Cennik_wzorcowań_06_listopada_2014_na_stronę_ internetową_

Transkrypt

Cennik_wzorcowań_06_listopada_2014_na_stronę_ internetową_
1)
Cennik za wykonywanie czynności wzorcowania przyrządów pomiarowych, wytwarzanie certyfikowanych materiałów odniesienia oraz wykonywanie ekspertyz
ID
Obiektu
M1-1
Dziedzina
Długość
Subdziedzina
Promieniowania
Mise en Pratique
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
Promieniowania
laserów
Laser stabilizowany
mise en pratique zdudnianie optyczne
częstotliwości (laser
He-Ne stabilizowany
jodem)
W
długość fali w próżni,
częstotliwość
633 nm
474 THz
0,04 fm;
24 kHz
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M11
2210,00
W
długość fali w próżni,
częstotliwość
633 nm
474 THz
0,02 fm;
11 kHz
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M11
2470,00
W
długość fali w próżni,
częstotliwość
(525 ÷ 1070) nm
(280 ÷ 571) THz
1E-09
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M11
2210,00
W
błąd wskazanego
przemieszczenia
(0 ÷ 30) m
Q[0,08; 0,06L] µm;
Lwm
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M11
1105,00
W
kompensacja długości
fali
1,00000209 ÷
1,00027601
1,5E-07n
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M11
780,00
M1-2
Długość
Promieniowania
Mise en Pratique
Promieniowania
laserów
Laser stabilizowany
mise en pratique zdudnianie optyczne
częstotliwości
(syntezer
częstotliwości
optycznych)
M1-3
Długość
Promieniowania
Mise en Pratique
Promieniowania
laserów
Inny laser
stabilizowany zdudnianie optyczne
częstotliwości
(Laserowy, do
pomiaru długości)
interferometr
Przyrządy do pomiaru
(system) długości
z wzorcowym
interferometrem
laserowym
(Laserowy, do
pomiaru długości)
interferometr
(refraktometr) Przyrządy do pomiaru
z wzorcowym
długości
barometrem,
higrometrem
i miernikiem
temperatury
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
M1-4
Długość
Wymiary liniowe
M1-5
Długość
Wymiary liniowe
M1-6
Długość
Wymiary liniowe
Przyrząd EDM
Przyrządy do pomiaru (dalmierz laserowy)
długości
- z interferometrem
laserowym
W
błąd wskazanej
odległości
(1 ÷ 50) m
0,7 mm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M11
cena za 1 odcinek
pomiarowy; za każdy
195,00 kolejny odcinek
pomiarowy 0,5 ×
stawka za 1 rbg
M1-7
Długość
Wymiary liniowe
Maszyna pomiarowa
1-D do pomiaru
Przyrządy do pomiaru
długości
długości
- z interferometrem
laserowym
W
błąd wskazanego
[wymiaru;
przemieszczenia]
(0 ÷ 6) m
Q[0,3; 1L] µm;
Lwm
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
P
M11
do podanej ceny
2600,00 należy doliczyć koszty
delegacji
M1-8
Długość
Wymiary liniowe
Komparator do
wzorcowania płytek
Przyrządy do pomiaru
wzorcowych długości
z kontrolnymi płytkami
wzorcowymi
W
błąd wskazanego
przemieszczenia
± 15 µm
21 nm
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
P
M11
do podanej ceny
1300,00 należy doliczyć koszty
delegacji
M1-9
Długość
Wymiary liniowe
Wzorce końcowe
Komplet płytek
wzorcowych interferencyjnie (reszty
ułamkowe, lampa Cd)
W
długość środkowa
(0,5 ÷ 100) mm
Q[34; 0,44L] nm;
L w mm
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M11
Strona 1
130,00
cena za 1 szt. płytki
wzorcowej
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
M1-10
Długość
Wymiary liniowe
Wzorce końcowe
M1-11
Długość
Wymiary liniowe
Wzorce końcowe
M1-12
Długość
Wymiary liniowe
Wzorce końcowe
M1-13
Długość
Wymiary liniowe
Wzorce końcowe
M1-14
Długość
Wymiary liniowe
Wzorce końcowe
M1-15
Długość
Wymiary liniowe
Wzorce końcowe
M1-16
Długość
Wymiary liniowe
Wzorce końcowe
M1-17
Długość
Wymiary liniowe
Wzorce końcowe
M1-18
Długość
Wymiary liniowe
Wzorce końcowe
M1-19
Długość
Wymiary liniowe
Wzorce końcowe
M1-20
Długość
Wymiary liniowe
Wzorce końcowe
M1-21
Długość
Wymiary liniowe
Wzorce końcowe
M1-22
Długość
Wymiary liniowe
Wzorce końcowe
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Komplet płytek
wzorcowych interferencyjnie (reszty
ułamkowe, lasery)
Komplet płytek
wzorcowych
(parametry do
określenia klasy
dokładności)
Kompet płytek
wzorcowych z komparatorem
dwuczujnikowym
Komplet długich płytek
wzorcowych interferencyjnie,
bezdotykowo
Komplet długich płytek
wzorcowych interferencyjnie,
dotykowo w pozycji
poziomej (z płytką 10
mm)
Komplet długich płytek
wzorcowych porównawczo,
dotykowo w pozycji
poziomej
Komplet długich płytek
wzorcowych
(parametry do
określenia klasy
dokładności)
Wzorzec nastawczy
do mikrometrów interferencyjnie,
dotykowo w pozycji
poziomej (z płytką 10
mm)
Wzorzec schodkowy za pomocą maszyny
WMP
Wzorzec schodkowy za pomocą maszyny
WMP
Wzorzec schodkowy za pomocą maszyny
WMP
Wzorzec schodkowy za pomocą maszyny
WMP
Wzorzec schodkowy za pomocą maszyny
WMP
M1-23
Długość
Wymiary liniowe
Wzorce kreskowe
Wzorzec kreskowy
dokładny z interferometrem
laserowym
M1-24
Długość
Wymiary liniowe
Wzorce kreskowe
Wzorzec kreskowy
mikroskopowy z interferometrem
laserowym
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
W
długość środkowa
(0,5 ÷ 305) mm
Q[21; 0,2L] nm;
L w mm
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M11
130,00
cena za 1 szt. płytki
wzorcowej
W
zmienność długości,
odchylenie od płaskości
(0 ÷ 350) nm,
(0 ÷ 5,7) µm
19 nm;
17 nm
NIE
PTB,
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
dla płytek wzorcowych
o długości
M11
(0,5 ÷ 100) mm
130,00
cena za 1 szt. płytki
wzorcowej
W
długość środkowa
(0,5 ÷ 100) mm
Q[49; 0,6L] nm;
L w mm
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M11
26,00
cena za 1 szt. płytki
wzorcowej
W
długość środkowa
(125 ÷ 500) mm
Q[0,05; 0,47L] µm;
Lwm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M11
650,00
cena za 1 szt. długiej
płytki wzorcowej
W
długość środkowa
(125 ÷ 3000) mm
Q[112; 0,59L] nm;
L w mm
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M11
650,00
cena za 1 szt. długiej
płytki wzorcowej
W
długość środkowa
(125 ÷ 1000) mm
Q[119; 0,39L] nm;
L w mm
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M11
650,00
cena za 1 szt. długiej
płytki wzorcowej
W
zmienność długości,
odchylenie od płaskości
(0 ÷ 600) nm,
(0 ÷ 5,7) µm
19 nm;
17 nm
NIE
PTB,
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
dla płytek wzorcowych
o długości
M11
(125 ÷ 500) mm
130,00
cena za 1 szt. długiej
płytki wzorcowej
W
długość środkowa
(125 ÷ 3000) mm
Q[112; 0,59L] nm;
L w mm
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M11
455,00
W
odległość powierzchni
(0 ÷ 300) mm
Q[0,5; 0,9L] µm;
Lwm
TAK
G
M13
cena za wzorzec
650,00 chodkowy do 300
mm;
W
odległość powierzchni
(301 ÷ 400) mm
Q[0,5; 0,9L] µm;
Lwm
TAK
G
M13
877,50
W
odległość powierzchni
(401 ÷ 500) mm
Q[0,5; 0,9L] µm;
Lwm
TAK
G
M13
1105,00
W
odległość powierzchni
(501 ÷ 600) mm
Q[0,5; 0,9L] µm;
Lwm
TAK
G
M13
1332,50
W
odległość powierzchni
(601 ÷ 700) mm
Q[0,5; 0,9L] µm;
Lwm
TAK
G
M13
1560,00
W
odległość kresek
(1 ÷ 500) mm
Q[198; 0,41L] nm;
L w mm
W
odległość kresek
(0,01 ÷ 10) mm
268 nm
Strona 2
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M11
cena za 10 odcinków
pomiarowych; za
650,00 każdy kolejny odcinek
pomiarowy 0,1 ×
stawka za 1 rbg
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M11
cena za 10 odcinków
pomiarowych; za
390,00 każdy kolejny odcinek
pomiarowy 0,1 ×
stawka za 1 rbg
ID
Obiektu
M1-25
Dziedzina
Długość
Subdziedzina
Wymiary liniowe
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorce kreskowe
Przymiar wstęgowy - z
interferometrem
laserowym
W
W
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
(0,5 + 5000) mm
Q[20; 5,0L] µm;
Lwm
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
(0 ÷ 50) m
Q[20; 5,5L] µm;
Lwm
odległość kresek
odległość kresek
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
M11
cena za 1 odcinek
pomiarowy; za każdy
273,00 kolejny odcinek
pomiarowy 0,1 ×
stawka za 1 rbg
G
M11
cena za 1 odcinek
pomiarowy; za każdy
143,00 kolejny odcinek
pomiarowy 0,1 ×
stawka za 1 rbg
G
M1-26
Długość
Wymiary liniowe
Wzorce kreskowe
Przymiar sztywny z interferometrem
laserowym
M1-27
Długość
Wymiary liniowe
Wzorce kreskowe
Przymiar półsztywny z interferometrem
laserowym
W
odległość kresek
(0,5 + 5000) mm
Q[20; 5,0L] µm;
Lwm
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M11
cena za 1 odcinek
pomiarowy; za każdy
143,00 kolejny odcinek
pomiarowy 0,1 ×
stawka za 1 rbg
M1-28
Długość
Wymiary liniowe
Wzorce kreskowe
Przymiar półsztywny
do pomiaru średnicy i
obwodu z interferometrem
laserowym
W
odległość kresek
(0,5 + 5000) mm
Q[20; 5,0L] µm;
Lwm
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M11
cena za 1 odcinek
pomiarowy; za każdy
143,00 kolejny odcinek
pomiarowy 0,1 ×
stawka za 1 rbg
M1-29
Długość
Wymiary liniowe
Wzorce średnicy
W
średnica
(10 ÷ 100) mm
Q[0,4; 4,0L] µm,
Lwm
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M13
260,00
M1-30
Długość
Wymiary liniowe
Wzorce średnicy
W
średnica
(0 ÷ 100) mm
0,7 µm
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
wysokość walca do
700 mm
M13
169,00
M1-31
Długość
Wymiary liniowe
Wzorce średnicy
W
średnica
(101 ÷ 200) mm
0,7 µm
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
wysokość walca do
700 mm
M13
234,00
M1-32
Długość
Wymiary liniowe
Wzorce średnicy
W
średnica
(201 ÷ 300) mm
0,7 µm
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
wysokość walca do
700 mm
M13
299,00
M1-33
Długość
Wymiary liniowe
Wzorce średnicy
W
średnica
(301 ÷ 400) mm
0,7 µm
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
wysokość walca do
700 mm
M13
364,00
M1-34
Długość
Wymiary liniowe
Wzorce średnicy
W
średnica
(401 ÷ 500) mm
0,7 µm
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
wysokość walca do
700 mm
M13
429,00
M1-35
Długość
Wymiary liniowe
Wzorce średnicy
W
średnica
(10 ÷ 200) mm
Q[0,4; 3,2L] µm;
Lwm
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M13
273,00
M1-36
Długość
Wymiary liniowe
Wzorce średnicy
W
średnica
(0 ÷ 100) mm
0,5 µm
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M13
182,00
M1-37
Długość
Wymiary liniowe
Wzorce średnicy
W
średnica
(101 ÷ 200) mm
0,5 µm
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M13
234,00
Walec zewnętrzny
(tłoczek, trzpień,
wałeczek, drut) - za
pomocą maszyny
1-D
Walec zewnętrzny
(tłoczek, trzpień,
wałeczek, drut) - za
pomocą maszyny
WMP
Walec zewnętrzny
(tłoczek, trzpień,
wałeczek, drut) - za
pomocą maszyny
WMP
Walec zewnętrzny
(tłoczek, trzpień,
wałeczek, drut) - za
pomocą maszyny
WMP
Walec zewnętrzny
(tłoczek, trzpień,
wałeczek, drut) - za
pomocą maszyny
WMP
Walec zewnętrzny
(tłoczek, trzpień,
wałeczek, drut) - za
pomocą maszyny
WMP
Walec wewnętrzny
(pierścień) - za
pomocą maszyny
1-D
Walec wewnętrzny
(pierścień) - za
pomocą maszyny
WMP
Walec wewnętrzny
(pierścień) - za
pomocą maszyny
WMP
Strona 3
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Walec wewnętrzny
(pierścień) - za
pomocą maszyny
WMP
Walec wewnętrzny
(pierścień) - za
pomocą maszyny
WMP
Walec wewnętrzny
(pierścień) - za
pomocą maszyny
WMP
Sfera (kula) - za
pomocą maszyny
WMP
Sfera (kula) - za
pomocą maszyny
WMP
Sfera (kula) - za
pomocą maszyny
WMP
Sfera (kula) - za
pomocą maszyny
WMP
Sfera (kula) - za
pomocą maszyny
WMP
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
W
średnica
(201 ÷ 300) mm
0,5 µm
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M13
286,00
W
średnica
(301 ÷ 400) mm
0,5 µm
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M13
338,00
W
średnica
(401 ÷ 500) mm
0,5 µm
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M13
390,00
W
średnica
(0 ÷ 100) mm
0,5 µm
TAK
G
M13
182,00
W
średnica
(101 ÷ 200) mm
0,5 µm
NIE
G
M13
234,00
W
średnica
(201 ÷ 300) mm
0,5 µm
NIE
G
M13
286,00
W
średnica
(301 ÷ 400) mm
0,5 µm
NIE
G
M13
338,00
W
średnica
(401 ÷ 500) mm
0,5 µm
NIE
G
M13
390,00
Pryzma wielościenna porównawcza – za
pomocą goniometru
W
kąt między
powierzchniami
pomiarowymi
360º, co 30°
1,4"
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M12
520,00
Podziałki kątowe
Pryzma wielościenna za pomocą
autokolimatora
i precyzyjnego stołu
W
kąt między
powierzchniami
pomiarowymi
360º, co 45°
≥ 0,07"
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M12
780,00
Kąt
Podziałki kątowe
Pryzma wielościenna za pomocą
autokolimatora
i precyzyjnego stołu
W
kąt między
powierzchniami
pomiarowymi
360º, co 30°
≥ 0,07"
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M12
1040,00
Długość
Kąt
Podziałki kątowe
Pryzma wielościenna za pomocą
autokolimatora
i precyzyjnego stołu
W
kąt między
powierzchniami
pomiarowymi
360º, co 15°
≥ 0,07"
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M12
1820,00
M1-50
Długość
Kąt
Podziałki kątowe
Pryzma wielościenna za pomocą
autokolimatora
i precyzyjnego stołu
W
kąt między
powierzchniami
pomiarowymi
360º, co 10°
≥ 0,07"
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M12
2600,00
M1-51
Długość
Kąt
Podziałki kątowe
Pryzma wielościenna za pomocą
autokolimatora
i precyzyjnego stołu
W
kąt między
powierzchniami
pomiarowymi
360º, co 5°
≥ 0,07"
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M12
3640,00
M1-52
Długość
Kąt
Podziałki kątowe
Pryzma wielościenna za pomocą
autokolimatora
i precyzyjnego stołu
W
błąd piramidalności
dla pryzm o max liczbie
ścian 72
0,82"
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M12
156,00
M1-53
Długość
Kąt
Podziałki kątowe
Stół podziałowy z pryzmą wielościenną
W
kąt podziału (błąd
wskazywanego kąta
podziału)
360º, co 15°
1,1"
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M12
520,00
M1-54
Długość
Kąt
Podziałki kątowe
Głowica podziałowa z pryzmą wielościenną
W
kąt podziału (błąd
wskazywanego kąta
podziału)
360º, co 15°
1,1"
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G, P
M12
520,00
M1-38
Długość
Wymiary liniowe
Wzorce średnicy
M1-39
Długość
Wymiary liniowe
Wzorce średnicy
M1-40
Długość
Wymiary liniowe
Wzorce średnicy
M1-41
Długość
Wymiary liniowe
Wzorce średnicy
M1-42
Długość
Wymiary liniowe
Wzorce średnicy
M1-43
Długość
Wymiary liniowe
Wzorce średnicy
M1-44
Długość
Wymiary liniowe
Wzorce średnicy
M1-45
Długość
Wymiary liniowe
Wzorce średnicy
M1-46
Długość
Kąt
Podziałki kątowe
M1-47
Długość
Kąt
M1-48
Długość
M1-49
Strona 4
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
przy wzorcowaniu
poza siedzibą GUM
do ceny dolicza się
koszt delegacji.
ID
Obiektu
M1-55
M1-56
M1-57
Dziedzina
Długość
Długość
Długość
Subdziedzina
Kąt
Kąt
Kąt
M1-58
Długość
Kąt
M1-59
Długość
Kąt
M1-60
Długość
Kąt
M1-61
Długość
Kąt
M1-62
Długość
Kąt
M1-63
Długość
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Podziałki kątowe
Goniometr z pryzmą wielościenną
Podziałki kątowe
Stół obrotowy,
obrotowa kodowana
podziałka kątowa z pryzmą wielościenną
Podziałki kątowe
Stół obrotowy,
obrotowa kodowana
podziałka kątowa z pryzmą wielościenną
Podziałki kątowe
Stół obrotowy,
obrotowa kodowana
podziałka kątowa z pryzmą wielościenną
Autokolimator - za
Przyrządy do pomiaru
pomocą generatora
kąta
małych kątów
Autokolimator - za
Przyrządy do pomiaru
pomocą generatora
kąta
małych kątów
Poziomnica
Przyrządy do pomiaru elektroniczna - za
kąta
pomocą generatora
małych kątów
Poziomnica
Przyrządy do pomiaru elektroniczna - za
kąta
pomocą generatora
małych kątów
Kąt
Poziomnica
Przyrządy do pomiaru elektroniczna - za
kąta
pomocą optycznej
głowicy podziałowej
W
W
W
Wzorcowanie wielkość mierzona
kąt podziału (błąd
wskazywanego kąta
podziału)
kąt ustawienia
kąt ustawienia
W
kąt ustawienia
W
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
360º, co 15°
co 360°
360°, co 15°
1,1"
1,1"
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
M12
przy wzorcowaniu
poza siedzibą GUM
520,00
do ceny dolicza się
koszt delegacji.
G, P
Poza siedzibą
GUM
wzorcowane są
przetworniki
wbudowane
w stacjonarny
układ pomiarowy.
M12
325,00
przy wzorcowaniu
poza siedzibą GUM
do ceny dolicza się
koszt delegacji.
G, P
Poza siedzibą
GUM
wzorcowane są
przetworniki
wbudowane
w stacjonarny
układ pomiarowy.
M12
520,00
przy wzorcowaniu
poza siedzibą GUM
do ceny dolicza się
koszt delegacji.
G, P
Poza siedzibą
GUM
wzorcowane są
przetworniki
wbudowane
w stacjonarny
układ pomiarowy.
M12
715,00
przy wzorcowaniu
poza siedzibą GUM
do ceny dolicza się
koszt delegacji.
G
M12
520,00 wzorcowanie w 1 osi
G
M12
871,00
390,00
P
1,1"
TAK
błąd wskazywanego kąta (0 ÷ 40)'
0,3"
TAK
W
błąd wskazywanego kąta (0 ÷ 40)'
0,3"
TAK
W
błąd wskazywanego kąta
(0 ÷ 40)'
nachylenia
zależna od
rozdzielczości
poziomnicy (≥ 0,3")
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M12
W
błąd wskazywanego kąta
(0 ÷ 40)'
nachylenia
zależna od
rozdzielczości
poziomnicy (≥ 0,3")
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M12
G
wzorcowanie
poziomnicy
w trzech punktach
pomiarowych, dla obu
kierunków pochylenia; M12
przy jednej
rozdzielczości (sześć
punktów
pomiarowych)
za każdy dodatkowy
punkt pomiarowy
dolicza się 0,1 rbg
pomnożone przez
stawkę godzinową; za
325,00
każdą dodatkową
rozdzielczość dolicza
się 1,8 rbg
pomnożone przez
stawkę godzinową
G
wzorcowanie
poziomnicy
w sześciu punktach
pomiarowych, dla
każdej "ćwiartki"
(24 punkty
pomiarowe)
M12
za każdy dodatkowy
punkt pomiarowy
429,00 dolicza się 0,1 rbg
pomnożone przez
stawkę godzinową
W
360°, co 10°
0,5"
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
błąd wskazywanego kąta
± 45º
nachylenia
zależna od
rozdzielczości
poziomnicy
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
wzorcowanie w
jednym zakresie
pomiarowym jednej
głowicy
wzorcowanie w dwóch
zakresach
pomiarowych lub
611,00
wzorcowanie
poziomnicy
dwugłowicowej
M1-64
Długość
Kąt
Poziomnica
Przyrządy do pomiaru elektroniczna - za
kąta
pomocą optycznej
głowicy podziałowej
M1-65
Długość
Kąt
Pochyłomierz - za
Przyrządy do pomiaru
pomocą optycznej
kąta
głowicy podziałowej
W
błąd wskazywanego kąta
360º
nachylenia
zależny od
rozdzielczości
pochyłomierza
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M12
260,00
M1-66
Długość
Kąt
Pochyłomierz - za
Przyrządy do pomiaru
pomocą wzorcowej
kąta
powierzchni poziomej
W
błąd wskazania
zerowego kąta
nachylenia
0,5 × a
(a - rozdzielczość
pochyłomierza)
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M12
65,00
W
błąd wskazywanego kąta
360° (4 × 90°)
nachylenia
zależna od
rozdzielczości
poziomnicy
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
± 10 mm/m
Strona 5
wzorcowanie w 2
osiach
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
M1-67
Długość
Kąt
Optyczna poziomnica
Przyrządy do pomiaru kątowa - za pomocą
kąta
optycznej głowicy
podziałowej
W
błąd wskazywanego kąta
360º
nachylenia
10,6"
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M12
260,00
M1-68
Długość
Kąt
Optyczna poziomnica
Przyrządy do pomiaru kątowa - za pomocą
kąta
wzorcowej powierzchni
poziomej
W
błąd wskazania
zerowego kąta
nachylenia
0,2 dz. el.
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M12
26,00
M1-69
Długość
Kąt
Optyczna poziomnica
Przyrządy do pomiaru
kątowa - za pomocą
kąta
płytek wzorcowych
W
odchylenie od płaskości
± 10 µm
powierzchni pomiarowych
1,5 µm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M12
52,00
M1-70
Długość
Kąt
Poziomnica
Przyrządy do pomiaru koincydencyjna - za
kąta
pomocą optycznej
głowicy podziałowej
W
błąd wskazywanego kąta
360º
nachylenia
0,025 mm/m
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M12
182,00
M1-71
Długość
Kąt
Poziomnica
Przyrządy do pomiaru koincydencyjna - za
kąta
pomocą wzorcowej
powierzchni poziomej
W
błąd wskazania
zerowego kąta
nachylenia
0,2 dz. el.
