Mikroskop pomiarowy 3D z głowicą konfokalną do analizy topografii

ZP/PN/17/2014
Załącznik nr 2
Zamówienie publiczne w trybie przetargu nieograniczonego nr ZP/PN/17/2014
Przedmiot postępowania: Dostawa mikroskopu pomiarowego 3D z głowicą konfokalną do analizy mikrostruktury
i topografii powierzchni
ARKUSZ INFORMACJI TECHNICZNEJ
Wszystkie parametry podane w rubryce „WYMAGANE WARUNKI GRANICZNE” są warunkami granicznymi, których
niespełnienie spowoduje odrzucenie oferty. Tym samym zaoferowanie parametrów innych niż określone w SIWZ (poza
wyznaczonymi przedziałami) powoduje odrzucenie oferty.
Brak wpisu w rubryce „DEKLARACJA SPEŁNIENIA WYMAGAŃ” oraz „UWAGI FUNKCJE/PARAMETRY OFEROWANE dla
propozycji RÓWNOWAŻNEJ” ( w przypadku oferowania rozwiązań równoważnych) zostanie potraktowany jako niespełnienie
wymagań parametrycznych.
Dla urządzenia należy podać dane: Nazwę urządzenia (typ/model), Producenta, Rok produkcji.
Zamawiający zastrzega sobie prawo do sprawdzenia wiarygodności podanych przez Wykonawcę parametrów technicznych we wszystkich dostępnych
źródłach w tym również zwrócenie się o złożenie dodatkowych wyjaśnień przez Wykonawcę lub Producenta.
Mikroskop pomiarowy 3D z głowicą konfokalną do analizy topografii powierzchni - Ilość: 1 kpl.
Nazwa urządzenia (typ/model): .....................................................................................................................................................................................
Producent: ......................................................................................................................................................................................................................
Rok produkcji: .................................................................................................................................................................................................................
ZP/PN/17/2014
Załącznik nr 2
NAZWA
PARAMETRU
LUB FUNKCJA
POMIAROWA
WYMAGANE WARUNKI GRANICZNE
(niespełnienie warunków granicznych
spowoduje odrzucenie oferty)
1
2
3
1
Typ mikroskopu
Mikroskop wyposażony w głowicę konfokalną
typu "pinhole- disc" do badań topografii
powierzchni.
2
Źródło światła
Lp.
DEKLARACJA
UWAGI
SPEŁNIENIA
FUNKCJE/PARAMETRY
WYMAGAŃ
OFEROWANE
Wpisać
dla propozycji
TAK/NIE
RÓWNOWAŻNEJ
lub
PARAMETR
(innej niż opis w kolumnie
PUNKTOWANY
3)
(obowiązkowo)
4
5
PARAMETRY
PUNKTOWANE
I ZAKRES
PUNKTACJI
6
LED, laserowe
Zdolność rozdzielcza:
3
Zdolność
rozdzielcza
układu
W osi Z co najmniej 10 nm
Powtarzalność pomiarów σ min 20 nm
W płaszczyźnie X,Y co najmniej 300 nm
Powtarzalność pomiarów 3σ min 50 nm
Oś Z
5 - 9 nn - 10 pkt.
≤ 5 nm - 20 pkt
X-Y
300-200 nm - 10 pkt.
≤ 200 nm - 20pkt-
Strona 2 z 5
ZP/PN/17/2014
Załącznik nr 2
4
Podstawa
mikroskopu
Mikroskop stabilizowany mechanicznie na
podstawie wyposażonej w absorbery drgań
podłoża
5
Rewolwer
obiektywowy
Manualny rewolwer przystosowany do
montażu minimum 4 obiektywów
6
Obiektywy
7
Zakres
pomiarowy
8
Sterowanie
parametrami
pomiaru
Zestaw co najmniej 2 obiektywów:
10X/NA 0.3-wymagane
100X/NA 0.95-wymagane
Dodatkowe obiektywy:
20X - 20 pkt.
50X - 20 pkt.
W kierunku Z- minimalnie 7 mm
W pełni automatyczne oraz możliwość
manualnego sterowania.
Funkcja automatycznej regulacji ostrości i
natężenia oświetlenia próbki.
Komputer dostosowany do sterowania,
obróbki i archwizacji danych,
wielkość pamięci co najmniej 2TB
9
Komputer do
sterowania
systemem
system operacyjny: Microsoft Windows 7,
Oprogramowanie: Microsoft Office 2013
wersja Basic lub wyższa, EDU.
Monitor minimum 23''
Monitor ˃ 24 ‘’ - 5 pkt.
Strona 3 z 5
ZP/PN/17/2014
Załącznik nr 2
Funkcja automatycznego łączenia
wykonanych obrazów.
Ekstrakcja profilu z obszaru pomiarowego.
Pomiar grubości warstw.
Analiza parametrów chropowatości i falistości
profilu
10
11
Oprogramowanie do analizy
wyników
Próbki
wzorcowe
Analiza powierzchni 3D zgodnie z ISO25178,
- krzywa Abbott-Firestone,
-wyznaczanie pola powierzchni i objętości
zaznaczonego obszaru,
- odległość między punktami,
- obliczanie parametrów chropowatości i
falistości powierzchni
- obliczanie wysokości struktury schodkowej,
- filtry: gaussowski,
- pomiar kątów na powierzchni
Wzorzec wysokości i chropowatości
powierzchni.
Instalacja, kalibracja systemu i szkolenie
zawarte w cenie mikroskopu
12
Inne wymagania
zakres szkolenia: obsługa urządzenia
i oprogramowania do analizy wyników,
dla 2-4 osób.
Strona 4 z 5
ZP/PN/17/2014
Załącznik nr 2
Co najmniej 12 miesięczna gwarancja na
wszystkie elementy systemu licząc od dnia
podpisania umowy.
Czas trwania
gwarancji
24 m-ce - 10 pkt.
36 m-cy - 15 pkt.
13
Gwarancja
i serwis
Czas przystąpienia do naprawy w okresie
gwarancji nie dłuższy niż 7 dni roboczych od
dnia zgłoszenia usterki.
Czas usunięcia awarii nie dłuższy niż 21 dni
roboczych od dnia zgłoszenia usterki.
Okres gwarancji przedłuża się każdorazowo
o czas naprawy gwarancyjnej.
Dopuszcza się oferty równoważne pod względem wszystkich parametrów i funkcjonalności, spełniające wyspecyfikowane wymagania lub lepsze.
Zamawiający dopuszcza składanie ofert równoważnych, jednakże podane przez Zamawiającego wymagania oraz parametry techniczne
określające przedmiot zamówienia są warunkami minimalnymi, których spełnienia Zamawiający będzie oczekiwał.
W przypadku złożenia oferty równoważnej na całość lub poszczególne pozycje, Wykonawca musi wyraźnie wskazać różnice, które powinny
być jednoznacznie zaznaczone w treści specyfikacji technicznej.
Zgodnie z Art. 30, ust. 5 Ustawy, Wykonawca, który powołuje się na rozwiązania równoważne z opisanym przez Zamawiającego, jest
obowiązany wykazać, że oferowany przez niego przedmiot zamówienia spełnia wymagania określone przez Zamawiającego.
………………………………………………………………
(czytelny podpis imieniem i nazwiskiem lub
pieczęć imienna i podpis upoważnionego przedstawiciela Wykonawcy)
..................................., dn. .................... 2014 r.
(pieczęć Wykonawcy/Wykonawców)
Strona 5 z 5