Logo IFPAN po polsku - Instytut Fizyki PAN

INSTYTUT FIZYKI POLSKIEJ AKADEMII NAUK
PL - 02-668 WARSZAWA, AL. LOTNIKÓW 32/46
Tel. (48-22) 843 66 01 Fax. (48-22) 843 09 26
REGON: P-000326061, NIP: 525-000-92-75
DZPIE/010/2009
Specyfikacja istotnych warunków
zamówienia publicznego
wysokorozdzielczy,
transmisyjny
mikroskop
Przedmiot postępowania: Analityczny,
elektronowy dla nanonauki, nanotechnologii i spintroniki.
38.51.10.00-0
Kod CPV:
Postępowanie jest prowadzone w trybie przetargu nieograniczonego
Tryb udzielenia
zgodnie z Prawem Zamówień Publicznych z dn. 29 stycznia 2004 r.
zamówienia:
Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk
Inwestor/Kupujący:
02-668 Warszawa, Al. Lotników 32/46.
NIP: 525-000-92-75; Regon: P-000326061
Zakup jest współfinansowany ze środków POIG 02.01.00-14-032/08.
§1. Opis przedmiotu zamówienia:
Parametry i wyposażenie wymagane Transmisyjnego Mikroskopu Elektronowego wraz
z osprzętem:
1. Urządzenie fabrycznie nowe, nie używane w jakimkolwiek laboratorium oraz nie
pokazywane na konferencjach i imprezach targowych wraz z instalacją i niezbędną
adaptacją pomieszczeń. Zamawiający dysponuje pomieszczeniami o wymiarach 4 m
na 6 m i wysokości 3,14 m do zainstalowania oferowanej aparatury. Pomieszczenia
można oglądać od poniedziałku do piątku w godzinach 10÷15. Jeżeli Wykonawca
uzna za konieczne wykonanie adaptacji pomieszczeń to musi to uwzględnić w ofercie.
2. Maksymalne napięcie przyspieszające wiązkę elektronową 300 kV z możliwością
regulacji w zakresie od 300 kV do 100 kV lub mniej. Zmiana napięcia
przyspieszającego wiązkę elektronową dokonywana podczas pracy mikroskopu.
3. Mikroskop zoptymalizowany do pracy dla trzech napięć: 300 kV, 200 kV, 100 kV lub
mniejszym niż 100 kV.
4. Maksymalny prąd wiązki ≥ 20 nA przy 300 kV i rozmyciu energetycznym ≤ 0,20 eV
5. Stabilność prądu emisji nie gorsza niż 1% dziennie.
6. Jasność źródła elektronów ≥ 7x107 A/m2 sr V.
7. Komputerowe ustawianie i cyfrowy odczyt wartości kąta zbieżności wiązki.
8. Komputerowe ustawianie pola powierzchni preparatu, oświetlanej wiązką elektronową
o rozbieżności ≤ 10 mrad, mniejsze lub równe 5 nm.
9. System skanowania STEM:
próbkowanie w zakresie od 512x512 do 2048x2048,
wybór azymutalnego kierunku skanowania próbki,
regulacja przekroju poprzecznego wiązki skanującej,
detektory: jasnego pola, ciemnego pola, HAADF.
10. Rozdzielczość z detektorem HAADF ≤ 136 pm przy 300 kV (wymagane rozdzielenie
bi-kolumn w krzemie dla projekcji <110>).
11. Przesłony kondensora, obiektywu i selekcyjna (minimum trzy rozmiary każdej z
przesłon), zmieniane oraz przesuwane mechanicznie i sterowane komputerowo.
12. Rozdzielczość punktowa ≤ 136 pm przy 300 kV testowana za pomocą transformaty
Fouriera obrazu preparatu amorficznego.
13. Korektor aberracji sferycznej soczewki obiektywu.
14. Możliwość instalacji korektora aberracji sferycznej soczewki kondensora w miejscu
użytkowania mikroskopu.
15. Limit informacyjny ≤ 110 pm dla 300 kV gwarantowany w miejscu instalacji i
potwierdzony testem na błonce amorficznej z włączonym korektorem obiektywu.
16. Limit informacyjny ≤ 190 pm dla napięcia ≤ 100 kV gwarantowany w miejscu
instalacji i potwierdzony testem z na błonce amorficznej z włączonym korektorem
obiektywu.
17. Mikroskopia Lorenzowska z rozdzielczością ≤ 3 nm przy 300 kV dla pola
magnetycznego w obszarze próbki ≤ 5mT.
