służące do graficznego śledzenia stabilności
procesu na podstawie pobieranych okresowo mało licznych próbek.
W ramach SPC ocenia się także zdolność procesu do spełniania stawianych mu wymagań.
Do popularniejszych wskaźników zdolności procesu produkcyjnego należą: Cp, Cpk, Pp, Ppk; dla
procesu (systemu) pomiarowego ich odpowiednikami są m.in. Cg, Cgk.
Informacje dodatkowe
Cena szkolenia obejmuje: szkolenie, materiały, certyfikat uczestnictwa w szkoleniu, obiady, słodki
poczęstunek, możliwość bezpłatnych, krótkich konsultacji do 3 miesięcy po szkoleniu, pomoc w
rezerwacji hotelu oraz bezpłatny dostęp do elektronicznych materiałów szkoleniowych w systemie
Biblioteka TQMsoft.
Drukuj [2] Pdf [3] Wyślij e-mail [4]
Share [5] Share [6] Tweet [7] Share [8]
Źródłowy URL: https://tqmsoft.com/pl/szkolenia/statystyczne-sterowanie-procesem-spc-z-analizasystemow-pomiarowych-msa
Strona 2 z 3
Statystyczne sterowanie procesem SPC z analizą systemów pom
Opublikowany na TQMsoft (https://tqmsoft.com)
Odnośniki
[1] https://www.google.pl/maps/search/Kraków, ul. Bociana 22a
[2] https://tqmsoft.com/print/11359
[3] https://tqmsoft.com/printpdf/11359
[4] mailto:?body=https%3A%2F%2Ftqmsoft.com%2Fpl%2Fprintpdf%2F11359
[5] https://www.linkedin.com/shareArticle?mini=true&source=TQMsoft.com&url=https%3A%2F%2Ft
qmsoft.com%2Fpl%2Fprintpdf%2F11359
[6] https://www.facebook.com/sharer/sharer.php?u=https%3A%2F%2Ftqmsoft.com%2Fpl%2Fprintpd
f%2F11359
[7] https://twitter.com/home?status=https%3A%2F%2Ftqmsoft.com%2Fpl%2Fprintpdf%2F11359
[8] https://plus.google.com/share?url=https%3A%2F%2Ftqmsoft.com%2Fpl%2Fprintpdf%2F11359
Strona 3 z 3