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M12
26,00
M1-72
Długość
Kąt
Poziomnica
Przyrządy do pomiaru koincydencyjna - za
kąta
pomocą płytek
wzorcowych
W
odchylenie od płaskości
± 10 µm
powierzchni pomiarowych
1,5 µm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M12
52,00
M1-73
Długość
Kąt
Wzorce kąta
Płytka kątowa - za
pomocą goniometru
W
kąt [wewnętrzny,
zewnętrzny]
180º
2,2"
TAK
M1-74
Długość
Kąt
Wzorce kąta
Płytka kątowa - za
pomocą goniometru
W
kąt [wewnętrzny,
zewnętrzny]
180º
2,2"
TAK
M1-75
Długość
Kąt
Wzorce kąta
Płytka kątowa - za
pomocą goniometru
W
kąt [wewnętrzny,
zewnętrzny]
180º
2,2"
TAK
M1-76
Długość
Kąt
Wzorce kąta
Płytka kątowa - za
pomocą goniometru
W
kąt [wewnętrzny,
zewnętrzny]
180º
2,2"
TAK
M1-77
Długość
Kąt
Wzorce kąta
Płytka kątowa - za
pomocą goniometru
W
kąt [wewnętrzny,
zewnętrzny]
180º
2,2"
TAK
M1-78
Długość
Kąt
Wzorce kąta
Płytka kątowa - za
pomocą goniometru
W
kąt [wewnętrzny,
zewnętrzny]
180º
2,2"
TAK
M1-79
Długość
Kąt
Wzorce kąta
Płytka kątowa - za
pomocą goniometru
W
kąt [wewnętrzny,
zewnętrzny]
180º
2,2"
TAK
M1-80
Długość
Kąt
Wzorce kąta
Płytka kątowa - za
pomocą goniometru
W
kąt [wewnętrzny,
zewnętrzny]
180º
2,2"
TAK
M1-81
Długość
Kąt
Wzorce kąta
Płytka kątowa - za
pomocą goniometru
W
kąt [wewnętrzny,
zewnętrzny]
180º
2,2"
TAK
M1-82
Długość
Kąt
Wzorce kąta
Płytka kątowa - za
pomocą goniometru
W
kąt [wewnętrzny,
zewnętrzny]
180º
2,2"
TAK
W
kąt [wewnętrzny,
zewnętrzny]
360º
0,08"
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
dla płytek
o zwierciadlanych
powierzchniach
W
prostopadłość
(0 ÷ 180)º
0,5"
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M1-83
Długość
Kąt
Wzorce kąta
M1-84
Długość
Kąt
Wzorce kąta
Płytka kątowa - za
pomocą
autokolimatora i
precyzyjnego stołu
obrotowego
Kątownik 90° (stalowy,
granitowy, z
ramieniem) - za
pomocą maszyny
WMP
± 10 mm/m
± 10 mm/m
Strona 6
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
G
G
G
G
G
G
G
G
G
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
dla płytek
o zwierciadlanych
powierzchniach
dla płytek
o zwierciadlanych
powierzchniach
dla płytek
o zwierciadlanych
powierzchniach
dla płytek
o zwierciadlanych
powierzchniach
dla płytek
o zwierciadlanych
powierzchniach
dla płytek
o zwierciadlanych
powierzchniach
dla płytek
o zwierciadlanych
powierzchniach
dla płytek
o zwierciadlanych
powierzchniach
dla płytek
o zwierciadlanych
powierzchniach
dla płytek
o zwierciadlanych
powierzchniach
M12
M12
M12
Płytka jednokątowa
13,00 Johanssona lub
Kusznikowa
Płytka dwukątowa
26,00 Johanssona lub
Kusznikowa
Płytka czterokątowa
52,00 Johanssona lub
Kusznikowa
M12
1510,60
Komplet 49 sztuk,
typu Johanssona
M12
2446,60
Komplet 85 sztuk,
typu Johanssona
M12
562,00
Komplet 36 sztuk,
typu Kusznikowa
M12
1420,00
Komplet 93 sztuk,
typu Kusznikowa
M12
32,50
Płytka jednokątowa
przywieralna
M12
97,50
Płytka trzykątowa
przywieralna
M12
130,00
Płytka czterokątowa
przywieralna
M12
260,00
Cena dotyczy
wyznaczenia wartości
jednego kąta
pomiarowego
max. wymiar ramienia
M13
kątownika 100 mm
234,00
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
(0 ÷ 180)º
0,5"
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
max. wymiary
kątownika od 100 do
200 mm
M13
338,00
W
prostopadłość
(0 ÷ 180)º
0,5"
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
max. wymiary
kątownika od 200 do
300 mm
M13
442,00
W
prostopadłość
(0 ÷ 180)º
0,5"
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
max. wymiary
kątownika od 300 do
400 mm
M13
546,00
W
prostopadłość
(0 ÷ 180)º
0,5"
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
max. wymiary
kątownika od 400 do
500 mm
M13
650,00
W
prostopadłość
(0 ÷ 180)º
0,5"
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
max. wymiary
kątownika od 500 do
600 mm
M13
jedno z ramion
754,00 kątownika nie może
przekraczać 500 mm
W
prostopadłość
(0 ÷ 180)º
0,5"
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
max. wymiary
kątownika od 600 do
700 mm
M13
jedno z ramion
858,00 kątownika nie może
przekraczać 500 mm
Wzorce kąta
Kątownik 90° (stalowy,
granitowy, z
ramieniem) - za
pomocą maszyny
WMP
W
prostoliniowość
(0 ÷ 500) µm
0,5 µm
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
max. wymiary
kątownika
(700 x 500) mm
M13
234,00
w przypadku pomiaru
prostopadłości opłata
za prostoliniowość nie
jest pobierana
W
płaskość
(0 ÷ 500) µm
0,5 µm
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
max. wymiary
kątownika
(700 x 500) mm
M13
169,00
w przypadku pomiaru
prostopadłości opłata
za płaskość nie jest
pobierana
Kąt
Wzorce kąta
M1-86
Długość
Kąt
Wzorce kąta
M1-87
Długość
Kąt
Wzorce kąta
M1-88
Długość
Kąt
Wzorce kąta
M1-89
Długość
Kąt
Wzorce kąta
M1-90
Długość
Kąt
Wzorce kąta
Kąt
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
prostopadłość
Długość
Długość
Kątownik 90° (stalowy,
granitowy, z
ramieniem) - za
pomocą maszyny
WMP
Kątownik 90° (stalowy,
granitowy, z
ramieniem) - za
pomocą maszyny
WMP
Kątownik 90° (stalowy,
granitowy, z
ramieniem) - za
pomocą maszyny
WMP
Kątownik 90° (stalowy,
granitowy, z
ramieniem) - za
pomocą maszyny
WMP
Kątownik 90° (stalowy,
granitowy, z
ramieniem) - za
pomocą maszyny
WMP
Kątownik 90° (stalowy,
granitowy, z
ramieniem) - za
pomocą maszyny
WMP
Wzorcowanie wielkość mierzona
W
M1-85
M1-91
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
M1-92
Długość
Kąt
Wzorce kąta
Kątownik 90° (stalowy,
granitowy, z
ramieniem) - za
pomocą maszyny
WMP
M1-93
Długość
Kąt
Wzorce kąta
Kątownik 90° walcowy za pomocą maszyny
WMP
W
prostopadłość
(0 ÷ 180)º
0,5"
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
wysokość kątownika
(0 ÷ 100) mm
M13
364,00
M1-94
Długość
Kąt
Wzorce kąta
Kątownik 90° walcowy za pomocą maszyny
WMP
W
prostopadłość
(0 ÷ 180)º
0,5"
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
wysokość kątownika
(101 ÷ 200) mm
M13
416,00
M1-95
Długość
Kąt
Wzorce kąta
Kątownik 90° walcowy za pomocą maszyny
WMP
W
prostopadłość
(0 ÷ 180)º
0,5"
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
wysokość kątownika
(201 ÷ 300) mm
M13
468,00
M1-96
Długość
Kąt
Wzorce kąta
Kątownik 90° walcowy za pomocą maszyny
WMP
W
prostopadłość
(0 ÷ 180)º
0,5"
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
wysokość kątownika
(301 ÷ 400) mm
M13
520,00
M1-97
Długość
Kąt
Wzorce kąta
Kątownik 90° walcowy za pomocą maszyny
WMP
W
prostopadłość
(0 ÷ 180)º
0,5"
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
wysokość kątownika
(401 ÷ 500) mm
M13
572,00
M1-98
Długość
Kąt
Wzorce kąta
Kątownik 90° walcowy za pomocą maszyny
WMP
W
prostopadłość
(0 ÷ 180)º
0,5"
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
wysokość kątownika
(501 ÷ 600) mm
M13
624,00
M1-99
Długość
Kąt
Wzorce kąta
Kątownik 90° walcowy za pomocą maszyny
WMP
W
prostopadłość
(0 ÷ 180)º
0,5"
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
wysokość kątownika
(601 ÷ 700) mm
M13
676,00
Strona 7
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
M1-100
Długość
Kąt
Wzorce kąta
Kątownik 90° walcowy za pomocą maszyny
WMP
W
prostoliniowość
(0 ÷ 500) µm
0,5 µm
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
wysokość kątownika
do
700 mm
M13
299,00
w przypadku pomiaru
prostopadłości opłata
za prostoliniowość nie
jest pobierana
M1-101
Długość
Kąt
Wzorce kąta
Kątownik 90° walcowy za pomocą maszyny
WMP
W
płaskość
(0 ÷ 500) µm
0,5 µm
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
wysokość kątownika
do
700 mm
M13
234,00
w przypadku pomiaru
prostopadłości opłata
za płaskość nie jest
pobierana
M1-102
Długość
Kąt
Wzorce kąta
W
kąt stożka
(0 ÷ 180)º
2,2"
TAK
G
wysokość stożka
(0 ÷ 50) mm
M13
234,00
M1-103
Długość
Kąt
Wzorce kąta
W
kąt stożka
(0 ÷ 180)º
2,2"
TAK
G
wysokość stożka
(51 ÷ 100) mm
M13
312,00
M1-104
Długość
Kąt
Wzorce kąta
W
kąt stożka
(0 ÷ 180)º
2,2"
TAK
G
wysokość stożka
(101 ÷ 150) mm
M13
390,00
M1-105
Długość
Kąt
Wzorce kąta
W
kąt stożka
(0 ÷ 180)º
2,2"
TAK
G
wysokość stożka
(151 ÷ 200) mm
M13
468,00
M1-106
Długość
Kąt
Wzorce kąta
W
kąt stożka
(0 ÷ 180)º
2,2"
TAK
G
wysokość stożka
(201 ÷ 250) mm
M13
546,00
G
wysokość stożka
h < 250 mm
M13
cena za wzorzec
stożka o wysokości do
169,00 50 mm; za każde
kolejne 50 mm 0,6 ×
stawka za 1 rbg
dla obiektu
o średnicy do
150 mm
M13
usługa dotyczy
również
260,00 płaskorównoległych
płytek
interferencyjnych
M1-107
Długość
Kąt
Wzorzec stożka - za
pomocą maszyny
WMP
Wzorzec stożka - za
pomocą maszyny
WMP
Wzorzec stożka - za
pomocą maszyny
WMP
Wzorzec stożka - za
pomocą maszyny
WMP
Wzorzec stożka - za
pomocą maszyny
WMP
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
Wzorce kąta
Wzorzec stożka - za
pomocą maszyny
WMP
W
płaskość
(0 ÷ 5,7) µm
16 nm
NIE
PTB
G
W
średnica
Ф do 500 mm
0,5 µm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
M1-108
Długość
Kształt
Wzorce płaskości
Płaska płytka
interferencyjna - za
pomocą interferometru
laserowego
M1-109
Długość
Kształt
Wzorce płaskości
Płytka interferencyjna
płaskorównoległa - za
pomocą optimetru
projekcyjnego
W
odchylenie od
równoległości
(0 ÷ 20) µm
0,3 µm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M13
117,00
M1-110
Długość
Kształt
Wzorce płaskości
Płytka interferencyjna
płaskorównoległa - za
pomocą optimetru
projekcyjnego
W
błąd wskazywanego
wymiaru
(15 ÷ 65,37) mm
0,3 µm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M13
65,00
Płyta pomiarowa - za
pomocą
autokolimatora
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
M1-111
Długość
Kształt
Wzorce płaskości
M1-112
Długość
Kształt
Wzorce płaskości
M1-113
Długość
Kształt
Wzorce płaskości
M1-114
Długość
Kształt
Wzorce płaskości
M1-115
Długość
Kształt
Wzorce płaskości
Płyta pomiarowa - za
pomocą maszyny
WMP
Płyta pomiarowa - za
pomocą maszyny
WMP
Płyta pomiarowa - za
pomocą maszyny
WMP
Płyta pomiarowa - za
pomocą maszyny
WMP
W
płaskość
do 70 µm
Q[0,5; 0,5L] µm;
wm
W
płaskość
przekątna do 300 mm
0,5 µm
NIE
W
płaskość
przekątna od 301 mm do
0,5 µm
400 mm
NIE
W
płaskość
przekątna od 401 mm do
0,5 µm
500 mm
NIE
W
płaskość
przekątna od 501 mm do
0,5 µm
600 mm
NIE
Strona 8
L
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G, P
G
G
G
G
Poza GUM
wzorcuje się płyty
długość płyty do 2500
o wymiarach
M13
mm
większych niż
(630 x 400) mm
wymiary płyty nie
mogą przekraczać
(500 x 700) mm
wymiary płyty nie
mogą przekraczać
(500 x 700) mm
wymiary płyty nie
mogą przekraczać
(500 x 700) mm
wymiary płyty nie
mogą przekraczać
(500 x 700) mm
cena za płytę
pomiarową o
przekątnej do 500
780,00
mm; za każde kolejne
500 mm 0,8 × stawka
za 1 rbg
M13
325,00 max (0 x 500) µm
M13
377,00 max (0 x 500) µm
M13
429,00 max (0 x 500) µm
M13
481,00 max (0 x 500) µm
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
W
płaskość
przekątna od 701 mm do
0,5 µm
800 mm
NIE
W
płaskość
przekątna od 801 mm do
0,5 µm
900 mm
NIE
Walec zewnętrzny - za
pomocą przyrządu do
pomiaru okrągłości
W
okrągłość
± 200 µm
0,1 µm
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
Wzorce okrągłości
Walec wewnętrzny za pomocą przyrządu
do pomiaru okrągłości
W
okrągłość
± 200 µm
0,1 µm
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
Wzorce okrągłości
Sfera (półkula) - za
pomocą przyrządu do
pomiaru okrągłości
W
okrągłość
do 0,1 µm
0,04 µm
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
Wzorce okrągłości
Wzorzec
powiększenia (np.
wałek ze ścięciem) za pomocą
profilometru
W
okrągłość
do 300 µm
0,25 µm
TAK
PTB
Kształt
Wzorce
prostoliniowości
Liniał powierzchniowy za pomocą
autokolimatora
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
Wzorzec
prostoliniowości
walcowy
W
prostoliniowość
(0 x 500) µm
0,6 µm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
Liniał krawędziowy za pomocą
profilometru
W
prostoliniowość
do 3 µm
0,3 µm
dla L = 50 mm i
0,5 µm
dla L = 200 mm
NIE
PTB
G
W
wysokość schodka lub
głębokość nierówności
od 0,03 do 1 µm
Q[10; 2d] nm;
d w µm
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
W
wysokość schodka lub
głębokość nierówności
od 0,1 do 100 µm
Q[30; 0,5d] nm;
d w µm
TAK
0,08 µm
M1-117
Długość
Kształt
Wzorce płaskości
M1-118
Długość
Kształt
Wzorce płaskości
M1-119
Długość
Kształt
Wzorce okrągłości
M1-120
Długość
Kształt
M1-121
Długość
Kształt
Kształt
M1-124
Długość
Kształt
Wzorce
prostoliniowości
M1-125
Długość
Kształt
Wzorce
prostoliniowości
Wzorzec głębokości
(nierówności) lub
wysokości schodka
(np. ISO 5436-1
typ A) - za pomocą
mikrointerferometru
Wzorzec głębokości
(nierówności) lub
wysokości schodka
(np. ISO 5436-1
typ A) - za pomocą
profilometru
W
płaskość lub
prostoliniowość
do 40 µm
0,5 µm
M1-126
Długość
Geometria złożona
Wzorce struktury
geometrycznej
powierzchni
M1-127
Długość
Geometria złożona
Wzorce struktury
geometrycznej
powierzchni
Geometria złożona
Wzorce struktury
geometrycznej
powierzchni
Wzorzec do
sprawdzania stanu
ostrza (np. ISO 5436-1
typ B) - za pomocą
profilometru
W
stosunek wartości
parametru Ra (dla dwóch od 0,5 do 1,5 µm
powierzchni)
Geometria złożona
Wzorce struktury
geometrycznej
powierzchni
Wzorzec do
sprawdzania stanu
ostrza (np. ISO 5436-1
typ B) - za pomocą
mikrointerferometru
W
wysokość nierówności h
głębokość lub szerokość do 1 µm, szerokość
30 nm
(nierówności)
nierówności S od
5 µm do 20 µm
M1-128
M1-129
Długość
Długość
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
NIE
Wzorce płaskości
Długość
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
przekątna od 601 mm do
0,5 µm
700 mm
Kształt
M1-123
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
płaskość
Długość
Długość
Płyta pomiarowa - za
pomocą maszyny
WMP
Płyta pomiarowa - za
pomocą maszyny
WMP
Płyta pomiarowa - za
pomocą maszyny
WMP
Wzorcowanie wielkość mierzona
W
M1-116
M1-122
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Strona 9
G
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
wymiary płyty nie
mogą przekraczać
(500 x 700) mm
wymiary płyty nie
mogą przekraczać
(500 x 700) mm
wymiary płyty nie
mogą przekraczać
(500 x 700) mm
średnica do
150 mm;
wysokość do
300 µm
M13
533,00 max (0 x 500) µm
M13
585,00 max (0 x 500) µm
M13
637,00 max (0 x 500) µm
M13
221,00
M13
221,00
G
M13
650,00
G
M13
585,00
M13
cena za liniał
powierzchniowy o
długości do 200 mm;
403,00
za każde kolejne 100
mm 0,2 × stawka za 1
rbg
M13
cena za kątownik o
wysokości do 200
299,00 mm; za każde kolejne
100 mm 0,6 × stawka
za 1 rbg.
M13
416,00
G
M13
650,00
PTB
G
M13
650,00
NIE
PTB
G
M13
325,00
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M13
390,00
G
G
G, P
średnica
(5 ÷ 150) mm
Poza GUM
wzorcuje się
długość liniału L do
liniały o długości
1000 mm
większych niż
1500 mm.
długość L od 50 do
200 mm
ID
Obiektu
M1-130
Dziedzina
Długość
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
Geometria złożona
Wzorce struktury
geometrycznej
powierzchni
Wzorzec
geometryczny
(odstępów) (np. ISO
5436-1 typ C) - za
pomocą profilometru
W
parametry amplitudy
Ra, Rq od 0,05 do
30 µm; Rp, Rv, Rz, Rt
(wg PN-EN ISO 4287)
Q[15; 25Ra] nm;
Ra w µm,
Q[40; 50Rp] nm;
Rp w µm;
TAK
PTB
G
M13
650,00
Wzorzec
geometryczny
(odstępów) (np. ISO
5436-1 typ C) - za
pomocą
mikrointerferometru
W
parametry amplitudy
Ra do 0,1 µm
4 nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M13
455,00
M1-131
Długość
Geometria złożona
Wzorce struktury
geometrycznej
powierzchni
M1-132
Długość
Geometria złożona
Wzorce struktury
geometrycznej
powierzchni
Wzorzec
geometryczny
(odstępów) (np. ISO
5436-1 typ C) - za
pomocą profilometru
W
parametr długości fali
RSm do 500 µm
0,3 µm
NIE
PTB
G
M13
260,00
Wzorzec
geometryczny
(odstępów) (np. ISO
5436-1 typ C) - za
pomocą
mikrointerferometru
W
parametr długości fali
RSm do 80 µm
4 nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M13
260,00
Wzorzec
chropowatości (np.
ISO 5436-1 typ D)
W
Ra, Rq od 0,05 do
parametry chropowatości
30 µm; Rp, Rv, Rz, Rt
ISO
(wg PN-EN ISO 4287)
Q[15; 30Ra] nm;
Ra w µm,
Q[40; 80 Rp] nm;
Rp w µm
TAK
PTB
G
M13
650,00
W
okrągłość
(0 ÷ 200) µm
0,04 µm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M13
455,00
W
parametr chropowatości
Pt
(0 ÷ 400) µm
3%
NIE
PTB
G
M13
260,00
W
współrzędne środków kul max (500 x 500) mm
Q[0,8; 1,5] µm;
Lwm
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M13
1690,00
W
współrzędne środków
otworów
max (500 x 500) mm
Q[0,8; 1,5] µm;
Lwm
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M13
1690,00
W
odległości kul
do 700 mm
Q[0,54; 0,99L] µm;
Lwm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M13
455,00
M1-133
Długość
Geometria złożona
Wzorce struktury
geometrycznej
powierzchni
M1-134
Długość
Geometria złożona
Wzorce struktury
geometrycznej
powierzchni
Wzorzec
współrzędnościowy
(np. ISO 5436-1
typ E) - za pomocą
przyrządu do pomiaru
okrągłości
Wzorzec
współrzędnościowy
(np. ISO 5436-1
typ E) - za pomocą
profilometru
Płyta z
kulami/otworami - za
pomocą maszyny
WMP
Płyta z
kulami/otworami - za
pomocą maszyny
WMP
M1-135
Długość
Geometria złożona
Wzorce struktury
geometrycznej
powierzchni
M1-136
Długość
Geometria złożona
Wzorce struktury
geometrycznej
powierzchni
M1-137
Długość
Geometria złożona
Wzorce do
sprawdzania WMP
M1-138
Długość
Geometria złożona
Wzorce do
sprawdzania WMP
M1-139
Długość
Geometria złożona
Wzorce do
sprawdzania WMP
M1-140
Długość
Geometria złożona
Współrzędnościowa
Przyrządy pomiarowe
maszyna pomiarowa
2-D,
WMP - za pomocą
3-D
płytek wzorcowych
W
błąd wymiaru
do 1000 mm
Q[0,5; 1L] µm;
Lwm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
P
M13
1950,00
W
błąd wymiaru
do 1000 mm
Q[0,5; 1L] µm;
Lwm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
P
M13
1950,00
M13
390,00
M13
325,00
Pręt z kulami - za
pomocą maszyny
WMP
M1-141
Długość
Geometria złożona
Współrzędnościowa
Przyrządy pomiarowe maszyna pomiarowa
2-D,
WMP - za pomocą
3-D
wzorca płytowego z
kulami
M1-142
Długość
Geometria złożona
Przyrządy pomiarowe
2-D,
Profilometr stykowy
3-D
W
błąd wskazywanego
wymiaru (składowa
pionowa)
M1-143
Długość
Geometria złożona
Przyrządy pomiarowe
2-D,
Profilometr stykowy
3-D
W
błąd wskazywanego
wymiaru (składowa
pozioma)
w zależności od
Pt do 100 µm, Ra do 30
zastosowanego
µm (wg PN-ISO
NIE
wzorca, np. 25 nm dla
3274:1997)
Ra = 0,8 µm
w zależności od
Pt do 100 µm, Ra do 30
zastosowanego
µm (wg PN-ISO
NIE
wzorca, np. 25 nm dla
3274:1997)
Ra = 0,8 µm
Strona 10
PTB
G, P
PTB
G, P
poza GUM w przypadku
przyrządów
stacjonarnych
poza GUM w przypadku
przyrządów
stacjonarnych
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
cena za odcinek pręta
z 2 kulami; za każdą
kolejną kulę 1 ×
stawka za 1 rbg
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
w zależności od
zastosowanego
wzorca, np. 25 nm dla
Ra = 0,8 µm
w zależności od
zastosowanego
wzorca, np. 25 nm dla
Ra = 0,8 µm
w zależności od
zastosowanego
wzorca, np. 25 nm dla
Ra = 0,8 µm
w zależności od
zastosowanego
wzorca, np. 25 nm dla
Ra = 0,8 µm
CMC
M1-144
Długość
Geometria złożona
Przyrządy pomiarowe
2-D,
Profilometr stykowy
3-D
W
Pt do 100 µm, Ra do 30
błąd wskazywanego
µm (wg PN-ISO
kształtu (prostoliniowości)
3274:1997)
M1-145
Długość
Geometria złożona
Przyrządy pomiarowe
2-D,
Profilometr stykowy
3-D
W
błąd wskazywanego
kształtu (układu
współrzędnych)
Pt do 100 µm, Ra do 30
µm (wg PN-ISO
3274:1997)
M1-146
Długość
Geometria złożona
Przyrządy pomiarowe
2-D,
Profilometr stykowy
3-D
W
błąd wskazywanych
parametrów
chropowatości
Pt do 100 µm, Ra do 30
µm (wg PN-ISO
3274:1997)
M1-147
Długość
Geometria złożona
Przyrządy pomiarowe
2-D,
Profilometr stykowy
3-D
W
błąd przenoszenia
Pt do 100 µm, Ra do 30
µm (wg PN-ISO
3274:1997)
M1-148
Długość
Geometria złożona
Twardość
Wgłębnik Vickersa
W
wymiar - kąt
(135 ÷ 150)º
5'
NIE
M1-149
Długość
Geometria złożona
Twardość
Wgłębnik Vickersa
W
wymiar - średnica
trzpienia
(6,0 ÷ 6,5) mm
0,001 mm
NIE
M1-150
Długość
Geometria złożona
Twardość
Wgłębnik Vickersa
W
niewspółosiowość
(0 ÷ 0,1) mm
0,002 mm
NIE
M1-151
Długość
Geometria złożona
Twardość
Wgłębnik Vickersa
W
wysokość części
roboczej
(0 ÷ 0,40) mm
0,002 mm
NIE
M1-152
Długość
Geometria złożona
Twardość
Wgłębnik Knoopa
W
wymiar - kąty
(130 ÷ 180)°
5'
NIE
M1-153
Długość
Geometria złożona
Twardość
Wgłębnik Knoopa
W
wymiar - średnica
trzpienia
(6,0 ÷ 6,5) mm
0,001 mm
NIE
M1-154
Długość
Geometria złożona
Twardość
Twardościomierz
Shore'a
W
wymiar - średnica
wewnętrzna tulejki
(3 ± 0,5) mm
0,002 mm
NIE
M1-155
Długość
Geometria złożona
Twardość
Twardościomierz
Shore'a
W
wymiar - średnica
zewnętrzna trzpienia
(2 ÷ 4) mm
0,01 mm
NIE
M1-156
Długość
Geometria złożona
Twardość
Twardościomierz
Shore'a
W
wymiar - wysokość
trzpienia
(1,5 ÷ 2,5) mm
0,01 mm
NIE
M1-157
Długość
Geometria złożona
Twardość
Twardościomierz
Shore'a
W
wymiar - promień
trzpienia Shore D
(0,08 ÷ 0,12) mm
0,005 mm
NIE
M1-158
Długość
Geometria złożona
Twardość
Twardościomierz
Shore'a
W
wymiar - średnica ścięcia
(0,75 ÷ 0,85) mm
trzpienia Shore A
0,01 mm
NIE
M1-159
Długość
Geometria złożona
Twardość
Twardościomierz
Shore'a
W
wymiar - średnica
zewnętrzna tulejki
(15 ÷ 20) mm
0,02 mm
NIE
M1-160
Długość
Geometria złożona
Twardość
Twardościomierz
Shore'a
W
wymiar - kąt stożka
(30 ± 1)°; (35 ± 2)°
5'
NIE
M1-161
Długość
Różne wymiary
Współczynnik
załamania światła
W
współczynnik załamania
n = (1,2 ÷ 2,2)
światła
3 × E-06
NIE
M1-162
Długość
Różne wymiary
Współczynnik
załamania światła
W
współczynnik załamania
n = (1,4 ÷ 1,7)
światła
2 × E-05
NIE
Wzorzec
refraktometryczny
stały – za pomocą
goniometru
(wzorcowanie)
Wzorzec
refraktometryczny
stały – za pomocą
refraktometru
(wzorcowanie)
Strona 11
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
NIE
PTB
G, P
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G, P
NIE
PTB
G, P
NIE
PTB
G, P
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
poza GUM w przypadku
przyrządów
stacjonarnych
poza GUM w przypadku
przyrządów
stacjonarnych
poza GUM w przypadku
przyrządów
stacjonarnych
poza GUM w przypadku
przyrządów
stacjonarnych
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
M13
325,00
M13
325,00
M13
325,00
M13
325,00
G
M13
78,00
G
M13
19,50
G
M13
19,50
G
M13
13,00
G
M13
143,00
G
M13
19,50
G
M13
78,00
G
M13
78,00
G
M13
78,00
G
M13
91,00
G
M13
78,00
G
M13
39,00
G
M13
78,00
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M12
390,00
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M12
390,00
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
ID
Obiektu
M1-163
M1-164
Dziedzina
Długość
Długość
Subdziedzina
Opis
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
Różne wymiary
Współczynnik
załamania światła
Wzorzec
refraktometryczny
ciekły – za pomocą
refraktometru
(wzorcowanie)
W
współczynnik załamania
n = (1,3 ÷ 1,7)
światła
2 × E-05
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M12
Różne wymiary
Współczynnik
załamania światła
Wzorzec
refraktometryczny
ciekły – za pomocą
refraktometru (materiał
odniesienia)
M
współczynnik załamania
n = (1,3 ÷ 1,7)
światła
2 × E-05
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M12
260,00
Wzorzec
refraktometryczny
ciekły – za pomocą
refraktometru (materiał
odniesienia)
M
współczynnik załamania
n = (1,3 ÷ 1,7)
światła
2 × E-05
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M12
dla 10 ml, przy jednej
390,00 temp. spoza zakresu:
20 °C, 25 °C, 30 °C
Refraktometr typu
Pulfricha
W
współczynnik załamania
n = (1,3 ÷ 1,8)
światła
2 × E-05
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
P
M12
390,00
M12
Wzorcowanie
w 4 punktach
pomiarowych, jednej
skali; za każdy
dodatkowy punkt
pomiarowy dolicza się
0,5 rbg pomnożone
przez stawkę
godzinową; przy
390,00
wzorcowaniu w 4
punktach, dwóch skal
dolicza się 1 rbg
pomnożoną przez
stawkę godzinową;
przy wzorcowaniu
poza siedzibą GUM
do ceny dolicza się
koszt delegacji
M1-165
Długość
Różne wymiary
M1-166
Długość
Różne wymiary
Współczynnik
załamania światła
Długość
Wzorcowanie wielkość mierzona
Podana cena
obejmuje wykonanie
wzorcowania w jednej
długości fali i w trzech
temperaturach. Za
390,00 każdą dodatkową
długość fali (też trzy
temperatury) należy
doliczyć 2 rbg
pomnożone przez
stawkę godzinową
Współczynnik
załamania światła
M1-167
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Różne wymiary
Współczynnik
załamania światła
Refraktometr
fotoelektryczny
W
współczynnik załamania
n = (1,3 ÷ 1,7)
światła
2 × E-05
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G, P
dla 10 ml, temp. 20
°C, 25 °C, 30 °C
M1-168
Długość
Różne wymiary
Współczynnik
załamania światła
Refraktometr wizualny
W
współczynnik załamania
n = (1,3 ÷ 1,7)
światła
1 × E-04
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M12
Wzorcowanie w 4
punktach
pomiarowych; za
każdy dodatkowy
260,00
punkt pomiarowy
dolicza się 0,5 rbg
pomnożone przez
stawkę godzinową;
M1-169
Długość
Różne wymiary
Współczynnik
załamania światła
Refraktometr wizualny
W
współczynnik załamania
n = (1,33 ÷ 1,37)
światła
2 × E-05
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M12
195,00
M1-170
Długość
Różne wymiary
Współczynnik
załamania światła
Wzorzec
polarymetryczny
(kwarcowa płytka
kontrolna)
W
skręcalność optyczna
(-10 ÷ 40)°
0,004°
NIE
PTB
G
M12
195,00
M1-171
Długość
Różne wymiary
Współczynnik
załamania światła
Wzorzec
polarymetryczny
(materiał odniesienia)
M
skręcalność optyczna
78,34º ÷ 78,36º
0,01°
NIE
PTB
G
M12
260,00 dla 100 ml
Strona 12
refraktometr wizualny
zanurzeniowy
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
G, P
M12
Wzorcowanie dla
jednej skali, przy
wzorcowaniu dla
dwóch skal dolicza się
1 rbg pomnożoną
390,00 przez stawkę
godzinową;
przy wzorcowaniu
poza siedzibą GUM
do ceny dolicza się
koszt delegacji.
