Cennik_wzorcowań_06_listopada_2014_na_stronę_ internetową_
Transkrypt
Cennik_wzorcowań_06_listopada_2014_na_stronę_ internetową_
1) Cennik za wykonywanie czynności wzorcowania przyrządów pomiarowych, wytwarzanie certyfikowanych materiałów odniesienia oraz wykonywanie ekspertyz ID Obiektu M1-1 Dziedzina Długość Subdziedzina Promieniowania Mise en Pratique Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi Promieniowania laserów Laser stabilizowany mise en pratique zdudnianie optyczne częstotliwości (laser He-Ne stabilizowany jodem) W długość fali w próżni, częstotliwość 633 nm 474 THz 0,04 fm; 24 kHz TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M11 2210,00 W długość fali w próżni, częstotliwość 633 nm 474 THz 0,02 fm; 11 kHz TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M11 2470,00 W długość fali w próżni, częstotliwość (525 ÷ 1070) nm (280 ÷ 571) THz 1E-09 TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M11 2210,00 W błąd wskazanego przemieszczenia (0 ÷ 30) m Q[0,08; 0,06L] µm; Lwm TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M11 1105,00 W kompensacja długości fali 1,00000209 ÷ 1,00027601 1,5E-07n TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M11 780,00 M1-2 Długość Promieniowania Mise en Pratique Promieniowania laserów Laser stabilizowany mise en pratique zdudnianie optyczne częstotliwości (syntezer częstotliwości optycznych) M1-3 Długość Promieniowania Mise en Pratique Promieniowania laserów Inny laser stabilizowany zdudnianie optyczne częstotliwości (Laserowy, do pomiaru długości) interferometr Przyrządy do pomiaru (system) długości z wzorcowym interferometrem laserowym (Laserowy, do pomiaru długości) interferometr (refraktometr) Przyrządy do pomiaru z wzorcowym długości barometrem, higrometrem i miernikiem temperatury Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za M1-4 Długość Wymiary liniowe M1-5 Długość Wymiary liniowe M1-6 Długość Wymiary liniowe Przyrząd EDM Przyrządy do pomiaru (dalmierz laserowy) długości - z interferometrem laserowym W błąd wskazanej odległości (1 ÷ 50) m 0,7 mm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M11 cena za 1 odcinek pomiarowy; za każdy 195,00 kolejny odcinek pomiarowy 0,5 × stawka za 1 rbg M1-7 Długość Wymiary liniowe Maszyna pomiarowa 1-D do pomiaru Przyrządy do pomiaru długości długości - z interferometrem laserowym W błąd wskazanego [wymiaru; przemieszczenia] (0 ÷ 6) m Q[0,3; 1L] µm; Lwm TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) P M11 do podanej ceny 2600,00 należy doliczyć koszty delegacji M1-8 Długość Wymiary liniowe Komparator do wzorcowania płytek Przyrządy do pomiaru wzorcowych długości z kontrolnymi płytkami wzorcowymi W błąd wskazanego przemieszczenia ± 15 µm 21 nm TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) P M11 do podanej ceny 1300,00 należy doliczyć koszty delegacji M1-9 Długość Wymiary liniowe Wzorce końcowe Komplet płytek wzorcowych interferencyjnie (reszty ułamkowe, lampa Cd) W długość środkowa (0,5 ÷ 100) mm Q[34; 0,44L] nm; L w mm TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M11 Strona 1 130,00 cena za 1 szt. płytki wzorcowej ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis M1-10 Długość Wymiary liniowe Wzorce końcowe M1-11 Długość Wymiary liniowe Wzorce końcowe M1-12 Długość Wymiary liniowe Wzorce końcowe M1-13 Długość Wymiary liniowe Wzorce końcowe M1-14 Długość Wymiary liniowe Wzorce końcowe M1-15 Długość Wymiary liniowe Wzorce końcowe M1-16 Długość Wymiary liniowe Wzorce końcowe M1-17 Długość Wymiary liniowe Wzorce końcowe M1-18 Długość Wymiary liniowe Wzorce końcowe M1-19 Długość Wymiary liniowe Wzorce końcowe M1-20 Długość Wymiary liniowe Wzorce końcowe M1-21 Długość Wymiary liniowe Wzorce końcowe M1-22 Długość Wymiary liniowe Wzorce końcowe Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Komplet płytek wzorcowych interferencyjnie (reszty ułamkowe, lasery) Komplet płytek wzorcowych (parametry do określenia klasy dokładności) Kompet płytek wzorcowych z komparatorem dwuczujnikowym Komplet długich płytek wzorcowych interferencyjnie, bezdotykowo Komplet długich płytek wzorcowych interferencyjnie, dotykowo w pozycji poziomej (z płytką 10 mm) Komplet długich płytek wzorcowych porównawczo, dotykowo w pozycji poziomej Komplet długich płytek wzorcowych (parametry do określenia klasy dokładności) Wzorzec nastawczy do mikrometrów interferencyjnie, dotykowo w pozycji poziomej (z płytką 10 mm) Wzorzec schodkowy za pomocą maszyny WMP Wzorzec schodkowy za pomocą maszyny WMP Wzorzec schodkowy za pomocą maszyny WMP Wzorzec schodkowy za pomocą maszyny WMP Wzorzec schodkowy za pomocą maszyny WMP M1-23 Długość Wymiary liniowe Wzorce kreskowe Wzorzec kreskowy dokładny z interferometrem laserowym M1-24 Długość Wymiary liniowe Wzorce kreskowe Wzorzec kreskowy mikroskopowy z interferometrem laserowym Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi W długość środkowa (0,5 ÷ 305) mm Q[21; 0,2L] nm; L w mm TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M11 130,00 cena za 1 szt. płytki wzorcowej W zmienność długości, odchylenie od płaskości (0 ÷ 350) nm, (0 ÷ 5,7) µm 19 nm; 17 nm NIE PTB, GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G dla płytek wzorcowych o długości M11 (0,5 ÷ 100) mm 130,00 cena za 1 szt. płytki wzorcowej W długość środkowa (0,5 ÷ 100) mm Q[49; 0,6L] nm; L w mm TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M11 26,00 cena za 1 szt. płytki wzorcowej W długość środkowa (125 ÷ 500) mm Q[0,05; 0,47L] µm; Lwm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M11 650,00 cena za 1 szt. długiej płytki wzorcowej W długość środkowa (125 ÷ 3000) mm Q[112; 0,59L] nm; L w mm TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M11 650,00 cena za 1 szt. długiej płytki wzorcowej W długość środkowa (125 ÷ 1000) mm Q[119; 0,39L] nm; L w mm TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M11 650,00 cena za 1 szt. długiej płytki wzorcowej W zmienność długości, odchylenie od płaskości (0 ÷ 600) nm, (0 ÷ 5,7) µm 19 nm; 17 nm NIE PTB, GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G dla płytek wzorcowych o długości M11 (125 ÷ 500) mm 130,00 cena za 1 szt. długiej płytki wzorcowej W długość środkowa (125 ÷ 3000) mm Q[112; 0,59L] nm; L w mm TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M11 455,00 W odległość powierzchni (0 ÷ 300) mm Q[0,5; 0,9L] µm; Lwm TAK G M13 cena za wzorzec 650,00 chodkowy do 300 mm; W odległość powierzchni (301 ÷ 400) mm Q[0,5; 0,9L] µm; Lwm TAK G M13 877,50 W odległość powierzchni (401 ÷ 500) mm Q[0,5; 0,9L] µm; Lwm TAK G M13 1105,00 W odległość powierzchni (501 ÷ 600) mm Q[0,5; 0,9L] µm; Lwm TAK G M13 1332,50 W odległość powierzchni (601 ÷ 700) mm Q[0,5; 0,9L] µm; Lwm TAK G M13 1560,00 W odległość kresek (1 ÷ 500) mm Q[198; 0,41L] nm; L w mm W odległość kresek (0,01 ÷ 10) mm 268 nm Strona 2 GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M11 cena za 10 odcinków pomiarowych; za 650,00 każdy kolejny odcinek pomiarowy 0,1 × stawka za 1 rbg TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M11 cena za 10 odcinków pomiarowych; za 390,00 każdy kolejny odcinek pomiarowy 0,1 × stawka za 1 rbg ID Obiektu M1-25 Dziedzina Długość Subdziedzina Wymiary liniowe Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorce kreskowe Przymiar wstęgowy - z interferometrem laserowym W W Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) (0,5 + 5000) mm Q[20; 5,0L] µm; Lwm TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) (0 ÷ 50) m Q[20; 5,5L] µm; Lwm odległość kresek odległość kresek CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi M11 cena za 1 odcinek pomiarowy; za każdy 273,00 kolejny odcinek pomiarowy 0,1 × stawka za 1 rbg G M11 cena za 1 odcinek pomiarowy; za każdy 143,00 kolejny odcinek pomiarowy 0,1 × stawka za 1 rbg G M1-26 Długość Wymiary liniowe Wzorce kreskowe Przymiar sztywny z interferometrem laserowym M1-27 Długość Wymiary liniowe Wzorce kreskowe Przymiar półsztywny z interferometrem laserowym W odległość kresek (0,5 + 5000) mm Q[20; 5,0L] µm; Lwm TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M11 cena za 1 odcinek pomiarowy; za każdy 143,00 kolejny odcinek pomiarowy 0,1 × stawka za 1 rbg M1-28 Długość Wymiary liniowe Wzorce kreskowe Przymiar półsztywny do pomiaru średnicy i obwodu z interferometrem laserowym W odległość kresek (0,5 + 5000) mm Q[20; 5,0L] µm; Lwm TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M11 cena za 1 odcinek pomiarowy; za każdy 143,00 kolejny odcinek pomiarowy 0,1 × stawka za 1 rbg M1-29 Długość Wymiary liniowe Wzorce średnicy W średnica (10 ÷ 100) mm Q[0,4; 4,0L] µm, Lwm TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M13 260,00 M1-30 Długość Wymiary liniowe Wzorce średnicy W średnica (0 ÷ 100) mm 0,7 µm TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G wysokość walca do 700 mm M13 169,00 M1-31 Długość Wymiary liniowe Wzorce średnicy W średnica (101 ÷ 200) mm 0,7 µm TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G wysokość walca do 700 mm M13 234,00 M1-32 Długość Wymiary liniowe Wzorce średnicy W średnica (201 ÷ 300) mm 0,7 µm TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G wysokość walca do 700 mm M13 299,00 M1-33 Długość Wymiary liniowe Wzorce średnicy W średnica (301 ÷ 400) mm 0,7 µm TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G wysokość walca do 700 mm M13 364,00 M1-34 Długość Wymiary liniowe Wzorce średnicy W średnica (401 ÷ 500) mm 0,7 µm TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G wysokość walca do 700 mm M13 429,00 M1-35 Długość Wymiary liniowe Wzorce średnicy W średnica (10 ÷ 200) mm Q[0,4; 3,2L] µm; Lwm TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M13 273,00 M1-36 Długość Wymiary liniowe Wzorce średnicy W średnica (0 ÷ 100) mm 0,5 µm TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M13 182,00 M1-37 Długość Wymiary liniowe Wzorce średnicy W średnica (101 ÷ 200) mm 0,5 µm TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M13 234,00 Walec zewnętrzny (tłoczek, trzpień, wałeczek, drut) - za pomocą maszyny 1-D Walec zewnętrzny (tłoczek, trzpień, wałeczek, drut) - za pomocą maszyny WMP Walec zewnętrzny (tłoczek, trzpień, wałeczek, drut) - za pomocą maszyny WMP Walec zewnętrzny (tłoczek, trzpień, wałeczek, drut) - za pomocą maszyny WMP Walec zewnętrzny (tłoczek, trzpień, wałeczek, drut) - za pomocą maszyny WMP Walec zewnętrzny (tłoczek, trzpień, wałeczek, drut) - za pomocą maszyny WMP Walec wewnętrzny (pierścień) - za pomocą maszyny 1-D Walec wewnętrzny (pierścień) - za pomocą maszyny WMP Walec wewnętrzny (pierścień) - za pomocą maszyny WMP Strona 3 ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Walec wewnętrzny (pierścień) - za pomocą maszyny WMP Walec wewnętrzny (pierścień) - za pomocą maszyny WMP Walec wewnętrzny (pierścień) - za pomocą maszyny WMP Sfera (kula) - za pomocą maszyny WMP Sfera (kula) - za pomocą maszyny WMP Sfera (kula) - za pomocą maszyny WMP Sfera (kula) - za pomocą maszyny WMP Sfera (kula) - za pomocą maszyny WMP Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi W średnica (201 ÷ 300) mm 0,5 µm TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M13 286,00 W średnica (301 ÷ 400) mm 0,5 µm TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M13 338,00 W średnica (401 ÷ 500) mm 0,5 µm TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M13 390,00 W średnica (0 ÷ 100) mm 0,5 µm TAK G M13 182,00 W średnica (101 ÷ 200) mm 0,5 µm NIE G M13 234,00 W średnica (201 ÷ 300) mm 0,5 µm NIE G M13 286,00 W średnica (301 ÷ 400) mm 0,5 µm NIE G M13 338,00 W średnica (401 ÷ 500) mm 0,5 µm NIE G M13 390,00 Pryzma wielościenna porównawcza – za pomocą goniometru W kąt między powierzchniami pomiarowymi 360º, co 30° 1,4" NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M12 520,00 Podziałki kątowe Pryzma wielościenna za pomocą autokolimatora i precyzyjnego stołu W kąt między powierzchniami pomiarowymi 360º, co 45° ≥ 0,07" TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M12 780,00 Kąt Podziałki kątowe Pryzma wielościenna za pomocą autokolimatora i precyzyjnego stołu W kąt między powierzchniami pomiarowymi 360º, co 30° ≥ 0,07" TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M12 1040,00 Długość Kąt Podziałki kątowe Pryzma wielościenna za pomocą autokolimatora i precyzyjnego stołu W kąt między powierzchniami pomiarowymi 360º, co 15° ≥ 0,07" TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M12 1820,00 M1-50 Długość Kąt Podziałki kątowe Pryzma wielościenna za pomocą autokolimatora i precyzyjnego stołu W kąt między powierzchniami pomiarowymi 360º, co 10° ≥ 0,07" TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M12 2600,00 M1-51 Długość Kąt Podziałki kątowe Pryzma wielościenna za pomocą autokolimatora i precyzyjnego stołu W kąt między powierzchniami pomiarowymi 360º, co 5° ≥ 0,07" TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M12 3640,00 M1-52 Długość Kąt Podziałki kątowe Pryzma wielościenna za pomocą autokolimatora i precyzyjnego stołu W błąd piramidalności dla pryzm o max liczbie ścian 72 0,82" NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M12 156,00 M1-53 Długość Kąt Podziałki kątowe Stół podziałowy z pryzmą wielościenną W kąt podziału (błąd wskazywanego kąta podziału) 360º, co 15° 1,1" NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M12 520,00 M1-54 Długość Kąt Podziałki kątowe Głowica podziałowa z pryzmą wielościenną W kąt podziału (błąd wskazywanego kąta podziału) 360º, co 15° 1,1" NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G, P M12 520,00 M1-38 Długość Wymiary liniowe Wzorce średnicy M1-39 Długość Wymiary liniowe Wzorce średnicy M1-40 Długość Wymiary liniowe Wzorce średnicy M1-41 Długość Wymiary liniowe Wzorce średnicy M1-42 Długość Wymiary liniowe Wzorce średnicy M1-43 Długość Wymiary liniowe Wzorce średnicy M1-44 Długość Wymiary liniowe Wzorce średnicy M1-45 Długość Wymiary liniowe Wzorce średnicy M1-46 Długość Kąt Podziałki kątowe M1-47 Długość Kąt M1-48 Długość M1-49 Strona 4 GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za przy wzorcowaniu poza siedzibą GUM do ceny dolicza się koszt delegacji. ID Obiektu M1-55 M1-56 M1-57 Dziedzina Długość Długość Długość Subdziedzina Kąt Kąt Kąt M1-58 Długość Kąt M1-59 Długość Kąt M1-60 Długość Kąt M1-61 Długość Kąt M1-62 Długość Kąt M1-63 Długość Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Podziałki kątowe Goniometr z pryzmą wielościenną Podziałki kątowe Stół obrotowy, obrotowa kodowana podziałka kątowa z pryzmą wielościenną Podziałki kątowe Stół obrotowy, obrotowa kodowana podziałka kątowa z pryzmą wielościenną Podziałki kątowe Stół obrotowy, obrotowa kodowana podziałka kątowa z pryzmą wielościenną Autokolimator - za Przyrządy do pomiaru pomocą generatora kąta małych kątów Autokolimator - za Przyrządy do pomiaru pomocą generatora kąta małych kątów Poziomnica Przyrządy do pomiaru elektroniczna - za kąta pomocą generatora małych kątów Poziomnica Przyrządy do pomiaru elektroniczna - za kąta pomocą generatora małych kątów Kąt Poziomnica Przyrządy do pomiaru elektroniczna - za kąta pomocą optycznej głowicy podziałowej W W W Wzorcowanie wielkość mierzona kąt podziału (błąd wskazywanego kąta podziału) kąt ustawienia kąt ustawienia W kąt ustawienia W Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda 360º, co 15° co 360° 360°, co 15° 1,1" 1,1" NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi M12 przy wzorcowaniu poza siedzibą GUM 520,00 do ceny dolicza się koszt delegacji. G, P Poza siedzibą GUM wzorcowane są przetworniki wbudowane w stacjonarny układ pomiarowy. M12 325,00 przy wzorcowaniu poza siedzibą GUM do ceny dolicza się koszt delegacji. G, P Poza siedzibą GUM wzorcowane są przetworniki wbudowane w stacjonarny układ pomiarowy. M12 520,00 przy wzorcowaniu poza siedzibą GUM do ceny dolicza się koszt delegacji. G, P Poza siedzibą GUM wzorcowane są przetworniki wbudowane w stacjonarny układ pomiarowy. M12 715,00 przy wzorcowaniu poza siedzibą GUM do ceny dolicza się koszt delegacji. G M12 520,00 wzorcowanie w 1 osi G M12 871,00 390,00 P 1,1" TAK błąd wskazywanego kąta (0 ÷ 40)' 0,3" TAK W błąd wskazywanego kąta (0 ÷ 40)' 0,3" TAK W błąd wskazywanego kąta (0 ÷ 40)' nachylenia zależna od rozdzielczości poziomnicy (≥ 0,3") TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M12 W błąd wskazywanego kąta (0 ÷ 40)' nachylenia zależna od rozdzielczości poziomnicy (≥ 0,3") TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M12 G wzorcowanie poziomnicy w trzech punktach pomiarowych, dla obu kierunków pochylenia; M12 przy jednej rozdzielczości (sześć punktów pomiarowych) za każdy dodatkowy punkt pomiarowy dolicza się 0,1 rbg pomnożone przez stawkę godzinową; za 325,00 każdą dodatkową rozdzielczość dolicza się 1,8 rbg pomnożone przez stawkę godzinową G wzorcowanie poziomnicy w sześciu punktach pomiarowych, dla każdej "ćwiartki" (24 punkty pomiarowe) M12 za każdy dodatkowy punkt pomiarowy 429,00 dolicza się 0,1 rbg pomnożone przez stawkę godzinową W 360°, co 10° 0,5" CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) błąd wskazywanego kąta ± 45º nachylenia zależna od rozdzielczości poziomnicy NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) wzorcowanie w jednym zakresie pomiarowym jednej głowicy wzorcowanie w dwóch zakresach pomiarowych lub 611,00 wzorcowanie poziomnicy dwugłowicowej M1-64 Długość Kąt Poziomnica Przyrządy do pomiaru elektroniczna - za kąta pomocą optycznej głowicy podziałowej M1-65 Długość Kąt Pochyłomierz - za Przyrządy do pomiaru pomocą optycznej kąta głowicy podziałowej W błąd wskazywanego kąta 360º nachylenia zależny od rozdzielczości pochyłomierza NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M12 260,00 M1-66 Długość Kąt Pochyłomierz - za Przyrządy do pomiaru pomocą wzorcowej kąta powierzchni poziomej W błąd wskazania zerowego kąta nachylenia 0,5 × a (a - rozdzielczość pochyłomierza) NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M12 65,00 W błąd wskazywanego kąta 360° (4 × 90°) nachylenia zależna od rozdzielczości poziomnicy NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) ± 10 mm/m Strona 5 wzorcowanie w 2 osiach ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi M1-67 Długość Kąt Optyczna poziomnica Przyrządy do pomiaru kątowa - za pomocą kąta optycznej głowicy podziałowej W błąd wskazywanego kąta 360º nachylenia 10,6" NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M12 260,00 M1-68 Długość Kąt Optyczna poziomnica Przyrządy do pomiaru kątowa - za pomocą kąta wzorcowej powierzchni poziomej W błąd wskazania zerowego kąta nachylenia 0,2 dz. el. NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M12 26,00 M1-69 Długość Kąt Optyczna poziomnica Przyrządy do pomiaru kątowa - za pomocą kąta płytek wzorcowych W odchylenie od płaskości ± 10 µm powierzchni pomiarowych 1,5 µm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M12 52,00 M1-70 Długość Kąt Poziomnica Przyrządy do pomiaru koincydencyjna - za kąta pomocą optycznej głowicy podziałowej W błąd wskazywanego kąta 360º nachylenia 0,025 mm/m NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M12 182,00 M1-71 Długość Kąt Poziomnica Przyrządy do pomiaru koincydencyjna - za kąta pomocą wzorcowej powierzchni poziomej W błąd wskazania zerowego kąta nachylenia 0,2 dz. el. NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M12 26,00 M1-72 Długość Kąt Poziomnica Przyrządy do pomiaru koincydencyjna - za kąta pomocą płytek wzorcowych W odchylenie od płaskości ± 10 µm powierzchni pomiarowych 1,5 µm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M12 52,00 M1-73 Długość Kąt Wzorce kąta Płytka kątowa - za pomocą goniometru W kąt [wewnętrzny, zewnętrzny] 180º 2,2" TAK M1-74 Długość Kąt Wzorce kąta Płytka kątowa - za pomocą goniometru W kąt [wewnętrzny, zewnętrzny] 180º 2,2" TAK M1-75 Długość Kąt Wzorce kąta Płytka kątowa - za pomocą goniometru W kąt [wewnętrzny, zewnętrzny] 180º 2,2" TAK M1-76 Długość Kąt Wzorce kąta Płytka kątowa - za pomocą goniometru W kąt [wewnętrzny, zewnętrzny] 180º 2,2" TAK M1-77 Długość Kąt Wzorce kąta Płytka kątowa - za pomocą goniometru W kąt [wewnętrzny, zewnętrzny] 180º 2,2" TAK M1-78 Długość Kąt Wzorce kąta Płytka kątowa - za pomocą goniometru W kąt [wewnętrzny, zewnętrzny] 180º 2,2" TAK M1-79 Długość Kąt Wzorce kąta Płytka kątowa - za pomocą goniometru W kąt [wewnętrzny, zewnętrzny] 180º 2,2" TAK M1-80 Długość Kąt Wzorce kąta Płytka kątowa - za pomocą goniometru W kąt [wewnętrzny, zewnętrzny] 180º 2,2" TAK M1-81 Długość Kąt Wzorce kąta Płytka kątowa - za pomocą goniometru W kąt [wewnętrzny, zewnętrzny] 180º 2,2" TAK M1-82 Długość Kąt Wzorce kąta Płytka kątowa - za pomocą goniometru W kąt [wewnętrzny, zewnętrzny] 180º 2,2" TAK W kąt [wewnętrzny, zewnętrzny] 360º 0,08" NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G dla płytek o zwierciadlanych powierzchniach W prostopadłość (0 ÷ 180)º 0,5" TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M1-83 Długość Kąt Wzorce kąta M1-84 Długość Kąt Wzorce kąta Płytka kątowa - za pomocą autokolimatora i precyzyjnego stołu obrotowego Kątownik 90° (stalowy, granitowy, z ramieniem) - za pomocą maszyny WMP ± 10 mm/m ± 10 mm/m Strona 6 GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G G G G G G G G G G Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za dla płytek o zwierciadlanych powierzchniach dla płytek o zwierciadlanych powierzchniach dla płytek o zwierciadlanych powierzchniach dla płytek o zwierciadlanych powierzchniach dla płytek o zwierciadlanych powierzchniach dla płytek o zwierciadlanych powierzchniach dla płytek o zwierciadlanych powierzchniach dla płytek o zwierciadlanych powierzchniach dla płytek o zwierciadlanych powierzchniach dla płytek o zwierciadlanych powierzchniach M12 M12 M12 Płytka jednokątowa 13,00 Johanssona lub Kusznikowa Płytka dwukątowa 26,00 Johanssona lub Kusznikowa Płytka czterokątowa 52,00 Johanssona lub Kusznikowa M12 1510,60 Komplet 49 sztuk, typu Johanssona M12 2446,60 Komplet 85 sztuk, typu Johanssona M12 562,00 Komplet 36 sztuk, typu Kusznikowa M12 1420,00 Komplet 93 sztuk, typu Kusznikowa M12 32,50 Płytka jednokątowa przywieralna M12 97,50 Płytka trzykątowa przywieralna M12 130,00 Płytka czterokątowa przywieralna M12 260,00 Cena dotyczy wyznaczenia wartości jednego kąta pomiarowego max. wymiar ramienia M13 kątownika 100 mm 234,00 ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi (0 ÷ 180)º 0,5" TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G max. wymiary kątownika od 100 do 200 mm M13 338,00 W prostopadłość (0 ÷ 180)º 0,5" TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G max. wymiary kątownika od 200 do 300 mm M13 442,00 W prostopadłość (0 ÷ 180)º 0,5" TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G max. wymiary kątownika od 300 do 400 mm M13 546,00 W prostopadłość (0 ÷ 180)º 0,5" TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G max. wymiary kątownika od 400 do 500 mm M13 650,00 W prostopadłość (0 ÷ 180)º 0,5" TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G max. wymiary kątownika od 500 do 600 mm M13 jedno z ramion 754,00 kątownika nie może przekraczać 500 mm W prostopadłość (0 ÷ 180)º 0,5" TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G max. wymiary kątownika od 600 do 700 mm M13 jedno z ramion 858,00 kątownika nie może przekraczać 500 mm Wzorce kąta Kątownik 90° (stalowy, granitowy, z ramieniem) - za pomocą maszyny WMP W prostoliniowość (0 ÷ 500) µm 0,5 µm TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G max. wymiary kątownika (700 x 500) mm M13 234,00 w przypadku pomiaru prostopadłości opłata za prostoliniowość nie jest pobierana W płaskość (0 ÷ 500) µm 0,5 µm TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G max. wymiary kątownika (700 x 500) mm M13 169,00 w przypadku pomiaru prostopadłości opłata za płaskość nie jest pobierana Kąt Wzorce kąta M1-86 Długość Kąt Wzorce kąta M1-87 Długość Kąt Wzorce kąta M1-88 Długość Kąt Wzorce kąta M1-89 Długość Kąt Wzorce kąta M1-90 Długość Kąt Wzorce kąta Kąt Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda prostopadłość Długość Długość Kątownik 90° (stalowy, granitowy, z ramieniem) - za pomocą maszyny WMP Kątownik 90° (stalowy, granitowy, z ramieniem) - za pomocą maszyny WMP Kątownik 90° (stalowy, granitowy, z ramieniem) - za pomocą maszyny WMP Kątownik 90° (stalowy, granitowy, z ramieniem) - za pomocą maszyny WMP Kątownik 90° (stalowy, granitowy, z ramieniem) - za pomocą maszyny WMP Kątownik 90° (stalowy, granitowy, z ramieniem) - za pomocą maszyny WMP Wzorcowanie wielkość mierzona W M1-85 M1-91 Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi M1-92 Długość Kąt Wzorce kąta Kątownik 90° (stalowy, granitowy, z ramieniem) - za pomocą maszyny WMP M1-93 Długość Kąt Wzorce kąta Kątownik 90° walcowy za pomocą maszyny WMP W prostopadłość (0 ÷ 180)º 0,5" TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G wysokość kątownika (0 ÷ 100) mm M13 364,00 M1-94 Długość Kąt Wzorce kąta Kątownik 90° walcowy za pomocą maszyny WMP W prostopadłość (0 ÷ 180)º 0,5" TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G wysokość kątownika (101 ÷ 200) mm M13 416,00 M1-95 Długość Kąt Wzorce kąta Kątownik 90° walcowy za pomocą maszyny WMP W prostopadłość (0 ÷ 180)º 0,5" TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G wysokość kątownika (201 ÷ 300) mm M13 468,00 M1-96 Długość Kąt Wzorce kąta Kątownik 90° walcowy za pomocą maszyny WMP W prostopadłość (0 ÷ 180)º 0,5" TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G wysokość kątownika (301 ÷ 400) mm M13 520,00 M1-97 Długość Kąt Wzorce kąta Kątownik 90° walcowy za pomocą maszyny WMP W prostopadłość (0 ÷ 180)º 0,5" TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G wysokość kątownika (401 ÷ 500) mm M13 572,00 M1-98 Długość Kąt Wzorce kąta Kątownik 90° walcowy za pomocą maszyny WMP W prostopadłość (0 ÷ 180)º 0,5" TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G wysokość kątownika (501 ÷ 600) mm M13 624,00 M1-99 Długość Kąt Wzorce kąta Kątownik 90° walcowy za pomocą maszyny WMP W prostopadłość (0 ÷ 180)º 0,5" TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G wysokość kątownika (601 ÷ 700) mm M13 676,00 Strona 7 ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi M1-100 Długość Kąt Wzorce kąta Kątownik 90° walcowy za pomocą maszyny WMP W prostoliniowość (0 ÷ 500) µm 0,5 µm TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G wysokość kątownika do 700 mm M13 299,00 w przypadku pomiaru prostopadłości opłata za prostoliniowość nie jest pobierana M1-101 Długość Kąt Wzorce kąta Kątownik 90° walcowy za pomocą maszyny WMP W płaskość (0 ÷ 500) µm 0,5 µm TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G wysokość kątownika do 700 mm M13 234,00 w przypadku pomiaru prostopadłości opłata za płaskość nie jest pobierana M1-102 Długość Kąt Wzorce kąta W kąt stożka (0 ÷ 180)º 2,2" TAK G wysokość stożka (0 ÷ 50) mm M13 234,00 M1-103 Długość Kąt Wzorce kąta W kąt stożka (0 ÷ 180)º 2,2" TAK G wysokość stożka (51 ÷ 100) mm M13 312,00 M1-104 Długość Kąt Wzorce kąta W kąt stożka (0 ÷ 180)º 2,2" TAK G wysokość stożka (101 ÷ 150) mm M13 390,00 M1-105 Długość Kąt Wzorce kąta W kąt stożka (0 ÷ 180)º 2,2" TAK G wysokość stożka (151 ÷ 200) mm M13 468,00 M1-106 Długość Kąt Wzorce kąta W kąt stożka (0 ÷ 180)º 2,2" TAK G wysokość stożka (201 ÷ 250) mm M13 546,00 G wysokość stożka h < 250 mm M13 cena za wzorzec stożka o wysokości do 169,00 50 mm; za każde kolejne 50 mm 0,6 × stawka za 1 rbg dla obiektu o średnicy do 150 mm M13 usługa dotyczy również 260,00 płaskorównoległych płytek interferencyjnych M1-107 Długość Kąt Wzorzec stożka - za pomocą maszyny WMP Wzorzec stożka - za pomocą maszyny WMP Wzorzec stożka - za pomocą maszyny WMP Wzorzec stożka - za pomocą maszyny WMP Wzorzec stożka - za pomocą maszyny WMP GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) Wzorce kąta Wzorzec stożka - za pomocą maszyny WMP W płaskość (0 ÷ 5,7) µm 16 nm NIE PTB G W średnica Ф do 500 mm 0,5 µm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) M1-108 Długość Kształt Wzorce płaskości Płaska płytka interferencyjna - za pomocą interferometru laserowego M1-109 Długość Kształt Wzorce płaskości Płytka interferencyjna płaskorównoległa - za pomocą optimetru projekcyjnego W odchylenie od równoległości (0 ÷ 20) µm 0,3 µm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M13 117,00 M1-110 Długość Kształt Wzorce płaskości Płytka interferencyjna płaskorównoległa - za pomocą optimetru projekcyjnego W błąd wskazywanego wymiaru (15 ÷ 65,37) mm 0,3 µm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M13 65,00 Płyta pomiarowa - za pomocą autokolimatora TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) M1-111 Długość Kształt Wzorce płaskości M1-112 Długość Kształt Wzorce płaskości M1-113 Długość Kształt Wzorce płaskości M1-114 Długość Kształt Wzorce płaskości M1-115 Długość Kształt Wzorce płaskości Płyta pomiarowa - za pomocą maszyny WMP Płyta pomiarowa - za pomocą maszyny WMP Płyta pomiarowa - za pomocą maszyny WMP Płyta pomiarowa - za pomocą maszyny WMP W płaskość do 70 µm Q[0,5; 0,5L] µm; wm W płaskość przekątna do 300 mm 0,5 µm NIE W płaskość przekątna od 301 mm do 0,5 µm 400 mm NIE W płaskość przekątna od 401 mm do 0,5 µm 500 mm NIE W płaskość przekątna od 501 mm do 0,5 µm 600 mm NIE Strona 8 L GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G, P G G G G Poza GUM wzorcuje się płyty długość płyty do 2500 o wymiarach M13 mm większych niż (630 x 400) mm wymiary płyty nie mogą przekraczać (500 x 700) mm wymiary płyty nie mogą przekraczać (500 x 700) mm wymiary płyty nie mogą przekraczać (500 x 700) mm wymiary płyty nie mogą przekraczać (500 x 700) mm cena za płytę pomiarową o przekątnej do 500 780,00 mm; za każde kolejne 500 mm 0,8 × stawka za 1 rbg M13 325,00 max (0 x 500) µm M13 377,00 max (0 x 500) µm M13 429,00 max (0 x 500) µm M13 481,00 max (0 x 500) µm ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis W płaskość przekątna od 701 mm do 0,5 µm 800 mm NIE W płaskość przekątna od 801 mm do 0,5 µm 900 mm NIE Walec zewnętrzny - za pomocą przyrządu do pomiaru okrągłości W okrągłość ± 200 µm 0,1 µm TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G Wzorce okrągłości Walec wewnętrzny za pomocą przyrządu do pomiaru okrągłości W okrągłość ± 200 µm 0,1 µm TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G Wzorce okrągłości Sfera (półkula) - za pomocą przyrządu do pomiaru okrągłości W okrągłość do 0,1 µm 0,04 µm TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) Wzorce okrągłości Wzorzec powiększenia (np. wałek ze ścięciem) za pomocą profilometru W okrągłość do 300 µm 0,25 µm TAK PTB Kształt Wzorce prostoliniowości Liniał powierzchniowy za pomocą autokolimatora TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) Wzorzec prostoliniowości walcowy W prostoliniowość (0 x 500) µm 0,6 µm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G Liniał krawędziowy za pomocą profilometru W prostoliniowość do 3 µm 0,3 µm dla L = 50 mm i 0,5 µm dla L = 200 mm NIE PTB G W wysokość schodka lub głębokość nierówności od 0,03 do 1 µm Q[10; 2d] nm; d w µm TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) W wysokość schodka lub głębokość nierówności od 0,1 do 100 µm Q[30; 0,5d] nm; d w µm TAK 0,08 µm M1-117 Długość Kształt Wzorce płaskości M1-118 Długość Kształt Wzorce płaskości M1-119 Długość Kształt Wzorce okrągłości M1-120 Długość Kształt M1-121 Długość Kształt Kształt M1-124 Długość Kształt Wzorce prostoliniowości M1-125 Długość Kształt Wzorce prostoliniowości Wzorzec głębokości (nierówności) lub wysokości schodka (np. ISO 5436-1 typ A) - za pomocą mikrointerferometru Wzorzec głębokości (nierówności) lub wysokości schodka (np. ISO 5436-1 typ A) - za pomocą profilometru W płaskość lub prostoliniowość do 40 µm 0,5 µm M1-126 Długość Geometria złożona Wzorce struktury geometrycznej powierzchni M1-127 Długość Geometria złożona Wzorce struktury geometrycznej powierzchni Geometria złożona Wzorce struktury geometrycznej powierzchni Wzorzec do sprawdzania stanu ostrza (np. ISO 5436-1 typ B) - za pomocą profilometru W stosunek wartości parametru Ra (dla dwóch od 0,5 do 1,5 µm powierzchni) Geometria złożona Wzorce struktury geometrycznej powierzchni Wzorzec do sprawdzania stanu ostrza (np. ISO 5436-1 typ B) - za pomocą mikrointerferometru W wysokość nierówności h głębokość lub szerokość do 1 µm, szerokość 30 nm (nierówności) nierówności S od 5 µm do 20 µm M1-128 M1-129 Długość Długość GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) NIE Wzorce płaskości Długość CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) przekątna od 601 mm do 0,5 µm 700 mm Kształt M1-123 Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda płaskość Długość Długość Płyta pomiarowa - za pomocą maszyny WMP Płyta pomiarowa - za pomocą maszyny WMP Płyta pomiarowa - za pomocą maszyny WMP Wzorcowanie wielkość mierzona W M1-116 M1-122 Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Strona 9 G Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi wymiary płyty nie mogą przekraczać (500 x 700) mm wymiary płyty nie mogą przekraczać (500 x 700) mm wymiary płyty nie mogą przekraczać (500 x 700) mm średnica do 150 mm; wysokość do 300 µm M13 533,00 max (0 x 500) µm M13 585,00 max (0 x 500) µm M13 637,00 max (0 x 500) µm M13 221,00 M13 221,00 G M13 650,00 G M13 585,00 M13 cena za liniał powierzchniowy o długości do 200 mm; 403,00 za każde kolejne 100 mm 0,2 × stawka za 1 rbg M13 cena za kątownik o wysokości do 200 299,00 mm; za każde kolejne 100 mm 0,6 × stawka za 1 rbg. M13 416,00 G M13 650,00 PTB G M13 650,00 NIE PTB G M13 325,00 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M13 390,00 G G G, P średnica (5 ÷ 150) mm Poza GUM wzorcuje się długość liniału L do liniały o długości 1000 mm większych niż 1500 mm. długość L od 50 do 200 mm ID Obiektu M1-130 Dziedzina Długość Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi Geometria złożona Wzorce struktury geometrycznej powierzchni Wzorzec geometryczny (odstępów) (np. ISO 5436-1 typ C) - za pomocą profilometru W parametry amplitudy Ra, Rq od 0,05 do 30 µm; Rp, Rv, Rz, Rt (wg PN-EN ISO 4287) Q[15; 25Ra] nm; Ra w µm, Q[40; 50Rp] nm; Rp w µm; TAK PTB G M13 650,00 Wzorzec geometryczny (odstępów) (np. ISO 5436-1 typ C) - za pomocą mikrointerferometru W parametry amplitudy Ra do 0,1 µm 4 nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M13 455,00 M1-131 Długość Geometria złożona Wzorce struktury geometrycznej powierzchni M1-132 Długość Geometria złożona Wzorce struktury geometrycznej powierzchni Wzorzec geometryczny (odstępów) (np. ISO 5436-1 typ C) - za pomocą profilometru W parametr długości fali RSm do 500 µm 0,3 µm NIE PTB G M13 260,00 Wzorzec geometryczny (odstępów) (np. ISO 5436-1 typ C) - za pomocą mikrointerferometru W parametr długości fali RSm do 80 µm 4 nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M13 260,00 Wzorzec chropowatości (np. ISO 5436-1 typ D) W Ra, Rq od 0,05 do parametry chropowatości 30 µm; Rp, Rv, Rz, Rt ISO (wg PN-EN ISO 4287) Q[15; 30Ra] nm; Ra w µm, Q[40; 80 Rp] nm; Rp w µm TAK PTB G M13 650,00 W okrągłość (0 ÷ 200) µm 0,04 µm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M13 455,00 W parametr chropowatości Pt (0 ÷ 400) µm 3% NIE PTB G M13 260,00 W współrzędne środków kul max (500 x 500) mm Q[0,8; 1,5] µm; Lwm TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M13 1690,00 W współrzędne środków otworów max (500 x 500) mm Q[0,8; 1,5] µm; Lwm TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M13 1690,00 W odległości kul do 700 mm Q[0,54; 0,99L] µm; Lwm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M13 455,00 M1-133 Długość Geometria złożona Wzorce struktury geometrycznej powierzchni M1-134 Długość Geometria złożona Wzorce struktury geometrycznej powierzchni Wzorzec współrzędnościowy (np. ISO 5436-1 typ E) - za pomocą przyrządu do pomiaru okrągłości Wzorzec współrzędnościowy (np. ISO 5436-1 typ E) - za pomocą profilometru Płyta z kulami/otworami - za pomocą maszyny WMP Płyta z kulami/otworami - za pomocą maszyny WMP M1-135 Długość Geometria złożona Wzorce struktury geometrycznej powierzchni M1-136 Długość Geometria złożona Wzorce struktury geometrycznej powierzchni M1-137 Długość Geometria złożona Wzorce do sprawdzania WMP M1-138 Długość Geometria złożona Wzorce do sprawdzania WMP M1-139 Długość Geometria złożona Wzorce do sprawdzania WMP M1-140 Długość Geometria złożona Współrzędnościowa Przyrządy pomiarowe maszyna pomiarowa 2-D, WMP - za pomocą 3-D płytek wzorcowych W błąd wymiaru do 1000 mm Q[0,5; 1L] µm; Lwm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) P M13 1950,00 W błąd wymiaru do 1000 mm Q[0,5; 1L] µm; Lwm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) P M13 1950,00 M13 390,00 M13 325,00 Pręt z kulami - za pomocą maszyny WMP M1-141 Długość Geometria złożona Współrzędnościowa Przyrządy pomiarowe maszyna pomiarowa 2-D, WMP - za pomocą 3-D wzorca płytowego z kulami M1-142 Długość Geometria złożona Przyrządy pomiarowe 2-D, Profilometr stykowy 3-D W błąd wskazywanego wymiaru (składowa pionowa) M1-143 Długość Geometria złożona Przyrządy pomiarowe 2-D, Profilometr stykowy 3-D W błąd wskazywanego wymiaru (składowa pozioma) w zależności od Pt do 100 µm, Ra do 30 zastosowanego µm (wg PN-ISO NIE wzorca, np. 25 nm dla 3274:1997) Ra = 0,8 µm w zależności od Pt do 100 µm, Ra do 30 zastosowanego µm (wg PN-ISO NIE wzorca, np. 25 nm dla 3274:1997) Ra = 0,8 µm Strona 10 PTB G, P PTB G, P poza GUM w przypadku przyrządów stacjonarnych poza GUM w przypadku przyrządów stacjonarnych Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za cena za odcinek pręta z 2 kulami; za każdą kolejną kulę 1 × stawka za 1 rbg ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda w zależności od zastosowanego wzorca, np. 25 nm dla Ra = 0,8 µm w zależności od zastosowanego wzorca, np. 25 nm dla Ra = 0,8 µm w zależności od zastosowanego wzorca, np. 25 nm dla Ra = 0,8 µm w zależności od zastosowanego wzorca, np. 25 nm dla Ra = 0,8 µm CMC M1-144 Długość Geometria złożona Przyrządy pomiarowe 2-D, Profilometr stykowy 3-D W Pt do 100 µm, Ra do 30 błąd wskazywanego µm (wg PN-ISO kształtu (prostoliniowości) 3274:1997) M1-145 Długość Geometria złożona Przyrządy pomiarowe 2-D, Profilometr stykowy 3-D W błąd wskazywanego kształtu (układu współrzędnych) Pt do 100 µm, Ra do 30 µm (wg PN-ISO 3274:1997) M1-146 Długość Geometria złożona Przyrządy pomiarowe 2-D, Profilometr stykowy 3-D W błąd wskazywanych parametrów chropowatości Pt do 100 µm, Ra do 30 µm (wg PN-ISO 3274:1997) M1-147 Długość Geometria złożona Przyrządy pomiarowe 2-D, Profilometr stykowy 3-D W błąd przenoszenia Pt do 100 µm, Ra do 30 µm (wg PN-ISO 3274:1997) M1-148 Długość Geometria złożona Twardość Wgłębnik Vickersa W wymiar - kąt (135 ÷ 150)º 5' NIE M1-149 Długość Geometria złożona Twardość Wgłębnik Vickersa W wymiar - średnica trzpienia (6,0 ÷ 6,5) mm 0,001 mm NIE M1-150 Długość Geometria złożona Twardość Wgłębnik Vickersa W niewspółosiowość (0 ÷ 0,1) mm 0,002 mm NIE M1-151 Długość Geometria złożona Twardość Wgłębnik Vickersa W wysokość części roboczej (0 ÷ 0,40) mm 0,002 mm NIE M1-152 Długość Geometria złożona Twardość Wgłębnik Knoopa W wymiar - kąty (130 ÷ 180)° 5' NIE M1-153 Długość Geometria złożona Twardość Wgłębnik Knoopa W wymiar - średnica trzpienia (6,0 ÷ 6,5) mm 0,001 mm NIE M1-154 Długość Geometria złożona Twardość Twardościomierz Shore'a W wymiar - średnica wewnętrzna tulejki (3 ± 0,5) mm 0,002 mm NIE M1-155 Długość Geometria złożona Twardość Twardościomierz Shore'a W wymiar - średnica zewnętrzna trzpienia (2 ÷ 4) mm 0,01 mm NIE M1-156 Długość Geometria złożona Twardość Twardościomierz Shore'a W wymiar - wysokość trzpienia (1,5 ÷ 2,5) mm 0,01 mm NIE M1-157 Długość Geometria złożona Twardość Twardościomierz Shore'a W wymiar - promień trzpienia Shore D (0,08 ÷ 0,12) mm 0,005 mm NIE M1-158 Długość Geometria złożona Twardość Twardościomierz Shore'a W wymiar - średnica ścięcia (0,75 ÷ 0,85) mm trzpienia Shore A 0,01 mm NIE M1-159 Długość Geometria złożona Twardość Twardościomierz Shore'a W wymiar - średnica zewnętrzna tulejki (15 ÷ 20) mm 0,02 mm NIE M1-160 Długość Geometria złożona Twardość Twardościomierz Shore'a W wymiar - kąt stożka (30 ± 1)°; (35 ± 2)° 5' NIE M1-161 Długość Różne wymiary Współczynnik załamania światła W współczynnik załamania n = (1,2 ÷ 2,2) światła 3 × E-06 NIE M1-162 Długość Różne wymiary Współczynnik załamania światła W współczynnik załamania n = (1,4 ÷ 1,7) światła 2 × E-05 NIE Wzorzec refraktometryczny stały – za pomocą goniometru (wzorcowanie) Wzorzec refraktometryczny stały – za pomocą refraktometru (wzorcowanie) Strona 11 Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) NIE PTB G, P NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G, P NIE PTB G, P NIE PTB G, P Uwagi dotyczące miejsca realizacji poza GUM w przypadku przyrządów stacjonarnych poza GUM w przypadku przyrządów stacjonarnych poza GUM w przypadku przyrządów stacjonarnych poza GUM w przypadku przyrządów stacjonarnych Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi M13 325,00 M13 325,00 M13 325,00 M13 325,00 G M13 78,00 G M13 19,50 G M13 19,50 G M13 13,00 G M13 143,00 G M13 19,50 G M13 78,00 G M13 78,00 G M13 78,00 G M13 91,00 G M13 78,00 G M13 39,00 G M13 78,00 GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M12 390,00 GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M12 390,00 GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za ID Obiektu M1-163 M1-164 Dziedzina Długość Długość Subdziedzina Opis Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi Różne wymiary Współczynnik załamania światła Wzorzec refraktometryczny ciekły – za pomocą refraktometru (wzorcowanie) W współczynnik załamania n = (1,3 ÷ 1,7) światła 2 × E-05 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M12 Różne wymiary Współczynnik załamania światła Wzorzec refraktometryczny ciekły – za pomocą refraktometru (materiał odniesienia) M współczynnik załamania n = (1,3 ÷ 1,7) światła 2 × E-05 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M12 260,00 Wzorzec refraktometryczny ciekły – za pomocą refraktometru (materiał odniesienia) M współczynnik załamania n = (1,3 ÷ 1,7) światła 2 × E-05 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M12 dla 10 ml, przy jednej 390,00 temp. spoza zakresu: 20 °C, 25 °C, 30 °C Refraktometr typu Pulfricha W współczynnik załamania n = (1,3 ÷ 1,8) światła 2 × E-05 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) P M12 390,00 M12 Wzorcowanie w 4 punktach pomiarowych, jednej skali; za każdy dodatkowy punkt pomiarowy dolicza się 0,5 rbg pomnożone przez stawkę godzinową; przy 390,00 wzorcowaniu w 4 punktach, dwóch skal dolicza się 1 rbg pomnożoną przez stawkę godzinową; przy wzorcowaniu poza siedzibą GUM do ceny dolicza się koszt delegacji M1-165 Długość Różne wymiary M1-166 Długość Różne wymiary Współczynnik załamania światła Długość Wzorcowanie wielkość mierzona Podana cena obejmuje wykonanie wzorcowania w jednej długości fali i w trzech temperaturach. Za 390,00 każdą dodatkową długość fali (też trzy temperatury) należy doliczyć 2 rbg pomnożone przez stawkę godzinową Współczynnik załamania światła M1-167 Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Różne wymiary Współczynnik załamania światła Refraktometr fotoelektryczny W współczynnik załamania n = (1,3 ÷ 1,7) światła 2 × E-05 TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G, P dla 10 ml, temp. 20 °C, 25 °C, 30 °C M1-168 Długość Różne wymiary Współczynnik załamania światła Refraktometr wizualny W współczynnik załamania n = (1,3 ÷ 1,7) światła 1 × E-04 TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M12 Wzorcowanie w 4 punktach pomiarowych; za każdy dodatkowy 260,00 punkt pomiarowy dolicza się 0,5 rbg pomnożone przez stawkę godzinową; M1-169 Długość Różne wymiary Współczynnik załamania światła Refraktometr wizualny W współczynnik załamania n = (1,33 ÷ 1,37) światła 2 × E-05 TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M12 195,00 M1-170 Długość Różne wymiary Współczynnik załamania światła Wzorzec polarymetryczny (kwarcowa płytka kontrolna) W skręcalność optyczna (-10 ÷ 40)° 0,004° NIE PTB G M12 195,00 M1-171 Długość Różne wymiary Współczynnik załamania światła Wzorzec polarymetryczny (materiał odniesienia) M skręcalność optyczna 78,34º ÷ 78,36º 0,01° NIE PTB G M12 260,00 dla 100 ml Strona 12 refraktometr wizualny zanurzeniowy ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi G, P M12 Wzorcowanie dla jednej skali, przy wzorcowaniu dla dwóch skal dolicza się 1 rbg pomnożoną 390,00 przez stawkę godzinową; przy wzorcowaniu poza siedzibą GUM do ceny dolicza się koszt delegacji. GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M13 130,00 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M13 208,00 (32 ÷ 218)HB5/250; (96 ÷ 650)HB5/750; (16 ÷ 109)HB10/500; (32 ÷ 218)HB10/1000; (96 ÷ 650)HB10/3000 1%, 1%, 0,8%, 0,7%, NIE 0,7% GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M13 156,00 twardość Rockwella (20 ÷ 88) HRA, (20 ÷ 100) HRB, (20 ÷ 70) HRC 0,5 HRA, 0,5 HRC; 0,6 HRB TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M13 117,00 W twardość Vickersa (100 ÷ 1000) HV dla skal: HV0,05; HV0,1; HV0,2; HV0,3; HV0,5; (1,2+0,07/d(mm))% dla HV0,05 ÷ HV0,1; (1,9+0,05/d(mm))% dla HV0,2 ÷ HV0,5; TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M13 208,00 M1-172 Długość Różne wymiary Współczynnik załamania światła Polarymetr fotoelektryczny W skręcalność optyczna -90º ÷ 90º 0,001° NIE PTB M1-173 Masa Twardość Twardość Wzorzec twardości Rockwella I rzędu - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości Rockwella I rzędu W twardość Rockwella (20 ÷ 88) HRA; (20 ÷ 100) HRB; (20 ÷ 70) HRC 0,3 HRA; 0,3 HRC; 0,4 HRB TAK M1-174 Masa Twardość Twardość Wzorzec twardości Brinella - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości Brinella W twardość Brinella (32 ÷ 218)HB1/10; (96 ÷ 650)HB1/30; (16 ÷ 09)HB2,5/31,25; (32 ÷ 218)HB2,5/62,5; (96 ÷ 50)HB2,5/187,5; 1%, 1%, 1%, 0,8%, 0,8%, M1-175 Masa Twardość Twardość Wzorzec twardości Brinella - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości Brinella W twardość Brinella M1-176 Masa Twardość Twardość Wzorzec twardości Rockwella - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości Rockwella II rzędu W M1-177 Masa Twardość Twardość Wzorzec twardości Vickersa - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości Vickersa M1-178 Masa Twardość Twardość Wzorzec twardości Vickersa - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości Vickersa W twardość Vickersa (100 ÷ 1000) HV dla skal: HV1; HV2; HV3; HV5; HV10; HV30; HV50; HV100 (1,2+0,02/d(mm))% dla HV1 ÷ HV10; 2% dla HV30 ÷ HV100 TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M13 169,00 W twardość Knoopa (80 ÷ 1500) HK dla skal: HK0,1; HK0,5; HK1 2,8% NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M13 208,00 P M13 65,00 dotyczy jednego obciążenia P M13 260,00 dotyczy jednego powiększenia M1-179 Masa Twardość Twardość Wzorzec twardości Knoopa - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości Vickersa z wgłębnikiem Knoopa M1-180 Masa Twardość Twardość Twardościomierz Brinella W siła (9,807 ÷ 29420) N 0,12% NIE M1-181 Masa Twardość Twardość Twardościomierz Brinella W długość (0 ÷ 1,0) mm; (1 ÷ 7) mm 0,0003 mm, 0,001 mm NIE Strona 13 GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC M1-182 Masa Twardość Twardość Twardościomierz Brinella W twardość Brinella <200 HB dla skal: HB2,5/31,25; HB2,5/62,5; HB5/250; 2% HB10/1000; (100 ÷ 400) HB dla skal: HB2,5/187,5; HB5/750; HB10/3000 M1-183 Masa Twardość Twardość Twardościomierz Rockwella W siła 29,42 N ÷ 1471 N 0% NIE M1-184 Masa Twardość Twardość Twardościomierz Rockwella W długość (0 ÷ 0,2) mm 0,0005 mm NIE 0,5 HRC; 0,5 HRA; 0,6 HRB NIE NIE M1-185 Masa Twardość Twardość Twardościomierz Rockwella W twardość Rockwella (70 ÷ 88) HRA, (80 ÷ 100) HRB, (20 ÷ 70) HRC M1-186 Masa Twardość Twardość Twardościomierz Vickersa W siła (0,098 ÷ 980,07) N 0,12% NIE M1-187 Masa Twardość Twardość Twardościomierz Vickersa W długość (0 ÷ 1) mm 0,0003 mm NIE 8% dla HV0,05; dla HV0,1; 4% dla HV0,2 ÷ HV0,5; 2% dla HV1 ÷ HV100 Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi P M13 260,00 dla jednej skali P M13 65,00 P M13 260,00 P M13 195,00 dla jednej skali P M13 65,00 dotyczy jednego obciążenia P M13 260,00 dotyczy jednego powiększenia P M13 260,00 dla jednej skali P M13 65,00 dotyczy jednego obciążenia P M13 260,00 dotyczy jednego powiększenia P M13 260,00 dla jednej skali P M13 260,00 P M13 195,00 dla jednej skali P M13 260,00 M1-188 Masa Twardość Twardość Twardościomierz Vickersa W twardość Vickersa M1-189 Masa Twardość Twardość Twardościomierz Knoopa W siła (0,098 ÷ 19,614) N 0,12% NIE M1-190 Masa Twardość Twardość Twardościomierz Knoopa W długość (0 ÷ 0,2) mm 0,0003 mm NIE M1-191 Masa Twardość Twardość Twardościomierz Knoopa W twardość Knoopa (500 ÷ 900) HK0,1 3% NIE M1-192 Masa Twardość Twardość Twardościomierz dynamiczny i inny W twardość Brinella (100 ÷ 400) HB dla skal: 2% HB2,5/187,5; HB10/3000 NIE 0,6 HRC; 0,6 HRA; 1,0 HRB NIE NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) M1-193 Masa Twardość Twardość Twardościomierz dynamiczny i inny W twardość Rockwella (70 ÷ 88) HRA; (80 ÷ 100) HRB; (20 ÷ 70) HRC M1-194 Masa Twardość Twardość Twardościomierz dynamiczny i inny W twardość Vickersa (100 ÷ 900) HRV dla skal: HV30; HV10, HV5 2% NIE siła (0 ÷ 100) ShA odpowiada (0,55 ÷ 8,065) N; (20 ÷ 100) ShD odpowiada (8,9 ÷ 44,5) N 0,2 Sh NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M13 260,00 twardość Brinella HB1/10; HB1/30; HB2,5/31,25; HB2,5/62,5; HB2,5/187,5; HB5/250; HB5/750; HB10/500; HB10/100; HB10/3000 2% NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M13 260,00 twardość Rockwella (70 ÷ 88) HRA; (80 ÷ 100) HRB; (20 ÷ 70) HRC 0,7 HRC; 0,7 HRA; 1,0 HRB NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) M13 130,00 M1-196 M1-197 Masa Masa Masa Twardość Twardość Twardość Twardość Twardościomierz Shore'a Twardość Próbka - za pomocą twardościomierza Brinella Twardość Próbka - za pomocą twardościomierza Rockwella W W W Strona 14 dotyczy jednego obciążenia 6% (180 ÷ 900) HV dla skal: HV0,05; HV0,1; HV0,2; HV0,3; HV0,5; HV1; HV2; HV3; HV5; HV10; HV30; HV50; HV100 M1-195 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za G, P poza GUM w przypadku gdy próbka stanowi część integralną maszyny ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda M1-198 Masa Twardość Twardość Próbka - za pomocą twardościomierza Vickersa W twardość Vickersa (60 ÷ 1200) HV dla skal: HV0,2; HV0,3; HV0,5; HV1; HV2; HV3; HV5; 2,5% HV10; HV30; HV50; HV100 M1-199 Masa Twardość Twardość Próbka - za pomocą twardościomierza Knoopa W twardość Knoopa HK0,1; HK1 M2-1 M2-2 M2-3 M2-4 M2-5 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego 2,8% W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo(dla jednego wzorca przy jednej długości fali) 0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2500) nm W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo(dla jednego wzorca przy dwóch długościach fali) 0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2500) nm W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo(dla jednego wzorca przy trzech długościach fali) 0,001 ÷1,000 Zakresy widmowe (210÷900) nm (900÷2500) nm W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo(dla jednego wzorca przy czterech długościach fali) 0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2500) nm W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo(dla jednego wzorca przy pięciu długościach fali) 0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2500) nm Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Strona 15 CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M13 260,00 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M13 260,00 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 71,50 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 143,00 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 214,50 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 286,00 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 357,50 ID Obiektu M2-6 M2-7 M2-8 M2-9 M2-10 M2-11 Dziedzina Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo(dla jednego wzorca przy sześciu długościach fali) 0,001÷1,000 Zakresy widmowe (210÷900) nm (900÷2500) nm W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo(dla jednego wzorca przy siedmiu długościach fali) 0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2500) nm W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo(dla jednego wzorca przy ośmiu długościach fali) 0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2500) nm W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo(dla jednego wzorca przy dziewięciu długościach fali) 0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2500) nm W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo(dla jednego wzorca przy dziesięciu długościach fali) 0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2500) nm W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy jednej długości fali) 0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2500) nm Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Strona 16 CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 429,00 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 500,50 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 572,00 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 643,50 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 715,00 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 71,50 ID Obiektu M2-12 M2-13 M2-14 M2-15 M2-16 M2-17 Dziedzina Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy dwóch długościach fali) 0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2500) nm W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy trzech długościach fali) 0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2500) nm W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy czterech długościach fali) 0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2500) nm W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy pięciu długościach fali) 0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2500) nm W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy sześciu długościach fali) 0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2500) nm W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy siedmiu długościach fali) 0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2500) nm Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Strona 