18. System przesuwu i obrotu preparatu:
komputerowe sterowanie mechanizmu o pięciu stopniach swobody x, y, z,
α, β,
minimalny zakres nachyleń α ± 30°, β ± 30° dla próbki o średnicy Ø3 mm,
zakres przesuwu co najmniej: x, y ± 1 mm, z ± 0.350 mm.
19. Uchwyty preparatów (holdery) dla próbek o średnicy Ø3 mm
a) standardowy, dwupochyłowy dedykowany przez producenta mikroskopu
b) berylowy, dwupochyłowy dla mikroanalizy EDX:
zakres pochyłu α ± 30°, β ± 30°,
możliwość zbierania w zakresie małych kątów nachylenia,
możliwość ilościowego pomiaru prądu wiązki.
c) dwupochyłowy chłodzony ciekłym azotem:
urządzenie pozwalające na kontrolowaną zmianę temperatury oraz
nachylenia preparatu,
czas utrzymywania niskiej temperatury bez uzupełniania ciekłego azotu
minimum 4h.
Dopuszcza się możliwość dostarczenia jednego holdera spełniającego jednocześnie
wymogi podane w podpunktach b) i c).
20. Przystawka dla holografii:
płynny, azymutalny obrót druta w zakresie minimum 180 stopni,
płynna regulacja napięcia druta od 0 V do napięcia minimum 1 kV,
mechaniczny przesuw druta w kierunkach X i Y.
21. Detektor EDX:
detekcja pierwiastków o Z > 4 (Be),
aktywna powierzchnia detektora co najmniej 30 mm2,
rozdzielczość energetyczna ≤ 136 eV,
kąt bryłowy zbierania wiązki ≥ 0,13 srad,
możliwość pracy w całym zakresie napięć przyśpieszających.
22. Spektrometr strat energii elektronów zamontowany pod kolumną mikroskopu.
a) Praca z filtracją energii:
tryb obrazowy pole widzenia: ≥ 15x15 μm,
tryb dyfrakcyjny zakres kątowy ≥ 120 mrad,
błąd izochromatyczny ≤ 1,5 eV,
całkowita korekcja aberracji trzeciego i częściowa czwartego rzędu.
b) Praca w trybie spektrometru:
rozdzielczość energetyczna układu mikroskop spektrometr ≤ 0,20 eV przy
300 kV i ≤ 0,15 eV przy 200 kV mierzona jako szerokość połówkowa
widma energetycznego wiązki elektronowej zebranego w czasie 1s,
rejestracja widma z rozdzielczością maksimum 20 meV na kanał w
zakresie od 0 keV do 40 eV,
rejestracja widma z rozdzielczością maksimum 0,2 eV w zakresie od 0 do 2
keV.
23. Kamera wysokiej rozdzielczości do rejestracji obrazów HRTEM i hologramów:
zamontowana centralnie w osi mikroskopu o powierzchni matrycy
prostopadłej do tej osi,
kompatybilna mechanicznie z detektorem EELS,
2048x2048 pikseli z możliwością łączenia 2x, 4x, 8x i 16x,
wielkość piksela co najmniej 14x14 μm,
czas odczytu w pełnej rozdzielczości nie dłuższy niż 1 sekunda,
16 bitową skalą szarości pixela,
chłodzenie elementem Peltiera,
sprzężenie scyntylator/detektor z wykorzystaniem bloku światłowodów.
24. Możliwość cyfrowej rejestracji obrazów dyfrakcyjnych w trybach SAD, CBD, ND,
bez stosowania stopera wiązki centralnej, na płytach obrazowych lub kamerą z
rozdzielczością co najmniej 1024x1024 i dynamiką 16 bitów. (W przypadku
zastosowania płyt obrazowych wymagane jest dostarczenie skanera do ich odczytu z
dynamika co najmniej 16 bitów.)
25. System komputerowego sterowania mikroskopu:
system sterowania pracy mikroskopu zapewniający bezpieczne
zakończenie pracy w sytuacjach: zaniku lub przepięcia napięcia
zasilającego, przerwania dopływu wody chłodzącej,
możliwość jednoczesnego zbierania widm EDX i EELS oraz sygnałów z
detektorów HAADF, DF,
możliwość jednoczesnego zbierania sygnałów z detektorów HAADF, DF,
BF oraz widma EDX,
automatyczna rejestracja serii obrazów uzyskanych przy zadanych
wartościach rozogniskowania oraz aberracji sferycznej.
26. Programy komputerowe do:
rekonstrukcji amplitudy i fazy funkcji falowej na podstawie serii
rozogniskowanych obrazów (focal series),
rekonstrukcji amplitudy i fazy funkcji falowej na podstawie hologramów
elektronowych,
mapowanie ilościowego rozkładu pierwiastków metodą EDX,
mapowanie ilościowego rozkładu pierwiastków metodą EELS,
możliwość pisania skryptów do automatycznego sterowania pracą
mikroskopu,
praca w trybie „low-dose”,
sterowanie nachyleniem preparatu z wykorzystaniem projekcji
stereograficznej,
funkcja automatycznej korekcji dryftu próbki dla technik STEM, EDX i
EELS,
bezpłatna aktualizacja oprogramowania w okresie gwarancji.