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M13
130,00
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M13
208,00
(32 ÷ 218)HB5/250;
(96 ÷ 650)HB5/750;
(16 ÷ 109)HB10/500;
(32 ÷ 218)HB10/1000;
(96 ÷ 650)HB10/3000
1%, 1%, 0,8%, 0,7%,
NIE
0,7%
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M13
156,00
twardość Rockwella
(20 ÷ 88) HRA,
(20 ÷ 100) HRB,
(20 ÷ 70) HRC
0,5 HRA, 0,5 HRC;
0,6 HRB
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M13
117,00
W
twardość Vickersa
(100 ÷ 1000) HV dla
skal: HV0,05; HV0,1;
HV0,2; HV0,3; HV0,5;
(1,2+0,07/d(mm))%
dla
HV0,05 ÷ HV0,1;
(1,9+0,05/d(mm))%
dla
HV0,2 ÷ HV0,5;
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M13
208,00
M1-172
Długość
Różne wymiary
Współczynnik
załamania światła
Polarymetr
fotoelektryczny
W
skręcalność optyczna
-90º ÷ 90º
0,001°
NIE
PTB
M1-173
Masa
Twardość
Twardość
Wzorzec twardości
Rockwella I rzędu - za
pomocą stanowiska
wzorcowego twardości
Rockwella I rzędu
W
twardość Rockwella
(20 ÷ 88) HRA;
(20 ÷ 100) HRB;
(20 ÷ 70) HRC
0,3 HRA; 0,3 HRC;
0,4 HRB
TAK
M1-174
Masa
Twardość
Twardość
Wzorzec twardości
Brinella - za pomocą
stanowiska
wzorcowego twardości
Brinella
W
twardość Brinella
(32 ÷ 218)HB1/10;
(96 ÷ 650)HB1/30;
(16 ÷ 09)HB2,5/31,25;
(32 ÷ 218)HB2,5/62,5;
(96 ÷ 50)HB2,5/187,5;
1%, 1%, 1%, 0,8%,
0,8%,
M1-175
Masa
Twardość
Twardość
Wzorzec twardości
Brinella - za pomocą
stanowiska
wzorcowego twardości
Brinella
W
twardość Brinella
M1-176
Masa
Twardość
Twardość
Wzorzec twardości
Rockwella - za
pomocą stanowiska
wzorcowego twardości
Rockwella II rzędu
W
M1-177
Masa
Twardość
Twardość
Wzorzec twardości
Vickersa - za pomocą
stanowiska
wzorcowego twardości
Vickersa
M1-178
Masa
Twardość
Twardość
Wzorzec twardości
Vickersa - za pomocą
stanowiska
wzorcowego twardości
Vickersa
W
twardość Vickersa
(100 ÷ 1000) HV dla
skal: HV1; HV2; HV3;
HV5; HV10; HV30;
HV50; HV100
(1,2+0,02/d(mm))%
dla HV1 ÷ HV10;
2% dla
HV30 ÷ HV100
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M13
169,00
W
twardość Knoopa
(80 ÷ 1500) HK
dla skal: HK0,1; HK0,5;
HK1
2,8%
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M13
208,00
P
M13
65,00
dotyczy jednego
obciążenia
P
M13
260,00
dotyczy jednego
powiększenia
M1-179
Masa
Twardość
Twardość
Wzorzec twardości
Knoopa - za pomocą
stanowiska
wzorcowego twardości
Vickersa z
wgłębnikiem Knoopa
M1-180
Masa
Twardość
Twardość
Twardościomierz
Brinella
W
siła
(9,807 ÷ 29420) N
0,12%
NIE
M1-181
Masa
Twardość
Twardość
Twardościomierz
Brinella
W
długość
(0 ÷ 1,0) mm;
(1 ÷ 7) mm
0,0003 mm,
0,001 mm
NIE
Strona 13
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
M1-182
Masa
Twardość
Twardość
Twardościomierz
Brinella
W
twardość Brinella
<200 HB dla skal:
HB2,5/31,25;
HB2,5/62,5; HB5/250;
2%
HB10/1000;
(100 ÷ 400) HB dla skal:
HB2,5/187,5; HB5/750;
HB10/3000
M1-183
Masa
Twardość
Twardość
Twardościomierz
Rockwella
W
siła
29,42 N ÷ 1471 N
0%
NIE
M1-184
Masa
Twardość
Twardość
Twardościomierz
Rockwella
W
długość
(0 ÷ 0,2) mm
0,0005 mm
NIE
0,5 HRC; 0,5 HRA;
0,6 HRB
NIE
NIE
M1-185
Masa
Twardość
Twardość
Twardościomierz
Rockwella
W
twardość Rockwella
(70 ÷ 88) HRA,
(80 ÷ 100) HRB,
(20 ÷ 70) HRC
M1-186
Masa
Twardość
Twardość
Twardościomierz
Vickersa
W
siła
(0,098 ÷ 980,07) N
0,12%
NIE
M1-187
Masa
Twardość
Twardość
Twardościomierz
Vickersa
W
długość
(0 ÷ 1) mm
0,0003 mm
NIE
8% dla HV0,05;
dla HV0,1;
4% dla
HV0,2 ÷ HV0,5;
2% dla
HV1 ÷ HV100
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
P
M13
260,00 dla jednej skali
P
M13
65,00
P
M13
260,00
P
M13
195,00 dla jednej skali
P
M13
65,00
dotyczy jednego
obciążenia
P
M13
260,00
dotyczy jednego
powiększenia
P
M13
260,00 dla jednej skali
P
M13
65,00
dotyczy jednego
obciążenia
P
M13
260,00
dotyczy jednego
powiększenia
P
M13
260,00 dla jednej skali
P
M13
260,00
P
M13
195,00 dla jednej skali
P
M13
260,00
M1-188
Masa
Twardość
Twardość
Twardościomierz
Vickersa
W
twardość Vickersa
M1-189
Masa
Twardość
Twardość
Twardościomierz
Knoopa
W
siła
(0,098 ÷ 19,614) N
0,12%
NIE
M1-190
Masa
Twardość
Twardość
Twardościomierz
Knoopa
W
długość
(0 ÷ 0,2) mm
0,0003 mm
NIE
M1-191
Masa
Twardość
Twardość
Twardościomierz
Knoopa
W
twardość Knoopa
(500 ÷ 900) HK0,1
3%
NIE
M1-192
Masa
Twardość
Twardość
Twardościomierz
dynamiczny i inny
W
twardość Brinella
(100 ÷ 400) HB dla skal:
2%
HB2,5/187,5; HB10/3000
NIE
0,6 HRC; 0,6 HRA;
1,0 HRB
NIE
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
M1-193
Masa
Twardość
Twardość
Twardościomierz
dynamiczny i inny
W
twardość Rockwella
(70 ÷ 88) HRA;
(80 ÷ 100) HRB;
(20 ÷ 70) HRC
M1-194
Masa
Twardość
Twardość
Twardościomierz
dynamiczny i inny
W
twardość Vickersa
(100 ÷ 900) HRV dla
skal: HV30; HV10, HV5
2%
NIE
siła
(0 ÷ 100) ShA odpowiada
(0,55 ÷ 8,065) N;
(20 ÷ 100) ShD odpowiada
(8,9 ÷ 44,5) N
0,2 Sh
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M13
260,00
twardość Brinella
HB1/10; HB1/30;
HB2,5/31,25;
HB2,5/62,5;
HB2,5/187,5; HB5/250;
HB5/750; HB10/500;
HB10/100; HB10/3000
2%
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M13
260,00
twardość Rockwella
(70 ÷ 88) HRA;
(80 ÷ 100) HRB;
(20 ÷ 70) HRC
0,7 HRC; 0,7 HRA;
1,0 HRB
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
M13
130,00
M1-196
M1-197
Masa
Masa
Masa
Twardość
Twardość
Twardość
Twardość
Twardościomierz
Shore'a
Twardość
Próbka - za pomocą
twardościomierza
Brinella
Twardość
Próbka - za pomocą
twardościomierza
Rockwella
W
W
W
Strona 14
dotyczy jednego
obciążenia
6%
(180 ÷ 900) HV dla skal:
HV0,05; HV0,1; HV0,2;
HV0,3; HV0,5; HV1;
HV2; HV3; HV5; HV10;
HV30; HV50; HV100
M1-195
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
G, P
poza GUM w przypadku gdy
próbka stanowi
część integralną
maszyny
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
M1-198
Masa
Twardość
Twardość
Próbka - za pomocą
twardościomierza
Vickersa
W
twardość Vickersa
(60 ÷ 1200) HV dla skal:
HV0,2; HV0,3; HV0,5;
HV1; HV2; HV3; HV5;
2,5%
HV10; HV30; HV50;
HV100
M1-199
Masa
Twardość
Twardość
Próbka - za pomocą
twardościomierza
Knoopa
W
twardość Knoopa
HK0,1; HK1
M2-1
M2-2
M2-3
M2-4
M2-5
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
2,8%
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo(dla jednego
wzorca przy jednej
długości fali)
0,001 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 2500) nm
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo(dla jednego
wzorca przy dwóch
długościach fali)
0,001 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 2500) nm
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo(dla jednego
wzorca przy trzech
długościach fali)
0,001 ÷1,000
Zakresy widmowe
(210÷900) nm
(900÷2500) nm
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo(dla jednego
wzorca przy czterech
długościach fali)
0,001 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 2500) nm
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo(dla jednego
wzorca przy pięciu
długościach fali)
0,001 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 2500) nm
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest z
wielomianu dla
gęstości optycznej z
uwzględnieniem
zależności
τ(λ)
= 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Strona 15
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M13
260,00
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M13
260,00
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
71,50
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
143,00
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
214,50
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
286,00
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
357,50
ID
Obiektu
M2-6
M2-7
M2-8
M2-9
M2-10
M2-11
Dziedzina
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo(dla jednego
wzorca przy sześciu
długościach fali)
0,001÷1,000
Zakresy widmowe
(210÷900) nm
(900÷2500) nm
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo(dla jednego
wzorca przy siedmiu
długościach fali)
0,001 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 2500) nm
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo(dla jednego
wzorca przy ośmiu
długościach fali)
0,001 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 2500) nm
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo(dla jednego
wzorca przy dziewięciu
długościach fali)
0,001 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 2500) nm
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo(dla jednego
wzorca przy dziesięciu
długościach fali)
0,001 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 2500) nm
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów selektywnych
widmowo (dla jednego
wzorca przy jednej
długości fali)
0,001 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 2500) nm
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Strona 16
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
429,00
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
500,50
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
572,00
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
643,50
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
715,00
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
71,50
ID
Obiektu
M2-12
M2-13
M2-14
M2-15
M2-16
M2-17
Dziedzina
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów selektywnych
widmowo (dla jednego
wzorca przy dwóch
długościach fali)
0,001 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 2500) nm
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów selektywnych
widmowo (dla jednego
wzorca przy trzech
długościach fali)
0,001 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 2500) nm
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów selektywnych
widmowo (dla jednego
wzorca przy czterech
długościach fali)
0,001 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 2500) nm
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów selektywnych
widmowo (dla jednego
wzorca przy pięciu
długościach fali)
0,001 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 2500) nm
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów selektywnych
widmowo (dla jednego
wzorca przy sześciu
długościach fali)
0,001 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 2500) nm
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów selektywnych
widmowo (dla jednego
wzorca przy siedmiu
długościach fali)
0,001 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 2500) nm
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Strona 17
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
143,00
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
214,50
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
286,00
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
357,50
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
429,00
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
500,50
ID
Obiektu
M2-18
M2-19
M2-20
M2-21
M2-22
M2-23
Dziedzina
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca wtórnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca wtórnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca wtórnego
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów selektywnych
widmowo (dla jednego
wzorca przy ośmiu
długościach fali)
0,001 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 2500) nm
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów selektywnych
widmowo (dla jednego
wzorca przy dziewięciu
długościach fali)
0,001 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 2500) nm
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów selektywnych
widmowo (dla jednego
wzorca przy dziesięciu
długościach fali)
0,001 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 2500) nm
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (dla jednego
wzorca przy jednej
długości fali)
0,001 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (dla jednego
wzorca przy dwóch
długościach fali)
0,001 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (dla jednego
wzorca przy trzech
długościach fali)
0,001 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Strona 18
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
572,00
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
643,50
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
715,00
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
58,50
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
117,00
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
175,50
ID
Obiektu
M2-24
M2-25
M2-26
M2-27
M2-28
M2-29
Dziedzina
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca wtórnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca wtórnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca wtórnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca wtórnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca wtórnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca wtórnego
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (dla jednego
wzorca przy czterech
długościach fali)
0,001 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (dla jednego
wzorca przy pięciu
długościach fali)
0,001 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (dla jednego
wzorca przy sześciu
długościach fali)
0,001 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (dla jednego
wzorca przy siedmiu
długościach fali)
0,001 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (dla jednego
wzorca przy ośmiu
długościach fali)
0,001 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (dla jednego
wzorca przy dziewięciu
długościach fali)
0,001 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Strona 19
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
234,00
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
292,50
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
351,00
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
409,50
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
468,00
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
526,50
ID
Obiektu
M2-30
M2-31
M2-32
M2-33
M2-34
M2-35
Dziedzina
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca wtórnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca wtórnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca wtórnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca wtórnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca wtórnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca wtórnego
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (dla jednego
wzorca przy dziesięciu
długościach fali)
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
0,001 ÷ 1,000
materiałów selektywnych Zakresy widmowe
widmowo (dla jednego
(210 ÷ 900) nm
wzorca przy jednej
długości fali)
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
0,001 ÷ 1,000
materiałów selektywnych Zakresy widmowe
widmowo (dla jednego
(210 ÷ 900) nm
wzorca przy dwóch
długościach fali)
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
0,001 ÷ 1,000
materiałów selektywnych Zakresy widmowe
widmowo (dla jednego
(210 ÷ 900) nm
wzorca przy trzech
długościach fali)
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
0,001 ÷ 1,000
materiałów selektywnych Zakresy widmowe
widmowo (dla jednego
(210 ÷ 900) nm
wzorca przy czterech
długościach fali)
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
0,001 ÷ 1,000
materiałów selektywnych Zakresy widmowe
widmowo (dla jednego
(210 ÷ 900) nm
wzorca przy pięciu
długościach fali)
0,001 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Strona 20
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
585,00
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
58,50
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
117,00
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
175,50
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
234,00
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
292,50
ID
Obiektu
M2-36
M2-37
M2-38
M2-39
Dziedzina
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
M2-40
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
M2-41
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca wtórnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca wtórnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca wtórnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca wtórnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca wtórnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ)
wzorcowane
w siedzibie GUM
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
0,001 ÷ 1,000
materiałów selektywnych Zakresy widmowe
widmowo (dla jednego
(210 ÷ 900) nm
wzorca przy sześciu
długościach fali)
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
0,001 ÷ 1,000
materiałów selektywnych Zakresy widmowe
widmowo (dla jednego
(210 ÷ 900) nm
wzorca przy siedmiu
długościach fali)
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
0,001 ÷ 1,000
materiałów selektywnych Zakresy widmowe
widmowo (dla jednego
(210 ÷ 900) nm
wzorca przy ośmiu
długościach fali)
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
0,001 ÷ 1,000
materiałów selektywnych Zakresy widmowe
widmowo (dla jednego
(210 ÷ 900) nm
wzorca przy dziewięciu
długościach fali)
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
0,001 ÷ 1,000
materiałów selektywnych Zakresy widmowe
widmowo (dla jednego
(210 ÷ 900) nm
wzorca przy dziesięciu
długościach fali)
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (pomiar przy
dwóch długościach fali)
0,1 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Strona 21
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
351,00
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
409,50
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
468,00
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
526,50
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
585,00
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
585,00
ID
Obiektu
Dziedzina
M2-42
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
M2-43
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
M2-44
M2-45
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
M2-46
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
M2-47
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ)
wzorcowane
w siedzibie GUM
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ)
wzorcowane
w siedzibie GUM
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ)
wzorcowane
w siedzibie GUM
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ)
wzorcowane
w siedzibie GUM
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ)
wzorcowane
w siedzibie GUM
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ)
wzorcowane
w siedzibie GUM
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (pomiar przy
trzech długościach fali)
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
0,1 ÷ 1,000
kierunkowego
Zakresy widmowe
materiałów neutralnych
(210 ÷ 900) nm
widmowo (pomiar przy
czterech długościach fali)
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (pomiar przy
pięciu długościach fali)
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
0,1 ÷ 1,000
kierunkowego
Zakresy widmowe
materiałów neutralnych
(210 ÷ 900) nm
widmowo (pomiar przy
sześciu długościach fali)
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
0,1 ÷ 1,000
kierunkowego
Zakresy widmowe
materiałów neutralnych
(210 ÷ 900) nm
widmowo (pomiar przy
siedmiu długościach fali)
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (pomiar przy
ośmiu długościach fali)
0,1 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm
0,1 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm
0,1 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Strona 22
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
780,00
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
975,00
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
1170,00
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
1365,00
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
1560,00
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
1755,00
ID
Obiektu
Dziedzina
M2-48
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
M2-49
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
M2-50
M2-51
M2-52
M2-53
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ)
wzorcowane
w siedzibie GUM
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ)
wzorcowane
w siedzibie GUM
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z dyskretną skalą
długości fali (dla
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ)
wzorcowane
w siedzibie GUM
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z dyskretną skalą
długości fali (dla
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ)
wzorcowane
w siedzibie GUM
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z dyskretną skalą
długości fali (dla
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ)
wzorcowane
w siedzibie GUM
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z dyskretną skalą
długości fali (dla
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ)
wzorcowane
w siedzibie GUM
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (pomiar przy
dziewięciu długościach
fali)
0,1 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (pomiar przy
dziesięciu długościach
fali)
0,1 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (pomiar przy
dwóch długościach fali)
0,1 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (pomiar przy
trzech długościach fali)
0,1 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
0,1 ÷ 1,000
kierunkowego
Zakresy widmowe
materiałów neutralnych
(210 ÷ 900) nm
widmowo (pomiar przy
czterech długościach fali)
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (pomiar przy
pięciu długościach fali)
0,1 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Strona 23
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
1950,00
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
2145,00
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
585,00
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
780,00
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
975,00
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
1170,00
ID
Obiektu
M2-54
M2-55
M2-56
M2-57
M2-58
M2-59
Dziedzina
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z dyskretną skalą
długości fali (dla
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ)
wzorcowane
w siedzibie GUM
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z dyskretną skalą
długości fali (dla
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ)
wzorcowane
w siedzibie GUM
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z dyskretną skalą
długości fali (dla
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ)
wzorcowane
w siedzibie GUM
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z dyskretną skalą
długości fali (dla
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ)
wzorcowane
w siedzibie GUM
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z dyskretną skalą
długości fali (dla
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ)
wzorcowane
w siedzibie GUM
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ)
wzorcowane poza
siedzibą GUM
Wzorcowanie wielkość mierzona
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
0,1 ÷ 1,000
kierunkowego
Zakresy widmowe
materiałów neutralnych
(210 ÷ 900) nm
widmowo (pomiar przy
sześciu długościach fali)
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
0,1 ÷ 1,000
kierunkowego
Zakresy widmowe
materiałów neutralnych
(210 ÷ 900) nm
widmowo (pomiar przy
siedmiu długościach fali)
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (pomiar przy
ośmiu długościach fali)
0,1 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (pomiar przy
dziewięciu długościach
fali)
0,1 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (pomiar przy
dziesięciu długościach
fali)
0,1 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (pomiar przy
dwóch długościach fali)
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
0,1 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
Strona 24
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
1365,00
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
1560,00
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
1755,00
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
1950,00
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
2145,00
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
P
W przypadku
przyrządów o
bardzo dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego,
lub zgłoszenia
wielu przyrządów
naraz.
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
M21
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
780,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
ID
Obiektu
M2-60
M2-61
M2-62
M2-63
Dziedzina
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Subdziedzina
Widmowe
właściwości
materiałów
Widmowe
właściwości
materiałów
Widmowe
właściwości
materiałów
Widmowe
właściwości
materiałów
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ)
wzorcowane poza
siedzibą GUM
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ)
wzorcowane poza
siedzibą GUM
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ)
wzorcowane poza
siedzibą GUM
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ)
wzorcowane poza
siedzibą GUM
W
W
W
W
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
0,1 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
widmowy współczynnik
przepuszczania
0,1 ÷ 1,000
kierunkowego
Zakresy widmowe
materiałów neutralnych
(210 ÷ 900) nm
widmowo (pomiar przy
czterech długościach fali)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (pomiar przy
pięciu długościach fali)
0,1 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
widmowy współczynnik
przepuszczania
0,1 ÷ 1,000
kierunkowego
Zakresy widmowe
materiałów neutralnych
(210 ÷ 900) nm
widmowo (pomiar przy
sześciu długościach fali)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (pomiar przy
trzech długościach fali)
Strona 25
CMC
NIE
NIE
NIE
NIE
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
P
W przypadku
przyrządów o
bardzo dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego,
lub zgłoszenia
wielu przyrządów
naraz.
P
W przypadku
przyrządów o
bardzo dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego,
lub zgłoszenia
wielu przyrządów
naraz.
P
W przypadku
przyrządów o
bardzo dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego,
lub zgłoszenia
wielu przyrządów
naraz.
P
W przypadku
przyrządów o
bardzo dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego,
lub zgłoszenia
wielu przyrządów
naraz.
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
M21
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
975,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
M21
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
1170,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
M21
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
1365,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
M21
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
1560,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
ID
Obiektu
M2-64
M2-65
M2-66
M2-67
Dziedzina
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Subdziedzina
Widmowe
właściwości
materiałów
Widmowe
właściwości
materiałów
Widmowe
właściwości
materiałów
Widmowe
właściwości
materiałów
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ)
wzorcowane poza
siedzibą GUM
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ)
wzorcowane poza
siedzibą GUM
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ)
wzorcowane poza
siedzibą GUM
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ)
wzorcowane poza
siedzibą GUM
W
W
W
W
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
widmowy współczynnik
przepuszczania
0,1 ÷ 1,000
kierunkowego
Zakresy widmowe
materiałów neutralnych
(210 ÷ 900) nm
widmowo (pomiar przy
siedmiu długościach fali)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (pomiar przy
ośmiu długościach fali)
0,1 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
0,1 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
0,1 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (pomiar przy
dziewięciu długościach
fali)
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (pomiar przy
dziesięciu długościach
fali)
Strona 26
CMC
NIE
NIE
NIE
NIE
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
P
W przypadku
przyrządów o
bardzo dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego,
lub zgłoszenia
wielu przyrządów
naraz.
P
W przypadku
przyrządów o
bardzo dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego,
lub zgłoszenia
wielu przyrządów
naraz.
P
W przypadku
przyrządów o
bardzo dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego,
lub zgłoszenia
wielu przyrządów
naraz.
P
W przypadku
przyrządów o
bardzo dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego,
lub zgłoszenia
wielu przyrządów
naraz.
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
M21
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
1755,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
M21
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
1950,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
M21
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
2145,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
M21
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
2340,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
ID
Obiektu
M2-68
M2-69
M2-70
M2-71
Dziedzina
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Subdziedzina
Widmowe
właściwości
materiałów
Widmowe
właściwości
materiałów
Widmowe
właściwości
materiałów
Widmowe
właściwości
materiałów
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Spektrofotometry
z dyskretną skalą
długości fali (dla
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ)
wzorcowane poza
siedzibą GUM
Spektrofotometry
z dyskretną skalą
długości fali (dla
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ)
wzorcowane poza
siedzibą GUM
Spektrofotometry
z dyskretną skalą
długości fali (dla
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ)
wzorcowane poza
siedzibą GUM
Spektrofotometry
z dyskretną skalą
długości fali (dla
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ)
wzorcowane poza
siedzibą GUM
W
W
W
W
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
0,1 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
0,1 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
widmowy współczynnik
przepuszczania
0,1 ÷ 1,000
kierunkowego
Zakresy widmowe
materiałów neutralnych
(210 ÷ 900) nm
widmowo (pomiar przy
czterech długościach fali)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (pomiar przy
pięciu długościach fali)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (pomiar przy
dwóch długościach fali)
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (pomiar przy
trzech długościach fali)
0,1 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm
Strona 27
CMC
NIE
NIE
NIE
NIE
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
P
W przypadku
przyrządów o
bardzo dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego,
lub zgłoszenia
wielu przyrządów
naraz.
P
W przypadku
przyrządów o
bardzo dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego,
lub zgłoszenia
wielu przyrządów
naraz.
P
W przypadku
przyrządów o
bardzo dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego,
lub zgłoszenia
wielu przyrządów
naraz.
P
W przypadku
przyrządów o
bardzo dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego,
lub zgłoszenia
wielu przyrządów
naraz.
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
M21
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
780,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
M21
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
975,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
M21
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
1170,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
M21
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
1365,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
ID
Obiektu
M2-72
M2-73
M2-74
M2-75
Dziedzina
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Subdziedzina
Widmowe
właściwości
materiałów
Widmowe
właściwości
materiałów
Widmowe
właściwości
materiałów
Widmowe
właściwości
materiałów
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Spektrofotometry
z dyskretną skalą
długości fali (dla
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ)
wzorcowane poza
siedzibą GUM
Spektrofotometry
z dyskretną skalą
długości fali (dla
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ)
wzorcowane poza
siedzibą GUM
Spektrofotometry
z dyskretną skalą
długości fali (dla
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ)
wzorcowane poza
siedzibą GUM
Spektrofotometry
z dyskretną skalą
długości fali (dla
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ)
wzorcowane poza
siedzibą GUM
W
W
W
W
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
widmowy współczynnik
przepuszczania
0,1 ÷ 1,000
kierunkowego
Zakresy widmowe
materiałów neutralnych
(210 ÷ 900) nm
widmowo (pomiar przy
sześciu długościach fali)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
widmowy współczynnik
przepuszczania
0,1 ÷ 1,000
kierunkowego
Zakresy widmowe
materiałów neutralnych
(210 ÷ 900) nm
widmowo (pomiar przy
siedmiu długościach fali)
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (pomiar przy
ośmiu długościach fali)
0,1 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
0,1 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (pomiar przy
dziewięciu długościach
fali)
Strona 28
CMC
NIE
NIE
NIE
NIE
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
P
W przypadku
przyrządów o
bardzo dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego,
lub zgłoszenia
wielu przyrządów
naraz.
P
W przypadku
przyrządów o
bardzo dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego,
lub zgłoszenia
wielu przyrządów
naraz.
P
W przypadku
przyrządów o
bardzo dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego,
lub zgłoszenia
wielu przyrządów
naraz.
P
W przypadku
przyrządów o
bardzo dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego,
lub zgłoszenia
wielu przyrządów
naraz.
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
M21
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
1560,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
M21
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
1755,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
M21
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
1950,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
M21
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
2145,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
ID
Obiektu
M2-76
M2-77
M2-78
M2-79
M2-80
Dziedzina
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z dyskretną skalą
długości fali (dla
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego τ)
wzorcowane poza
siedzibą GUM
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
Wzorcowanie wielkość mierzona
W
widmowy współczynnik
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (pomiar przy
dziesięciu długościach
fali)
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (dla jednego
wzorca przy jednej
długości fali)
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (dla jednego
wzorca przy dwóch
długościach fali)
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (dla jednego
wzorca przy trzech
długościach fali)
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (dla jednego
wzorca przy czterech
długościach fali)
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
W przypadku
przyrządów o
bardzo dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego,
lub zgłoszenia
wielu przyrządów
naraz.