17 CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 143,00 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 214,50 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 286,00 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 357,50 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 429,00 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 500,50 ID Obiektu M2-18 M2-19 M2-20 M2-21 M2-22 M2-23 Dziedzina Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy ośmiu długościach fali) 0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2500) nm W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy dziewięciu długościach fali) 0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2500) nm W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy dziesięciu długościach fali) 0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2500) nm W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy jednej długości fali) 0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy dwóch długościach fali) 0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy trzech długościach fali) 0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Strona 18 CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 572,00 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 643,50 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 715,00 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 58,50 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 117,00 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 175,50 ID Obiektu M2-24 M2-25 M2-26 M2-27 M2-28 M2-29 Dziedzina Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy czterech długościach fali) 0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy pięciu długościach fali) 0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy sześciu długościach fali) 0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy siedmiu długościach fali) 0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy ośmiu długościach fali) 0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy dziewięciu długościach fali) 0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Strona 19 CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 234,00 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 292,50 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 351,00 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 409,50 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 468,00 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 526,50 ID Obiektu M2-30 M2-31 M2-32 M2-33 M2-34 M2-35 Dziedzina Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy dziesięciu długościach fali) W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego 0,001 ÷ 1,000 materiałów selektywnych Zakresy widmowe widmowo (dla jednego (210 ÷ 900) nm wzorca przy jednej długości fali) W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego 0,001 ÷ 1,000 materiałów selektywnych Zakresy widmowe widmowo (dla jednego (210 ÷ 900) nm wzorca przy dwóch długościach fali) W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego 0,001 ÷ 1,000 materiałów selektywnych Zakresy widmowe widmowo (dla jednego (210 ÷ 900) nm wzorca przy trzech długościach fali) W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego 0,001 ÷ 1,000 materiałów selektywnych Zakresy widmowe widmowo (dla jednego (210 ÷ 900) nm wzorca przy czterech długościach fali) W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego 0,001 ÷ 1,000 materiałów selektywnych Zakresy widmowe widmowo (dla jednego (210 ÷ 900) nm wzorca przy pięciu długościach fali) 0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Strona 20 CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 585,00 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 58,50 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 117,00 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 175,50 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 234,00 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 292,50 ID Obiektu M2-36 M2-37 M2-38 M2-39 Dziedzina Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) M2-40 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) M2-41 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie GUM Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego 0,001 ÷ 1,000 materiałów selektywnych Zakresy widmowe widmowo (dla jednego (210 ÷ 900) nm wzorca przy sześciu długościach fali) W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego 0,001 ÷ 1,000 materiałów selektywnych Zakresy widmowe widmowo (dla jednego (210 ÷ 900) nm wzorca przy siedmiu długościach fali) W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego 0,001 ÷ 1,000 materiałów selektywnych Zakresy widmowe widmowo (dla jednego (210 ÷ 900) nm wzorca przy ośmiu długościach fali) W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego 0,001 ÷ 1,000 materiałów selektywnych Zakresy widmowe widmowo (dla jednego (210 ÷ 900) nm wzorca przy dziewięciu długościach fali) W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego 0,001 ÷ 1,000 materiałów selektywnych Zakresy widmowe widmowo (dla jednego (210 ÷ 900) nm wzorca przy dziesięciu długościach fali) W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy dwóch długościach fali) 0,1 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Strona 21 CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 351,00 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 409,50 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 468,00 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 526,50 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 585,00 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 585,00 ID Obiektu Dziedzina M2-42 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) M2-43 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) M2-44 M2-45 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) M2-46 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) M2-47 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie GUM Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie GUM Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie GUM Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie GUM Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie GUM Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie GUM Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy trzech długościach fali) W widmowy współczynnik przepuszczania 0,1 ÷ 1,000 kierunkowego Zakresy widmowe materiałów neutralnych (210 ÷ 900) nm widmowo (pomiar przy czterech długościach fali) W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy pięciu długościach fali) W widmowy współczynnik przepuszczania 0,1 ÷ 1,000 kierunkowego Zakresy widmowe materiałów neutralnych (210 ÷ 900) nm widmowo (pomiar przy sześciu długościach fali) W widmowy współczynnik przepuszczania 0,1 ÷ 1,000 kierunkowego Zakresy widmowe materiałów neutralnych (210 ÷ 900) nm widmowo (pomiar przy siedmiu długościach fali) W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy ośmiu długościach fali) 0,1 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm 0,1 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm 0,1 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Strona 22 CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 780,00 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 975,00 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 1170,00 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 1365,00 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 1560,00 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 1755,00 ID Obiektu Dziedzina M2-48 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) M2-49 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) M2-50 M2-51 M2-52 M2-53 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie GUM Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie GUM Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie GUM Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie GUM Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie GUM Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie GUM Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy dziewięciu długościach fali) 0,1 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy dziesięciu długościach fali) 0,1 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy dwóch długościach fali) 0,1 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy trzech długościach fali) 0,1 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W widmowy współczynnik przepuszczania 0,1 ÷ 1,000 kierunkowego Zakresy widmowe materiałów neutralnych (210 ÷ 900) nm widmowo (pomiar przy czterech długościach fali) W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy pięciu długościach fali) 0,1 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Strona 23 CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 1950,00 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 2145,00 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 585,00 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 780,00 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 975,00 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 1170,00 ID Obiektu M2-54 M2-55 M2-56 M2-57 M2-58 M2-59 Dziedzina Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie GUM Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie GUM Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie GUM Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie GUM Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie GUM Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUM Wzorcowanie wielkość mierzona W widmowy współczynnik przepuszczania 0,1 ÷ 1,000 kierunkowego Zakresy widmowe materiałów neutralnych (210 ÷ 900) nm widmowo (pomiar przy sześciu długościach fali) W widmowy współczynnik przepuszczania 0,1 ÷ 1,000 kierunkowego Zakresy widmowe materiałów neutralnych (210 ÷ 900) nm widmowo (pomiar przy siedmiu długościach fali) W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy ośmiu długościach fali) 0,1 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy dziewięciu długościach fali) 0,1 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy dziesięciu długościach fali) 0,1 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy dwóch długościach fali) Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda 0,1 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) Strona 24 CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 1365,00 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 1560,00 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 1755,00 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 1950,00 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 2145,00 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) P W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za M21 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 780,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej ID Obiektu M2-60 M2-61 M2-62 M2-63 Dziedzina Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Subdziedzina Widmowe właściwości materiałów Widmowe właściwości materiałów Widmowe właściwości materiałów Widmowe właściwości materiałów Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUM Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUM Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUM Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUM W W W W Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda 0,1 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) widmowy współczynnik przepuszczania 0,1 ÷ 1,000 kierunkowego Zakresy widmowe materiałów neutralnych (210 ÷ 900) nm widmowo (pomiar przy czterech długościach fali) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy pięciu długościach fali) 0,1 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) widmowy współczynnik przepuszczania 0,1 ÷ 1,000 kierunkowego Zakresy widmowe materiałów neutralnych (210 ÷ 900) nm widmowo (pomiar przy sześciu długościach fali) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy trzech długościach fali) Strona 25 CMC NIE NIE NIE NIE Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) Uwagi dotyczące miejsca realizacji P W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. P W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. P W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. P W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi M21 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 975,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej M21 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 1170,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej M21 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 1365,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej M21 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 1560,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej ID Obiektu M2-64 M2-65 M2-66 M2-67 Dziedzina Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Subdziedzina Widmowe właściwości materiałów Widmowe właściwości materiałów Widmowe właściwości materiałów Widmowe właściwości materiałów Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUM Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUM Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUM Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUM W W W W Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda widmowy współczynnik przepuszczania 0,1 ÷ 1,000 kierunkowego Zakresy widmowe materiałów neutralnych (210 ÷ 900) nm widmowo (pomiar przy siedmiu długościach fali) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy ośmiu długościach fali) 0,1 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) 0,1 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) 0,1 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy dziewięciu długościach fali) widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy dziesięciu długościach fali) Strona 26 CMC NIE NIE NIE NIE Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) Uwagi dotyczące miejsca realizacji P W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. P W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. P W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. P W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi M21 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 1755,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej M21 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 1950,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej M21 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 2145,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej M21 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 2340,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej ID Obiektu M2-68 M2-69 M2-70 M2-71 Dziedzina Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Subdziedzina Widmowe właściwości materiałów Widmowe właściwości materiałów Widmowe właściwości materiałów Widmowe właściwości materiałów Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUM Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUM Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUM Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUM W W W W Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda 0,1 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) 0,1 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) widmowy współczynnik przepuszczania 0,1 ÷ 1,000 kierunkowego Zakresy widmowe materiałów neutralnych (210 ÷ 900) nm widmowo (pomiar przy czterech długościach fali) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy pięciu długościach fali) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy dwóch długościach fali) widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy trzech długościach fali) 0,1 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm Strona 27 CMC NIE NIE NIE NIE Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) Uwagi dotyczące miejsca realizacji P W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. P W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. P W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. P W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi M21 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 780,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej M21 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 975,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej M21 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 1170,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej M21 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 1365,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej ID Obiektu M2-72 M2-73 M2-74 M2-75 Dziedzina Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Subdziedzina Widmowe właściwości materiałów Widmowe właściwości materiałów Widmowe właściwości materiałów Widmowe właściwości materiałów Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUM Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUM Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUM Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUM W W W W Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda widmowy współczynnik przepuszczania 0,1 ÷ 1,000 kierunkowego Zakresy widmowe materiałów neutralnych (210 ÷ 900) nm widmowo (pomiar przy sześciu długościach fali) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) widmowy współczynnik przepuszczania 0,1 ÷ 1,000 kierunkowego Zakresy widmowe materiałów neutralnych (210 ÷ 900) nm widmowo (pomiar przy siedmiu długościach fali) Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy ośmiu długościach fali) 0,1 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) 0,1 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy dziewięciu długościach fali) Strona 28 CMC NIE NIE NIE NIE Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) Uwagi dotyczące miejsca realizacji P W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. P W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. P W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. P W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi M21 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 1560,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej M21 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 1755,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej M21 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 1950,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej M21 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 2145,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej ID Obiektu M2-76 M2-77 M2-78 M2-79 M2-80 Dziedzina Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUM Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego Wzorcowanie wielkość mierzona W widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy dziesięciu długościach fali) W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy jednej długości fali) W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy dwóch długościach fali) W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy trzech długościach fali) W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy czterech długościach fali) Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi 0,1 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) P 0 ÷ 3 Abs Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2500) nm 0,00079•D² + 0,00097•D + 0,0025 dla (210 ÷ 900) nm; 0,000075•D4+ 0,00042•D³ + 0,00011•D² + 0,00057•D + 0,0066 dla (900 ÷ 2500) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 71,50 0 ÷ 3 Abs Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2500) nm 0,00079•D² + 0,00097•D + 0,0025 dla (210 ÷ 900) nm; 0,000075•D4+ 0,00042•D³ + 0,00011•D² + 0,00057•D + 0,0066 dla (900 ÷ 2500) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 143,00 0 ÷ 3 Abs Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2500) nm 0,00079•D² + 0,00097•D + 0,0025 dla (210 ÷ 900) nm; 0,000075•D4+ 0,00042•D³ + 0,00011•D² + 0,00057•D + 0,0066 dla (900 ÷ 2500) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 214,50 0 ÷ 3 Abs Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2500) nm 0,00079•D² + 0,00097•D + 0,0025 dla (210 ÷ 900) nm; 0,000075•D4+ 0,00042•D³ + 0,00011•D² + 0,00057•D + 0,0066 dla (900 ÷ 2500) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 286,00 Strona 29 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za M21 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 2340,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej ID Obiektu M2-81 M2-82 M2-83 M2-84 M2-85 Dziedzina Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego Wzorcowanie wielkość mierzona W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy pięciu długościach fali) W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy sześciu długościach fali) W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy siedmiu długościach fali) W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy ośmiu długościach fali) W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy dziewięciu długościach fali) Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi 0 ÷ 3 Abs Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2500) nm 0,00079•D² + 0,00097•D + 0,0025 dla (210 ÷ 900) nm; 0,000075•D4+ 0,00042•D³ + 0,00011•D² + 0,00057•D + 0,0066 dla (900 ÷ 2500) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 357,50 0 ÷ 3 Abs Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2500) nm 0,00079•D² + 0,00097•D + 0,0025 dla (210 ÷ 900) nm; 0,000075•D4+ 0,00042•D³ + 0,00011•D² + 0,00057•D + 0,0066 dla (900 ÷ 2500) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 429,00 0 ÷ 3 Abs Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2500) nm 0,00079•D² + 0,00097•D + 0,0025 dla (210 ÷ 900) nm; 0,000075•D4+ 0,00042•D³ + 0,00011•D² + 0,00057•D + 0,0066 dla (900 ÷ 2500) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 500,50 0 ÷ 3 Abs Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2500) nm 0,00079•D² + 0,00097•D + 0,0025 dla (210 ÷ 900) nm; 0,000075•D4+ 0,00042•D³ + 0,00011•D² + 0,00057•D + 0,0066 dla (900 ÷ 2500) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 572,00 0 ÷ 3 Abs Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2500) nm 0,00079•D² + 0,00097•D + 0,0025 dla (210 ÷ 900) nm; 0,000075•D4+ 0,00042•D³ + 0,00011•D² + 0,00057•D + 0,0066 dla (900 ÷ 2500) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 643,50 Strona 30 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za ID Obiektu M2-86 M2-87 M2-88 M2-89 M2-90 Dziedzina Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego Wzorcowanie wielkość mierzona W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy dziesięciu długościach fali) W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przyjednej długości fali) W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy dwóch długościach fali) W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy trzech długościach fali) W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy czterech długościach fali) Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi 0 ÷ 3 Abs Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2500) nm 0,00079•D² + 0,00097•D + 0,0025 dla (210 ÷ 900) nm; 0,000075•D4+ 0,00042•D³ + 0,00011•D² + 0,00057•D + 0,0066 dla (900 ÷ 2500) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 715,00 0 ÷ 3 Abs Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2500) nm 0,00079•D² + 0,00097•D + 0,0025 dla (210 ÷ 900) nm; 0,000075•D4+ 0,00042•D³ + 0,00011•D² + 0,00057•D + 0,0066 dla (900 ÷ 2500) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 71,50 0 ÷ 3 Abs Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2500) nm 0,00079•D² + 0,00097•D + 0,0025 dla (210 ÷ 900) nm; 4 0,000075•D + 0,00042•D³ + 0,00011•D² + 0,00057•D + 0,0066 dla (900 ÷ 2500) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 143,00 0 ÷ 3 Abs Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2500) nm 0,00079•D² + 0,00097•D + 0,0025 dla (210 ÷ 900) nm; 0,000075•D4+ 0,00042•D³ + 0,00011•D² + 0,00057•D + 0,0066 dla (900 ÷ 2500) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 214,50 0 ÷ 3 Abs Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2500) nm 0,00079•D² + 0,00097•D + 0,0025 dla (210 ÷ 900) nm; 0,000075•D4+ 0,00042•D³ + 0,00011•D² + 0,00057•D + 0,0066 dla (900 ÷ 2500) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 286,00 Strona 31 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za ID Obiektu M2-91 M2-92 M2-93 M2-94 M2-95 Dziedzina Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego Wzorcowanie wielkość mierzona W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy pięciu długościach fali) W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy sześciu długościach fali) W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy siedmiu długościach fali) W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy ośmiu długościach fali) W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy dziewięciu długościach fali) Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi 0 ÷ 3 Abs Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2500) nm 0,00079•D² + 0,00097•D + 0,0025 dla (210 ÷ 900) nm; 0,000075•D4+ 0,00042•D³ + 0,00011•D² + 0,00057•D + 0,0066 dla (900 ÷ 2500) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 357,50 0 ÷ 3 Abs Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2500) nm 0,00079•D² + 0,00097•D + 0,0025 dla (210 ÷ 900) nm; 0,000075•D4+ 0,00042•D³ + 0,00011•D² + 0,00057•D + 0,0066 dla (900 ÷ 2500) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 429,00 0 ÷ 3 Abs Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2500) nm 0,00079•D² + 0,00097•D + 0,0025 dla (210 ÷ 900) nm; 4 0,000075•D + 0,00042•D³ + 0,00011•D² + 0,00057•D + 0,0066 dla (900 ÷ 2500) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 500,50 0 ÷ 3 Abs Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2500) nm 0,00079•D² + 0,00097•D + 0,0025 dla (210 ÷ 900) nm; 0,000075•D4+ 0,00042•D³ + 0,00011•D² + 0,00057•D + 0,0066 dla (900 ÷ 2500) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 572,00 0 ÷ 3 Abs Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2500) nm 0,00079•D² + 0,00097•D + 0,0025 dla (210 ÷ 900) nm; 0,000075•D4+ 0,00042•D³ + 0,00011•D² + 0,00057•D + 0,0066 dla (900 ÷ 2500) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 643,50 Strona 32 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za ID Obiektu M2-96 M2-97 M2-98 M2-99 M2-100 M2-101 Dziedzina Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi 0 ÷ 3 Abs Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2500) nm 0,00079•D² + 0,00097•D + 0,0025 dla (210 ÷ 900) nm; 0,000075•D4+ 0,00042•D³ + 0,00011•D² + 0,00057•D + 0,0066 dla (900 ÷ 2500) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 715,00 W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy jednej długości fali) 0 ÷ 3 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm 0,00079•D² + 0,00103•D + 0,0035 dla (210 ÷ 900) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 58,50 W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy dwóch długościach fali) 0 ÷ 3 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm 0,00079•D² + 0,00103•D + 0,0035 dla (210 ÷ 900) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 117,00 W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy trzech długościach fali) 0 ÷ 3 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm 0,00079•D² + 0,00103•D + 0,0035 dla (210 ÷ 900) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 175,50 W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy czterech długościach fali) 0 ÷ 3 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm 0,00079•D² + 0,00103•D + 0,0035 dla (210 ÷ 900) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 234,00 W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy pięciu długościach fali) 0 ÷ 3 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm 0,00079•D² + 0,00103•D + 0,0035 dla (210 ÷ 900) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 292,50 W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy dziesięciu długościach fali) Strona 33 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za ID Obiektu M2-102 M2-103 M2-104 M2-105 M2-106 M2-107 Dziedzina Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy sześciu długościach fali) 0 ÷ 3 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm 0,00079•D² + 0,00103•D + 0,0035 dla (210 ÷ 900) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 351,00 W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy siedmiu długościach fali) 0 ÷ 3 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm 0,00079•D² + 0,00103•D + 0,0035 dla (210 ÷ 900) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 409,50 W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy ośmiu długościach fali) 0 ÷ 3 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm 0,00079•D² + 0,00103•D + 0,0035 dla (210 ÷ 900) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 468,00 W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy dziewięciu długościach fali) 0 ÷ 3 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm 0,00079•D² + 0,00103•D + 0,0035 dla (210 ÷ 900) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 526,50 W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy dziesięciu długościach fali) 0 ÷ 3 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm 0,00079•D² + 0,00103•D + 0,0035 dla (210 ÷ 900) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 585,00 W gęstość optyczna widmowego współczynnika 0 ÷ 3 Abs przepuszczania Zakres widmowy kierunkowego materiałów (210 ÷ 900) nm selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy jednej długości fali) 0,00079•D² + 0,00103•D + 0,0035 dla (210 ÷ 900) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 58,50 Strona 34 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za ID Obiektu M2-108 M2-109 M2-110 M2-111 M2-112 M2-113 Dziedzina Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi W gęstość optyczna widmowego współczynnika 0 ÷ 3 Abs przepuszczania Zakres widmowy kierunkowego materiałów (210 ÷ 900) nm selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy dwóch długościach fali) 0,00079•D² + 0,00103•D + 0,0035 dla (210 ÷ 900) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 117,00 W gęstość optyczna widmowego współczynnika 0 ÷ 3 Abs przepuszczania Zakres widmowy kierunkowego materiałów (210 ÷ 900) nm selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy trzech długościach fali) 0,00079•D² + 0,00103•D + 0,0035 dla (210 ÷ 900) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 175,50 W gęstość optyczna widmowego współczynnika 0 ÷ 3 Abs przepuszczania Zakres widmowy kierunkowego materiałów (210 ÷ 900) nm selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy czterech długościach fali) 0,00079•D² + 0,00103•D + 0,0035 dla (210 ÷ 900) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 234,00 W gęstość optyczna widmowego współczynnika 0 ÷ 3 Abs przepuszczania Zakres widmowy kierunkowego materiałów (210 ÷ 900) nm selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy pięciu długościach fali) 0,00079•D² + 0,00103•D + 0,0035 dla (210 ÷ 900) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 292,50 W gęstość optyczna widmowego współczynnika 0 ÷ 3 Abs przepuszczania Zakres widmowy kierunkowego materiałów (210 ÷ 900) nm selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy sześciu długościach fali) 0,00079•D² + 0,00103•D + 0,0035 dla (210 ÷ 900) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 351,00 W gęstość optyczna widmowego współczynnika 0 ÷ 3 Abs przepuszczania Zakres widmowy kierunkowego materiałów (210 ÷ 900) nm selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy siedmiu długościach fali) 0,00079•D² + 0,00103•D + 0,0035 dla (210 ÷ 900) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 409,50 Strona 35 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za ID Obiektu M2-114 M2-115 M2-116 M2-117 M2-118 M2-119 Dziedzina Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego Widmowe właściwości materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane w siedzibie GUM Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane w siedzibie GUM Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane w siedzibie GUM Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi W gęstość optyczna widmowego współczynnika 0 ÷ 3 Abs przepuszczania Zakres widmowy kierunkowego materiałów (210 ÷ 900) nm selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy ośmiu długościach fali) 0,00079•D² + 0,00103•D + 0,0035 dla (210 ÷ 900) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 468,00 W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania 0 ÷ 3 Abs kierunkowego materiałów Zakres widmowy selektywnych widmowo (210 ÷ 900) nm (dla jednego wzorca przy dziewięciu długościach fali) 0,00079•D² + 0,00103•D + 0,0035 dla (210 ÷ 900) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 526,50 W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania 0 ÷ 3 Abs kierunkowego materiałów Zakres widmowy selektywnych widmowo (210 ÷ 900) nm (dla jednego wzorca przy dziesięciu długościach fali) 0,00079•D² + 0,00103•D + 0,0035 dla (210 ÷ 900) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 585,00 W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy dwóch długościach fali) 0 ÷ 3 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm 0,00079•D² + 0,00103•D + 0,0035 dla (210 ÷ 900) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 585,00 W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy trzech długościach fali) 0 ÷ 3 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm 0,00079•D² + 0,00103•D + 0,0035 dla (210 ÷ 900) nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 780,00 W gęstość optyczna widmowego współczynnika 0 ÷ 1 Abs przepuszczania Zakres widmowy kierunkowego (210 ÷ 900) nm materiałów neutralnych widmowo (przy czterech długościach fali) 0,00083•D² + 0,0013•D + 0,0031 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 975,00 Strona 36 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za ID Obiektu M2-120 M2-121 M2-122 M2-123 M2-124 M2-125 Dziedzina Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane w siedzibie GUM Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane w siedzibie GUM Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane w siedzibie GUM Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane w siedzibie GUM Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane w siedzibie GUM Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane w siedzibie GUM Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy pięciu długościach fali) 0 ÷ 1 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm 0,00083•D² + 0,0013•D + 0,0031 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 1170,00 W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy sześciu długościach fali) 0 ÷ 1 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm 0,00083•D² + 0,0013•D + 0,0031 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 1365,00 W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy siedmiu długościach fali) 0 ÷ 1 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm 0,00083•D² + 0,0013•D + 0,0031 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 1560,00 W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy ośmiu długościach fali) 0 ÷ 1 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm 0,00083•D² + 0,0013•D + 0,0031 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 1755,00 W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy dziewięciu długościach fali) 0 ÷ 1 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm 0,00083•D² + 0,0013•D + 0,0031 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 1950,00 W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy dziesięciu długościach fali) 0 ÷ 1 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm 0,00083•D² + 0,0013•D + 0,0031 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 2145,00 Strona 37 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za ID Obiektu M2-126 M2-127 Dziedzina Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) M2-128 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) M2-129 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) M2-130 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) M2-131 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Subdziedzina Widmowe właściwości materiałów Widmowe właściwości materiałów Widmowe właściwości materiałów Widmowe właściwości materiałów Widmowe właściwości materiałów Widmowe właściwości materiałów Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane w siedzibie GUM Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane w siedzibie GUM Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane w siedzibie GUM Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane w siedzibie GUM Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane w siedzibie GUM Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane w siedzibie GUM Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy dwóch długościach fali) 0 ÷ 1 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm 0,00083•D² + 0,0013•D + 0,0031 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 585,00 W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy trzech długościach fali) 0 ÷ 1 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm 0,00083•D² + 0,0013•D + 0,0031 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 780,00 W gęstość optyczna widmowego współczynnika 0 ÷ 1 Abs przepuszczania Zakres widmowy kierunkowego (210 ÷ 900) nm materiałów neutralnych widmowo (przy czterech długościach fali) 0,00083•D² + 0,0013•D + 0,0031 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 975,00 W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy pięciu długościach fali) 0 ÷ 1 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm 0,00083•D² + 0,0013•D + 0,0031 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 1170,00 W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy sześciu długościach fali) 0 ÷ 1 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm 0,00083•D² + 0,0013•D + 0,0031 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 1365,00 W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy siedmiu długościach fali) 0 ÷ 1 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm 0,00083•D² + 0,0013•D + 0,0031 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 1560,00 Strona 38 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za ID Obiektu M2-132 M2-133 M2-134 M2-135 M2-136 Dziedzina Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Subdziedzina Widmowe właściwości materiałów Widmowe właściwości materiałów Widmowe właściwości materiałów Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane w siedzibie GUM Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane w siedzibie GUM Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane w siedzibie GUM Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUM Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUM Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy ośmiu długościach fali) 0 ÷ 1 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm 0,00083•D² + 0,0013•D + 0,0031 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 1755,00 W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy dziewięciu długościach fali) 0 ÷ 1 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm 0,00083•D² + 0,0013•D + 0,0031 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 1950,00 W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy dziesięciu długościach fali) 0 ÷ 1 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm 0,00083•D² + 0,0013•D + 0,0031 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 2145,00 W W gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy dwóch długościach fali) gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy trzech długościach fali) 0 ÷ 1 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm 0 ÷ 1 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm 0,00083•D² + 0,0013•D + 0,0031 0,00083•D² + 0,0013•D + 0,0031 Strona 39 NIE NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) P W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. P W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za M21 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 780,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej M21 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 975,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej ID Obiektu M2-137 M2-138 M2-139 M2-140 Dziedzina Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Subdziedzina Widmowe właściwości materiałów Widmowe właściwości materiałów Widmowe właściwości materiałów Widmowe właściwości materiałów Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUM Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUM Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUM Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUM W W W W Wzorcowanie wielkość mierzona gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy czterech długościach fali) gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy pięciu długościach fali) gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy sześciu długościach fali) gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy siedmiu długościach fali) Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda 0 ÷ 1 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm 0 ÷ 1 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm 0 ÷ 1 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm 0 ÷ 1 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm 0,00083•D² + 0,0013•D + 0,0031 0,00083•D² + 0,0013•D + 0,0031 0,00083•D² + 0,0013•D + 0,0031 0,00083•D² + 0,0013•D + 0,0031 Strona 40 CMC NIE NIE NIE NIE Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) Uwagi dotyczące miejsca realizacji P W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. P W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. P W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. P W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi M21 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 1170,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej M21 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 1365,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej M21 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 1560,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej M21 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 1755,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej ID Obiektu M2-141 M2-142 M2-143 M2-144 Dziedzina Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Subdziedzina Widmowe właściwości materiałów Widmowe właściwości materiałów Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUM Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUM Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUM Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUM W W W W Wzorcowanie wielkość mierzona gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy ośmiu długościach fali) gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy dziewięciu długościach fali) 0 ÷ 1 Abs widmowy nm Zakres 0,00083•D² + (210 ÷ 900) 0,0013•D + 0,0031 0 ÷ 1 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm gęstość optyczna widmowego współczynnika 0 ÷ 1 Abs przepuszczania Zakres widmowy kierunkowego (210 ÷ 900) nm materiałów neutralnych widmowo (przy dziesięciu długościach fali) gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy dwóch długościach fali) Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda 0 ÷ 1 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm 0,00083•D² + 0,0013•D + 0,0031 0,00083•D² + 0,0013•D + 0,0031 0,00083•D² + 0,0013•D + 0,0031 Strona 41 CMC NIE NIE NIE NIE Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) Uwagi dotyczące miejsca realizacji P W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. P W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. P W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. P W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi M21 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 1950,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej M21 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 2145,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej M21 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 2340,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej M21 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 780,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej ID Obiektu M2-145 M2-146 M2-147 M2-148 Dziedzina Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUM Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUM Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUM Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUM W W W W Wzorcowanie wielkość mierzona gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy trzech długościach fali) gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy czterech długościach fali) gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy pięciu długościach fali) gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy sześciu długościach fali) Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda 0 ÷ 1 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm 0 ÷ 1 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm 0 ÷ 1 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm 0 ÷ 1 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm 0,00083•D² + 0,0013•D + 0,0031 0,00083•D² + 0,0013•D + 0,0031 0,00083•D² + 0,0013•D + 0,0031 0,00083•D² + 0,0013•D + 0,0031 Strona 42 CMC NIE NIE NIE NIE Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) Uwagi dotyczące miejsca realizacji P W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. P W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. P W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. P W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi M21 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 975,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej M21 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 1170,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej M21 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 1365,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej M21 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 1560,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej ID Obiektu M2-149 M2-150 M2-151 M2-152 M2-153 Dziedzina Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUM Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUM Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUM Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUM Widmowe właściwości materiałów Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego W W W Wzorcowanie wielkość mierzona gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy siedmiu długościach fali) gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy ośmiu długościach fali) gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy dziewięciu długościach fali) Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda 0 ÷ 1 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm 0 ÷ 1 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm 0 ÷ 1 Abs Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm 0,00083•D² + 0,0013•D + 0,0031 0,00083•D² + 0,0013•D + 0,0031 0,00083•D² + 0,0013•D + 0,0031 CMC NIE NIE NIE Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) P W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. P W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. P W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. W gęstość optyczna widmowego współczynnika 0 ÷ 1 Abs przepuszczania Zakres widmowy kierunkowego (210 ÷ 900) nm materiałów neutralnych widmowo (przy dziesięciu długościach fali) 0,00083•D² + 0,0013•D + 0,0031 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) P W długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla Zakres widmowy jednego wzorca przy (200 ÷ 900) nm jednej połówkowej szerokości widmowej szczeliny wyjściowej) 0,14 nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G Strona 43 Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi M21 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 1755,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej M21 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 1950,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej M21 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 2145,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej M21 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 2340,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej M21 338,00 ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi M2-154 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Widmowe właściwości materiałów Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego W M2-155 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Widmowe właściwości materiałów Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego W M2-156 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Widmowe właściwości materiałów Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego W M2-157 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Widmowe właściwości materiałów Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego W M2-158 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Widmowe właściwości materiałów Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego W M2-159 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Widmowe właściwości materiałów Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego W M2-160 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Widmowe właściwości materiałów Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego W Wzorcowanie wielkość mierzona długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy dwóch połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej) długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy trzech połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej) długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy czterech połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej) długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy pięciu połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej) długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy jednej połówkowej szerokości widmowej szczeliny wyjściowej) długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy dwóch połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej) długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy trzech połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej) Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm 0,14 nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 650,00 Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm 0,14 nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 962,00 Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm 0,14 nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 1274,00 Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm 0,14 nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 1586,00 Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm, (900 ÷ 3000) nm 0,14 nm, 0,50 nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 377,00 Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm, (900 ÷ 3000) nm 0,14 nm, 0,50 nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 715,00 Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm, (900 ÷ 3000) nm 0,14 nm, 0,50 nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 1053,00 Strona 44 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi M2-161 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Widmowe właściwości materiałów Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego W M2-162 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Widmowe właściwości materiałów Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego W M2-163 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Widmowe właściwości materiałów Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego W M2-164 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Widmowe właściwości materiałów Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego W M2-165 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Widmowe właściwości materiałów Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego W M2-166 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Widmowe właściwości materiałów Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego W M2-167 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Widmowe właściwości materiałów Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego W Wzorcowanie wielkość mierzona długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy czterech połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej) długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy pięciu połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej) długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy jednej połówkowej szerokości widmowej szczeliny wyjściowej) długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy dwóch połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej) długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy trzech połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej) długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy czterech połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej) długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy pięciu połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej) Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm, (900 ÷ 3000) nm 0,14 nm, 0,50 nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 1391,00 Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm, (900 ÷ 3000) nm 0,14 nm; 0,50 nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 1729,00 Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm 0,25 nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 221,00 Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm 0,25 nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 396,50 Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm 0,25 nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 572,00 Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm 0,25 nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 747,50 Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm 0,25 nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 923,00 Strona 45 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za ID Obiektu M2-168 M2-169 M2-170 M2-171 M2-172 Dziedzina Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Subdziedzina Widmowe właściwości materiałów Widmowe właściwości materiałów Widmowe właściwości materiałów Widmowe właściwości materiałów Widmowe właściwości materiałów Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane w siedzibie GUM Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane w siedzibie GUM Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane w siedzibie GUM Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane w siedzibie GUM Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane poza siedzibą GUM Wzorcowanie wielkość mierzona W długość fali dla materiału selektywnie Zakresy widmowe przepuszczającego (200 ÷ 900) nm, promieniowanie (dla (900 ÷ 2100) nm dwóch punktów skali długości fali) W długość fali dla materiału selektywnie Zakresy widmowe przepuszczającego (200 ÷ 900) nm, promieniowanie (dla (900 ÷ 2100) nm trzech punktów skali długości fali) W W W Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda długość fali dla materiału selektywnie Zakresy widmowe przepuszczającego (200 ÷ 900) nm, promieniowanie (dla (900 ÷ 2100) nm czterech punktów skali długości fali) długość fali dla materiału selektywnie Zakresy widmowe przepuszczającego (200 ÷ 900) nm, promieniowanie (dla (900 ÷ 2100) nm pięciu punktów skali długości fali) długość fali dla materiału selektywnie Zakresy widmowe przepuszczającego (200 ÷ 900) nm, promieniowanie (dla (900 ÷ 2100) nm dwóch punktów skali długości fali) 0,17 nm, 0,51 nm 0,17 nm, 0,51 nm 0,17 nm, 0,51 nm 0,17 nm, 0,51 nm 0,17 nm, 0,51 nm Strona 46 CMC NIE NIE NIE NIE NIE Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G G G G G Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi M21 usługa realiz. z usł. wykonywaną dla spektrofot. z ciągłą skalą dł. fali w GUM dla widm. współcz. 