27. Stanowisko komputerowe do obsługi on-line mikroskopu i detektorów. Wykonawca
zobowiązany jest do dostarczenia komputerów i monitorów w ilości niezbędnej do
prawidłowego funkcjonowania mikroskopu wraz ze spektrometrami i detektorami.
Dostarczony sprzęt komputerowy musi spełnić następujące wymagania:
komputery muszą mieć wystarczającą moc obliczeniową dla realizacji
wszystkich wymaganych przez oprogramowanie funkcji z bezzwłocznym
przełączaniem pomiędzy równolegle pracującymi aplikacjami w ich
najbardziej krytycznej konfiguracji i jednoczesnej obsłudze wszystkich
kamer, detektorów i spektrometrów,
przynajmniej jeden komputer powinien być wyposażony w czytnik i
rejestrator dysków blue-ray,
możliwość transferu zebranych danych poprzez sieć komputerową.
28. Zamknięty układ chłodzenia wodą z wykorzystaniem powierza atmosferycznego jako
ostatecznego czynnika chłodzącego. Poziom stabilizacji wahań temperatury i system
tłumienia drgań eliminujący całkowicie ich wpływ na stabilność pracy mikroskopu.
Wymagana jest możliwość pracy i utrzymania parametrów w zakresie temperatur
powierza zewnętrznego od -15°C do +35°C oraz pełna odporność na temperatury
poniżej -15°C i powyżej +35°C.
29. Układ filtracji i podtrzymania napięcia zasilającego:
całkowite zabezpieczenie przed przepięciami i krótkotrwałymi zanikami
napięcia zapewniające możliwość kontynuowania sesji pomiarowej,
podtrzymanie pracy mikroskopu wraz z układem chłodzenia wodą przez co
najmniej 5 min, (po tym czasie bezpieczne włączenie ręczne lub
automatyczne do trybu podtrzymania pracy działa mikroskopu),
podtrzymanie pracy działa przez co najmniej 12 godzin.
30. Układ klimatyzacji pomieszczenia z wykorzystaniem powietrza atmosferycznego jako
ostatecznego czynnika chłodzącego zapewniający stabilną temperaturę oraz
wilgotność powietrza:
wymagana jest możliwość pracy mikroskopu i utrzymania deklarowanych
parametrów wszystkich trybów pracy mikroskopu w zakresie temperatur
powierza zewnętrznego od -15°C do +35°C,
pełne zabezpieczenie przed skraplaniem pary wodnej z odpowiednim
czujnikiem i alarmem.
31. Niwelator zewnętrznego pola magnetycznego:
korekcja pola magnetycznego w trzech osiach x, y, z, niezbędna do
uzyskania deklarowanych parametrów mikroskopu.
32. Osprzęt oraz wyposażenie uzupełniające wraz z montażem niezbędne do działania
mikroskopu:
butle z gazami wraz z podłączeniem i reduktorami,
urządzenia i materiały niezbędne do klimatyzacji pomieszczenia
mikroskopu,
kable elektryczne i światłowodowe,
pyłoszczelne drzwi o wymiarach wymaganych dla transportu mikroskopu,
dźwiękoszczelne okno do obserwacji pomieszczenia mikroskopu,
bezzakłóceniowy osprzęt oświetleniowy,
stoły pod urządzenia i komputery,
krzesła dla operatorów nie zakłócające (wibracja, pole magnetyczne) pracy
urządzeń,
szafki na akcesoria,
monitor umożliwiający bierne uczestnictwo do 8 osób w eksperymentach z
możliwością podglądu wszystkich monitorów mikroskopu, (przekątna co
najmniej 50 cali, rozdzielczość „full-hd”, wbudowane głośniki, co najmniej
trzy wejścia cyfrowe sygnału wizyjnego),
przewody i osprzęt hydrauliczny (reduktory, filtry),
przewody i osprzęt dla sprężonego powierza (reduktory, filtry, zawory,
kompresor),
akcesoria do utrzymania czystości technologicznej (filtr na dopływie
powietrza zewnętrznego, odkurzacz bezpyłowy),
drabina aluminiowa do obsługi mikroskopu (np. do nalewania ciekłego
azotu),
czujniki: dymu, wilgotności.