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
0,1 ÷ 1,000
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm
Niepewność
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
wyliczana jest
z wielomianu dla
gęstości optycznej
z uwzględnieniem
zależności
τ(λ) = 10-D(λ)
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
P
0 ÷ 3 Abs
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 2500) nm
0,00079•D² +
0,00097•D + 0,0025
dla
(210 ÷ 900) nm;
0,000075•D4+
0,00042•D³ +
0,00011•D² +
0,00057•D + 0,0066
dla
(900 ÷ 2500) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
71,50
0 ÷ 3 Abs
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 2500) nm
0,00079•D² +
0,00097•D + 0,0025
dla
(210 ÷ 900) nm;
0,000075•D4+
0,00042•D³ +
0,00011•D² +
0,00057•D + 0,0066
dla
(900 ÷ 2500) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
143,00
0 ÷ 3 Abs
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 2500) nm
0,00079•D² +
0,00097•D + 0,0025
dla
(210 ÷ 900) nm;
0,000075•D4+
0,00042•D³ +
0,00011•D² +
0,00057•D + 0,0066
dla
(900 ÷ 2500) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
214,50
0 ÷ 3 Abs
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 2500) nm
0,00079•D² +
0,00097•D + 0,0025
dla
(210 ÷ 900) nm;
0,000075•D4+
0,00042•D³ +
0,00011•D² +
0,00057•D + 0,0066
dla
(900 ÷ 2500) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
286,00
Strona 29
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
M21
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
2340,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
ID
Obiektu
M2-81
M2-82
M2-83
M2-84
M2-85
Dziedzina
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D
wzorcowane w
odniesieniu do wzorca
pierwotnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
Wzorcowanie wielkość mierzona
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (dla jednego
wzorca przy pięciu
długościach fali)
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (dla jednego
wzorca przy sześciu
długościach fali)
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (dla jednego
wzorca przy siedmiu
długościach fali)
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (dla jednego
wzorca przy ośmiu
długościach fali)
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (dla jednego
wzorca przy dziewięciu
długościach fali)
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
0 ÷ 3 Abs
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 2500) nm
0,00079•D² +
0,00097•D + 0,0025
dla
(210 ÷ 900) nm;
0,000075•D4+
0,00042•D³ +
0,00011•D² +
0,00057•D + 0,0066
dla
(900 ÷ 2500) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
357,50
0 ÷ 3 Abs
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 2500) nm
0,00079•D² +
0,00097•D + 0,0025
dla
(210 ÷ 900) nm;
0,000075•D4+
0,00042•D³ +
0,00011•D² +
0,00057•D + 0,0066
dla
(900 ÷ 2500) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
429,00
0 ÷ 3 Abs
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 2500) nm
0,00079•D² +
0,00097•D + 0,0025
dla
(210 ÷ 900) nm;
0,000075•D4+
0,00042•D³ +
0,00011•D² +
0,00057•D + 0,0066
dla
(900 ÷ 2500) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
500,50
0 ÷ 3 Abs
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 2500) nm
0,00079•D² +
0,00097•D + 0,0025
dla
(210 ÷ 900) nm;
0,000075•D4+
0,00042•D³ +
0,00011•D² +
0,00057•D + 0,0066
dla
(900 ÷ 2500) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
572,00
0 ÷ 3 Abs
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 2500) nm
0,00079•D² +
0,00097•D + 0,0025
dla
(210 ÷ 900) nm;
0,000075•D4+
0,00042•D³ +
0,00011•D² +
0,00057•D + 0,0066
dla
(900 ÷ 2500) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
643,50
Strona 30
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
ID
Obiektu
M2-86
M2-87
M2-88
M2-89
M2-90
Dziedzina
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
Wzorcowanie wielkość mierzona
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (dla jednego
wzorca przy dziesięciu
długościach fali)
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego materiałów
selektywnych widmowo
(dla jednego wzorca
przyjednej długości fali)
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego materiałów
selektywnych widmowo
(dla jednego wzorca przy
dwóch długościach fali)
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego materiałów
selektywnych widmowo
(dla jednego wzorca przy
trzech długościach fali)
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego materiałów
selektywnych widmowo
(dla jednego wzorca przy
czterech długościach fali)
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
0 ÷ 3 Abs
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 2500) nm
0,00079•D² +
0,00097•D + 0,0025
dla
(210 ÷ 900) nm;
0,000075•D4+
0,00042•D³ +
0,00011•D² +
0,00057•D + 0,0066
dla
(900 ÷ 2500) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
715,00
0 ÷ 3 Abs
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 2500) nm
0,00079•D² +
0,00097•D + 0,0025
dla
(210 ÷ 900) nm;
0,000075•D4+
0,00042•D³ +
0,00011•D² +
0,00057•D + 0,0066
dla
(900 ÷ 2500) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
71,50
0 ÷ 3 Abs
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 2500) nm
0,00079•D² +
0,00097•D + 0,0025
dla
(210 ÷ 900) nm;
4
0,000075•D +
0,00042•D³ +
0,00011•D² +
0,00057•D + 0,0066
dla
(900 ÷ 2500) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
143,00
0 ÷ 3 Abs
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 2500) nm
0,00079•D² +
0,00097•D + 0,0025
dla
(210 ÷ 900) nm;
0,000075•D4+
0,00042•D³ +
0,00011•D² +
0,00057•D + 0,0066
dla
(900 ÷ 2500) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
214,50
0 ÷ 3 Abs
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 2500) nm
0,00079•D² +
0,00097•D + 0,0025
dla
(210 ÷ 900) nm;
0,000075•D4+
0,00042•D³ +
0,00011•D² +
0,00057•D + 0,0066
dla
(900 ÷ 2500) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
286,00
Strona 31
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
ID
Obiektu
M2-91
M2-92
M2-93
M2-94
M2-95
Dziedzina
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D
wzorcowane w
odniesieniu do wzorca
pierwotnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
Wzorcowanie wielkość mierzona
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego materiałów
selektywnych widmowo
(dla jednego wzorca przy
pięciu długościach fali)
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego materiałów
selektywnych widmowo
(dla jednego wzorca przy
sześciu długościach fali)
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego materiałów
selektywnych widmowo
(dla jednego wzorca przy
siedmiu długościach fali)
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego materiałów
selektywnych widmowo
(dla jednego wzorca przy
ośmiu długościach fali)
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego materiałów
selektywnych widmowo
(dla jednego wzorca przy
dziewięciu długościach
fali)
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
0 ÷ 3 Abs
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 2500) nm
0,00079•D² +
0,00097•D + 0,0025
dla
(210 ÷ 900) nm;
0,000075•D4+
0,00042•D³ +
0,00011•D² +
0,00057•D + 0,0066
dla
(900 ÷ 2500) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
357,50
0 ÷ 3 Abs
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 2500) nm
0,00079•D² +
0,00097•D + 0,0025
dla
(210 ÷ 900) nm;
0,000075•D4+
0,00042•D³ +
0,00011•D² +
0,00057•D + 0,0066
dla
(900 ÷ 2500) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
429,00
0 ÷ 3 Abs
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 2500) nm
0,00079•D² +
0,00097•D + 0,0025
dla
(210 ÷ 900) nm;
4
0,000075•D +
0,00042•D³ +
0,00011•D² +
0,00057•D + 0,0066
dla
(900 ÷ 2500) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
500,50
0 ÷ 3 Abs
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 2500) nm
0,00079•D² +
0,00097•D + 0,0025
dla
(210 ÷ 900) nm;
0,000075•D4+
0,00042•D³ +
0,00011•D² +
0,00057•D + 0,0066
dla
(900 ÷ 2500) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
572,00
0 ÷ 3 Abs
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 2500) nm
0,00079•D² +
0,00097•D + 0,0025
dla
(210 ÷ 900) nm;
0,000075•D4+
0,00042•D³ +
0,00011•D² +
0,00057•D + 0,0066
dla
(900 ÷ 2500) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
643,50
Strona 32
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
ID
Obiektu
M2-96
M2-97
M2-98
M2-99
M2-100
M2-101
Dziedzina
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D
wzorcowane w
odniesieniu do wzorca
wtórnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca wtórnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca wtórnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca wtórnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca wtórnego
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
0 ÷ 3 Abs
Zakresy widmowe
(210 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 2500) nm
0,00079•D² +
0,00097•D + 0,0025
dla
(210 ÷ 900) nm;
0,000075•D4+
0,00042•D³ +
0,00011•D² +
0,00057•D + 0,0066
dla
(900 ÷ 2500) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
715,00
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (dla jednego
wzorca przy jednej
długości fali)
0 ÷ 3 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
0,00079•D² +
0,00103•D + 0,0035
dla
(210 ÷ 900) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
58,50
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (dla jednego
wzorca przy dwóch
długościach fali)
0 ÷ 3 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
0,00079•D² +
0,00103•D + 0,0035
dla
(210 ÷ 900) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
117,00
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (dla jednego
wzorca przy trzech
długościach fali)
0 ÷ 3 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
0,00079•D² +
0,00103•D + 0,0035
dla
(210 ÷ 900) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
175,50
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (dla jednego
wzorca przy czterech
długościach fali)
0 ÷ 3 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
0,00079•D² +
0,00103•D + 0,0035
dla
(210 ÷ 900) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
234,00
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (dla jednego
wzorca przy pięciu
długościach fali)
0 ÷ 3 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
0,00079•D² +
0,00103•D + 0,0035
dla
(210 ÷ 900) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
292,50
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego materiałów
selektywnych widmowo
(dla jednego wzorca przy
dziesięciu długościach
fali)
Strona 33
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
ID
Obiektu
M2-102
M2-103
M2-104
M2-105
M2-106
M2-107
Dziedzina
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca wtórnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D
wzorcowane w
odniesieniu do wzorca
wtórnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca wtórnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca wtórnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D
wzorcowane w
odniesieniu do wzorca
wtórnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca wtórnego
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (dla jednego
wzorca przy sześciu
długościach fali)
0 ÷ 3 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
0,00079•D² +
0,00103•D + 0,0035
dla
(210 ÷ 900) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
351,00
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (dla jednego
wzorca przy siedmiu
długościach fali)
0 ÷ 3 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
0,00079•D² +
0,00103•D + 0,0035
dla
(210 ÷ 900) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
409,50
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (dla jednego
wzorca przy ośmiu
długościach fali)
0 ÷ 3 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
0,00079•D² +
0,00103•D + 0,0035
dla
(210 ÷ 900) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
468,00
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (dla jednego
wzorca przy dziewięciu
długościach fali)
0 ÷ 3 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
0,00079•D² +
0,00103•D + 0,0035
dla
(210 ÷ 900) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
526,50
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (dla jednego
wzorca przy dziesięciu
długościach fali)
0 ÷ 3 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
0,00079•D² +
0,00103•D + 0,0035
dla
(210 ÷ 900) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
585,00
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
0 ÷ 3 Abs
przepuszczania
Zakres widmowy
kierunkowego materiałów
(210 ÷ 900) nm
selektywnych widmowo
(dla jednego wzorca przy
jednej długości fali)
0,00079•D² +
0,00103•D + 0,0035
dla
(210 ÷ 900) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
58,50
Strona 34
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
ID
Obiektu
M2-108
M2-109
M2-110
M2-111
M2-112
M2-113
Dziedzina
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D
wzorcowane w
odniesieniu do wzorca
wtórnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D
wzorcowane w
odniesieniu do wzorca
wtórnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca wtórnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca wtórnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca wtórnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca wtórnego
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
0 ÷ 3 Abs
przepuszczania
Zakres widmowy
kierunkowego materiałów
(210 ÷ 900) nm
selektywnych widmowo
(dla jednego wzorca przy
dwóch długościach fali)
0,00079•D² +
0,00103•D + 0,0035
dla
(210 ÷ 900) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
117,00
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
0 ÷ 3 Abs
przepuszczania
Zakres widmowy
kierunkowego materiałów
(210 ÷ 900) nm
selektywnych widmowo
(dla jednego wzorca przy
trzech długościach fali)
0,00079•D² +
0,00103•D + 0,0035
dla
(210 ÷ 900) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
175,50
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
0 ÷ 3 Abs
przepuszczania
Zakres widmowy
kierunkowego materiałów
(210 ÷ 900) nm
selektywnych widmowo
(dla jednego wzorca przy
czterech długościach fali)
0,00079•D² +
0,00103•D + 0,0035
dla
(210 ÷ 900) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
234,00
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
0 ÷ 3 Abs
przepuszczania
Zakres widmowy
kierunkowego materiałów
(210 ÷ 900) nm
selektywnych widmowo
(dla jednego wzorca przy
pięciu długościach fali)
0,00079•D² +
0,00103•D + 0,0035
dla
(210 ÷ 900) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
292,50
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
0 ÷ 3 Abs
przepuszczania
Zakres widmowy
kierunkowego materiałów
(210 ÷ 900) nm
selektywnych widmowo
(dla jednego wzorca przy
sześciu długościach fali)
0,00079•D² +
0,00103•D + 0,0035
dla
(210 ÷ 900) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
351,00
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
0 ÷ 3 Abs
przepuszczania
Zakres widmowy
kierunkowego materiałów
(210 ÷ 900) nm
selektywnych widmowo
(dla jednego wzorca przy
siedmiu długościach fali)
0,00079•D² +
0,00103•D + 0,0035
dla
(210 ÷ 900) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
409,50
Strona 35
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
ID
Obiektu
M2-114
M2-115
M2-116
M2-117
M2-118
M2-119
Dziedzina
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca wtórnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca wtórnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne) gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca wtórnego
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D)
wzorcowane
w siedzibie GUM
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D)
wzorcowane
w siedzibie GUM
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D)
wzorcowane
w siedzibie GUM
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
0 ÷ 3 Abs
przepuszczania
Zakres widmowy
kierunkowego materiałów
(210 ÷ 900) nm
selektywnych widmowo
(dla jednego wzorca przy
ośmiu długościach fali)
0,00079•D² +
0,00103•D + 0,0035
dla
(210 ÷ 900) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
468,00
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
0 ÷ 3 Abs
kierunkowego materiałów Zakres widmowy
selektywnych widmowo (210 ÷ 900) nm
(dla jednego wzorca przy
dziewięciu długościach
fali)
0,00079•D² +
0,00103•D + 0,0035
dla
(210 ÷ 900) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
526,50
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
0 ÷ 3 Abs
kierunkowego materiałów Zakres widmowy
selektywnych widmowo (210 ÷ 900) nm
(dla jednego wzorca przy
dziesięciu długościach
fali)
0,00079•D² +
0,00103•D + 0,0035
dla
(210 ÷ 900) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
585,00
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (przy dwóch
długościach fali)
0 ÷ 3 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
0,00079•D² +
0,00103•D + 0,0035
dla
(210 ÷ 900) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
585,00
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (przy trzech
długościach fali)
0 ÷ 3 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
0,00079•D² +
0,00103•D + 0,0035
dla
(210 ÷ 900) nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
780,00
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
0 ÷ 1 Abs
przepuszczania
Zakres widmowy
kierunkowego
(210 ÷ 900) nm
materiałów neutralnych
widmowo (przy czterech
długościach fali)
0,00083•D² +
0,0013•D + 0,0031
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
975,00
Strona 36
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
ID
Obiektu
M2-120
M2-121
M2-122
M2-123
M2-124
M2-125
Dziedzina
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D)
wzorcowane
w siedzibie GUM
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D)
wzorcowane
w siedzibie GUM
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D)
wzorcowane
w siedzibie GUM
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D)
wzorcowane
w siedzibie GUM
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D)
wzorcowane
w siedzibie GUM
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D)
wzorcowane w
siedzibie GUM
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (przy pięciu
długościach fali)
0 ÷ 1 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
0,00083•D² +
0,0013•D + 0,0031
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
1170,00
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (przy sześciu
długościach fali)
0 ÷ 1 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
0,00083•D² +
0,0013•D + 0,0031
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
1365,00
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (przy siedmiu
długościach fali)
0 ÷ 1 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
0,00083•D² +
0,0013•D + 0,0031
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
1560,00
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (przy ośmiu
długościach fali)
0 ÷ 1 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
0,00083•D² +
0,0013•D + 0,0031
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
1755,00
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (przy
dziewięciu długościach
fali)
0 ÷ 1 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
0,00083•D² +
0,0013•D + 0,0031
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
1950,00
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (przy
dziesięciu długościach
fali)
0 ÷ 1 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
0,00083•D² +
0,0013•D + 0,0031
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
2145,00
Strona 37
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
ID
Obiektu
M2-126
M2-127
Dziedzina
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
M2-128
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
M2-129
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
M2-130
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
M2-131
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Subdziedzina
Widmowe
właściwości
materiałów
Widmowe
właściwości
materiałów
Widmowe
właściwości
materiałów
Widmowe
właściwości
materiałów
Widmowe
właściwości
materiałów
Widmowe
właściwości
materiałów
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Spektrofotometry
z dyskretną skalą
długości fali (dla
gęstości optycznej
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D)
wzorcowane
w siedzibie GUM
Spektrofotometry
z dyskretną skalą
długości fali (dla
gęstości optycznej
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D)
wzorcowane
w siedzibie GUM
Spektrofotometry
z dyskretną skalą
długości fali (dla
gęstości optycznej
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D)
wzorcowane
w siedzibie GUM
Spektrofotometry
z dyskretną skalą
długości fali (dla
gęstości optycznej
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D)
wzorcowane
w siedzibie GUM
Spektrofotometry
z dyskretną skalą
długości fali (dla
gęstości optycznej
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D)
wzorcowane
w siedzibie GUM
Spektrofotometry
z dyskretną skalą
długości fali (dla
gęstości optycznej
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D)
wzorcowane
w siedzibie GUM
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (przy dwóch
długościach fali)
0 ÷ 1 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
0,00083•D² +
0,0013•D + 0,0031
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
585,00
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (przy trzech
długościach fali)
0 ÷ 1 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
0,00083•D² +
0,0013•D + 0,0031
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
780,00
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
0 ÷ 1 Abs
przepuszczania
Zakres widmowy
kierunkowego
(210 ÷ 900) nm
materiałów neutralnych
widmowo (przy czterech
długościach fali)
0,00083•D² +
0,0013•D + 0,0031
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
975,00
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (przy pięciu
długościach fali)
0 ÷ 1 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
0,00083•D² +
0,0013•D + 0,0031
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
1170,00
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (przy sześciu
długościach fali)
0 ÷ 1 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
0,00083•D² +
0,0013•D + 0,0031
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
1365,00
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (przy siedmiu
długościach fali)
0 ÷ 1 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
0,00083•D² +
0,0013•D + 0,0031
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
1560,00
Strona 38
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
ID
Obiektu
M2-132
M2-133
M2-134
M2-135
M2-136
Dziedzina
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Subdziedzina
Widmowe
właściwości
materiałów
Widmowe
właściwości
materiałów
Widmowe
właściwości
materiałów
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Spektrofotometry
z dyskretną skalą
długości fali (dla
gęstości optycznej
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D)
wzorcowane
w siedzibie GUM
Spektrofotometry
z dyskretną skalą
długości fali (dla
gęstości optycznej
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D)
wzorcowane
w siedzibie GUM
Spektrofotometry
z dyskretną skalą
długości fali (dla
gęstości optycznej
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D)
wzorcowane
w siedzibie GUM
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D)
wzorcowane poza
siedzibą GUM
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D)
wzorcowane poza
siedzibą GUM
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (przy ośmiu
długościach fali)
0 ÷ 1 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
0,00083•D² +
0,0013•D + 0,0031
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
1755,00
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (przy
dziewięciu długościach
fali)
0 ÷ 1 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
0,00083•D² +
0,0013•D + 0,0031
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
1950,00
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (przy
dziesięciu długościach
fali)
0 ÷ 1 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
0,00083•D² +
0,0013•D + 0,0031
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
2145,00
W
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (przy dwóch
długościach fali)
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (przy trzech
długościach fali)
0 ÷ 1 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
0 ÷ 1 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
0,00083•D² +
0,0013•D + 0,0031
0,00083•D² +
0,0013•D + 0,0031
Strona 39
NIE
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
P
W przypadku
przyrządów o
bardzo dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego,
lub zgłoszenia
wielu przyrządów
naraz.
P
W przypadku
przyrządów o
bardzo dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego,
lub zgłoszenia
wielu przyrządów
naraz.
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
M21
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
780,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
M21
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
975,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
ID
Obiektu
M2-137
M2-138
M2-139
M2-140
Dziedzina
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Subdziedzina
Widmowe
właściwości
materiałów
Widmowe
właściwości
materiałów
Widmowe
właściwości
materiałów
Widmowe
właściwości
materiałów
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D)
wzorcowane poza
siedzibą GUM
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D)
wzorcowane poza
siedzibą GUM
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D)
wzorcowane poza
siedzibą GUM
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D)
wzorcowane poza
siedzibą GUM
W
W
W
W
Wzorcowanie wielkość mierzona
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (przy czterech
długościach fali)
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (przy pięciu
długościach fali)
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (przy sześciu
długościach fali)
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (przy siedmiu
długościach fali)
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
0 ÷ 1 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
0 ÷ 1 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
0 ÷ 1 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
0 ÷ 1 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
0,00083•D² +
0,0013•D + 0,0031
0,00083•D² +
0,0013•D + 0,0031
0,00083•D² +
0,0013•D + 0,0031
0,00083•D² +
0,0013•D + 0,0031
Strona 40
CMC
NIE
NIE
NIE
NIE
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
P
W przypadku
przyrządów o
bardzo dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego,
lub zgłoszenia
wielu przyrządów
naraz.
P
W przypadku
przyrządów o
bardzo dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego,
lub zgłoszenia
wielu przyrządów
naraz.
P
W przypadku
przyrządów o
bardzo dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego,
lub zgłoszenia
wielu przyrządów
naraz.
P
W przypadku
przyrządów o
bardzo dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego,
lub zgłoszenia
wielu przyrządów
naraz.
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
M21
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
1170,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
M21
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
1365,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
M21
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
1560,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
M21
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
1755,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
ID
Obiektu
M2-141
M2-142
M2-143
M2-144
Dziedzina
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Subdziedzina
Widmowe
właściwości
materiałów
Widmowe
właściwości
materiałów
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D)
wzorcowane poza
siedzibą GUM
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D)
wzorcowane poza
siedzibą GUM
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla gęstości
optycznej widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D)
wzorcowane poza
siedzibą GUM
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z dyskretną skalą
długości fali (dla
gęstości optycznej
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D)
wzorcowane poza
siedzibą GUM
W
W
W
W
Wzorcowanie wielkość mierzona
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (przy ośmiu
długościach fali)
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (przy
dziewięciu długościach
fali)
0 ÷ 1 Abs
widmowy
nm
Zakres
0,00083•D² +
(210 ÷ 900)
0,0013•D + 0,0031
0 ÷ 1 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
0 ÷ 1 Abs
przepuszczania
Zakres widmowy
kierunkowego
(210 ÷ 900) nm
materiałów neutralnych
widmowo (przy dziesięciu
długościach fali)
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (przy dwóch
długościach fali)
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
0 ÷ 1 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
0,00083•D² +
0,0013•D + 0,0031
0,00083•D² +
0,0013•D + 0,0031
0,00083•D² +
0,0013•D + 0,0031
Strona 41
CMC
NIE
NIE
NIE
NIE
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
P
W przypadku
przyrządów o
bardzo dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego,
lub zgłoszenia
wielu przyrządów
naraz.
P
W przypadku
przyrządów o
bardzo dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego,
lub zgłoszenia
wielu przyrządów
naraz.
P
W przypadku
przyrządów o
bardzo dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego,
lub zgłoszenia
wielu przyrządów
naraz.
P
W przypadku
przyrządów o
bardzo dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego,
lub zgłoszenia
wielu przyrządów
naraz.
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
M21
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
1950,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
M21
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
2145,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
M21
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
2340,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
M21
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
780,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
ID
Obiektu
M2-145
M2-146
M2-147
M2-148
Dziedzina
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z dyskretną skalą
długości fali (dla
gęstości optycznej
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D)
wzorcowane poza
siedzibą GUM
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z dyskretną skalą
długości fali (dla
gęstości optycznej
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D)
wzorcowane poza
siedzibą GUM
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z dyskretną skalą
długości fali (dla
gęstości optycznej
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D)
wzorcowane poza
siedzibą GUM
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z dyskretną skalą
długości fali (dla
gęstości optycznej
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D)
wzorcowane poza
siedzibą GUM
W
W
W
W
Wzorcowanie wielkość mierzona
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (przy trzech
długościach fali)
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (przy czterech
długościach fali)
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (przy pięciu
długościach fali)
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (przy sześciu
długościach fali)
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
0 ÷ 1 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
0 ÷ 1 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
0 ÷ 1 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
0 ÷ 1 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
0,00083•D² +
0,0013•D + 0,0031
0,00083•D² +
0,0013•D + 0,0031
0,00083•D² +
0,0013•D + 0,0031
0,00083•D² +
0,0013•D + 0,0031
Strona 42
CMC
NIE
NIE
NIE
NIE
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
P
W przypadku
przyrządów o
bardzo dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego,
lub zgłoszenia
wielu przyrządów
naraz.
P
W przypadku
przyrządów o
bardzo dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego,
lub zgłoszenia
wielu przyrządów
naraz.
P
W przypadku
przyrządów o
bardzo dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego,
lub zgłoszenia
wielu przyrządów
naraz.
P
W przypadku
przyrządów o
bardzo dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego,
lub zgłoszenia
wielu przyrządów
naraz.
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
M21
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
975,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
M21
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
1170,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
M21
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
1365,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
M21
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
1560,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
ID
Obiektu
M2-149
M2-150
M2-151
M2-152
M2-153
Dziedzina
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z dyskretną skalą
długości fali (dla
gęstości optycznej
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D)
wzorcowane poza
siedzibą GUM
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z dyskretną skalą
długości fali (dla
gęstości optycznej
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D)
wzorcowane poza
siedzibą GUM
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z dyskretną skalą
długości fali (dla
gęstości optycznej
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D)
wzorcowane poza
siedzibą GUM
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z dyskretną skalą
długości fali (dla
gęstości optycznej
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego D)
wzorcowane poza
siedzibą GUM
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce długości fali
wzorcowane w
odniesieniu do wzorca
pierwotnego
W
W
W
Wzorcowanie wielkość mierzona
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (przy siedmiu
długościach fali)
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (przy ośmiu
długościach fali)
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
przepuszczania
kierunkowego
materiałów neutralnych
widmowo (przy
dziewięciu długościach
fali)
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
0 ÷ 1 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
0 ÷ 1 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
0 ÷ 1 Abs
Zakres widmowy
(210 ÷ 900) nm
0,00083•D² +
0,0013•D + 0,0031
0,00083•D² +
0,0013•D + 0,0031
0,00083•D² +
0,0013•D + 0,0031
CMC
NIE
NIE
NIE
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
P
W przypadku
przyrządów o
bardzo dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego,
lub zgłoszenia
wielu przyrządów
naraz.
P
W przypadku
przyrządów o
bardzo dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego,
lub zgłoszenia
wielu przyrządów
naraz.
P
W przypadku
przyrządów o
bardzo dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego,
lub zgłoszenia
wielu przyrządów
naraz.
W przypadku
przyrządów o
bardzo dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego,
lub zgłoszenia
wielu przyrządów
naraz.
W
gęstość optyczna
widmowego
współczynnika
0 ÷ 1 Abs
przepuszczania
Zakres widmowy
kierunkowego
(210 ÷ 900) nm
materiałów neutralnych
widmowo (przy dziesięciu
długościach fali)
0,00083•D² +
0,0013•D + 0,0031
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
P
W
długość fali dla materiału
selektywnie
przepuszczającego
promieniowanie (dla
Zakres widmowy
jednego wzorca przy
(200 ÷ 900) nm
jednej połówkowej
szerokości widmowej
szczeliny wyjściowej)
0,14 nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
Strona 43
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
M21
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
1755,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
M21
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
1950,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
M21
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
2145,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
M21
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
2340,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
M21
338,00
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
M2-154
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce długości fali
wzorcowane w
odniesieniu do wzorca
pierwotnego
W
M2-155
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce długości fali
wzorcowane w
odniesieniu do wzorca
pierwotnego
W
M2-156
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce długości fali
wzorcowane w
odniesieniu do wzorca
pierwotnego
W
M2-157
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce długości fali
wzorcowane w
odniesieniu do wzorca
pierwotnego
W
M2-158
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce długości fali
wzorcowane w
odniesieniu do wzorca
pierwotnego
W
M2-159
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce długości fali
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
W
M2-160
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce długości fali
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
W
Wzorcowanie wielkość mierzona
długość fali dla materiału
selektywnie
przepuszczającego
promieniowanie (dla
jednego wzorca przy
dwóch połówkowych
szerokościach
widmowych szczeliny
wyjściowej)
długość fali dla materiału
selektywnie
przepuszczającego
promieniowanie (dla
jednego wzorca przy
trzech połówkowych
szerokościach
widmowych szczeliny
wyjściowej)
długość fali dla materiału
selektywnie
przepuszczającego
promieniowanie (dla
jednego wzorca przy
czterech połówkowych
szerokościach
widmowych szczeliny
wyjściowej)
długość fali dla materiału
selektywnie
przepuszczającego
promieniowanie (dla
jednego wzorca przy
pięciu połówkowych
szerokościach
widmowych szczeliny
wyjściowej)
długość fali dla materiału
selektywnie
przepuszczającego
promieniowanie (dla
jednego wzorca przy
jednej połówkowej
szerokości widmowej
szczeliny wyjściowej)
długość fali dla materiału
selektywnie
przepuszczającego
promieniowanie (dla
jednego wzorca przy
dwóch połówkowych
szerokościach
widmowych szczeliny
wyjściowej)
długość fali dla materiału
selektywnie
przepuszczającego
promieniowanie (dla
jednego wzorca przy
trzech połówkowych
szerokościach
widmowych szczeliny
wyjściowej)
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
Zakres widmowy
(200 ÷ 900) nm
0,14 nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
650,00
Zakres widmowy
(200 ÷ 900) nm
0,14 nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
962,00
Zakres widmowy
(200 ÷ 900) nm
0,14 nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
1274,00
Zakres widmowy
(200 ÷ 900) nm
0,14 nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
1586,00
Zakresy widmowe
(200 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 3000) nm
0,14 nm, 0,50 nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
377,00
Zakresy widmowe
(200 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 3000) nm
0,14 nm, 0,50 nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
715,00
Zakresy widmowe
(200 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 3000) nm
0,14 nm, 0,50 nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
1053,00
Strona 44
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
M2-161
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce długości fali
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
W
M2-162
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce długości fali
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca pierwotnego
W
M2-163
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce długości fali
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca wtórnego
W
M2-164
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce długości fali
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca wtórnego
W
M2-165
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce długości fali
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca wtórnego
W
M2-166
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce długości fali
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca wtórnego
W
M2-167
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Widmowe
właściwości
materiałów
Wzorce długości fali
wzorcowane
w odniesieniu do
wzorca wtórnego
W
Wzorcowanie wielkość mierzona
długość fali dla materiału
selektywnie
przepuszczającego
promieniowanie (dla
jednego wzorca przy
czterech połówkowych
szerokościach
widmowych szczeliny
wyjściowej)
długość fali dla materiału
selektywnie
przepuszczającego
promieniowanie (dla
jednego wzorca przy
pięciu połówkowych
szerokościach
widmowych szczeliny
wyjściowej)
długość fali dla materiału
selektywnie
przepuszczającego
promieniowanie (dla
jednego wzorca przy
jednej połówkowej
szerokości widmowej
szczeliny wyjściowej)
długość fali dla materiału
selektywnie
przepuszczającego
promieniowanie (dla
jednego wzorca przy
dwóch połówkowych
szerokościach
widmowych szczeliny
wyjściowej)
długość fali dla materiału
selektywnie
przepuszczającego
promieniowanie (dla
jednego wzorca przy
trzech połówkowych
szerokościach
widmowych szczeliny
wyjściowej)
długość fali dla materiału
selektywnie
przepuszczającego
promieniowanie (dla
jednego wzorca przy
czterech połówkowych
szerokościach
widmowych szczeliny
wyjściowej)
długość fali dla materiału
selektywnie
przepuszczającego
promieniowanie (dla
jednego wzorca przy
pięciu połówkowych
szerokościach
widmowych szczeliny
wyjściowej)
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
Zakresy widmowe
(200 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 3000) nm
0,14 nm, 0,50 nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
1391,00
Zakresy widmowe
(200 ÷ 900) nm,
(900 ÷ 3000) nm
0,14 nm; 0,50 nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
1729,00
Zakres widmowy
(200 ÷ 900) nm
0,25 nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
221,00
Zakres widmowy
(200 ÷ 900) nm
0,25 nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
396,50
Zakres widmowy
(200 ÷ 900) nm
0,25 nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
572,00
Zakres widmowy
(200 ÷ 900) nm
0,25 nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
747,50
Zakres widmowy
(200 ÷ 900) nm
0,25 nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
923,00
Strona 45
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
ID
Obiektu
M2-168
M2-169
M2-170
M2-171
M2-172
Dziedzina
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Subdziedzina
Widmowe
właściwości
materiałów
Widmowe
właściwości
materiałów
Widmowe
właściwości
materiałów
Widmowe
właściwości
materiałów
Widmowe
właściwości
materiałów
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla długości fali)
wzorcowane
w siedzibie GUM
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla długości fali)
wzorcowane
w siedzibie GUM
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla długości fali)
wzorcowane
w siedzibie GUM
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla długości fali)
wzorcowane
w siedzibie GUM
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla długości fali)
wzorcowane poza
siedzibą GUM
Wzorcowanie wielkość mierzona
W
długość fali dla materiału
selektywnie
Zakresy widmowe
przepuszczającego
(200 ÷ 900) nm,
promieniowanie (dla
(900 ÷ 2100) nm
dwóch punktów skali
długości fali)
W
długość fali dla materiału
selektywnie
Zakresy widmowe
przepuszczającego
(200 ÷ 900) nm,
promieniowanie (dla
(900 ÷ 2100) nm
trzech punktów skali
długości fali)
W
W
W
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
długość fali dla materiału
selektywnie
Zakresy widmowe
przepuszczającego
(200 ÷ 900) nm,
promieniowanie (dla
(900 ÷ 2100) nm
czterech punktów skali
długości fali)
długość fali dla materiału
selektywnie
Zakresy widmowe
przepuszczającego
(200 ÷ 900) nm,
promieniowanie (dla
(900 ÷ 2100) nm
pięciu punktów skali
długości fali)
długość fali dla materiału
selektywnie
Zakresy widmowe
przepuszczającego
(200 ÷ 900) nm,
promieniowanie (dla
(900 ÷ 2100) nm
dwóch punktów skali
długości fali)
0,17 nm, 0,51 nm
0,17 nm, 0,51 nm
0,17 nm, 0,51 nm
0,17 nm, 0,51 nm
0,17 nm, 0,51 nm
Strona 46
CMC
NIE
NIE
NIE
NIE
NIE
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
G
G
G
G
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
M21
usługa realiz. z usł.
wykonywaną dla
spektrofot. z ciągłą
skalą dł. fali w GUM
dla widm. współcz.
130,00
przepuszczania
kierunkowego τ lub
dla gęstości optycznej
widm. współcz. przep.
kier. D
M21
usługa realiz. z usł.
wykonywaną dla
spektrofot. z ciągłą
skalą dł. fali w GUM
dla widm. współcz.
195,00
przepuszczania
kierunkowego τ lub
dla gęstości optycznej
widm. współcz. przep.
kier. D
M21
usługa realiz. z usł.
wykonywaną dla
spektrofot. z ciągłą
skalą dł. fali w GUM
dla widm. współcz.
260,00
przepuszczania
kierunkowego τ lub
dla gęstości optycznej
widm. współcz. przep.
kier. D
M21
usługa realiz. z usł.
wykonywaną dla
spektrofot. z ciągłą
skalą dł. fali w GUM
dla widm. współcz.