130,00 przepuszczania kierunkowego τ lub dla gęstości optycznej widm. współcz. przep. kier. D M21 usługa realiz. z usł. wykonywaną dla spektrofot. z ciągłą skalą dł. fali w GUM dla widm. współcz. 195,00 przepuszczania kierunkowego τ lub dla gęstości optycznej widm. współcz. przep. kier. D M21 usługa realiz. z usł. wykonywaną dla spektrofot. z ciągłą skalą dł. fali w GUM dla widm. współcz. 260,00 przepuszczania kierunkowego τ lub dla gęstości optycznej widm. współcz. przep. kier. D M21 usługa realiz. z usł. wykonywaną dla spektrofot. z ciągłą skalą dł. fali w GUM dla widm. współcz. 325,00 przepuszczania kierunkowego τ lub dla gęstości optycznej widm. współcz. przep. kier. D M21 Do ceny należy dod. rzecz. koszty zakw., podr. i diety del.; usł. realiz. z usługą wykonaną dla spektrofot. z ciągłą 130,00 skalą dł. fali poza GUM dla widm. współcz. przep. kier. τ lub dla gęst. opt. widm. współcz. przep. kier. D ID Obiektu M2-173 M2-174 M2-175 M2-176 M2-177 M2-178 Dziedzina Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Subdziedzina Widmowe właściwości materiałów Widmowe właściwości materiałów Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane poza siedzibą GUM Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane poza siedzibą GUM Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Widmowe właściwości materiałów Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane poza siedzibą GUM Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce achromatyczne i barwne widmowego współczynnika przepuszczania Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce achromatyczne i barwne widmowego współczynnika przepuszczania Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce achromatyczne i barwne widmowego współczynnika przepuszczania W W Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda długość fali dla materiału selektywnie Zakresy widmowe przepuszczającego (200 ÷ 900) nm, promieniowanie (dla (900 ÷ 2100) nm trzech punktów skali długości fali) długość fali dla materiału selektywnie Zakresy widmowe przepuszczającego (200 ÷ 900) nm, promieniowanie (dla (900 ÷ 2100) nm czterech punktów skali długości fali) 0,17 nm, 0,51 nm 0,17 nm, 0,51 nm CMC NIE NIE Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G G Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi M21 Do ceny należy dod. rzecz. koszty zakw., podr. i diety del.; usł. realiz. z usługą wykonaną dla spektrofot. z ciągłą 195,00 skalą dł. fali poza GUM dla widm. współcz. przep. kier. τ lub dla gęst. opt. widm. współcz. przep. kier. D M21 Do ceny należy dod. rzecz. koszty zakw., podr. i diety del.; usł. realiz. z usługą wykonaną dla spektrofot. z ciągłą 260,00 skalą dł. fali poza GUM dla widm. współcz. przep. kier. τ lub dla gęst. opt. widm. współcz. przep. kier. D W długość fali dla materiału selektywnie Zakresy widmowe przepuszczającego (200 ÷ 900) nm, promieniowanie (dla (900 ÷ 2100) nm pięciu punktów skali długości fali) 0,17 nm, 0,51 nm NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 Do ceny należy dod. rzecz. koszty zakw., podr. i diety del.; usł. realiz. z usługą wykonaną dla spektrofot. z ciągłą 325,00 skalą dł. fali poza GUM dla widm. współcz. przep. kier. τ lub dla gęst. opt. widm. współcz. przep. kier. D W widmowy współczynnik przepuszczania w celu wyznaczenia składowych 0,001 ÷ 1,000 trójchromatycznych (X, Y, Zakres widmowy Z) i współrzędnych (380 ÷ 780) nm chromatyczności (x,y) (dla jednego wzorca i jednego iluminantu) Iluminant A Obserwator CIE 1931 normalny (2o) filtr czerwony NIE X 0,131 Y 0,082 Z < 0,001 GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 676,00 W widmowy współczynnik przepuszczania w celu wyznaczenia składowych 0,001 ÷ 1,000 trójchromatycznych (X, Y, Zakres widmowy Z) i współrzędnych (380 ÷ 780) nm chromatyczności (x,y) (dla jednego wzorca i dwóch iluminantów) Iluminant A Obserwator CIE 1931 normalny (2o) filtr czerwony NIE X 0,131 Y 0,082 Z < 0,001 GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 767,00 W widmowy współczynnik przepuszczania w celu wyznaczenia składowych 0,001 ÷ 1,000 trójchromatycznych (X, Y, Zakres widmowy Z) i współrzędnych (380 ÷ 780) nm chromatyczności (x,y) (dla jednego wzorca i trzech iluminantów) Iluminant A Obserwator CIE 1931 normalny (2o) filtr czerwony NIE X 0,131 Y 0,082 Z < 0,001 GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 858,00 Strona 47 ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce achromatyczne i barwne widmowego współczynnika przepuszczania M2-180 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce achromatyczne i barwne widmowego współczynnika przepuszczania M2-181 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Widmowe właściwości materiałów M2-182 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Widmowe właściwości materiałów M2-183 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Widmowe właściwości materiałów M2-184 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Widmowe właściwości materiałów M2-185 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Widmowe właściwości materiałów M2-186 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Widmowe właściwości materiałów M2-187 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Widmowe właściwości materiałów M2-188 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Widmowe właściwości materiałów M2-189 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Widmowe właściwości materiałów M2-179 Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi W widmowy współczynnik przepuszczania w celu wyznaczenia składowych 0,001 ÷ 1,000 trójchromatycznych (X, Y, Zakres widmowy Z) i współrzędnych (380 ÷ 780) nm chromatyczności (x,y) (dla jednego wzorca i czterech iluminantów) Iluminant A Obserwator CIE 1931 normalny (2o) filtr czerwony NIE X 0,131 Y 0,082 Z < 0,001 GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 949,00 W widmowy współczynnik przepuszczania w celu wyznaczenia składowych 0,001 ÷ 1,000 trójchromatycznych (X, Y, Zakres widmowy Z) i współrzędnych (380 ÷ 780) nm chromatyczności (x,y) (dla jednego wzorca i pięciu iluminantów) Iluminant A Obserwator CIE 1931 normalny (2o) filtr czerwony NIE X 0,131 Y 0,082 Z < 0,001 GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M21 1040,00 W widmowy współczynnik odbicia rozproszonego (380 ÷ 780) nm, co 10 nm 0,0013 + 0,0053·ρ TAK PTB G M22 520,00 W widmowy współczynnik odbicia rozproszonego (780 ÷ 1400) nm, co 10 nm 0,0013 + 0,0053·ρ NIE PTB G M22 650,00 W widmowy współczynnik odbicia rozproszonego (1400 ÷ 2400) nm, co 100 nm 0,0013 + 0,0053·ρ NIE PTB G M22 520,00 W widmowy współczynnik odbicia rozproszonego (380 ÷ 780) nm, co 10 nm i (780 ÷ 1400) nm, co 10 nm 0,0013 + 0,0053·ρ NIE PTB G M22 845,00 W widmowy współczynnik odbicia rozproszonego (380 ÷ 780) nm, co 10 nm i (1400 ÷ 2400) nm, co 100 nm 0,0013 + 0,0053·ρ NIE PTB G M22 715,00 W widmowy współczynnik odbicia rozproszonego (780 ÷ 1400) nm, co 10 nm i (1400 ÷ 2400) nm, co 100 nm 0,0013 + 0,0053·ρ NIE PTB G M22 845,00 W widmowy współczynnik odbicia rozproszonego (380 ÷ 780) nm, co 10 nm i (780 ÷ 1400) nm, co 10 nm i (1400 ÷ 2400) nm, co 100 nm 0,0013 + 0,0053·ρ NIE PTB G M22 1040,00 W widmowy współczynnik odbicia rozproszonego (380 ÷ 780) nm, co 20 nm 0,0013 + 0,0053·ρ TAK PTB G M22 455,00 W widmowy współczynnik odbicia rozproszonego (780 ÷ 1400) nm, co 20 nm 0,0013 + 0,0053·ρ NIE PTB G M22 585,00 Strona 48 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina M2-190 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Widmowe właściwości materiałów M2-191 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Widmowe właściwości materiałów M2-192 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Widmowe właściwości materiałów M2-193 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Widmowe właściwości materiałów M2-194 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Widmowe właściwości materiałów M2-195 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Widmowe właściwości materiałów M2-196 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Widmowe właściwości materiałów M2-197 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Widmowe właściwości materiałów M2-198 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Widmowe właściwości materiałów M2-199 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Widmowe właściwości materiałów M2-200 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Widmowe właściwości materiałów M2-201 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru d:8° Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru d:0° Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru d:0° Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi W widmowy współczynnik odbicia rozproszonego (380 ÷ 780) nm, co 20 nm i (780 ÷ 1400) nm, co 20 nm 0,0013 + 0,0053·ρ NIE PTB G M22 715,00 W widmowy współczynnik odbicia rozproszonego (380 ÷ 780) nm, co 20 nm i (1400 ÷ 2400) nm, co 100 nm 0,0013 + 0,0053·ρ NIE PTB G M22 650,00 W widmowy współczynnik odbicia rozproszonego (780 ÷ 1400) nm, co 20 nm i (1400 ÷ 2400) nm, co 100 nm 0,0013 + 0,0053·ρ NIE PTB G M22 780,00 W widmowy współczynnik odbicia rozproszonego (380 ÷ 780) nm, co 20 nm i (780 ÷ 1400) nm, co 20 nm i (1400 ÷ 2400) nm, co 100 nm 0,0013 + 0,0053·ρ NIE PTB G M22 910,00 W widmowy współczynnik luminancji (400 ÷ 700) nm, co 20 nm 0,0013 + 0,0070·ρ NIE GUM G M22 455,00 W widmowy współczynnik luminancji (380 ÷ 700) nm, co 10 nm 0,0013 + 0,0070·ρ NIE GUM G M22 520,00 W widmowy współczynnik luminancji) piąty i następny wzorzec (380 ÷ 700) nm, co 10 nm 0,0013 + 0,0070·ρ NIE GUM G M22 260,00 W widmowy współczynnik luminancji (400 ÷ 700) nm, co 10 nm 0,0013 + 0,0070·ρ NIE GUM G M22 520,00 W widmowy współczynnik luminancji) piąty i następny wzorzec (400 ÷ 700) nm, co 10 nm 0,0013 + 0,0070·ρ NIE GUM G M22 260,00 W widmowy współczynnik luminancji (400 ÷ 700) nm, co 10 nm 0,0013 + 0,0070·ρ NIE NPL G M22 520,00 W widmowy współczynnik luminancji) piąty i następny wzorzec (400 ÷ 700) nm, co 10 nm 0,0013 + 0,0070·ρ NIE NPL G M22 260,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 520,00 Strona 49 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi M2-202 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-203 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-204 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-205 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-206 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-207 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-208 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-209 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-210 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 260,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 650,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 390,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla trzech iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 780,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla trzech iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 520,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 650,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 390,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla dwóch iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 780,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla dwóch iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 520,00 Strona 50 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi M2-211 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-212 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-213 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-214 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-215 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-216 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-217 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-218 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-219 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla trzech iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) niepewność pomiar widmowego przykładowego współczynnika luminancji wzorca białego w zakresie (380 ÷ 700) Y ± 0,58; nm x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 910,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla trzech iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 650,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 520,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 260,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 650,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 390,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla trzech iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 780,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla trzech iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 520,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 650,00 Strona 51 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi M2-220 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-221 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-222 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-223 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-224 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-225 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-226 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-227 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-228 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 390,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla dwóch iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 780,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla dwóch iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 520,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla trzech iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 910,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla trzech iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 650,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 520,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 260,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 650,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 390,00 Strona 52 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi M2-229 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-230 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-231 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-232 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-233 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-234 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-235 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-236 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-237 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla trzech iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) niepewność pomiar widmowego przykładowego współczynnika luminancji wzorca białego w zakresie (380 ÷ 700) Y ± 0,64; nm x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 780,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla trzech iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 520,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 650,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 390,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla dwóch iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 780,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla dwóch iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 520,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla trzech iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 910,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla trzech iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 650,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 520,00 Strona 53 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi M2-238 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-239 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-240 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-241 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-242 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-243 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-244 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-245 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-246 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 260,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 650,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 390,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla trzech iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 780,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla trzech iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 520,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 650,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 390,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla dwóch iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 780,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla dwóch iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 520,00 Strona 54 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi M2-247 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-248 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-249 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-250 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-251 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-252 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-253 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-254 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-255 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla trzech iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) niepewność pomiar widmowego przykładowego współczynnika luminancji wzorca białego w zakresie (400 ÷ 700) Y ± 0,64; nm x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 910,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla trzech iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE GUM G M22 650,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,60; Y ± 0,63; Z ± 0,67 NIE GUM G M22 520,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,60; Y ± 0,63; Z ± 0,67 NIE GUM G M22 260,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,60; Y ± 0,63; Z ± 0,67 NIE GUM G M22 650,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,60; Y ± 0,63; Z ± 0,67 NIE GUM G M22 390,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla trzech iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,60; Y ± 0,63; Z ± 0,67 NIE GUM G M22 780,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla trzech iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,60; Y ± 0,63; Z ± 0,67 NIE GUM G M22 520,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,60; Y ± 0,63; Z ± 0,67 NIE GUM G M22 650,00 Strona 55 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi M2-256 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-257 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-258 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-259 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-260 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-261 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-262 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-263 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-264 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,60; Y ± 0,63; Z ± 0,67 NIE GUM G M22 390,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla dwóch iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,60; Y ± 0,63; Z ± 0,67 NIE GUM G M22 780,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla dwóch iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,60; Y ± 0,63; Z ± 0,67 NIE GUM G M22 520,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla trzech iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,60; Y ± 0,63; Z ± 0,67 NIE GUM G M22 910,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla trzech iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,60; Y ± 0,63; Z ± 0,67 NIE GUM G M22 650,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,55; Y ± 0,58; Z ± 0,60 NIE GUM G M22 520,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,55; Y ± 0,58; Z ± 0,60 NIE GUM G M22 260,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,55; Y ± 0,58; Z ± 0,60 NIE GUM G M22 650,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,55; Y ± 0,58; Z ± 0,60 NIE GUM G M22 390,00 Strona 56 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi M2-265 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-266 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-267 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-268 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-269 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-270 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-271 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-272 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-273 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla trzech iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) niepewność pomiar widmowego przykładowego współczynnika luminancji wzorca białego w zakresie (400 ÷ 700) X ± 0,55; nm Y ± 0,58; Z ± 0,60 NIE GUM G M22 780,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla trzech iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,55; Y ± 0,58; Z ± 0,60 NIE GUM G M22 520,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,55; Y ± 0,58; Z ± 0,60 NIE GUM G M22 650,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,55; Y ± 0,58; Z ± 0,60 NIE GUM G M22 390,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla dwóch iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,55; Y ± 0,58; Z ± 0,60 NIE GUM G M22 780,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla dwóch iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,55; Y ± 0,58; Z ± 0,60 NIE GUM G M22 520,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla trzech iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,55; Y ± 0,58; Z ± 0,60 NIE GUM G M22 910,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla trzech iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,55; Y ± 0,58; Z ± 0,60 NIE GUM G M22 650,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,55; Y ± 0,57; Z ± 0,63 NIE GUM G M22 520,00 Strona 57 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi M2-274 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-275 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-276 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-277 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-278 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-279 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-280 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-281 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-282 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,55; Y ± 0,57; Z ± 0,63 NIE GUM G M22 260,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,55; Y ± 0,57; Z ± 0,63 NIE GUM G M22 650,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,55; Y ± 0,57; Z ± 0,63 NIE GUM G M22 390,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla trzech iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,55; Y ± 0,57; Z ± 0,63 NIE GUM G M22 780,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla trzech iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,55; Y ± 0,57; Z ± 0,63 NIE GUM G M22 520,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,55; Y ± 0,57; Z ± 0,63 NIE GUM G M22 650,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,55; Y ± 0,57; Z ± 0,63 NIE GUM G M22 390,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla dwóch iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,55; Y ± 0,57; Z ± 0,63 NIE GUM G M22 780,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla dwóch iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,55; Y ± 0,57; Z ± 0,63 NIE GUM G M22 520,00 Strona 58 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi M2-283 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-284 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-285 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-286 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-287 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-288 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-289 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-290 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-291 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla trzech iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) niepewność pomiar widmowego przykładowego współczynnika luminancji wzorca białego w zakresie (380 ÷ 700) X ± 0,55; nm Y ± 0,57; Z ± 0,63 NIE GUM G M22 910,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla trzech iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,55; Y ± 0,57; Z ± 0,63 NIE GUM G M22 650,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,75; Y ± 0,79; Z ± 0,87 NIE GUM G M22 520,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,75; Y ± 0,79; Z ± 0,87 NIE GUM G M22 260,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,75; Y ± 0,79; Z ± 0,87 NIE GUM G M22 650,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,75; Y ± 0,79; Z ± 0,87 NIE GUM G M22 390,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla trzech iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,75; Y ± 0,79; Z ± 0,87 NIE GUM G M22 780,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla trzech iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,75; Y ± 0,79; Z ± 0,87 NIE GUM G M22 520,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,75; Y ± 0,79; Z ± 0,87 NIE GUM G M22 650,00 Strona 59 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi M2-292 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-293 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-294 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-295 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-296 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-297 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-298 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-299 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-300 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,75; Y ± 0,79; Z ± 0,87 NIE GUM G M22 390,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla dwóch iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,75; Y ± 0,79; Z ± 0,87 NIE GUM G M22 780,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla dwóch iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,75; Y ± 0,79; Z ± 0,87 NIE GUM G M22 520,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla trzech iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,75; Y ± 0,79; Z ± 0,87 NIE GUM G M22 910,00 W Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla trzech iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego X ± 0,75; Y ± 0,79; Z ± 0,87 NIE GUM G M22 650,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 NIE GUM G M22 520,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 NIE GUM G M22 260,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 NIE GUM G M22 650,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 NIE GUM G M22 390,00 Strona 60 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi M2-301 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-302 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-303 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-304 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-305 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-306 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-307 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-308 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-309 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla trzech iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) niepewność pomiar widmowego przykładowego współczynnika luminancji wzorca białego w zakresie (380 ÷ 700) L* ± 0,24; nm a* ± 0,005; b* ± 0,007 NIE GUM G M22 780,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla trzech iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 NIE GUM G M22 520,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 NIE GUM G M22 650,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 NIE GUM G M22 390,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 NIE GUM G M22 780,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 NIE GUM G M22 520,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla trzech iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 NIE GUM G M22 910,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla trzech iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 NIE GUM G M22 650,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 NIE GUM G M22 520,00 Strona 61 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi M2-310 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-311 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-312 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-313 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-314 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-315 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-316 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-317 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-318 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 NIE GUM G M22 260,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 NIE GUM G M22 650,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 NIE GUM G M22 390,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla trzech iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 NIE GUM G M22 780,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla trzech iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 NIE GUM G M22 520,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 NIE GUM G M22 650,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 NIE GUM G M22 390,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 NIE GUM G M22 780,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 NIE GUM G M22 520,00 Strona 62 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi M2-319 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-320 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-321 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-322 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-323 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-324 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-325 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-326 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-327 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla trzech iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) niepewność pomiar widmowego przykładowego współczynnika luminancji wzorca białego w zakresie (400 ÷ 700) L* ± 0,24; nm a* ± 0,005; b* ± 0,007 NIE GUM G M22 910,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla trzech iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 NIE GUM G M22 650,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 NIE GUM G M22 520,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 NIE GUM G M22 260,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 NIE GUM G M22 650,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 NIE GUM G M22 390,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla trzech iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 NIE GUM G M22 780,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla trzech iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 NIE GUM G M22 520,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 NIE GUM G M22 650,00 Strona 63 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi M2-328 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-329 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-330 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-331 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-332 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-333 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-334 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-335 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-336 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 NIE GUM G M22 390,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 NIE GUM G M22 780,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 NIE GUM G M22 520,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla trzech iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 NIE GUM G M22 910,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla trzech iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 NIE GUM G M22 650,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 NIE GUM G M22 520,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 NIE GUM G M22 260,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 NIE GUM G M22 650,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 NIE GUM G M22 390,00 Strona 64 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi M2-337 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-338 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-339 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-340 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-341 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-342 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-343 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-344 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-345 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla trzech iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) niepewność pomiar widmowego przykładowego współczynnika luminancji wzorca białego w zakresie (400 ÷ 700) L* ± 0,25; nm a* ± 0,005; b* ± 0,005 NIE GUM G M22 780,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla trzech iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 NIE GUM G M22 520,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 NIE GUM G M22 650,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 NIE GUM G M22 390,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 NIE GUM G M22 780,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 NIE GUM G M22 520,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla trzech iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 NIE GUM G M22 910,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla trzech iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 NIE GUM G M22 650,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego) niepewność przykładowego wzorca białego pomiar widmowego Y ± 0,58; współczynnika luminancji x ± 0,0003; w zakresie (380 ÷ 700) y ± 0,0004; nm L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 NIE GUM G M22 585,00 Strona 65 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi M2-346 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-347 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-348 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-349 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-350 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-351 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-352 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla trzech iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla trzech iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 Strona 66 CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi NIE GUM G M22 325,00 NIE GUM G M22 715,00 NIE GUM G M22 455,00 NIE GUM G M22 845,00 NIE GUM G M22 585,00 NIE GUM G M22 715,00 NIE GUM G M22 455,00 ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi M2-353 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-354 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-355 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-356 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0° M2-357 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-358 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-359 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla trzech iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla trzech iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 Strona 67 CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi NIE GUM G M22 845,00 NIE GUM G M22 585,00 NIE GUM G M22 975,00 NIE GUM G M22 715,00 NIE GUM G M22 585,00 NIE GUM G M22 325,00 NIE GUM G M22 715,00 ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi M2-360 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-361 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-362 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-363 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-364 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-365 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-366 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla trzech iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla trzech iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 Strona 68 CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi NIE GUM G M22 455,00 NIE GUM G M22 845,00 NIE GUM G M22 585,00 NIE GUM G M22 715,00 NIE GUM G M22 455,00 NIE GUM G M22 845,00 NIE GUM G M22 585,00 ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi M2-367 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-368 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8° M2-369 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-370 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-371 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-372 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-373 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla trzech iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla trzech iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla trzech iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,58; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,24; a* ± 0,005; b* ± 0,007 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 Strona 69 CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi NIE GUM G M22 975,00 NIE GUM G M22 715,00 NIE GUM G M22 585,00 NIE GUM G M22 325,00 NIE GUM G M22 715,00 NIE GUM G M22 455,00 NIE GUM G M22 845,00 ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi M2-374 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-375 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-376 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-377 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-378 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-379 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° M2-380 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45° Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla trzech iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla trzech iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla trzech iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (380 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 Strona 70 CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi NIE GUM G M22 585,00 NIE GUM G M22 715,00 NIE GUM G M22 455,00 NIE GUM G M22 845,00 NIE GUM G M22 585,00 NIE GUM G M22 975,00 NIE GUM G M22 715,00 ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi M2-381 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-382 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-383 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-384 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-385 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-386 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-387 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla trzech iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla trzech iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 Strona 71 CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi NIE GUM G M22 585,00 NIE GUM G M22 325,00 NIE GUM G M22 715,00 NIE GUM G M22 455,00 NIE GUM G M22 845,00 NIE GUM G M22 585,00 NIE GUM G M22 715,00 ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi M2-388 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-389 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-390 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-391 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-392 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0° M2-393 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d M2-394 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d M2-395 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla trzech iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla trzech iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika luminancji w zakresie (400 ÷ 700) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika odbicia w zakresie (380 ÷ 780) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika odbicia w zakresie (380 ÷ 780) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika odbicia w zakresie (380 ÷ 780) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,64; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,25; a* ± 0,005; b* ± 0,005 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,53; x ± 0,0003; y ± 0,0004 CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi NIE GUM G M22 455,00 NIE GUM G M22 845,00 NIE GUM G M22 585,00 NIE GUM G M22 975,00 NIE GUM G M22 715,00 NIE PTB G M22 520,00 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,53; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE PTB G M22 260,00 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,53; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE PTB G M22 650,00 Strona 72 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi M2-396 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d M2-397 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d M2-398 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d M2-399 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d M2-400 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d M2-401 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d M2-402 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d M2-403 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d M2-404 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika odbicia w zakresie (380 ÷ 780) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,53; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE PTB G M22 390,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla trzech iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika odbicia w zakresie (380 ÷ 780) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,53; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE PTB G M22 780,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla trzech iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika odbicia w zakresie (380 ÷ 780) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,53; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE PTB G M22 520,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika odbicia w zakresie (380 ÷ 780) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,53; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE PTB G M22 650,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika odbicia w zakresie (380 ÷ 780) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,53; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE PTB G M22 390,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla dwóch iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika odbicia w zakresie (380 ÷ 780) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,53; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE PTB G M22 780,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla dwóch iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika odbicia w zakresie (380 ÷ 780) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,53; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE PTB G M22 520,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla trzech iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika odbicia w zakresie (380 ÷ 780) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,53; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE PTB G M22 910,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla trzech iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika odbicia w zakresie (380 ÷ 780) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,53; x ± 0,0003; y ± 0,0004 NIE PTB G M22 650,00 Strona 73 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi M2-405 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d M2-406 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d M2-407 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d M2-408 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d M2-409 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d M2-410 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d M2-411 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d M2-412 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d M2-413 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego) niepewność pomiar widmowego przykładowego współczynnika odbicia w wzorca białego zakresie L* ± 0,23; (380 ÷ 780) nm a* ± 0,005; b* ± 0,006 NIE PTB G M22 520,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika odbicia w zakresie (380 ÷ 780) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,23; a* ± 0,005; b* ± 0,006 NIE PTB G M22 260,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika odbicia w zakresie (380 ÷ 780) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,23; a* ± 0,005; b* ± 0,006 NIE PTB G M22 650,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika odbicia w zakresie (380 ÷ 780) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,23; a* ± 0,005; b* ± 0,006 NIE PTB G M22 390,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla trzech iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika odbicia w zakresie (380 ÷ 780) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,23; a* ± 0,005; b* ± 0,006 NIE PTB G M22 780,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla trzech iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika odbicia w zakresie (380 ÷ 780) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,23; a* ± 0,005; b* ± 0,006 NIE PTB G M22 520,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika odbicia w zakresie (380 ÷ 780) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,23; a* ± 0,005; b* ± 0,006 NIE PTB G M22 650,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika odbicia w zakresie (380 ÷ 780) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,23; a* ± 0,005; b* ± 0,006 NIE PTB G M22 390,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika odbicia w zakresie (380 ÷ 780) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,23; a* ± 0,005; b* ± 0,006 NIE PTB G M22 780,00 Strona 74 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi M2-414 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d M2-415 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d M2-416 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d M2-417 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d M2-418 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d M2-419 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d M2-420 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d M2-421 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika odbicia w zakresie (380 ÷ 780) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,23; a* ± 0,005; b* ± 0,006 NIE PTB G M22 520,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla trzech iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika odbicia w zakresie (380 ÷ 780) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,23; a* ± 0,005; b* ± 0,006 NIE PTB G M22 910,00 W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla trzech iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika odbicia w zakresie (380 ÷ 780) nm niepewność przykładowego wzorca białego L* ± 0,23; a* ± 0,005; b* ± 0,006 NIE PTB G M22 650,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika odbicia w zakresie 380 ÷ 780) nm NIE PTB G M22 585,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika odbicia w zakresie 380 ÷ 780) nm NIE PTB G M22 325,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika odbicia w zakresie 380 ÷ 780) nm NIE PTB G M22 715,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika odbicia w zakresie 380 ÷ 780) nm NIE PTB G M22 455,00 W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla trzech iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) pomiar widmowego współczynnika odbicia w zakresie 380 ÷ 780) nm NIE PTB G M22 845,00 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,53; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,23; a* ± 0,005; b* ± 0,006 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,53; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,23; a* ± 0,005; b* ± 0,006 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,53; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,23; a* ± 0,005; b* ± 0,006 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,53; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,23; a* ± 0,005; b* ± 0,006 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,53; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,23; a* ± 0,005; b* ± 0,006 Strona 75 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi M2-422 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d M2-423 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d M2-424 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d M2-425 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d M2-426 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d M2-427 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d M2-428 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla trzech iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika odbicia w zakresie 380 ÷ 780) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika odbicia w zakresie 380 ÷ 780) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika odbicia w zakresie 380 ÷ 780) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika odbicia w zakresie 380 ÷ 780) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika odbicia w zakresie 380 ÷ 780) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla trzech iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) pomiar widmowego współczynnika odbicia w zakresie (380 ÷ 780) nm W Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla trzech iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych), piąty i następny wzorzec pomiar widmowego współczynnika odbicia w zakresie 380 ÷ 780) nm niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,53; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,23; a* ± 0,005; b* ± 0,006 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,53; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,23; a* ± 0,005; b* ± 0,006 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,53; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,23; a* ± 0,005; b* ± 0,006 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,53; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,23; a* ± 0,005; b* ± 0,006 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,53; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,23; a* ± 0,005; b* ± 0,006 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,53; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,23; a* ± 0,005; b* ± 0,006 niepewność przykładowego wzorca białego Y ± 0,53; x ± 0,0003; y ± 0,0004; L* ± 0,23; a* ± 0,005; b* ± 0,006 Strona 76 CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi NIE PTB G M22 585,00 NIE PTB G M22 715,00 NIE PTB G M22 455,00 NIE PTB G M22 845,00 NIE PTB G M22 585,00 NIE PTB G M22 975,00 NIE PTB G M22 715,00 ID Obiektu M2-429 M2-430 M2-431 M2-432 M2-433 M2-434 Dziedzina Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Subdziedzina Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Spektrofotometry i kolorymetry odbiciowe Spektrofotometry i kolorymetry odbiciowe Spektrofotometry i kolorymetry odbiciowe Spektrofotometry i kolorymetry odbiciowe Spektrofotometry i kolorymetry odbiciowe Spektrofotometry i kolorymetry odbiciowe W W W W W W Wzorcowanie wielkość mierzona Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego) Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla trzech iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla dwóch iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla trzech iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda porównanie z parametrami kolorymetrycznymi wzorców odniesienia porównanie z parametrami kolorymetrycznymi wzorców odniesienia niepewność dla przykładowego wzorca Pale Grey ∆Y ± 0,47; ∆x ± 0,0002; ∆y ± 0,0002 niepewność dla przykładowego wzorca Pale Grey ∆Y ± 0,47; ∆x ± 0,0002; ∆y ± 0,0002 porównanie z parametrami kolorymetrycznymi wzorców odniesienia niepewność dla przykładowego wzorca Pale Grey ∆Y ± 0,47; ∆x ± 0,0002; ∆y ± 0,0002 porównanie z parametrami kolorymetrycznymi wzorców odniesienia niepewność dla przykładowego wzorca Pale Grey ∆Y ± 0,47; ∆x ± 0,0002; ∆y ± 0,0002 porównanie z parametrami kolorymetrycznymi wzorców odniesienia niepewność dla przykładowego wzorca Pale Grey ∆Y ± 0,47; ∆x ± 0,0002; ∆y ± 0,0002 porównanie z parametrami kolorymetrycznymi wzorców odniesienia niepewność dla przykładowego wzorca Pale Grey ∆Y ± 0,47; ∆x ± 0,0002; ∆y ± 0,0002 Strona 77 CMC NIE NIE NIE NIE NIE NIE Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) NPL NPL NPL NPL NPL NPL Uwagi dotyczące miejsca realizacji P, G P - w przypadku przyrządów o dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego. P, G P - w przypadku przyrządów o dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego. P, G P - w przypadku przyrządów o dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego. P, G P - w przypadku przyrządów o dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego. P, G P - w przypadku przyrządów o dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego. P, G P - w przypadku przyrządów o dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego. Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi M22 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 1170,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej M22 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 1950,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej M22 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 2730,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej M22 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 1950,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej M22 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 2730,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej M22 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 3510,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej ID Obiektu M2-435 M2-436 M2-437 M2-438 M2-439 M2-440 Dziedzina Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Subdziedzina Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Spektrofotometry i kolorymetry odbiciowe Spektrofotometry i kolorymetry odbiciowe Spektrofotometry i kolorymetry odbiciowe Spektrofotometry i kolorymetry odbiciowe Spektrofotometry i kolorymetry odbiciowe Spektrofotometry i kolorymetry odbiciowe Wzorcowanie wielkość mierzona W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* oraz różnica barwy w systemie L*a*b* (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego) W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* oraz różnica barwy w systemie L*a*b* (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* oraz różnica barwy w systemie L*a*b* (dla trzech iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* oraz różnica barwy w systemie L*a*b* (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* oraz różnica barwy w systemie L*a*b* (dla dwóch iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) W Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* oraz różnica barwy w systemie L*a*b* (dla trzech iluminantów i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda porównanie z parametrami kolorymetrycznymi wzorców odniesienia niepewność dla przykładowego wzorca Pale Grey ∆L* ± 0,6; ∆a* ± 0,2; ∆b* ± 0,2; ∆E ± 0,6 porównanie z parametrami kolorymetrycznymi wzorców odniesienia niepewność dla przykładowego wzorca Pale Grey ∆L* ± 0,6; ∆a* ± 0,2; ∆b* ± 0,2; ∆E ± 0,6 porównanie z parametrami kolorymetrycznymi wzorców odniesienia niepewność dla przykładowego wzorca Pale Grey ∆L* ± 0,6; ∆a* ± 0,2; ∆b* ± 0,2; ∆E ± 0,6 porównanie z parametrami kolorymetrycznymi wzorców odniesienia niepewność dla przykładowego wzorca Pale Grey ∆L* ± 0,6; ∆a* ± 0,2; ∆b* ± 0,2; ∆E ± 0,6 porównanie z parametrami kolorymetrycznymi wzorców odniesienia niepewność dla przykładowego wzorca Pale Grey ∆L* ± 0,6; ∆a* ± 0,2; ∆b* ± 0,2; ∆E ± 0,6 porównanie z parametrami kolorymetrycznymi wzorców odniesienia niepewność dla przykładowego wzorca Pale Grey ∆L* ± 0,6; ∆a* ± 0,2; ∆b* ± 0,2; ∆E ± 0,6 Strona 78 CMC NIE NIE NIE NIE NIE NIE Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) NPL NPL NPL NPL NPL NPL Uwagi dotyczące miejsca realizacji P, G P - w przypadku przyrządów o dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego. P, G P - w przypadku przyrządów o dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego. P, G P - w przypadku przyrządów o dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego. P, G P - w przypadku przyrządów o dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego. P, G P - w przypadku przyrządów o dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego. P, G P - w przypadku przyrządów o dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego. Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi M22 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 1170,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej M22 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 1950,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej M22 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 2730,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej M22 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 1950,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej M22 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 2730,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej M22 W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy 3510,00 doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina M2-441 Promieniowanie jonizujące Dozymetria M2-442 Promieniowanie jonizujące Dozymetria M2-443 Promieniowanie jonizujące Dozymetria M2-444 Promieniowanie jonizujące Dozymetria M2-445 Promieniowanie jonizujące Dozymetria Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Dawkomierz terapeutyczny i ochrony radiologicznej Dawkomierz terapeutyczny i ochrony radiologicznej Dawkomierz terapeutyczny i ochrony radiologicznej Dawkomierz terapeutyczny i ochrony radiologicznej Dawkomierz terapeutyczny i ochrony radiologicznej Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania 4) W kerma w powietrzu metoda podstawienia 1% * TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G komora typu A prom. X 50 kV ÷ 420 kV M22 cena dla dawk. ochr. rad. dla widma Narrow (N-60 do N-300); po uzysk. dod. inf. od Klienta (licz. komór dawk., licz. jakości 3185,00 prom., licz. zakr. pom., licz. pkt pom. dla każdego z wzorc. zakr.) cena ulega modyf. (1 rbg za dodatk. pkt pom.) W kerma w powietrzu metoda podstawienia 1% * TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G komora typu A prom. X + prom. gamma M22 3250,00 jak wyżej W moc kermy w powietrzu metoda podstawienia 1% * TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G komora typu A nuklid Co-60 M22 910,00 W moc kermy w powietrzu metoda podstawienia 1% * TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G komora typu A nuklid Co-60 oraz komora typu A nuklid Cs-137 M22 1820,00 G komora typu A nuklid Co-60 oraz komora typu A nuklid Cs-137 oraz komora typu B nuklid Co-60 oraz komora typu B nuklid Cs-137 M22 3640,00 M22 5460,00 M22 910,00 W moc kermy w powietrzu metoda podstawienia 1% * TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) M2-446 Promieniowanie jonizujące Dozymetria Dawkomierz terapeutyczny i ochrony radiologicznej W moc kermy w powietrzu metoda podstawienia 1% * TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M2-447 Promieniowanie jonizujące Dozymetria Dawkomierz terapeutyczny i ochrony radiologicznej W moc kermy w powietrzu metoda podstawienia 1% * TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G komora typu A nuklid Cs-137 Promieniowanie jonizujące M2-449 Promieniowanie jonizujące Dozymetria Ława ze źródłami promieniowania γ Dozymetria Dawkomierz terapeutyczny Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za realizację usługi komora typu A nuklid Co-60 oraz komora typu A nuklid Cs-137 oraz komora typu B nuklid Co-60 oraz komora typu B nuklid Cs-137 oraz komora typu C nuklid Co-60 oraz komora typu C nuklid Cs-137 M2-448 Cena Lab. całkowita za wzorcowanie W moc kermy w powietrzu W moc dawki pochłoniętej w metoda podstawienia wodzie metoda podstawienia 2% * 1,5% * Strona 79 TAK TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) BIPM P nuklid Co-60/nuklid Cs-137 G komora typu A nuklid Co-60 M22 cena wzorc. dla 6 pkt na ławie pomiarowej dla jednego źródła prom., do ceny wzorc. 3900,00 dochodzi koszt deleg. pracown. GUM, transportu i ubezp. przyrz. pom. GUM M22 cena wzorc. dla jednej komory, w przypadku 1235,00 większej liczby komór cena ulegnie modyfikacji ID Obiektu M2-450 M2-451 M2-452 M2-453 M2-454 Dziedzina Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Subdziedzina Fotometria Fotometria Fotometria Fotometria Fotometria Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Lampa wolframowa Lampa wolframowa Lampa wolframowa Lampa wolframowa Lampa wolframowa W W W W W Wzorcowanie wielkość mierzona światłość lampy wolframowej; wzorzec I rzędu (wzorzec 3- lampowy) światłość lampy wolframowej; wzorzec I rzędu (wzorzec 4- lampowy) światłość lampy wolframowej; wzorzec I rzędu (wzorzec 5- lampowy) światłość lampy wolframowej; wzorzec II rzędu (wzorzec 3- lampowy) światłość lampy wolframowej; wzorzec II rzędu (wzorzec 4- lampowy) Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda (5 ÷ 3100) cd metoda z użyciem wzorca odniesienia (5 ÷ 3100) cd metoda z użyciem wzorca odniesienia (5 ÷ 3100) cd metoda z użyciem wzorca odniesienia (5 ÷ 3100) cd metoda z użyciem wzorca odniesienia (5 ÷ 3100) cd metoda z użyciem wzorca odniesienia od 1,5% od 1,5% od 1,5% od 1,5% od 1,5% Strona 80 CMC TAK TAK TAK TAK TAK Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) PTB PTB PTB PTB PTB G G G G G Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi M23 8,5 rbg-pierwsza lampa I rzędu (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) 1755,00 2,5 rbg- każda następna lampa (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) M23 8,5 rbg-pierwsza lampa I rzędu (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) 2080,00 2,5 rbg- każda następna lampa (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) M23 8,5 rbg-pierwsza lampa I rzędu (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) 2405,00 2,5 rbg- każda następna lampa (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) M23 6,5 rbg-pierwsza lampa II rzędu (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) 1495,00 2,5 rbg- każda następna lampa (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) M23 6,5 rbg-pierwsza lampa II rzędu (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) 1820,00 2,5 rbg- każda następna lampa (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona M2-455 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Lampa wolframowa W światłość lampy wolframowej; wzorzec II rzędu (wzorzec 5- lampowy) M2-456 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Lampa wolframowa W stabilnośc lampy wolframowej względem światłości M2-457 M2-458 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Fotometria Lampa wolframowa Lampa wolframowa W W strumień świetlny lampy wolframowej (wzorzec 3lampowy); wzorcowanie przy wyznaczonej temperaturze barwowej strumień świetlny lampy wolframowej (wzorzec 4 lampowy); wzorcowanie przy wyznaczonej temperaturze barwowej Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda (5 ÷ 3100) cd metoda z użyciem wzorca odniesienia od 1,5% CMC TAK Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) PTB NIE (5 ÷ 3000) lm metoda porównawcza z użyciem wzorca odniesienia (5 ÷ 3000) lm metoda porównawcza z użyciem wzorca odniesienia od 1,5% od 1,5% TAK TAK MIKES MIKES Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi G M23 G M23 G G Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 6,5 rbg-pierwsza lampa II rzędu (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) 2145,00 2,5 rbg- każda następna lampa (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) 390,00 stabilizowanie jednej lampy M23 5,5 rbg-pierwsza lampa (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) 1235,00 2 rbg każda nastepna lampa (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) M23 5,5 rbg-pierwsza lampa (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) 1495,00 2 rbg każda nastepna lampa (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) 5,5 rbg-pierwsza lampa (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) 1755,00 2 rbg każda nastepna lampa (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) W strumień świetlny lampy wolframowej (wzorzec 5 lampowy); wzorcowanie przy wyznaczonej temperaturze barwowe (5 ÷ 3000) lm metoda porównawcza z użyciem wzorca odniesienia od 1,5% TAK MIKES G M23 Lampa wolframowa W strumień świetlny lampy wolframowej (wzorzec 3lampowy); wzorcowanie przy napięciu (5 ÷ 3000) lm metoda porównawcza z użyciem wzorca odniesienia od 1,5% TAK MIKES G M23 845,00 4,5 rbg-pierwsza lampa 1 rbg- każda następna lampa Fotometria Lampa wolframowa W strumień świetlny lampy wolframowej (wzorzec 4lampowy); wzorcowanie przy napięciu (5 ÷ 3000) lm metoda porównawcza z użyciem wzorca odniesienia od 1,5% TAK MIKES G M23 975,00 4,5 rbg-pierwsza lampa 1 rbg- każda następna lampa Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Lampa wolframowa W strumień świetlny lampy wolframowej (wzorzec 5lampowy); wzorcowanie przy napięciu (5 ÷ 3000) lm metoda porównawcza z użyciem wzorca odniesienia od 1,5% TAK MIKES G M23 1105,00 4,5 rbg-pierwsza lampa 1 rbg- każda następna lampa Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Lampa wolframowa W stabilnośc lampy wolframowej względem strumienia świetlnego G M23 390,00 M2-459 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Lampa wolframowa M2-460 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria M2-461 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) M2-462 M2-463 NIE Strona 81 stabilizowanie jednej lampy ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona M2-464 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze L-12 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-465 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze L-20 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-466 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze L-20A W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-467 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze L-50 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-468 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze L-51 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-469 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze L-52 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-470 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze L-100 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-471 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze RF-100 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-472 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze LS-100 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-473 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze L-12 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-474 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze L-20 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-475 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze L-20A W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-476 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze L-50 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi od 2% TAK GUM G M23 481,00 dla czterech punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 481,00 dla czterech punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 481,00 dla czterech punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 481,00 dla czterech punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 481,00 dla czterech punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 481,00 dla czterech punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 481,00 dla czterech punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 481,00 dla czterech punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 481,00 dla czterech punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 559,00 dla pięciu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 559,00 dla pięciu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 559,00 dla pięciu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 559,00 dla pięciu punktów pomiarowych Strona 82 ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona M2-477 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze L-51 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-478 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze L-52 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-479 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze L-100 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-480 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze RF-100 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-481 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze LS-100 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-482 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze L-12 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-483 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze L-20 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-484 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze L-20A W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-485 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze L-50 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-486 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze L-51 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-487 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze L-52 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-488 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze L-100 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-489 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze RF-100 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi od 2% TAK GUM G M23 559,00 dla pięciu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 559,00 dla pięciu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 559,00 dla pięciu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 559,00 dla pięciu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 559,00 dla pięciu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 650,00 dla sześciu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 650,00 dla sześciu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 650,00 dla sześciu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 650,00 dla sześciu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 650,00 dla sześciu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 650,00 dla sześciu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 650,00 dla sześciu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 650,00 dla sześciu punktów pomiarowych Strona 83 ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona M2-490 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze LS-100 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-491 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze L-12 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-492 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze L-20 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-493 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze L-20A W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-494 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze L-50 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-495 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze L-51 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-496 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze L-52 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-497 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze L-100 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-498 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze RF-100 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-499 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze LS-100 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-500 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze L-12 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-501 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze L-20 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-502 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze L-20A W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi od 2% TAK GUM G M23 650,00 dla sześciu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 754,00 dla siedmiu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 754,00 dla siedmiu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 754,00 dla siedmiu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 754,00 dla siedmiu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 754,00 dla siedmiu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 754,00 dla siedmiu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 754,00 dla siedmiu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 754,00 dla siedmiu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 754,00 dla siedmiu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 845,00 dla ośmiu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 845,00 dla ośmiu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 845,00 dla ośmiu punktów pomiarowych Strona 84 ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona M2-503 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze L-50 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-504 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze L-51 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-505 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze L-52 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-506 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze L-100 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-507 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze RF-100 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-508 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze LS-100 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-509 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze Minolta W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-510 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierze ULX firmy INS W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-511 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Fotometr precyzyjny typ 1105 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-512 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Fotometr Candelametr jako luksomierz W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-513 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Fotometr firmy DELTA OHM jako luksomierz W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-514 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Fotometr firmy DELTA OHM jako luksomierz W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-515 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Fotometr firmy DELTA OHM jako luksomierz W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi od 2% TAK GUM G M23 845,00 dla ośmiu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 845,00 dla ośmiu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 845,00 dla ośmiu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 845,00 dla ośmiu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 845,00 dla ośmiu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 845,00 dla ośmiu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 650,00 od 2% TAK GUM G M23 650,00 od 2% TAK GUM G M23 715,00 od 2% TAK GUM G M23 715,00 od 2% TAK GUM G M23 637,00 dla czterech punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 689,00 dla pięciu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 741,00 dla sześciu punktów pomiarowych Strona 85 ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona M2-516 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Fotometr firmy DELTA OHM jako luksomierz W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-517 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Fotometr firmy DELTA OHM jako luksomierz W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-518 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierz TES -1330 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-519 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierz Abatronic typ AB-1301 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-520 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierz Sinometer typ LX-1010B W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-521 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierz TES -1330 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-522 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierz Abatronic typ AB-1301 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-523 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierz Sinometer typ LX-1010B W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-524 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierz TES -1330 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-525 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierz Abatronic typ AB-1301 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-526 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierz Sinometer typ LX-1010B W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-527 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierz TES -1330 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-528 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierz Abatronic typ AB-1301 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi od 2% TAK GUM G M23 793,00 dla siedmiu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 845,00 dla ośmiu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 474,50 dla czterech punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 474,50 dla czterech punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 474,50 dla czterech punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 591,50 dla pięciu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 591,50 dla pięciu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 591,50 dla pięciu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 682,50 dla sześciu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 682,50 dla sześciu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 682,50 dla sześciu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 760,50 dla siedmiu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 760,50 dla siedmiu punktów pomiarowych Strona 86 ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów (10 ÷ 1900) lx, (2100 ÷ 6500) K metoda z użyciem luksomierza i kolorymetru trójchromatycznego M2-529 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierz Sinometer typ LX-1010B W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-530 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierz TES -1330 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-531 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierz Abatronic typ AB-1301 W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-532 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Luksomierz Sinometer typ LX-1010B W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-533 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Inne luksomierze nie wymienione w cenniku W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-534 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Inne luksomierze nie wymienione w cenniku W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-535 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Inne luksomierze nie wymienione w cenniku W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-536 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Inne luksomierze nie wymienione w cenniku W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-537 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Inne luksomierze nie wymienione w cenniku W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-538 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Każdy luksomierz wymieniony w cenniku W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-539 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Każdy luksomierz wymieniony w cenniku W natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej M2-540 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Komora świetlna W natężenie oświetlenia przy różnych źródłach światła, współrzędne chromatyczności x, y różnych źródeł światła M2-541 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Mierniki światła białego W (10 ÷ 1999) lx natężenie oświetlenia metoda porównawcza z przy lampie wolframowej użyciem luksomierza wzorcowego CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi od 2% TAK GUM G M23 760,50 dla siedmiu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 845,00 dla ośmiu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 845,00 dla ośmiu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 845,00 dla ośmiu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 611,00 dla czterech punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 728,00 dla pięciu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 819,00 dla sześciu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 897,00 dla siedmiu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 975,00 dla ośmiu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 1027,00 dla dziewięciu punktów pomiarowych od 2% TAK GUM G M23 1092,00 dla dziesięciu punktów pomiarowych od 4% NIE GUM G M23 1690,00 od 4% TAK GUM G M23 455,00 Strona 87 ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi 2 M2-542 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) W luminancja dla źródła opartego na lampie wolframowej (1,5 ÷ 400) cd/m metoda z użyciem wzorca światłości i wzorca współczynnika przepuszczania od 3% TAK GUM G M23 650,00 (0,3 mcd/m2 ÷ 1 cd/m2) metoda bezpośrednia z użyciem miernika wzorcowego luminancji 0,10 NIE GUM G wg PN-92/N-01256/02 M23 jedna próbka 390,00 Fotometria Źródło oparte na lampie wolframowej M2-543 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Materiał fotoluminescencyjny W luminancja materiału fotoluminescyjnego M2-544 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Materiał fotoluminescencyjny W luminancja materiału fotoluminescyjnego (0,3 mcd/m2 ÷ 1 cd/m2) metoda bezpośrednia z użyciem miernika wzorcowego luminancji 0,10 NIE GUM G wg DIN 67510 jedna próbka M23 390,00 M2-545 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Materiał fotoluminescencyjny W luminancja materiału fotoluminescyjnego (0,3 mcd/m2 ÷ 1 cd/m2) metoda bezpośrednia z użyciem miernika wzorcowego luminancji 0,10 NIE GUM G wg ISO 17398 jedna próbka M23 650,00 M2-546 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Materiał fotoluminescencyjny W luminancja materiału fotoluminescyjnego (0,3 mcd/m ÷ 1 cd/m ) metoda bezpośrednia z użyciem miernika wzorcowego luminancji 0,10 NIE GUM G wg ISO 15370 jedna próbka M23 650,00 M2-547 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) W luminancja źródła opartego na lampie wolframowej (1,5 ÷ 400) cd/m metoda z użyciem wzorca światłości i wzorca współczynnika przepuszczania od 3% TAK GUM G M23 845,00 M2-548 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) W luminancja źródła opartego na lampie wolframowej (1,5 ÷ 400) cd/m2 metoda z użyciem wzorca światłości i wzorca współczynnika przepuszczania od 3% TAK GUM G M23 845,00 M2-549 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) W luminancja źródła opartego na lampie wolframowej (1,5 ÷ 400) cd/m2 metoda z użyciem wzorca światłości i wzorca współczynnika przepuszczania od 3% TAK GUM G M23 845,00 M2-550 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) W luminancja źródła opartego na lampie wolframowej (1,5 ÷ 400) cd/m2 metoda z użyciem wzorca światłości i wzorca współczynnika przepuszczania od 3% TAK GUM G M23 845,00 M2-551 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) W luminancja źródła opartego na lampie wolframowej (1,5 ÷ 400) cd/m2 metoda z użyciem wzorca światłości i wzorca współczynnika przepuszczania od 3% TAK GUM G M23 845,00 M2-552 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) W luminancja źródła opartego na lampie wolframowej (1,5 ÷ 400) cd/m2 metoda z użyciem wzorca światłości i wzorca współczynnika przepuszczania od 3% TAK GUM G M23 585,00 2 2 2 Fotometria Miernik luminancji: LM10 Fotometria Miernik luminancji Minolta LS 100 Fotometria Miernik luminancji Minolta LS 110 Fotometria Miernik luminancji fotometr Candelametr jako miernik luminancji Fotometria Miernik luminancji firmy Hagner Fotometria Mierniki luminancji: L100 + PL1.RF-100 Strona 88 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi 2 M2-553 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) M2-554 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) M2-555 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) M2-556 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) M2-557 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Mierniki luminancji: RF100 + PL1.RF-100 Fotometria Mierniki luminancji: Fotometr firmy DELTA OHM jako miernik luminancji Fotometria Mierniki luminancji: L51 + PL-68 Fotometria Mierniki luminancji: CLM-200 Fotometria Inne mierniki luminancji nie wymienione w cenniku W luminancja źródła opartego na lampie wolframowej (1,5 ÷ 400) cd/m metoda z użyciem wzorca światłości i wzorca współczynnika przepuszczania od 3% TAK GUM G M23 585,00 W luminancja źródła opartego na lampie wolframowej (1,5 ÷ 400) cd/m2 metoda z użyciem wzorca światłości i wzorca współczynnika przepuszczania od 3% TAK GUM G M23 585,00 W luminancja źródła opartego na lampie wolframowej (1,5 ÷ 400) cd/m2 metoda z użyciem wzorca światłości i wzorca współczynnika przepuszczania od 3% TAK GUM G M23 715,00 W luminancja źródła opartego na lampie wolframowej (1,5 ÷ 400) cd/m2 metoda z użyciem wzorca światłości i wzorca współczynnika przepuszczania od 3% TAK GUM G M23 715,00 W luminancja źródła opartego na lampie wolframowej (1,5 ÷ 400) cd/m2 metoda z użyciem wzorca światłości i wzorca współczynnika przepuszczania od 3% TAK GUM G M23 845,00 od 2%, od 3% TAK GUM G M23 1430,00 od 2%, od 3% TAK GUM G M23 1560,00 od 2%, od 3% TAK GUM G M23 1560,00 0,01 NIE PTB G M23 845,00 M2-558 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Zestaw: luksomierz + miernik luminancji (przystawka luminancyjna PL1.RF100) W M2-559 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Zestaw: luksomierz + miernik luminancji (przystawka luminancyjna PL-68) W M2-560 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria Zestaw: Fotometr Candelametr jako luksomierz + jako miernik luminancji W M2-561 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Właściwości odbiorników Odbiornik szerokopasmowy W (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej kwadratów, + luminancja źródła (1,5 ÷ 400) cd/m2 opartego na lampie metoda metoda wolframowej z użyciem wzorca światłości i wzorca współczynnika przepuszczania (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej kwadratów, + luminancja źródła (1,5 ÷ 400) cd/m2 opartego na lampie metoda metoda wolframowej z użyciem wzorca światłości i wzorca współczynnika przepuszczania (10 ÷ 1900) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej kwadratów, + luminancja źródła (1,5 ÷ 400) cd/m2 opartego na lampie metoda metoda wolframowej z użyciem wzorca światłości i wzorca współczynnika przepuszczania widmowa czułość (0,01 ÷ 1) A/W względem mocy metoda porównawcza odbiornika bezpośrednia szerokopasmowego Strona 89 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za zakres (380 ÷ 780) nm co 50 nm ID Obiektu M2-562 M2-563 M2-564 M2-565 M2-566 M2-567 M2-568 M2-569 Dziedzina Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi 2080,00 (0,01÷ 1) A/W metoda porównawcza bezpośrednia 0,01 NIE PTB G zakres (380 ÷ 1000) nm co 50 nm M23 1235,00 (0,01÷ 1) A/W metoda porównawcza bezpośrednia 0,01 NIE PTB G zakres 80 ÷ 1000) nm co 20 nm M23 3250,00 (0,01÷ 1) A/W metoda porównawcza bezpośrednia 0,01 NIE PTB G zakres (380 ÷ 1000) nm co 12,5 nm M23 5200,00 (0,01÷ 1) A/W metoda porównawcza bezpośrednia 0,01 NIE PTB G zakres (900 ÷ 1600) nm co 50 nm M23 1495,00 (0,01÷ 1) A/W metoda porównawcza bezpośrednia 0,01 NIE PTB G zakres (900 ÷ 1600 nm) co 25 nm M23 2925,00 czułość względem mocy (0,01÷ 1) A/W promieniowania metoda porównawcza laserowego bezpośrednia 0,40% TAK PTB G jedna długość fali promieniowania laserowego M23 jedna długość fali 780,00 promieniowania laserowego natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej + widmowe natężenie napromienienia przy źródle 365 nm (0,08 ÷ 4,00) mW/cm2 metoda porównawcza z użyciem radiometru wzorcowego od 9% NIE GUM G M23 455,00 W widmowe natężenie napromienienia przy źródle 365 nm (10 ÷ 1999) lx metoda porównawcza z użyciem luksomierza wzorcowego, (0,08 ÷ 4,00) mW/cm2 metoda porównawcza z użyciem radiometru wzorcowego od 4%, od 9% TAK GUM G M23 910,00 W temperatura barwowa najbliższa lampy wolframowej (1900 ÷ 3000) K pomiar współrzędnych trójchromatycznych za pomocą kolorymetru trójchromatycznego od 1,5% NIE NPL G M23 182,00 W współrzędne chromatyczności x, y dowolnego źródła (2600 ÷ 3600) K; ok.100 lx metoda z użyciem kolorymetru trójchromatycznego i luksomierza wzorcowego W współrzędne chromatyczności x, y lampy wolframowej 2856 K metoda porównawcza z użyciem wzorców 1,60% odniesienia temperatury barwowej i światłości Odbiornik szerokopasmowy W Właściwości odbiorników Odbiornik szerokopasmowy W Właściwości odbiorników Odbiornik szerokopasmowy W Właściwości odbiorników Odbiornik szerokopasmowy W Właściwości odbiorników Dowolny odbiornik W W M2-571 Widmowo scałkowane pomiary parametrów żródeł i odbiorników M2-572 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Widmowo scałkowane pomiary parametrów żródeł i odbiorników M2-573 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Widmowo scałkowane pomiary parametrów żródeł i odbiorników Lampa wolframowa Dowolne źródło Kalibrator fotometryczny Kolorymetry firmy LMT 4) realizację usługi M23 Właściwości odbiorników Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za zakres (380 ÷ 780) nm co 20 nm W Miernik UVA + Miernik światła białego Cena Lab. całkowita za wzorcowanie G Odbiornik szerokopasmowy Widmowe właściwości emisyjne źródeł, Fotometria Uwagi dot. wzorcowania PTB Właściwości odbiorników Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Uwagi dotyczące miejsca realizacji NIE W M2-570 CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) 0,01 Odbiornik szerokopasmowy Miernik UVA widmowa czułość względem mocy odbiornika szerokopasmowego widmowa czułość względem mocy odbiornika szerokopasmowego widmowa czułość względem mocy odbiornika szerokopasmowego widmowa czułość względem mocy odbiornika szerokopasmowego widmowa czułość względem mocy odbiornika szerokopasmowego widmowa czułość względem mocy odbiornika szerokopasmowego Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda (0,01 ÷ 1) A/W metoda porównawcza bezpośrednia Właściwości odbiorników Widmowe właściwości emisyjne źródeł Wzorcowanie wielkość mierzona 0,02 Strona 90 NIE GUM G M23 cena obejmuje pomiar współrzędnych trójchromatycznych (określenie temperatury 273,00 barwowej) oraz pomiar natężenia oświetlenia w oknie pomiarowym kalibratora NIE GUM G M23 910,00 ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona 2856 K metoda porównawcza z użyciem wzorców 1,60% odniesienia temperatury barwowej i światłości M2-574 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Widmowo scałkowane pomiary parametrów żródeł i odbiorników Kolorymetry innych producentów W współrzędne chromatyczności x, y lampy wolframowej M2-575 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorzec wysokiego połysku - wzorcowanie dla jednej z trzech geometrii pomiarowych: 20/20, 60/60, 85/85 W (90 ÷ 100) GU połysk wysoki dowolnego metoda porównawcza z materiału użyciem wzorca odniesienia M2-576 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorzec wysokiego połysku - wzorcowanie dla dwóch z trzech geometrii pomiarowych: 20/20, 60/60, 85/85 W M2-577 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Wzorzec wysokiego połysku - wzorcowanie dla trzech geometrii pomiarowych: 20/20, 60/60, 85/85 W M2-578 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów M2-579 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów M2-580 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Barwa i inne widmowo scałkowane pomiary parametrów materiałów Połyskomierz wzorcowanie dla jednej z trzech geometrii pomiarowych: 20/20, 60/60, 85/85 Połyskomierz wzorcowanie dla dwóch z trzech geometrii pomiarowych: 20/20, 60/60, 85/85 Połyskomierz wzorcowanie dla trzech geometrii pomiarowych: 20/20, 60/60, 85/85 Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi NIE GUM G M23 1300,00 od 0,5% NIE BAM G M23 195,00 (90 ÷ 100) GU połysk wysoki dowolnego metoda porównawcza materiału z użyciem wzorca odniesienia od 0,5% NIE BAM G M23 390,00 (90 ÷ 100) GU połysk wysoki dowolnego metoda porównawcza materiału z użyciem wzorca odniesienia od 0,5% NIE BAM G M23 585,00 W (90 ÷ 100) GU metoda porównawcza od 0,6% z użyciem połyskomierza wzorcowego NIE BAM G M23 390,00 W (90 ÷ 100) GU metoda porównawcza od 0,6% z użyciem połyskomierza wzorcowego NIE BAM G M23 617,50 W (90 ÷ 100) GU metoda porównawcza od 0,6% z użyciem połyskomierza wzorcowego NIE BAM G M23 845,00 M2-581 Akustyka i drgania Akustyka Mikrofon pomiarowy Mikrofon pomiarowy klasy LS1 lub WS1 W poziom skuteczności ciśnieniowej - moduł 2 Hz ÷ 10 kHz metoda wzajemności LS1: 0,03 dB 0,05 dB przy częstotliwości Hz TAK GUM G M2-582 Akustyka i drgania Akustyka Mikrofon pomiarowy Mikrofon pomiarowy klasy LS1 lub WS1 W poziom skuteczności ciśnieniowej - moduł 250 Hz, 500, Hz i 1kHz metoda wzajemności LS1: 0,03 dB WS1: 0,05 dB przy TAK częstotliwości 250 Hz GUM G M2-583 Akustyka i drgania Akustyka Mikrofon pomiarowy Mikrofon pomiarowy klasy LS2 lub WS2 W poziom skuteczności ciśnieniowej - moduł 31,5 Hz ÷ 20 kHz metoda wzajemności 0,05 dB przy częstotliwości Hz GUM G Strona 91 WS1: 250 250 TAK Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za Liczba rbg dotyczy wzorcowania w całym zakresie M24 częstotliwości. Niepewność zależy od częstotliwości pomiarowej. Liczba rbg dotyczy wzorcowania w całym zakresie M24 częstotliwości. Niepewność zależy od częstotliwości pomiarowej. Liczba rbg dotyczy wzorcowania w całym zakresie M24 częstotliwości. Niepewność zależy od częstotliwości pomiarowej. 3380,00 1560,00 3640,00 ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona M2-584 Akustyka i drgania Akustyka Mikrofon pomiarowy Mikrofon pomiarowy klasy LS2 lub WS2 W poziom skuteczności ciśnieniowej - moduł M2-585 Akustyka i drgania Akustyka Mikrofon pomiarowy Mikrofon pomiarowy klasy LS1 lub LS2 W poziom skuteczności ciśnieniowej - moduł M2-586 Akustyka i drgania Akustyka Mikrofon pomiarowy Mikrofon pomiarowy klasy WS1, WS2 lub WS3 W poziom skuteczności ciśnieniowej - moduł M2-587 M2-588 Akustyka i drgania Akustyka i drgania Akustyka Mikrofon pomiarowy Mikrofon pomiarowy klasy WS1, WS2 lub WS3 Mikrofon pomiarowy klasy WS1, WS2 lub WS3 W W Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda 250 Hz, 500, Hz i 1kHz metoda wzajemności 250 Hz metoda wzorcowego kalibratora 250 Hz lub 1 kHz metoda wzorcowego kalibratora CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) G 0,07 dB lub 0,08 dB NIE GUM G Niepewność zależy od M24 klasy mikrofonu. 650,00 0,08 dB ÷ 0,10 dB NIE GUM G Niepewność zależy od M24 klasy mikrofonu. 650,00 G Niepewność zależy od częstotliwości i rodzaju mikrofonu. Dla mikrofonów przeznaczonych do stosowania w polu M24 swobodnym w niepewności uwzględnia się niepewność poprawek dla pola swobodnego 520,00 G Niepewność zależy od częstotliwości i rodzaju mikrofonu. Dla mikrofonów przeznaczonych do stosowania w polu M24 swobodnym w niepewności uwzględnia się niepewność poprawek dla pola swobodnego 845,00 poziom skuteczności ciśnieniowej - moduł 0,05 dB ÷ 0,11 dB TAK GUM G W poziom ciśnienia akustycznego 4) GUM NIE NIE GUM GUM Niepewność zależy od rodzaju zastosowanego M24 mikrofonu wzorcowego i od rodzaju kalibratora wzorcowanego Niepewność zależy od rodzaju zastosowanego M24 mikrofonu wzorcowego i od rodzaju kalibratora wzorcowanego 1560,00 M2-589 Akustyka i drgania Akustyka Kalibrator akustyczny jednoczęstotliwościow Kalibrator akustyczny y, jeden poziom ciśnienia akustycznego M2-590 Akustyka i drgania Akustyka Kalibrator akustyczny jednoczęstotliwościow Kalibrator akustyczny y, dwa poziomy ciśnienia akustycznego W poziom ciśnienia akustycznego 70 dB ÷ 130 dB 160 Hz ÷ 1 kHz metoda wzorcowego mikrofonu 0,05 dB ÷ 0,11 dB TAK GUM G M2-591 Akustyka i drgania Akustyka Kalibrator akustyczny jednoczęstotliwościow Kalibrator akustyczny y, jeden poziom ciśnienia akustycznego W poziom ciśnienia akustycznego 70 dB ÷ 130 dB 160 Hz ÷ 1 kHz metoda porównawcza 0,08 dB ÷ 0,12 dB NIE GUM G Niepewność zależy od rodzaju kalibratora M24 wzorcowanego 520,00 M2-592 Akustyka i drgania Akustyka Kalibrator akustyczny jednoczęstotliwościow Kalibrator akustyczny y, dwa poziomy ciśnienia akustycznego W poziom ciśnienia akustycznego 70 dB ÷ 130 dB 160 Hz ÷ 1 kHz metoda porównawcza 0,08 dB ÷ 0,12 dB NIE GUM G Niepewność zależy od rodzaju kalibratora M24 wzorcowanego 650,00 Strona 92 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za realizację usługi TAK 250 Hz lub 1 kHz - metoda wzorcowego kalibratora i 0,08 dB ÷ 0,10 dB od 20 Hz do górnej 0,1 dB ÷ 0,9 dB częstotliwości granicznej mikrofonu metoda pobudnika elektrostatycznego 70 dB ÷ 130 dB 160 Hz ÷ 1 kHz metoda wzorcowego mikrofonu Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 250 0,05 dB przy częstotliwości Hz od 20 Hz do górnej częstotliwości granicznej mikrofonu metoda 0,1 dB ÷ 0,9 dB pobudnika elektrostatycznego Mikrofon pomiarowy Uwagi dot. wzorcowania Liczba rbg dotyczy wzorcowania w całym zakresie M24 częstotliwości. Niepewność zależy od częstotliwości pomiarowej. poziom skuteczności ciśnieniowej - moduł Akustyka Uwagi dotyczące miejsca realizacji 650,00 845,00 ID Obiektu M2-593 M2-594 M2-595 M2-596 M2-597 Dziedzina Akustyka i drgania Akustyka i drgania Akustyka i drgania Akustyka i drgania Akustyka i drgania Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Akustyka Kalibrator akustyczny wieloczęstotliwościowy Kalibrator akustyczny - jeden poziom ciśnienia akustycznego Akustyka Kalibrator akustyczny wieloczęstotliwościowy Kalibrator akustyczny - dwa poziomy ciśnienia akustycznego Akustyka Akustyka Akustyka Miernik poziomu dźwięku spełniający Przyrząd do pomiaru wymagania norm PNdźwięku EN 60651(U) i PN-EN 60804(U) Miernik poziomu dźwięku spełniający Przyrząd do pomiaru wymagania normy PNdźwięku EN 60651(U) albo normy PN-EN 60804(U) Miernik poziomu dźwięku spełniający Przyrząd do pomiaru wymagania normy PNdźwięku EN 61672-1, jednokanałowy W Wzorcowanie wielkość mierzona poziom ciśnienia akustycznego W poziom ciśnienia akustycznego W odpowiedź miernika na sygnał akustyczny w warunkach ciśnieniowych/ odpowiedź miernika na sygnały akustyczne w polu swobodnym w zakresie częstotliwości słyszalnych/ odpowiedź miernika na sygnały elektryczne określone w normach przedmiotowych W odpowiedź miernika na sygnał akustyczny w warunkach ciśnieniowych/ odpowiedź miernika na sygnały akustyczne w polu swobodnym w zakresie częstotliwości słyszalnych/ odpowiedź miernika na sygnały elektryczne określone w normach przedmiotowych W odpowiedź miernika na sygnał akustyczny w warunkach ciśnieniowych/ odpowiedź miernika na sygnały akustyczne w polu swobodnym w zakresie częstotliwości słyszalnych/ odpowiedź miernika na sygnały elektryczne określone w normie PN-EN 61672-3 Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda 70 dB ÷ 130 dB 31,5 Hz ÷ 16 kHz metoda wzorcowego mikrofonu 70 dB ÷ 130 dB 31,5 Hz ÷ 16 kHz metoda wzorcowego mikrofonu 0,10 dB ÷ 0,15 dB 0,10 dB ÷ 0,15 dB CMC NIE NIE 0,2 dB, 03 dB lub 0,5 dB/ TAK 0,2 dB ÷ 0,9 dB/ 0,2 dB ÷ 0,5 dB 0,2 dB, 03 dB lub 0,5 dB/ TAK 0,2 dB ÷ 0,9 dB/ 0,1 dB ÷ 0,3 dB 0,2 dB/ 0,2 dB ÷ 0,6 dB/ 0,1 dB ÷ 0,3 dB Strona 93 NIE Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) GUM GUM GUM GUM GUM Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi G Niepewność zależy od częstotliwości sygnału Liczba rbg dotyczy wzorcowania M24 kalibratora w całym zakresie częstotliwości dla jednego poziomu. 1495,00 G Niepewność zależy od częstotliwości sygnału Liczba rbg dotyczy wzorcowania M24 kalibratora w całym zakresie częstotliwości dla jednego poziomu. 2405,00 G Niepewność zależy od rodzaju zastosowanego kalibratora i rozdzielczości miernika/ od M24 częstotliwości pomiarowej oraz typu miernika i mikrofonu/ od typu miernika oraz od rodzaju jego charakterytyki. 1170,00 G Niepewność zależy od rodzaju zastosowanego kalibratora i rozdzielczości miernika/ od częstotliwości M24 pomiarowej oraz typu miernika i mikrofonu/ od typu miernika oraz od rodzaju jego charakterytyki. 975,00 G Niepewność zależy od częstotliwości pomiarowej oraz typu miernika M24 i mikrofonu oraz od typu miernika i rodzaju jego charakterytyki. 1040,00 ID Obiektu M2-598 M2-599 M2-600 M2-601 Dziedzina Akustyka i drgania Akustyka i drgania Akustyka i drgania Akustyka i drgania Subdziedzina Akustyka Akustyka Akustyka Akustyka Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Miernik poziomu dźwięku spełniający Przyrząd do pomiaru wymagania normy PNdźwięku EN 61672-1, dwukanałowy Miernik poziomu dźwięku spełniający Przyrząd do pomiaru wymagania normy PNdźwięku EN 61672-1, trzykanałowy Miernik poziomu dźwięku spełniający Przyrząd do pomiaru wymagania normy PNdźwięku EN 61672-1, czterokanałowy Miernik poziomu dźwięku SONOPAN Przyrząd do pomiaru typ AS-200 dźwięku spełniający wymagania normy PNEN 61672-1 Wzorcowanie wielkość mierzona W odpowiedź miernika na sygnał akustyczny w warunkach ciśnieniowych/ odpowiedź miernika na sygnały akustyczne w polu swobodnym w zakresie częstotliwości słyszalnych/ odpowiedź miernika na sygnały elektryczne określone w normie PN-EN 61672-3 W odpowiedź miernika na sygnał akustyczny w warunkach ciśnieniowych/ odpowiedź miernika na sygnały akustyczne w polu swobodnym w zakresie częstotliwości słyszalnych/ odpowiedź miernika na sygnały elektryczne określone w normie PN-EN 61672-3 W odpowiedź miernika na sygnał akustyczny w warunkach ciśnieniowych/ odpowiedź miernika na sygnały akustyczne w polu swobodnym w zakresie częstotliwości słyszalnych/ odpowiedź miernika na sygnały elektryczne określone w normie PN-EN 61672-3 W odpowiedź miernika na sygnał akustyczny w warunkach ciśnieniowych/ odpowiedź miernika na sygnały akustyczne w polu swobodnym w zakresie częstotliwości słyszalnych/ odpowiedź miernika na sygnały elektryczne określone w normie PN-EN 61672-3 Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda 0,2 dB/ 0,2 dB ÷ 0,6 dB/ 0,1 dB ÷ 0,3 dB 0,2 dB/ 0,2 dB ÷ 0,6 dB/ 0,1 dB ÷ 0,3 dB CMC NIE NIE 0,2 dB lub 0,3 dB/ 0,2 dB ÷ 0,6 dB/ 0,1 dB NIE ÷ 0,3 dB 0,2 dB/ 0,2 dB ÷ 0,6 dB/ 0,1 dB ÷ 0,3 dB Strona 94 NIE Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) GUM GUM GUM GUM Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi G Niepewność zależy od częstotliwości pomiarowej oraz typu miernika M24 i mikrofonu oraz od typu miernika i rodzaju jego charakterytyki. 1560,00 G Niepewność zależy od częstotliwości pomiarowej oraz typu miernika M24 i mikrofonu oraz od typu miernika i rodzaju jego charakterytyki. 2210,00 G Niepewność zależy od częstotliwości pomiarowej oraz typu miernika M24 i mikrofonu oraz od typu miernika i rodzaju jego charakterytyki. 2730,00 G Niepewność zależy od częstotliwości pomiarowej oraz typu miernika M24 i mikrofonu oraz od typu miernika i rodzaju jego charakterytyki. 