33. Przenośny zbiornik na ciekły azot co najmniej 5 l.
34. Drukarka laserowa o kolorowym wydruku A4:
możliwość niezależnej od komputera pracy w sieci,
rozdzielczość co najmniej 1200x1200dpi,
trzy oddzielne kolory tonera oraz toner czarny,
automatyczny druk dwustronny,
pierwsza stron w czasie nie dłuższym niż 8 s,
szybkość druku kolorowego minimum 30 stron/min.
35. Szkolenia w siedzibie Zamawiającego:
szkolenie dla 3 osób w zakresie podstawowej obsługi mikroskopu i
osprzętu,
szkolenie dla 3 osób w zakresie obsługi i konserwacji technicznej
mikroskopu i osprzętu.
36. Dokumentacja zawierająca:
instrukcję obsługi,
warunki BHP,
dokumentację techniczną,
deklaracja zgodności CE.
37. Czas dostawy i uruchomienia 12 miesięcy od momentu podpisania umowy.
38. Części i materiały eksploatacyjne na okres 24 miesięcy.
39. Gwarancja na 24 miesiące:
bieg gwarancji liczony od daty protokółu odbioru końcowego,
czas reakcji serwisu 2 dni robocze,
w przypadku niemożności wykonania naprawy w czasie krótszym niż 15
dni roboczych wykonawca zapewnia dostęp do urządzenia o takich samych
parametrach w kraju lub za granica w wymiarze niezbędnym do realizacji
zaplanowanych w czasie naprawy zadań badawczych. Koszty dostępu do
przyrządu pokrywa wykonawca. Czas naprawy odliczany jest od czasu
biegu gwarancji.
jeśli ilość napraw tej samej części lub podzespołu przekroczy 3, to
wykonawca wymieni ją na nową,
bezpłatny przegląd urządzenia pod koniec każdego roku okresu gwarancji
obejmujący wykonanie niezbędnych regulacji i napraw oraz wymianę
zużytych części,
przed upływem okresu gwarancyjnego dokonana będzie bezpłatna
wymiana emitera FEG na nowy.
40. Wykonawca musi dołączyć wyniki testów dokonanych na urządzeniu producenta
potwierdzających uzyskanie deklarowanych parametrów:
rozdzielczość punktowa HRTEM,
rozdzielczość punktowa STEM,
rozmycie energetyczne wiązki układu działo - spektrometr EELS,
rozdzielczość w trybie mikroskopii Lorentza.
41. Wykonawca musi zapewnić serwis pogwarancyjny i dostępność części przez okres co
najmniej 10 lat.
Parametry i wyposażenie wymagane urządzenie do przygotowania preparatów metodą
wycinania zogniskowana wiązką jonową FIB:
1. Urządzenie fabrycznie nowe, nie używane w jakimkolwiek laboratorium oraz nie
pokazywane na konferencjach i imprezach targowych, wraz z instalacją i niezbędną
adaptacją pomieszczeń. Zamawiający dysponuje pomieszczeniami o wymiarach 4 m
na 6 m i wysokości 3,14 m do zainstalowania oferowanej aparatury. Pomieszczenia
można oglądać od poniedziałku do piątku w godzinach 10÷15. Jeżeli Wykonawca
uzna za konieczne dokonać adaptacji pomieszczeń to musi to uwzględnić w ofercie.
2. Parametry wiązki jonowej:
jony Ga,
napięcie przyśpieszające regulowane od 500 V do 30 kV,
maksymalny prąd wiązki minimum 20 nA,
rozdzielczość obrazowania wiązką jonową 5 nm lub lepsza przy 30 kV.
3. Parametry wiązki elektronowej:
działo elektronowe z emisją polową,
maksymalny prąd wiązki minimum 20 nA,
napięcie przyśpieszające regulowane 500 V – 30 kV,
rozdzielczość 1 nm lub lepsza dla 15 kV w trybie SE próbka Au na węglu,
rozdzielczość 2 nm lub lepsza dla 1 kV w trybie SE próbka Au na węglu.
4. Urządzenie powinno być wyposażone w co najmniej jeden układ (GIS) służący do
nanoszenia platyny.
5. Urządzenie powinno umożliwiać późniejszą rozbudowę o co najmniej 4 dodatkowe
układy GIS z pięciu wymienionych poniżej:
układ pozwalający na nanoszenie złota,
układ pozwalający na nanoszenie wolframu,
układ pozwalający na nanoszenie materiałów izolacyjnych,
układ przyspieszający proces trawienia jonowego materiałów izolacyjnych,
układ przyśpieszający proces trawienia jonowego materiałów zbudowanych
na bazie węgla.
Poszczególne układy GIS podawania gazu powinny być sterowane niezależnie, z
poziomu głównego interfejsu użytkownika urządzenia.