325,00
przepuszczania
kierunkowego τ lub
dla gęstości optycznej
widm. współcz. przep.
kier. D
M21
Do ceny należy dod.
rzecz. koszty zakw.,
podr. i diety del.; usł.
realiz. z usługą
wykonaną dla
spektrofot. z ciągłą
130,00
skalą dł. fali poza
GUM dla widm.
współcz. przep. kier. τ
lub dla gęst. opt.
widm. współcz. przep.
kier. D
ID
Obiektu
M2-173
M2-174
M2-175
M2-176
M2-177
M2-178
Dziedzina
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Subdziedzina
Widmowe
właściwości
materiałów
Widmowe
właściwości
materiałów
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla długości fali)
wzorcowane poza
siedzibą GUM
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla długości fali)
wzorcowane poza
siedzibą GUM
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Widmowe
właściwości
materiałów
Spektrofotometry
z ciągłą skalą długości
fali (dla długości fali)
wzorcowane poza
siedzibą GUM
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
achromatyczne
i barwne widmowego
współczynnika
przepuszczania
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
achromatyczne
i barwne widmowego
współczynnika
przepuszczania
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
achromatyczne
i barwne widmowego
współczynnika
przepuszczania
W
W
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
długość fali dla materiału
selektywnie
Zakresy widmowe
przepuszczającego
(200 ÷ 900) nm,
promieniowanie (dla
(900 ÷ 2100) nm
trzech punktów skali
długości fali)
długość fali dla materiału
selektywnie
Zakresy widmowe
przepuszczającego
(200 ÷ 900) nm,
promieniowanie (dla
(900 ÷ 2100) nm
czterech punktów skali
długości fali)
0,17 nm, 0,51 nm
0,17 nm, 0,51 nm
CMC
NIE
NIE
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
G
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
M21
Do ceny należy dod.
rzecz. koszty zakw.,
podr. i diety del.; usł.
realiz. z usługą
wykonaną dla
spektrofot. z ciągłą
195,00
skalą dł. fali poza
GUM dla widm.
współcz. przep. kier. τ
lub dla gęst. opt.
widm. współcz. przep.
kier. D
M21
Do ceny należy dod.
rzecz. koszty zakw.,
podr. i diety del.; usł.
realiz. z usługą
wykonaną dla
spektrofot. z ciągłą
260,00
skalą dł. fali poza
GUM dla widm.
współcz. przep. kier. τ
lub dla gęst. opt.
widm. współcz. przep.
kier. D
W
długość fali dla materiału
selektywnie
Zakresy widmowe
przepuszczającego
(200 ÷ 900) nm,
promieniowanie (dla
(900 ÷ 2100) nm
pięciu punktów skali
długości fali)
0,17 nm, 0,51 nm
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
Do ceny należy dod.
rzecz. koszty zakw.,
podr. i diety del.; usł.
realiz. z usługą
wykonaną dla
spektrofot. z ciągłą
325,00
skalą dł. fali poza
GUM dla widm.
współcz. przep. kier. τ
lub dla gęst. opt.
widm. współcz. przep.
kier. D
W
widmowy współczynnik
przepuszczania w celu
wyznaczenia składowych
0,001 ÷ 1,000
trójchromatycznych (X, Y,
Zakres widmowy
Z) i współrzędnych
(380 ÷ 780) nm
chromatyczności (x,y)
(dla jednego wzorca i
jednego iluminantu)
Iluminant A
Obserwator CIE 1931
normalny (2o) filtr
czerwony
NIE
X 0,131
Y 0,082
Z < 0,001
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
676,00
W
widmowy współczynnik
przepuszczania w celu
wyznaczenia składowych
0,001 ÷ 1,000
trójchromatycznych (X, Y,
Zakres widmowy
Z) i współrzędnych
(380 ÷ 780) nm
chromatyczności (x,y)
(dla jednego wzorca i
dwóch iluminantów)
Iluminant A
Obserwator CIE 1931
normalny (2o) filtr
czerwony
NIE
X 0,131
Y 0,082
Z < 0,001
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
767,00
W
widmowy współczynnik
przepuszczania w celu
wyznaczenia składowych
0,001 ÷ 1,000
trójchromatycznych (X, Y,
Zakres widmowy
Z) i współrzędnych
(380 ÷ 780) nm
chromatyczności (x,y)
(dla jednego wzorca i
trzech iluminantów)
Iluminant A
Obserwator CIE 1931
normalny (2o) filtr
czerwony
NIE
X 0,131
Y 0,082
Z < 0,001
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
858,00
Strona 47
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
achromatyczne
i barwne widmowego
współczynnika
przepuszczania
M2-180
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
achromatyczne
i barwne widmowego
współczynnika
przepuszczania
M2-181
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Widmowe
właściwości
materiałów
M2-182
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Widmowe
właściwości
materiałów
M2-183
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Widmowe
właściwości
materiałów
M2-184
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Widmowe
właściwości
materiałów
M2-185
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Widmowe
właściwości
materiałów
M2-186
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Widmowe
właściwości
materiałów
M2-187
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Widmowe
właściwości
materiałów
M2-188
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Widmowe
właściwości
materiałów
M2-189
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Widmowe
właściwości
materiałów
M2-179
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
W
widmowy współczynnik
przepuszczania w celu
wyznaczenia składowych
0,001 ÷ 1,000
trójchromatycznych (X, Y,
Zakres widmowy
Z) i współrzędnych
(380 ÷ 780) nm
chromatyczności (x,y)
(dla jednego wzorca i
czterech iluminantów)
Iluminant A
Obserwator CIE 1931
normalny (2o) filtr
czerwony
NIE
X 0,131
Y 0,082
Z < 0,001
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
949,00
W
widmowy współczynnik
przepuszczania w celu
wyznaczenia składowych
0,001 ÷ 1,000
trójchromatycznych (X, Y,
Zakres widmowy
Z) i współrzędnych
(380 ÷ 780) nm
chromatyczności (x,y)
(dla jednego wzorca i
pięciu iluminantów)
Iluminant A
Obserwator CIE 1931
normalny (2o) filtr
czerwony
NIE
X 0,131
Y 0,082
Z < 0,001
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M21
1040,00
W
widmowy współczynnik
odbicia rozproszonego
(380 ÷ 780) nm,
co 10 nm
0,0013 + 0,0053·ρ
TAK
PTB
G
M22
520,00
W
widmowy współczynnik
odbicia rozproszonego
(780 ÷ 1400) nm,
co 10 nm
0,0013 + 0,0053·ρ
NIE
PTB
G
M22
650,00
W
widmowy współczynnik
odbicia rozproszonego
(1400 ÷ 2400) nm,
co 100 nm
0,0013 + 0,0053·ρ
NIE
PTB
G
M22
520,00
W
widmowy współczynnik
odbicia rozproszonego
(380 ÷ 780) nm,
co 10 nm i
(780 ÷ 1400) nm,
co 10 nm
0,0013 + 0,0053·ρ
NIE
PTB
G
M22
845,00
W
widmowy współczynnik
odbicia rozproszonego
(380 ÷ 780) nm,
co 10 nm i
(1400 ÷ 2400) nm,
co 100 nm
0,0013 + 0,0053·ρ
NIE
PTB
G
M22
715,00
W
widmowy współczynnik
odbicia rozproszonego
(780 ÷ 1400) nm,
co 10 nm i
(1400 ÷ 2400) nm,
co 100 nm
0,0013 + 0,0053·ρ
NIE
PTB
G
M22
845,00
W
widmowy współczynnik
odbicia rozproszonego
(380 ÷ 780) nm,
co 10 nm i
(780 ÷ 1400) nm,
co 10 nm i
(1400 ÷ 2400) nm,
co 100 nm
0,0013 + 0,0053·ρ
NIE
PTB
G
M22
1040,00
W
widmowy współczynnik
odbicia rozproszonego
(380 ÷ 780) nm,
co 20 nm
0,0013 + 0,0053·ρ
TAK
PTB
G
M22
455,00
W
widmowy współczynnik
odbicia rozproszonego
(780 ÷ 1400) nm,
co 20 nm
0,0013 + 0,0053·ρ
NIE
PTB
G
M22
585,00
Strona 48
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
M2-190
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Widmowe
właściwości
materiałów
M2-191
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Widmowe
właściwości
materiałów
M2-192
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Widmowe
właściwości
materiałów
M2-193
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Widmowe
właściwości
materiałów
M2-194
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Widmowe
właściwości
materiałów
M2-195
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Widmowe
właściwości
materiałów
M2-196
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Widmowe
właściwości
materiałów
M2-197
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Widmowe
właściwości
materiałów
M2-198
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Widmowe
właściwości
materiałów
M2-199
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Widmowe
właściwości
materiałów
M2-200
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Widmowe
właściwości
materiałów
M2-201
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
d:8°
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
d:0°
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
d:0°
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
W
widmowy współczynnik
odbicia rozproszonego
(380 ÷ 780) nm,
co 20 nm i
(780 ÷ 1400) nm,
co 20 nm
0,0013 + 0,0053·ρ
NIE
PTB
G
M22
715,00
W
widmowy współczynnik
odbicia rozproszonego
(380 ÷ 780) nm,
co 20 nm i
(1400 ÷ 2400) nm,
co 100 nm
0,0013 + 0,0053·ρ
NIE
PTB
G
M22
650,00
W
widmowy współczynnik
odbicia rozproszonego
(780 ÷ 1400) nm,
co 20 nm i
(1400 ÷ 2400) nm,
co 100 nm
0,0013 + 0,0053·ρ
NIE
PTB
G
M22
780,00
W
widmowy współczynnik
odbicia rozproszonego
(380 ÷ 780) nm,
co 20 nm i
(780 ÷ 1400) nm,
co 20 nm i
(1400 ÷ 2400) nm,
co 100 nm
0,0013 + 0,0053·ρ
NIE
PTB
G
M22
910,00
W
widmowy współczynnik
luminancji
(400 ÷ 700) nm,
co 20 nm
0,0013 + 0,0070·ρ
NIE
GUM
G
M22
455,00
W
widmowy współczynnik
luminancji
(380 ÷ 700) nm,
co 10 nm
0,0013 + 0,0070·ρ
NIE
GUM
G
M22
520,00
W
widmowy współczynnik
luminancji) piąty i
następny wzorzec
(380 ÷ 700) nm,
co 10 nm
0,0013 + 0,0070·ρ
NIE
GUM
G
M22
260,00
W
widmowy współczynnik
luminancji
(400 ÷ 700) nm,
co 10 nm
0,0013 + 0,0070·ρ
NIE
GUM
G
M22
520,00
W
widmowy współczynnik
luminancji) piąty i
następny wzorzec
(400 ÷ 700) nm,
co 10 nm
0,0013 + 0,0070·ρ
NIE
GUM
G
M22
260,00
W
widmowy współczynnik
luminancji
(400 ÷ 700) nm,
co 10 nm
0,0013 + 0,0070·ρ
NIE
NPL
G
M22
520,00
W
widmowy współczynnik
luminancji) piąty i
następny wzorzec
(400 ÷ 700) nm,
co 10 nm
0,0013 + 0,0070·ρ
NIE
NPL
G
M22
260,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla jednego iluminantu i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
520,00
Strona 49
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
M2-202
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-203
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-204
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-205
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-206
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-207
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-208
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-209
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-210
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla jednego iluminantu i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
260,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla dwóch iluminantów i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
650,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla dwóch iluminantów i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
390,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla trzech iluminantów i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
780,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla trzech iluminantów i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
520,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla jednego iluminantu i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
650,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla jednego iluminantu i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
390,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla dwóch iluminantów i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
780,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla dwóch iluminantów i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
520,00
Strona 50
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
M2-211
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-212
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-213
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-214
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-215
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-216
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-217
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-218
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-219
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla trzech iluminantów i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
niepewność
pomiar widmowego
przykładowego
współczynnika luminancji wzorca białego
w zakresie (380 ÷ 700) Y ± 0,58;
nm
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
910,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla trzech iluminantów i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
650,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla jednego iluminantu i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
520,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla jednego iluminantu i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
260,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla dwóch iluminantów i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
650,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla dwóch iluminantów i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
390,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla trzech iluminantów i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
780,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla trzech iluminantów i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
520,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla jednego iluminantu i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
650,00
Strona 51
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
M2-220
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-221
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-222
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-223
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-224
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-225
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-226
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-227
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-228
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla jednego iluminantu i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
390,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla dwóch iluminantów i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
780,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla dwóch iluminantów i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
520,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla trzech iluminantów i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
910,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla trzech iluminantów i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
650,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla jednego iluminantu i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
520,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla jednego iluminantu i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
260,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla dwóch iluminantów i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
650,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla dwóch iluminantów i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
390,00
Strona 52
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
M2-229
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-230
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-231
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-232
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-233
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-234
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-235
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-236
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-237
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla trzech iluminantów i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
niepewność
pomiar widmowego
przykładowego
współczynnika luminancji wzorca białego
w zakresie (380 ÷ 700) Y ± 0,64;
nm
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
780,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla trzech iluminantów i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
520,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla jednego iluminantu i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
650,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla jednego iluminantu i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
390,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla dwóch iluminantów i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
780,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla dwóch iluminantów i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
520,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla trzech iluminantów i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
910,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla trzech iluminantów i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
650,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla jednego iluminantu i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
520,00
Strona 53
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
M2-238
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-239
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-240
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-241
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-242
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-243
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-244
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-245
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-246
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla jednego iluminantu i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
260,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla dwóch iluminantów i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
650,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla dwóch iluminantów i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
390,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla trzech iluminantów i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
780,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla trzech iluminantów i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
520,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla jednego iluminantu i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
650,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla jednego iluminantu i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
390,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla dwóch iluminantów i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
780,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla dwóch iluminantów i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
520,00
Strona 54
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
M2-247
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-248
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-249
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-250
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-251
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-252
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-253
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-254
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-255
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla trzech iluminantów i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
niepewność
pomiar widmowego
przykładowego
współczynnika luminancji wzorca białego
w zakresie (400 ÷ 700) Y ± 0,64;
nm
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
910,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla trzech iluminantów i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
GUM
G
M22
650,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla jednego iluminantu i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,60;
Y ± 0,63;
Z ± 0,67
NIE
GUM
G
M22
520,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla jednego iluminantu i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,60;
Y ± 0,63;
Z ± 0,67
NIE
GUM
G
M22
260,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla dwóch iluminantów i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,60;
Y ± 0,63;
Z ± 0,67
NIE
GUM
G
M22
650,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla dwóch iluminantów i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,60;
Y ± 0,63;
Z ± 0,67
NIE
GUM
G
M22
390,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla trzech iluminantów i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,60;
Y ± 0,63;
Z ± 0,67
NIE
GUM
G
M22
780,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla trzech iluminantów i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,60;
Y ± 0,63;
Z ± 0,67
NIE
GUM
G
M22
520,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla jednego iluminantu i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,60;
Y ± 0,63;
Z ± 0,67
NIE
GUM
G
M22
650,00
Strona 55
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
M2-256
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-257
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-258
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-259
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-260
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-261
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-262
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-263
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-264
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla jednego iluminantu i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,60;
Y ± 0,63;
Z ± 0,67
NIE
GUM
G
M22
390,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla dwóch iluminantów i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,60;
Y ± 0,63;
Z ± 0,67
NIE
GUM
G
M22
780,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla dwóch iluminantów i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,60;
Y ± 0,63;
Z ± 0,67
NIE
GUM
G
M22
520,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla trzech iluminantów i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,60;
Y ± 0,63;
Z ± 0,67
NIE
GUM
G
M22
910,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla trzech iluminantów i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,60;
Y ± 0,63;
Z ± 0,67
NIE
GUM
G
M22
650,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla jednego iluminantu i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,55;
Y ± 0,58;
Z ± 0,60
NIE
GUM
G
M22
520,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla jednego iluminantu i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,55;
Y ± 0,58;
Z ± 0,60
NIE
GUM
G
M22
260,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla dwóch iluminantów i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,55;
Y ± 0,58;
Z ± 0,60
NIE
GUM
G
M22
650,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla dwóch iluminantów i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,55;
Y ± 0,58;
Z ± 0,60
NIE
GUM
G
M22
390,00
Strona 56
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
M2-265
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-266
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-267
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-268
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-269
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-270
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-271
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-272
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-273
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla trzech iluminantów i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
niepewność
pomiar widmowego
przykładowego
współczynnika luminancji wzorca białego
w zakresie (400 ÷ 700) X ± 0,55;
nm
Y ± 0,58;
Z ± 0,60
NIE
GUM
G
M22
780,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla trzech iluminantów i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,55;
Y ± 0,58;
Z ± 0,60
NIE
GUM
G
M22
520,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla jednego iluminantu i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,55;
Y ± 0,58;
Z ± 0,60
NIE
GUM
G
M22
650,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla jednego iluminantu i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,55;
Y ± 0,58;
Z ± 0,60
NIE
GUM
G
M22
390,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla dwóch iluminantów i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,55;
Y ± 0,58;
Z ± 0,60
NIE
GUM
G
M22
780,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla dwóch iluminantów i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,55;
Y ± 0,58;
Z ± 0,60
NIE
GUM
G
M22
520,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla trzech iluminantów i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,55;
Y ± 0,58;
Z ± 0,60
NIE
GUM
G
M22
910,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla trzech iluminantów i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,55;
Y ± 0,58;
Z ± 0,60
NIE
GUM
G
M22
650,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla jednego iluminantu i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,55;
Y ± 0,57;
Z ± 0,63
NIE
GUM
G
M22
520,00
Strona 57
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
M2-274
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-275
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-276
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-277
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-278
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-279
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-280
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-281
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-282
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla jednego iluminantu i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,55;
Y ± 0,57;
Z ± 0,63
NIE
GUM
G
M22
260,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla dwóch iluminantów i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,55;
Y ± 0,57;
Z ± 0,63
NIE
GUM
G
M22
650,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla dwóch iluminantów i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,55;
Y ± 0,57;
Z ± 0,63
NIE
GUM
G
M22
390,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla trzech iluminantów i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,55;
Y ± 0,57;
Z ± 0,63
NIE
GUM
G
M22
780,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla trzech iluminantów i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,55;
Y ± 0,57;
Z ± 0,63
NIE
GUM
G
M22
520,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla jednego iluminantu i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,55;
Y ± 0,57;
Z ± 0,63
NIE
GUM
G
M22
650,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla jednego iluminantu i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,55;
Y ± 0,57;
Z ± 0,63
NIE
GUM
G
M22
390,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla dwóch iluminantów i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,55;
Y ± 0,57;
Z ± 0,63
NIE
GUM
G
M22
780,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla dwóch iluminantów i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,55;
Y ± 0,57;
Z ± 0,63
NIE
GUM
G
M22
520,00
Strona 58
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
M2-283
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-284
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-285
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-286
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-287
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-288
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-289
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-290
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-291
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla trzech iluminantów i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
niepewność
pomiar widmowego
przykładowego
współczynnika luminancji wzorca białego
w zakresie (380 ÷ 700) X ± 0,55;
nm
Y ± 0,57;
Z ± 0,63
NIE
GUM
G
M22
910,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla trzech iluminantów i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,55;
Y ± 0,57;
Z ± 0,63
NIE
GUM
G
M22
650,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla jednego iluminantu i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,75;
Y ± 0,79;
Z ± 0,87
NIE
GUM
G
M22
520,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla jednego iluminantu i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,75;
Y ± 0,79;
Z ± 0,87
NIE
GUM
G
M22
260,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla dwóch iluminantów i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,75;
Y ± 0,79;
Z ± 0,87
NIE
GUM
G
M22
650,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla dwóch iluminantów i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,75;
Y ± 0,79;
Z ± 0,87
NIE
GUM
G
M22
390,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla trzech iluminantów i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,75;
Y ± 0,79;
Z ± 0,87
NIE
GUM
G
M22
780,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla trzech iluminantów i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,75;
Y ± 0,79;
Z ± 0,87
NIE
GUM
G
M22
520,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla jednego iluminantu i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,75;
Y ± 0,79;
Z ± 0,87
NIE
GUM
G
M22
650,00
Strona 59
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
M2-292
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-293
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-294
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-295
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-296
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-297
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-298
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-299
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-300
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla jednego iluminantu i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,75;
Y ± 0,79;
Z ± 0,87
NIE
GUM
G
M22
390,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla dwóch iluminantów i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,75;
Y ± 0,79;
Z ± 0,87
NIE
GUM
G
M22
780,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla dwóch iluminantów i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,75;
Y ± 0,79;
Z ± 0,87
NIE
GUM
G
M22
520,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla trzech iluminantów i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,75;
Y ± 0,79;
Z ± 0,87
NIE
GUM
G
M22
910,00
W
Parametry
kolorymetryczne X, Y, Z
(dla trzech iluminantów i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
X ± 0,75;
Y ± 0,79;
Z ± 0,87
NIE
GUM
G
M22
650,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla jednego
iluminantu i jednego
obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
NIE
GUM
G
M22
520,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla jednego
iluminantu i jednego
obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
NIE
GUM
G
M22
260,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla dwóch
iluminantów i jednego
obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
NIE
GUM
G
M22
650,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla dwóch
iluminantów i jednego
obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
NIE
GUM
G
M22
390,00
Strona 60
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
M2-301
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-302
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-303
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-304
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-305
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-306
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-307
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-308
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-309
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla trzech
iluminantów i jednego
obserwatora
kolorymetrycznego)
niepewność
pomiar widmowego
przykładowego
współczynnika luminancji wzorca białego
w zakresie (380 ÷ 700) L* ± 0,24;
nm
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
NIE
GUM
G
M22
780,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla trzech
iluminantów i jednego
obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
NIE
GUM
G
M22
520,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla jednego
iluminantu i dwóch
obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
NIE
GUM
G
M22
650,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla jednego
iluminantu i dwóch
obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
NIE
GUM
G
M22
390,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla dwóch
iluminantów i dwóch
obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
NIE
GUM
G
M22
780,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla dwóch
iluminantów i dwóch
obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
NIE
GUM
G
M22
520,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla trzech
iluminantów i dwóch
obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
NIE
GUM
G
M22
910,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla trzech
iluminantów i dwóch
obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
NIE
GUM
G
M22
650,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla jednego
iluminantu i jednego
obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
NIE
GUM
G
M22
520,00
Strona 61
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
M2-310
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-311
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-312
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-313
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-314
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-315
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-316
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-317
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-318
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla jednego
iluminantu i jednego
obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
NIE
GUM
G
M22
260,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla dwóch
iluminantów i jednego
obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
NIE
GUM
G
M22
650,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla dwóch
iluminantów i jednego
obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
NIE
GUM
G
M22
390,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla trzech
iluminantów i jednego
obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
NIE
GUM
G
M22
780,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla trzech
iluminantów i jednego
obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
NIE
GUM
G
M22
520,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla jednego
iluminantu i dwóch
obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
NIE
GUM
G
M22
650,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla jednego
iluminantu i dwóch
obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
NIE
GUM
G
M22
390,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla dwóch
iluminantów i dwóch
obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
NIE
GUM
G
M22
780,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla dwóch
iluminantów i dwóch
obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
NIE
GUM
G
M22
520,00
Strona 62
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
M2-319
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-320
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-321
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-322
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-323
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-324
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-325
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-326
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-327
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla trzech
iluminantów i dwóch
obserwatorów
kolorymetrycznych)
niepewność
pomiar widmowego
przykładowego
współczynnika luminancji wzorca białego
w zakresie (400 ÷ 700) L* ± 0,24;
nm
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
NIE
GUM
G
M22
910,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla trzech
iluminantów i dwóch
obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
NIE
GUM
G
M22
650,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla jednego
iluminantu i jednego
obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
NIE
GUM
G
M22
520,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla jednego
iluminantu i jednego
obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
NIE
GUM
G
M22
260,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla dwóch
iluminantów i jednego
obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
NIE
GUM
G
M22
650,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla dwóch
iluminantów i jednego
obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
NIE
GUM
G
M22
390,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla trzech
iluminantów i jednego
obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
NIE
GUM
G
M22
780,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla trzech
iluminantów i jednego
obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
NIE
GUM
G
M22
520,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla jednego
iluminantu i dwóch
obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
NIE
GUM
G
M22
650,00
Strona 63
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
M2-328
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-329
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-330
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-331
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-332
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-333
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-334
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-335
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-336
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla jednego
iluminantu i dwóch
obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
NIE
GUM
G
M22
390,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla dwóch
iluminantów i dwóch
obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
NIE
GUM
G
M22
780,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla dwóch
iluminantów i dwóch
obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
NIE
GUM
G
M22
520,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla trzech
iluminantów i dwóch
obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
NIE
GUM
G
M22
910,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla trzech
iluminantów i dwóch
obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
NIE
GUM
G
M22
650,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla jednego
iluminantu i jednego
obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
NIE
GUM
G
M22
520,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla jednego
iluminantu i jednego
obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
NIE
GUM
G
M22
260,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla dwóch
iluminantów i jednego
obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
NIE
GUM
G
M22
650,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla dwóch
iluminantów i jednego
obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
NIE
GUM
G
M22
390,00
Strona 64
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
M2-337
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-338
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-339
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-340
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-341
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-342
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-343
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-344
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-345
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla trzech
iluminantów i jednego
obserwatora
kolorymetrycznego)
niepewność
pomiar widmowego
przykładowego
współczynnika luminancji wzorca białego
w zakresie (400 ÷ 700) L* ± 0,25;
nm
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
NIE
GUM
G
M22
780,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla trzech
iluminantów i jednego
obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
NIE
GUM
G
M22
520,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla jednego
iluminantu i dwóch
obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
NIE
GUM
G
M22
650,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla jednego
iluminantu i dwóch
obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
NIE
GUM
G
M22
390,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla dwóch
iluminantów i dwóch
obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
NIE
GUM
G
M22
780,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla dwóch
iluminantów i dwóch
obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
NIE
GUM
G
M22
520,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla trzech
iluminantów i dwóch
obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
NIE
GUM
G
M22
910,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla trzech
iluminantów i dwóch
obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
NIE
GUM
G
M22
650,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla
jednego iluminantu
i jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
niepewność
przykładowego
wzorca białego
pomiar widmowego
Y ± 0,58;
współczynnika luminancji
x ± 0,0003;
w zakresie (380 ÷ 700)
y ± 0,0004;
nm
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
NIE
GUM
G
M22
585,00
Strona 65
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
M2-346
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-347
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-348
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-349
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-350
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-351
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-352
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla
jednego iluminantu
i jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla dwóch
iluminantów
i jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla dwóch
iluminantów
i jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla trzech
iluminantów
i jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla trzech
iluminantów
i jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla
jednego iluminantu
i dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla
jednego iluminantu
i dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
Strona 66
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
NIE
GUM
G
M22
325,00
NIE
GUM
G
M22
715,00
NIE
GUM
G
M22
455,00
NIE
GUM
G
M22
845,00
NIE
GUM
G
M22
585,00
NIE
GUM
G
M22
715,00
NIE
GUM
G
M22
455,00
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
M2-353
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-354
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-355
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-356
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:0°
M2-357
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-358
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-359
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla dwóch
iluminantów
i dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla dwóch
iluminantów
i dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla trzech
iluminantów
i dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla trzech
iluminantów
i dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla
jednego iluminantu
i jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla
jednego iluminantu
i jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla dwóch
iluminantów
i jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
Strona 67
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
NIE
GUM
G
M22
845,00
NIE
GUM
G
M22
585,00
NIE
GUM
G
M22
975,00
NIE
GUM
G
M22
715,00
NIE
GUM
G
M22
585,00
NIE
GUM
G
M22
325,00
NIE
GUM
G
M22
715,00
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
M2-360
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-361
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-362
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-363
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-364
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-365
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-366
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla dwóch
iluminantów
i jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla trzech
iluminantów
i jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla trzech
iluminantów
i jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla
jednego iluminantu
i dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla
jednego iluminantu
i dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla dwóch
iluminantów
i dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla dwóch
iluminantów
i dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
Strona 68
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
NIE
GUM
G
M22
455,00
NIE
GUM
G
M22
845,00
NIE
GUM
G
M22
585,00
NIE
GUM
G
M22
715,00
NIE
GUM
G
M22
455,00
NIE
GUM
G
M22
845,00
NIE
GUM
G
M22
585,00
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
M2-367
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-368
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii d:8°
M2-369
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-370
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-371
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-372
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-373
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla trzech
iluminantów
i dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla trzech
iluminantów
i dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla
jednego iluminantu
i jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla
jednego iluminantu
i jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla dwóch
iluminantów
i jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla dwóch
iluminantów
i jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla trzech
iluminantów
i jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,58;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,24;
a* ± 0,005;
b* ± 0,007
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
Strona 69
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
NIE
GUM
G
M22
975,00
NIE
GUM
G
M22
715,00
NIE
GUM
G
M22
585,00
NIE
GUM
G
M22
325,00
NIE
GUM
G
M22
715,00
NIE
GUM
G
M22
455,00
NIE
GUM
G
M22
845,00
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
M2-374
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-375
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-376
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-377
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-378
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-379
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
M2-380
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
0°:45°
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla trzech
iluminantów
i jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla
jednego iluminantu
i dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla
jednego iluminantu
i dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla dwóch
iluminantów
i dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla dwóch
iluminantów
i dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla trzech
iluminantów
i dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla trzech
iluminantów
i dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (380 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
Strona 70
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
NIE
GUM
G
M22
585,00
NIE
GUM
G
M22
715,00
NIE
GUM
G
M22
455,00
NIE
GUM
G
M22
845,00
NIE
GUM
G
M22
585,00
NIE
GUM
G
M22
975,00
NIE
GUM
G
M22
715,00
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
M2-381
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-382
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-383
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-384
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-385
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-386
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-387
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla
jednego iluminantu
i jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla
jednego iluminantu
i jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla dwóch
iluminantów
i jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla dwóch
iluminantów
i jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla trzech
iluminantów
i jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla trzech
iluminantów
i jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla
jednego iluminantu
i dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
Strona 71
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
NIE
GUM
G
M22
585,00
NIE
GUM
G
M22
325,00
NIE
GUM
G
M22
715,00
NIE
GUM
G
M22
455,00
NIE
GUM
G
M22
845,00
NIE
GUM
G
M22
585,00
NIE
GUM
G
M22
715,00
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
M2-388
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-389
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-390
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-391
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-392
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
45°:0°
M2-393
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
M2-394
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
M2-395
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla
jednego iluminantu
i dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla dwóch
iluminantów
i dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla dwóch
iluminantów
i dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla trzech
iluminantów
i dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla trzech
iluminantów
i dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika luminancji
w zakresie (400 ÷ 700)
nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla jednego iluminantu i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika odbicia w
zakresie
(380 ÷ 780) nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla jednego iluminantu i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika odbicia w
zakresie
(380 ÷ 780) nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla dwóch iluminantów i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika odbicia w
zakresie
(380 ÷ 780) nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,64;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,25;
a* ± 0,005;
b* ± 0,005
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,53;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
NIE
GUM
G
M22
455,00
NIE
GUM
G
M22
845,00
NIE
GUM
G
M22
585,00
NIE
GUM
G
M22
975,00
NIE
GUM
G
M22
715,00
NIE
PTB
G
M22
520,00
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,53;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
PTB
G
M22
260,00
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,53;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
PTB
G
M22
650,00
Strona 72
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
M2-396
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
M2-397
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
M2-398
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
M2-399
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
M2-400
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
M2-401
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
M2-402
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
M2-403
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
M2-404
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla dwóch iluminantów i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika odbicia w
zakresie
(380 ÷ 780) nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,53;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
PTB
G
M22
390,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla trzech iluminantów i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika odbicia w
zakresie
(380 ÷ 780) nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,53;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
PTB
G
M22
780,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla trzech iluminantów i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika odbicia w
zakresie
(380 ÷ 780) nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,53;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
PTB
G
M22
520,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla jednego iluminantu i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika odbicia w
zakresie
(380 ÷ 780) nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,53;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
PTB
G
M22
650,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla jednego iluminantu i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika odbicia w
zakresie
(380 ÷ 780) nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,53;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
PTB
G
M22
390,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla dwóch iluminantów i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika odbicia w
zakresie
(380 ÷ 780) nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,53;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
PTB
G
M22
780,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla dwóch iluminantów i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika odbicia w
zakresie
(380 ÷ 780) nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,53;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
PTB
G
M22
520,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla trzech iluminantów i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika odbicia w
zakresie
(380 ÷ 780) nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,53;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
PTB
G
M22
910,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla trzech iluminantów i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika odbicia w
zakresie
(380 ÷ 780) nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,53;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004
NIE
PTB
G
M22
650,00
Strona 73
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
M2-405
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
M2-406
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
M2-407
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
M2-408
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
M2-409
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
M2-410
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
M2-411
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
M2-412
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
M2-413
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla jednego
iluminantu i jednego
obserwatora
kolorymetrycznego)
niepewność
pomiar widmowego
przykładowego
współczynnika odbicia w wzorca białego
zakresie
L* ± 0,23;
(380 ÷ 780) nm
a* ± 0,005;
b* ± 0,006
NIE
PTB
G
M22
520,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla jednego
iluminantu i jednego
obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika odbicia w
zakresie
(380 ÷ 780) nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,23;
a* ± 0,005;
b* ± 0,006
NIE
PTB
G
M22
260,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla dwóch
iluminantów i jednego
obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika odbicia w
zakresie
(380 ÷ 780) nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,23;
a* ± 0,005;
b* ± 0,006
NIE
PTB
G
M22
650,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla dwóch
iluminantów i jednego
obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika odbicia w
zakresie
(380 ÷ 780) nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,23;
a* ± 0,005;
b* ± 0,006
NIE
PTB
G
M22
390,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla trzech
iluminantów i jednego
obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika odbicia w
zakresie
(380 ÷ 780) nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,23;
a* ± 0,005;
b* ± 0,006
NIE
PTB
G
M22
780,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla trzech
iluminantów i jednego
obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika odbicia w
zakresie
(380 ÷ 780) nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,23;
a* ± 0,005;
b* ± 0,006
NIE
PTB
G
M22
520,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla jednego
iluminantu i dwóch
obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika odbicia w
zakresie
(380 ÷ 780) nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,23;
a* ± 0,005;
b* ± 0,006
NIE
PTB
G
M22
650,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla jednego
iluminantu i dwóch
obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika odbicia w
zakresie
(380 ÷ 780) nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,23;
a* ± 0,005;
b* ± 0,006
NIE
PTB
G
M22
390,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla dwóch
iluminantów i dwóch
obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika odbicia w
zakresie
(380 ÷ 780) nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,23;
a* ± 0,005;
b* ± 0,006
NIE
PTB
G
M22
780,00
Strona 74
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
M2-414
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
M2-415
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
M2-416
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
M2-417
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
M2-418
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
M2-419
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
M2-420
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
M2-421
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla dwóch
iluminantów i dwóch
obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika odbicia w
zakresie
(380 ÷ 780) nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,23;
a* ± 0,005;
b* ± 0,006
NIE
PTB
G
M22
520,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla trzech
iluminantów i dwóch
obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika odbicia w
zakresie
(380 ÷ 780) nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,23;
a* ± 0,005;
b* ± 0,006
NIE
PTB
G
M22
910,00
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* (dla trzech
iluminantów i dwóch
obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika odbicia w
zakresie
(380 ÷ 780) nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
L* ± 0,23;
a* ± 0,005;
b* ± 0,006
NIE
PTB
G
M22
650,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla
jednego iluminantu
i jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika odbicia w
zakresie
380 ÷ 780) nm
NIE
PTB
G
M22
585,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla
jednego iluminantu
i jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika odbicia w
zakresie
380 ÷ 780) nm
NIE
PTB
G
M22
325,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla dwóch
iluminantów
i jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika odbicia w
zakresie
380 ÷ 780) nm
NIE
PTB
G
M22
715,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla dwóch
iluminantów
i jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika odbicia w
zakresie
380 ÷ 780) nm
NIE
PTB
G
M22
455,00
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla trzech
iluminantów
i jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
pomiar widmowego
współczynnika odbicia w
zakresie
380 ÷ 780) nm
NIE
PTB
G
M22
845,00
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,53;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,23;
a* ± 0,005;
b* ± 0,006
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,53;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,23;
a* ± 0,005;
b* ± 0,006
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,53;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,23;
a* ± 0,005;
b* ± 0,006
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,53;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,23;
a* ± 0,005;
b* ± 0,006
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,53;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,23;
a* ± 0,005;
b* ± 0,006
Strona 75
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
M2-422
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
M2-423
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
M2-424
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
M2-425
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
M2-426
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
M2-427
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
M2-428
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorce
(achromatyczne
i barwne)
w geometrii pomiaru
8°:d
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla trzech
iluminantów
i jednego obserwatora
kolorymetrycznego), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika odbicia w
zakresie
380 ÷ 780) nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla
jednego iluminantu
i dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika odbicia w
zakresie
380 ÷ 780) nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla
jednego iluminantu
i dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika odbicia w
zakresie
380 ÷ 780) nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla dwóch
iluminantów
i dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika odbicia w
zakresie
380 ÷ 780) nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla dwóch
iluminantów
i dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika odbicia w
zakresie
380 ÷ 780) nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla trzech
iluminantów
i dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
pomiar widmowego
współczynnika odbicia w
zakresie
(380
÷ 780) nm
W
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
oraz L*, a*, b* (dla trzech
iluminantów
i dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych), piąty
i następny wzorzec
pomiar widmowego
współczynnika odbicia w
zakresie
380 ÷ 780) nm
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,53;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,23;
a* ± 0,005;
b* ± 0,006
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,53;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,23;
a* ± 0,005;
b* ± 0,006
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,53;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,23;
a* ± 0,005;
b* ± 0,006
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,53;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,23;
a* ± 0,005;
b* ± 0,006
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,53;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,23;
a* ± 0,005;
b* ± 0,006
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,53;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,23;
a* ± 0,005;
b* ± 0,006
niepewność
przykładowego
wzorca białego
Y ± 0,53;
x ± 0,0003;
y ± 0,0004;
L* ± 0,23;
a* ± 0,005;
b* ± 0,006
Strona 76
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
NIE
PTB
G
M22
585,00
NIE
PTB
G
M22
715,00
NIE
PTB
G
M22
455,00
NIE
PTB
G
M22
845,00
NIE
PTB
G
M22
585,00
NIE
PTB
G
M22
975,00
NIE
PTB
G
M22
715,00
ID
Obiektu
M2-429
M2-430
M2-431
M2-432
M2-433
M2-434
Dziedzina
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Subdziedzina
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Spektrofotometry
i kolorymetry
odbiciowe
Spektrofotometry
i kolorymetry
odbiciowe
Spektrofotometry
i kolorymetry
odbiciowe
Spektrofotometry
i kolorymetry
odbiciowe
Spektrofotometry
i kolorymetry
odbiciowe
Spektrofotometry
i kolorymetry
odbiciowe
W
W
W
W
W
W
Wzorcowanie wielkość mierzona
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla jednego iluminantu i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla dwóch iluminantów i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla trzech iluminantów i
jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla jednego iluminantu i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla dwóch iluminantów i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
Parametry
kolorymetryczne x, y, Y
(dla trzech iluminantów i
dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
porównanie z
parametrami
kolorymetrycznymi
wzorców odniesienia
porównanie z
parametrami
kolorymetrycznymi
wzorców odniesienia
niepewność dla
przykładowego
wzorca Pale Grey
∆Y ± 0,47;
∆x ± 0,0002;
∆y ± 0,0002
niepewność dla
przykładowego
wzorca Pale Grey
∆Y ± 0,47;
∆x ± 0,0002;
∆y ± 0,0002
porównanie z
parametrami
kolorymetrycznymi
wzorców odniesienia
niepewność dla
przykładowego
wzorca Pale Grey
∆Y ± 0,47;
∆x ± 0,0002;
∆y ± 0,0002
porównanie z
parametrami
kolorymetrycznymi
wzorców odniesienia
niepewność dla
przykładowego
wzorca Pale Grey
∆Y ± 0,47;
∆x ± 0,0002;
∆y ± 0,0002
porównanie z
parametrami
kolorymetrycznymi
wzorców odniesienia
niepewność dla
przykładowego
wzorca Pale Grey
∆Y ± 0,47;
∆x ± 0,0002;
∆y ± 0,0002
porównanie z
parametrami
kolorymetrycznymi
wzorców odniesienia
niepewność dla
przykładowego
wzorca Pale Grey
∆Y ± 0,47;
∆x ± 0,0002;
∆y ± 0,0002
Strona 77
CMC
NIE
NIE
NIE
NIE
NIE
NIE
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
NPL
NPL
NPL
NPL
NPL
NPL
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
P, G
P - w przypadku
przyrządów o
dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego.