715,00 ID Obiektu M2-602 M2-603 M2-604 M2-605 M2-606 Dziedzina Akustyka i drgania Akustyka i drgania Akustyka i drgania Akustyka i drgania Akustyka i drgania Subdziedzina Akustyka Akustyka Akustyka Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Indywidualny miernik ekspozycji na dźwięk Przyrząd do pomiaru (dozymetr hałasu) dźwięku jednokanałowy, w zakresie podstawowym Indywidualny miernik ekspozycji na dźwięk Przyrząd do pomiaru (dozymetr hałasu) jednokanałowy, dźwięku w zakresie rozszerzonym Indywidualny miernik ekspozycji na dźwięk Przyrząd do pomiaru (dozymetr hałasu) dźwięku dwukanałowy, w zakresie podstawowym Akustyka Indywidualny miernik ekspozycji na dźwięk Przyrząd do pomiaru (dozymetr hałasu) dwukanałowy, dźwięku w zakresie rozszerzonym Akustyka Miernik poziomu ciśnienia Przyrząd do pomiaru akustycznego w zakresie dźwięku częstotliwości infradźwiękowych Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) W odpowiedź miernika na sygnał akustyczny w warunkach ciśnieniowych/ odpowiedź miernika na sygnały akustyczne w polu swobodnym w zakresie częstotliwości słyszalnych/ odpowiedź miernika na sygnały elektryczne określone w normie PN-EN 61252 3,25%/ 0,2 dB ÷ 0,9 dB/ 1,5% ÷ 10% NIE GUM G W odpowiedź miernika na sygnał akustyczny w warunkach ciśnieniowych/ odpowiedź miernika na sygnały akustyczne w polu swobodnym w zakresie częstotliwości słyszalnych/ odpowiedź miernika na sygnały elektryczne określone w normie PN-EN 61252 3,25%; 0,2 dB ÷ 0,9 dB; 1,5% ÷ 26% NIE GUM G W odpowiedź miernika na sygnał akustyczny w warunkach ciśnieniowych/ odpowiedź miernika na sygnały akustyczne w polu swobodnym w zakresie częstotliwości słyszalnych/ odpowiedź miernika na sygnały elektryczne określone w normie PN-EN 61252 3,25%; 0,2 dB ÷ 0,9 dB; 1,5% ÷ 10% NIE GUM G W odpowiedź miernika na sygnał akustyczny w warunkach ciśnieniowych/ odpowiedź miernika na sygnały akustyczne w polu swobodnym w zakresie częstotliwości słyszalnych/ odpowiedź miernika na sygnały elektryczne określone w normie PN-EN 61252 3,25%/ 0,2 dB ÷ 0,9 dB/ 1,5% ÷ 26% NIE GUM G W odpowiedź miernika na sygnał akustyczny w warunkach ciśnieniowych/ odpowiedź miernika na sygnały akustyczne w polu swobodnym w zakresie częstotliwości infradźwiękowych 0,2 dB/ 0,3 dB NIE DPLA / DFM G Strona 95 Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi Niepewność zależy od: rodzaju zastosowanego kalibratora i rozdzielczości miernika/ od częstotliwości pomiarowej oraz typu miernika i mikrofonu/ od typu miernika, rodzaju jego charakterytyki i czasu całkowania. Niepewność zależy od: rodzaju zastosowanego kalibratora i rozdzielczości miernika/ od częstotliwości pomiarowej oraz typu miernika i mikrofonu/ od typu miernika, rodzaju jego charakterytyki i czasu całkowania. Niepewność zależy od: rodzaju zastosowanego kalibratora i rozdzielczości miernika/ od częstotliwości pomiarowej oraz typu miernika i mikrofonu/ od typu miernika, rodzaju jego charakterytyki i czasu całkowania. Niepewność zależy od: rodzaju zastosowanego kalibratora i rozdzielczości miernika/ od częstotliwości pomiarowej oraz typu miernika i mikrofonu/ od typu miernika, rodzaju jego charakterytyki i czasu całkowania. M24 910,00 M24 1300,00 M24 1430,00 M24 2535,00 M24 910,00 ID Obiektu M2-607 M2-608 M2-609 M2-610 M2-611 M2-612 M2-613 Dziedzina Akustyka i drgania Akustyka i drgania Akustyka i drgania Akustyka i drgania Akustyka i drgania Akustyka i drgania Akustyka i drgania Subdziedzina Akustyka Akustyka Akustyka Akustyka Akustyka Akustyka Akustyka Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Miernik poziomu ciśnienia akustycznego Przyrząd do pomiaru z filtrami 1/3dźwięku oktawowymi w zakresie częstotliwości ultradźwiękowych Miernik poziomu Przyrząd do pomiaru dźwięku wyposażony dźwięku w filtry pasmowe oktawowe, analogowe Miernik poziomu Przyrząd do pomiaru dźwięku wyposażony dźwięku w filtry pasmowe 1/3oktawowe, analogowe Miernik poziomu dźwięku wyposażony Przyrząd do pomiaru w filtry pasmowe dźwięku oktawowe i 1/3oktawowe, analogowe Miernik poziomu Przyrząd do pomiaru dźwięku wyposażony dźwięku w filtry pasmowe oktawowe, cyfrowe Miernik poziomu Przyrząd do pomiaru dźwięku wyposażony dźwięku w filtry pasmowe 1/3oktawowe, cyfrowe Miernik poziomu dźwięku wyposażony Przyrząd do pomiaru w filtry pasmowe dźwięku oktawowe i 1/3oktawowe, cyfrowe W Wzorcowanie wielkość mierzona charakterystyka częstotliwościowa mikrofonu/ charakterystyki tłumienia względnego filtrów/ odpowiedź miernika z filtrami na elektryczne sygnały pomiarowe W odpowiedź przyrządu na sygnał akustyczny w warunkach ciśnieniowych/ odpowiedź przyrządu na sygnały elektryczne określone w normach przedmiotowych W odpowiedź przyrządu na sygnał akustyczny w warunkach ciśnieniowych/ odpowiedź przyrządu na sygnały elektryczne określone w normie PN-EN 61260 W odpowiedź przyrządu na sygnał akustyczny w warunkach ciśnieniowych/ odpowiedź przyrządu na sygnały elektryczne określone w normie PN-EN 61260 W odpowiedź przyrządu na sygnały akustyczne w warunkach ciśnieniowych/ odpowiedź przyrządu na sygnały elektryczne określone w normie PN-EN 61260 W odpowiedź przyrządu na sygnały akustyczne w warunkach ciśnieniowych/ odpowiedź przyrządu na sygnały elektryczne określone w normie PN-EN 61260 W odpowiedź przyrządu na sygnały akustyczne w warunkach ciśnieniowych/ odpowiedź przyrządu na sygnały elektryczne określone w normie PN-EN 61260 Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda 0,2 dB ÷ 0,5 dB/ 0,2 dB ÷ 0,3 dB/ 0,2 dB 0,2 dB ÷ 0,3 dB 0,2 dB ÷ 0,3 dB 0,2 dB ÷ 0,3 dB 0,2 dB ÷ 0,3 dB 0,2 dB ÷ 0,3 dB 0,2 dB ÷ 0,3 dB Strona 96 CMC NIE NIE NIE NIE NIE NIE NIE Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) GUM GUM GUM GUM GUM GUM GUM Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi G Niepewność zależy od częstotliwości pomiarowej i rodzaju mikrofonu, w M24 jaki wyposażony jest miernik / od wartości tłumienia względnego filtru. 1170,00 G W czasie wzorcowania wyznacza się charakterystyki tłumienia względnego M24 wszystkich filtrów oktawowych z zakresu 31,5 Hz - 16 kHz. 650,00 G W czasie wzorcowania wyznacza się charakterystyki tłumienia względnego M24 wszystkich filtrów 1/3oktawowych z zakresu 20 Hz ÷ 20 kHz. 1040,00 G W czasie wzorcowania wyznacza się charakterystyki tłumienia względnego M24 wszystkich filtrów oktawowych i 1/3-oktawowych z zakresu 20 Hz ÷ 20 kHz. 1365,00 G W czasie wzorcowania wyznacza się charakterystyki M24 tłumienia względnego trzech wybranych filtrów oktawowych. 455,00 G W czasie wzorcowania wyznacza się charakterystyki M24 tłumienia względnego dziewięciu wybranych filtrów 1/3oktawowych. 715,00 G W czasie wzorcowania wyznacza się charakterystyki tłumienia względnego M24 trzech wybranych filtrów oktawowych i dziewięciu wybranych filtrów 1/3oktawowych. 845,00 ID Obiektu M2-614 M2-615 M2-616 Dziedzina Akustyka i drgania Akustyka i drgania Akustyka i drgania Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Akustyka Symulator ucha i głowica impedancyjna do wzorcowania sprzęgaczy mechanicznych Akustyka Symulator ucha i głowica impedancyjna Sprzęgacz do wzorcowania mechaniczny sprzęgaczy mechanicznych Audiometr Audiometr Układ pomiarowy ze sprzęgaczem odniesienia lub sztucznym uchem Audiometr Wzorcowanie wielkość mierzona W poziom odpowiedzi układu W poziom skuteczności przy 250 Hz ÷ 4 kHz pobudzeniu siłą metoda porównawcza/ dynamiczną/ poziom 250 Hz ÷ 4 kHz impedancji mechanicznej metoda porównawcza/ - moduł/ poziom 250 Hz impedancji mechanicznej metoda bezpośrednia - faza W poziom ciśnienia akustycznego dla przewodnictwa powietrznego/ poziom siły dynamicznej dla przewodnictwa kostnego Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda 125 Hz ÷ 8 kHz metoda porównawcza 0 dB ÷ 130 dB 125 Hz ÷ 8 kHz/ 0 dB ÷ 80 dB 250 Hz ÷ 4 kHz CMC 0,3 dB NIE 0,4 dB ÷ 0,5 dB/ 0,6 dB/ 1° NIE 0,4 dB/ 0,6 dB NIE Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) NPL / GUM PTB / GUM NPL / GUM PTB / GUM Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi G M24 845,00 G Niepewność zależy od częstotliwości M24 pomiarowej. 1300,00 G Liczba rbg dotyczy wyznaczenia poziomów słyszenia tonów, poziomów szumów maskujących, częstotliwości tonów, zniekształceń nieliniowych oraz siły docisku pałąka M24 słuchawek nausznych/ Liczba rbg dotyczy wyznaczenia poziomów słyszenia tonów, zniekształceń nieliniowych oraz siły docisku pałąka słuchawki kostnej. 845,00 M2-617 Akustyka i drgania Drgania Miernik drgań maszyn Przyrządy do pomiaru 1 kanał, wielkość drgań mechanicznych mierzona: prostoliniowych przyspieszenie W błąd wskazań miernika 0,5 Hz ÷ 100 Hz metoda porównawcza 1,1% ÷ 1,6% zależnie TAK od częstotliwości PTB G kierunek drgań poziomy; przyspieszenie max. 1 m/s2 M24 M2-618 Akustyka i drgania Drgania Miernik drgań maszyn Przyrządy do pomiaru 1 kanał, wielkość drgań mechanicznych mierzona: prostoliniowych przyspieszenie W błąd wskazań miernika 0,5 Hz ÷ 100 Hz metoda 1,1% ÷ 1,6% zależnie TAK porównawcza od częstotliwości PTB G kierunek drgań poziomy; przyspieszenie max. 1 m/s2 M24 M2-619 Akustyka i drgania Drgania Miernik drgań maszyn Przyrządy do pomiaru 1 kanał, wielkość drgań mechanicznych mierzona: prostoliniowych przyspieszenie W błąd wskazań miernika 0,5 Hz ÷ 100 Hz metoda porównawcza PTB G kierunek drgań poziomy; przyspieszenie max. 1 m/s2 M24 1,1% ÷ 1,6% zależnie TAK od częstotliwości Strona 97 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za Koszt dotyczy miernika 1kanałowego o 1 wzmocnieniu z 1 przetwornikiem 390,00 piezoelektrycznym. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Koszt dotyczy miernika 1kanałowego o 1 wzmocnieniu z 1 przetwornikiem 455,00 piezoelektrycznym. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Koszt dotyczy miernika 1kanałowego o 1 wzmocnieniu z 1 przetwornikiem 520,00 piezoelektrycznym. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi M2-620 Akustyka i drgania Drgania Miernik drgań maszyn Przyrządy do pomiaru 1 kanał, wielkość drgań mechanicznych mierzona: prostoliniowych przyspieszenie W błąd wskazań miernika 0,5 Hz ÷ 100 Hz metoda porównawcza 1,1% ÷ 1,6% zależnie TAK od częstotliwości PTB G kierunek drgań poziomy; przyspieszenie max. 1 m/s2 M24 M2-621 Akustyka i drgania Drgania Miernik drgań maszyn Przyrządy do pomiaru 1 kanał, wielkość drgań mechanicznych mierzona: prostoliniowych przyspieszenie W błąd wskazań miernika 0,5 Hz ÷ 100 Hz metoda porównawcza 1,1% ÷ 1,6% zależnie TAK od częstotliwości PTB G kierunek drgań poziomy; przyspieszenie max. 1 m/s2 M24 M2-622 Akustyka i drgania Drgania Miernik drgań maszyn Przyrządy do pomiaru 1 kanał, wielkość drgań mechanicznych mierzona: prostoliniowych przyspieszenie W błąd wskazań miernika 0,5 Hz ÷ 100 Hz metoda porównawcza 1,1% ÷ 1,6% zależnie TAK od częstotliwości PTB G kierunek drgań poziomy; przyspieszenie max. 1 m/s2 M24 M2-623 M2-624 M2-625 Akustyka i drgania Akustyka i drgania Akustyka i drgania Drgania Drgania Drgania Miernik drgań maszyn Przyrządy do pomiaru 1 kanał, wielkość drgań mechanicznych mierzona: prostoliniowych przyspieszenie Miernik drgań maszyn Przyrządy do pomiaru 1 kanał, wielkość drgań mechanicznych mierzona: prostoliniowych przyspieszenie Miernik drgań maszyn 1 kanał, wielkość mierzona: przyspieszenie W W W błąd wskazań miernika błąd wskazań miernika błąd wskazań miernika 5 Hz ÷ 5 kHz metoda porównawcza 5 Hz ÷ 5 kHz metoda porównawcza 5 Hz ÷ 5 kHz metoda porównawcza 1,1% ÷ 1,6% zależnie TAK od częstotliwości 1,1% ÷ 1,6% zależnie TAK od częstotliwości 1,1% ÷ 1,6% zależnie TAK od częstotliwości Strona 98 GUM GUM GUM G G G Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za Koszt dotyczy miernika 1kanałowego o 1 wzmocnieniu z 1 przetwornikiem 650,00 piezoelektrycznym. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Koszt dotyczy miernika 1kanałowego o 1 wzmocnieniu z 1 przetwornikiem 780,00 piezoelektrycznym. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Koszt dotyczy miernika 1kanałowego o 1 wzmocnieniu z 1 przetwornikiem 910,00 piezoelektrycznym. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. M24 Koszt dotyczy miernika 1kanałowego o 1 wzmocnieniu z 1 przetwornikiem 390,00 piezoelektrycznym i 1 wielkości mierzonej. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. M24 Koszt dotyczy miernika 1kanałowego o 1 wzmocnieniu z 1 przetwornikiem 455,00 piezoelektrycznym i 1 wielkości mierzonej. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. M24 Koszt dotyczy miernika 1kanałowego o 1 wzmocnieniu z 1 przetwornikiem piezoelektrycznym i 1 520,00 wielkości mierzonej.Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. ID Obiektu M2-626 M2-627 M2-628 M2-629 M2-630 M2-631 Dziedzina Akustyka i drgania Akustyka i drgania Akustyka i drgania Akustyka i drgania Akustyka i drgania Akustyka i drgania Subdziedzina Drgania Drgania Drgania Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Miernik drgań maszyn Przyrządy do pomiaru 1 kanał, wielkość drgań mechanicznych mierzona: prostoliniowych przyspieszenie Miernik drgań maszyn Przyrządy do pomiaru 1 kanał, wielkość drgań mechanicznych mierzona: prostoliniowych przyspieszenie Miernik drgań maszyn Przyrządy do pomiaru 1 kanał, wielkość drgań mechanicznych mierzona: prostoliniowych przyspieszenie Drgania Miernik drgań maszyn Przyrządy do pomiaru 1 kanał, wielkość drgań mechanicznych mierzona: prostoliniowych przyspieszenie Drgania Miernik drgań Przyrządy do pomiaru mechanicznych drgań mechanicznych działających na prostoliniowych człowieka (o działaniu ogólnym) Drgania Miernik drgań mechanicznych Przyrządy do pomiaru działających na drgań mechanicznych człowieka prostoliniowych (przenoszonych przez kończyny górne) W W W W W W Wzorcowanie wielkość mierzona błąd wskazań miernika błąd wskazań miernika błąd wskazań miernika Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda 5 Hz ÷ 5 kHz metoda porównawcza 5 Hz ÷ 5 kHz metoda porównawcza 5 Hz ÷ 5 kHz metoda porównawcza CMC 1,1% ÷ 1,6% zależnie TAK od częstotliwości 1,1% ÷ 1,6% zależnie TAK od częstotliwości 1,1% ÷ 1,6% zależnie TAK od częstotliwości błąd wskazań miernika 5 Hz ÷ 5 kHz metoda porównawcza 1,1% ÷ 1,6% zależnie TAK od częstotliwości błędy wskazań i błędy charakterystyk zależnie od wg mierzonego PN-EN ISO 8041:2008 parametru od 1,1% NIE (zakres wzorcowania wg do 2,8% dla miernika rozdziału 13) o rozdzielczości 1% błędy wskazań i błędy charakterystyk zależnie od wg mierzonego PN-EN ISO 8041:2008 NIE parametru od 1,1% (zakres wzorcowania wg do 2,8% dla miernika rozdziału 13) o rozdzielczości 1% Strona 99 Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) GUM GUM GUM GUM GUM GUM Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi G G G G G 3 - kanały; 1 przetwornik 3-osiowy do drgań o działaniu ogólnym G 3 - kanały; 1 przetwornik 3-osiowy do drgań przenoszonych przez kończyny górne M24 Koszt dotyczy miernika 1kanałowego o 1 wzmocnieniu z 1 przetwornikiem 650,00 piezoelektrycznym i 1 wielkości mierzonej. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. M24 Koszt dotyczy miernika 1kanałowego o 1 wzmocnieniu z 1 przetwornikiem piezoelektrycznym i 1 780,00 wielkości mierzonej.Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. M24 Koszt dotyczy miernika 1kanałowego o 1 wzmocnieniu z 1 przetwornikiem 1040,00 piezoelektrycznym i 1 wielkości mierzonej. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. M24 Koszt dotyczy miernika 1kanałowego o 1 wzmocnieniu z 1 przetwornikiem 1235,00 piezoelektrycznym i 1 wielkości mierzonej. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. M24 Koszt dotyczy podanej konfiguracji miernika Cena za 2080,00 usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. M24 Koszt dotyczy podanej konfiguracji miernika Cena za 1560,00 usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. ID Obiektu M2-632 Dziedzina Akustyka i drgania Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Drgania Miernik drgań Przyrządy do pomiaru mechanicznych drgań mechanicznych działających na prostoliniowych człowieka Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania 4) G 3 - kanały; po 1 przetworniku 3-osiowym do drgań o M24 działaniu ogólnym i przenoszonych przez kończyny górne Koszt dotyczy podanej konfiguracji miernika. Cena za 2860,00 usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Koszt dotyczy podanej konfiguracji miernika. Cena za 2340,00 usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. błędy wskazań i błędy charakterystyk W błędy wskazań i błędy charakterystyk zależnie od wg mierzonego PN-EN ISO 8041:2008 parametru od 1,1% NIE (zakres wzorcowania wg do 2,8% dla miernika rozdziału 13) o rozdzielczości 1% GUM G 3 - kanały; po 1 przetworniku 3-osiowym do drgań o działaniu ogólnym i przenoszonych przez kończyny górne GUM M2-633 Akustyka i drgania Drgania Miernik drgań Przyrządy do pomiaru mechanicznych drgań mechanicznych działających na prostoliniowych człowieka M2-634 Akustyka i drgania Drgania Kalibrator drgań Przyrządy do pomiaru mechanicznych drgań mechanicznych jednoczęstotliwościow prostoliniowych y, jedna wartość przyspieszenia drgań W przyspieszenie, częstotliwość porównawcza 0,8% TAK GUM G częstotliwość nominalna 79,6 Hz lub M24 159,2 Hz 455,00 M2-635 Akustyka i drgania Drgania Kalibrator drgań Przyrządy do pomiaru mechanicznych drgań mechanicznych jednoczęstotliwościow prostoliniowych y, jedna wartość przyspieszenia drgań W przyspieszenie, częstotliwość porównawcza 0,8% NIE GUM G częstotliwość nominalna 16 Hz M24 585,00 Drgania Kalibrator drgań Przyrządy do pomiaru mechanicznych drgań mechanicznych dwuczęstotliwościowy, prostoliniowych dwie wartości przyspieszenia drgań porównawcza TAK - dla częstotliwości 79,6 0,8% ÷ 2,5% zależnie Hz lub GUM od rodzaju kalibratora 159,2 Hz; NIE - dla 16 Hz G częstotliwości nominalne 16 Hz i 79,6 Hz lub 16 Hz i 159,2 Hz M24 650,00 Drgania Kalibrator drgań Przyrządy do pomiaru mechanicznych drgań mechanicznych dwuczęstotliwościowy, prostoliniowych dwie wartości przyspieszenia drgań porównawcza TAK - dla częstotliwości 79,6 0,8% ÷ 2,5% zależnie Hz lub GUM od rodzaju kalibratora 159,2 Hz; NIE - dla 16 Hz G częstotliwości nominalne 16 Hz i 79,6 Hz lub 16 Hz i 159,2 Hz M24 780,00 M2-636 M2-637 Akustyka i drgania Akustyka i drgania W W przyspieszenie, częstotliwość przyspieszenie, częstotliwość M2-638 Akustyka i drgania Drgania Przyrządy do pomiaru Przetwornik drgań drgań mechanicznych mechanicznych prostoliniowych W czułość w funkcji częstotliwości 5 Hz ÷ 10 kHz metoda bezwzględna M2-639 Akustyka i drgania Drgania Przyrządy do pomiaru Przetwornik drgań drgań mechanicznych mechanicznych prostoliniowych W czułość w funkcji częstotliwości 5 Hz ÷ 10 kHz metoda bezwzględna M2-640 Akustyka i drgania Drgania Przyrządy do pomiaru Przetwornik drgań drgań mechanicznych mechanicznych prostoliniowych W czułość w funkcji częstotliwości 5 Hz ÷ 10 kHz metoda bezwzględna TAK - dla zakresu 10 Hz ÷ 10 0,5% ÷ 1,4% zależnie kHz; od częstotliwości NIE - dla zakresu 5 Hz ÷ 8 Hz TAK - dla zakresu 10 Hz ÷ 10 0,5% ÷ 1,4% zależnie kHz; od częstotliwości NIE - dla zakresu 5 Hz ÷ 8 Hz TAK - dla zakresu 10 Hz ÷ 10 0,5% ÷ 1,4% zależnie kHz; od częstotliwości NIE - dla zakresu 5 Hz ÷ 8 Hz Strona 100 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za realizację usługi zależnie od wg mierzonego PN-EN ISO 8041:2008 parametru od 1,1% NIE (zakres wzorcowania wg do 2,8% dla miernika rozdziału 13) o rozdzielczości 1% W Cena Lab. całkowita za wzorcowanie M24 GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M24 1300,00 GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M24 1430,00 GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M24 1560,00 ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona M2-641 Akustyka i drgania Drgania Przyrządy do pomiaru Przetwornik drgań drgań mechanicznych mechanicznych prostoliniowych W czułość w funkcji częstotliwości 5 Hz ÷ 10 kHz metoda bezwzględna M2-642 Akustyka i drgania Drgania Przyrządy do pomiaru Przetwornik drgań drgań mechanicznych mechanicznych prostoliniowych W czułość w funkcji częstotliwości 5 Hz ÷ 10 kHz metoda bezwzględna M2-643 M2-644 M2-645 M2-646 M2-647 Akustyka i drgania Akustyka i drgania Akustyka i drgania Akustyka i drgania Akustyka i drgania Drgania Drgania Drgania Drgania Drgania Przyrządy do pomiaru Przetwornik drgań drgań mechanicznych mechanicznych prostoliniowych Przyrządy do pomiaru Przetwornik drgań drgań mechanicznych mechanicznych prostoliniowych Przyrządy do pomiaru Przetwornik drgań drgań mechanicznych mechanicznych prostoliniowych Przyrządy do pomiaru Przetwornik drgań drgań mechanicznych mechanicznych prostoliniowych Przyrządy do pomiaru Przetwornik drgań drgań mechanicznych mechanicznych prostoliniowych W W W W W czułość w funkcji częstotliwości czułość w funkcji częstotliwości czułość w funkcji częstotliwości czułość w funkcji częstotliwości czułość w funkcji częstotliwości Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda 0,5 Hz ÷ 100 Hz metoda porównawcza 0,5 Hz ÷ 100 Hz metoda porównawcza 0,5 Hz ÷ 100 Hz metoda porównawcza 0,5 Hz ÷ 100 Hz metoda porównawcza 0,5 Hz ÷ 100 Hz metoda porównawcza CMC TAK - dla zakresu 10 Hz ÷ 10 0,5% ÷ 1,4% zależnie kHz; od częstotliwości NIE - dla zakresu 5 Hz ÷ 8 Hz TAK - dla zakresu 10 Hz ÷ 10 0,5% ÷ 1,4% zależnie kHz; od częstotliwości NIE - dla zakresu 5 Hz ÷ 8 Hz 0,9% ÷ 1,4% zależnie TAK od częstotliwości 0,9% ÷ 1,4% zależnie TAK od częstotliwości 0,9% ÷ 1,4% zależnie TAK od częstotliwości 0,9 % ÷ 1,4 % zależnie od częstotliwości TAK 0,9% ÷ 1,4% zależnie TAK od częstotliwości Strona 101 Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M24 1690,00 GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M24 1820,00 PTB PTB PTB PTB PTB G G G G G Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za M24 Koszt dotyczy 1 typowego 1-osiowego piezoelektrycznego przetwornika o masie 390,00 do 300 g. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. M24 Koszt dotyczy 1 typowego 1-osiowego piezoelektrycznego przetwornika o masie 455,00 do 300 g. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. M24 Koszt dotyczy 1 typowego 1-osiowego piezoelektrycznego przetwornika o masie 520,00 do 300 g. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. kierunek drgań poziomy; M24 przyspieszenie max. 1 2 m/s Koszt dotyczy 1 typowego 1-osiowego piezoelektrycznego przetwornika o masie 650,00 do 300 g. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. kierunek drgań poziomy; przyspieszenie max. 1 m/s2 Koszt dotyczy 1 typowego 1-osiowego piezoelektrycznego przetwornika o masie 780,00 do 300 g. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. kierunek drgań poziomy; przyspieszenie max. 1 m/s2 kierunek drgań poziomy; przyspieszenie max. 1 m/s2 kierunek drgań poziomy; przyspieszenie max. 1 m/s2 M24 ID Obiektu M2-648 M2-649 M2-650 M2-651 M2-652 Dziedzina Akustyka i drgania Akustyka i drgania Akustyka i drgania Akustyka i drgania Akustyka i drgania Subdziedzina Drgania Drgania Drgania Drgania Drgania Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Przyrządy do pomiaru Przetwornik drgań drgań mechanicznych mechanicznych prostoliniowych Przyrządy do pomiaru Przetwornik drgań drgań mechanicznych mechanicznych prostoliniowych Przyrządy do pomiaru Przetwornik drgań drgań mechanicznych mechanicznych prostoliniowych Przyrządy do pomiaru Przetwornik drgań drgań mechanicznych mechanicznych prostoliniowych Przyrządy do pomiaru Przetwornik drgań drgań mechanicznych mechanicznych prostoliniowych W W W W W Wzorcowanie wielkość mierzona czułość w funkcji częstotliwości czułość w funkcji częstotliwości czułość w funkcji częstotliwości czułość w funkcji częstotliwości czułość w funkcji częstotliwości Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda 0,5 Hz ÷ 100 Hz metoda porównawcza 5 Hz ÷ 5 kHz metoda porównawcza 5 Hz ÷ 5 kHz metoda porównawcza 5 Hz ÷ 5 kHz metoda porównawcza 5 Hz ÷ 5 kHz metoda porównawcza M2-653 Akustyka i drgania Drgania Przyrządy do pomiaru Zestaw pomiarowy - 1 drgań mechanicznych wzmocnienie prostoliniowych W czułość w funkcji częstotliwości 5 Hz ÷ 10 kHz metoda bezwzględna M2-654 Akustyka i drgania Drgania Przyrządy do pomiaru Zestaw pomiarowy - 1 drgań mechanicznych wzmocnienie prostoliniowych W czułość w funkcji częstotliwości 5 Hz ÷ 10 kHz metoda bezwzględna CMC 0,9% ÷ 1,4% zależnie TAK od częstotliwości 0,9% ÷ 1,2% zależnie TAK od częstotliwości 0,9% ÷ 1,2% zależnie TAK od częstotliwości 0,9% ÷ 1,2% zależnie TAK od częstotliwości 0,9% ÷ 1,2% zależnie TAK od częstotliwości TAK - dla zakresu 10 Hz ÷ 10 0,5% ÷ 1,4% zależnie kHz; od częstotliwości NIE - dla zakresu 5 Hz ÷ 8 Hz TAK - dla zakresu 10 Hz ÷ 10 0,5% ÷ 1,4% zależnie kHz; od częstotliwości NIE - dla zakresu 5 Hz ÷ 8 Hz Strona 102 Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) PTB GUM GUM GUM G G G G Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi kierunek drgań poziomy; przyspieszenie max. 1 m/s2 M24 Koszt dotyczy 1 typowego 1-osiowego piezoelektrycznego przetwornika o masie 910,00 do 300 g. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. M24 Koszt dotyczy 1 typowego 1-osiowego piezoelektrycznego przetwornika o masie 390,00 do 300 g. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. M24 Koszt dotyczy 1 typowego 1-osiowego piezoelektrycznego przetwornika o masie 455,00 do 300 g. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. M24 Koszt dotyczy 1 typowego 1-osiowego piezoelektrycznego przetwornika o masie 520,00 do 300 g. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Koszt dotyczy 1 typowego 1-osiowego piezoelektrycznego przetwornika o masie 650,00 do 300 g. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. GUM G M24 GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M24 1300,00 GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M24 1430,00 ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona M2-655 Akustyka i drgania Drgania Przyrządy do pomiaru Zestaw pomiarowy - 1 drgań mechanicznych wzmocnienie prostoliniowych W czułość w funkcji częstotliwości 5 Hz ÷ 10 kHz metoda bezwzględna M2-656 Akustyka i drgania Drgania Przyrządy do pomiaru Zestaw pomiarowy - 1 drgań mechanicznych wzmocnienie prostoliniowych W czułość w funkcji częstotliwości 5 Hz ÷ 10 kHz metoda bezwzględna M2-657 Akustyka i drgania Drgania Przyrządy do pomiaru Zestaw pomiarowy - 1 drgań mechanicznych wzmocnienie prostoliniowych W czułość w funkcji częstotliwości 5 Hz ÷ 10 kHz metoda bezwzględna M2-658 M2-659 M2-660 Akustyka i drgania Akustyka i drgania Akustyka i drgania Drgania Drgania Drgania Przyrządy do pomiaru Zestaw pomiarowy - 1 drgań mechanicznych wzmocnienie prostoliniowych Przyrządy do pomiaru Zestaw pomiarowy - 1 drgań mechanicznych wzmocnienie prostoliniowych Przyrządy do pomiaru Zestaw pomiarowy - 1 drgań mechanicznych wzmocnienie prostoliniowych W W W czułość w funkcji częstotliwości czułość w funkcji częstotliwości czułość w funkcji częstotliwości Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda 0,5 Hz ÷ 100 Hz metoda porównawcza 0,5 Hz ÷ 100 Hz metoda porównawcza 0,5 Hz ÷ 100 Hz metoda porównawcza CMC TAK - dla zakresu 10 Hz ÷ 10 0,5% ÷ 1,4% zależnie kHz; od częstotliwości NIE - dla zakresu 5 Hz ÷ 8 Hz TAK - dla zakresu 10 Hz ÷ 10 0,5% ÷ 1,4% zależnie kHz; od częstotliwości NIE - dla zakresu 5 Hz ÷ 8 Hz TAK - dla zakresu 10 Hz ÷ 10 0,5% ÷ 1,4% zależnie kHz; od częstotliwości NIE - dla zakresu 5 Hz ÷ 8 Hz 0,9% ÷ 1,2% zależnie TAK od częstotliwości 0,9% ÷ 1,2% zależnie TAK od częstotliwości 0,9% ÷ 1,2% zależnie TAK od częstotliwości Strona 103 Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M24 1560,00 GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M24 1690,00 GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M24 1820,00 PTB PTB PTB G G G Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za kierunek drgań poziomy; przyspieszenie max. 1 m/s2 kierunek drgań poziomy; przyspieszenie max. 1 m/s2 kierunek drgań poziomy; przyspieszenie max. 2 1 m/s M24 Koszt dotyczy 1 wielkości mierzonej, 1 wzmocnienia i 1 typowego piezoelektrycznego 390,00 przetwornika 1osiowego. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. M24 Koszt dotyczy 1 wielkości mierzonej, 1 wzmocnienia i 1 typowego piezoelektrycznego 455,00 przetwornika 1osiowego. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. M24 Koszt dotyczy 1 wielkości mierzonej, 1 wzmocnienia i 1 typowego piezoelektrycznego 520,00 przetwornika 1osiowego. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. ID Obiektu M2-661 M2-662 M2-663 M2-664 M2-665 M2-666 Dziedzina Akustyka i drgania Akustyka i drgania Akustyka i drgania Akustyka i drgania Akustyka i drgania Akustyka i drgania Subdziedzina Drgania Drgania Drgania Drgania Drgania Drgania Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Przyrządy do pomiaru Zestaw pomiarowy - 1 drgań mechanicznych wzmocnienie prostoliniowych Przyrządy do pomiaru Zestaw pomiarowy - 1 drgań mechanicznych wzmocnienie prostoliniowych Przyrządy do pomiaru Zestaw pomiarowy - 1 drgań mechanicznych wzmocnienie prostoliniowych Przyrządy do pomiaru Zestaw pomiarowy - 1 drgań mechanicznych wzmocnienie prostoliniowych Przyrządy do pomiaru Zestaw pomiarowy - 1 drgań mechanicznych wzmocnienie prostoliniowych Przyrządy do pomiaru Zestaw pomiarowy - 1 drgań mechanicznych wzmocnienie prostoliniowych W W W W W W Wzorcowanie wielkość mierzona czułość w funkcji częstotliwości czułość w funkcji częstotliwości czułość w funkcji częstotliwości czułość w funkcji częstotliwości czułość w funkcji częstotliwości czułość w funkcji częstotliwości Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda 0,5 Hz ÷ 100 Hz metoda porównawcza 0,5 Hz ÷ 100 Hz metoda porównawcza 0,5 Hz ÷ 100 Hz metoda porównawcza 5 Hz ÷ 5 kHz metoda porównawcza 5 Hz ÷ 5 kHz metoda porównawcza 5 Hz ÷ 5 kHz metoda porównawcza CMC 0,9% ÷ 1,2% zależnie TAK od częstotliwości 0,9% ÷ 1,2% zależnie TAK od częstotliwości 0,9% ÷ 1,2% zależnie TAK od częstotliwości 0,9% ÷ 1,1% zależnie TAK od częstotliwości 0,9% ÷ 1,1% zależnie TAK od częstotliwości 0,9% ÷ 1,1% zależnie TAK od częstotliwości Strona 104 Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) PTB PTB PTB GUM GUM GUM G G G G G G Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi kierunek drgań poziomy; przyspieszenie max. 1 m/s2 kierunek drgań poziomy; przyspieszenie max. 1 m/s2 kierunek drgań poziomy; przyspieszenie max. 1 m/s2 M24 Koszt dotyczy 1 wielkości mierzonej, 1 wzmocnienia i 1 typowego piezoelektrycznego 650,00 przetwornika 1osiowego. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. M24 Koszt dotyczy 1 wielkości mierzonej, 1 wzmocnienia i 1 typowego piezoelektrycznego 780,00 przetwornika 1osiowego. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. M24 Koszt dotyczy 1 wielkości mierzonej, 1 wzmocnienia i 1 typowego piezoelektrycznego 910,00 przetwornika 1osiowego. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. M24 Koszt dotyczy 1 wielkości mierzonej, 1 wzmocnienia i 1 typowego przetwornika 1390,00 osiowego. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. M24 Koszt dotyczy 1 wielkości mierzonej, 1 wzmocnienia i 1 typowego przetwornika 1455,00 osiowego. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. M24 Koszt dotyczy 1 wielkości mierzonej, 1 wzmocnienia i 1 typowego przetwornika 1520,00 osiowego. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. ID Obiektu M2-667 Dziedzina Akustyka i drgania Subdziedzina Drgania Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Przyrządy do pomiaru Zestaw pomiarowy - 1 drgań mechanicznych wzmocnienie prostoliniowych W Wzorcowanie wielkość mierzona czułość w funkcji częstotliwości Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda 5 Hz ÷ 5 kHz metoda porównawcza CMC 0,9% ÷ 1,1% zależnie TAK od częstotliwości Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) GUM Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi G M24 M3-1 Masa i wielkości pochodne Masa Wzorce masy i obciążniki W masa od 1 kg do 1 mg od 0,150 mg do 0,0006 mg TAK GUM G za komplet od 23 do 29 sztuk od 1 kg do 1 mg M3-2 Masa i wielkości pochodne Masa Wzorce masy i obciążniki W masa od 2 kg do 50 kg od 0,30 mg do 8,0 mg TAK GUM G za komplet 7 sztuk od M31 2 kg do 50 kg M3-3 M3-4 M3-5 M3-6 Masa i wielkości pochodne Masa i wielkości pochodne Masa i wielkości pochodne Masa i wielkości pochodne Masa Masa Masa Masa Wzorce masy i obciążniki Wzorce masy i obciążniki Wzorce masy i obciążniki Wzorce masy i obciążniki W W W W masa masa masa masa od 1 mg do 5 kg od 1 mg do 5 kg od 1 mg do 200 g od 1 mg do 200 g od 0,002 mg do 2,5 mg od 0,002 mg do 2,5 mg TAK TAK od 0,002 mg do 0,005 TAK mg od 0,002 mg do 0,10 mg Strona 105 TAK GUM GUM GUM GUM G G G G Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za M31 Koszt dotyczy 1 wielkości mierzonej, 1 wzmocnienia i 1 typowego przetwornika 1650,00 osiowego. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Dla kompletu wzorców masy klasy dokładności E1. Dla 6240,00 kompletów nietypowych ceny ustalane są indywidualnie. Dla kompletu wzorców masy klasy dokładności E1. Dla 5200,00 kompletów nietypowych ceny ustalane są indywidualnie. M31 Dla klasy dokładności E2. Dla wzorców i obciążników klas 390,00 dokładności od F1 do M1 ceny ustalane są indywidualnie. M31 Dla klasy dokładności E2. Dla wzorców i obciążników klas 195,00 dokładności od F1 do M1 ceny ustalane są indywidualnie. za komplet od 9 do 13 sztuk od 1 mg do 500 M31 mg Dla klasy dokładności E2. Dla wzorców i obciążników klas dokładności od F1 do 715,00 M1 oraz kompletów nietypowych ceny ustalane są indywidualnie. za komplet od 9 do 11 M31 sztuk od 1 g do 200 g Dla klasy dokładności E2. Dla wzorców i obciążników klas dokładności od F1 do 650,00 M1 oraz kompletów nietypowych ceny ustalane są indywidualnie. za pierwszą sztukę za każdą następną sztukę ID Obiektu M3-7 M3-8 M3-9 Dziedzina Masa i wielkości pochodne Masa i wielkości pochodne Masa i wielkości pochodne M3-10 Masa i wielkości pochodne M3-11 Masa i wielkości pochodne Subdziedzina Masa Masa Masa Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorce masy i obciążniki Wzorce masy i obciążniki Wzorce masy i obciążniki W W W Wzorcowanie wielkość mierzona masa masa masa Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda od 1 mg do 200 g od 1 mg do 200 g od 10 kg do 50 kg od 0,002 mg do 0,10 mg od 0,002 mg do 0,10 mg od 5 mg do 25 mg CMC TAK TAK TAK Masa Wzorce masy i obciążniki Masa Wzorce masy i obciążniki M3-12 Masa i wielkości pochodne Masa Wzorce masy i obciążniki W masa od 100 kg do 1000 kg od 0,5 g do 5,0 g TAK M3-13 Masa i wielkości pochodne Masa Gęstościomierze zbożowe W masa cały zakres 1,0 g M3-14 Masa i wielkości pochodne Ciśnienie W ciśnienie względne -100 kPa ÷ 250 MPa M3-15 Masa i wielkości pochodne Ciśnienie Ciśnieniomierz elektroniczny ciśnienie względne W ciśnienie względne -100 kPa ÷ 250 MPa M3-16 Masa i wielkości pochodne Ciśnienie Ciśnieniomierz elektroniczny ciśnienie względne Ciśnieniomierz elektroniczny ciśnienie względne W W W masa masa ciśnienie względne od 10 kg do 50 kg od 100 kg do 1000 kg -100 kPa ÷ 250 MPa od 5 mg do 25 mg od 0,5 g do 5,0 g TAK GUM GUM GUM GUM G G G Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi za komplet od 23 do 27 sztuk od 1 mg do 200 g za komplet od 31 do 37 sztuk od 1 mg do 200 g za pierwszą sztukę za każdą następną sztukę M31 Dla klasy dokładności E2. Dla wzorców i obciążników klas dokładności od F1 do 1170,00 M1 oraz kompletów nietypowych ceny ustalane są indywidualnie. M31 Dla klasy dokładności E2. Dla wzorców i obciążników klas dokładności od F1 do 1755,00 M1 oraz kompletów nietypowych ceny ustalane są indywidualnie. M31 Dla klasy dokładności E2. Dla wzorców i obciążników klas 585,00 dokładności od F1 do M1 ceny ustalane są indywidualnie. M31 Dla klasy dokładności E2. Dla wzorców i obciążników klas 260,00 dokładności od F1 do M1 ceny ustalane są indywidualnie. M31 Dla klasy dokładności F2. Dla klasy 585,00 dokładności M1 ceny są ustalane indywidualnie. za pierwszą sztukę GUM G, P za każdą następną sztukę M31 Dla klasy dokładności F2. Dla klasy 390,00 dokładności M1 ceny są ustalane indywidualnie. NIE GUM G za każdą sztukę M31 845,00 0,8 Pa ÷ 2,0E-04p TAK GUM, NPL, PTB G większe dokładności niż klasa 0,02; (1 zakres, 10 pkt. pomiarowych) M33 2210,00 Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. 0,8 Pa ÷ 2,0E-04p TAK GUM, NPL, PTB G klasa 0,02 i dokładności większe niż klasa 0,04 (1 zakres, 10 pkt. pomiarowych) M33 1950,00 Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. G klasa 0,04 i dokładności większe niż klasa 0,1 (1 zakres, 10 pkt. pomiarowych) M33 1300,00 Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Strona 106 TAK GUM G Uwagi dotyczące miejsca realizacji G, P 0,8 Pa ÷ 2,0E-04p TAK Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) GUM, NPL, PTB ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi M3-17 Masa i wielkości pochodne Ciśnienie Ciśnieniomierz elektroniczny ciśnienie względne W ciśnienie względne -100 kPa ÷ 250 MPa 0,8 Pa ÷ 2,0E-04p TAK GUM G klasa 0,1 i mniejsze dokładności (1 zakres, 10 pkt. pomiarowych) M33 1040,00 Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. M3-18 Masa i wielkości pochodne Ciśnienie Ciśnieniomierz elektroniczny ciśnienie bezwględne W ciśnienie bezwzględne 3,5 kPa ÷ 7 MPa (2,7 ÷ 3,0)E-05p TAK GUM, NPL G większe dokładności niż klasa 0,04 (1 zakres, 10 pkt. pomiarowych) M33 2210,00 Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. M3-19 Masa i wielkości pochodne Ciśnienie Ciśnieniomierz elektroniczny ciśnienie bezwględne W ciśnienie bezwzględne 3,5 kPa ÷ 7 MPa (2,7 ÷ 3,0)E-05p TAK GUM, NPL G klasa od 0,04 do 0,2 (1 zakres, 10 pkt. pomiarowych) M33 1560,00 M3-20 Masa i wielkości pochodne Ciśnienie Ciśnieniomierz hydrostatyczny W wysokość słupa cieczy (0 ÷ 4000) Pa (0,14 ÷ 0,34) Pa TAK GUM G kompensacyjny M33 (10 pkt. pomiarowych) 1300,00 M3-21 Masa i wielkości pochodne Ciśnienie Ciśnieniomierz obciążnikowo-tłokowy W przekrój czynny zespołu pomiarowego + masa obciążników 3,5 kPa ÷ 250 MPa 2,5E-05p ÷ 2,0E-04p TAK GUM G klasa 0,05 do 0,2 M33 1690,00 M3-22 Masa i wielkości pochodne Ciśnienie Ciśnieniomierz obciążnikowo-tłokowy W przekrój czynny zespołu pomiarowego 3,5 kPa ÷ 250 MPa 2,5E-05p ÷ 2,0E-04p TAK GUM G klasa 0,05 do 0,2 (bez wzorcowania M33 obciążników) 1170,00 M3-23 Masa i wielkości pochodne Ciśnienie Ciśnieniomierz obciążnikowo-tłokowy W przekrój czynny zespołu pomiarowego + masa obciążników 3,5 kPa ÷ 250 MPa 2,5E-05p ÷ 2,0E-04p TAK GUM G klasa 0,02 M33 2340,00 M3-24 Masa i wielkości pochodne Ciśnienie Ciśnieniomierz obciążnikowo-tłokowy W przekrój czynny zespołu pomiarowego 3,5 kPa ÷ 250 MPa 2,5E-05p ÷ 2,0E-04p TAK GUM G klasa 0,02 (bez wzorcowania obciążników) M33 2080,00 M3-25 Masa i wielkości pochodne Ciśnienie Ciśnieniomierz obciążnikowo-tłokowy W przekrój czynny zespołu pomiarowego + masa obciążników 3,5 kPa ÷ 250 MPa 2,5E-05p ÷ 2,0E-04p TAK GUM, NPL, PTB G klasa 0,015 M33 2990,00 M3-26 Masa i wielkości pochodne Ciśnienie Ciśnieniomierz obciążnikowo-tłokowy W przekrój czynny zespołu pomiarowego 3,5 kPa ÷ 250 MPa 2,5E-05p ÷ 2,0E-04p TAK GUM, NPL, PTB G klasa 0,015 (bez wzorcowania obciążników) M33 2600,00 M3-27 Masa i wielkości pochodne Ciśnienie Ciśnieniomierz obciążnikowo-tłokowy W przekrój czynny zespołu pomiarowego + masa obciążników 3,5 kPa ÷ 250 MPa 2,5E-05p ÷ 2,0E-04p TAK GUM, NPL, PTB G klasa 0,01 M33 3250,00 M3-28 Masa i wielkości pochodne Ciśnienie Ciśnieniomierz obciążnikowo-tłokowy W przekrój czynny zespołu pomiarowego 3,5 kPa ÷ 250 MPa 2,5E-05p ÷ 2,0E-04p TAK GUM, NPL, PTB G klasa poniżej 0,01 (bez wzorcowania obciążników) M33 3900,00 M3-29 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - rozciągająca 100 N 0,005%; 0,006%; 0,02% NIE GUM G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 403,00 M3-30 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - rozciągająca 250 N 0,005%; 0,006%; 0,02% NIE GUM G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 429,00 M3-31 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - rozciągająca 500 N 0,005%; 0,006%; 0,02% NIE GUM G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 715,00 M3-32 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - rozciągająca 1 kN 0,006% TAK GUM G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 780,00 Strona 107 Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi M3-33 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - rozciągająca 2,5 kN 0,006% TAK GUM G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 845,00 M3-34 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - rozciągająca 5 kN 0,006% TAK GUM G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 975,00 M3-35 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - rozciągająca 10 kN 0,01% TAK GUM G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 975,00 M3-36 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - rozciągająca 30 kN 0,01% TAK GUM G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 1105,00 M3-37 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - rozciągająca 55 kN 0,01% TAK GUM G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 1170,00 M3-38 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - rozciągająca 100 kN 0,006% TAK GUM G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 1040,00 M3-39 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - rozciągająca 250 kN 0,006% TAK GUM G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 1170,00 M3-40 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - rozciągająca 500 kN 0,006% TAK GUM G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 1300,00 M3-41 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - rozciągająca 1000 kN 0,05% NIE PTB G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 1235,00 M3-42 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - rozciągająca 2000 kN 0,05% NIE PTB G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 1495,00 M3-43 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - rozciągająca 3000 kN 0,05% NIE PTB G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 1755,00 M3-44 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - ściskająca 100 N 0,005%; 0,006%; 0,02% NIE GUM G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 403,00 M3-45 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - ściskająca 250 N 0,005%; 0,006%; 0,02% NIE GUM G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 429,00 M3-46 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - ściskająca 500 N 0,005%; 0,006%; 0,02% NIE GUM G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 715,00 M3-47 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - ściskająca 1 kN 0,006% TAK GUM G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 780,00 M3-48 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - ściskająca 2,5 kN 0,006% TAK GUM G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 845,00 M3-49 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - ściskająca 5 kN 0,006% TAK GUM G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 975,00 Strona 108 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi M3-50 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - ściskająca 10 kN 0,01% TAK GUM G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 975,00 M3-51 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - ściskająca 30 kN 0,01% TAK GUM G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 1105,00 M3-52 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - ściskająca 55 kN 0,01% TAK GUM G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 1170,00 M3-53 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - ściskająca 100 kN 0,006% TAK GUM G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 1040,00 M3-54 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - ściskająca 250 kN 0,006% TAK GUM G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 1170,00 M3-55 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - ściskająca 500 kN 0,006% TAK GUM G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 1300,00 M3-56 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - ściskająca 1000 kN 0,05% TAK PTB G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 1170,00 M3-57 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - ściskająca 2000 kN 0,05% TAK PTB G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 1430,00 M3-58 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - ściskająca 3000 kN 0,05% TAK PTB G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 1690,00 M3-59 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - rozciągająca i ściskająca 100 N 0,005%; 0,006%; 0,02% NIE GUM G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 481,00 M3-60 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - rozciągająca i ściskająca 250 N 0,005%; 0,006%; 0,02% NIE GUM G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 533,00 M3-61 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - rozciągająca i ściskająca 500 N 0,005%; 0,02% NIE GUM G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 975,00 M3-62 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - rozciągająca i ściskająca 1 kN 0,006% TAK GUM G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 1105,00 M3-63 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - rozciągająca i ściskająca 2,5 kN 0,006% TAK GUM G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 1235,00 M3-64 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - rozciągająca i ściskająca 5 kN 0,006% TAK GUM G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 1495,00 M3-65 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - rozciągająca i ściskająca 10 kN 0,01% TAK GUM G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 1495,00 M3-66 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - rozciągająca i ściskająca 30 kN 0,01% TAK GUM G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 1755,00 Strona 109 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi M3-67 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - rozciągająca i ściskająca 55 kN 0,01% TAK GUM G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 M3-68 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - rozciągająca i ściskająca 100 kN 0,006% TAK GUM G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 M3-69 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - rozciągająca i ściskająca 250 kN 0,006% TAK GUM G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 M3-70 Masa i wielkości pochodne Siła Siłomierze, tensometryczne przetworniki siły W siła - rozciągająca i ściskająca 500 kN 0,006% TAK GUM G do 10 punktów pomiarowych, bez adiustacji M33 M3-71 M3-72 M3-73 M3-74 Masa i wielkości pochodne Masa i wielkości pochodne Masa i wielkości pochodne Masa i wielkości pochodne Przepływ płynu Przepływ płynu Przepływ płynu Przepływ płynu Przepływomierz do wody Przepływomierz do wody Wodomierz (temp. wody od 0,1 °C do 30 °C) Wodomierz (temp. wody od 0,1 °C do 30 °C) W W WE WE strumień objętości (wody) (0,006 ÷ 20) m3/h strumień objętości (wody) (0,5 ÷ 120) m3/h objętość przepływu (wody) objętość przepływu (wody) 3 (0,006 ÷ 20) m /h (0,5 ÷ 120) m3/h (0,1 ÷ 0,4)% (0,1 ÷ 0,4)% (0,15 ÷ 0,4)% (0,15 ÷ 0,4)% Strona 110 TAK TAK TAK TAK GUM GUM GUM GUM G G G G Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za do 5 pkt pom./ 3-krot. pomiar do 5 pkt pom./ 3-krot. pomiar do 5 pkt pom./ 3-krot. pomiar do 5 pkt pom./ 3-krot. Pomiar Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową 1625,00 będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową 1885,00 będzie ustalana indywidualnie. Cena za usługę niestandardową 2145,00 będzie ustalana indywidualnie. 1885,00 M32 Podano typowe parametry usługi. Laboratorium może na życzenie klienta wykonać wzorcowanie 1235,00 w innej, niż podana, liczbie punktów pomiarowych; wówczas koszt usługi ulegnie zmianie. M32 Podano typowe parametry usługi. Laboratorium może na życzenie klienta wykonać wzorcowanie 1430,00 w innej, niż podana, liczbie punktów pomiarowych; wówczas koszt usługi ulegnie zmianie. M32 Podano typowe parametry usługi. Laboratorium może na życzenie klienta wykonać wzorcowanie 1235,00 w innej, niż podana, liczbie punktów pomiarowych; wówczas koszt usługi ulegnie zmianie. M32 Podano typowe parametry usługi. Laboratorium może na życzenie klienta wykonać wzorcowanie 1430,00 w innej, niż podana, liczbie punktów pomiarowych; wówczas koszt usługi ulegnie zmianie. ID Obiektu M3-75 Dziedzina Masa i wielkości pochodne Subdziedzina Przepływ płynu M3-77 Masa i wielkości pochodne Przepływ płynu M3-78 Masa i wielkości pochodne Przepływ płynu M3-79 Masa i wielkości pochodne M3-79 Masa i wielkości pochodne M3-80 Masa i wielkości pochodne Przepływ płynu M3-81 Masa i wielkości pochodne Przepływ płynu M3-82 Masa i wielkości pochodne Przepływ płynu M3-83 Masa i wielkości pochodne Przepływ płynu M3-84 Masa i wielkości pochodne Przepływ płynu Przepływ płynu Przepływ płynu Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wodomierz (temp. wody od 30 °C do co najmniej 90 °C) Wodomierz (temp. wody od 0,1 °C do co najmniej 90 °C) Rotametr do gazu Rotametr do gazu Rotametr do gazu Przepływomierz do gazu (przepływomierz elektroniczny do gazu: PW-2001) Przepływomierz do gazu (przepływomierz elektroniczny do gazu: PW-2001) Przepływomierz do gazu (przepływomierz elektroniczny do gazu: PW-2001) Przepływomierz do gazu (przepływomierz elektroniczny do gazu: PW-2001) Przepływomierz do gazu (elektroniczny przepływomierz błonkowy do gazu) WE WE W W Wzorcowanie wielkość mierzona objętość przepływu (wody) objętość przepływu (wody) Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda (0,006 ÷ 20) m3/h (0,15 ÷ 0,4)% 3 (0,006 ÷ 20) m /h strumień objętości (gazu) (16 ÷ 120000) dm3/h 3 strumień objętości (gazu) (16 ÷ 120000) dm /h 3 CMC TAK Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) GUM G Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi do 5 pkt pom./ 3-krot. pomiar M32 Podano typowe parametry usługi. Laboratorium może na życzenie klienta wykonać wzorcowanie 1235,00 w innej, niż podana, liczbie punktów pomiarowych; wówczas koszt usługi ulegnie zmianie. (0,15 ÷ 0,4)% TAK GUM G do 5 pkt pom./ 3-krot. pomiar M32 Podano typowe parametry usługi. Laboratorium może na życzenie klienta wykonać wzorcowanie 1235,00 w innej, niż podana, liczbie punktów pomiarowych; wówczas koszt usługi ulegnie zmianie. (0,7 ÷ 4)% TAK GUM G 1-10 pkt pomiarowych M32 W przypadku dużych rotametrów 845,00 (wzorcowanych na stanowisku S05) należy doliczyć 390 zł. G 11-20 pkt pomiarowych (0,7 ÷ 4) % TAK GUM M32 W przypadku dużych rotametrów 1105,00 (wzorcowanych na stanowisku S05) należy doliczyć 390 zł. W przypadku dużych rotametrów 1365,00 (wzorcowanych na stanowisku S05) należy doliczyć 390 zł. W strumień objętości (gazu) (16 ÷ 120000) dm /h (0,7 ÷ 4) % TAK GUM G >21 pkt pomiarowych M32 W strumień objętości (gazu) (0,05 ÷ 4,4) dm3/min (2 ÷ 25) cm3/min TAK GUM G 2-6 pkt pomiarowych M32 845,00 W strumień objętości (gazu) (0,05 ÷ 4,4) dm3/min (2 ÷ 25) cm3/min TAK GUM G 7-8 pkt pomiarowych M32 975,00 W strumień objętości (gazu) (0,05 ÷ 4,4) dm3/min (2 ÷ 25) cm3/min TAK GUM G 9-10 pkt pomiarowych M32 1105,00 W strumień objętości (gazu) (0,05 ÷ 4,4) dm3/min (2 ÷ 25) cm3/min TAK GUM G 11-12 pkt pomiarowych M32 1235,00 W strumień objętości (gazu) (0,7 ÷ 18000) dm3/h (0,17 ÷ 2)% TAK GUM G 2-6 pkt pomiarowych M32 845,00 Strona 111 Za każdy punkt pomiarowy poniżej 6 dm3/h należy doliczyć 130 pln (netto) ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi M3-85 Masa i wielkości pochodne Przepływ płynu Przepływomierz do gazu (elektroniczny przepływomierz błonkowy do gazu) W strumień objętości (gazu) (0,7 ÷ 18000) dm3/h (0,17 ÷ 2)% TAK GUM G 7-8 pkt pomiarowych M32 975,00 Za każdy punkt pomiarowy poniżej 6 dm3/h należy doliczyć 130 pln (netto) M3-86 Masa i wielkości pochodne Przepływ płynu Przepływomierz do gazu (elektroniczny przepływomierz błonkowy do gazu) W strumień objętości (gazu) (0,7 ÷ 18000) dm3/h (0,17 ÷ 2)% TAK GUM G 9-10 pkt pomiarowych M32 1105,00 Za każdy punkt pomiarowy poniżej 6 3 dm /h należy doliczyć 130 pln (netto) M3-87 Masa i wielkości pochodne Przepływ płynu Przepływomierz do gazu (elektroniczny przepływomierz błonkowy do gazu) W strumień objętości (gazu) (0,7 ÷ 18000) dm3/h (0,17 ÷ 2)% TAK GUM G 11-12 pkt pomiarowych M32 1235,00 Za każdy punkt pomiarowy poniżej 6 dm3/h należy doliczyć 130 pln (netto) M4-1 Elektryczność i magnetyzm Wzorcowe ogniwo Westona WE 1,018 V (różnicowa) 0,5 µV/V NIE GUM G pojedyncza wartość M41 390,00 TAK GUM G dwie wartości nominalne M41 2783,00 NIE GUM G pojedyncza dekada M41 260,00 M41 455,00 M41 455,00 M41 455,00 M41 455,00 M41 650,00 M41 650,00 M41 650,00 Elektryczność i magnetyzm Elektryczność i magnetyzm Elektryczność i magnetyzm Elektryczność i magnetyzm Elektryczność i magnetyzm Elektryczność i magnetyzm Elektryczność i magnetyzm Elektryczność i magnetyzm Elektryczność i magnetyzm Napięcie elektryczne stałe (DC) Napięcie elektryczne stałe (DC) Napięcie elektryczne stałe (DC) Rezystancja przy prądzie stałym Rezystancja przy prądzie stałym Rezystancja przy prądzie stałym Rezystancja przy prądzie stałym Rezystancja przy prądzie stałym Rezystancja przy prądzie stałym Rezystancja przy prądzie stałym Rezystancja przy prądzie stałym Rezystancja przy prądzie stałym Elektryczność i magnetyzm Rezystancja przy prądzie stałym Elektryczność i magnetyzm Impedancja (rezystancja przy prądzie przemiennym) M4-15 Elektryczność i magnetyzm Impedancja (rezystancja przy prądzie przemiennym) M4-16 Elektryczność i magnetyzm M4-17 Elektryczność i magnetyzm M4-18 Elektryczność i magnetyzm M4-2 Elektryczność i magnetyzm M4-3 Elektryczność i magnetyzm M4-4 M4-5 M4-6 M4-7 M4-8 M4-9 M4-10 M4-11 M4-12 M4-13 M4-14 Impedancja (pojemność elektryczna) Impedancja (pojemność elektryczna) Impedancja (pojemność elektryczna) napięcie elektryczne stałe Półprzewodnikowe źródło napięcia WE napięcie elektryczne stałe 1 V; 1,018 V; 10 V 0,05 µV/V, 0,05 µV/V, 0,01 µV/V Kompensatory WE napięcie elektryczne stałe od 1 mV do 2 V (5E-0,5U+0,1) µV/V pojedyncza wartość lub dekada pojedyncza wartość lub dekada pojedyncza wartość lub dekada pojedyncza wartość lub dekada pojedyncza wartość lub dekada pojedyncza wartość lub dekada pojedyncza wartość lub dekada Rezystory stałe WE rezystancja DC od 0,0001 Ω do 1 Ω (300 ÷ 0,5) µΩ/Ω TAK BIPM G Rezystory stałe WE rezystancja DC od 1 Ω do 1 MΩ (0,5 ÷ 1) µΩ/Ω TAK BIPM G Rezystory stałe WE rezystancja DC od 1 MΩ do 1 GΩ (1 ÷ 50) µΩ/Ω TAK BIPM/PTB G Rezystory regulowane WE rezystancja DC od 1 Ω do 1 MΩ (0,5 ÷ 1) µΩ/Ω TAK BIPM/PTB G Rezystory stałe WE rezystancja DC od 1 GΩ do 100 TΩ (300 ÷ 12000) µΩ/Ω TAK PTB G Rezystory 3-końcówkowe WE rezystancja DC od 1 GΩ do 100 TΩ (300 ÷ 12000) µΩ/Ω TAK PTB G Rezystory regulowane WE rezystancja DC od 1 GΩ do 100 TΩ (300 ÷ 12000) µΩ/Ω TAK PTB G Mostki rezystancyjne WE rezystancja DC od 100 MΩ do 100 TΩ (300 ÷ 12000) µΩ/Ω NIE PTB G punkt pomiarowy M41 650,00 WE rezystancja DC 1 MΩ, 100 ΤΩ 5 µΩ/Ω NIE BIPM G punkt pomiarowy M41 390,00 WE rezystancja DC 0,1 do 4 5 µΩ/Ω NIE BIPM G punkt pomiarowy M41 260,00 M41 Cena za wzorzec stały lub jedną dekadę rezystora 455,00 dekadowego (każda następna to kolejne 455,- zł) Megaomomierze cyfrowe Urządzenie do pomiaru stosunku rezystancji Rezystory stałe WE rezystancja AC 10 µΩ/Ω ÷ 10 mΩ/Ω 0,1 Ω ÷ 1 MΩ TAK BIPM G Miernik RLC WE rezystancja AC 0,1 Ω ÷ 1 MΩ 10 µΩ/Ω ÷ 10 mΩ/Ω NIE BIPM G M41 Cena za pierwszy punkt pomiarowy dla danej częstotliwości, 195,00 każdy następny to 91,zł (0,7 rbg x stawka za 1 rbg). Kondensator wzorcowy WE pojemność elektryczna 0,1 pF ÷ 10 nF 0,5 µF/F ÷ 40 µF/F przy 1 kHz TAK BIPM G M41 455,00 Kondensator wzorcowy WE współczynnik stratności 1E-06 ÷ 1E-03 1E-06 ÷ 2E-04 przy 1 kHz NIE M41 455,00 Kondensator stały WE pojemność elektryczna 0,001 pF ÷ 25 µF 30 µF/F ÷ 10 mF/F TAK M41 455,00 Strona 112 BIPM G ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Impedancja (pojemność elektryczna) Impedancja (pojemność elektryczna) Impedancja (pojemność elektryczna) Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona M4-19 Elektryczność i magnetyzm M4-20 Elektryczność i magnetyzm M4-21 Elektryczność i magnetyzm M4-22 Elektryczność i magnetyzm Impedancja (pojemność elektryczna) Kondensator dekadowy M4-23 Elektryczność i magnetyzm Impedancja (pojemność elektryczna) Kondensator dekadowy Elektryczność i magnetyzm Impedancja (pojemność elektryczna) Elektryczność i magnetyzm Impedancja (pojemność elektryczna) Miernik RLC Elektryczność i magnetyzm Elektryczność i magnetyzm Elektryczność i magnetyzm Elektryczność i magnetyzm Elektryczność i magnetyzm Elektryczność i magnetyzm Impedancja (indukcyjność) Impedancja (indukcyjność) Impedancja (indukcyjność) Impedancja (indukcyjność) Impedancja (indukcyjność) Impedancja (indukcyjność) Cewka indukcyjna stała Cewka indukcyjna stała Cewka indukcyjna stała Cewka indukcyjna stała Cewka indukcyjna stała Cewka indukcyjna stała M4-32 Elektryczność i magnetyzm Impedancja (indukcyjność) Cewka indukcyjna zmienna WE indukcyjność własna M4-33 Elektryczność i magnetyzm Impedancja (indukcyjność) Cewka indukcyjna zmienna WE równoważna rezystancja M4-34 Elektryczność i magnetyzm Impedancja (indukcyjność) Cewka indukcyjna dekadowa WE indukcyjność własna M4-35 Elektryczność i magnetyzm Impedancja (indukcyjność) Cewka indukcyjna dekadowa WE równoważna rezystancja M4-24 M4-25 M4-26 M4-27 M4-28 M4-29 M4-30 M4-31 Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Kondensator stały WE współczynnik stratności 1E-06 ÷ 1E-03 1E-06 ÷ 2E-04 NIE Kondensator przełączalny WE pojemność elektryczna 1 pF ÷ 100 pF 60 µF/F TAK Kondensator przełączalny WE współczynnik stratności 1E-05 ÷ 1E-03 1E-05 ÷ 2E-04 NIE Mostek pojemności WE WE WE pojemność elektryczna współczynnik stratności pojemność elektryczna 0,001 pF ÷ 100 mF 1E-06 ÷ 1E-03 30 µF/F ÷ 10 mF/F 1E-06 ÷ 2E-04 0,01 pF ÷ 100 µF 10 µF/F ÷ 1 mF/F TAK Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) BIPM BIPM G G NIE NIE BIPM G Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi M41 455,00 M41 585,00 M41 585,00 M41 Cena za pierwszą dekadę kondensatora, 494,00 każda następna to 390.