6. Mikromanipulator umożliwiający precyzyjne przeniesienie wyciętego preparatu TEM
na dedykowaną siatkę kompatybilną z uchwytem preparatu w transmisyjnym
mikroskopie elektronowym.
7. Podgląd stolika i wnętrza komory przy pomocy kamery CCD.
8. Wymagane detektory wraz z niezbędnym wyposażeniem oraz oprogramowaniem:
EDS,
elektronów wtórnych,
wewnątrzsoczewkowy (in-lens) detektor elektronów wtórnych.
9. Zmotoryzowany stolik w 5 osiach x, y, z, rotacja, nachylanie. Zakresy przesuwów
stolika: X:, Y: nie mniej niż 150 mm, Z: nie mniej niż 10 mm. Eucentryczny obrót
wokół osi w zakresie 360° dla wszystkich położeń X, Y. Pochył w zakresie co
najmniej od -5o do 60o.
10. Całkowicie bezolejowy układ próżniowy.
11. Skomputeryzowany układ sterowania.
12. Cyfrowy zapis obrazów:
cyfrowy zapis obrazów mikroskopowych z maksymalną rozdzielczością co
najmniej 10 milionów pikseli i 16 bitową skalą szarości,
rejestracja obrazów w standardach: TIFF, BMP i JPEG.
13. Automatyczne sekwencyjne trawienie wielu preparatów TEM z oprogramowaniem
pozwalającym na automatyczne trawienie wielu preparatów TEM bez udziału
operatora.
14. Możliwość trawienia i nanoszenia wzorów według importowanych map bitowych.
15. Zamknięty układ chłodzenia wodą z wykorzystaniem powierza atmosferycznego jako
ostatecznego czynnika chłodzącego.
16. Układ klimatyzacji z wykorzystaniem powierza atmosferycznego jako ostatecznego
czynnika chłodzącego.
17. Czas dostawy i uruchomienia 9 miesięcy od momentu podpisania umowy
18. Szkolenia w siedzibie Zamawiającego:
szkolenie dla 3 osób w zakresie podstawowej obsługi systemu FIB i
osprzętu,
szkolenie dla 3 osób w zakresie obsługi i konserwacji technicznej systemu
FIB i osprzętu.
19. Wyposażenie uzupełniające dla pomieszczenia FIB w osprzęt wraz z montażem
niezbędne do poprawnej instalacji i działania urządzenia:
butle z gazami wraz z podłączeniem,
urządzenia i materiały niezbędne do klimatyzacji pomieszczenia FIB,
kable elektryczne i światłowodowe,
pyłoszczelne drzwi,
osprzęt oświetleniowy,
stoły pod urządzenia i komputery,
krzesła operatorów nie zakłócające (wibracja i pole magnetyczne) pracy
urządzeń,
szafki na akcesoria,
przewody i osprzęt hydrauliczny (reduktory, filtry),
przewody i osprzęt dla sprężonego powierza (reduktory, filtry, zawory,
kompresor).
20. Serwis gwarancyjny
okres gwarancji co najmniej 24 miesiące,
czas reakcji maksymalnie 3 dni robocze,
czas wykonania naprawy możliwej do wykonania w siedzibie
Zamawiającego maksymalnie 10 dni roboczych,
całość urządzenia objęta usługą serwisową przez instytucję z siedzibą na
terenie Polski.
21. Serwis pogwarancyjny
Dostępność części i serwisu przez okres co najmniej 10 lat.
§2. Termin wykonania zamówienia:
Wymaga się aby ostateczne dostarczenie, uruchomienie i odbiór techniczny urządzenia
nastąpił nie później niż w ciągu 12 miesięcy od daty podpisania umowy.
§3. Opis warunków udziału w postępowaniu oraz opis sposobu dokonania
oceny tych warunków:
O udzielenie zamówienia mogą ubiegać się wykonawcy, którzy:
1) posiadają uprawnienia do wykonywania określonej działalności lub czynności, jeżeli
ustawy nakładają obowiązek posiadania takich uprawnień;
2) osiadają niezbędną wiedzę i doświadczenie oraz dysponują potencjałem technicznym i
osobami zdolnymi do wykonania zamówienia lub przedstawią pisemne zobowiązanie
innych podmiotów do udostępnienia potencjału technicznego i osób zdolnych do
wykonania zamówienia;
3) znajdują się w sytuacji ekonomicznej i finansowej zapewniającej wykonanie
zamówienia;
4) nie podlegają wykluczeniu z postępowania o udzielenie zamówienia.
Zamawiający zweryfikuje ofertę pod względem obecności oświadczenia o spełnianiu
warunków udziału w postępowaniu.