P, G
P - w przypadku
przyrządów o
dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego.
P, G
P - w przypadku
przyrządów o
dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego.
P, G
P - w przypadku
przyrządów o
dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego.
P, G
P - w przypadku
przyrządów o
dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego.
P, G
P - w przypadku
przyrządów o
dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego.
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
M22
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
1170,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
M22
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
1950,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
M22
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
2730,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
M22
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
1950,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
M22
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
2730,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
M22
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
3510,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
ID
Obiektu
M2-435
M2-436
M2-437
M2-438
M2-439
M2-440
Dziedzina
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Subdziedzina
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Spektrofotometry
i kolorymetry
odbiciowe
Spektrofotometry
i kolorymetry
odbiciowe
Spektrofotometry
i kolorymetry
odbiciowe
Spektrofotometry
i kolorymetry
odbiciowe
Spektrofotometry
i kolorymetry
odbiciowe
Spektrofotometry
i kolorymetry
odbiciowe
Wzorcowanie wielkość mierzona
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* oraz różnica barwy
w systemie L*a*b* (dla
jednego iluminantu
i jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* oraz różnica barwy
w systemie L*a*b* (dla
dwóch iluminantów
i jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* oraz różnica barwy
w systemie L*a*b* (dla
trzech iluminantów
i jednego obserwatora
kolorymetrycznego)
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* oraz różnica barwy
w systemie L*a*b* (dla
jednego iluminantu
i dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* oraz różnica barwy
w systemie L*a*b* (dla
dwóch iluminantów
i dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
W
Parametry
kolorymetryczne L*, a*,
b* oraz różnica barwy
w systemie L*a*b* (dla
trzech iluminantów
i dwóch obserwatorów
kolorymetrycznych)
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
porównanie z
parametrami
kolorymetrycznymi
wzorców odniesienia
niepewność dla
przykładowego
wzorca Pale Grey
∆L* ± 0,6;
∆a* ± 0,2;
∆b* ± 0,2;
∆E ± 0,6
porównanie z
parametrami
kolorymetrycznymi
wzorców odniesienia
niepewność dla
przykładowego
wzorca Pale Grey
∆L* ± 0,6;
∆a* ± 0,2;
∆b* ± 0,2;
∆E ± 0,6
porównanie z
parametrami
kolorymetrycznymi
wzorców odniesienia
niepewność dla
przykładowego
wzorca Pale Grey
∆L* ± 0,6;
∆a* ± 0,2;
∆b* ± 0,2;
∆E ± 0,6
porównanie z
parametrami
kolorymetrycznymi
wzorców odniesienia
niepewność dla
przykładowego
wzorca Pale Grey
∆L* ± 0,6;
∆a* ± 0,2;
∆b* ± 0,2;
∆E ± 0,6
porównanie z
parametrami
kolorymetrycznymi
wzorców odniesienia
niepewność dla
przykładowego
wzorca Pale Grey
∆L* ± 0,6;
∆a* ± 0,2;
∆b* ± 0,2;
∆E ± 0,6
porównanie z
parametrami
kolorymetrycznymi
wzorców odniesienia
niepewność dla
przykładowego
wzorca Pale Grey
∆L* ± 0,6;
∆a* ± 0,2;
∆b* ± 0,2;
∆E ± 0,6
Strona 78
CMC
NIE
NIE
NIE
NIE
NIE
NIE
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
NPL
NPL
NPL
NPL
NPL
NPL
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
P, G
P - w przypadku
przyrządów o
dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego.
P, G
P - w przypadku
przyrządów o
dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego.
P, G
P - w przypadku
przyrządów o
dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego.
P, G
P - w przypadku
przyrządów o
dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego.
P, G
P - w przypadku
przyrządów o
dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego.
P, G
P - w przypadku
przyrządów o
dużych
gabarytach lub
gdy przyrząd
wykorzystywany
jest w pracy
ciągłej
laboratorium
pomiarowego.
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
M22
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
1170,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
M22
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
1950,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
M22
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
2730,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
M22
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
1950,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
M22
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
2730,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
M22
W przypadku
wzorcowania poza
siedzibą GUM do
ceny całkowitej za
wzorcowanie należy
3510,00
doliczyć rzeczywiste
koszty
zakwaterowania,
podróży i diety
delegacyjnej
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
M2-441
Promieniowanie
jonizujące
Dozymetria
M2-442
Promieniowanie
jonizujące
Dozymetria
M2-443
Promieniowanie
jonizujące
Dozymetria
M2-444
Promieniowanie
jonizujące
Dozymetria
M2-445
Promieniowanie
jonizujące
Dozymetria
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Dawkomierz
terapeutyczny
i ochrony
radiologicznej
Dawkomierz
terapeutyczny
i ochrony
radiologicznej
Dawkomierz
terapeutyczny
i ochrony
radiologicznej
Dawkomierz
terapeutyczny
i ochrony
radiologicznej
Dawkomierz
terapeutyczny
i ochrony
radiologicznej
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
4)
W
kerma w powietrzu
metoda podstawienia
1% *
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
komora typu A
prom. X
50 kV ÷ 420 kV
M22
cena dla dawk. ochr.
rad. dla widma Narrow
(N-60 do N-300); po
uzysk. dod. inf. od
Klienta (licz. komór
dawk., licz. jakości
3185,00
prom., licz. zakr.
pom., licz. pkt pom.
dla każdego z wzorc.
zakr.) cena ulega
modyf. (1 rbg za
dodatk. pkt pom.)
W
kerma w powietrzu
metoda podstawienia
1% *
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
komora typu A prom.
X + prom. gamma
M22
3250,00 jak wyżej
W
moc kermy
w powietrzu
metoda podstawienia
1% *
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
komora typu A nuklid
Co-60
M22
910,00
W
moc kermy
w powietrzu
metoda podstawienia
1% *
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
komora typu A nuklid
Co-60 oraz komora
typu A nuklid Cs-137
M22
1820,00
G
komora typu A nuklid
Co-60 oraz komora
typu A nuklid Cs-137
oraz komora typu B
nuklid Co-60 oraz
komora typu B nuklid
Cs-137
M22
3640,00
M22
5460,00
M22
910,00
W
moc kermy
w powietrzu
metoda podstawienia
1% *
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
M2-446
Promieniowanie
jonizujące
Dozymetria
Dawkomierz
terapeutyczny
i ochrony
radiologicznej
W
moc kermy
w powietrzu
metoda podstawienia
1% *
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M2-447
Promieniowanie
jonizujące
Dozymetria
Dawkomierz
terapeutyczny
i ochrony
radiologicznej
W
moc kermy
w powietrzu
metoda podstawienia
1% *
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
komora typu A nuklid
Cs-137
Promieniowanie
jonizujące
M2-449
Promieniowanie
jonizujące
Dozymetria
Ława ze źródłami
promieniowania γ
Dozymetria
Dawkomierz
terapeutyczny
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
realizację usługi
komora typu A nuklid
Co-60 oraz komora
typu A nuklid Cs-137
oraz komora typu B
nuklid Co-60 oraz
komora typu B nuklid
Cs-137 oraz komora
typu C nuklid Co-60
oraz komora typu C
nuklid Cs-137
M2-448
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
W
moc kermy
w powietrzu
W
moc dawki pochłoniętej w
metoda podstawienia
wodzie
metoda podstawienia
2% *
1,5% *
Strona 79
TAK
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
BIPM
P
nuklid Co-60/nuklid
Cs-137
G
komora typu A nuklid
Co-60
M22
cena wzorc. dla 6 pkt
na ławie pomiarowej
dla jednego źródła
prom., do ceny wzorc.
3900,00
dochodzi koszt deleg.
pracown. GUM,
transportu i ubezp.
przyrz. pom. GUM
M22
cena wzorc. dla jednej
komory, w przypadku
1235,00 większej liczby komór
cena ulegnie
modyfikacji
ID
Obiektu
M2-450
M2-451
M2-452
M2-453
M2-454
Dziedzina
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Subdziedzina
Fotometria
Fotometria
Fotometria
Fotometria
Fotometria
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Lampa wolframowa
Lampa wolframowa
Lampa wolframowa
Lampa wolframowa
Lampa wolframowa
W
W
W
W
W
Wzorcowanie wielkość mierzona
światłość lampy
wolframowej; wzorzec
I rzędu (wzorzec
3- lampowy)
światłość lampy
wolframowej; wzorzec
I rzędu (wzorzec
4- lampowy)
światłość lampy
wolframowej; wzorzec
I rzędu (wzorzec
5- lampowy)
światłość lampy
wolframowej; wzorzec II
rzędu (wzorzec
3- lampowy)
światłość lampy
wolframowej; wzorzec II
rzędu (wzorzec
4- lampowy)
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
(5 ÷ 3100) cd
metoda z użyciem
wzorca odniesienia
(5 ÷ 3100) cd
metoda z użyciem
wzorca odniesienia
(5 ÷ 3100) cd
metoda z użyciem
wzorca odniesienia
(5 ÷ 3100) cd
metoda z użyciem
wzorca odniesienia
(5 ÷ 3100) cd
metoda z użyciem
wzorca odniesienia
od 1,5%
od 1,5%
od 1,5%
od 1,5%
od 1,5%
Strona 80
CMC
TAK
TAK
TAK
TAK
TAK
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
PTB
PTB
PTB
PTB
PTB
G
G
G
G
G
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
M23
8,5 rbg-pierwsza
lampa I rzędu (w tym
1 rbg na wyznaczenie
temperatury
barwowej)
1755,00 2,5 rbg- każda
następna lampa (w
tym 1 rbg na
wyznaczenie
temperatury
barwowej)
M23
8,5 rbg-pierwsza
lampa I rzędu (w tym
1 rbg na wyznaczenie
temperatury
barwowej)
2080,00 2,5 rbg- każda
następna lampa (w
tym 1 rbg na
wyznaczenie
temperatury
barwowej)
M23
8,5 rbg-pierwsza
lampa I rzędu (w tym
1 rbg na wyznaczenie
temperatury
barwowej)
2405,00 2,5 rbg- każda
następna lampa (w
tym 1 rbg na
wyznaczenie
temperatury
barwowej)
M23
6,5 rbg-pierwsza
lampa II rzędu (w tym
1 rbg na wyznaczenie
temperatury
barwowej)
1495,00 2,5 rbg- każda
następna lampa (w
tym 1 rbg na
wyznaczenie
temperatury
barwowej)
M23
6,5 rbg-pierwsza
lampa II rzędu (w tym
1 rbg na wyznaczenie
temperatury
barwowej)
1820,00 2,5 rbg- każda
następna lampa (w
tym 1 rbg na
wyznaczenie
temperatury
barwowej)
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
M2-455
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Lampa wolframowa
W
światłość lampy
wolframowej; wzorzec II
rzędu (wzorzec
5- lampowy)
M2-456
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Lampa wolframowa
W
stabilnośc lampy
wolframowej względem
światłości
M2-457
M2-458
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Fotometria
Lampa wolframowa
Lampa wolframowa
W
W
strumień świetlny lampy
wolframowej (wzorzec 3lampowy); wzorcowanie
przy wyznaczonej
temperaturze barwowej
strumień świetlny lampy
wolframowej (wzorzec 4 lampowy); wzorcowanie
przy wyznaczonej
temperaturze barwowej
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
(5 ÷ 3100) cd
metoda z użyciem
wzorca odniesienia
od 1,5%
CMC
TAK
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
PTB
NIE
(5 ÷ 3000) lm
metoda porównawcza z
użyciem wzorca
odniesienia
(5 ÷ 3000) lm
metoda porównawcza z
użyciem wzorca
odniesienia
od 1,5%
od 1,5%
TAK
TAK
MIKES
MIKES
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
G
M23
G
M23
G
G
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
6,5 rbg-pierwsza
lampa II rzędu (w tym
1 rbg na wyznaczenie
temperatury
barwowej)
2145,00 2,5 rbg- każda
następna lampa (w
tym 1 rbg na
wyznaczenie
temperatury
barwowej)
390,00
stabilizowanie jednej
lampy
M23
5,5 rbg-pierwsza
lampa (w tym 1 rbg na
wyznaczenie
temperatury
barwowej)
1235,00
2 rbg każda nastepna
lampa (w tym 1 rbg na
wyznaczenie
temperatury
barwowej)
M23
5,5 rbg-pierwsza
lampa (w tym 1 rbg na
wyznaczenie
temperatury
barwowej)
1495,00
2 rbg każda nastepna
lampa (w tym 1 rbg na
wyznaczenie
temperatury
barwowej)
5,5 rbg-pierwsza
lampa (w tym 1 rbg na
wyznaczenie
temperatury
barwowej)
1755,00
2 rbg każda nastepna
lampa (w tym 1 rbg na
wyznaczenie
temperatury
barwowej)
W
strumień świetlny lampy
wolframowej (wzorzec 5 lampowy); wzorcowanie
przy wyznaczonej
temperaturze barwowe
(5 ÷ 3000) lm
metoda porównawcza z
użyciem wzorca
odniesienia
od 1,5%
TAK
MIKES
G
M23
Lampa wolframowa
W
strumień świetlny lampy
wolframowej (wzorzec 3lampowy); wzorcowanie
przy napięciu
(5 ÷ 3000) lm
metoda porównawcza z
użyciem wzorca
odniesienia
od 1,5%
TAK
MIKES
G
M23
845,00
4,5 rbg-pierwsza
lampa
1 rbg- każda
następna lampa
Fotometria
Lampa wolframowa
W
strumień świetlny lampy
wolframowej (wzorzec 4lampowy); wzorcowanie
przy napięciu
(5 ÷ 3000) lm
metoda porównawcza z
użyciem wzorca
odniesienia
od 1,5%
TAK
MIKES
G
M23
975,00
4,5 rbg-pierwsza
lampa
1 rbg- każda
następna lampa
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Lampa wolframowa
W
strumień świetlny lampy
wolframowej (wzorzec 5lampowy); wzorcowanie
przy napięciu
(5 ÷ 3000) lm
metoda porównawcza z
użyciem wzorca
odniesienia
od 1,5%
TAK
MIKES
G
M23
1105,00
4,5 rbg-pierwsza
lampa
1 rbg- każda
następna lampa
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Lampa wolframowa
W
stabilnośc lampy
wolframowej względem
strumienia świetlnego
G
M23
390,00
M2-459
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Lampa wolframowa
M2-460
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
M2-461
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
M2-462
M2-463
NIE
Strona 81
stabilizowanie jednej
lampy
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
M2-464
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze L-12
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-465
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze L-20
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-466
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze L-20A
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-467
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze L-50
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-468
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze L-51
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-469
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze L-52
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-470
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze L-100
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-471
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze
RF-100
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-472
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze
LS-100
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-473
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze L-12
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-474
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze L-20
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-475
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze L-20A
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-476
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze L-50
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
od 2%
TAK
GUM
G
M23
481,00
dla czterech punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
481,00
dla czterech punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
481,00
dla czterech punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
481,00
dla czterech punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
481,00
dla czterech punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
481,00
dla czterech punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
481,00
dla czterech punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
481,00
dla czterech punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
481,00
dla czterech punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
559,00
dla pięciu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
559,00
dla pięciu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
559,00
dla pięciu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
559,00
dla pięciu punktów
pomiarowych
Strona 82
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
M2-477
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze L-51
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-478
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze L-52
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-479
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze L-100
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-480
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze
RF-100
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-481
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze
LS-100
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-482
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze L-12
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-483
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze L-20
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-484
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze L-20A
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-485
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze L-50
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-486
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze L-51
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-487
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze L-52
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-488
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze L-100
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-489
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze
RF-100
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
od 2%
TAK
GUM
G
M23
559,00
dla pięciu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
559,00
dla pięciu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
559,00
dla pięciu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
559,00
dla pięciu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
559,00
dla pięciu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
650,00
dla sześciu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
650,00
dla sześciu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
650,00
dla sześciu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
650,00
dla sześciu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
650,00
dla sześciu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
650,00
dla sześciu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
650,00
dla sześciu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
650,00
dla sześciu punktów
pomiarowych
Strona 83
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
M2-490
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze
LS-100
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-491
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze L-12
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-492
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze L-20
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-493
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze L-20A
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-494
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze L-50
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-495
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze L-51
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-496
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze L-52
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-497
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze L-100
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-498
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze
RF-100
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-499
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze
LS-100
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-500
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze L-12
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-501
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze L-20
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-502
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze L-20A
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
od 2%
TAK
GUM
G
M23
650,00
dla sześciu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
754,00
dla siedmiu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
754,00
dla siedmiu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
754,00
dla siedmiu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
754,00
dla siedmiu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
754,00
dla siedmiu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
754,00
dla siedmiu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
754,00
dla siedmiu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
754,00
dla siedmiu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
754,00
dla siedmiu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
845,00
dla ośmiu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
845,00
dla ośmiu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
845,00
dla ośmiu punktów
pomiarowych
Strona 84
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
M2-503
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze L-50
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-504
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze L-51
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-505
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze L-52
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-506
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze L-100
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-507
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze
RF-100
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-508
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze
LS-100
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-509
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze Minolta
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-510
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierze ULX
firmy INS
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-511
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Fotometr precyzyjny
typ 1105
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-512
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Fotometr Candelametr
jako luksomierz
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-513
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Fotometr firmy DELTA
OHM jako luksomierz
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-514
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Fotometr firmy DELTA
OHM jako luksomierz
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-515
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Fotometr firmy DELTA
OHM jako luksomierz
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
od 2%
TAK
GUM
G
M23
845,00
dla ośmiu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
845,00
dla ośmiu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
845,00
dla ośmiu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
845,00
dla ośmiu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
845,00
dla ośmiu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
845,00
dla ośmiu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
650,00
od 2%
TAK
GUM
G
M23
650,00
od 2%
TAK
GUM
G
M23
715,00
od 2%
TAK
GUM
G
M23
715,00
od 2%
TAK
GUM
G
M23
637,00
dla czterech punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
689,00
dla pięciu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
741,00
dla sześciu punktów
pomiarowych
Strona 85
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
M2-516
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Fotometr firmy DELTA
OHM jako luksomierz
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-517
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Fotometr firmy DELTA
OHM jako luksomierz
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-518
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierz
TES -1330
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-519
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierz Abatronic
typ AB-1301
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-520
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierz Sinometer
typ LX-1010B
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-521
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierz
TES -1330
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-522
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierz Abatronic
typ AB-1301
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-523
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierz Sinometer
typ LX-1010B
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-524
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierz
TES -1330
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-525
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierz Abatronic
typ AB-1301
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-526
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierz Sinometer
typ LX-1010B
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-527
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierz
TES -1330
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-528
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierz Abatronic
typ AB-1301
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
od 2%
TAK
GUM
G
M23
793,00
dla siedmiu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
845,00
dla ośmiu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
474,50
dla czterech punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
474,50
dla czterech punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
474,50
dla czterech punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
591,50
dla pięciu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
591,50
dla pięciu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
591,50
dla pięciu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
682,50
dla sześciu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
682,50
dla sześciu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
682,50
dla sześciu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
760,50
dla siedmiu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
760,50
dla siedmiu punktów
pomiarowych
Strona 86
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
kwadratów
(10 ÷ 1900) lx,
(2100 ÷ 6500) K
metoda z użyciem
luksomierza
i kolorymetru
trójchromatycznego
M2-529
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierz Sinometer
typ LX-1010B
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-530
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierz
TES -1330
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-531
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierz Abatronic
typ AB-1301
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-532
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Luksomierz Sinometer
typ LX-1010B
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-533
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Inne luksomierze nie
wymienione
w cenniku
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-534
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Inne luksomierze nie
wymienione
w cenniku
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-535
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Inne luksomierze nie
wymienione
w cenniku
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-536
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Inne luksomierze nie
wymienione
w cenniku
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-537
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Inne luksomierze nie
wymienione
w cenniku
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-538
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Każdy luksomierz
wymieniony
w cenniku
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-539
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Każdy luksomierz
wymieniony
w cenniku
W
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
M2-540
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Komora świetlna
W
natężenie oświetlenia
przy różnych źródłach
światła, współrzędne
chromatyczności x, y
różnych źródeł światła
M2-541
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Mierniki światła
białego
W
(10 ÷ 1999) lx
natężenie oświetlenia
metoda porównawcza z
przy lampie wolframowej użyciem luksomierza
wzorcowego
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
od 2%
TAK
GUM
G
M23
760,50
dla siedmiu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
845,00
dla ośmiu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
845,00
dla ośmiu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
845,00
dla ośmiu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
611,00
dla czterech punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
728,00
dla pięciu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
819,00
dla sześciu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
897,00
dla siedmiu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
975,00
dla ośmiu punktów
pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
1027,00
dla dziewięciu
punktów pomiarowych
od 2%
TAK
GUM
G
M23
1092,00
dla dziesięciu punktów
pomiarowych
od 4%
NIE
GUM
G
M23
1690,00
od 4%
TAK
GUM
G
M23
455,00
Strona 87
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
2
M2-542
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
W
luminancja dla źródła
opartego na lampie
wolframowej
(1,5 ÷ 400) cd/m
metoda z użyciem
wzorca światłości
i wzorca współczynnika
przepuszczania
od 3%
TAK
GUM
G
M23
650,00
(0,3 mcd/m2 ÷ 1 cd/m2)
metoda bezpośrednia
z użyciem miernika
wzorcowego luminancji
0,10
NIE
GUM
G
wg PN-92/N-01256/02
M23
jedna próbka
390,00
Fotometria
Źródło oparte na
lampie wolframowej
M2-543
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Materiał
fotoluminescencyjny
W
luminancja materiału
fotoluminescyjnego
M2-544
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Materiał
fotoluminescencyjny
W
luminancja materiału
fotoluminescyjnego
(0,3 mcd/m2 ÷ 1 cd/m2)
metoda bezpośrednia
z użyciem miernika
wzorcowego luminancji
0,10
NIE
GUM
G
wg DIN 67510 jedna
próbka
M23
390,00
M2-545
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Materiał
fotoluminescencyjny
W
luminancja materiału
fotoluminescyjnego
(0,3 mcd/m2 ÷ 1 cd/m2)
metoda bezpośrednia z
użyciem miernika
wzorcowego luminancji
0,10
NIE
GUM
G
wg ISO 17398 jedna
próbka
M23
650,00
M2-546
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Materiał
fotoluminescencyjny
W
luminancja materiału
fotoluminescyjnego
(0,3 mcd/m ÷ 1 cd/m )
metoda bezpośrednia
z użyciem miernika
wzorcowego luminancji
0,10
NIE
GUM
G
wg ISO 15370 jedna
próbka
M23
650,00
M2-547
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
W
luminancja źródła
opartego na lampie
wolframowej
(1,5 ÷ 400) cd/m
metoda z użyciem
wzorca światłości
i wzorca współczynnika
przepuszczania
od 3%
TAK
GUM
G
M23
845,00
M2-548
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
W
luminancja źródła
opartego na lampie
wolframowej
(1,5 ÷ 400) cd/m2
metoda z użyciem
wzorca światłości
i wzorca współczynnika
przepuszczania
od 3%
TAK
GUM
G
M23
845,00
M2-549
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
W
luminancja źródła
opartego na lampie
wolframowej
(1,5 ÷ 400) cd/m2
metoda z użyciem
wzorca światłości i
wzorca współczynnika
przepuszczania
od 3%
TAK
GUM
G
M23
845,00
M2-550
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
W
luminancja źródła
opartego na lampie
wolframowej
(1,5 ÷ 400) cd/m2
metoda z użyciem
wzorca światłości
i wzorca współczynnika
przepuszczania
od 3%
TAK
GUM
G
M23
845,00
M2-551
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
W
luminancja źródła
opartego na lampie
wolframowej
(1,5 ÷ 400) cd/m2
metoda z użyciem
wzorca światłości
i wzorca współczynnika
przepuszczania
od 3%
TAK
GUM
G
M23
845,00
M2-552
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
W
luminancja źródła
opartego na lampie
wolframowej
(1,5 ÷ 400) cd/m2
metoda z użyciem
wzorca światłości
i wzorca współczynnika
przepuszczania
od 3%
TAK
GUM
G
M23
585,00
2
2
2
Fotometria
Miernik luminancji: LM10
Fotometria
Miernik luminancji
Minolta LS 100
Fotometria
Miernik luminancji
Minolta LS 110
Fotometria
Miernik luminancji fotometr Candelametr
jako miernik luminancji
Fotometria
Miernik luminancji
firmy Hagner
Fotometria
Mierniki luminancji: L100 + PL1.RF-100
Strona 88
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
2
M2-553
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
M2-554
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
M2-555
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
M2-556
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
M2-557
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Mierniki luminancji: RF100 + PL1.RF-100
Fotometria
Mierniki luminancji:
Fotometr firmy DELTA
OHM jako miernik
luminancji
Fotometria
Mierniki luminancji: L51 + PL-68
Fotometria
Mierniki luminancji:
CLM-200
Fotometria
Inne mierniki
luminancji nie
wymienione w cenniku
W
luminancja źródła
opartego na lampie
wolframowej
(1,5 ÷ 400) cd/m
metoda z użyciem
wzorca światłości
i wzorca współczynnika
przepuszczania
od 3%
TAK
GUM
G
M23
585,00
W
luminancja źródła
opartego na lampie
wolframowej
(1,5 ÷ 400) cd/m2
metoda z użyciem
wzorca światłości
i wzorca współczynnika
przepuszczania
od 3%
TAK
GUM
G
M23
585,00
W
luminancja źródła
opartego na lampie
wolframowej
(1,5 ÷ 400) cd/m2
metoda z użyciem
wzorca światłości
i wzorca współczynnika
przepuszczania
od 3%
TAK
GUM
G
M23
715,00
W
luminancja źródła
opartego na lampie
wolframowej
(1,5 ÷ 400) cd/m2
metoda z użyciem
wzorca światłości
i wzorca współczynnika
przepuszczania
od 3%
TAK
GUM
G
M23
715,00
W
luminancja źródła
opartego na lampie
wolframowej
(1,5 ÷ 400) cd/m2
metoda z użyciem
wzorca światłości
i wzorca współczynnika
przepuszczania
od 3%
TAK
GUM
G
M23
845,00
od 2%, od 3%
TAK
GUM
G
M23
1430,00
od 2%, od 3%
TAK
GUM
G
M23
1560,00
od 2%, od 3%
TAK
GUM
G
M23
1560,00
0,01
NIE
PTB
G
M23
845,00
M2-558
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Zestaw: luksomierz +
miernik luminancji
(przystawka
luminancyjna PL1.RF100)
W
M2-559
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Zestaw: luksomierz +
miernik luminancji
(przystawka
luminancyjna PL-68)
W
M2-560
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
Zestaw: Fotometr
Candelametr jako
luksomierz + jako
miernik luminancji
W
M2-561
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Właściwości
odbiorników
Odbiornik
szerokopasmowy
W
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej kwadratów,
+ luminancja źródła
(1,5 ÷ 400) cd/m2
opartego na lampie
metoda metoda
wolframowej
z użyciem wzorca
światłości i wzorca
współczynnika
przepuszczania
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej kwadratów,
+ luminancja źródła
(1,5 ÷ 400) cd/m2
opartego na lampie
metoda metoda
wolframowej
z użyciem wzorca
światłości i wzorca
współczynnika
przepuszczania
(10 ÷ 1900) lx
metoda z użyciem
wzorca światłości
i prawa odwrotności
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej kwadratów,
+ luminancja źródła
(1,5 ÷ 400) cd/m2
opartego na lampie
metoda metoda
wolframowej
z użyciem wzorca
światłości i wzorca
współczynnika
przepuszczania
widmowa czułość
(0,01 ÷ 1) A/W
względem mocy
metoda porównawcza
odbiornika
bezpośrednia
szerokopasmowego
Strona 89
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
zakres
(380 ÷ 780) nm
co 50 nm
ID
Obiektu
M2-562
M2-563
M2-564
M2-565
M2-566
M2-567
M2-568
M2-569
Dziedzina
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
2080,00
(0,01÷ 1) A/W
metoda porównawcza
bezpośrednia
0,01
NIE
PTB
G
zakres
(380 ÷ 1000) nm
co 50 nm
M23
1235,00
(0,01÷ 1) A/W
metoda porównawcza
bezpośrednia
0,01
NIE
PTB
G
zakres
80 ÷ 1000) nm
co 20 nm
M23
3250,00
(0,01÷ 1) A/W
metoda porównawcza
bezpośrednia
0,01
NIE
PTB
G
zakres
(380 ÷ 1000) nm
co 12,5 nm
M23
5200,00
(0,01÷ 1) A/W
metoda porównawcza
bezpośrednia
0,01
NIE
PTB
G
zakres
(900 ÷ 1600) nm
co 50 nm
M23
1495,00
(0,01÷ 1) A/W
metoda porównawcza
bezpośrednia
0,01
NIE
PTB
G
zakres
(900 ÷ 1600 nm)
co 25 nm
M23
2925,00
czułość względem mocy (0,01÷ 1) A/W
promieniowania
metoda porównawcza
laserowego
bezpośrednia
0,40%
TAK
PTB
G
jedna długość fali
promieniowania
laserowego
M23
jedna długość fali
780,00 promieniowania
laserowego
natężenie oświetlenia
przy lampie wolframowej
+ widmowe natężenie
napromienienia przy
źródle 365 nm
(0,08 ÷ 4,00) mW/cm2
metoda porównawcza
z użyciem radiometru
wzorcowego
od 9%
NIE
GUM
G
M23
455,00
W
widmowe natężenie
napromienienia przy
źródle 365 nm
(10 ÷ 1999) lx
metoda porównawcza
z użyciem luksomierza
wzorcowego,
(0,08 ÷ 4,00) mW/cm2
metoda porównawcza
z użyciem radiometru
wzorcowego
od 4%, od 9%
TAK
GUM
G
M23
910,00
W
temperatura barwowa
najbliższa lampy
wolframowej
(1900 ÷ 3000) K
pomiar współrzędnych
trójchromatycznych za
pomocą kolorymetru
trójchromatycznego
od 1,5%
NIE
NPL
G
M23
182,00
W
współrzędne
chromatyczności x, y
dowolnego źródła
(2600 ÷ 3600) K;
ok.100 lx
metoda z użyciem
kolorymetru
trójchromatycznego
i luksomierza
wzorcowego
W
współrzędne
chromatyczności x, y
lampy wolframowej
2856 K
metoda porównawcza
z użyciem wzorców
1,60%
odniesienia temperatury
barwowej i światłości
Odbiornik
szerokopasmowy
W
Właściwości
odbiorników
Odbiornik
szerokopasmowy
W
Właściwości
odbiorników
Odbiornik
szerokopasmowy
W
Właściwości
odbiorników
Odbiornik
szerokopasmowy
W
Właściwości
odbiorników
Dowolny odbiornik
W
W
M2-571
Widmowo
scałkowane pomiary
parametrów żródeł i
odbiorników
M2-572
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Widmowo
scałkowane pomiary
parametrów żródeł i
odbiorników
M2-573
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Widmowo
scałkowane pomiary
parametrów żródeł i
odbiorników
Lampa wolframowa
Dowolne źródło Kalibrator
fotometryczny
Kolorymetry firmy LMT
4)
realizację usługi
M23
Właściwości
odbiorników
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
zakres
(380 ÷ 780) nm
co 20 nm
W
Miernik UVA + Miernik
światła białego
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
G
Odbiornik
szerokopasmowy
Widmowe
właściwości
emisyjne źródeł,
Fotometria
Uwagi dot.