- zł (3 rbg x stawka za 1 rbg). M41 Cena za pierwszą dekadę kondensatora, 494,00 każda następna to 390.- zł (3 rbg x stawka za 1 rbg). M41 Cena za pierwszy punkt pomiarowy dla danej częstotliwości, 195,00 każdy następny to 91,zł (0,7 rbg x stawka za 1 rbg). WE pojemność elektryczna 0,01 pF ÷ 100 µF 10 µF/F ÷ 1 mF/F NIE BIPM G M41 Cena za pierwszy punkt pomiarowy dla danej częstotliwości, 195,00 każdy następny to 91,zł (0,7 rbg x stawka za 1 rbg). WE indukcyjność własna 1 µH ÷ 1mH 50 mH/H ÷ 100 µH/H TAK PTB G M41 455,00 WE równoważna rezystancja NIE BIPM/PTB G M41 455,00 WE indukcyjność własna 1 mH ÷ 1H 40 µH/H ÷ 100 µH/H TAK PTB G M41 455,00 WE równoważna rezystancja NIE BIPM/PTB G M41 455,00 1 H ÷ 10 H 100 µH/H ÷ 300 µH/H WE indukcyjność własna WE równoważna rezystancja 1 mH ÷ 1 H 1 mH ÷ 1 H 200 µH/H 200 µH/H Strona 113 TAK PTB G M41 455,00 NIE BIPM/PTB G M41 455,00 TAK PTB G M41 494,00 NIE BIPM/PTB G M41 494,00 TAK PTB G M41 494,00 NIE BIPM/PTB G M41 494,00 Cena za pierwszą dekadę cewki, każda następna to 390,- zł (3 rbg x stawka za 1 rbg). Cena za pierwszą dekadę cewki, każda następna to 390,- zł (3 rbg x stawka za 1 rbg). Cena za pierwszą dekadę cewki, każda następna to 390,- zł (3 rbg x stawka za 1 rbg). Cena za pierwszą dekadę cewki, każda następna to 390,- zł (3 rbg x stawka za 1 rbg). ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona M4-36 Elektryczność i magnetyzm Impedancja (indukcyjność) Cewka indukcyjna zmienna WE indukcyjność własna M4-37 Elektryczność i magnetyzm Impedancja (indukcyjność) Cewka indukcyjna zmienna WE równoważna rezystancja M4-38 Elektryczność i magnetyzm Impedancja (indukcyjność) Cewka indukcyjna dekadowa WE indukcyjność własna M4-39 Elektryczność i magnetyzm Impedancja (indukcyjność) Cewka indukcyjna dekadowa WE równoważna rezystancja M4-40 Elektryczność i magnetyzm Impedancja (indukcyjność) Cewka indukcyjna zmienna WE indukcyjność własna M4-41 Elektryczność i magnetyzm Impedancja (indukcyjność) Cewka indukcyjna zmienna WE równoważna rezystancja M4-42 Elektryczność i magnetyzm Impedancja (indukcyjność) Cewka indukcyjna dekadowa WE indukcyjność własna M4-43 Elektryczność i magnetyzm Impedancja (indukcyjność) Cewka indukcyjna dekadowa WE równoważna rezystancja M4-44 Elektryczność i magnetyzm Impedancja (indukcyjność) Miernik RLC WE indukcyjność Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda 200 µH/H 1 H ÷ 10 H 200 µH/H 1 H ÷ 10 H 50 mH/H do 200 µH/H 1 µH ÷ 1 mH 50 mH/H do 200 µH/H 1 µH ÷ 1 mH 50 µH/H do 50 mH/H 1 µH ÷ 10 H CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi Cena za pierwszą dekadę cewki, każda następna to 390,- zł (3 rbg x stawka za 1 rbg). Cena za pierwszą dekadę cewki, każda następna to 390,- zł (3 rbg x stawka za 1 rbg). Cena za pierwszą dekadę cewki, każda następna to 390,- zł (3 rbg x stawka za 1 rbg). Cena za pierwszą dekadę cewki, każda następna to 390,- zł (3 rbg x stawka za 1 rbg). Cena za pierwszą dekadę cewki, każda następna to 390,- zł (3 rbg x stawka za 1 rbg). Cena za pierwszą dekadę cewki, każda następna to 390,- zł (3 rbg x stawka za 1 rbg). Cena za pierwszą dekadę cewki, każda następna to 390,- zł (3 rbg x stawka za 1 rbg). Cena za pierwszą dekadę cewki, każda następna to 390,- zł (3 rbg x stawka za 1 rbg). TAK PTB G M41 494,00 NIE BIPM/PTB G M41 494,00 TAK PTB G M41 494,00 NIE BIPM/PTB G M41 494,00 TAK PTB G M41 494,00 NIE BIPM/PTB G M41 494,00 TAK PTB G M41 494,00 NIE BIPM/PTB G M41 494,00 M41 Cena za pierwszy punkt pomiarowy dla danej częstotliwości, 195,00 każdy następny to 91,zł (0,7 rbg x stawka za 1 rbg). NIE PTB G M4-45 Elektryczność i magnetyzm Impedancja (indukcyjność) Miernik RLC WE dobroć 1 ÷ 500 0,1% ÷ 10% NIE M41 Cena za pierwszy punkt pomiarowy dla danej częstotliwości, 195,00 każdy następny to 91,zł (0,7 rbg x stawka za 1 rbg). M4-46 Elektryczność i magnetyzm Impedancja (indukcyjność) Wzorzec Q WE współczynnik dobroci 1 ÷ 200 0,1% ÷ 10 % NIE M41 312,00 M4-47A1 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Przyrządy do pomiaru napięcia, prądu i rezystancji M42 195,00 M4-48 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Nanowoltomierze M42 26,00 Opłata stała związana ze zleceniem, przygotowaniem przyrządu i stanowiska pomiarowego pobierana jednorazowo W napięcie elektryczne stałe poniżej lub równa 1 mV metoda bezpośredniego porównania z kalibratorem 4E-04 V/V do 4E-03 V/V Strona 114 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G Usługa nie uwzgledniona w CMC Cena za punkt pomiarowy ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda M4-49 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Mikrowoltomierze W napięcie elektryczne stałe poniżej lub równa 1 mV metoda bezpośredniego porównania z kalibratorem M4-50 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Woltomierze napięcia stałego W napięcie elektryczne stałe M4-51 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Multimetry W M4-52 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Wielofunkcyjny wzorzec pośredniczący M4-53 Elektryczność i magnetyzm M4-54 Elektryczność i magnetyzm M4-55 Elektryczność i magnetyzm M4-56 Elektryczność i magnetyzm M4-57 Elektryczność i magnetyzm CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G 1 mV ÷ 1000 V metoda bezpośredniego 2,4E-06 V/V do porównania 4,1E-04 V/V z kalibratorem TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) napięcie elektryczne stałe 1 mV ÷ 1000 V metoda bezpośredniego 2,4E-06 V/V do porównania 4,1E-04 V/V z kalibratorem TAK W napięcie elektryczne stałe 1 mV ÷ 1000 V metoda bezpośredniego 2,4E-06 V/V do porównania 4,1E-04 V/V z kalibratorem TAK Nanowoltomierze W napięcie elektryczne stałe Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi Usługa nie uwzgledniona w CMC M42 26,00 Cena za punkt pomiarowy G M42 26,00 Cena za punkt pomiarowy GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M42 26,00 Cena za punkt pomiarowy GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M42 26,00 Cena za punkt pomiarowy M42 39,00 Cena za punkt pomiarowy M42 39,00 Cena za punkt pomiarowy G M42 39,00 Cena za punkt pomiarowy G M42 39,00 Cena za punkt pomiarowy G M42 39,00 Cena za punkt pomiarowy Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Mikrowoltomierze W napięcie elektryczne stałe Woltomierze napięcia stałego W napięcie elektryczne stałe 1 mV ÷ 1000 V 2,4E-06 V/V do metoda podstawieniowa 4,1E-04 V/V TAK Multimetry W napięcie elektryczne stałe 1 mV ÷ 1000 V 2,4E-06 V/V do metoda podstawieniowa 4,1E-04 V/V TAK Wielofunkcyjny wzorzec pośredniczący W napięcie elektryczne stałe 1 mV ÷ 1000 V 2,4E-06 V/V do metoda podstawieniowa 4,1E-04 V/V TAK M4-58 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Woltomierze napięcia stałego W napięcie elektryczne stałe 100 mV ÷ 1000 V metoda bezpośredniego 0,1E-06 V/V do porównania 1E-05 V/V z wzorcowym źródłem napięcia NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G CMC 2,4E-06 V/V do 4,1E-04 V/V M42 52,00 Cena za punkt pomiarowy M4-59 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Multimetry W napięcie elektryczne stałe 100 mV ÷ 1000 V metoda bezpośredniego 0,1E-06 V/V do porównania 1E-05 V/V z wzorcowym źródłem napięcia NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G CMC 2,4E-06 V/V do 4,1E-04 V/V M42 52,00 Cena za punkt pomiarowy M4-60 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Wielofunkcyjny wzorzec pośredniczący W napięcie elektryczne stałe 100 mV ÷ 1000 V metoda bezpośredniego 0,1E-06 V/V do porównania 1E-05 V/V z wzorcowym źródłem napięcia NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G CMC 2,4E-06 V/V do 4,1E-04 V/V M42 52,00 Cena za punkt pomiarowy M4-61 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Woltomierze napięcia przemiennego W napięcie elektryczne przemienne 1 mV ÷ 1000 V (10 Hz ÷ 1 MHz) 4E-05 V/V do metoda bezpośredniego 7E-03 V/V porównania z kalibratorem TAK PTB G M42 29,90 Cena za punkt pomiarowy M4-62 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. W napięcie elektryczne przemienne 1 mV ÷ 1000 V (10 Hz ÷ 1 MHz) 4E-05 V/V do metoda bezpośredniego 7E-03 V/V porównania z kalibratorem TAK PTB G M42 29,90 Cena za punkt pomiarowy Multimetry poniżej lub równa 1 mV metoda podstawieniowa poniżej lub równa 1 mV metoda podstawieniowa 4E-04 V/V do 4E-03 V/V Uwagi dotyczące miejsca realizacji 4E-04 V/V do 4E-03 V/V NIE 4E-04 V/V do 4E-03 V/V NIE Strona 115 GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G G Usługa nie uwzgledniona w CMC Usługa nie uwzgledniona w CMC ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi M4-63 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Wielofunkcyjny wzorzec pośredniczący M4-64 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. M4-65 Elektryczność i magnetyzm M4-66 Wzorcowanie wielkość mierzona W napięcie elektryczne przemienne Woltomierze napięcia przemiennego W napięcie elektryczne przemienne Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Multimetry W napięcie elektryczne przemienne Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Wielofunkcyjny wzorzec pośredniczący W napięcie elektryczne przemienne M4-67 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Woltomierze napięcia przemiennego W M4-68 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Multimetry M4-69 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. M4-70 Elektryczność i magnetyzm M4-71 Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda 1 mV ÷ 1000 V (10 Hz ÷ 1 MHz) 4E-05 V/V do metoda bezpośredniego 7E-03 V/V porównania z kalibratorem CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi TAK PTB G M42 29,90 Cena za punkt pomiarowy 8E-06 V/V do 5E-03 V/V TAK PTB G M42 65,00 Cena za punkt pomiarowy 8E-06 V/V do 5E-03 V/V TAK PTB G M42 65,00 Cena za punkt pomiarowy 8E-06 V/V do 5E-03 V/V TAK PTB G M42 65,00 Cena za punkt pomiarowy napięcie elektryczne przemienne 1 mV ÷ 1000 V 4E-05 V/V do (10 Hz ÷ 1 MHz) 4E-03 V/V metoda podstawieniowa TAK PTB G M42 45,50 Cena za punkt pomiarowy W napięcie elektryczne przemienne 1 mV ÷ 1000 V 4E-05 V/V do (10 Hz ÷ 1 MHz) 4E-03 V/V Metoda podstawieniowa TAK PTB G M42 45,50 Cena za punkt pomiarowy Wielofunkcyjny wzorzec pośredniczący W napięcie elektryczne przemienne 1 mV ÷ 1000 V 4E-05 V/V do (10 Hz ÷ 1 MHz) 4E-03 V/V metoda podstawieniowa TAK PTB G M42 45,50 Cena za punkt pomiarowy Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Woltomierze napięcia przemiennego W napięcie elektryczne przemienne 1 mV ÷ 10 V (DC ÷ 10 Hz) 5E-05 V/V do metoda bezpośredniego 2,1E-03 V/V porównania z DC NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G Usługa nie uwzgledniona w CMC M42 52,00 Cena za punkt pomiarowy Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Multimetry W napięcie elektryczne przemienne 1 mV ÷ 10 V (DC ÷ 10 Hz) 5E-05 V/V do metoda bezpośredniego 2,1E-03 V/V porównania z DC NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G Usługa nie uwzgledniona w CMC M42 52,00 Cena za punkt pomiarowy M4-72 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Wielofunkcyjny wzorzec pośredniczący W napięcie elektryczne przemienne 1 mV ÷ 10 V (DC ÷ 10 Hz) 5E-05 V/V do metoda bezpośredniego 2,1E-03 V/V porównania z DC NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G Usługa nie uwzgledniona w CMC M42 52,00 Cena za punkt pomiarowy M4-73 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Pikoamperomierze W prąd elektryczny stały poniżej lub równa 0,1 mA 9,5E-05 A/A do metoda bezpośredniego 6E-03 A/A porównania z kalibratorem TAK GUM, BIPM G M42 26,00 Cena za punkt pomiarowy M4-74 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Nanoamperomierze W prąd elektryczny stały poniżej lub równa 0,1 mA 9,5E-05 A/A do metoda bezpośredniego 6E-03 A/A porównania z kalibratorem TAK GUM, BIPM G M42 26,00 Cena za punkt pomiarowy M4-75 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Miliamperomierze W prąd elektryczny stały poniżej lub równa 0,1 mA 9,5E-05 A/A do metoda bezpośredniego 6E-03 A/A porównania z kalibratorem TAK GUM, BIPM G M42 26,00 Cena za punkt pomiarowy 1 mV ÷ 1000 V (10 Hz ÷ 1 MHz) metoda pomiarowa porównawcza przy zastosowaniu przetworników AC/DC 1 mV ÷ 1000 V (10 Hz ÷ 1 MHz) metoda pomiarowa porównawcza przy zastosowaniu przetworników AC/DC 1 mV ÷ 1000 V (10 Hz ÷ 1 MHz) metoda pomiarowa porównawcza przy zastosowaniu przetworników AC/DC Strona 116 ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi prąd elektryczny stały poniżej lub równa 0,1 mA 9,5E-05 A/A do metoda bezpośredniego 6E-03 A/A porównania z kalibratorem TAK GUM, BIPM G M42 26,00 Cena za punkt pomiarowy W prąd elektryczny stały poniżej lub równa 0,1 mA 9,5E-05 A/A do metoda bezpośredniego 6E-03 A/A porównania z kalibratorem TAK GUM, BIPM G M42 26,00 Cena za punkt pomiarowy Miliamperomierze W prąd elektryczny stały 0,1 m A ÷ 11 A metoda bezpośredniego 3,2E-05 A/A do porównania 8,2E-04 A/A z kalibratorem TAK GUM, BIPM G M42 26,00 Cena za punkt pomiarowy Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Amperomierze prądu stałego W prąd elektryczny stały 0,1 m A ÷ 11 A metoda bezpośredniego 3,2E-05 A/A do porównania 8,2E-04 A/A z kalibratorem TAK GUM, BIPM G M42 26,00 Cena za punkt pomiarowy Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Multimetry W prąd elektryczny stały 0,1 m A ÷ 11 A metoda bezpośredniego 3,2E-05 A/A do porównania 8,2E-04 A/A z kalibratorem TAK GUM, BIPM G M42 26,00 Cena za punkt pomiarowy M4-81 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Wielofunkcyjny wzorzec pośredniczący W prąd elektryczny stały 0,1 m A ÷ 11 A metoda bezpośredniego 3,2E-05 A/A do porównania 8,2E-04 A/A z kalibratorem TAK GUM, BIPM G M42 26,00 Cena za punkt pomiarowy M4-82 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Pikoamperomierze W prąd elektryczny stały poniżej lub równa 1,6E-05 A/A do 0,1 mA 4,2E-04 A/A metoda podstawieniowa NIE GUM, BIPM G CMC 9,5E-05 A/A do 6E-03 A/A M42 39,00 Cena za punkt pomiarowy M4-83 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Nanoamperomierze W prąd elektryczny stały poniżej lub równa 1,6E-05 A/A do 0,1 mA 4,2E-04 A/A metoda podstawieniowa NIE GUM, BIPM G CMC 9,5E-05 A/A do 6E-03 A/A M42 39,00 Cena za punkt pomiarowy M4-84 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Miliamperomierze W prąd elektryczny stały poniżej lub równa 1,6E-05 A/A do 0,1 mA 4,2E-04 A/A metoda podstawieniowa NIE GUM, BIPM G CMC 9,5E-05 A/A do 6E-03 A/A M42 39,00 Cena za punkt pomiarowy M4-85 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Multimetry W prąd elektryczny stały poniżej lub równa 1,6E-05 A/A do 0,1 mA 4,2E-04 A/A metoda podstawieniowa NIE GUM, BIPM G CMC 9,5E-05 A/A do 6E-03 A/A M42 39,00 Cena za punkt pomiarowy M4-86 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Wielofunkcyjny wzorzec pośredniczący W prąd elektryczny stały poniżej lub równa 1,6E-05 A/A do 0,1 mA 4,2E-04 A/A metoda podstawieniowa NIE GUM, BIPM G CMC 9,5E-05 A/A do 6E-03 A/A M42 39,00 Cena za punkt pomiarowy M4-87 Elektryczność i magnetyzm Miliamperomierze W prąd elektryczny stały 0,1 m A ÷ 11 A 1,6E-05 A/A do metoda podstawieniowa 4,2E-04 A/A NIE GUM, BIPM G CMC 3,2E-05 A/A do 8,2E-04 A/A M42 39,00 Cena za punkt pomiarowy M4-88 Elektryczność i magnetyzm Amperomierze prądu stałego W prąd elektryczny stały 0,1 m A ÷ 11 A 1,6E-05 A/A do metoda podstawieniowa 4,2E-04 A/A NIE GUM, BIPM G CMC 3,2E-05 A/A do 8,2E-04 A/A M42 39,00 Cena za punkt pomiarowy M4-89 Elektryczność i magnetyzm Multimetry W prąd elektryczny stały 0,1 m A ÷ 11 A 1,6E-05 A/A do metoda podstawieniowa 4,2E-04 A/A NIE GUM, BIPM G CMC 3,2E-05 A/A do 8,2E-04 A/A M42 39,00 Cena za punkt pomiarowy M4-90 Elektryczność i magnetyzm Wielofunkcyjny wzorzec pośredniczący W prąd elektryczny stały 0,1 m A ÷ 11 A 1,6E-05 A/A do metoda podstawieniowa 4,2E-04 A/A NIE GUM, BIPM G CMC 3,2E-05 A/A do 8,2E-04 A/A M42 39,00 Cena za punkt pomiarowy M4-91 Elektryczność i magnetyzm Pikoamperomierze W prąd elektryczny stały poniżej lub równa 0,1 mA metoda techniczna NIE GUM, BIPM G CMC 9,5E-05 A/A do 6E-03 A/A M42 45,50 Cena za punkt pomiarowy M4-76 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Multimetry M4-77 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Wielofunkcyjny wzorzec pośredniczący M4-78 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. M4-79 Elektryczność i magnetyzm M4-80 Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. W 1,2E-05 A/A do 7,3E-05 A/A Strona 117 ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda poniżej lub równa 0,1 mA metoda techniczna poniżej lub równa 0,1 mA metoda techniczna poniżej lub równa 0,1 mA metoda techniczna poniżej lub równa 0,1 mA metoda techniczna CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi 1,2E-05 A/A do 7,3E-05 A/A NIE GUM, BIPM G CMC 9,5E-05 A/A do 6E-03 A/A M42 45,50 Cena za punkt pomiarowy 1,2E-05 A/A do 7,3E-05 A/A NIE GUM, BIPM G CMC 9,5E-05 A/A do 6E-03 A/A M42 45,50 Cena za punkt pomiarowy 1,2E-05 A/A do 7,3E-05 A/A NIE GUM, BIPM G CMC 9,5E-05 A/A do 6E-03 A/A M42 45,50 Cena za punkt pomiarowy 1,2E-05 A/A do 7,3E-05 A/A NIE GUM, BIPM G CMC 9,5E-05 A/A do 6E-03 A/A M42 45,50 Cena za punkt pomiarowy 0,1 m A ÷ 11 A metoda techniczna 1,2E-05 A/A do 7,3E-05 A/A NIE GUM, BIPM G CMC 3,2E-05 A/A do 8,2E-04 A/A M42 45,50 Cena za punkt pomiarowy prąd elektryczny stały 0,1 m A ÷ 11 A metoda techniczna 1,2E-05 A/A do 7,3E-05 A/A NIE GUM, BIPM G CMC 3,2E-05 A/A do 8,2E-04 A/A M42 45,50 Cena za punkt pomiarowy W prąd elektryczny stały 0,1 m A ÷ 11 A metoda techniczna 1,2E-05 A/A do 7,3E-05 A/A NIE GUM, BIPM G CMC 3,2E-05 A/A do 8,2E-04 A/A M42 45,50 Cena za punkt pomiarowy Amperomierze prądu przemiennego W prąd elektryczny przemienny 0,1 mA ÷ 10 A (10 Hz ÷ 10 kHz) 1,3E-04 A/A do metoda bezpośredniego 8E-03 A/A porównania TAK PTB G M42 29,90 Cena za punkt pomiarowy Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Multimetry W prąd elektryczny przemienny 0,1 mA ÷ 10 A (10 Hz ÷ 10 kHz) 1,3E-04 A/A do metoda bezpośredniego 8E-03 A/A porównania TAK PTB G M42 29,90 Cena za punkt pomiarowy M4-101 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Amperomierze prądu przemiennego W prąd elektryczny przemienny 7,5E-05 A/A do 3,8E-03 A/A TAK PTB G M42 65,00 Cena za punkt pomiarowy M4-102 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Multimetry W prąd elektryczny przemienny 7,5E-05 A/A do 3,8E-03 A/A TAK PTB G M42 65,00 Cena za punkt pomiarowy M4-103 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Wielofunkcyjny wzorzec pośredniczący W prąd elektryczny przemienny 7,5E-05 A/A do 3,8E-03 A/A TAK PTB G M42 65,00 Cena za punkt pomiarowy M4-104 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Multimetry W poniżej lub równa 1 Ω rezystancja przy prądzie metoda bezpośredniego 7E-06 Ω/Ω do stałym (DC) 4E-03 Ω/Ω porównania z kalibratorem TAK BIPM G M42 26,00 Cena za punkt pomiarowy M4-105 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Wielofunkcyjny wzorzec pośredniczący W poniżej lub równa 1 Ω rezystancja przy prądzie metoda bezpośredniego 7E-06 Ω/Ω do stałym (DC) porównania 4E-03 Ω/Ω z kalibratorem TAK BIPM G M42 26,00 Cena za punkt pomiarowy M4-106 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Omomierze W 1 Ω ÷ 1 GΩ rezystancja przy prądzie metoda bezpośredniego 7E-06 Ω/Ω do stałym (DC) porównania 4E-03 Ω/Ω z kalibratorem TAK BIPM G M42 26,00 Cena za punkt pomiarowy M4-107 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Megaomomierze W 1 Ω ÷ 1 GΩ rezystancja przy prądzie metoda bezpośredniego 7E-06 Ω/Ω do stałym (DC) porównania 4E-03 Ω/Ω z kalibratorem TAK BIPM G M42 26,00 Cena za punkt pomiarowy M4-92 Elektryczność i magnetyzm M4-93 Elektryczność i magnetyzm M4-94 Elektryczność i magnetyzm M4-95 Elektryczność i magnetyzm M4-96 Elektryczność i magnetyzm M4-97 Elektryczność i magnetyzm M4-98 Elektryczność i magnetyzm M4-99 Elektryczność i magnetyzm M4-100 Nanoamperomierze W prąd elektryczny stały Miliamperomierze W prąd elektryczny stały Multimetry W prąd elektryczny stały Wielofunkcyjny wzorzec pośredniczący W prąd elektryczny stały Miliamperomierze W prąd elektryczny stały Amperomierze prądu stałego W Multimetry Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Elektryczność i magnetyzm 10 mA ÷ 10 A (10 Hz ÷ 10 kHz) metoda pomiarowa porównawcza przy zastosowaniu przetworników AC/DC 10 mA ÷ 10 A (10 Hz ÷ 10 kHz) metoda pomiarowa porównawcza przy zastosowaniu przetworników AC/DC 1 mA ÷ 10 A (10 Hz ÷ 10 kHz) metoda pomiarowa porównawcza przy zastosowaniu przetworników AC/DC Strona 118 ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona Zakres pomiarowy/metoda Niepewność rozszerzona2) CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi M4-108 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Multimetry W 1 Ω ÷ 1 GΩ rezystancja przy prądzie metoda bezpośredniego 7E-06 Ω/Ω do stałym (DC) porównania 4E-03 Ω/Ω z kalibratorem TAK BIPM G M42 26,00 Cena za punkt pomiarowy M4-109 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Wielofunkcyjny wzorzec pośredniczący W 1 Ω ÷ 1 GΩ rezystancja przy prądzie metoda bezpośredniego 7E-06 Ω/Ω do stałym (DC) porównania 4E-03 Ω/Ω z kalibratorem TAK BIPM G M42 26,00 Cena za punkt pomiarowy M4-110 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Multimetry W poniżej lub równa 1 Ω metoda bezpośredniego 0,5E-06 Ω/Ω do rezystancja przy prądzie porównania stałym (DC) 4,5E-05 Ω/Ω z rezystorami wzorcowymi NIE BIPM G CMC 7E-06 Ω/Ω do 4E-03 Ω/Ω M42 31,20 Cena za punkt pomiarowy M4-111 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Wielofunkcyjny wzorzec pośredniczący W poniżej lub równa 1 Ω metoda bezpośredniego 0,5E-06 Ω/Ω do rezystancja przy prądzie porównania stałym (DC) 4,5E-05 Ω/Ω z rezystorami wzorcowymi NIE BIPM G CMC 7E-06 Ω/Ω do 4E-03 Ω/Ω M42 31,20 Cena za punkt pomiarowy M4-112 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. W 1 Ω ÷ 1 GΩ metoda bezpośredniego 0,5E-06 Ω/Ω do rezystancja przy prądzie porównania stałym (DC) 4,5E-05 Ω/Ω z rezystorami wzorcowymi NIE BIPM G CMC 7E-06 Ω/Ω do 4E-03 Ω/Ω M42 31,20 Cena za punkt pomiarowy M4-113 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. W 1 Ω ÷ 1 GΩ metoda bezpośredniego 0,5E-06 Ω/Ω do rezystancja przy prądzie porównania stałym (DC) 4,5E-05 Ω/Ω z rezystorami wzorcowymi NIE BIPM G CMC 7E-06 Ω/Ω do 4E-03 Ω/Ω M42 31,20 Cena za punkt pomiarowy M4-114 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Multimetry W 1 Ω ÷ 1 GΩ metoda bezpośredniego 0,5E-06 Ω/Ω do rezystancja przy prądzie porównania stałym (DC) 4,5E-05 Ω/Ω z rezystorami wzorcowymi NIE BIPM G CMC 7E-06 Ω/Ω do 4E-03 Ω/Ω M42 31,20 Cena za punkt pomiarowy M4-115 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Wielofunkcyjny wzorzec pośredniczący W 1 Ω ÷ 1 GΩ metoda bezpośredniego 0,5E-06 Ω/Ω do rezystancja przy prądzie porównania stałym (DC) 4,5E-05 Ω/Ω z rezystorami wzorcowymi NIE BIPM G CMC 7E-06 Ω/Ω do 4E-03 Ω/Ω M42 31,20 Cena za punkt pomiarowy M4-116 Elektryczność i magnetyzm Multimetry W 8E-06 Ω/Ω do rezystancja przy prądzie poniżej lub równa 1 Ω stałym (DC) metoda podstawieniowa 1,5E-03 Ω/Ω TAK BIPM G M42 39,00 Cena za punkt pomiarowy M4-117 Elektryczność i magnetyzm Wielofunkcyjny wzorzec pośredniczący W 8E-06 Ω/Ω do rezystancja przy prądzie poniżej lub równa 1 Ω stałym (DC) metoda podstawieniowa 1,5E-03 Ω/Ω TAK BIPM G M42 39,00 Cena za punkt pomiarowy M4-118 Elektryczność i magnetyzm Omomierze W 8E-06 Ω/Ω do rezystancja przy prądzie 1 Ω ÷ 1 GΩ stałym (DC) metoda podstawieniowa 1,5E-03 Ω/Ω TAK BIPM G M42 39,00 Cena za punkt pomiarowy M4-119 Elektryczność i magnetyzm Megaomomierze W 8E-06 Ω/Ω do rezystancja przy prądzie 1 Ω ÷ 1 GΩ stałym (DC) metoda podstawieniowa 1,5E-03 Ω/Ω TAK BIPM G M42 39,00 Cena za punkt pomiarowy M4-120 Elektryczność i magnetyzm Multimetry W 8E-06 Ω/Ω do rezystancja przy prądzie 1 Ω ÷ 1 GΩ stałym (DC) metoda podstawieniowa 1,5E-03 Ω/Ω TAK BIPM G M42 39,00 Cena za punkt pomiarowy M4-121 Elektryczność i magnetyzm Wielofunkcyjny wzorzec pośredniczący W 8E-06 Ω/Ω do rezystancja przy prądzie 1 Ω ÷ 1 GΩ stałym (DC) metoda podstawieniowa 1,5E-03 Ω/Ω TAK BIPM G M42 39,00 Cena za punkt pomiarowy Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Omomierze Megaomomierze Strona 119 ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) M4-122A2 Elektryczność i magnetyzm M4-123 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Kalibratory wielofunkcyjne W napięcie elektryczne stałe 1 mV ÷ 10 V metoda bezpośredniego 2,4E-06 V/V do porównania 4,2E-04 V/V z multimetrem TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) M4-124 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Kalibratory wielofunkcyjne W napięcie elektryczne stałe 10 V ÷ 1000 V metoda bezpośredniego 2,4E-06 V/V do porównania 5,2E-06 V/V z multimetrem TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) M4-125 Elektryczność i magnetyzm Kalibratory wielofunkcyjne W napięcie elektryczne stałe 1 mV ÷ 10 V 3,1E-06 V/V do metoda podstawieniowa 4,2E-04 V/V TAK M4-126 Elektryczność i magnetyzm Kalibratory wielofunkcyjne W napięcie elektryczne stałe 10 V ÷ 1000 V 2,4E-06 V/V do metoda podstawieniowa 5,2E-06 V/V TAK M4-127 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Kalibratory wielofunkcyjne W napięcie elektryczne stałe 1 mV ÷ 10 V metoda porównania z wzorcowym źródłem napięcia 0,3E-06 V/V do 1,2E-05 V/V NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M4-128 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Kalibratory wielofunkcyjne W napięcie elektryczne stałe 10 V ÷ 1000 V metoda porównania z wzorcowym źródłem napięcia 0,3E-06 V/V do 1,2E-05 V/V NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M4-129 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Kalibratory wielofunkcyjne W napięcie elektryczne przemienne 1 mV ÷ 1000 V (10 Hz ÷ 1 MHz) 2,6E-05 V/V do metoda bezpośredniego 2,1E-03 V/V porównania z multimetrem TAK PTB M4-130 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Kalibratory wielofunkcyjne W napięcie elektryczne przemienne 1 mV ÷ 1000 V 1,1E-04 V/V do (10 Hz ÷ 1 MHz) 6,1E-03 V/V metoda podstawieniowa TAK M4-131 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Kalibratory wielofunkcyjne W napięcie elektryczne przemienne 1 mV ÷ 1000 V (10 Hz ÷ 1 MHz) metoda pomiarowa porównawcza przy zastosowaniu przetworników AC/DC M4-132 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Kalibratory wielofunkcyjne W prąd elektryczny stały M4-133 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Kalibratory wielofunkcyjne W M4-134 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Kalibratory wielofunkcyjne M4-135 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Kalibratory wielofunkcyjne Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi Opłata stała związana ze zleceniem, przygotowaniem przyrządu i stanowiska pomiarowego pobierana jednorazowo Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Kalibratory Uwagi dotyczące miejsca realizacji M42 195,00 G M42 26,00 Cena za punkt pomiarowy G M42 26,00 Cena za punkt pomiarowy G M42 39,00 Cena za punkt pomiarowy G M42 39,00 Cena za punkt pomiarowy CMC 2,4E-06 V/V do 4,2E-04 V/V dodano nową usługę do cennika M42 52,00 Cena za punkt pomiarowy CMC 2,4E-06 V/V do 4,2E-04 V/V dodano nową usługę do cennika M42 52,00 Cena za punkt pomiarowy G M42 32,50 Cena za punkt pomiarowy PTB G M42 45,50 Cena za punkt pomiarowy TAK PTB G M42 58,50 Cena za punkt pomiarowy poniżej lub równa 0,1 mA 2,2E-05 A/A metoda bezpośredniego porównania z multimetrem TAK GUM, BIPM G M42 26,00 Cena za punkt pomiarowy prąd elektryczny stały 0,1 mA ÷ 10 A metoda bezpośredniego 1,3E-05 A/A do porównania 6E-05 A/A z multimetrem TAK GUM, BIPM G M42 26,00 Cena za punkt pomiarowy W prąd elektryczny stały poniżej lub równa 4,2E-05 A/A do 0,1 mA 8,2E-04 A/A metoda podstawieniowa NIE GUM, BIPM G M42 39,00 Cena za punkt pomiarowy W prąd elektryczny stały 0,1 mA ÷ 10 A 3,2E-05 A/A do metoda podstawieniowa 8,2E-04 A/A NIE GUM, BIPM G M42 39,00 Cena za punkt pomiarowy 8E-06 V/V do 5E-03 V/V Strona 120 GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) CMC 6,4E-04 A/A CMC 3,6E-05 A/A do 6,4E-4 A/A CMC 6,4E-04 A/A ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Kalibratory wielofunkcyjne W prąd elektryczny stały poniżej lub równa 0,1 mA metoda techniczna Kalibratory wielofunkcyjne W prąd elektryczny stały 0,1 mA ÷ 10 A metoda techniczna 1,2E-05 A/A do 7,3E-05 A/A NIE GUM, BIPM G Kalibratory wielofunkcyjne W prąd elektryczny przemienny 0,1 mA ÷ 10 A (10 Hz ÷ 10 kHz) 9,0E-05 A/A do metoda bezpośredniego 8,0E-04 A/A porównania z multimetrem TAK PTB Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Kalibratory wielofunkcyjne W prąd elektryczny przemienny 0,1 mA ÷ 1 mA (10 Hz ÷ 10 kHz) metoda techniczna NIE Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Kalibratory wielofunkcyjne W prąd elektryczny przemienny 0,1 mA ÷ 10 A (10 1,3E-04 A/A do Hz ÷ 10 kHz) metoda 8E-03 A/A podstawieniowa M4-141 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Kalibratory wielofunkcyjne W M4-142 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Kalbratory rezystancji W M4-143 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Kalibratory wielofunkcyjne W M4-144 Elektryczność i magnetyzm Kalibratory rezystancji M4-145 Elektryczność i magnetyzm Kalibratory wielofunkcyjne Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. M4-136 Elektryczność i magnetyzm M4-137 Elektryczność i magnetyzm M4-138 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. M4-139 Elektryczność i magnetyzm M4-140 M4-146A3 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. GUM, BIPM G Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi 45,50 Cena za punkt pomiarowy M42 45,50 Cena za punkt pomiarowy G M42 29,90 Cena za punkt pomiarowy PTB G M42 45,50 Cena za punkt pomiarowy NIE PTB G M42 45,50 Cena za punkt pomiarowy 7,5E-05 A/A do 3,8E-03 A/A TAK PTB G M42 65,00 Cena za punkt pomiarowy 4,3E-06 Ω/Ω do 5,4E-03 Ω/Ω TAK BIPM G M42 26,00 Cena za punkt pomiarowy 4,3E-06 Ω/Ω do 5,4E-03 Ω/Ω TAK BIPM G M42 26,00 Cena za punkt pomiarowy W 0,5E-06 Ω/Ω do rezystancja przy prądzie 1 Ω ÷ 1 GΩ stałym (DC) metoda podstawieniowa 4,5E-05 Ω/Ω NIE BIPM G M42 52,00 Cena za punkt pomiarowy W 0,5E-06 Ω/Ω do rezystancja przy prądzie 1 Ω ÷ 1 GΩ stałym (DC) metoda podstawieniowa 4,5E-05 Ω/Ω NIE BIPM G M42 52,00 Cena za punkt pomiarowy M42 195,00 1 mA ÷ 10 A (10 Hz ÷ 10 kHz) metoda pomiarowa porównawcza przy zastosowaniu przetworników AC/DC 1 Ω ÷ 1 GΩ rezystancja przy prądzie metody pomiarowe stałym (DC) bezpośredniego porównania 1 Ω ÷ 1 GΩ rezystancja przy prądzie metody pomiarowe stałym (DC) bezpośredniego porównania NIE Uwagi dot. wzorcowania M42 prąd elektryczny przemienny 1,2E-05 A/A do 7,3E-05 A/A Uwagi dotyczące miejsca realizacji 9,0E-05 A/A do 8,0E-04 A/A CMC 6,4E-04 A/A CMC 3,6E-05 A/A do 6,4E-04 A/A Opłata stała związana ze zleceniem, przygotowaniem przyrządu i stanowiska pomiarowego pobierana jednorazowo Przetworniki termoelektryczne AC/DC M4-147 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Przetwornik termoelektryczny AC/DC W różnica przetwarzania AC/DC M4-148 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Przetwornik termoelektryczny AC/DC W różnica przetwarzania AC/DC M4-149 Elektryczność i magnetyzm Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Przetwornik termoelektryczny AC/DC W różnica przetwarzania AC/DC 2 mV ÷ 0,5 V (10 Hz ÷ 1 MHz) metoda pomiarowa porównawcza przy zastosowaniu wzorcowych przetworników AC/DC 0,5 V ÷ 5 V metoda pomiarowa porównawcza przy zastosowaniu wzorcowych przetworników AC/DC 5 V ÷ 1000 V (10 Hz ÷ 1 MHz) metoda pomiarowa porównawcza przy zastosowaniu wzorcowych przetworników AC/DC 5E-06 V/V do 1,7E-04 V/V TAK PTB G CMC 4,1E-05 V/V do 1,7E-04 V/V M42 117,00 Cena za punkt pomiarowy 3E-06 V/V do 4E-05 V/V TAK PTB G CMC 9E-06 V/V do 5,5E-04 V/V M42 117,00 Cena za punkt pomiarowy 3E-06 V/V do 2,5E-05 V/V TAK PTB G CMC 9E-06 V/V do 5E-03 V/V M42 117,00 Cena za punkt pomiarowy Strona 121 ID Obiektu M4-150 M4-151 M4-152 M4-153 M4-154 M4-155 M4-156 Dziedzina Elektryczność i magnetyzm Elektryczność i magnetyzm Elektryczność i magnetyzm Elektryczność i magnetyzm Elektryczność i magnetyzm Elektryczność i magnetyzm Elektryczność i magnetyzm Subdziedzina Napięcie, prąd i rezystancja DC i m. cz. Moc i energia Moc i energia Moc i energia Moc i energia Moc i energia Moc i energia Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Przetwornik termoelektryczny AC/DC z bocznikiem Licznik energii Licznik energii Miernik mocy Miernik mocy Licznik energii Licznik energii Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda różnica przetwarzania AC/DC 10 mA ÷ 20 A (10 Hz ÷ 20 kHz) metoda pomiarowa porównawcza przy zastosowaniu wzorcowych przetworników AC/DC 4E-06 A/A do 5E-04 A/A energia w układzie jednofazowym U = (60 ÷ 500) V; I = (0,05 ÷ 100) A; f = (45 ÷ 65) Hz; wsp. mocy (czynnej lub biernej) od 1 do 0,5 niepewność rozszerzona: 0,015% (dla k = 1,65, przy poziomie ufności 95%) energia w układzie jednofazowym U = (60 ÷ 500) V; I = (0,05 ÷ 100) A; f = (45 ÷ 65) Hz; wsp. mocy (czynnej lub biernej) od 1 do 0,5 niepewność rozszerzona: 0,007% (dla k = 2, przy poziomie ufności 95%) moc w układzie jednofazowym U = (60 ÷ 500) V; I = (0,05 ÷ 100) A; f = (45 ÷ 65) Hz; wsp. mocy (czynnej lub biernej) od 1 do 0,5 niepewność rozszerzona: 0,015% (dla k = 1,65, przy poziomie ufności 95%) moc w układzie jednofazowym U = (60 ÷ 500) V; I = (0,05 ÷ 100) A; f = (45 ÷ 65) Hz; wsp. mocy (czynnej lub biernej) od 1 do 0,5 niepewność rozszerzona: 0,007% (dla k = 2, przy poziomie ufności 95%) WE energia w układzie trójfazowym U = (60 ÷ 500) V; I = (0,05 ÷ 100) A; f = (45 ÷ 65) Hz; wsp. mocy (czynnej lub biernej) od 1 do 0,5 niepewność rozszerzona: 0,015% (dla k = 1,65, przy poziomie ufności 95%) WE energia w układzie trójfazowym (faza po fazie i/lub szeregoworównolegle) U = (60 ÷ 500) V; I = (0,05 ÷ 100) A; f = (45 ÷ 65) Hz; wsp. mocy (czynnej lub biernej) od 1 do 0,5 niepewność rozszerzona: 0,007% (dla k = 2, przy poziomie ufności 95%) W WE WE WE WE Strona 122 CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) TAK PTB TAK Wzorce państwowe napięcia stałego, rezystancji i czasu, przechowywane w GUM G Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi CMC 6E-05 A/A do 1,4E-04 A/A Cena za punkt pomiarowy M42 117,00 P, G M42 Cena za pierwszy punkt pomiarowy, 214,50 każdy następny to 0,15 rbg x stawka za 1 rbg. TAK Wzorce państwowe napięcia stałego, rezystancji i czasu, przechowywane w GUM G M42 221,00 Cena za pierwszy punkt pomiarowy, każdy następny to 0,2 rbg x stawka za 1 rbg. TAK Wzorce państwowe napięcia stałego, rezystancji i czasu, przechowywane w GUM P, G wzorcowanie z wykorzystaniem licznika energii elektrycznej M42 221,00 Cena za pierwszy punkt pomiarowy, każdy następny to 0,2 rbg x stawka za 1 rbg. TAK Wzorce państwowe napięcia stałego, rezystancji i czasu, przechowywane w GUM G wzorcowanie z wykorzystaniem licznika energii elektrycznej M42 Cena za pierwszy punkt pomiarowy, 227,50 każdy następny to 0,25 rbg x stawka za 1 rbg. TAK Wzorce państwowe napięcia stałego, rezystancji i czasu, przechowywane w GUM P, G M42 Cena za pierwszy punkt pomiarowy, 409,50 każdy następny to 0,15 rbg x stawka za 1 rbg. TAK Wzorce państwowe napięcia stałego, rezystancji i czasu, przechowywane w GUM G M42 416,00 Cena za pierwszy punkt pomiarowy, każdy następny to 0,2 rbg x stawka za 1 rbg. ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona Elektryczność i magnetyzm Przekładniki i wysokie napięcie Komparatory prądowe M4-158 Elektryczność i magnetyzm Przekładniki i wysokie napięcie Komparator prądowy W błąd prądowy i kątowy M4-159 Elektryczność i magnetyzm Przekładniki i wysokie napięcie Komparator prądowy W błąd prądowy i kątowy M4-160 Elektryczność i magnetyzm Przekładniki i wysokie napięcie Komparator prądowy W błąd prądowy i kątowy Elektryczność i magnetyzm Przekładniki i wysokie napięcie CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Opłata stała związana ze zleceniem, przygotowaniem przyrządu i stanowiska pomiarowego pobierana jednorazowo przy realizacji usług na komparatorze prądowym z pozycji od 158 do 160. M4-157A4 M4-161A5 Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda znamionowy prąd pierwotny (2 ÷ 10000) A; znamionowy prąd wtórny 5 A i 1 A znamionowy prąd pierwotny (2 ÷ 10000) A; znamionowy prąd wtórny 5 A i 1 A znamionowy prąd pierwotny (2 ÷ 10000) A; znamionowy prąd wtórny 5 A i 1 A M4-162 Elektryczność i magnetyzm Przekładniki i wysokie napięcie Przekładnik prądowy WE M4-163 Elektryczność i magnetyzm Przekładniki i wysokie napięcie Przekładnik prądowy WE M4-164 Elektryczność i magnetyzm Przekładniki i wysokie napięcie Przekładnik prądowy WE M4-165 Elektryczność i magnetyzm Przekładniki i wysokie napięcie Przekładnik napięciowy WE znamionowy prąd pierwotny (0,05 ÷ 10000) A; znamionowy prąd błąd prądowy i kątowy wtórny 5 A i 1 A ; najwyższe napięcie dopuszczalne (720 ÷ 420000) V znamionowy prąd pierwotny (0,05 ÷ 10000) A; znamionowy prąd błąd prądowy i kątowy wtórny 5 A i 1 A ; najwyższe napięcie dopuszczalne (720 ÷ 420000) V znamionowy prąd pierwotny (0,05 ÷ 10000) A; znamionowy prąd błąd prądowy i kątowy wtórny 5 A i 1 A ; najwyższe napięcie dopuszczalne (720 ÷ 420000) V Znamionowe napięcie pierwotne błąd napięciowy i kątowy (100 ÷ 1100) V; znamionowe napięcie wtórne 100 V i 110 V Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi M42 455,00 0,003 %, 0,3 minuty (k =2, P =ok. 95 %) TAK PTB G M42 143,00 0,003 %, 0,3 minuty (k = 2, P =ok. 95 %) TAK PTB G M42 Cena za jedną 273,00 przekładnię do 100 A do 1000 A 0,003 %, 0,3 minuty (k = 2, P =ok. 95 %) TAK PTB G M42 Cena za jedną 403,00 przekładnię powyżej 1000 A M42 195,00 Opłata stała związana ze zleceniem, przygotowaniem przyrządu i stanowiska pomiarowego pobierana jednorazowo przy realizacji usług na przekładniku Przekładniki Uwagi dotyczące miejsca realizacji Cena za jedną przekładnię do 100 A > 0,003 %, > 0,3 minuty (k = 2, P =ok. 95 %) TAK PTB P, G M42 32,50 > 0,003 %, > 0,3 minuty (k = 2, P =ok. 95 %) TAK PTB P, G M42 Cena za jedną 58,50 przekładnię od 100 A do 1000 A > 0,003 %, > 0,3 minuty (k = 2, P =ok. 95 %) TAK PTB P, G M42 Cena za jedną 71,50 przekładnię od 1000 A > 0,005 %, > 0,5 minuty (k = 2, P =ok. 95 %) TAK PTB P, G M42 Cena za jedną 45,50 przekładnię do 1100 V Strona 123 Cena za jedną przekładnię do 100 A ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi M4-166 Elektryczność i magnetyzm Przekładniki i wysokie napięcie Przekładnik napięciowy WE M4-167 Elektryczność i magnetyzm Przekładniki i wysokie napięcie Przekładnik napięciowy WE M4-168A6 Elektryczność i magnetyzm Przekładniki i wysokie napięcie Wzorcowanie wielkość mierzona Znamionowe napięcie pierwotne (100 ÷ 400000) V; znamionowe napięcie błąd napięciowy i kątowy wtórne 100 V i 110 V; najwyższe napięcie dopuszczalne (720 ÷ 420000) V Znamionowe napięcie pierwotne (100 ÷ 400000) V; znamionowe napięcie błąd napięciowy i kątowy wtórne 100 V i 110 V; najwyższe napięcie dopuszczalne (720 ÷ 420000) V Przekładniki kombinowane Elektryczność i magnetyzm Przekładniki i wysokie napięcie Przekładnik kombinowany WE błąd prądowy i napięciowy oraz kątowy M4-170 Elektryczność i magnetyzm Przekładniki i wysokie napięcie Przekładnik kombinowany WE błąd prądowy i napięciowy oraz kątowy M4-172 Elektryczność i magnetyzm Elektryczność i magnetyzm CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania znamionowy prąd pierwotny (0,05 ÷ 10000) A; znamionowy prąd wtórny 5Ai1A; znamionowe napięcie pierwotne (100 ÷ 400000) V; znamionowe napięcie wtórne 100 V i 110 V; najwyższe napięcie dopuszczalne (720 ÷ 420000) V znamionowy prąd pierwotny (0,05 ÷ 10000) A; znamionowy prąd wtórny 5Ai1A; znamionowe napięcie pierwotne (100 ÷ 400000) V; znamionowe napięcie wtórne 100 V i 110 V; najwyższe napięcie dopuszczalne (720 ÷ 420000) V Przekładniki i wysokie napięcie Mostek do pomiaru błędów przekładników prądowy i prądowonapięciowy Opłata stała związana ze zleceniem, przygotowaniem przyrządu i stanowiska pomiarowego pobierana jednorazowo przy realizacji usług na mostek Przekładniki i wysokie napięcie Mostek do pomiaru błędów przekładników prądowo-napięciowy znamionowy prąd błąd prądowy (1 ÷ 10) A, i napięciowy oraz kątowy znamionowe napięcie (33,3 ÷ 200) V W Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi > 0,005 %, > 0,5 minuty (k = 2, P =ok. 95 %) TAK PTB P, G M42 Cena za jedną 58,50 przekładnię od 1100 V do 30000 V > 0,005 %, > 0,5 minuty (k = 2, P =ok. 95 %) TAK PTB P, G M42 Cena za jedną 71,50 przekładnię od 30000 V Opłata stała związana ze zleceniem, przygotowaniem przyrządu i stanowiska pomiarowego pobierana jednorazowo przy realizacji usług na przekładniku M4-169 M4-171A7 Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda M42 260,00 > 0,005 %, > 0,5 minuty (k = 2, P =ok. 95 %) TAK PTB P, G część napięciowa M42 71,50 Cena za jedną przekładnię > 0,005 %, > 0,5 minuty (k = 2, P =ok. 95 %) TAK PTB P, G część prądowa M42 71,50 Cena za jedną przekładnię M42 260,00 M42 Cena za pierwszy zakres napięcia, za każdy następny 650,00 2 rbg x stawka za 1 rbg. Brak w CMC 0,002 %, 0,2 minuty (k = 1,65; P = ok. 95 %) Strona 124 NIE PTB G część napięciowa ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi M4-173 Elektryczność i magnetyzm Przekładniki i wysokie napięcie Mostek do pomiaru błędów przekładników prądowy i prądowonapięciowy M4-174 Elektryczność i magnetyzm Przekładniki i wysokie napięcie M4-175 Elektryczność i magnetyzm M4-176 Elektryczność i magnetyzm M4-177 Elektryczność i magnetyzm M4-178 Elektryczność i magnetyzm M4-179 Elektryczność i magnetyzm M4-180 Elektryczność i magnetyzm M4-181 Elektryczność i magnetyzm M4-182 Elektryczność i magnetyzm M4-183 Elektryczność i magnetyzm Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) M42 PTB G M42 Cena za pierwszy punkt pomiarowy, za 331,50 każdy następny 0,25 rbg x stawka za 1 rbg. Brak w CMC NIE PTB G M42 Cena za pierwszy zakres pomiarowy, za 520,00 każdy następny 1,5 rbg x stawka za 1 rbg. Brak w CMC (1E-05 ÷ 3,2E-02) V NIE PTB, NPL G kalibrator M43 Podana cena jest ceną średnią i dotyczy 742,30 typowego przyrządu i typowego zakresu wzorcowania. (1E-05 ÷ 3,2E-02) V NIE PTB, NPL G kalibrator M43 Podana cena jest ceną średnią i dotyczy 742,30 typowego przyrządu i typowego zakresu wzorcowania. M43 Podana cena jest ceną średnią i dotyczy 742,30 typowego przyrządu i typowego zakresu wzorcowania. M43 Podana cena jest ceną średnią i dotyczy 819,00 typowego przyrządu i typowego zakresu wzorcowania. M43 Podana cena jest ceną średnią i dotyczy 429,00 typowego przyrządu i typowego zakresu wzorcowania. M43 Podana cena jest ceną średnią i dotyczy 494,00 typowego przyrządu i typowego zakresu wzorcowania. M43 Podana cena jest ceną średnią i dotyczy 975,00 typowego przyrządu i typowego zakresu wzorcowania. W składowa czynna i bierna obciążenia (1 ÷ 400) VA 0,1 % (k = 1,65; P = ok. 95 %) NIE PTB Przekładniki i wysokie napięcie Napięciowe obciążenie przekładników W składowa czynna i bierna obciążenia (1 ÷ 400) VA 0,1 % (k = 1,65; P = ok. 95 %) NIE Przekładniki i wysokie napięcie Woltomierz i próbnik wysokiego napięcia WE napięcie przemienne Napięcie (500 ÷ 300000) V > 0,1 % (k = 1,65; P = ok. 95 %) Kalibratory miernika mocy W napięcie stałe, impedancja (0,04 ÷ 16) V Kalibratory miernika mocy W napięcie stałe, impedancja (0,04 ÷ 16) V W napięcie stałe, impedancja Mierniki mocy Mierniki mocy Źródła mocy W W W 4) realizację usługi G Prądowe obciążenie przekładników W Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za Cena za pierwszy punkt pomiarowy, za 331,50 każdy następny 0,25 rbg x stawka za 1 rbg. Brak w CMC 0,002 %, 0,2 minuty (k = 1,65; P = ok. 95 %) Mierniki mocy Cena Lab. całkowita za wzorcowanie M42 znamionowy prąd błąd prądowy (1 ÷ 10) A, i napięciowy oraz kątowy znamionowe napięcie (33,3 ÷ 200) V Kalibratory miernika mocy Uwagi dot. wzorcowania Cena za pierwszy zakres prądu, za każdy następny 650,00 2 rbg x stawka za 1 rbg. Brak w CMC W Wielkości elektryczne przy częstotliwościach radiowych i pole elektryczne i magnetyczne Wielkości elektryczne przy częstotliwościach radiowych i pole elektryczne i magnetyczne Wielkości elektryczne przy częstotliwościach radiowych i pole elektryczne i magnetyczne Wielkości elektryczne przy częstotliwościach radiowych i pole elektryczne i magnetyczne Wielkości elektryczne przy częstotliwościach radiowych i pole elektryczne i magnetyczne Wielkości elektryczne przy częstotliwościach radiowych i pole elektryczne i magnetyczne Wielkości elektryczne przy częstotliwościach radiowych i pole elektryczne i magnetyczne Uwagi dotyczące miejsca realizacji (30 ÷ 3200) Ω (0,007 ÷ 0,7) Ω moc bezwzględna 0,06 µW ÷ 101 mW 0,006 µW ÷ 0,29 mW moc bezwzględna 3,16 nW ÷ 100 mW 50 MHz moc bezwzględna 1 µW ÷ 10 mW 50 MHz metoda z wzorcem termistorowym moc bezwzględna 3,16 nW ÷ 100 mW 100 kHz ÷ 2 GHz (0,024 ÷ 0,105) dB (0,016 ÷ 0,02) dB (0,024 ÷ 0,105) dB Strona 125 NIE NIE NIE NIE NIE TAK PTB PTB, NPL PTB, NPL NIST NIST PTB, NIST G część prądowa G kalibrator G graniczne wartości podzakresów metodą z kalibratorem miernika mocy G pomiar wzorcowego żródła mocy G pomiar wzorcowego żródła mocy G generator do 2 GHz (min. 10, max. 15 punktów pomiarowych) ID Obiektu Dziedzina M4-184 Elektryczność i magnetyzm M4-185 Elektryczność i magnetyzm M4-186 Elektryczność i magnetyzm M4-187 Elektryczność i magnetyzm M4-188 Elektryczność i magnetyzm M4-189 Elektryczność i magnetyzm Subdziedzina Wielkości elektryczne przy częstotliwościach radiowych i pole elektryczne i magnetyczne Wielkości elektryczne przy częstotliwościach radiowych i pole elektryczne i magnetyczne Wielkości elektryczne przy częstotliwościach radiowych i pole elektryczne i magnetyczne Wielkości elektryczne przy częstotliwościach radiowych i pole elektryczne i magnetyczne Wielkości elektryczne przy częstotliwościach radiowych i pole elektryczne i magnetyczne Wielkości elektryczne przy częstotliwościach radiowych i pole elektryczne i magnetyczne Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Źródła mocy W Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC moc bezwzględna 3,16 nW ÷ 100 mW 100 kHz ÷ 18 GHz 0,011 ÷ 0,027 TAK (0,024 ÷ 0,105) dB TAK Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi M43 Podana cena jest ceną średnią i dotyczy 1495,00 typowego przyrządu i typowego zakresu wzorcowania. G czujnik mocy do 4 GHz (min. 15, max. 20 punktów pomiarowych) M43 Podana cena jest ceną średnią i dotyczy 910,00 typowego przyrządu i typowego zakresu wzorcowania. G generator do 18 GHz (min. 30, max. 40 punktów pomiarowych) PTB, NIST PTB, NIST Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Czujniki mocy W współczynnik kalibracji 0,75 ÷ 1,25 100 kHz ÷ 4 GHz Czujniki mocy W współczynnik kalibracji 0,75 ÷ 1,25 100 kHz ÷ 18 GHz 0,011 ÷ 0,027 TAK PTB, NIST G czujnik mocy do 18 GHz (max. 30 punktów pomiarowych) M43 Podana cena jest ceną średnią i dotyczy 1430,00 typowego przyrządu i typowego zakresu wzorcowania. Czujniki mocy W współczynnik kalibracji 0,75 ÷ 1,25 10 MHz ÷ 18 GHz metoda z wzorcem termistorowym 0,0045 ÷ 0,015 TAK NIST G czujnik mocy do 18 GHz (max. 30 punktów pomiarowych) M43 Podana cena jest ceną średnią i dotyczy 2340,00 typowego przyrządu i typowego zakresu wzorcowania. Urządzenia bierne W skalarny współczynnik odbicia 0,002 ÷ 0,5 0,00022 ÷ 0,0024 TAK NIST G M43 Podana cena jest ceną średnią i dotyczy 585,00 typowego przyrządu i typowego zakresu wzorcowania. Urządzenia bierne W |Sii|: 0 ÷ 1 wektorowy współczynnik arg(S): (-180 ÷ 180)º odbicia 10 MHz ÷ 40 GHz |Sii|: 0,0017 ÷ 0,13 arg(S): (0,33 ÷180)º TAK NIST G M43 Podana cena jest ceną średnią i dotyczy 585,00 typowego przyrządu i typowego zakresu wzorcowania. M43 Podana cena jest ceną średnią i dotyczy 1170,00 typowego przyrządu i typowego zakresu wzorcowania. M4-190 Elektryczność i magnetyzm Wielkości elektryczne przy częstotliwościach radiowych i pole elektryczne i magnetyczne Mierniki napięcia wielkiej częstotliwości W napięcie w. cz. (1E-06 ÷ 1) V 100 kHz ÷ 18 GHz (0,75E-08 ÷ 0,75E-02) V NIE NIST, GUM G miliwoltomierz (min. 15, max. 20 punktów pomiarowych na jednym poziomie napięcia z jedną sondą pomiarową) M4-191 Elektryczność i magnetyzm Wielkości elektryczne przy częstotliwościach radiowych i pole elektryczne i magnetyczne Mierniki napięcia wielkiej częstotliwości W napięcie w. cz. (1E-06 ÷ 1) V 100 kHz ÷ 1 GHz (0,75E-08 ÷ 0,75E-02) V NIE NIST G odbiornik pomiarowy do1GHz (min. 15, max. 20 punktów pomiarowych, jeden poziom napięcia) M43 Podana cena jest ceną średnią i dotyczy 1235,00 typowego przyrządu i typowego zakresu wzorcowania. M4-192 Elektryczność i magnetyzm Wielkości elektryczne przy częstotliwościach radiowych i pole elektryczne i magnetyczne Mierniki napięcia wielkiej częstotliwości W napięcie w. cz. (1E-06 ÷ 1) V 100 kHz ÷ 2 GHz (0,75E-08 ÷ 0,75E-02) V NIE NIST G odbiornik pomiarowy do 2GHz (min. 15, max. 20 punktów pomiarowych, jeden poziom napięcia) M43 Podana cena jest ceną średnią i dotyczy 1755,00 typowego przyrządu i typowego zakresu wzorcowania. M4-193 Elektryczność i magnetyzm Wielkości elektryczne przy częstotliwościach radiowych i pole elektryczne i magnetyczne tłumienie (0 ÷ 60) dB 100 kHz ÷ 40 GHz) G tłumik stały (min. 20 max. 30 punktów M43 pomiarowych w pasmie częstotliwości ) Podana cena jest ceną średnią i dotyczy 676,00 typowego przyrządu i typowego zakresu wzorcowania. Urządzenia bierne W (0,04 ÷ 0,07) dB Strona 126 TAK NIST, PTB ID Obiektu M4-194 Dziedzina Elektryczność i magnetyzm M4-195 Elektryczność i magnetyzm M4-196 Elektryczność i magnetyzm M4-197 M4-198 M4-199 M4-200 Elektryczność i magnetyzm Elektryczność i magnetyzm Elektryczność i magnetyzm Elektryczność i magnetyzm Subdziedzina Wielkości elektryczne przy częstotliwościach radiowych i pole elektryczne i magnetyczne Wielkości elektryczne przy częstotliwościach radiowych i pole elektryczne i magnetyczne Wielkości elektryczne przy częstotliwościach radiowych i pole elektryczne i magnetyczne Wielkości elektryczne przy częstotliwościach radiowych i pole elektryczne i magnetyczne Wielkości elektryczne przy częstotliwościach radiowych i pole elektryczne i magnetyczne Wielkości elektryczne przy częstotliwościach radiowych i pole elektryczne i magnetyczne Wielkości elektryczne przy częstotliwościach radiowych i pole elektryczne i magnetyczne Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Urządzenia bierne Wielowrotniki Wielowrotniki Mierniki (sondy) natężenia stałego pola magnetycznego (indukcji magnetycznej) Mierniki (sondy) natężenia zmiennego pola magnetycznego (indukcji magnetycznej) Mierniki (sondy) natężenia zmiennego pola magnetycznego (indukcji magnetycznej) Mierniki (sondy) natężenia pola elektrostatycznego W W W W W W W Wzorcowanie wielkość mierzona tłumienie (0 ÷ 60) dB 100 kHz ÷ 40 GHz) kierunkowość (0 ÷ 54) dB 10 MHz ÷ 2 GHz kierunkowość (0 ÷ 54) dB 10 MHz ÷ 18 GHz gęstość strumienia magnetycznego stałego oraz natężenie pola magnetycznego gęstość strumienia magnetycznego przemiennego oraz natężenie pola magnetycznego natężenie pola magnetycznego natężenie pola elektrycznego Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda (0,04 ÷ 0,07) dB (0,04 ÷ 0,8) dB (0,04 ÷ 0,8) dB Zakres wartości indukcji 2 ÷ 5% pola magnetycznego: od 1µT do 980 mT Strona 127 NIE NIE TAK 7 ÷ 12% Zakres pola od 100 V/m do 160 kV/m TAK TAK (do 77 mT) Zakres częstotliwości: od 2 ÷ 5% 10 Hz do 30 kHz Zakres częstotliwości: od 50 kHz do 500 MHz CMC TAK 5% NIE Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) NIST, PTB NIST NIST PTB GUM PTB GUM Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania 4) G G sprzęgacz, mostek kierunkowy do 2 GHz (min. 20, max. 30 punktów pomiarowych) G sprzęgacz, mostek kierunkowy do 18 GHz G G G Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za realizację usługi tłumik regulowany (min. 20, max. 50 punktów pomiarowych tłumienia) na jednej częstotliwości G Cena Lab. całkowita za wzorcowanie miernik lub sonda miernik lub sonda sonda miernik M43 Podana cena jest ceną średnią i dotyczy 1196,00 typowego przyrządu i typowego zakresu wzorcowania. M43 Podana cena jest ceną średnią i dotyczy 1105,00 typowego przyrządu i typowego zakresu wzorcowania. M43 Podana cena jest ceną średnią i dotyczy 1755,00 typowego przyrządu i typowego zakresu wzorcowania. M43 Podana cena jest ceną za 10 pkt pomiarowych i dotyczy typowego przyrządu i typowego zakresu 390,00 wzorcowania Za każdy dodany/ odjety punkt pomiarowy do ceny należy dodać/odjąć 26 zł (0,2 rbg). M43 Podana cena jest ceną za 10 pkt pomiarowych i dotyczy typowego przyrządu i typowego zakresu 390,00 wzorcowania. Za każdy dodany/ odjety punkt pomiarowy do ceny należy dodać/odjąć 26 zł (0,2 rbg). M43 Podana cena jest ceną za 10 pkt pomiarowych i dotyczy typowego przyrządu i typowego zakresu 390,00 wzorcowania. Za każdy dodany/ odjety punkt pomiarowy do ceny należy dodać/odjąć 26 zł (0,2 rbg). M43 Podana cena jest ceną za 10 pkt pomiarowych i dotyczy typowego przyrządu i typowego zakresu 390,00 wzorcowania. Za każdy dodany/ odjety punkt pomiarowy do ceny należy dodać/odjąć 26 zł (0,2 rbg). ID Obiektu M4-201 M4-202 M4-203 M4-204 M4-205 Dziedzina Elektryczność i magnetyzm Elektryczność i magnetyzm Subdziedzina Wielkości elektryczne przy częstotliwościach radiowych i pole elektryczne i magnetyczne Wielkości elektryczne przy częstotliwościach radiowych i pole elektryczne i magnetyczne Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Mierniki (sondy) natężenia zmiennego pola elektrycznego Mierniki (sondy) natężenia zmiennego pola elektrycznego Elektryczność i magnetyzm Wielkości elektryczne przy częstotliwościach radiowych i pole elektryczne i magnetyczne Mierniki (sondy) natężenia zmiennego pola elektrycznego Elektryczność i magnetyzm Wielkości elektryczne przy częstotliwościach radiowych i pole elektryczne i magnetyczne Odbiorniki pomiarowe: odpowiedź na impulsy wzorcowe "CISPR" Czas i częstotliwość Przedział czasu Zegary kwarcowe cyfrowe i analogowe W W Wzorcowanie wielkość mierzona natężenie pola elektrycznego natężenie pola elektrycznego Zakres częstotliwości: od 10 Hz do 120 kHz Zakres częstotliwości: od 50 kHz do 500 MHz W Zakres częstotliwości: gęstość strumienia mocy od 300 MHz do 500 MHz W odpowiedź na impulsy wzorcowe "Quasi peak" wg wymagań Publ. CISPR-16 WE przedział czasu Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda Zakres częstotliwości: od 0,15 MHz do 1 GHz (-20 ÷ +20) s/d pomiar za pomocą chronokomparatora 1 ÷ 5% 7 ÷ 12% 7 ÷ 12% 2 ÷ 5% od 0,020 s/d Strona 128 CMC TAK (do 50 kHz) TAK TAK Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) GUM PTB PTB NIE TAK G G G G GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi M43 Podana cena jest ceną za 10 pkt pomiarowych i dotyczy typowego przyrządu i typowego zakresu 390,00 wzorcowania. Za każdy dodany/ odjety punkt pomiarowy do ceny należy dodać/odjąć 26 zł (0,2 rbg). M43 Podana cena jest ceną za 10 pkt pomiarowych i dotyczy typowego przyrządu i typowego zakresu 390,00 wzorcowania. Za każdy dodany/ odjety punkt pomiarowy do ceny należy dodać/odjąć 26 zł (0,2 rbg). M43 Podana cena jest ceną za 10 pkt pomiarowych i dotyczy typowego przyrządu i typowego zakresu 390,00 wzorcowania. Za każdy dodany/ odjety punkt pomiarowy do ceny należy dodać/odjąć 26 zł (0,2 rbg). M43 Podana cena jest ceną średnią i dotyczy 585,00 typowego przyrządu i typowego zakresu wzorcowania wartość niepewności jest aktualizowana wg świadectwa M44 wzorcowania chronokomparatora Podana cena jest określona dla średniej liczby roboczogodzin koniecznych do przeprowadzenia wzorcowania typowego przyrządu i typowych zakresów. 