§4. Wykaz oświadczeń i dokumentów, jakie maja dostarczyć wykonawcy
w celu potwierdzenia spełniania tych warunków:
Wykonawcy z siedzibą na terytorium Rzeczypospolitej Polskiej
1
2
3
4
5
Oświadczenie o spełnianiu warunków udziału w postępowaniu (Art. 22 ust 1 i Art. 24
ust. 1 Ustawy PZP).
Aktualny odpis z właściwego rejestru albo aktualne zaświadczenie o wpisie do ewidencji
działalności gospodarczej, jeżeli odrębne przepisy wymagają wpisu do rejestru lub
zgłoszenia do ewidencji działalności gospodarczej, wystawiony nie wcześniej niż 6
miesięcy przed upływem terminu składania ofert.
Aktualne zaświadczenie właściwego naczelnika urzędu skarbowego oraz właściwego
oddziału Zakładu Ubezpieczeń Społecznych lub Kasy Rolniczego Ubezpieczenia
Społecznego, potwierdzające odpowiednio, że wykonawca nie zalega z opłacaniem
podatków, opłat oraz składek na ubezpieczenie zdrowotne i społeczne, lub
zaświadczenia, że uzyskał przewidziane prawem zwolnienie, odroczenie lub rozłożenie
na raty zaległych płatności lub wstrzymanie w całości wykonania decyzji właściwego
organu – wystawione nie wcześniej niż 3 miesiące przed upływem terminu składania
wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu o udzielenie zamówienia
publicznego.
Aktualna informacja z Krajowego rejestru Karnego w zakresie określonym w Art. 24
ust. 1 pkt. 4-8 Ustawy, wystawiona nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu
składania ofert.
Aktualna informacja z Krajowego rejestru Karnego w zakresie określonym w Art. 24
ust. 1 pkt. 9 Ustawy, wystawiona nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu
6
składania ofert.
Wykaz wykonanej przynajmniej jednej dostawy systemu o parametrach nie gorszych niż
stanowiący podstawowy przedmiot niniejszego zamówienia, w okresie ostatnich 3 lat
przed wszczęciem postępowania o udzielenie zamówienia, a jeżeli okres prowadzenia
działalności jest krótszy – w tym okresie, wraz z dokumentami potwierdzającymi, że te
dostawy zostały wykonane należycie (referencje, protokoły odbioru, itp.)
Wykonawcy z siedzibą poza terytorium Rzeczypospolitej Polskiej
1
2
3
4
5
6
Oświadczenie o spełnianiu warunków udziału w postępowaniu (Art. 22 ust 1 i Art. 24
ust. 1 Ustawy PZP).
Dokument potwierdzający, iż nie otwarto likwidacji, ani nie ogłoszono upadłości w
stosunku do Wykonawcy, wystawiony nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem
terminu składania ofert.
Dokument potwierdzający, iż Wykonawca nie zalega z uiszczaniem podatków, opłat,
składek na ubezpieczenia społeczne i zdrowotne albo że uzyskał przewidziane prawem
zwolnienie, odroczenie lub rozłożenie na raty zaległych płatności lub wstrzymanie w
całości decyzji właściwego organu, wystawiony nie wcześniej niż 3 miesiące przed
upływem terminu składania ofert.
Dokument potwierdzający, iż nie orzeczono wobec Wykonawcy zakazu ubiegania się o
zamówienia, wystawiony nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania
ofert.
Zaświadczenie właściwego organu sądowego lub administracyjnego kraju pochodzenia
albo zamieszkania osoby, której dokumenty dotyczą, w zakresie Art. 24 ust. 1 pkt. 4-8
Ustawy, wystawiony nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania
ofert.
Wykaz wykonanej przynajmniej jednej dostawy systemu o parametrach nie gorszych niż
stanowiący podstawowy przedmiot niniejszego zamówienia, w okresie ostatnich 3 lat
przed wszczęciem postępowania o udzielenie zamówienia, a jeżeli okres prowadzenia
działalności jest krótszy – w tym okresie, wraz z dokumentami potwierdzającymi, że te
dostawy zostały wykonane należycie (referencje, protokoły odbioru, itp.)
Jeżeli w kraju pochodzenia osoby lub w kraju, w którym Wykonawca ma siedzibę lub miejsce
zamieszkania, nie wydaje się dokumentów, o których powyżej, zastępuje się je dokumentem
zawierającym oświadczenie złożone przed notariuszem, właściwym organem sądowym,
administracyjnym albo organem samorządu zawodowego lub gospodarczego odpowiednio
kraju pochodzenia osoby lub kraju, w którym Wykonawca ma siedzibę lub miejsce
zamieszkania.