wzorcowania
PTB
Właściwości
odbiorników
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
NIE
W
M2-570
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
0,01
Odbiornik
szerokopasmowy
Miernik UVA
widmowa czułość
względem mocy
odbiornika
szerokopasmowego
widmowa czułość
względem mocy
odbiornika
szerokopasmowego
widmowa czułość
względem mocy
odbiornika
szerokopasmowego
widmowa czułość
względem mocy
odbiornika
szerokopasmowego
widmowa czułość
względem mocy
odbiornika
szerokopasmowego
widmowa czułość
względem mocy
odbiornika
szerokopasmowego
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
(0,01 ÷ 1) A/W
metoda porównawcza
bezpośrednia
Właściwości
odbiorników
Widmowe
właściwości
emisyjne źródeł
Wzorcowanie wielkość mierzona
0,02
Strona 90
NIE
GUM
G
M23
cena obejmuje pomiar
współrzędnych
trójchromatycznych
(określenie
temperatury
273,00
barwowej) oraz
pomiar natężenia
oświetlenia w oknie
pomiarowym
kalibratora
NIE
GUM
G
M23
910,00
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
2856 K
metoda porównawcza
z użyciem wzorców
1,60%
odniesienia temperatury
barwowej i światłości
M2-574
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Widmowo
scałkowane pomiary
parametrów żródeł i
odbiorników
Kolorymetry innych
producentów
W
współrzędne
chromatyczności x, y
lampy wolframowej
M2-575
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorzec wysokiego
połysku - wzorcowanie
dla jednej z trzech
geometrii
pomiarowych: 20/20,
60/60, 85/85
W
(90 ÷ 100) GU
połysk wysoki dowolnego metoda porównawcza z
materiału
użyciem wzorca
odniesienia
M2-576
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorzec wysokiego
połysku - wzorcowanie
dla dwóch z trzech
geometrii
pomiarowych: 20/20,
60/60, 85/85
W
M2-577
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Wzorzec wysokiego
połysku - wzorcowanie
dla trzech geometrii
pomiarowych: 20/20,
60/60, 85/85
W
M2-578
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
M2-579
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
M2-580
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Barwa i inne
widmowo
scałkowane pomiary
parametrów
materiałów
Połyskomierz wzorcowanie dla
jednej z trzech
geometrii
pomiarowych: 20/20,
60/60, 85/85
Połyskomierz wzorcowanie dla
dwóch z trzech
geometrii
pomiarowych: 20/20,
60/60, 85/85
Połyskomierz wzorcowanie dla
trzech geometrii
pomiarowych: 20/20,
60/60, 85/85
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
NIE
GUM
G
M23
1300,00
od 0,5%
NIE
BAM
G
M23
195,00
(90 ÷ 100) GU
połysk wysoki dowolnego metoda porównawcza
materiału
z użyciem wzorca
odniesienia
od 0,5%
NIE
BAM
G
M23
390,00
(90 ÷ 100) GU
połysk wysoki dowolnego metoda porównawcza
materiału
z użyciem wzorca
odniesienia
od 0,5%
NIE
BAM
G
M23
585,00
W
(90 ÷ 100) GU
metoda porównawcza
od 0,6%
z użyciem połyskomierza
wzorcowego
NIE
BAM
G
M23
390,00
W
(90 ÷ 100) GU
metoda porównawcza
od 0,6%
z użyciem połyskomierza
wzorcowego
NIE
BAM
G
M23
617,50
W
(90 ÷ 100) GU
metoda porównawcza
od 0,6%
z użyciem połyskomierza
wzorcowego
NIE
BAM
G
M23
845,00
M2-581
Akustyka
i drgania
Akustyka
Mikrofon pomiarowy
Mikrofon pomiarowy
klasy LS1 lub WS1
W
poziom skuteczności
ciśnieniowej - moduł
2 Hz ÷ 10 kHz
metoda wzajemności
LS1: 0,03 dB
0,05 dB przy
częstotliwości
Hz
TAK
GUM
G
M2-582
Akustyka
i drgania
Akustyka
Mikrofon pomiarowy
Mikrofon pomiarowy
klasy LS1 lub WS1
W
poziom skuteczności
ciśnieniowej - moduł
250 Hz, 500, Hz i 1kHz
metoda wzajemności
LS1: 0,03 dB WS1:
0,05 dB przy
TAK
częstotliwości 250
Hz
GUM
G
M2-583
Akustyka
i drgania
Akustyka
Mikrofon pomiarowy
Mikrofon pomiarowy
klasy LS2 lub WS2
W
poziom skuteczności
ciśnieniowej - moduł
31,5 Hz ÷ 20 kHz
metoda wzajemności
0,05 dB przy
częstotliwości
Hz
GUM
G
Strona 91
WS1:
250
250
TAK
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
Liczba rbg dotyczy
wzorcowania
w całym zakresie
M24
częstotliwości.
Niepewność zależy od
częstotliwości
pomiarowej.
Liczba rbg dotyczy
wzorcowania
w całym zakresie
M24
częstotliwości.
Niepewność zależy od
częstotliwości
pomiarowej.
Liczba rbg dotyczy
wzorcowania
w całym zakresie
M24
częstotliwości.
Niepewność zależy od
częstotliwości
pomiarowej.
3380,00
1560,00
3640,00
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
M2-584
Akustyka
i drgania
Akustyka
Mikrofon pomiarowy
Mikrofon pomiarowy
klasy LS2 lub WS2
W
poziom skuteczności
ciśnieniowej - moduł
M2-585
Akustyka
i drgania
Akustyka
Mikrofon pomiarowy
Mikrofon pomiarowy
klasy LS1 lub LS2
W
poziom skuteczności
ciśnieniowej - moduł
M2-586
Akustyka
i drgania
Akustyka
Mikrofon pomiarowy
Mikrofon pomiarowy
klasy WS1, WS2 lub
WS3
W
poziom skuteczności
ciśnieniowej - moduł
M2-587
M2-588
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Akustyka
Mikrofon pomiarowy
Mikrofon pomiarowy
klasy WS1, WS2 lub
WS3
Mikrofon pomiarowy
klasy WS1, WS2 lub
WS3
W
W
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
250 Hz, 500, Hz i 1kHz
metoda wzajemności
250 Hz
metoda wzorcowego
kalibratora
250 Hz lub 1 kHz
metoda wzorcowego
kalibratora
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
G
0,07 dB lub 0,08 dB
NIE
GUM
G
Niepewność zależy od
M24
klasy mikrofonu.
650,00
0,08 dB ÷ 0,10 dB
NIE
GUM
G
Niepewność zależy od
M24
klasy mikrofonu.
650,00
G
Niepewność zależy od
częstotliwości
i rodzaju mikrofonu.
Dla mikrofonów
przeznaczonych do
stosowania w polu
M24
swobodnym
w niepewności
uwzględnia się
niepewność poprawek
dla pola swobodnego
520,00
G
Niepewność zależy od
częstotliwości
i rodzaju mikrofonu.
Dla mikrofonów
przeznaczonych do
stosowania w polu
M24
swobodnym
w niepewności
uwzględnia się
niepewność poprawek
dla pola swobodnego
845,00
poziom skuteczności
ciśnieniowej - moduł
0,05 dB ÷ 0,11 dB
TAK
GUM
G
W
poziom ciśnienia
akustycznego
4)
GUM
NIE
NIE
GUM
GUM
Niepewność zależy od
rodzaju
zastosowanego
M24
mikrofonu
wzorcowego i od
rodzaju kalibratora
wzorcowanego
Niepewność zależy od
rodzaju
zastosowanego
M24
mikrofonu
wzorcowego i od
rodzaju kalibratora
wzorcowanego
1560,00
M2-589
Akustyka
i drgania
Akustyka
Kalibrator akustyczny
jednoczęstotliwościow
Kalibrator akustyczny y, jeden poziom
ciśnienia
akustycznego
M2-590
Akustyka
i drgania
Akustyka
Kalibrator akustyczny
jednoczęstotliwościow
Kalibrator akustyczny y, dwa poziomy
ciśnienia
akustycznego
W
poziom ciśnienia
akustycznego
70 dB ÷ 130 dB
160 Hz ÷ 1 kHz
metoda wzorcowego
mikrofonu
0,05 dB ÷ 0,11 dB
TAK
GUM
G
M2-591
Akustyka
i drgania
Akustyka
Kalibrator akustyczny
jednoczęstotliwościow
Kalibrator akustyczny y, jeden poziom
ciśnienia
akustycznego
W
poziom ciśnienia
akustycznego
70 dB ÷ 130 dB
160 Hz ÷ 1 kHz
metoda porównawcza
0,08 dB ÷ 0,12 dB
NIE
GUM
G
Niepewność zależy od
rodzaju kalibratora
M24
wzorcowanego
520,00
M2-592
Akustyka
i drgania
Akustyka
Kalibrator akustyczny
jednoczęstotliwościow
Kalibrator akustyczny y, dwa poziomy
ciśnienia
akustycznego
W
poziom ciśnienia
akustycznego
70 dB ÷ 130 dB
160 Hz ÷ 1 kHz
metoda porównawcza
0,08 dB ÷ 0,12 dB
NIE
GUM
G
Niepewność zależy od
rodzaju kalibratora
M24
wzorcowanego
650,00
Strona 92
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
realizację usługi
TAK
250 Hz lub 1 kHz
- metoda wzorcowego
kalibratora
i
0,08 dB ÷ 0,10 dB
od 20 Hz do górnej
0,1 dB ÷ 0,9 dB
częstotliwości granicznej
mikrofonu metoda pobudnika
elektrostatycznego
70 dB ÷ 130 dB
160 Hz ÷ 1 kHz
metoda wzorcowego
mikrofonu
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
250
0,05 dB przy
częstotliwości
Hz
od 20 Hz do górnej
częstotliwości granicznej
mikrofonu metoda
0,1 dB ÷ 0,9 dB
pobudnika
elektrostatycznego
Mikrofon pomiarowy
Uwagi dot.
wzorcowania
Liczba rbg dotyczy
wzorcowania
w całym zakresie
M24
częstotliwości.
Niepewność zależy od
częstotliwości
pomiarowej.
poziom skuteczności
ciśnieniowej - moduł
Akustyka
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
650,00
845,00
ID
Obiektu
M2-593
M2-594
M2-595
M2-596
M2-597
Dziedzina
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Akustyka
Kalibrator akustyczny
wieloczęstotliwościowy
Kalibrator akustyczny - jeden poziom
ciśnienia
akustycznego
Akustyka
Kalibrator akustyczny
wieloczęstotliwościowy
Kalibrator akustyczny - dwa poziomy
ciśnienia
akustycznego
Akustyka
Akustyka
Akustyka
Miernik poziomu
dźwięku spełniający
Przyrząd do pomiaru
wymagania norm PNdźwięku
EN 60651(U)
i PN-EN 60804(U)
Miernik poziomu
dźwięku spełniający
Przyrząd do pomiaru wymagania normy PNdźwięku
EN 60651(U) albo
normy PN-EN
60804(U)
Miernik poziomu
dźwięku spełniający
Przyrząd do pomiaru
wymagania normy PNdźwięku
EN 61672-1,
jednokanałowy
W
Wzorcowanie wielkość mierzona
poziom ciśnienia
akustycznego
W
poziom ciśnienia
akustycznego
W
odpowiedź miernika na
sygnał akustyczny
w warunkach
ciśnieniowych/
odpowiedź miernika na
sygnały akustyczne w
polu swobodnym
w zakresie częstotliwości
słyszalnych/ odpowiedź
miernika na sygnały
elektryczne określone w
normach przedmiotowych
W
odpowiedź miernika na
sygnał akustyczny
w warunkach
ciśnieniowych/
odpowiedź miernika na
sygnały akustyczne w
polu swobodnym
w zakresie częstotliwości
słyszalnych/ odpowiedź
miernika na sygnały
elektryczne określone w
normach przedmiotowych
W
odpowiedź miernika na
sygnał akustyczny
w warunkach
ciśnieniowych/
odpowiedź miernika na
sygnały akustyczne w
polu swobodnym
w zakresie częstotliwości
słyszalnych/ odpowiedź
miernika na sygnały
elektryczne określone w
normie PN-EN 61672-3
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
70 dB ÷ 130 dB
31,5 Hz ÷ 16 kHz
metoda wzorcowego
mikrofonu
70 dB ÷ 130 dB
31,5 Hz ÷ 16 kHz
metoda wzorcowego
mikrofonu
0,10 dB ÷ 0,15 dB
0,10 dB ÷ 0,15 dB
CMC
NIE
NIE
0,2 dB, 03 dB lub 0,5
dB/
TAK
0,2 dB ÷ 0,9 dB/
0,2 dB ÷ 0,5 dB
0,2 dB, 03 dB lub 0,5
dB/
TAK
0,2 dB ÷ 0,9 dB/
0,1 dB ÷ 0,3 dB
0,2 dB/
0,2 dB ÷ 0,6 dB/
0,1 dB ÷ 0,3 dB
Strona 93
NIE
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
GUM
GUM
GUM
GUM
GUM
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
G
Niepewność zależy od
częstotliwości sygnału
Liczba rbg dotyczy
wzorcowania
M24
kalibratora w całym
zakresie
częstotliwości dla
jednego poziomu.
1495,00
G
Niepewność zależy od
częstotliwości sygnału
Liczba rbg dotyczy
wzorcowania
M24
kalibratora w całym
zakresie
częstotliwości dla
jednego poziomu.
2405,00
G
Niepewność zależy od
rodzaju
zastosowanego
kalibratora
i rozdzielczości
miernika/ od
M24
częstotliwości
pomiarowej oraz typu
miernika
i mikrofonu/ od typu
miernika oraz od
rodzaju jego
charakterytyki.
1170,00
G
Niepewność zależy od
rodzaju
zastosowanego
kalibratora
i rozdzielczości
miernika/ od
częstotliwości
M24
pomiarowej oraz typu
miernika
i mikrofonu/ od typu
miernika oraz od
rodzaju jego
charakterytyki.
975,00
G
Niepewność zależy od
częstotliwości
pomiarowej oraz typu
miernika
M24
i mikrofonu oraz od
typu miernika
i rodzaju jego
charakterytyki.
1040,00
ID
Obiektu
M2-598
M2-599
M2-600
M2-601
Dziedzina
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Subdziedzina
Akustyka
Akustyka
Akustyka
Akustyka
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Miernik poziomu
dźwięku spełniający
Przyrząd do pomiaru
wymagania normy PNdźwięku
EN 61672-1,
dwukanałowy
Miernik poziomu
dźwięku spełniający
Przyrząd do pomiaru
wymagania normy PNdźwięku
EN 61672-1,
trzykanałowy
Miernik poziomu
dźwięku spełniający
Przyrząd do pomiaru
wymagania normy PNdźwięku
EN 61672-1,
czterokanałowy
Miernik poziomu
dźwięku SONOPAN
Przyrząd do pomiaru typ AS-200
dźwięku
spełniający
wymagania normy PNEN 61672-1
Wzorcowanie wielkość mierzona
W
odpowiedź miernika na
sygnał akustyczny
w warunkach
ciśnieniowych/
odpowiedź miernika na
sygnały akustyczne w
polu swobodnym
w zakresie częstotliwości
słyszalnych/ odpowiedź
miernika na sygnały
elektryczne określone w
normie PN-EN 61672-3
W
odpowiedź miernika na
sygnał akustyczny
w warunkach
ciśnieniowych/
odpowiedź miernika na
sygnały akustyczne w
polu swobodnym
w zakresie częstotliwości
słyszalnych/ odpowiedź
miernika na sygnały
elektryczne określone w
normie PN-EN 61672-3
W
odpowiedź miernika na
sygnał akustyczny
w warunkach
ciśnieniowych/
odpowiedź miernika na
sygnały akustyczne w
polu swobodnym
w zakresie częstotliwości
słyszalnych/ odpowiedź
miernika na sygnały
elektryczne określone w
normie PN-EN 61672-3
W
odpowiedź miernika na
sygnał akustyczny
w warunkach
ciśnieniowych/
odpowiedź miernika na
sygnały akustyczne w
polu swobodnym
w zakresie częstotliwości
słyszalnych/ odpowiedź
miernika na sygnały
elektryczne określone w
normie PN-EN 61672-3
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
0,2 dB/
0,2 dB ÷ 0,6 dB/
0,1 dB ÷ 0,3 dB
0,2 dB/
0,2 dB ÷ 0,6 dB/
0,1 dB ÷ 0,3 dB
CMC
NIE
NIE
0,2 dB lub 0,3 dB/ 0,2
dB ÷ 0,6 dB/ 0,1 dB NIE
÷ 0,3 dB
0,2 dB/
0,2 dB ÷ 0,6 dB/
0,1 dB ÷ 0,3 dB
Strona 94
NIE
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
GUM
GUM
GUM
GUM
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
G
Niepewność zależy od
częstotliwości
pomiarowej oraz typu
miernika
M24
i mikrofonu oraz od
typu miernika
i rodzaju jego
charakterytyki.
1560,00
G
Niepewność zależy od
częstotliwości
pomiarowej oraz typu
miernika
M24
i mikrofonu oraz od
typu miernika
i rodzaju jego
charakterytyki.
2210,00
G
Niepewność zależy od
częstotliwości
pomiarowej oraz typu
miernika
M24
i mikrofonu oraz od
typu miernika
i rodzaju jego
charakterytyki.
2730,00
G
Niepewność zależy od
częstotliwości
pomiarowej oraz typu
miernika
M24
i mikrofonu oraz od
typu miernika
i rodzaju jego
charakterytyki.
715,00
ID
Obiektu
M2-602
M2-603
M2-604
M2-605
M2-606
Dziedzina
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Subdziedzina
Akustyka
Akustyka
Akustyka
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Indywidualny miernik
ekspozycji na dźwięk
Przyrząd do pomiaru (dozymetr hałasu) dźwięku
jednokanałowy,
w zakresie
podstawowym
Indywidualny miernik
ekspozycji na dźwięk
Przyrząd do pomiaru (dozymetr hałasu) jednokanałowy,
dźwięku
w zakresie
rozszerzonym
Indywidualny miernik
ekspozycji na dźwięk
Przyrząd do pomiaru (dozymetr hałasu) dźwięku
dwukanałowy,
w zakresie
podstawowym
Akustyka
Indywidualny miernik
ekspozycji na dźwięk
Przyrząd do pomiaru (dozymetr hałasu) dwukanałowy,
dźwięku
w zakresie
rozszerzonym
Akustyka
Miernik poziomu
ciśnienia
Przyrząd do pomiaru akustycznego
w zakresie
dźwięku
częstotliwości
infradźwiękowych
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
W
odpowiedź miernika na
sygnał akustyczny
w warunkach
ciśnieniowych/
odpowiedź miernika na
sygnały akustyczne w
polu swobodnym
w zakresie częstotliwości
słyszalnych/ odpowiedź
miernika na sygnały
elektryczne określone w
normie
PN-EN 61252
3,25%/
0,2 dB ÷ 0,9 dB/
1,5% ÷ 10%
NIE
GUM
G
W
odpowiedź miernika na
sygnał akustyczny
w warunkach
ciśnieniowych/
odpowiedź miernika na
sygnały akustyczne
w polu swobodnym
w zakresie częstotliwości
słyszalnych/ odpowiedź
miernika na sygnały
elektryczne określone w
normie
PN-EN 61252
3,25%;
0,2 dB ÷ 0,9 dB;
1,5% ÷ 26%
NIE
GUM
G
W
odpowiedź miernika na
sygnał akustyczny
w warunkach
ciśnieniowych/
odpowiedź miernika na
sygnały akustyczne
w polu swobodnym
w zakresie częstotliwości
słyszalnych/ odpowiedź
miernika na sygnały
elektryczne określone w
normie
PN-EN 61252
3,25%;
0,2 dB ÷ 0,9 dB;
1,5% ÷ 10%
NIE
GUM
G
W
odpowiedź miernika na
sygnał akustyczny
w warunkach
ciśnieniowych/
odpowiedź miernika na
sygnały akustyczne
w polu swobodnym
w zakresie częstotliwości
słyszalnych/ odpowiedź
miernika na sygnały
elektryczne określone w
normie
PN-EN 61252
3,25%/
0,2 dB ÷ 0,9 dB/
1,5% ÷ 26%
NIE
GUM
G
W
odpowiedź miernika na
sygnał akustyczny
w warunkach
ciśnieniowych/
odpowiedź miernika na
sygnały akustyczne w
polu swobodnym
w zakresie częstotliwości
infradźwiękowych
0,2 dB/
0,3 dB
NIE
DPLA / DFM
G
Strona 95
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
Niepewność zależy
od:
rodzaju
zastosowanego
kalibratora
i rozdzielczości
miernika/ od
częstotliwości
pomiarowej oraz typu
miernika
i mikrofonu/ od typu
miernika, rodzaju jego
charakterytyki
i czasu całkowania.
Niepewność zależy
od:
rodzaju
zastosowanego
kalibratora
i rozdzielczości
miernika/ od
częstotliwości
pomiarowej oraz typu
miernika
i mikrofonu/ od typu
miernika, rodzaju jego
charakterytyki
i czasu całkowania.
Niepewność zależy
od:
rodzaju
zastosowanego
kalibratora
i rozdzielczości
miernika/ od
częstotliwości
pomiarowej oraz typu
miernika
i mikrofonu/ od typu
miernika, rodzaju jego
charakterytyki
i czasu całkowania.
Niepewność zależy
od:
rodzaju
zastosowanego
kalibratora
i rozdzielczości
miernika/ od
częstotliwości
pomiarowej oraz typu
miernika
i mikrofonu/ od typu
miernika, rodzaju jego
charakterytyki
i czasu całkowania.
M24
910,00
M24
1300,00
M24
1430,00
M24
2535,00
M24
910,00
ID
Obiektu
M2-607
M2-608
M2-609
M2-610
M2-611
M2-612
M2-613
Dziedzina
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Subdziedzina
Akustyka
Akustyka
Akustyka
Akustyka
Akustyka
Akustyka
Akustyka
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Miernik poziomu
ciśnienia
akustycznego
Przyrząd do pomiaru z filtrami 1/3dźwięku
oktawowymi
w zakresie
częstotliwości
ultradźwiękowych
Miernik poziomu
Przyrząd do pomiaru dźwięku wyposażony
dźwięku
w filtry pasmowe
oktawowe, analogowe
Miernik poziomu
Przyrząd do pomiaru dźwięku wyposażony
dźwięku
w filtry pasmowe 1/3oktawowe, analogowe
Miernik poziomu
dźwięku wyposażony
Przyrząd do pomiaru
w filtry pasmowe
dźwięku
oktawowe i 1/3oktawowe, analogowe
Miernik poziomu
Przyrząd do pomiaru dźwięku wyposażony
dźwięku
w filtry pasmowe
oktawowe, cyfrowe
Miernik poziomu
Przyrząd do pomiaru dźwięku wyposażony
dźwięku
w filtry pasmowe 1/3oktawowe, cyfrowe
Miernik poziomu
dźwięku wyposażony
Przyrząd do pomiaru
w filtry pasmowe
dźwięku
oktawowe i 1/3oktawowe, cyfrowe
W
Wzorcowanie wielkość mierzona
charakterystyka
częstotliwościowa
mikrofonu/
charakterystyki tłumienia
względnego filtrów/
odpowiedź miernika
z filtrami na elektryczne
sygnały pomiarowe
W
odpowiedź przyrządu na
sygnał akustyczny
w warunkach
ciśnieniowych/
odpowiedź przyrządu na
sygnały elektryczne
określone w normach
przedmiotowych
W
odpowiedź przyrządu na
sygnał akustyczny
w warunkach
ciśnieniowych/
odpowiedź przyrządu na
sygnały elektryczne
określone w normie
PN-EN 61260
W
odpowiedź przyrządu na
sygnał akustyczny
w warunkach
ciśnieniowych/
odpowiedź przyrządu na
sygnały elektryczne
określone w normie
PN-EN 61260
W
odpowiedź przyrządu na
sygnały akustyczne w
warunkach
ciśnieniowych/
odpowiedź przyrządu na
sygnały elektryczne
określone w normie
PN-EN 61260
W
odpowiedź przyrządu na
sygnały akustyczne w
warunkach
ciśnieniowych/
odpowiedź przyrządu na
sygnały elektryczne
określone w normie
PN-EN 61260
W
odpowiedź przyrządu na
sygnały akustyczne w
warunkach
ciśnieniowych/
odpowiedź przyrządu na
sygnały elektryczne
określone w normie
PN-EN 61260
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
0,2 dB ÷ 0,5 dB/
0,2 dB ÷ 0,3 dB/
0,2 dB
0,2 dB ÷ 0,3 dB
0,2 dB ÷ 0,3 dB
0,2 dB ÷ 0,3 dB
0,2 dB ÷ 0,3 dB
0,2 dB ÷ 0,3 dB
0,2 dB ÷ 0,3 dB
Strona 96
CMC
NIE
NIE
NIE
NIE
NIE
NIE
NIE
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
GUM
GUM
GUM
GUM
GUM
GUM
GUM
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
G
Niepewność zależy od
częstotliwości
pomiarowej
i rodzaju mikrofonu, w
M24
jaki wyposażony jest
miernik / od wartości
tłumienia względnego
filtru.