455,00 W przypadkach wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie dla każdego przyrządu liczba rbg x stawka za 1 rbg. miernik lub sonda sonda sonda miernik napięcia RF ID Obiektu M4-206 M4-207 M4-208 Dziedzina Czas i częstotliwość Czas i częstotliwość Czas i częstotliwość Subdziedzina Przedział czasu Przedział czasu Przedział czasu Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Zegary kwarcowe i mechaniczne Zegary kwarcowe z wyprowadzonym sygnałem podstawy czasu Sekundomierze i czasomierze elektroniczne sterowane: elektryczne (w tym również: stanem styków bezpotencjałowych zwarcie / rozwarcie) WE WE W Wzorcowanie wielkość mierzona przedział czasu przedział czasu przedział czasu (w tym: szerokość impulsu) Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda (-120 ÷ +120) s odczyt wizualny 0,04 s (-1 ÷ +1) s pomiar sygnału 1pps 600 ns (0 ns ÷ 100 s) pomiar bezpośredni, porównanie wskazań lub od 5 ns pomiar wartości wzorcowej Strona 129 CMC TAK TAK TAK Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G G P, G Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi M44 Podana cena jest określona dla średniej liczby roboczogodzin koniecznych do przeprowadzenia wzorcowania typowego przyrządu i typowych zakresów. 455,00 W przypadkach wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie dla każdego przyrządu liczba rbg x stawka za 1 rbg. niepewność zależy od użytego czasomierza cyfrowego (może być M44 lepsza niż podana), wzorcowanie trwa min. 4+12 dni Podana cena jest określona dla średniej liczby roboczogodzin koniecznych do przeprowadzenia wzorcowania typowego przyrządu i typowych zakresów. 624,00 W przypadkach wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie dla każdego przyrządu liczba rbg x stawka za 1 rbg. zakres pomiarowy może być większy możliwość wykonania pomiarów poza GUM tylko w przypadku, gdy Pomiar błędu pomiary można wskazania wykonywać jedynie w miejscu instalacji M44 Podana cena jest określona dla średniej liczby roboczogodzin koniecznych do przeprowadzenia wzorcowania typowego przyrządu i typowych zakresów. Koszt wzorcowania zależy również od ilości podzakresów, 390,00 maksymalnych długości mierzonych przedziałów czasu, itp. W przypadkach wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie dla każdego przyrządu liczba rbg x stawka za 1 rbg. ID Obiektu M4-209 M4-210 M4-211 Dziedzina Czas i częstotliwość Czas i częstotliwość Czas i częstotliwość Subdziedzina Przedział czasu Przedział czasu Przedział czasu Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Sekundomierze i czasomierze elektroniczne sterowane: elektryczne (w tym również: stanem styków bezpotencjałowych zwarcie / rozwarcie) Sekundomierze elektroniczne z akustyczną sygnalizację startu i stopu Sekundomierze i czasomierze z akustyczną sygnalizację startu i stopu W W W Wzorcowanie wielkość mierzona przedział czasu (w tym: szerokość impulsu) przedział czasu przedział czasu Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda (0 ns ÷ 10 000 s) pomiar bezpośredni, porównanie wskazań lub od 5 ns pomiar wartości wzorcowej (0,1 s ÷ 24 h) pomiar bezpośredni i pomiar za pomocą chronokomparatora (0,1 s ÷ 10 000 s) pomiar bezpośredni i porównanie wskazań (sprzężenie akustyczne) 0,0006 s 0,0006 s Strona 130 CMC TAK TAK TAK Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) P, G Uwagi dotyczące miejsca realizacji Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) M44 Podana cena jest określona dla średniej liczby roboczogodzin koniecznych do przeprowadzenia wzorcowania typowego przyrządu i typowych zakresów. Koszt wzorcowania zależy również od ilości podzakresów, 650,00 maksymalnych długości mierzonych przedziałów czasu, itp. W przypadkach wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie dla każdego przyrządu liczba rbh x stawka za 1 rbh. M44 Podana cena jest określona dla średniej liczby roboczogodzin koniecznych do przeprowadzenia wzorcowania typowego przyrządu i typowych zakresów. 273,00 W przypadkach wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie dla każdego przyrządu liczba rbg x stawka za 1 rbg pomiar błędu krótkoterminowego i długoterminowego M44 (brak możliwości pomiaru za pomocą chronokomparato- ra) Podana cena jest określona dla średniej liczby roboczogodzin koniecznych do przeprowadzenia wzorcowania typowego przyrządu i typowych zakresów. Koszt wzorcowania zależy również od ilości podzakresów, 598,00 maksymalnych długości mierzonych przedziałów czasu, itp. W przypadkach wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie dla każdego przyrządu liczba rbg x stawka za 1 rbg Pomiar błędu krótkoterminowego i pomiar za pomocą chronokomparatora możliwość wykonania pomiarów poza GUM tylko w przypadku, gdy pomiary można wykonywać jedynie w miejscu instalacji Cena Lab. całkowita za wzorcowanie realizację usługi możliwość wykonania pomiarów poza GUM tylko pomiar błędu w przypadku, gdy krótkoterminowego i pomiary można długoterminowego wykonywać jedynie w miejscu instalacji G P, G Uwagi dot. wzorcowania ID Obiektu M4-212 M4-213 M4-214A8 M4-215 Dziedzina Czas i częstotliwość Czas i częstotliwość Czas i częstotliwość Czas i częstotliwość Subdziedzina Przedział czasu Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Sekundomierze elektroniczne sterowane optycznie Przedział czasu Sekundomierze elektroniczne sterowane ręcznie Częstotliwość i przedział czasu Generatory częstotliwości, okresu i przedziałów czasu ze stabilizacją kwarcową (w tym również: syntezery i generatory funkcyjne) o stabilności podstawy czasu lepszej niż 1E-6 Częstotliwość i przedział czasu Generatory częstotliwości, okresu i przedziałów czasu ze stabilizacją kwarcową (w tym również: syntezery i generatory funkcyjne) o stabilności podstawy czasu lepszej niż 1E-6 W W Wzorcowanie wielkość mierzona przedział czasu przedział czasu Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda (0,1 s ÷ 24 h) porównanie wskazań (0,1 s ÷ 24 h) porównanie wskazań od 0,00001 s do 0,02 s od 0,003 s CMC TAK TAK Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) P, G G Opłata stała związana ze zleceniem, przygotowaniem przyrządu i stanowiska pomiarowego oraz 2dniowym badaniem podstawy czasu pobierana jednorazowo W częstotliwość (0,1 Hz ÷ 14 GHz) pomiar bezpośredni od (1 pHz + 2E-12*f) Strona 131 TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G Uwagi dotyczące miejsca realizacji możliwość wykonania pomiarów poza GUM tylko w przypadku, gdy pomiary można wykonywać jedynie w miejscu instalacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi M44 Podana cena jest określona dla średniej liczby roboczogodzin koniecznych do przeprowadzenia wzorcowania typowego przyrządu i typowych zakresów. 429,00 W przypadkach wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie dla każdego przyrządu liczba rbg x stawka za 1 rbg M44 Podana cena jest określona dla średniej liczby roboczogodzin koniecznych do przeprowadzenia wzorcowania typowego przyrządu i typowych zakresów. 260,00 W przypadkach wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie dla każdego przyrządu liczba rbg x stawka za 1 rbg. M44 Podana cena jest określona dla średniej liczby roboczogodzin koniecznych do przeprowadzenia wzorcowania typowego przyrządu. 598,00 W przypadkach wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie dla każdego przyrządu liczba rbg x stawka za 1 rbg M44 Podana cena jest określona dla typowych zakresów wzorcowania. W przypadkach 260,00 wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie - liczba rbg x stawka za 1 rbg pomiar błędu krótkoterminowego i długoterminowego; liczba roboczogodzin zależy od zakresu wzorcowania pomiar błędu krótkoterminowego i pomiar za pomocą chronokomparatora ID Obiektu M4-216 M4-217 M4-218A9 M4-219 Dziedzina Czas i częstotliwość Czas i częstotliwość Czas i częstotliwość Czas i częstotliwość Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Częstotliwość i przedział czasu Generatory częstotliwości, okresu i przedziałów czasu ze stabilizacją kwarcową (w tym również: syntezery i generatory funkcyjne) o stabilności podstawy czasu lepszej niż 1E-6 Częstotliwość i przedział czasu Generatory częstotliwości, okresu i przedziałów czasu ze stabilizacją kwarcową (w tym również: syntezery i generatory funkcyjne) - o stabilności podstawy czasu lepszej niż 1E-6 Częstotliwość i przedział czasu Generatory częstotliwości, okresu i przedziałów czasu ze stabilizacją kwarcową o mniejszej dokładności/ stabilności podstawy czasu (nie przekraczającej 1E-6), w tym również zwykle generatory stanowiące integralną część innych urządzeń Częstotliwość i przedział czasu Generatory częstotliwości, okresu i przedziałów czasu ze stabilizacją kwarcową o mniejszej dokładności/ stabilności podstawy czasu (nie przekraczającej 1E-06), w tym również zwykle generatory stanowiące integralną część innych urządzeń W W Wzorcowanie wielkość mierzona okres Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda (80 ps ÷ 10 s) pomiar bezpośredni przedział czasu (w tym również: (0 ns ÷ 10 000 s) szerokość impulsu, czas pomiar bezpośredni narastania/ opadania) od (2E-12+1 pHz *T)*T od 0,2 ns CMC TAK TAK Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) Uwagi dotyczące miejsca realizacji G G Opłata stała związana ze zleceniem, przygotowaniem przyrządu i stanowiska pomiarowego oraz 1-dniowym badaniem podstawy czasu pobierana jednorazowo W częstotliwość (0,1 Hz ÷ 14 GHz) pomiar bezpośredni od (1 pHz + 2E-12*f) Strona 132 TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) P, G możliwość wykonania pomiarów poza GUM tylko w przypadku, gdy pomiary można wykonywać jedynie w miejscu instalacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi M44 Podana cena jest określona dla typowych zakresów wzorcowania. W przypadkach 195,00 wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie - liczba rbg x stawka za 1 rbg M44 Podana cena jest określona dla typowych zakresów wzorcowania. W przypadkach 260,00 wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie - liczba rbg x stawka za 1 rbg M44 Podana cena jest określona dla średniej liczby roboczogodzin koniecznych do przeprowadzenia wzorcowania typowego przyrządu. 468,00 W przypadkach wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie dla każdego przyrządu liczba rbg x stawka za 1 rbg M44 Podana cena jest określona dla typowych zakresów wzorcowania. W przypadkach 260,00 wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie - liczba rbg x stawka za 1 rbg ID Obiektu M4-220 M4-221 M4-222A10 M4-223 Dziedzina Czas i częstotliwość Czas i częstotliwość Czas i częstotliwość Czas i częstotliwość Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Częstotliwość i przedział czasu Generatory częstotliwości, okresu i przedziałów czasu ze stabilizacją kwarcową o mniejszej dokładności/ stabilności podstawy czasu (nie przekraczającej 1E-6), w tym również zwykle generatory stanowiące integralną część innych urządzeń Częstotliwość i przedział czasu Generatory częstotliwości, okresu i przedziałów czasu ze stabilizacją kwarcową o mniejszej dokładności/ stabilności podstawy czasu (nie przekraczającej 1E-06), w tym również zwykle generatory stanowiące integralną część innych urządzeń Częstotliwość i przedział czasu Generatory częstotliwości, okresu i przedziałów czasu bez stabilizacji kwarcowej lub z pomocniczą stabilizacją kwarcową o wymaganej dokładności/ stabilności podstawy czasu nie przekraczającej 1E05 Częstotliwość i przedział czasu Generatory częstotliwości, okresu i przedziałów czasu bez stabilizacji kwarcowej lub z pomocniczą stabilizacją kwarcową o wymaganej dokładności/ stabilności podstawy czasu nie przekraczającej 1E-05 W W Wzorcowanie wielkość mierzona okres Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda (80 ps ÷ 10 s) pomiar bezpośredni przedział czasu (w tym również: (0 ns ÷ 10 000 s) szerokość impulsu, czas pomiar bezpośredni narastania/ opadania) od (2E-12+1 pHz *T)*T od 0,2 ns CMC TAK TAK Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) Uwagi dotyczące miejsca realizacji P, G możliwość wykonania pomiarów poza GUM tylko w przypadku, gdy pomiary można wykonywać jedynie w miejscu instalacji P, G możliwość wykonania pomiarów poza GUM tylko w przypadku, gdy pomiary można wykonywać jedynie w miejscu instalacji Opłata stała związana ze zleceniem, przygotowaniem przyrządu i stanowiska pomiarowego oraz badaniem niestabilności krótkoterminowej pobierana jednorazowo W częstotliwość (0,1 Hz ÷ 14 GHz) pomiar bezpośredni od (1 pHz + 2E-12*f) Strona 133 TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) P, G możliwość wykonania pomiarów poza GUM tylko w przypadku, gdy pomiary można wykonywać jedynie w miejscu instalacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi M44 Podana cena jest określona dla typowych zakresów wzorcowania. W przypadkach 195,00 wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie - liczba rbg x stawka za 1 rbg M44 Podana cena jest określona dla typowych zakresów wzorcowania. W przypadkach 260,00 wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie - liczba rbg x stawka za 1 rbg M44 Podana cena jest określona dla średniej liczby roboczogodzin koniecznych do przeprowadzenia wzorcowania typowego przyrządu. 403,00 W przypadkach wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie dla każdego przyrządu liczba rbg x stawka za 1 rbg M44 Podana cena jest określona dla typowych zakresów wzorcowania. W przypadkach 390,00 wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie - liczba rbg x stawka za 1 rbg ID Obiektu M4-224 M4-225 M4-226 M4-227 Dziedzina Czas i częstotliwość Czas i częstotliwość Czas i częstotliwość Czas i częstotliwość Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Częstotliwość i przedział czasu Generatory częstotliwości, okresu i przedziałów czasu bez stabilizacji kwarcowej lub z pomocniczą stabilizacją kwarcową o wymaganej dokładności/ stabilności podstawy czasu nie przekraczającej 1E05 Częstotliwość i przedział czasu Generatory częstotliwości, okresu i przedziałów czasu bez stabilizacji kwarcowej lub z pomocniczą stabilizacją kwarcową o wymaganej dokładności/ stabilności podstawy czasu nie przekraczającej 1E05 Częstotliwość i przedział czasu Częstotliwość Kalibratory oscyloskopowe Generatory wysokostabilne (wtórne wzorce częstotliwości) dyscyplinowane W W W W Wzorcowanie wielkość mierzona okres (80 ps ÷ 10 s) pomiar bezpośredni przedział czasu (w tym również: szerokość (0 ns ÷ 10 000 s) impulsu, czas narastania/ pomiar bezpośredni opadania) okres częstotliwość Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda (80 ps ÷ 10 s) pomiar bezpośredni (0,1; 1; 5; 10) MHz pomiar czasu fazowego od (2E-12+1 pHz *T)*T od 0,2 ns od (2E-12+1 pHz *T)*T 2E-13 Hz/Hz Strona 134 CMC TAK TAK TAK TAK Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) Uwagi dotyczące miejsca realizacji P, G możliwość wykonania pomiarów poza GUM tylko w przypadku, gdy pomiary można wykonywać jedynie w miejscu instalacji P, G możliwość wykonania pomiarów poza GUM tylko w przypadku, gdy pomiary można wykonywać jedynie w miejscu instalacji G G Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi M44 Podana cena jest określona dla typowych zakresów wzorcowania. W przypadkach 195,00 wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie - liczba rbg x stawka za 1 rbg M44 Podana cena jest określona dla typowych zakresów wzorcowania. W przypadkach 260,00 wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie - liczba rbg x stawka za 1 rbg M44 Podana cena jest określona dla średniej liczby roboczogodzin koniecznych do przeprowadzenia wzorcowania typowego przyrządu i typowych zakresów. 1118,00 W przypadkach wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie dla każdego przyrządu liczba rbg x stawka za 1 rbg. M44 Podana cena jest określona dla średniej liczby roboczogodzin koniecznych do przeprowadzenia wzorcowania typowego przyrządu i typowych zakresów. 1391,00 W przypadkach wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie dla każdego przyrządu liczba rbg x stawka za 1 rbg. ID Obiektu M4-228 M4-229 M4-230 Dziedzina Czas i częstotliwość Czas i częstotliwość Czas i częstotliwość Subdziedzina Częstotliwość Częstotliwość Częstotliwość Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Generatory wysokostabilne (wtórne wzorce częstotliwości) o biegu swobodnym Generatory wysokostabilne (wtórne wzorce częstotliwości) dyscyplinowane i o biegu swobodnym Komparatory częstotliwości W W W Wzorcowanie wielkość mierzona częstotliwość częstotliwość częstotliwość Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda (0,1; 1; 5; 10) MHz pomiar czasu fazowego (0,1; 1; 5; 10) MHz metoda GPS CV (1 kHz ÷ 10 MHz) pomiar wartości wzorcowej 2E-13 Hz/Hz 2E-13 Hz/Hz 0,5E-06 Hz+2E-12*f (przy założeniu t =100 s) Strona 135 CMC TAK TAK TAK Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania G Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi G P Cena Lab. całkowita za wzorcowanie użytkownik musi posiadać system do transferu czasu metodę GPS CV i przesłać dane pomiarowe zakres pomiarowy może być szerszy, M44 Podana cena jest określona dla średniej liczby roboczogodzin koniecznych do przeprowadzenia wzorcowania typowego przyrządu i typowych zakresów. 1196,00 W przypadkach wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie dla każdego przyrządu liczba rbg x stawka za 1 rbg. M44 Podana cena jest określona dla średniej liczby roboczogodzin koniecznych do przeprowadzenia wzorcowania typowego przyrządu i typowych zakresów. 975,00 W przypadkach wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie dla każdego przyrządu liczba rbg x stawka za 1 rbg. M44 Podana cena jest określona dla średniej liczby roboczogodzin koniecznych do przeprowadzenia wzorcowania typowego przyrządu i typowych zakresów. 1209,00 W przypadkach wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie dla każdego przyrządu liczba rbg x stawka za 1 rbg. ID Obiektu M4-231A11 M4-232 M4-233 M4-234 Dziedzina Czas i częstotliwość Czas i częstotliwość Czas i częstotliwość Czas i częstotliwość Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Częstotliwość i przedział czasu Częstościomierzeczasomierze, częstościomierze i czasomierze cyfrowe i analogowe, w tym również stanowiące integralną część innych urządzeń o dokładności (w tym: stabilności podstawy czasu) lepszej niż 1E-06 Częstotliwość i przedział czasu Częstościomierzeczasomierze, częstościomierze i czasomierze cyfrowe i analogowe, w tym również stanowiące integralną część innych urządzeń o dokładności (w tym: stabilności podstawy czasu) lepszej niż 1E-06 Częstotliwość i przedział czasu Częstościomierzeczasomierze, częstościomierze i czasomierze cyfrowe i analogowe, w tym również stanowiące integralną część innych urządzeń o dokładności (w tym: stabilności podstawy czasu) lepszej niż 1E-06 Częstotliwość i przedział czasu Częstościomierzeczasomierze, częstościomierze i czasomierze cyfrowe i analogowe, w tym również stanowiące integralną część innych urządzeń o dokładności (w tym: stabilności podstawy czasu) lepszej niż 1E-06 Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Opłata stała związana ze zleceniem, przygotowaniem przyrządu i stanowiska pomiarowego oraz 2dniowym badaniem podstawy czasu pobierana jednorazowo W W W częstotliwość okres przedział czasu (w tym: szerokość impulsu) (0,1 Hz ÷ 20 GHz) pomiar wartości wzorcowej (80 ps ÷ 10 s) pomiar wartości wzorcowej od (1 pHz + 2E-12*f) od (2E-12+1 pHz *T)*T (6,25 ns ÷ 10 000 s) pomiar wartości wzorcowej od 0,2 ns Strona 136 TAK TAK TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G G G Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi M44 Podana cena jest określona dla średniej liczby roboczogodzin koniecznych do przeprowadzenia wzorcowania typowego przyrządu. 598,00 W przypadkach wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie dla każdego przyrządu liczba rbg x stawka za 1 rbg M44 Podana cena jest określona dla typowych zakresów wzorcowania. W przypadkach 260,00 wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie - liczba rbg x stawka za 1 rbg M44 Podana cena jest określona dla typowych zakresów wzorcowania. W przypadkach 195,00 wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie - liczba rbg x stawka za 1 rbg M44 Podana cena jest określona dla typowych zakresów wzorcowania. W przypadkach 325,00 wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie - liczba rbg x stawka za 1 rbg ID Obiektu M4-235A12 M4-236 M4-237 M4-238 Dziedzina Czas i częstotliwość Czas i częstotliwość Czas i częstotliwość Czas i częstotliwość Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Częstotliwość i przedział czasu Częstościomierzeczasomierze, częstościomierze i czasomierze cyfrowe i analogowe, w tym również stanowiące integralną część innych urządzeń o dokładności (w tym: stabilności podstawy czasu) gorszej lub równej 1E06 Częstotliwość i przedział czasu Częstościomierzeczasomierze, częstościomierze i czasomierze cyfrowe i analogowe, w tym również stanowiące integralną część innych urządzeń o dokładności (w tym: stabilności podstawy czasu) gorszej lub równej 1E06 Częstotliwość i przedział czasu Częstościomierzeczasomierze, częstościomierze i czasomierze cyfrowe i analogowe, w tym również stanowiące integralną część innych urządzeń o dokładności (w tym: stabilności podstawy czasu) gorszej lub równej 1E06 Częstotliwość i przedział czasu Częstościomierzeczasomierze, częstościomierze i czasomierze cyfrowe i analogowe, w tym również stanowiące integralną część innych urządzeń o dokładności (w tym: stabilności podstawy czasu) gorszej lub równej 1E06 Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Opłata stała związana ze zleceniem, przygotowaniem przyrządu i stanowiska pomiarowego oraz 1dniowym badaniem podstawy czasu pobierana jednorazowo W W W częstotliwość okres przedział czasu (w tym: szerokość impulsu) (0,1 Hz ÷ 20 GHz) pomiar wartości wzorcowej (80 ps ÷ 10 s) pomiar wartości wzorcowej od (1 pHz + 2E-12*f) od (2E-12+1 pHz *T)*T (6,25 ns ÷ 10 000 s) pomiar wartości wzorcowej lub porównanie wskazań od 0,2 ns Strona 137 TAK TAK TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) P, G możliwość wykonania pomiarów poza GUM tylko w przypadku, gdy pomiary można wykonywać jedynie w miejscu instalacji P, G możliwość wykonania pomiarów poza GUM tylko w przypadku, gdy pomiary można wykonywać jedynie w miejscu instalacji P, G możliwość wykonania pomiarów poza GUM tylko w przypadku, gdy pomiary można wykonywać jedynie w miejscu instalacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi M44 Podana cena jest określona dla średniej liczby roboczogodzin koniecznych do przeprowadzenia wzorcowania typowego przyrządu. 468,00 W przypadkach wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie dla każdego przyrządu liczba rbg x stawka za 1 rbg M44 Podana cena jest określona dla typowych zakresów wzorcowania. W przypadkach 260,00 wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie - liczba rbg x stawka za 1 rbg M44 Podana cena jest określona dla typowych zakresów wzorcowania. W przypadkach 195,00 wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie - liczba rbg x stawka za 1 rbg M44 Podana cena jest określona dla typowych zakresów wzorcowania. W przypadkach 260,00 wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie - liczba rbg x stawka za 1 rbg ID Obiektu M4-239 M4-240 M4-241 Dziedzina Czas i częstotliwość Czas i częstotliwość Czas i częstotliwość Subdziedzina Częstotliwość Częstotliwość Częstotliwość Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Chronokomparatory cyfrowe (zasilanie sieciowe) Chronokomparatory cyfrowe (zasilanie bateryjne) Chronokomparatory analogowe W W W Wzorcowanie wielkość mierzona częstotliwość częstotliwość częstotliwość Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda (-120 ÷ +120) s/d pomiar wartości wzorcowej (-120 ÷ +120) s/d pomiar wartości wzorcowej (-120 ÷ +120) s/d pomiar wartości wzorcowej 0,006 s/d 0,006 s/d 0,006 s/d Strona 138 CMC TAK TAK TAK Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G G G Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi M44 Podana cena jest określona dla średniej liczby roboczogodzin koniecznych do przeprowadzenia wzorcowania typowego przyrządu i typowych zakresów. 611,00 W przypadkach wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie dla każdego przyrządu liczba rbh x stawka za 1 rbh. M44 Podana cena jest określona dla średniej liczby roboczogodzin koniecznych do przeprowadzenia wzorcowania typowego przyrządu i typowych zakresów. 546,00 W przypadkach wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie dla każdego przyrządu liczba rbh x stawka za 1 rbh. M44 Podana cena jest określona dla średniej liczby roboczogodzin koniecznych do przeprowadzenia wzorcowania typowego przyrządu i typowych zakresów. 741,00 W przypadkach wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie dla każdego przyrządu liczba rbh x stawka za 1 rbh. ID Obiektu M4-242 M4-243 M4-244 Dziedzina Czas i częstotliwość Czas i częstotliwość Czas i częstotliwość Subdziedzina Częstotliwość Przedział czasu Przedział czasu Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Chronokomparatory cyfrowo-analogowe Fazomierze (przyrządy mierzące różnicę faz sygnałów napięciowych Generatory sygnałów napięciowych o ustalonej różnicy faz W W W Wzorcowanie wielkość mierzona częstotliwość okres i przedział czasu (faza) okres i przedział czasu (faza) Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda (-120 ÷ +120) s/d pomiar wartości wzorcowej (0 ÷ 360) deg, 20 Hz ÷ 10 kHz porównanie wskazań (0 ÷ 360) deg, 20 Hz ÷ 10 kHz pomiar bezpośredni 0,006 s/d 0,015 deg 0,015 deg Strona 139 CMC TAK TAK TAK Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania G Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi G G Cena Lab. całkowita za wzorcowanie spójność pomiarowa poprzez pomiar okresu i przedziału czasu M44 Podana cena jest określona dla średniej liczby roboczogodzin koniecznych do przeprowadzenia wzorcowania typowego przyrządu i typowych zakresów. 1001,00 W przypadkach wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie dla każdego przyrządu liczba rbh x stawka za 1 rbh. M44 Podana cena jest określona dla średniej liczby roboczogodzin koniecznych do przeprowadzenia wzorcowania typowego przyrządu i typowych zakresów. 936,00 W przypadkach wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie dla każdego przyrządu liczba rbh x stawka za 1 rbh. M44 Podana cena jest określona dla średniej liczby roboczogodzin koniecznych do przeprowadzenia wzorcowania typowego przyrządu i typowych zakresów. 897,00 W przypadkach wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie dla każdego przyrządu liczba rbh x stawka za 1 rbh. ID Obiektu M4-245 Dziedzina Czas i częstotliwość Subdziedzina Liczba impulsów (zdarzeń) Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Liczniki grup impulsów E Wzorcowanie wielkość mierzona liczba impulsów (zdarzeń) M4-246 Czas i częstotliwość Liczba impulsów (zdarzeń) Źródła grup impulsów E liczba impulsów (zdarzeń) M4-247 Czas i częstotliwość Różnica skal czasu i częstotliwość Skale czasu W różnica skal czasu względem UTC(PL) M4-248 Czas i częstotliwość Różnica skal czasu i częstotliwość Skale czasu W różnica skal czasu względem UTC M4-249 Czas i częstotliwość Różnica skal czasu i częstotliwość Skale czasu W częstotliwość M4-250 Czas i częstotliwość Różnica skal czasu i częstotliwość Skale czasu W różnica skal czasu względem UTC(PL) Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda 1 ÷ 499 990, max f = 80 MHz porównanie wskazań --- 1 ÷ 1 000 000, max f = 225 MHz porównanie wskazań ±1s porównanie bezpośrednie ±1s porównanie bezpośrednie porównanie bezpośrednie CMC NIE Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) P, G Uwagi dotyczące miejsca realizacji możliwość wykonania pomiarów poza GUM tylko w przypadku, gdy pomiary można wykonywać jedynie w miejscu instalacji możliwość wykonania pomiarów poza GUM tylko w przypadku, gdy pomiary można wykonywać jedynie w miejscu instalacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi M44 Podana cena jest określona dla średniej liczby roboczogodzin koniecznych do przeprowadzenia sprawdzenia typowego przyrządu i typowych zakresów. W przypadkach 442,00 sprawdzeń nietypowych cenę określa się indywidualnie dla każdego przyrządu liczba rbh x stawka za 1 rbh. Wystawiane jest świadectwo ekspertyzy. M44 Podana cena jest określona dla średniej liczby roboczogodzin koniecznych do przeprowadzenia sprawdzenia typowego przyrządu i typowych zakresów. W przypadkach 442,00 sprawdzeń nietypowych cenę określa się indywidualnie dla każdego przyrządu liczba rbh x stawka za 1 rbh. Wystawiane jest świadectwo ekspertyzy. łączna maksymalna liczba impulsów w grupie może być większa; liczba rbh przeznaczona na sprawdzenie zależy od jego zakresu i rodzaju przyrządu łączna maksymalna liczba impulsów w grupie może być większa NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) P, G 2 ns TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M44 1300,00 12 ns NIE BIPM G M44 1300,00 2E-13 Hz/Hz TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M44 1300,00 P Użytkownik dostarcza surowe dane pomiarowe z pomiarów realizowanej przez M44 siebie skali czasu za pomocą skalibrowanego systemu do porównań metodą GPS CV. 1105,00 --- ±1s porównanie metodą GPS 10 ns CV Strona 140 TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) Wzorcowanie zdalne Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za ID Obiektu M4-251 M4-252 M5-1 M5-2 M5-3 M5-4 M5-5 M5-6 Dziedzina Czas i częstotliwość Czas i częstotliwość Liczność materii Liczność materii Liczność materii Liczność materii Liczność materii Liczność materii Subdziedzina Opis Różnica skal czasu i częstotliwość Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Skale czasu Różnica skal czasu i częstotliwość Skale czasu Roztwory nieorganiczne Pierwiastki (kationy) Wzorce do atomowej spektrometrii absorpcyjnej (ASA) Gazy środowiskowe Mieszanina gazowa do kontroli analizatorów spalin samochodowych (wzor.) Gazy środowiskowe Mieszanina gazowa do kontroli analizatorów spalin samochodowych - do 5l (wyk. i wzor.) Gazy środowiskowe Mieszanina gazowa do kontroli analizatorów spalin samochodowych - 10l (wyk. i wzor.) Gazy środowiskowe Mieszanina gazowa do kontroli analizatorów spalin samochodowych - 40l (wyk. i wzor.) Gazy środowiskowe Mieszanina gazowa do kontroli analizatorów spalin samochodowych - 5l (św.mat.odn.) Gazy Gazy Gazy Gazy Gazy W W M W WM WM WM M Wzorcowanie wielkość mierzona różnica skal czasu względem UTC częstotliwość Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda ±1s porównanie metodą GPS 14 ns CV porównanie metodą GPS 2E-13 Hz/Hz CV w zależności od rodzaju pierwiastka: 0,0010; 0,0012; 0,0013; 0,0020 g/dm3 CMC TAK Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) BIPM P Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi wzorcowanie zdalne Użytkownik dostarcza surowe dane pomiarowe z pomiarów realizowanej przez M44 siebie skali czasu za pomocą skalibrowanego systemu do porównań metodą GPS CV. 1105,00 wzorcowanie zdalne Użytkownik dostarcza surowe dane pomiarowe z pomiarów realizowanej przez M44 siebie skali czasu za pomocą skalibrowanego systemu do porównań metodą GPS CV. 1105,00 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) P NIE GUM G M55 50,00 910,00 zawartość składnika 1 g/dm3 ułamek objętościowy składnika CO: 0,005 mol/mol ÷ 0,035 mol/mol CO2: 0,06 molmol ÷ 0,14 1% mol/mol C3H8: 0,0002 mol/mol ÷ 0,002 mol/mol TAK GUM G M51 ułamek objętościowy składnika CO: 0,005 mol/mol ÷ 0,035 mol/mol CO2: 0,06 molmol ÷ 0,14 1% mol/mol C3H8: 0,0002 mol/mol ÷ 0,002 mol/mol TAK GUM G M51 Do ceny całkowitej 2670,00 doliczono koszt gazów (zł): 200 ułamek objętościowy składnika CO: 0,005 mol/mol ÷ 0,035 mol/mol CO2: 0,06 molmol ÷ 0,14 1% mol/mol C3H8: 0,0002 mol/mol ÷ 0,002 mol/mol TAK GUM G M51 Do ceny całkowitej 2870,00 doliczono koszt gazów (zł): 400 ułamek objętościowy składnika CO: 0,005 mol/mol ÷ 0,035 mol/mol CO2: 0,06 molmol ÷ 0,14 1% mol/mol C3H8: 0,0002 mol/mol ÷ 0,002 mol/mol TAK GUM G M51 Do ceny całkowitej 3140,00 doliczono koszt gazów (zł): 800 ułamek objętościowy składnika CO: 0,005 mol/mol ÷ 0,035 mol/mol CO2: 0,06 molmol ÷ 0,14 1% mol/mol C3H8: 0,0002 mol/mol ÷ 0,002 mol/mol TAK GUM G M51 Do ceny całkowitej 2280,00 doliczono koszt gazów (zł): 200 Strona 141 ID Obiektu M5-7 Dziedzina Liczność materii Subdziedzina Gazy Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Gazy środowiskowe Mieszanina gazowa do kontroli analizatorów spalin samochodowych - 10l (św.mat.odn.) Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda M ułamek objętościowy składnika CO: 0,005 mol/mol ÷ 0,035 mol/mol CO2: 0,06 molmol ÷ 0,14 1% mol/mol C3H8: 0,0002 mol/mol ÷ 0,002 mol/mol W ułamek objętościowy składnika zawartość składnika ≥0,05 mol/mol > 1% M5-8 Liczność materii Gazy Gazy środowiskowe Mieszanina gazowa (CO,CO2,O2)≥0,05 (wzor.) M5-9 Liczność materii Gazy Gazy środowiskowe Mieszanina gazowa (CO,CO2,O2,NO)≥0,0 005 (wzor.) W ułamek objętościowy składnika zawartość składnika ≥0,0005 mol/mol > 1% M5-10 Liczność materii Gazy Gazy środowiskowe Mieszanina gazowa (CO,NO,SO2)<0,0005 (wzor.) W ułamek objętościowy składnika zawartość składnika <0,0005 mol/mol > 1% M5-11 Liczność materii Gazy Inne Mieszanina gazowa (CH4,C2H6,H2)≥0,05; (wzor.) W ułamek objętościowy składnika zawartość składnika ≥0,05 mol/mol > 1% CMC TAK CO; CO2 (0,06 ÷ 0,14) TAK; O2 - NIE CO, NO TAK; CO2, O2 NIE CO >0,00001, NO >0,00005 TAK; SO2 - NIE NIE Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi Do ceny całkowitej 2480,00 doliczono koszt gazów (zł): 400 GUM G M51 GUM G M51 780,00 CO, CO2, O2 GUM; NO-VSL G M51 910,00 CO - GUM; NO,SO2 - VSL G M51 1105,00 GUM G M51 1170,00 G M51 1300,00 G M51 1495,00 C3H8 <0,0,002 mol/mol TAK; GUM CH4, C2H6, C2H4, H2 NIE (0,0002 ÷ 0,0005) GUM mol/mol TAK Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za M5-12 Liczność materii Gazy Inne Mieszanina gazowa (CH4,C2H6,C2H4,C3 H8,H2)≥0,0005 (wzor.) W ułamek objętościowy składnika zawartość składnika ≥0,0005 mol/mol > 1% M5-13 Liczność materii Gazy Inne Mieszanina gazowa (C3H8)<0,0005 (wzor.) W ułamek objętościowy składnika zawartość składnika <0,0005 mol/mol > 1% M5-14 Liczność materii Gazy Paliwa gazowe Mieszanina gazowa zawierający gaz ziemny do C4 (wzor.) W ułamek objętościowy składnika gaz ziemny do C4 > 1% TAK GUM G M51 1560,00 M5-15 Liczność materii Gazy Paliwa gazowe Mieszanina gazowa zawierający gaz ziemny do C6 (wzor.) W ułamek objętościowy składnika gaz ziemny do C6 > 1% NIE GUM G M51 1950,00 > 1% CO, CO2 (0,06 ÷ 0,14) TAK; CH4, GUM C2H6, C3H8, O2 NIE M51 Do ceny całkowitej doliczono koszt gazów (zł): 150 Wykonanie mieszanin wieloskładniko1970,00 wych i o niższych zawrtościach składników wymagają indywidualnej kalkulacji ceny > 1% CO, CO2 (0,06 ÷ 0,14) TAK; CH4, GUM C2H6, C3H8, O2 NIE M51 Do ceny całkowitej doliczono koszt gazów (zł): 300 Wykonanie mieszanin wieloskładniko2120,00 wych i o niższych zawrtościach składników wymagają indywidualnej kalkulacji ceny M5-16 M5-17 Liczność materii Liczność materii Gazy Gazy Gazy środowiskowe Gazy środowiskowe Mieszanina gazowa (CO,CO2,CH4,C2H6, C3H8,O2)≥0,05; H2≥0,5; 5l (wyk. i wzor.) Mieszanina gazowa (CO,CO2,CH4, C2H6,C3H8,O2)≥0,05 ;H2≥0,5; 10l (wyk.i wzor.) WM WM ułamek objętościowy składnika ułamek objętościowy składnika zawartość składnika ≥0,05 mol/mol (≥0,5 mol/mol dla H2) zawartość składnika ≥0,05 mol/mol (≥0,5 mol/mol dla H2) Strona 142 G G ID Obiektu M5-18 Dziedzina Liczność materii Subdziedzina Gazy Opis Gazy środowiskowe M5-19 Liczność materii Gazy Gazy środowiskowe M5-20 Liczność materii pH/pX Wzorce pH M5-21 Liczność materii pH/pX Wzorce pH M5-22 Liczność materii pH/pX Wzorce pH M5-23 Liczność materii pH/pX Wzorce pH M5-24 Liczność materii pH/pX Wzorce pH M5-25 Liczność materii pH/pX Wzorce pH M5-26 Liczność materii pH/pX Wzorce pH M5-27 Liczność materii pH/pX Wzorce pH M5-28 Liczność materii pH/pX Wzorce pH M5-29 Liczność materii pH/pX Wzorce pH M5-30 Liczność materii pH/pX Wzorce pH M5-31 Liczność materii pH/pX Wzorce pH M5-32 Liczność materii pH/pX Wzorce pH M5-33 Liczność materii pH/pX Wzorce pH M5-34 Liczność materii pH/pX Wzorce pH Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Mieszanina gazowa (CO,CO2,CH4,C2H6, C3H8,O2)≥0,05; H2≥0,5; 5l (św.mat.odn.) Mieszanina gazowa (CO,CO2,CH4,C2H6, C3H8,O2)≥0,05; H2≥0,5; 10l (św.mat.odn.) Wzorce pH (wytworzenie + wzorcowanie) Wzorce pH (wytworzenie + wzorcowanie) Wzorce pH (wytworzenie + wzorcowanie) Wzorce pH (wytworzenie + wzorcowanie) Wzorce pH (wytworzenie + wzorcowanie) Wzorce pH (wytworzenie + wzorcowanie) Wzorce pH (wytworzenie + wzorcowanie) Wzorce pH (wytworzenie + wzorcowanie) Wzorce pH (wytworzenie + wzorcowanie) Wzorce pH (wytworzenie + wzorcowanie) Wzorce pH (wytworzenie + wzorcowanie) Wzorce pH (wytworzenie + wzorcowanie) Wzorce pH (wytworzenie + wzorcowanie) Wzorce pH (wytworzenie + wzorcowanie) Wzorce pH (wytworzenie + wzorcowanie) M Wzorcowanie wielkość mierzona ułamek objętościowy składnika Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda zawartość składnika ≥0,05 mol/mol (≥0,5 mol/mol dla H2) > 1% CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) CO, CO2 (0,06 ÷ 0,14) TAK; CH4, GUM C2H6, C3H8, O2 NIE ułamek objętościowy składnika zawartość składnika ≥0,05 mol/mol (≥0,5 mol/mol dla H2) >1% CO,CO2 (0,06-0,14) TAK; GUM CH4,C2H6, C3H8, O2 NIE MW pH 1,68 0,01 TAK MW pH 4,01 0,01 TAK MW pH 6,86 0,01 TAK MW pH 7,00 0,01 TAK MW pH 7,41 0,01 TAK MW pH 9,18 0,02 TAK MW pH 10,01 0,02 TAK MW pH 12,4 0,01 TAK MW pH 1,68 0,01 TAK MW pH 4,01 0,01 TAK MW pH 6,86 0,01 TAK MW pH 7,00 0,01 TAK MW pH 7,41 0,01 TAK MW pH 9,18 0,02 TAK MW pH 10,01 0,02 TAK M Strona 143 GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi M51 Do ceny całkowitej doliczono koszt gazów (zł): 150 Wykonanie mieszanin wieloskładniko1385,00 wych i o niższych zawrtościach składników wymagają indywidualnej kalkulacji ceny G M51 Do ceny całkowitej doliczono koszt gazów (zł): 300 Wykonanie mieszanin wieloskładniko1535,00 wych i o niższych zawrtościach składników wymagają indywidualnej kalkulacji ceny G M53 60,00 100 mL G M53 60,00 100 mL G M53 60,00 100 mL G M53 60,00 100 mL G M53 60,00 100 mL G M53 60,00 100 mL G M53 60,00 100 mL G M53 60,00 100 mL G M53 130,00 250mL G M53 130,00 250mL G M53 130,00 250mL G M53 130,00 250mL G M53 130,00 250mL G M53 130,00 250mL G M53 130,00 250mL G ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi M5-35 Liczność materii pH/pX Wzorce pH Wzorce pH (wytworzenie + wzorcowanie) M5-36 Liczność materii pH/pX Wzorce pH M5-37 Liczność materii pH/pX Wzorce pH M5-38 Liczność materii Przewodność Wzorce elektryczna konduktometryczne właściwa elektrolitów M5-39 Liczność materii Przewodność Wzorce elektryczna konduktometryczne właściwa elektrolitów M5-40 Liczność materii Przewodność Wzorce elektryczna konduktometryczne właściwa elektrolitów M5-41 Liczność materii Przewodność Wzorce elektryczna konduktometryczne właściwa elektrolitów M5-42 Liczność materii Przewodność Wzorce elektryczna konduktometryczne właściwa elektrolitów M5-43 Liczność materii Przewodność Wzorce elektryczna konduktometryczne właściwa elektrolitów M5-44 Liczność materii Przewodność Wzorce elektryczna konduktometryczne właściwa elektrolitów M5-45 Liczność materii Przewodność Wzorce elektryczna konduktometryczne właściwa elektrolitów M5-46 Liczność materii Przewodność Wzorce elektryczna konduktometryczne właściwa elektrolitów M5-47 Liczność materii Przewodność Wzorce elektryczna konduktometryczne właściwa elektrolitów M5-48 Liczność materii Przewodność Wzorce elektryczna konduktometryczne właściwa elektrolitów M5-49 Liczność materii Przewodność Wzorce elektryczna konduktometryczne właściwa elektrolitów M5-50 Liczność materii Przewodność Wzorce elektryczna konduktometryczne właściwa elektrolitów Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) MW pH 12,4 0,01 TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) Wzorce pH (wzorcowanie - ogniwo dwu-wodorowe) W pH od 1 do 11 od 0,002 do 0,015 TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) Wzorce pH (wzorcowanie - ogniwo z elektrodą szklaną) W pH od 1 do 13 od 0,005 do 0,10 TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) Wzorce konduktometryczne (wytworzenie + wzorcowanie) Wzorce konduktometryczne (wytworzenie + wzorcowanie) Wzorce konduktometryczne (wytworzenie + wzorcowanie) Wzorce konduktometryczne (wytworzenie + wzorcowanie) Wzorce konduktometryczne (wytworzenie + wzorcowanie) Wzorce konduktometryczne (wytworzenie + wzorcowanie) Wzorce konduktometryczne (wytworzenie + wzorcowanie) Wzorce konduktometryczne (wytworzenie + wzorcowanie) Wzorce konduktometryczne (wytworzenie + wzorcowanie) Wzorce konduktometryczne (wytworzenie + wzorcowanie) Wzorce konduktometryczne (wytworzenie + wzorcowanie) Wzorce konduktometryczne (wytworzenie + wzorcowanie) Wzorce konduktometryczne (wzorcowanie) G G G Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi M53 130,00 250mL M53 910,00 M53 260,00 MW przewodność elektryczna 0,0148 S/m właściwa elektrolitów do 0,3% TAK DFM G M53 60,00 100 mL MW przewodność elektryczna 0,0293 S/m właściwa elektrolitów do 0,2% TAK DFM G M53 60,00 100 mL MW przewodność elektryczna 0,0720 S/m właściwa elektrolitów do 0,2% TAK DFM G M53 60,00 100 mL MW przewodność elektryczna 0,1410 S/m właściwa elektrolitów do 0,2% TAK DFM G M53 60,00 100 mL MW przewodność elektryczna 1,285 S/m właściwa elektrolitów do 0,1% TAK DFM G M53 60,00 100 mL MW przewodność elektryczna 11,13 S/m właściwa elektrolitów do 0,1% TAK DFM G M53 60,00 100 mL MW przewodność elektryczna 0,0148 S/m właściwa elektrolitów do 0,3% TAK DFM G M53 130,00 250 mL MW przewodność elektryczna 0,0293 S/m właściwa elektrolitów do 0,2% TAK DFM G M53 130,00 250 mL MW przewodność elektryczna 0,0720 S/m właściwa elektrolitów do 0,2% TAK DFM G M53 130,00 250 mL MW przewodność elektryczna 0,1410 S/m właściwa elektrolitów do 0,2% TAK DFM G M53 130,00 250 mL MW przewodność elektryczna 1,285 S/m właściwa elektrolitów do 0,1% TAK DFM G M53 130,00 250 mL MW przewodność elektryczna 11,13 S/m właściwa elektrolitów do 0,1% TAK DFM G M53 130,00 250 mL przewodność elektryczna od 0,015 S/m do właściwa elektrolitów 11,5 S/m od 0,1 do 0,3% TAK DFM M53 220,00 W Strona 144 G ID Obiektu M5-51 M5-52 M5-53 M5-54 M5-55 M5-56 Dziedzina Liczność materii Liczność materii Liczność materii Liczność materii Liczność materii Liczność materii Subdziedzina Przyrządy do pomiaru wielkości chemicznych i fizykochemicznych Przyrządy do pomiaru wielkości chemicznych i fizykochemicznych Przyrządy do pomiaru wielkości chemicznych i fizykochemicznych Przyrządy do pomiaru wielkości chemicznych i fizykochemicznych Przyrządy do pomiaru wielkości chemicznych i fizykochemicznych Przyrządy do pomiaru wielkości chemicznych i fizykochemicznych Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Przyrządy do analizy Analizatory gazów - 1 gazów (oprócz tor gazowy w 5 pkt spektrofotometrów) i pomiarowych systemy pomiarowe Przyrządy do analizy Analizatory gazów - 2 gazów (oprócz tory gazowe w 5 pkt spektrofotometrów) i pomiarowych systemy pomiarowe Przyrządy do analizy Analizatory gazów - 3 gazów (oprócz tory gazowe w 5 pkt spektrofotometrów) i pomiarowych systemy pomiarowe Przyrządy do analizy Analizatory gazów - 4 gazów (oprócz tory gazowe w 5 pkt spektrofotometrów) i pomiarowych systemy pomiarowe Przyrządy do analizy Analizatory gazów - 1 gazów (oprócz tor gazowy w 4 pkt spektrofotometrów) i pomiarowych systemy pomiarowe Przyrządy do analizy Analizatory gazów - 2 gazów (oprócz tory gazowe spektrofotometrów) i w 4 pkt pomiarowych systemy pomiarowe W W W W W W Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi zawartość składnika CO-(0,000005 ÷ 0,05); CO2-(0,0001 ÷ 1); NO-(0,0000001 ÷ 0,001); NO2-(0,0000001 ÷ 0,001); > 1% SO2-(0,0000001 ÷ 0,0001); CH4-(0,0005 ÷ 1); O2-(0,005 ÷ 0,42) NIE GUM G M51 Wzorcowanie w pięciu 975,00 punktach pomiarowych zawartość składnika CO-(0,000005 ÷ 0,05); CO2-(0,0001 ÷ 1); NO-(0,0000001 ÷ 0,001); NO2-(0,0000001 ÷ 0,001); > 1% SO2-(0,0000001 ÷ 0,0001); CH4-(0,0005 ÷ 1); O2-(0,005 ÷ 0,42) NIE GUM G M51 Wzorcowanie w pięciu 1820,00 punktach pomiarowych zawartość składnika CO-(0,000005 ÷ 0,05); CO2-(0,0001 ÷ 1); NO-(0,0000001 ÷ 0,001); NO2-(0,0000001 ÷ 0,001); > 1% SO2-(0,0000001 ÷ 0,0001); CH4-(0,0005 ÷ 1); O2-(0,005 ÷ 0,42) NIE GUM G M51 Wzorcowanie w pięciu 2665,00 punktach pomiarowych zawartość składnika CO-(0,000005 ÷ 0,05); CO2-(0,0001 ÷ 1); NO-(0,0000001 ÷ 0,001); NO2-(0,0000001 ÷ 0,001); > 1% SO2-(0,0000001 ÷ 0,0001); CH4-(0,0005 ÷ 1); O2-(0,005 ÷ 0,42) NIE GUM G M51 Wzorcowanie w pięciu 3510,00 punktach pomiarowych zawartość składnika CO-(0,000005 ÷ 0,05); CO2-(0,0001 ÷ 1); NO-(0,0000001 ÷ 0,001); NO2-(0,0000001 ÷ 0,001); SO2-(0,0000001 ÷ 0,0001); CH4-(0,0005 ÷ 1); O2-(0,005 ÷ 0,42) > 1% NIE GUM G M51 Wzorcowanie w 845,00 czterech punktach pomiarowych zawartość składnika CO-(0,000005 ÷ 0,05); CO2-(0,0001 ÷ 1); NO-(0,0000001 ÷ 0,001); NO2-(0,0000001 ÷ 0,001); > 1% SO2-(0,0000001 ÷ 0,0001); CH4-(0,0005 ÷ 1); O2-(0,005 ÷ 0,42) NIE GUM G M51 Wzorcowanie w 1560,00 czterech punktach pomiarowych Strona 145 ID Obiektu M5-57 M5-58 M5-59 M5-60 M5-61 M5-62 Dziedzina Liczność materii Liczność materii Liczność materii Liczność materii Liczność materii Liczność materii Subdziedzina Przyrządy do pomiaru wielkości chemicznych i fizykochemicznych Przyrządy do pomiaru wielkości chemicznych i fizykochemicznych Przyrządy do pomiaru wielkości chemicznych i fizykochemicznych Przyrządy do pomiaru wielkości chemicznych i fizykochemicznych Przyrządy do pomiaru wielkości chemicznych i fizykochemicznych Przyrządy do pomiaru wielkości chemicznych i fizykochemicznych Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Przyrządy do analizy Analizatory gazów - 3 gazów (oprócz tory gazowe spektrofotometrów) i w 4 pkt pomiarowych systemy pomiarowe Przyrządy do analizy Analizatory gazów - 4 gazów (oprócz tory gazowe spektrofotometrów) i w 4 pkt pomiarowych systemy pomiarowe Przyrządy do analizy Analizatory gazów - 1 gazów (oprócz tor gazowy w 3 pkt spektrofotometrów) i pomiarowych systemy pomiarowe Przyrządy do analizy Analizatory gazów - 2 gazów (oprócz tory gazowe spektrofotometrów) i w 3 pkt pomiarowych systemy pomiarowe Przyrządy do analizy Analizatory gazów - 3 gazów (oprócz tory gazowe spektrofotometrów) i w 3 pkt pomiarowych systemy pomiarowe Przyrządy do analizy Analizatory gazów - 4 gazów (oprócz tory gazowe spektrofotometrów) i w 3 pkt pomiarowych systemy pomiarowe W W W W W W Wzorcowanie wielkość mierzona Zakres pomiarowy/metoda Niepewność rozszerzona2) CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi zawartość składnika CO-(0,000005 ÷ 0,05); CO2-(0,0001 ÷ 1); NO-(0,0000001 ÷ 0,001); NO2-(0,0000001 ÷ 0,001); > 1% SO2-(0,0000001 ÷ 0,0001); CH4-(0,0005 ÷ 1); O2-(0,005 ÷ 0,42) NIE GUM G M51 Wzorcowanie w 2288,00 czterech punktach pomiarowych zawartość składnika CO-(0,000005 ÷ 0,05); CO2-(0,0001 ÷ 1); NO-(0,0000001 ÷ 0,001); NO2-(0,0000001 ÷ 0,001); > 1% SO2-(0,0000001 ÷ 0,0001); CH4-(0,0005 ÷ 1); O2-(0,005 ÷ 0,42) NIE GUM G M51 Wzorcowanie w 3003,00 czterech punktach pomiarowych zawartość składnika CO-(0,000005 ÷ 0,05); CO2-(0,0001 ÷ 1); NO-(0,0000001 ÷ 0,001); NO2-(0,0000001 ÷ 0,001); >1% SO2-(0,0000001 ÷ 0,0001); CH4-(0,0005 ÷ 1); O2-(0,005 ÷ 0,42) NIE GUM G M51 Wzorcowanie w 715,00 trzech punktach pomiarowych zawartość składnika CO-(0,000005 ÷ 0,05); CO2-(0,0001 ÷ 1); NO-(0,0000001 ÷ 0,001); NO2-(0,0000001 ÷ 0,001); > 1% SO2-(0,0000001 ÷ 0,0001); CH4-(0,0005 ÷ 1); O2-(0,005 ÷ 0,42) NIE GUM G M51 Wzorcowanie w 1313,00 trzech punktach pomiarowych zawartość składnika CO-(0,000005 ÷ 0,05); CO2-(0,0001 ÷ 1); NO-(0,0000001 ÷ 0,001); NO2-(0,0000001 ÷ 0,001); > 1% SO2-(0,0000001 ÷ 0,0001); CH4-(0,0005 ÷ 1); O2-(0,005 ÷ 0,42) NIE GUM G M51 Wzorcowanie w 1924,00 trzech punktach pomiarowych zawartość składnika CO-(0,000005 ÷ 0,05); CO2-(0,0001 ÷ 1); NO-(0,0000001 ÷ 0,001); NO2-(0,0000001 ÷ 0,001); > 1% SO2-(0,0000001 ÷ 0,0001); CH4-(0,0005 ÷ 1); O2-(0,005 ÷ 0,42) NIE GUM G M51 Wzorcowanie w 2522,00 trzech punktach pomiarowych Strona 146 ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Przyrządy do analizy gazów (oprócz Tlenomierze spektrofotometrów) i systemy pomiarowe W Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi zawartość tlenu 0,005 mol/mol ÷ 0,42 mol/mol > 1% NIE GUM G M51 Wzorcowanie w pięciu punktach 780,00 pomiarowych kompletu: przyrząd i sonda pomiarowa M5-63 Liczność materii Przyrządy do pomiaru wielkości chemicznych i fizykochemicznych M5-64 Liczność materii Przyrządy do pomiaru wielkości chemicznych i fizykochemicznych Przyrządy do analizy gazów (oprócz Analizator wydechu spektrofotometrów) i systemy pomiarowe W stężenie masowe (0,0 ÷ 3,0) mg/l symulator wydechu (0,01 ÷ 0,05) mg/l NIE GUM G M55 345,00 M5-65 Liczność materii Przyrządy do pomiaru wielkości chemicznych i fizykochemicznych Przyrządy do pomiaru Symulator (zakres pH) pH W pH od -4,000 do 23,000 0,0002 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M53 507,00 M5-66 Liczność materii Przyrządy do pomiaru wielkości chemicznych i fizykochemicznych Przyrządy do pomiaru Symulator (zakres pH i pH napięcia) W pH od -4,0 do 23,0; pH; napięcie elektryczne od -2300 mV do 2300 mV 0,0002; 0,01 mV NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M53 657,00 M5-67 Liczność materii Przyrządy do pomiaru wielkości chemicznych i fizykochemicznych Przyrządy do pomiaru Pehametr - 1 zakres pH pH W pH 0,005 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M53 209,00 M5-68 Liczność materii Przyrządy do pomiaru wielkości chemicznych i fizykochemicznych Pehametr - I kanał Przyrządy do pomiaru (zakres pomiaru pH i pH napięcia) W pH od -2,0 do 20,0; pH; napięcie elektryczne od -2300 mV do 2300 mV 0,0005; 0,05 mV NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M53 313,00 M5-69 Liczność materii Przyrządy do pomiaru wielkości chemicznych i fizykochemicznych Pehametr - II kanały Przyrządy do pomiaru (zakres pomiaru pH i pH napięcia) W pH od -2,0 do 20,0; pH; napięcie elektryczne od -2300 mV do 2300 mV 0,0005; 0,05 mV NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M53 423,00 M5-70 Liczność materii Przyrządy do pomiaru wielkości chemicznych i fizykochemicznych Przyrządy do pomiaru Pehametr zespolony z pH elektrodą W pH od 1do 13 0,005 NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M53 423,00 M5-71 Liczność materii Przyrządy do pomiaru wielkości chemicznych i fizykochemicznych Przyrządy do pomiaru Elektroda pH pehametryczna W napięcie elektryczne od 40 mV do 80 mV 0,3 mV NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M53 260,00 M5-72 Liczność materii Przyrządy do pomiaru wielkości