§5. Informacje o sposobie porozumiewania się zamawiającego z
wykonawcami, a także wskazanie osób uprawnionych do
porozumiewania się z wykonawcami:
1
2
Zamawiający będzie kontaktował się z wykonawcami drogą faksu lub na piśmie.
Osoby przewidziane do kontaktu z wykonawcami:
 Maciej Zajączkowski – fax: (+48 22) 847 00 82.
§6. Termin związania ofertą:
1
Zamawiający ustala termin związania ofertą na okres 60 dni od daty terminu składania
ofert.
§7. Wymagania dotyczące wadium:
1
2
3
Zamawiający ustala kwotę wadium na sumę: 150.000,00 PLN.
Zgodnie z Art. 44 ust. 6 wadium może być wnoszone w jednej lub kilku następujących
formach:
 pieniądzu;
 poręczeniach bankowych lub poręczeniach spółdzielczej kasy oszczędnościowokredytowej, z tym że poręczenie kasy jest zawsze poręczeniem;
 gwarancjach bankowych;
 gwarancjach ubezpieczeniowych;
 poręczeniach udzielanych przez podmioty, o których mowa w art. 6b ust. 5 pkt. 2
ustawy z dnia 9 listopada 2000r. o utworzeniu Polskiej Agencji Rozwoju
Przedsiębiorczości (Dz. U. Nr 109, poz. 1158, z późn. zm.).
Konto bankowe w przypadku wpłaty wadium: BPH SA 77 1060 0076 0000 3210 0014
4494.
§8. Opis sposobu przygotowania oferty:
1
2
3
4
5
6
7
Oferta powinna być sporządzona w języku polskim z zachowaniem formy pisemnej,
trwałą, czytelną techniką.
Każdy Wykonawca może złożyć tylko jedną ofertę. Wykonawca, który przedłożył
więcej niż jedną ofertę, zostanie wyłączony z postępowania.
Oferta powinna dotyczyć całości zamówienia zgodnie z wymogami i warunkami
specyfikacji. Nie dopuszcza się składania ofert częściowych.
Oferta powinna zawierać:
 specyfikację techniczną urządzenia;
 termin dostawy;
 warunki dostawy;
 cenę za towar.
Kserokopia dowodu uiszczenia wadium powinna być załączona do oferty; oryginał
powinien być w odrębnej kopercie.
Wszystkie zapisane strony oferty powinny być ponumerowane, podpisane i zszyte.
Wykonawca powinien zamieścić ofertę w dwóch kopertach:
Na kopercie wewnętrznej powinien znajdować się adres i nazwa Zamawiającego oraz
napis: "Postępowanie o udzielenie zamówienia publicznego w trybie przetargu
nieograniczonego na „Analityczny, wysokorozdzielczy, transmisyjny mikroskop
elektronowy dla nanonauki, nanotechnologii i spintroniki” [DZPIE/010/2009]", koperta
zewnętrzna poza oznakowaniem jak wewnętrzna, powinna być opisana nazwą i adresem
Wykonawcy.
§9. Miejsce oraz termin składania i otwarcia ofert:
1
2
3
Ofertę należy złożyć w siedzibie Zamawiającego, budynek I pok. Nr. 101 (kancelaria
ogólna) w godzinach 9.00 ÷ 15.00 w dni robocze, do dnia 27 lipiec 2009 r., do godz.
10:00.
W przypadku wysłania oferty pocztą (lub pocztą kurierską) za termin złożenia przyjmuje
się termin otrzymania oferty, a nie datę stempla pocztowego (nadania).
Otwarcie ofert odbędzie się w ostatnim dniu ich składania, w siedzibie Zamawiającego,
budynek I pok. 203 o godzinie 10:00.
§10. Opis sposobu obliczenia ceny:
1
2
Cena wyrażona w „PLN”.
Cena powinna uwzględniać:
 cenę sprzętu,
 pakowanie, dostawę,
 montaż wraz z adaptacją pomieszczenia,
 instalację, uruchomienie i wykonanie testów,
 szkolenie,
 niezbędne ubezpieczenia.