chemicznych i fizykochemicznych Przyrządy do pomiaru przewodności Konduktometr elektrycznej właściwej 1 zakres elektrolitów W przewodność elektryczna od 0,00001 S/m właściwa elektrolitów do 20S/m 0,005% NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M53 242,00 M5-73 Liczność materii Przyrządy do pomiaru wielkości chemicznych i fizykochemicznych Przyrządy do pomiaru przewodności Konduktometr elektrycznej właściwej 2-4 zakresy elektrolitów W przewodność elektryczna od 0,00001 S/m właściwa elektrolitów do 20S/m 0,005% NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M53 359,00 od 1do 13 Strona 147 ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi M5-74 Liczność materii Przyrządy do pomiaru wielkości chemicznych i fizykochemicznych Przyrządy do pomiaru przewodności Konduktometr elektrycznej właściwej 6 zakresów elektrolitów W przewodność elektryczna od 0,00001 S/m właściwa elektrolitów do 20 S/m 0,005% NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M53 417,00 M5-75 Liczność materii Przyrządy do pomiaru wielkości chemicznych i fizykochemicznych Przyrządy do pomiaru przewodności Konduktometr (model elektrycznej właściwej nieznany) elektrolitów W przewodność elektryczna od 0,00001 S/m właściwa elektrolitów do 20 S/m 0,005% NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M53 515,00 M5-76 Liczność materii Przyrządy do pomiaru wielkości chemicznych i fizykochemicznych Przyrządy do pomiaru Konduktometr wraz z przewodności elektrycznej właściwej czujnikiem elektrolitów W przewodność elektryczna od 0,015 S/m właściwa elektrolitów do 11,5 S/m 0,1% NIE DFM G M53 416,00 M5-77 Liczność materii Przyrządy do pomiaru wielkości chemicznych i fizykochemicznych Przyrządy do pomiaru przewodności Czujnik elektrycznej właściwej konduktometryczny elektrolitów W stała czujnika od 5 m-1 do 10000 m-1 0,02 m-1 NIE DFM G M53 312,00 Widmowe właściwości materiałów Długość fali Wzorce do podczerwieni (wzorcowanie) W liczba falowa - IR (400 ÷ 4000) cm-1 (0,2 ÷ 0,6) cm-1 NIE GUM G M55 1690,00 1 szt. Widmowe właściwości materiałów Długość fali Wzorce do podczerwieni (wykonanie i wzorcowanie) WM liczba falowa - IR (400 ÷ 4000) cm -1 (0,2 ÷ 0,6) cm-1 NIE GUM G M55 1950,00 1 kpl = 2 szt. wilgotność ciał stałych 1 punkt dla próbek o niższej wilgotności, nie wymagającej podsuszenia / przez porównanie 0,1% (wilgotności) z suszarkowo-wagową metodą odniesienia oznacznia wilgotności zboża i nasion oleistych NIE GUM G M54 325,00 wilgotność ciał stałych 2 punkty dla próbek o niższej wilgotności nie wymagającej podsuszenia / przez porównanie 0,1% (wilgotności) z suszarkowo-wagową metodą odniesienia oznacznia wilgotności zboża i nasion oleistych NIE GUM G M54 553,00 wilgotność ciał stałych 1 punkt dla próbek wilgotnych wymagających podsuszenia / przez porównanie z suszarkowo-wagową metodą odniesienia oznacznia wilgotności zboża i nasion oleistych NIE GUM G M54 390,00 M5-78 M5-79 M5-80 M5-81 M5-82 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) Masa i wielkości pochodne Masa i wielkości pochodne Masa i wielkości pochodne Masa Masa Masa Wilgotność ciał stałych Wilgotność ciał stałych Wilgotność ciał stałych Wilgotnościomierze do ziarna zbóż i nasion oleistych Wilgotnościomierze do ziarna zbóż i nasion oleistych Wilgotnościomierze do ziarna zbóż i nasion oleistych W W W 0,1% (wilgotności) Strona 148 ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) wilgotność ciał stałych 2 punkty dla próbek wilgotnych wymagających podsuszenia / przez porównanie z suszarkowo-wagową metodą odniesienia oznacznia wilgotności zboża i nasion oleistych W gęstość ciała stałego (0,0001 ÷ 0,001) (0,8 ÷ 22) g/cm3 ważenie hydrostatyczne g/cm3 TAK GUM Waga hydrostatyczna Gęstość ciała stałego do pomiaru gęstości ciał stałych W gęstość ciała stałego (0,0001 ÷ 0,001) (0,8 ÷ 22,0) g/cm3 ważenie hydrostatyczne g/cm3 NIE Gęstość Gęstość cieczy Areometr szklany W gęstość cieczy (0,00002 ÷ 0,001) (0,5 ÷ 2,5) g/cm3 3 ważenie hydrostatyczne g/cm Masa i wielkości pochodne Gęstość Gęstość cieczy Termoareometr szklany W gęstość cieczy M5-88 Masa i wielkości pochodne Gęstość Gęstość cieczy Gęstościomierz oscylacyjny, w jednej temperaturze, w GUM W M5-89 Masa i wielkości pochodne Gęstość Gęstość cieczy Gęstościomierz oscylacyjny, w jednej temperaturze, w miejscu ustawienia W W gęstość cieczy M5-83 Masa i wielkości pochodne Wilgotnościomierze do ziarna zbóż i nasion oleistych Masa Wilgotność ciał stałych M5-84 Masa i wielkości pochodne Gęstość Ciało stałe, w jednej Gęstość ciała stałego temperaturze M5-85 Masa i wielkości pochodne Gęstość M5-86 Masa i wielkości pochodne M5-87 W M55 GUM G M55 1075,00 TAK GUM G M55 154,00 (0,00002 ÷ 0,001) (0,5 ÷ 2,5) g/cm3 ważenie hydrostatyczne g/cm3 TAK GUM G M55 262,00 gęstość cieczy (0,6 ÷ 2,0) g/cm3 gęstościomierz oscylacyjny (0,00002 ÷ 0,001) g/cm3 NIE GUM G M55 631,00 gęstość cieczy (0,6 ÷ 2,0) g/cm3 gęstościomierz oscylacyjny (0,00002 ÷ 0,001) g/cm3 NIE GUM P M55 813,00 NIE GUM P M55 *Cena za wzorcowanie w 1300,00 dodatkowych punktach wg stawki godzinowej. (1 ÷ 1000) cm3 grawimetryczna (0,001 ÷ 0,1) cm3 NIE GUM G M55 1042,00 gęstość cieczy (0,6 ÷ 1,7) g/cm3 gęstościomierz oscylacyjny 0,00005 g/cm3 NIE GUM G M55 130,00 gęstość cieczy (0,6 ÷ 1,7) g/cm3 gęstościomierz oscylacyjny 0,00005 g/cm3 TAK GUM G M55 100,00 gęstość cieczy (0,6 ÷ 2,0) g/cm3 (0,00002 ÷ 0,001) gęstościomierz oscylacyjny albo ważenie g/cm3 hydrostatyczne TAK GUM G M55 150,00 Gęstość cieczy M5-91 Masa i wielkości pochodne Gęstość Gęstość cieczy Piknometr W pojemność Gęstość cieczy Certyfikowany materiał odniesienia – ciekły wzorzec gęstości, w zakresie temperatury (15÷50) °C M Gęstość cieczy Certyfikowany materiał odniesienia – ciekły wzorzec gęstości, w zakresie temperatury (15÷25) °C M Gęstość cieczy Ciecz, w jednej temperaturze Masa i wielkości pochodne M5-94 Masa i wielkości pochodne Gęstość Gęstość W W kosztach wzorcowania uwzględniono koszt CRM (0,0001 ÷ 0,001) 3 g/cm Gęstość M5-93 4) realizację usługi G M5-90 Gęstość G Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za Wykonanie pomiarów o niepewności mniejszej niż 0,0001 202,00 g/cm3 wymaga indywidualnej kalkulacji ceny Masa i wielkości pochodne Masa i wielkości pochodne GUM Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 650,00 Gęstościomierz przepływowy w miejscu ustawienia, w jednym punkcie M5-92 NIE Uwagi dot. wzorcowania M54 (0,6 ÷ 2,0) g/cm3 gęstościomierz oscylacyjny lub piknometr ciśnieniowy 0,1% (wilgotności) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Strona 149 ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona Masa i wielkości pochodne Gęstość Gęstość cieczy Waga hydrostatyczna do pomiaru gęstości cieczy W gęstość cieczy (0,6 ÷ 2,0) g/cm gęstościomierz oscylacyjny M5-96 Masa i wielkości pochodne Gęstość Gęstość cieczy Przyrząd do pomiaru gęstości z zewnętrzną sondą pomiarową, w jednej temperaturze W gęstość cieczy (0,6 ÷ 2,0) g/cm3 gęstościomierz oscylacyjny M5-97 Masa i wielkości pochodne Gęstość Napięcie powierzchniowe cieczy Certyfikowany materiał odniesienia – ciekły wzorzec napięcia powierzchniowego, w jednej temperaturze M5-98 Masa i wielkości pochodne Lepkość Lepkość cieczy M5-99 Masa i wielkości pochodne Lepkość M5-100 Masa i wielkości pochodne M5-101 Masa i wielkości pochodne M5-102 Masa i wielkości pochodne M5-103 Masa i wielkości pochodne M5-104 Masa i wielkości pochodne Lepkość Lepkość Lepkość Lepkość CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi 3 M5-95 Lepkość Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda (0,0001 ÷ 0,001) g/cm3 NIE GUM G, P M55 678,00 (0,0005 ÷ 0,001) 3 g/cm NIE GUM G M55 631,00 M (18 ÷ 65) mN/m napięcie powierzchniowe tensjometryczna lub (0,1 ÷ 0,2) mN/m cieczy wzniesienia kapilarnego NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M55 90,00 Certyfikowany materiał odniesienia – ciekły wzorzec lepkości – ciecz newtonowska, w jednej temperaturze M lepkość kinematyczna (1 ÷ 1800) mm2/s w temperaturze 20 °C wiskozymetr kapilarny szklany (0,1 ÷ 0,3)% TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M55 110,00 Lepkość cieczy Certyfikowany materiał odniesienia – ciekły wzorzec lepkości – ciecz newtonowska, w jednej temperaturze M lepkość kinematyczna (1900 ÷ 65000) mm2/s w temperaturze 20 °C wiskozymetr kapilarny szklany (0,3 ÷ 0,5)% TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M55 160,00 Lepkość cieczy Certyfikowany materiał odniesienia – ciekły wzorzec lepkości – ciecz newtonowska, w jednej temperaturze lepkość kinematyczna (70000 ÷ 150000) mm2/s w temperaturze 20 °C wiskozymetr kapilarny szklany (0,5 ÷ 0,7)% TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M55 260,00 Lepkość cieczy Certyfikowany materiał odniesienia – ciekły wzorzec lepkości – ciecz newtonowska, w jednej temperaturze lepkość kinematyczna (1 ÷ 140) mm2/s w temperaturze (25 ÷ 80) °C wiskozymetr kapilarny szklany (0,2 ÷ 0,3)% TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M55 310,00 100 ml Lepkość cieczy Certyfikowany materiał odniesienia – ciekły wzorzec lepkości – ciecz newtonowska, w jednej temperaturze lepkość kinematyczna 2 (1 ÷ 140) mm /s w temperaturze (25 ÷ 80) °C wiskozymetr kapilarny szklany (0,2 ÷ 0,3)% TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M55 510,00 200 ml Lepkość cieczy Certyfikowany materiał odniesienia – ciekły wzorzec lepkości – ciecz newtonowska, w jednej temperaturze lepkość kinematyczna (1 ÷ 140) mm2/s w temperaturze (25 ÷ 80) °C wiskozymetr kapilarny szklany (0,2 ÷ 0,3)% TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M55 610,00 300 ml Lepkość cieczy Certyfikowany materiał odniesienia – ciekły wzorzec lepkości – ciecz newtonowska, w jednej temperaturze lepkość kinematyczna (1 ÷ 140) mm2/s w temperaturze (25 ÷ 80) °C wiskozymetr kapilarny szklany (0,2 ÷ 0,3)% TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M55 710,00 400 ml M M M M M Strona 150 ID Obiektu Dziedzina M5-105 Masa i wielkości pochodne M5-106 Masa i wielkości pochodne M5-107 Masa i wielkości pochodne M5-108 Masa i wielkości pochodne M5-109 M5-110 M5-111 M5-112 M5-113 Masa i wielkości pochodne Masa i wielkości pochodne Masa i wielkości pochodne Masa i wielkości pochodne Masa i wielkości pochodne Subdziedzina Lepkość Lepkość Lepkość Lepkość Lepkość Lepkość Lepkość Lepkość Lepkość Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Lepkość cieczy Certyfikowany materiał odniesienia – ciekły wzorzec lepkości – ciecz newtonowska, w jednej temperaturze Lepkość cieczy Certyfikowany materiał odniesienia – ciekły wzorzec lepkości – ciecz newtonowska, w jednej temperaturze Lepkość cieczy Certyfikowany materiał odniesienia – ciekły wzorzec lepkości – ciecz newtonowska, w jednej temperaturze Lepkość cieczy Certyfikowany materiał odniesienia – ciekły wzorzec lepkości – ciecz newtonowska, w jednej temperaturze Lepkość cieczy Certyfikowany materiał odniesienia – ciekły wzorzec lepkości – ciecz newtonowska, w jednej temperaturze Lepkość cieczy Certyfikowany materiał odniesienia – ciekły wzorzec lepkości – ciecz newtonowska, w jednej temperaturze Lepkość cieczy Certyfikowany materiał odniesienia – ciekły wzorzec lepkości – ciecz newtonowska, w jednej temperaturze Lepkość cieczy Certyfikowany materiał odniesienia – ciekły wzorzec lepkości – ciecz newtonowska, w jednej temperaturze Lepkość cieczy Certyfikowany materiał odniesienia – ciekły wzorzec lepkości – ciecz newtonowska, w jednej temperaturze M Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda lepkość kinematyczna (1 ÷ 140) mm2/s w temperaturze (25 ÷ 80) °C wiskozymetr kapilarny szklany CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi (0,2 ÷ 0,3)% TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M55 810,00 500 ml lepkość kinematyczna (1 ÷ 140) mm /s w temperaturze (25 ÷ 80) °C wiskozymetr kapilarny szklany (0,2 ÷ 0,3)% TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M55 910,00 600 ml lepkość kinematyczna (150 ÷ 2000) mm2/s w temperaturze (25 ÷ 80) °C wiskozymetr kapilarny szklany (0,3 ÷ 0,5)% TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M55 310,00 100 ml lepkość kinematyczna (150 ÷ 2000) mm2/s w temperaturze (25 ÷ 80) °C wiskozymetr kapilarny szklany (0,3 ÷ 0,5)% TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M55 510,00 200 ml lepkość kinematyczna (150 ÷ 2000) mm2/s w temperaturze (25 ÷ 80) °C wiskozymetr kapilarny szklany (0,3 ÷ 0,5)% TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M55 610,00 300 ml lepkość kinematyczna (2100 ÷ 90000) mm /s w temperaturze (0,5 ÷ 0,7)% (25 ÷ 80) °C wiskozymetr kapilarny szklany TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M55 310,00 100 ml lepkość kinematyczna (150 ÷ 2000) mm2/s w temperaturze (25 ÷ 80) °C wiskozymetr kapilarny szklany (0,3 ÷ 0,5)% TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M55 710,00 400 ml lepkość kinematyczna (150 ÷ 2000) mm /s w temperaturze (25 ÷ 80) °C wiskozymetr kapilarny szklany (0,3 ÷ 0,5)% TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M55 810,00 500 ml lepkość kinematyczna (150 ÷ 2000) mm2/s w temperaturze (25 ÷ 80) °C wiskozymetr kapilarny szklany (0,3 ÷ 0,5)% TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M55 910,00 600 ml 2 M M M M 2 M M 2 M M Strona 151 ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Lepkość cieczy Certyfikowany materiał odniesienia – ciekły wzorzec lepkości – ciecz newtonowska, w jednej temperaturze Lepkość Lepkość cieczy Certyfikowany materiał odniesienia – ciekły wzorzec lepkości – ciecz newtonowska, w jednej temperaturze Lepkość Wiskozymetr kapilarny Wiskozymetr Ubbelohdego Lepkość cieczy Certyfikowany materiał odniesienia – ciekły wzorzec lepkości – ciecz newtonowska, w jednej temperaturze Lepkość cieczy Certyfikowany materiał odniesienia – ciekły wzorzec lepkości – ciecz newtonowska, w jednej temperaturze Lepkość Lepkość cieczy Certyfikowany materiał odniesienia – ciekły wzorzec lepkości – ciecz newtonowska, w jednej temperaturze Masa i wielkości pochodne Lepkość Wiskozymetr kapilarny M5-121 Masa i wielkości pochodne Lepkość M5-122 Masa i wielkości pochodne M5-123 Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda lepkość kinematyczna (2100 ÷ 90000) mm2/s w temperaturze (25 ÷ 80) °C wiskozymetr kapilarny szklany M W CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi (0,5 ÷ 0,7)% TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M55 510,00 200 ml lepkość kinematyczna (2100 ÷ 90000) mm /s w temperaturze (25 ÷ 80) °C wiskozymetr kapilarny szklany (0,5 ÷ 0,7)% TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M55 610,00 300 ml lepkość kinematyczna 2 2 (0,003 ÷ 100) mm /s w temperaturze 20°C (0,1 ÷ 0,4)% TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M55 715,00 lepkość kinematyczna (2100 ÷ 90000) mm2/s w temperaturze (25 ÷ 80) °C wiskozymetr kapilarny szklany (0,5 ÷ 0,7)% TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M55 710,00 400 ml lepkość kinematyczna (2100 ÷ 90000) mm2/s w temperaturze (25 ÷ 80) °C wiskozymetr kapilarny szklany (0,5 ÷ 0,7)% TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M55 810,00 500 ml M lepkość kinematyczna (2100 ÷ 90000) mm2/s w temperaturze (25 ÷ 80) °C wiskozymetr kapilarny szklany (0,5 ÷ 0,7)% TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M55 910,00 600 ml Wiskozymetr CannonFenske W lepkość kinematyczna (0,003 ÷ 100) mm2/s2 w temperaturze 20°C (0,1 ÷ 0,4)% TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M55 962,00 Wiskozymetr kapilarny Wiskozymetr CannonFenske dla cieczy nieprzezroczystych W lepkość kinematyczna (0,003 ÷ 100) mm2/s2 w temperaturze 20°C (0,1 ÷ 0,4)% TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M55 962,00 Lepkość Wiskozymetr kapilarny Wiskozymetr Pinkiewicza W lepkość kinematyczna (0,003 ÷ 100) mm2/s2 w temperaturze 20°C (0,1 ÷ 0,4)% TAK G M55 715,00 Masa i wielkości pochodne Lepkość Wiskozymetr kapilarny Wiskozymetr typu U-rurka W lepkość kinematyczna (0,003 ÷ 100) mm2/s2 w temperaturze 20°C (0,1 ÷ 0,4)% TAK G M55 715,00 M5-124 Masa i wielkości pochodne Lepkość Wiskozymetr kapilarny Wiskozymetr typu U-rurka z odwrotnym przepływem W lepkość kinematyczna (0,003 ÷ 100) mm /s w temperaturze 20°C (0,1 ÷ 0,4)% TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M55 962,00 M5-125 Masa i wielkości pochodne Lepkość Wiskozymetr kapilarny Kubek wypływowy W lepkość kinematyczna w temperaturze 20 °C wiskozymetr kapilarny (0,5 ÷ 5)% TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M55 819,00 jedna dysza (0,1 ÷ 0,7)% TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M55 M5-114 Masa i wielkości pochodne M5-115 Masa i wielkości pochodne M5-116 Masa i wielkości pochodne M5-117 Masa i wielkości pochodne M5-118 Masa i wielkości pochodne M5-119 Masa i wielkości pochodne M5-120 Lepkość Lepkość Lepkość M 2 M M 2 2 GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) 2 M5-126 Masa i wielkości pochodne Lepkość Pomiar lepkości Ciecz niutonowska, w cieczy niutonowskich jednej temperaturze W lepkość kinematyczna (1 ÷ 150000) mm /s w temperaturze 20 °C wiskozymetr kapilarny szklany Strona 152 1092,00 ID Obiektu M5-127 Dziedzina Masa i wielkości pochodne Subdziedzina Lepkość Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wiskozymetr kulkowy Wiskozymetr Höpplera W Wzorcowanie wielkość mierzona lepkość dynamiczna Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda (1÷ 1800) mPa•s w temperaturze 20 °C (0,2 ÷ 0,3)% CMC TAK Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi M55 Każda z kulek 1-4; następna wzorcowana kulka 4 rbg x stawka 780,00 za rbg, wyznaczenie gęstości i objętości kulki 1 rbg x stawka za rbg M5-128 Masa i wielkości pochodne Lepkość Wiskozymetr kulkowy Wiskozymetr Höpplera W lepkość dynamiczna (2000 ÷ 55000) mPa•s w (0,3 ÷ 1)% temperaturze 20 °C TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M55 Każda z kulek 5-6; następna wzorcowana kulka 4 rbg x stawka 780,00 za rbg, wyznaczenie gęstości i objętości kulki 1 rbg x stawka za rbg M5-129 Masa i wielkości pochodne Objętość Objętość statyczna Kolby szklane W pojemność (1 ÷ 100) ml wagowa (0,0001 ÷ 0,01) ml TAK GUM G M55 130,00 M5-130 Masa i wielkości pochodne Objętość Objętość statyczna Kolby szklane W pojemność (200 ÷ 5000) ml wagowa (0,02 ÷ 0,5) ml TAK GUM G M55 241,00 M5-131 Masa i wielkości pochodne Objętość Objętość statyczna Cylindry pomiarowe W pojemność (5 ÷ 100) ml wagowa (0,005 ÷ 0,01) ml TAK GUM G M55 M5-132 Masa i wielkości pochodne Objętość Objętość statyczna Cylindry pomiarowe W pojemność (250 ÷ 2000) ml wagowa (0,025 ÷ 0,2) ml TAK GUM G M55 M5-133 Masa i wielkości pochodne Objętość Objętość statyczna Pipety laboratoryjne wielomiarowe W pojemność (0,5 ÷ 25) ml wagowa (0,0001÷ 0,0025) ml TAK GUM G M55 M5-134 Masa i wielkości pochodne Objętość Objętość statyczna M5-135 Masa i wielkości pochodne Objętość Objętość statyczna M5-136 Masa i wielkości pochodne Objętość Objętość statyczna M5-137 Masa i wielkości pochodne Objętość Objętość statyczna M5-138 Masa i wielkości pochodne Objętość Objętość statyczna Pierwszy punkt wzorcowania; 124,00 następny punkt wzorcowania dodatkowo 87 zł. Pierwszy punkt wzorcowania; 241,00 następny punkt wzorcowania dodatkowo 91 zł. Pierwszy punkt wzorcowania; 74,00 następny punkt wzorcowania dodatkowo 65 zł. W pojemność (1 ÷ 500) ml wagowa (0,0001 ÷ 0,05) ml TAK GUM G M55 Pierwszy punkt wzorcowania; następny punkt wzorcowania dodatkowo 65 zł. Dla 74,00 biuret o poj. nom. od 400 ml i powyżej tej pojemności, cena za wzorcowanie obliczana jest wg stawki godzinowej. W pojemność (0,5 ÷ 200) ml wagowa (0,0001 ÷ 0,02) ml TAK GUM G M55 61,00 W pojemność (50 ÷ 5000) ml wagowa (0,02 ÷ 2,5) ml TAK GUM G M55 403,00 Kolba metalowa I rzędu W pojemność (1000 ÷ 5000) ml wagowa (0,1 ÷ 0,5) ml TAK GUM G M55 585,00 Kolba metalowa II rzędu W pojemność (1000 ÷ 5000) ml wagowa (0,1 ÷ 0,5) ml TAK GUM G M55 520,00 Biurety Pipety laboratoryjne jednomiarowe Pojemniki przeznaczone do pomiaru i sprawdzania objętości cieczy Strona 153 ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis M5-139 Masa i wielkości pochodne Objętość Objętość statyczna M5-140 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Komórki punktów stałych M5-141 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Komórki punktów stałych M5-142 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Komórki punktów stałych M5-143 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Komórki punktów stałych M5-144 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Komórki punktów stałych M5-145 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Komórki punktów stałych M5-146 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Komórki punktów stałych M5-147 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Komórki punktów stałych M5-148 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Komórki punktów stałych M5-149 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Wzorcowe platynowe czujniki termometrów rezystancyjnych (SPRT) M5-150 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 M5-151 Temperatura i wilgotność M5-152 Temperatura i wilgotność Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Pipety tłokowe jednokanałowe o zmiennej i stałej objętości Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi Wzorcowanie trzech punktów pomiarowych dla pipet tłokowych o zmiennej objętości. 74,00 Dla pipet tłokowych o stałej objętości, cena za wzorcowanie obliczana jest wg stawki godzinowej. W objętość cieczy/µl (1 ÷ 10 000) µl (0,025 ÷ 15) µl NIE GUM G M55 W temperatura punkt potrójny Ar 0,90 mK TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M52 5200,00 W temperatura punkt potrójny H2O 0,11 mK TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M52 1820,00 W temperatura punkt potrójny Hg 0,7 mK TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M52 2483,00 W temperatura punkt topnienia Ga 0,6 mK TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M52 2483,00 W temperatura punkt krzepnięcia In 1,75 mK TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M52 2483,00 W temperatura punkt krzepnięcia Sn 1,3 mK TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M52 2483,00 W temperatura punkt krzepnięcia Zn 1,5 mK TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M52 2483,00 W temperatura punkt krzepnięcia Al. 3,8 mK TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M52 3380,00 W temperatura punkt krzepnięcia Ag 4,6 mK TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M52 3380,00 Wzorcowy platynowy czujnik termometru rezystancyjnego (SPRT) - długi W temperatura w punkcie potrójnym H2O (0,01 °C) 0,22 mK TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M52 494,00 Wzorcowe platynowe czujniki termometrów rezystancyjnych (SPRT) Wzorcowy platynowy czujnik termometru rezystancyjnego (SPRT) - długi W temperatura w punkcie potrójnym Ar (-189,3442 °C) Ar (1,1 mK) TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M52 1950,00 Temperatura realizacja MST-90 Wzorcowe platynowe czujniki termometrów rezystancyjnych (SPRT) Wzorcowy platynowy czujnik termometru rezystancyjnego (SPRT) - długi W temperatura w punkcie potrójnym Hg (-38,8344 °C) Hg (0,95mK) TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M52 819,00 Temperatura realizacja MST-90 Wzorcowe platynowe czujniki termometrów rezystancyjnych (SPRT) Wzorcowy platynowy czujnik termometru rezystancyjnego (SPRT) - długi W temperatura w punkcie topnienia Ga (29,7646 °C) Ga (0,85mK) TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M52 819,00 Komórka punktu stałego (dla termometrii kontaktowej) Komórka punktu stałego (dla termometrii kontaktowej) Komórka punktu stałego (dla termometrii kontaktowej) Komórka punktu stałego (dla termometrii kontaktowej) Komórka punktu stałego (dla termometrii kontaktowej) Komórka punktu stałego (dla termometrii kontaktowej) Komórka punktu stałego (dla termometrii kontaktowej) Komórka punktu stałego (dla termometrii kontaktowej) Komórka punktu stałego (dla termometrii kontaktowej) Strona 154 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za z wygrzewaniem stabilizacyjnym ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi M5-153 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Wzorcowe platynowe czujniki termometrów rezystancyjnych (SPRT) Wzorcowy platynowy czujnik termometru rezystancyjnego (SPRT) - długi W temperatura w punkcie krzepnięcia In (156,5985 °C) In (1,8 mK) TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M52 1209,00 M5-154 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Wzorcowe platynowe czujniki termometrów rezystancyjnych (SPRT) Wzorcowy platynowy czujnik termometru rezystancyjnego (SPRT) - długi W temperatura w punkcie krzepnięcia Sn (231,928 °C) Sn (1,45 mK) TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M52 1209,00 M5-155 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Wzorcowe platynowe czujniki termometrów rezystancyjnych (SPRT) Wzorcowy platynowy czujnik termometru rezystancyjnego (SPRT) - długi W temperatura w punkcie krzepnięcia Zn (419,527 °C) Zn (1,65 mK) TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M52 1209,00 M5-156 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Wzorcowe platynowe czujniki termometrów rezystancyjnych (SPRT) Wzorcowy platynowy czujnik termometru rezystancyjnego (SPRT) - długi W temperatura w punkcie krzepnięcia Al (660,323 °C) Al. (3,95 mK) TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M52 1534,00 M5-157 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Wzorcowe platynowe czujniki termometrów rezystancyjnych (SPRT) Wzorcowy platynowy czujnik termometru rezystancyjnego (SPRT) - długi W temperatura w punkcie krzepnięcia Ag (961,78 °C) Ag (4,90 mK) TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M52 1534,00 M5-158 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Wzorcowe platynowe czujniki termometrów rezystancyjnych (SPRT) Wzorcowy platynowy czujnik termometru rezystancyjnego (SPRT) - długi W temperatura w punktach stałych: Ar, Hg, H2O Ar (1,1 mK), Hg (0,95 mK), H2O (0,22 mK) TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M52 3159,00 M5-159 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Wzorcowe platynowe czujniki termometrów rezystancyjnych (SPRT) Wzorcowy platynowy czujnik termometru rezystancyjnego (SPRT) - długi W temperatura w punktach stałych: Ar, Hg, H2O, Ga Ar (1,1 mK), Hg (0,95 mK), H2O (0,22 mK), Ga (0,85 mK) TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M52 3874,00 M5-160 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Wzorcowe platynowe czujniki termometrów rezystancyjnych (SPRT) Wzorcowy platynowy czujnik termometru rezystancyjnego (SPRT) - długi W temperatura w punktach stałych: Ar, Hg, H2O, In Ar (1,1 mK), Hg (0,95 mK), H2O (0,22 mK), In (1,8 mK) TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M52 4264,00 M5-161 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Wzorcowe platynowe czujniki termometrów rezystancyjnych (SPRT) Wzorcowy platynowy czujnik termometru rezystancyjnego (SPRT) - długi W temperatura w punktach stałych: Ar, Hg, H2O, In, Sn TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M52 5369,00 M5-162 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Wzorcowe platynowe czujniki termometrów rezystancyjnych (SPRT) Wzorcowy platynowy czujnik termometru rezystancyjnego (SPRT) - długi W temperatura w punktach stałych: Ar, Hg, H2O, Sn, Zn TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M52 5369,00 M5-163 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Wzorcowe platynowe czujniki termometrów rezystancyjnych (SPRT) Wzorcowy platynowy czujnik termometru rezystancyjnego (SPRT) - długi W temperatura w punktach stałych: Ar, Hg, H2O, Sn, Zn, Al TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M52 6799,00 M5-164 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Wzorcowe platynowe czujniki termometrów rezystancyjnych (SPRT) Wzorcowy platynowy czujnik termometru rezystancyjnego (SPRT) - długi W temperatura w punktach stałych: Hg, H2O, Ga Hg (0,95 mK), H2O (0,22 mK), Ga (0,85 mK) TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M52 1924,00 M5-165 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Wzorcowe platynowe czujniki termometrów rezystancyjnych (SPRT) Wzorcowy platynowy czujnik termometru rezystancyjnego (SPRT) - długi W temperatura w punktach stałych: Hg, H2O, Ga, In Hg (0,95 mK), H2O (0,22 mK), Ga (0,85 mK), In (1,8 mK) TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M52 3029,00 Ar (1,1 mK), Hg (0,95 mK), H2O (0,22 mK), In (1,8 mK), Sn (1,45 mK) Ar (1,1 mK), Hg (0,95 mK), H2O (0,22 mK), Sn (1,45 mK), Zn (1,65 mK) Ar (1,1 mK), Hg (0,95 mK), H2O (0,22 mK), Sn (1,45 mK), Zn (1,65 mK), Al (3,95 mK) Strona 155 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda M5-166 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Wzorcowe platynowe czujniki termometrów rezystancyjnych (SPRT) Wzorcowy platynowy czujnik termometru rezystancyjnego (SPRT) - długi W temperatura w punktach stałych: Hg, H2O, Ga, In, Sn M5-167 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Wzorcowe platynowe czujniki termometrów rezystancyjnych (SPRT) Wzorcowy platynowy czujnik termometru rezystancyjnego (SPRT) - długi W temperatura w punktach stałych: Hg, H2O, Ga, Sn, Zn M5-168 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Wzorcowe platynowe czujniki termometrów rezystancyjnych (SPRT) Wzorcowy platynowy czujnik termometru rezystancyjnego (SPRT) - długi W temperatura w punktach stałych: Hg, H2O, Ga, Sn, Zn, Al M5-169 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Wzorcowe platynowe czujniki termometrów rezystancyjnych (SPRT) Wzorcowy platynowy czujnik termometru rezystancyjnego (SPRT) - długi W temperatura M5-170 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Wzorcowe platynowe czujniki termometrów rezystancyjnych (SPRT) Wzorcowy platynowy czujnik termometru rezystancyjnego (SPRT) - długi W M5-171 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Wzorcowe platynowe czujniki termometrów rezystancyjnych (SPRT) Wzorcowy platynowy czujnik termometru rezystancyjnego (SPRT) - długi M5-172 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Wzorcowe platynowe czujniki termometrów rezystancyjnych (SPRT) M5-173 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 M5-174 Temperatura i wilgotność M5-175 Hg (0,95 mK), H2O (0,22 mK), Ga (0,85 mK), In (1,8 mK), Sn (1,45 mK) Hg (0,95 mK), H2O (0,22 mK), Ga (0,85 mK), Sn (1,45 mK), Zn (1,65 mK) Hg (0,95mK), H2O (0,22 mK), Ga (0,85 mK), Sn (1,45 mK), Zn (1,65 mK), Al (3,95 mK) CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M52 4134,00 TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M52 4134,00 TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M52 5564,00 w punktach stałych: H2O, H2O (0,22 mK), Ga (0,85 mK) Ga TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M52 1209,00 temperatura w punktach stałych: H2O, H2O (0,22 mK), In In (1,8 mK) TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M52 1599,00 W temperatura H O (0,22 mK), w punktach stałych: H2O, 2 In (1,8 mK), In, Sn Sn (1,45 mK) TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M52 2704,00 Wzorcowy platynowy czujnik termometru rezystancyjnego (SPRT) - długi W temperatura H O (0,22 mK), w punktach stalych: H2O, 2 Sn (1,45 mK), Sn, Zn Zn (1,65 mK) TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M52 2704,00 Wzorcowe platynowe czujniki termometrów rezystancyjnych (SPRT) Wzorcowy platynowy czujnik termometru rezystancyjnego (SPRT) - długi W temperatura H2O (0,22 mK), w punktach stalych: H2O, Sn (1,45 mK), Sn, Zn, Al Zn (1,65 mK), Al (3,95 mK) TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M52 4134,00 Temperatura realizacja MST-90 Wzorcowe platynowe czujniki termometrów rezystancyjnych (SPRT) Wzorcowy platynowy czujnik termometru rezystancyjnego (SPRT) - długi TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M52 5564,00 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 G M52 273,00 M5-176 Temperatura i wilgotność G M52 390,00 M5-177 G M52 507,00 G M52 624,00 G M52 741,00 G M52 273,00 G M52 208,00 H2O (0,22 mK), w punktach stalych: H2O, Sn (1,45 mK), Zn (1,65 mK), Sn, Zn, Al., Ag Al (3,95 mK), Ag (4,90 mK) 1 punkt w zakresie (-80 ÷ 550) °C, (od 0,01 do 0,2) °C metoda porównawcza 2 punkty w zakresie (-80 ÷ 550) °C, (od 0,01 do 0,2) °C metoda porównawcza 3 punkty w zakresie (-80 ÷ 550) °C, (od 0,01 do 0,2) °C metoda porównawcza 4 punkty w zakresie (-80 ÷ 550) °C, (od 0,01 do 0,2) °C metoda porównawcza 5 punktów w zakresie (-80 ÷ 550) °C, (od 0,01 do 0,2) °C metoda porównawcza W temperatura Czujniki termometrów Czujnik termometru rezystancyjnych rezystancyjnego W temperatura Temperatura realizacja MST-90 Czujniki termometrów Czujnik termometru rezystancyjnych rezystancyjnego W temperatura Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Czujniki termometrów Czujnik termometru rezystancyjnych rezystancyjnego W temperatura M5-178 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Czujniki termometrów Czujnik termometru rezystancyjnych rezystancyjnego W temperatura M5-179 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Czujniki termometrów Czujnik termometru rezystancyjnych rezystancyjnego W temperatura M5-180 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Czujniki termometrów Czujnik termometru rezystancyjnych rezystancyjnego W temperatura w punkcie potrójnym H2O 0,005 °C (0,01 °C) TAK M5-181 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Czujniki termometrów Czujnik termometru rezystancyjnych rezystancyjnego W temperatura w punkcie topnienia lodu 0,02 °C (0,0 °C) TAK Strona 156 TAK TAK TAK TAK TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda w punktach stałych: Al (660,323 °C), Ag (961,78 °C) lub Au (1064,18 °C) lub Cu (1084,62 °C), Pd (1553,5 °C) w punktach stałych: Zn (419,527 °C), Al (660,323 °C), Au (1064,18 °C) lub Cu (1084,62 °C) w punktach stałych: Zn (419,527 °C), Al (660,323 °C), Ag (961,78 °C), Au (1064,18 °C) lub Cu (1084,62 °C) CMC M5-182 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Termoelementy Termoelementy z metali szlachetnych (typ B) W temperatura M5-183 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Termoelementy Termoelementy z metali szlachetnych (typ S, R) W temperatura M5-184 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Termoelementy Termoelementy z metali szlachetnych (typ S, R) W temperatura M5-185 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Termoelementy Termoelementy z metali szlachetnych (typ B) W temperatura M5-186 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Termometry szklane cieczowe Termometr szklany cieczowy W temperatura M5-187 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Termometry szklane cieczowe Termometr szklany cieczowy W temperatura M5-188 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Termometry szklane cieczowe Termometr szklany cieczowy W temperatura M5-189 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Termometry szklane cieczowe Termometr szklany cieczowy W temperatura M5-190 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Termometry szklane cieczowe Termometr szklany cieczowy W temperatura M5-191 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Termometry szklane cieczowe Termometr szklany cieczowy W temperatura M5-192 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Termometry szklane cieczowe Termometr szklany cieczowy W temperatura M5-193 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Termometry szklane cieczowe Termometr szklany cieczowy W temperatura M5-194 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Termometry szklane cieczowe Termometr szklany cieczowy W temperatura M5-195 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Termometry szklane cieczowe Termometr szklany cieczowy W temperatura 10 punktów w zakresie (-80 ÷ 550) °C, metoda porównawcza M5-196 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Termometry szklane cieczowe Termometr szklany cieczowy W temperatura w punkcie potrójnym H2O 0,005 °C (0,01 °C) TAK M5-197 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Termometry szklane cieczowe Termometr szklany cieczowy W temperatura w punkcie topnienia lodu 0,02 °C (0,0 °C) TAK M5-198 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Termometry Termometr elektryczny elektryczne (cyfrowe) (cyfrowy) W temperatura M5-199 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Termometry Termometr elektryczny elektryczne (cyfrowe) (cyfrowy) W temperatura M5-200 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Termometry Termometr elektryczny elektryczne (cyfrowe) (cyfrowy) W temperatura Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi Al, Ag, Au, Cu (0,4 °C), Pd (1,5 °C) TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M52 2340,00 Zn, Al (0,18 °C), Au, Cu (0,2 °C) TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M52 2145,00 Zn, Al, Ag (0,18 °C), Au, Cu (0,2 °C) TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M52 2795,00 w punkcie stałym Pd (1553,5 °C) 1,5 °C TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M52 1040,00 1 punkt w zakresie (-80 ÷ 550) °C, metoda porównawcza (od 0,02 do 0,2) °C TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M52 247,00 (od 0,02 do 0,2) °C TAK G M52 364,00 (od 0,02 do 0,2) °C TAK G M52 481,00 (od 0,02 do 0,2) °C TAK G M52 598,00 (od 0,02 do 0,2) °C TAK G M52 715,00 (od 0,02 do 0,2) °C TAK G M52 832,00 (od 0,02 do 0,2) °C TAK G M52 949,00 (od 0,02 do 0,2) °C TAK G M52 1066,00 (od 0,02 do 0,2) °C TAK G M52 1183,00 (od 0,02 do 0,2) °C TAK G M52 1300,00 G M52 286,00 G M52 208,00 G M52 234,00 G M52 364,00 G M52 494,00 2 punkty w zakresie (-80 ÷ 550) °C, metoda porównawcza 3 punkty w zakresie (-80 ÷ 550) °C, metoda porównawcza 4 punkty w zakresie (-80 ÷ 550) °C, metoda porównawcza 5 punktów w zakresie (-80 ÷ 550) °C, metoda porównawcza 6 punktów w zakresie (-80 ÷ 550) °C, metoda porównawcza 7 punktów w zakresie (-80 ÷ 550) °C, metoda porównawcza 8 punktów w zakresie (-80 ÷ 550) °C, metoda porównawcza 9 punktów w zakresie (-80 ÷ 550) °C, metoda porównawcza 1 punkt w zakresie (-80 ÷ 550) °C, metoda porównawcza 2 punkty w zakresie (-80 ÷ 550) °C, metoda porównawcza 3 punkty w zakresie (-80 ÷ 550) °C, metoda porównawcza (od 0,02 do 0,2) °C TAK (od 0,02 do 0,2) °C TAK (od 0,02 do 0,2) °C TAK Strona 157 GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za metoda drutowa ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda 4 punkty w zakresie (-80 ÷ 550) °C, metoda porównawcza 5 punktów w zakresie (-80 ÷ 550) °C, metoda porównawcza 6 punktów w zakresie (-80 ÷ 550) °C, metoda porównawcza 7 punktów w zakresie (-80 ÷ 550) °C, metoda porównawcza 8 punktów w zakresie (-80 ÷ 550) °C, metoda porównawcza 9 punktów w zakresie (-80 ÷ 550) °C, metoda porównawcza CMC M5-201 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Termometr elektryczny Termometry elektryczne (cyfrowe) (cyfrowy) W temperatura M5-202 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Termometr elektryczny Termometry elektryczne (cyfrowe) (cyfrowy) W temperatura M5-203 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Termometry Termometr elektryczny elektryczne (cyfrowe) (cyfrowy) W temperatura M5-204 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Termometry Termometr elektryczny elektryczne (cyfrowe) (cyfrowy) W temperatura M5-205 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Termometr elektryczny Termometry elektryczne (cyfrowe) (cyfrowy) W temperatura M5-206 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Termometry Termometr elektryczny elektryczne (cyfrowe) (cyfrowy) W temperatura M5-207 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Termometry Termometr elektryczny elektryczne (cyfrowe) (cyfrowy) W temperatura 10 punktów w zakresie (-80 ÷ 550) °C, metoda porównawcza M5-208 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Termometr elektryczny Termometry elektryczne (cyfrowe) (cyfrowy) W temperatura w punkcie potrójnym H2O 0,005 °C (0,01 °C) TAK M5-209 Temperatura i wilgotność Temperatura realizacja MST-90 Termometry Termometr elektryczny elektryczne (cyfrowe) (cyfrowy) W temperatura w punkcie topnienia lodu 0,02 °C (0,0 °C) TAK M5-210 Temperatura i wilgotność Higrometry Higrometry punktu rosy Higrometry punktu rosy W temperatura punktu rosy M5-211 Temperatura i wilgotność Higrometry Higrometry punktu rosy Higrometry punktu rosy W temperatura punktu rosy M5-212 Temperatura i wilgotność Higrometry Higrometry punktu rosy Higrometry punktu rosy W temperatura punktu rosy M5-213 Temperatura i wilgotność Higrometry Higrometry punktu rosy Higrometry punktu rosy W temperatura punktu rosy M5-214 Temperatura i wilgotność Higrometry Higrometry punktu rosy Higrometry punktu rosy W temperatura punktu rosy M5-215 Temperatura i wilgotność Higrometry Higrometry punktu rosy Higrometry punktu rosy W temperatura punktu rosy M5-216 Temperatura i wilgotność Higrometry Higrometry punktu rosy Higrometry punktu rosy W temperatura punktu rosy M5-217 Temperatura i wilgotność Higrometry Higrometry punktu rosy Higrometry punktu rosy W temperatura punktu rosy M5-218 Temperatura i wilgotność Higrometry Higrometry punktu rosy Higrometry punktu rosy W temperatura punktu rosy 1 punkt w zakresie (-50 ÷ +50) °C na stanowisku wzorca odniesienia 2 punkty w zakresie (-50 ÷ +50) °C na stanowisku wzorca odniesienia 3 punkty w zakresie (-50 ÷ +50) °C na stanowisku wzorca odniesienia 4 punkty w zakresie (-50 ÷ +50) °C na stanowisku wzorca odniesienia 5 punktów i więcej w zakresie (-50 ÷ +50) °C na stanowisku wzorca odniesienia pierwszy punkt w zakresie <-50 °C i >+50 °C na stanowisku wzorca odniesienia 2 punkty w zakresie <-50 °C i >+50 °C na stanowisku wzorca odniesienia 3 punkty w zakresie <-50 °C i >+50 °C na stanowisku wzorca odniesienia 4 punkty w zakresie <-50 °C i > +50 °C na stanowisku wzorca odniesienia (od 0,02 do 0,2) °C TAK (od 0,02 do 0,2) °C TAK (od 0,02 do 0,2) °C TAK (od 0,02 do 0,2) °C TAK (od 0,02 do 0,2) °C TAK (od 0,02 do 0,2) °C TAK (od 0,02 do 0,2) °C TAK Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) GUM (WZORZEC PIERWOTNY) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi G M52 624,00 G M52 754,00 G M52 884,00 G M52 1014,00 G M52 1144,00 G M52 1274,00 G M52 1404,00 G M52 247,00 G M52 169,00 (0,03 ÷ 0,1) °C TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M54 520,00 (0,03 ÷ 0,1) °C TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M54 806,00 (0,03 ÷ 0,1) °C TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M54 1092,00 (0,03 ÷ 0,1) °C TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M54 1378,00 (0,03 ÷ 0,1) °C TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M54 1664,00 (0,3 ÷ 0,1) °C NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M54 650,00 (0,3 ÷ 0,1) °C NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M54 1066,00 (0,3 ÷ 0,1) °C NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M54 1482,00 (0,3 ÷ 0,1) °C NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M54 1898,00 Strona 158 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona M5-219 Temperatura i wilgotność Higrometry Higrometry punktu rosy Higrometry punktu rosy W temperatura punktu rosy M5-220 Temperatura i wilgotność Higrometry Higrometry punktu rosy Higrometry punktu rosy W temperatura punktu rosy M5-221 Temperatura i wilgotność Higrometry Higrometry punktu rosy Higrometry punktu rosy W temperatura punktu rosy M5-222 Temperatura i wilgotność Higrometry Higrometry punktu rosy Higrometry punktu rosy W temperatura punktu rosy M5-223 Temperatura i wilgotność Higrometry Higrometry punktu rosy Higrometry punktu rosy W temperatura punktu rosy M5-224 Temperatura i wilgotność Higrometry Higrometry punktu rosy Higrometry punktu rosy W temperatura punktu rosy M5-225 Temperatura i wilgotność Higrometry Higrometry punktu rosy Higrometry punktu rosy W temperatura punktu rosy M5-226 Temperatura i wilgotność Higrometry Higrometry punktu rosy Higrometry punktu rosy W temperatura punktu rosy M5-227 Temperatura i wilgotność Higrometry Higrometry punktu rosy Higrometry punktu rosy W temperatura punktu rosy M5-228 Temperatura i wilgotność Higrometry Higrometry punktu rosy Higrometry punktu rosy W temperatura punktu rosy M5-229 Temperatura i wilgotność Higrometry Psychrometry Psychrometry Assmanna W wilgotność względna M5-230 Temperatura i wilgotność Higrometry Psychrometry Psychrometry Assmanna W wilgotność względna M5-231 Temperatura i wilgotność Higrometry Psychrometry Psychrometry Assmanna W wilgotność względna Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda 5 punktów w zakresie <-50 °C i > +50 °C na stanowisku wzorca odniesienia 1 punkt w zakresie -50 °C ÷ +20 °C przez porównanie z higrometrem wzorcowym 2 punkty w zakresie -50 °C ÷ +20 °C przez porównanie z higrometrem wzorcowym 3 punkty w zakresie -50 °C ÷ +20 °C przez porównanie z higrometrem wzorcowym 4 punkty w zakresie -50 °C ÷ +20 °C przez porównanie z higrometrem wzorcowym 5 punktów w zakresie - 50 °C ÷ +20 °C przez porównanie z higrometrem wzorcowym 1 punkt w zakresie <-50 °C przez porównanie z higrometrem wzorcowym 2 punkty w zakresie <-50 °C przez porównanie z higrometrem wzorcowym 3 punkty w zakresie <-50 °C przez porównanie z higrometrem wzorcowym 4 punkty w zakresie <-50 °C przez porównanie z higrometrem wzorcowym 1 punkt (0 ÷ +50) °C przez porównanie z wzorcowym higrometrem punktu rosy i wzorcowym termometrem 2 punkty (0 ÷ +50) °C przez porównanie z wzorcowym higrometrem punktu rosy i wzorcowym termometrem 3 punkty (0 ÷ +50) °C przez porównanie z wzorcowym higrometrem punktu rosy i wzorcowym termometrem CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi (0,3 ÷ 0,1) °C NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M54 2314,00 (0,03 ÷ 0,1) °C TAK GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M54 455,00 (0,3 ÷ 0,1) °C NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M54 741,00 (0,3 ÷ 0,1) °C NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M54 1027,00 (0,3 ÷ 0,1) °C NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M54 1313,00 (0,3 ÷ 0,1) °C NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M54 1599,00 (0,3 ÷ 0,1) °C NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M54 650,00 (0,3 ÷ 0,1) °C NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M54 1066,00 (0,3 ÷ 0,1) °C NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M54 1482,00 (0,3 ÷ 0,1) °C NIE GUM (WZORZEC PIERWOTNY) G M54 1898,00 1%, 0,1 °C NIE GUM G M54 364,00 1%, 0,1 °C NIE GUM G M54 598,00 1%, 0,1 °C NIE GUM G M54 832,00 Strona 159 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za ID Obiektu Dziedzina Subdziedzina Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Wzorcowanie wielkość mierzona M5-232 Temperatura i wilgotność Higrometry Psychrometry Psychrometry Assmanna W wilgotność względna M5-233 Temperatura i wilgotność Higrometry Psychrometry Psychrometry Assmanna W wilgotność względna pakiet standardowy M5-234 Temperatura i wilgotność Higrometry Higrometry, Higrometry termohigrometry wilgotności względnej lub psychrometry elektroniczne W GUM G M54 455,00 NIE GUM G M54 455,00 (0,3 ÷ 1,0) %, 0,1 °C NIE GUM G M54 611,00 (0,3 ÷ 1,0) %, 0,1 °C NIE GUM G M54 767,00 (0,3 ÷ 1,0) %, 0,1 °C NIE GUM G M54 923,00 wilgotność względna 5 punktów wilgotności względnej w zakresie temperatur (-20 ÷ +90)°C (0,3 ÷ 1,0) %, przez porównanie 0,1 °C z wzorcowym higrometrem punktu rosy i wzorcowym termometrem NIE GUM G M54 1079,00 wilgotność względna 6 punktów wilgotności względnej w zakresie temperatur (-20 ÷ +90)°C (0,3 ÷ 1,0) %, przez porównanie 0,1 °C z wzorcowym higrometrem punktu rosy i wzorcowym termometrem NIE GUM G M54 1235,00 wilgotność względna wilgotność względna M5-236 Temperatura i wilgotność Higrometry Higrometry, Higrometry termohigrometry wilgotności względnej lub psychrometry elektroniczne W wilgotność względna M5-237 Temperatura i wilgotność Higrometry Higrometry, Higrometry termohigrometry wilgotności względnej lub psychrometry elektroniczne W wilgotność względna M5-239 Temperatura i wilgotność Higrometry Higrometry, Higrometry termohigrometry wilgotności względnej lub psychrometry elektroniczne W 4) NIE 1 pierwszy punkt w zakresie (-20 ÷ +90)°C przez porównanie (0,3 ÷ 1,0)% , z wzorcowym 0,1 °C higrometrem punktu rosy i wzorcowym termometrem 2 punkty wilgotności względnej w zakresie temperatur (-20 ÷ +90)°C przez porównanie z wzorcowym higrometrem punktu rosy i wzorcowym termometrem 3 punkty wilgotności względnej w zakresie temperatur (-20 ÷ +90)°C przez porównanie z wzorcowym higrometrem punktu rosy i wzorcowym termometrem 4 punkty wilgotności względnej w zakresie temperatur (-20 ÷ +90)°C przez porównanie z wzorcowym higrometrem punktu rosy i wzorcowym termometrem Strona 160 Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za realizację usługi 1066,00 W W Cena Lab. całkowita za wzorcowanie M54 Higrometry, Higrometry termohigrometry wilgotności względnej lub psychrometry elektroniczne Higrometry, Higrometry termohigrometry wilgotności względnej lub psychrometry elektroniczne Uwagi dot. wzorcowania G Higrometry Higrometry Uwagi dotyczące miejsca realizacji GUM Temperatura i wilgotność Temperatura i wilgotność 4 punkty (0 ÷ +50) °C przez porównanie z wzorcowym 1%, 0,1 °C higrometrem punktu rosy i wzorcowym termometrem Pakiet standardowy w temp. 23 ± 2 °C, od 2 do 3 pkt. RH, przez porównanie 1%, 0,1 °C z wzorcowym higrometrem punktu rosy i wzorcowym termometrem CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) NIE M5-235 M5-238 Niepewność rozszerzona2) Zakres pomiarowy/metoda ID Obiektu M5-240 M5-241 M5-242 M5-243 M5-244 M5-245 M5-246 Dziedzina Temperatura i wilgotność Temperatura i wilgotność Temperatura i wilgotność Temperatura i wilgotność Temperatura i wilgotność Temperatura i wilgotność Temperatura i wilgotność Subdziedzina Higrometry Higrometry Higrometry Higrometry Higrometry Higrometry Higrometry Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Higrometry, Higrometry termohigrometry wilgotności względnej lub psychrometry elektroniczne Higrometry, Higrometry termohigrometry wilgotności względnej lub psychrometry elektroniczne Higrometry, termohigrometry Higrometry wilgotności względnej lub psychrometry elektroniczne Higrometry, Higrometry termohigrometry wilgotności względnej lub psychrometry elektroniczne Higrometry, Higrometry termohigrometry wilgotności względnej lub psychrometry elektroniczne Higrometry, Higrometry termohigrometry wilgotności względnej lub psychrometry elektroniczne Higrometry, Higrometry termohigrometry wilgotności względnej lub psychrometry elektroniczne Wzorcowanie wielkość mierzona Zakres pomiarowy/metoda Niepewność rozszerzona2) CMC Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie 4) realizację usługi wilgotność względna 7 punktów wilgotności względnej w zakresie temperatur (-20 ÷ +90)°C (0,3 ÷ 1,0) %, przez porównanie 0,1 °C z wzorcowym higrometrem punktu rosy i wzorcowym termometrem NIE GUM G M54 1391,00 wilgotność względna 8 punktów wilgotności względnej w zakresie temperatur (-20 ÷ +90)°C (0,3 ÷ 1,0) %, przez porównanie 0,1 °C z wzorcowym higrometrem punktu rosy i wzorcowym termometrem NIE GUM G M54 1547,00 wilgotność względna 9 punktów wilgotności względnej w zakresie temperatur (-20 ÷ +90)°C (0,3 ÷ 1,0) %, przez porównanie 0,1 °C z wzorcowym higrometrem punktu rosy i wzorcowym termometrem NIE GUM G M54 1703,00 wilgotność względna 10 punktów wilgotności względnej w zakresie temperatur (-20 ÷ +90)°C (0,3 ÷ 1,0) %, przez porównanie 0,1 °C z wzorcowym higrometrem punktu rosy i wzorcowym termometrem NIE GUM G M54 1859,00 W wilgotność względna pakiet standardowy w temp. (23 oraz 10 lub 35) °C (0,3 ÷ 1,0) %, przez porównanie z wzorcowym 0,1 °C higrometrem punktu rosy i wzorcowym termometrem W Rozszerzony pakiet standardowy w temp. (23 wilgotność względna oraz 10 i 35) °C rozszerzony pakiet przez porównanie (0,3 ÷ 1,0) %, standardowy w temp. (23 z wzorcowym 0,1 °C oraz 10 i 35) °C higrometrem punktu rosy i wzorcowym termometrem NIE GUM W Jeden punkt wzorcowania w zakresie (-40 ÷ -20) °C (0,5 ÷ 1,1) %, przez porównanie 0,1 °C z wzorcowym higrometrem punktu rosy i wzorcowym termometrem NIE GUM W W W W wilgotność względna Strona 161 NIE GUM Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za M54 Pakiet standardowy w temp. 23 °C 5 punktów wilgotności 455,00 względnej oraz w 10 °C lub 35 °C 2 punkty wilgotności względnej G M54 Rozszerzony pakiet standardowy w temp. 23°C 5 punktów wilgotności 650,00 względnej oraz w 10 °C i 35 °C po 2 punkty wilgotności względnej G M54 585,00 G ID Obiektu M5-247 Dziedzina Temperatura i wilgotność Subdziedzina Higrometry Opis Rodzaj Przyrząd pomiarowy usługi Higrometry, Higrometry termohigrometry wilgotności względnej lub psychrometry elektroniczne W Wzorcowanie wielkość mierzona wilgotność względna Zakres pomiarowy/metoda Niepewność rozszerzona2) 2 punkty wzorcowania w zakresie (-40 ÷ -20) °C przez porównanie (0,5 ÷ 1,1) %, z wzorcowym 0,1 °C higrometrem punktu rosy i wzorcowym termometrem 1) CMC NIE Źródło spójności Miejsce pomiarowej realizacji3) GUM G Uwagi dotyczące miejsca realizacji Uwagi dot. wzorcowania Cena Lab. całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje dot. kalkulacji wynagrodzenia za 4) realizację usługi M54 845,00 Niniejszy cennik nie stanowi oferty, w rozumieniu Kodeksu Cywilnego. Warunkiem wykonania usługi jest każdorazowo potwierdzenie zamówienia klienta przez GUM lub wynegocjowanie i zawarcie z klientem umowy, określającej warunki i całkowity koszt usługi Niepewność pomiaru uzyskana podczas wzorcowania przyrządu pomiarowego klienta może być większa niż podana w kolumnie ze względu na stan tego przyrządu; zapis Q[a; b] oznacza zależność: Q[a; b] = [a2 + b2]1/2. P - usługa wykonywana poza Głównym Urzędem Miar, G - usługa wykonywana w Głównym Urzędzie Miar. Szczegółowe informacje do uzyskania w konkretnym laboratorium GUM. W przypadku usługi wykonywanej poza Głównym Urzędem Miar dolicza się koszty związane z delegacją pracownika i ubezpieczeniem przyrządu pomiarowego GUM. 4) Kalkulacja wynagrodzenia za realizację usługi uwzględnia informacje zawarte w kolumnie. 2) 3) Rodzaj usługi: W - wzorcowanie E - ekspertyza M - materiały odniesienia WE - wzorcowanie, ekspertyza WM - wzorcowanie, materiał odniesienia WEM - wzorcowanie, ekspertyza, materiały odniesienia Opłata stała: A1 - A12 Opłata stała związana ze zleceniem, przygotowaniem przyrządu i stanowiska pomiarowego pobierana jednorazowo. Strona 162