§11. Opis kryteriów, którymi zamawiający będzie się kierował przy
wyborze oferty w celu zawarcia umowy w sprawie zamówienia
publicznego:
1
2
3
4
Cena
Parametry techniczne
Przy przeliczaniu punktów za cenę Zamawiający posłuży się wzorem:
gdzie:
Cmin – cena najtańszej oferty;
Cbad – cena oferty badanej
Punktowane parametry:
1. Rozdzielczość punktowa mikroskopu w trybie HRTEM przy 300 kV
gwarantowana w miejscu instalacji:
a) nie gorsza niż 111 pm (rozdzielenie bi-colum Si-C w SiC-3C dla
projekcji <110> )
b) nie gorsza niż 78 pm (rozdzielenie bi-kolumn Si-Si w Si dla projekcji
<112> )
2. Limit informacyjny mikroskopu dla 300 kV gwarantowany w miejscu
instalacji i potwierdzony testem z wykorzystaniem błonki amorficznej
a) ≤ 100 pm
b) ≤ 80 pm
3. Zakres nachyleń preparatu Ø3 mm większy bądź równy α +/-40°, β +/30°
4. Tomograficzny uchwyt preparatu Ø3 mm o minimalnym zakresie
nachyleń próbki α ± 70°
80 pkt.
20 pkt.
2 pkt.
4 pkt.
1 pkt.
3 pkt.
3 pkt.
1 pkt.
5. Rozdzielczość wiązki elektronowej urządzenia FIB ≤ 1 nm przy 15 kV
(dla SE i próbki Au na węglu)
6. Rozdzielczość wiązki elektronowej urządzenia FIB ≤ 1,5 nm przy 1 kV
(dla SE i próbki Au na węglu)
7. Urządzenie do czyszczenia preparatów plazmą argonowo-tlenową przy
energii 10-15 eV z bezolejowym układem próżniowym.
8. Układ podtrzymania napięcia dla urządzenia FIB
9. Czas dostawy i uruchomienia wszystkich elementów zamówienia krótszy
lub równy 10 miesięcy
1 pkt.
1 pkt.
3 pkt.
1 pkt.
3 pkt.
§12. Informacje o formalnościach, jakie powinny zostać dopełnione po
wyborze oferty w celu zawarcia umowy w sprawie zamówienia
publicznego:
1
Wykonawca, który wygra postępowanie o udzielenie zamówienia publicznego, powinien
podpisać umowę w ciągu 7 dni od daty zakończenie terminu na wnoszenie protestów i
odwołań, na warunkach określonych w niniejszej specyfikacji istotnych warunków
zamówienia, jednak nie później niż termin związania ofertą.
§13. Istotne dla stron postanowienia, które zostaną wprowadzone do treści
zawieranej umowy w sprawie zamówienia publicznego:
1
2
Warunki płatności:
40% wartości umowy przelewem bankowym, w ciągu 14 dni po zaakceptowaniu
przez Zamawiającego projektu technicznego;
60% wartości umowy przelewem bankowym, w ciągu 14 dni od daty
protokolarnego odbioru i uruchomienia przedmiotu zamówienia u
Zamawiającego i otrzymania faktury.
W przypadku wystąpienia zwłoki w wykonaniu przedmiotu umowy, Wykonawca
zobowiązuje się zapłacić na rzecz Zamawiającego kary umowne w wysokości 0,1%
wartość umowy za każdy dzień zwłoki, począwszy od pierwszego dnia następującego po
umownym terminie wykonania.
§14. Pouczenie o środkach ochrony prawnej:
Środki ochrony prawnej, przysługujące wszystkim wykonawcom, opisane są w Dziale VI
Prawa Zamówień Publicznych z dn. 29 stycznia 2004r (Dz. U. Nr 19, poz. 177 z dnia 9 lutego
2004 wraz z późniejszymi zmianami).
……………………………
……………………………
pieczęć adresowa Wykonawcy
data
Oświadczenie
Przystępując do postępowania w sprawie udzielenia zamówienia publicznego oświadczam/y,
że spełniam/y warunki udziału w niniejszym postępowaniu zawarte w art. 22 ust. 1 Ustawy –
Prawo zamówień publicznych, który stanowi, że o udzielenie zamówienia mogą ubiegać się
wykonawcy, którzy:
1) posiadają uprawnienia do wykonywania określonej działalności lub czynności, jeżeli
ustawy nakładają obowiązek posiadania takich uprawnień;
2) posiadają niezbędną wiedzę i doświadczenie oraz dysponują potencjałem technicznym
i osobami zdolnymi do wykonania zamówienia lub przedstawią pisemne zobowiązanie
innych podmiotów do udostępnienia potencjału technicznego i osób zdolnych do
wykonania zamówienia;
3) znajdują się w sytuacji ekonomicznej i finansowej zapewniającej wykonanie
zamówienia;
4) nie podlegają wykluczeniu z postępowania o udzielenie zamówienia.
…………………………
pieczęć imienna Wykonawcy
……………………………
……………………………
pieczęć adresowa Oferenta
data
Wykaz części zamówienia, które Wykonawca powierzy
podwykonawcom.
Lp
Zakres zamówienia, który Wykonawca zamierza powierzyć
podwykonawcom
1
2
3
4
5
…………………………
pieczęć imienna Oferenta