1170,00
G
W czasie
wzorcowania
wyznacza się
charakterystyki
tłumienia względnego M24
wszystkich filtrów
oktawowych
z zakresu
31,5 Hz - 16 kHz.
650,00
G
W czasie
wzorcowania
wyznacza się
charakterystyki
tłumienia względnego M24
wszystkich filtrów 1/3oktawowych
z zakresu
20 Hz ÷ 20 kHz.
1040,00
G
W czasie
wzorcowania
wyznacza się
charakterystyki
tłumienia względnego
M24
wszystkich filtrów
oktawowych
i 1/3-oktawowych
z zakresu
20 Hz ÷ 20 kHz.
1365,00
G
W czasie
wzorcowania
wyznacza się
charakterystyki
M24
tłumienia względnego
trzech wybranych
filtrów oktawowych.
455,00
G
W czasie
wzorcowania
wyznacza się
charakterystyki
M24
tłumienia względnego
dziewięciu wybranych
filtrów 1/3oktawowych.
715,00
G
W czasie
wzorcowania
wyznacza się
charakterystyki
tłumienia względnego
M24
trzech wybranych
filtrów oktawowych
i dziewięciu
wybranych filtrów 1/3oktawowych.
845,00
ID
Obiektu
M2-614
M2-615
M2-616
Dziedzina
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Akustyka
Symulator ucha i
głowica impedancyjna
do wzorcowania
sprzęgaczy
mechanicznych
Akustyka
Symulator ucha i
głowica impedancyjna
Sprzęgacz
do wzorcowania
mechaniczny
sprzęgaczy
mechanicznych
Audiometr
Audiometr
Układ pomiarowy ze
sprzęgaczem
odniesienia lub
sztucznym uchem
Audiometr
Wzorcowanie wielkość mierzona
W
poziom odpowiedzi
układu
W
poziom skuteczności przy
250 Hz ÷ 4 kHz
pobudzeniu siłą
metoda porównawcza/
dynamiczną/ poziom
250 Hz ÷ 4 kHz
impedancji mechanicznej
metoda porównawcza/
- moduł/ poziom
250 Hz
impedancji mechanicznej
metoda bezpośrednia
- faza
W
poziom ciśnienia
akustycznego
dla przewodnictwa
powietrznego/
poziom siły dynamicznej
dla przewodnictwa
kostnego
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
125 Hz ÷ 8 kHz
metoda porównawcza
0 dB ÷ 130 dB
125 Hz ÷ 8 kHz/
0 dB ÷ 80 dB
250 Hz ÷ 4 kHz
CMC
0,3 dB
NIE
0,4 dB ÷ 0,5 dB/ 0,6
dB/ 1°
NIE
0,4 dB/ 0,6 dB
NIE
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
NPL / GUM
PTB / GUM
NPL / GUM
PTB / GUM
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
G
M24
845,00
G
Niepewność zależy od
częstotliwości
M24
pomiarowej.
1300,00
G
Liczba rbg dotyczy
wyznaczenia
poziomów słyszenia
tonów, poziomów
szumów maskujących,
częstotliwości tonów,
zniekształceń
nieliniowych oraz siły
docisku pałąka
M24
słuchawek
nausznych/ Liczba rbg
dotyczy wyznaczenia
poziomów słyszenia
tonów, zniekształceń
nieliniowych oraz siły
docisku pałąka
słuchawki kostnej.
845,00
M2-617
Akustyka
i drgania
Drgania
Miernik drgań maszyn Przyrządy do pomiaru
1 kanał, wielkość
drgań mechanicznych
mierzona:
prostoliniowych
przyspieszenie
W
błąd wskazań miernika
0,5 Hz ÷ 100 Hz
metoda porównawcza
1,1% ÷ 1,6% zależnie
TAK
od częstotliwości
PTB
G
kierunek drgań
poziomy;
przyspieszenie max.
1 m/s2
M24
M2-618
Akustyka
i drgania
Drgania
Miernik drgań maszyn Przyrządy do pomiaru
1 kanał, wielkość
drgań mechanicznych
mierzona:
prostoliniowych
przyspieszenie
W
błąd wskazań miernika
0,5 Hz ÷ 100 Hz metoda 1,1% ÷ 1,6% zależnie
TAK
porównawcza
od częstotliwości
PTB
G
kierunek drgań
poziomy;
przyspieszenie max.
1 m/s2
M24
M2-619
Akustyka
i drgania
Drgania
Miernik drgań maszyn Przyrządy do pomiaru
1 kanał, wielkość
drgań mechanicznych
mierzona:
prostoliniowych
przyspieszenie
W
błąd wskazań miernika
0,5 Hz ÷ 100 Hz
metoda porównawcza
PTB
G
kierunek drgań
poziomy;
przyspieszenie max.
1 m/s2
M24
1,1% ÷ 1,6% zależnie
TAK
od częstotliwości
Strona 97
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
Koszt dotyczy
miernika 1kanałowego o 1
wzmocnieniu z 1
przetwornikiem
390,00
piezoelektrycznym.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Koszt dotyczy
miernika 1kanałowego o 1
wzmocnieniu z 1
przetwornikiem
455,00
piezoelektrycznym.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Koszt dotyczy
miernika 1kanałowego o 1
wzmocnieniu z 1
przetwornikiem
520,00
piezoelektrycznym.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
M2-620
Akustyka
i drgania
Drgania
Miernik drgań maszyn Przyrządy do pomiaru
1 kanał, wielkość
drgań mechanicznych
mierzona:
prostoliniowych
przyspieszenie
W
błąd wskazań miernika
0,5 Hz ÷ 100 Hz
metoda porównawcza
1,1% ÷ 1,6% zależnie
TAK
od częstotliwości
PTB
G
kierunek drgań
poziomy;
przyspieszenie max.
1 m/s2
M24
M2-621
Akustyka
i drgania
Drgania
Miernik drgań maszyn Przyrządy do pomiaru
1 kanał, wielkość
drgań mechanicznych
mierzona:
prostoliniowych
przyspieszenie
W
błąd wskazań miernika
0,5 Hz ÷ 100 Hz
metoda porównawcza
1,1% ÷ 1,6% zależnie
TAK
od częstotliwości
PTB
G
kierunek drgań
poziomy;
przyspieszenie max.
1 m/s2
M24
M2-622
Akustyka
i drgania
Drgania
Miernik drgań maszyn Przyrządy do pomiaru
1 kanał, wielkość
drgań mechanicznych
mierzona:
prostoliniowych
przyspieszenie
W
błąd wskazań miernika
0,5 Hz ÷ 100 Hz
metoda porównawcza
1,1% ÷ 1,6% zależnie
TAK
od częstotliwości
PTB
G
kierunek drgań
poziomy;
przyspieszenie max.
1 m/s2
M24
M2-623
M2-624
M2-625
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Drgania
Drgania
Drgania
Miernik drgań maszyn Przyrządy do pomiaru
1 kanał, wielkość
drgań mechanicznych
mierzona:
prostoliniowych
przyspieszenie
Miernik drgań maszyn Przyrządy do pomiaru
1 kanał, wielkość
drgań mechanicznych
mierzona:
prostoliniowych
przyspieszenie
Miernik drgań maszyn 1 kanał, wielkość
mierzona:
przyspieszenie
W
W
W
błąd wskazań miernika
błąd wskazań miernika
błąd wskazań miernika
5 Hz ÷ 5 kHz
metoda porównawcza
5 Hz ÷ 5 kHz
metoda porównawcza
5 Hz ÷ 5 kHz
metoda porównawcza
1,1% ÷ 1,6% zależnie
TAK
od częstotliwości
1,1% ÷ 1,6% zależnie
TAK
od częstotliwości
1,1% ÷ 1,6% zależnie
TAK
od częstotliwości
Strona 98
GUM
GUM
GUM
G
G
G
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
Koszt dotyczy
miernika 1kanałowego o 1
wzmocnieniu z 1
przetwornikiem
650,00
piezoelektrycznym.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Koszt dotyczy
miernika 1kanałowego o 1
wzmocnieniu z 1
przetwornikiem
780,00
piezoelektrycznym.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Koszt dotyczy
miernika 1kanałowego o 1
wzmocnieniu z 1
przetwornikiem
910,00
piezoelektrycznym.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
M24
Koszt dotyczy
miernika 1kanałowego o 1
wzmocnieniu z 1
przetwornikiem
390,00 piezoelektrycznym i 1
wielkości mierzonej.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
M24
Koszt dotyczy
miernika 1kanałowego o 1
wzmocnieniu z 1
przetwornikiem
455,00 piezoelektrycznym i 1
wielkości mierzonej.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
M24
Koszt dotyczy
miernika 1kanałowego o 1
wzmocnieniu z 1
przetwornikiem
piezoelektrycznym i 1
520,00
wielkości
mierzonej.Cena za
usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
ID
Obiektu
M2-626
M2-627
M2-628
M2-629
M2-630
M2-631
Dziedzina
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Subdziedzina
Drgania
Drgania
Drgania
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Miernik drgań maszyn Przyrządy do pomiaru
1 kanał, wielkość
drgań mechanicznych
mierzona:
prostoliniowych
przyspieszenie
Miernik drgań maszyn Przyrządy do pomiaru
1 kanał, wielkość
drgań mechanicznych
mierzona:
prostoliniowych
przyspieszenie
Miernik drgań maszyn Przyrządy do pomiaru
1 kanał, wielkość
drgań mechanicznych
mierzona:
prostoliniowych
przyspieszenie
Drgania
Miernik drgań maszyn Przyrządy do pomiaru
1 kanał, wielkość
drgań mechanicznych
mierzona:
prostoliniowych
przyspieszenie
Drgania
Miernik drgań
Przyrządy do pomiaru mechanicznych
drgań mechanicznych działających na
prostoliniowych
człowieka (o działaniu
ogólnym)
Drgania
Miernik drgań
mechanicznych
Przyrządy do pomiaru
działających na
drgań mechanicznych
człowieka
prostoliniowych
(przenoszonych przez
kończyny górne)
W
W
W
W
W
W
Wzorcowanie wielkość mierzona
błąd wskazań miernika
błąd wskazań miernika
błąd wskazań miernika
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
5 Hz ÷ 5 kHz
metoda porównawcza
5 Hz ÷ 5 kHz
metoda porównawcza
5 Hz ÷ 5 kHz
metoda porównawcza
CMC
1,1% ÷ 1,6% zależnie
TAK
od częstotliwości
1,1% ÷ 1,6% zależnie
TAK
od częstotliwości
1,1% ÷ 1,6% zależnie
TAK
od częstotliwości
błąd wskazań miernika
5 Hz ÷ 5 kHz
metoda porównawcza
1,1% ÷ 1,6% zależnie
TAK
od częstotliwości
błędy wskazań i błędy
charakterystyk
zależnie od
wg
mierzonego
PN-EN ISO 8041:2008
parametru od 1,1%
NIE
(zakres wzorcowania wg
do 2,8% dla miernika
rozdziału 13)
o rozdzielczości 1%
błędy wskazań i błędy
charakterystyk
zależnie od
wg
mierzonego
PN-EN ISO 8041:2008
NIE
parametru od 1,1%
(zakres wzorcowania wg
do 2,8% dla miernika
rozdziału 13)
o rozdzielczości 1%
Strona 99
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
GUM
GUM
GUM
GUM
GUM
GUM
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
G
G
G
G
G
3 - kanały;
1 przetwornik
3-osiowy do drgań
o działaniu ogólnym
G
3 - kanały;
1 przetwornik
3-osiowy do drgań
przenoszonych przez
kończyny górne
M24
Koszt dotyczy
miernika 1kanałowego o 1
wzmocnieniu z 1
przetwornikiem
650,00 piezoelektrycznym i 1
wielkości mierzonej.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
M24
Koszt dotyczy
miernika 1kanałowego o 1
wzmocnieniu z 1
przetwornikiem
piezoelektrycznym i 1
780,00
wielkości
mierzonej.Cena za
usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
M24
Koszt dotyczy
miernika 1kanałowego o 1
wzmocnieniu z 1
przetwornikiem
1040,00 piezoelektrycznym i 1
wielkości mierzonej.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
M24
Koszt dotyczy
miernika 1kanałowego o 1
wzmocnieniu z 1
przetwornikiem
1235,00 piezoelektrycznym i 1
wielkości mierzonej.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
M24
Koszt dotyczy
podanej konfiguracji
miernika Cena za
2080,00 usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
M24
Koszt dotyczy
podanej konfiguracji
miernika Cena za
1560,00 usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
ID
Obiektu
M2-632
Dziedzina
Akustyka
i drgania
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Drgania
Miernik drgań
Przyrządy do pomiaru
mechanicznych
drgań mechanicznych
działających na
prostoliniowych
człowieka
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
4)
G
3 - kanały;
po 1 przetworniku
3-osiowym do drgań o
M24
działaniu ogólnym i
przenoszonych przez
kończyny górne
Koszt dotyczy
podanej konfiguracji
miernika. Cena za
2860,00 usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Koszt dotyczy
podanej konfiguracji
miernika. Cena za
2340,00 usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
błędy wskazań i błędy
charakterystyk
W
błędy wskazań i błędy
charakterystyk
zależnie od
wg
mierzonego
PN-EN ISO 8041:2008
parametru od 1,1%
NIE
(zakres wzorcowania wg
do 2,8% dla miernika
rozdziału 13)
o rozdzielczości 1%
GUM
G
3 - kanały; po
1 przetworniku
3-osiowym do drgań
o działaniu ogólnym i
przenoszonych przez
kończyny górne
GUM
M2-633
Akustyka
i drgania
Drgania
Miernik drgań
Przyrządy do pomiaru
mechanicznych
drgań mechanicznych
działających na
prostoliniowych
człowieka
M2-634
Akustyka
i drgania
Drgania
Kalibrator drgań
Przyrządy do pomiaru mechanicznych
drgań mechanicznych jednoczęstotliwościow
prostoliniowych
y, jedna wartość
przyspieszenia drgań
W
przyspieszenie,
częstotliwość
porównawcza
0,8%
TAK
GUM
G
częstotliwość
nominalna 79,6 Hz lub M24
159,2 Hz
455,00
M2-635
Akustyka
i drgania
Drgania
Kalibrator drgań
Przyrządy do pomiaru mechanicznych
drgań mechanicznych jednoczęstotliwościow
prostoliniowych
y, jedna wartość
przyspieszenia drgań
W
przyspieszenie,
częstotliwość
porównawcza
0,8%
NIE
GUM
G
częstotliwość
nominalna 16 Hz
M24
585,00
Drgania
Kalibrator drgań
Przyrządy do pomiaru mechanicznych
drgań mechanicznych dwuczęstotliwościowy,
prostoliniowych
dwie wartości
przyspieszenia drgań
porównawcza
TAK - dla
częstotliwości 79,6
0,8% ÷ 2,5% zależnie
Hz lub
GUM
od rodzaju kalibratora
159,2 Hz;
NIE - dla
16 Hz
G
częstotliwości
nominalne 16 Hz
i 79,6 Hz lub 16 Hz
i 159,2 Hz
M24
650,00
Drgania
Kalibrator drgań
Przyrządy do pomiaru mechanicznych
drgań mechanicznych dwuczęstotliwościowy,
prostoliniowych
dwie wartości
przyspieszenia drgań
porównawcza
TAK - dla
częstotliwości 79,6
0,8% ÷ 2,5% zależnie
Hz lub
GUM
od rodzaju kalibratora
159,2 Hz;
NIE - dla
16 Hz
G
częstotliwości
nominalne 16 Hz
i 79,6 Hz lub 16 Hz
i 159,2 Hz
M24
780,00
M2-636
M2-637
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
W
W
przyspieszenie,
częstotliwość
przyspieszenie,
częstotliwość
M2-638
Akustyka
i drgania
Drgania
Przyrządy do pomiaru
Przetwornik drgań
drgań mechanicznych
mechanicznych
prostoliniowych
W
czułość w funkcji
częstotliwości
5 Hz ÷ 10 kHz
metoda bezwzględna
M2-639
Akustyka
i drgania
Drgania
Przyrządy do pomiaru
Przetwornik drgań
drgań mechanicznych
mechanicznych
prostoliniowych
W
czułość w funkcji
częstotliwości
5 Hz ÷ 10 kHz
metoda bezwzględna
M2-640
Akustyka
i drgania
Drgania
Przyrządy do pomiaru
Przetwornik drgań
drgań mechanicznych
mechanicznych
prostoliniowych
W
czułość w funkcji
częstotliwości
5 Hz ÷ 10 kHz
metoda bezwzględna
TAK - dla
zakresu 10
Hz ÷ 10
0,5% ÷ 1,4% zależnie kHz;
od częstotliwości
NIE - dla
zakresu
5 Hz ÷
8 Hz
TAK - dla
zakresu 10
Hz ÷ 10
0,5% ÷ 1,4% zależnie kHz;
od częstotliwości
NIE - dla
zakresu
5 Hz ÷
8 Hz
TAK - dla
zakresu 10
Hz ÷ 10
0,5% ÷ 1,4% zależnie kHz;
od częstotliwości
NIE - dla
zakresu
5 Hz ÷
8 Hz
Strona 100
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
realizację usługi
zależnie od
wg
mierzonego
PN-EN ISO 8041:2008
parametru od 1,1%
NIE
(zakres wzorcowania wg
do 2,8% dla miernika
rozdziału 13)
o rozdzielczości 1%
W
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
M24
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M24
1300,00
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M24
1430,00
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M24
1560,00
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
M2-641
Akustyka
i drgania
Drgania
Przyrządy do pomiaru
Przetwornik drgań
drgań mechanicznych
mechanicznych
prostoliniowych
W
czułość w funkcji
częstotliwości
5 Hz ÷ 10 kHz
metoda bezwzględna
M2-642
Akustyka
i drgania
Drgania
Przyrządy do pomiaru
Przetwornik drgań
drgań mechanicznych
mechanicznych
prostoliniowych
W
czułość w funkcji
częstotliwości
5 Hz ÷ 10 kHz
metoda bezwzględna
M2-643
M2-644
M2-645
M2-646
M2-647
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Drgania
Drgania
Drgania
Drgania
Drgania
Przyrządy do pomiaru
Przetwornik drgań
drgań mechanicznych
mechanicznych
prostoliniowych
Przyrządy do pomiaru
Przetwornik drgań
drgań mechanicznych
mechanicznych
prostoliniowych
Przyrządy do pomiaru
Przetwornik drgań
drgań mechanicznych
mechanicznych
prostoliniowych
Przyrządy do pomiaru
Przetwornik drgań
drgań mechanicznych
mechanicznych
prostoliniowych
Przyrządy do pomiaru
Przetwornik drgań
drgań mechanicznych
mechanicznych
prostoliniowych
W
W
W
W
W
czułość w funkcji
częstotliwości
czułość w funkcji
częstotliwości
czułość w funkcji
częstotliwości
czułość w funkcji
częstotliwości
czułość w funkcji
częstotliwości
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
0,5 Hz ÷ 100 Hz
metoda porównawcza
0,5 Hz ÷ 100 Hz
metoda porównawcza
0,5 Hz ÷ 100 Hz
metoda porównawcza
0,5 Hz ÷ 100 Hz
metoda porównawcza
0,5 Hz ÷ 100 Hz
metoda porównawcza
CMC
TAK - dla
zakresu 10
Hz ÷ 10
0,5% ÷ 1,4% zależnie kHz;
od częstotliwości
NIE - dla
zakresu
5 Hz ÷
8 Hz
TAK - dla
zakresu 10
Hz ÷ 10
0,5% ÷ 1,4% zależnie kHz;
od częstotliwości
NIE - dla
zakresu
5 Hz ÷
8 Hz
0,9% ÷ 1,4% zależnie
TAK
od częstotliwości
0,9% ÷ 1,4% zależnie
TAK
od częstotliwości
0,9% ÷ 1,4% zależnie
TAK
od częstotliwości
0,9 % ÷ 1,4 %
zależnie od
częstotliwości
TAK
0,9% ÷ 1,4% zależnie
TAK
od częstotliwości
Strona 101
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M24
1690,00
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M24
1820,00
PTB
PTB
PTB
PTB
PTB
G
G
G
G
G
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
M24
Koszt dotyczy 1
typowego 1-osiowego
piezoelektrycznego
przetwornika o masie
390,00 do 300 g. Cena za
usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
M24
Koszt dotyczy 1
typowego 1-osiowego
piezoelektrycznego
przetwornika o masie
455,00 do 300 g. Cena za
usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
M24
Koszt dotyczy 1
typowego 1-osiowego
piezoelektrycznego
przetwornika o masie
520,00 do 300 g. Cena za
usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
kierunek drgań
poziomy;
M24
przyspieszenie max. 1
2
m/s
Koszt dotyczy 1
typowego 1-osiowego
piezoelektrycznego
przetwornika o masie
650,00 do 300 g. Cena za
usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
kierunek drgań
poziomy;
przyspieszenie max.
1 m/s2
Koszt dotyczy 1
typowego 1-osiowego
piezoelektrycznego
przetwornika o masie
780,00 do 300 g. Cena za
usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
kierunek drgań
poziomy;
przyspieszenie max.
1 m/s2
kierunek drgań
poziomy;
przyspieszenie max.
1 m/s2
kierunek drgań
poziomy;
przyspieszenie max.
1 m/s2
M24
ID
Obiektu
M2-648
M2-649
M2-650
M2-651
M2-652
Dziedzina
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Subdziedzina
Drgania
Drgania
Drgania
Drgania
Drgania
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Przyrządy do pomiaru
Przetwornik drgań
drgań mechanicznych
mechanicznych
prostoliniowych
Przyrządy do pomiaru
Przetwornik drgań
drgań mechanicznych
mechanicznych
prostoliniowych
Przyrządy do pomiaru
Przetwornik drgań
drgań mechanicznych
mechanicznych
prostoliniowych
Przyrządy do pomiaru
Przetwornik drgań
drgań mechanicznych
mechanicznych
prostoliniowych
Przyrządy do pomiaru
Przetwornik drgań
drgań mechanicznych
mechanicznych
prostoliniowych
W
W
W
W
W
Wzorcowanie wielkość mierzona
czułość w funkcji
częstotliwości
czułość w funkcji
częstotliwości
czułość w funkcji
częstotliwości
czułość w funkcji
częstotliwości
czułość w funkcji
częstotliwości
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
0,5 Hz ÷ 100 Hz
metoda porównawcza
5 Hz ÷ 5 kHz
metoda porównawcza
5 Hz ÷ 5 kHz
metoda porównawcza
5 Hz ÷ 5 kHz
metoda porównawcza
5 Hz ÷ 5 kHz
metoda porównawcza
M2-653
Akustyka
i drgania
Drgania
Przyrządy do pomiaru
Zestaw pomiarowy - 1
drgań mechanicznych
wzmocnienie
prostoliniowych
W
czułość w funkcji
częstotliwości
5 Hz ÷ 10 kHz
metoda bezwzględna
M2-654
Akustyka
i drgania
Drgania
Przyrządy do pomiaru
Zestaw pomiarowy - 1
drgań mechanicznych
wzmocnienie
prostoliniowych
W
czułość w funkcji
częstotliwości
5 Hz ÷ 10 kHz
metoda bezwzględna
CMC
0,9% ÷ 1,4% zależnie
TAK
od częstotliwości
0,9% ÷ 1,2% zależnie
TAK
od częstotliwości
0,9% ÷ 1,2% zależnie
TAK
od częstotliwości
0,9% ÷ 1,2% zależnie
TAK
od częstotliwości
0,9% ÷ 1,2% zależnie
TAK
od częstotliwości
TAK - dla
zakresu
10 Hz ÷ 10
0,5% ÷ 1,4% zależnie kHz;
od częstotliwości
NIE - dla
zakresu
5 Hz ÷
8 Hz
TAK - dla
zakresu
10 Hz ÷ 10
0,5% ÷ 1,4% zależnie kHz;
od częstotliwości
NIE - dla
zakresu
5 Hz ÷
8 Hz
Strona 102
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
PTB
GUM
GUM
GUM
G
G
G
G
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
kierunek drgań
poziomy;
przyspieszenie max.
1 m/s2
M24
Koszt dotyczy 1
typowego 1-osiowego
piezoelektrycznego
przetwornika o masie
910,00 do 300 g. Cena za
usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
M24
Koszt dotyczy 1
typowego 1-osiowego
piezoelektrycznego
przetwornika o masie
390,00 do 300 g. Cena za
usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
M24
Koszt dotyczy 1
typowego 1-osiowego
piezoelektrycznego
przetwornika o masie
455,00 do 300 g. Cena za
usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
M24
Koszt dotyczy 1
typowego 1-osiowego
piezoelektrycznego
przetwornika o masie
520,00 do 300 g. Cena za
usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Koszt dotyczy 1
typowego 1-osiowego
piezoelektrycznego
przetwornika o masie
650,00 do 300 g. Cena za
usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
GUM
G
M24
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M24
1300,00
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M24
1430,00
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
M2-655
Akustyka
i drgania
Drgania
Przyrządy do pomiaru
Zestaw pomiarowy - 1
drgań mechanicznych
wzmocnienie
prostoliniowych
W
czułość w funkcji
częstotliwości
5 Hz ÷ 10 kHz
metoda bezwzględna
M2-656
Akustyka
i drgania
Drgania
Przyrządy do pomiaru
Zestaw pomiarowy - 1
drgań mechanicznych
wzmocnienie
prostoliniowych
W
czułość w funkcji
częstotliwości
5 Hz ÷ 10 kHz
metoda bezwzględna
M2-657
Akustyka
i drgania
Drgania
Przyrządy do pomiaru
Zestaw pomiarowy - 1
drgań mechanicznych
wzmocnienie
prostoliniowych
W
czułość w funkcji
częstotliwości
5 Hz ÷ 10 kHz
metoda bezwzględna
M2-658
M2-659
M2-660
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Drgania
Drgania
Drgania
Przyrządy do pomiaru
Zestaw pomiarowy - 1
drgań mechanicznych
wzmocnienie
prostoliniowych
Przyrządy do pomiaru
Zestaw pomiarowy - 1
drgań mechanicznych
wzmocnienie
prostoliniowych
Przyrządy do pomiaru
Zestaw pomiarowy - 1
drgań mechanicznych
wzmocnienie
prostoliniowych
W
W
W
czułość w funkcji
częstotliwości
czułość w funkcji
częstotliwości
czułość w funkcji
częstotliwości
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
0,5 Hz ÷ 100 Hz
metoda porównawcza
0,5 Hz ÷ 100 Hz
metoda porównawcza
0,5 Hz ÷ 100 Hz
metoda porównawcza
CMC
TAK - dla
zakresu
10 Hz ÷ 10
0,5% ÷ 1,4% zależnie kHz;
od częstotliwości
NIE - dla
zakresu
5 Hz ÷
8 Hz
TAK - dla
zakresu
10 Hz ÷ 10
0,5% ÷ 1,4% zależnie kHz;
od częstotliwości
NIE - dla
zakresu
5 Hz ÷
8 Hz
TAK - dla
zakresu
10 Hz ÷ 10
0,5% ÷ 1,4% zależnie kHz;
od częstotliwości
NIE - dla
zakresu
5 Hz ÷
8 Hz
0,9% ÷ 1,2% zależnie
TAK
od częstotliwości
0,9% ÷ 1,2% zależnie
TAK
od częstotliwości
0,9% ÷ 1,2% zależnie
TAK
od częstotliwości
Strona 103
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M24
1560,00
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M24
1690,00
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M24
1820,00
PTB
PTB
PTB
G
G
G
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
kierunek drgań
poziomy;
przyspieszenie max.
1 m/s2
kierunek drgań
poziomy;
przyspieszenie max.
1 m/s2
kierunek drgań
poziomy;
przyspieszenie max.
2
1 m/s
M24
Koszt dotyczy 1
wielkości mierzonej, 1
wzmocnienia i 1
typowego
piezoelektrycznego
390,00 przetwornika 1osiowego. Cena za
usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
M24
Koszt dotyczy 1
wielkości mierzonej, 1
wzmocnienia i 1
typowego
piezoelektrycznego
455,00 przetwornika 1osiowego. Cena za
usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
M24
Koszt dotyczy 1
wielkości mierzonej, 1
wzmocnienia i 1
typowego
piezoelektrycznego
520,00 przetwornika 1osiowego. Cena za
usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
ID
Obiektu
M2-661
M2-662
M2-663
M2-664
M2-665
M2-666
Dziedzina
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Akustyka
i drgania
Subdziedzina
Drgania
Drgania
Drgania
Drgania
Drgania
Drgania
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Przyrządy do pomiaru
Zestaw pomiarowy - 1
drgań mechanicznych
wzmocnienie
prostoliniowych
Przyrządy do pomiaru
Zestaw pomiarowy - 1
drgań mechanicznych
wzmocnienie
prostoliniowych
Przyrządy do pomiaru
Zestaw pomiarowy - 1
drgań mechanicznych
wzmocnienie
prostoliniowych
Przyrządy do pomiaru
Zestaw pomiarowy - 1
drgań mechanicznych
wzmocnienie
prostoliniowych
Przyrządy do pomiaru
Zestaw pomiarowy - 1
drgań mechanicznych
wzmocnienie
prostoliniowych
Przyrządy do pomiaru
Zestaw pomiarowy - 1
drgań mechanicznych
wzmocnienie
prostoliniowych
W
W
W
W
W
W
Wzorcowanie wielkość mierzona
czułość w funkcji
częstotliwości
czułość w funkcji
częstotliwości
czułość w funkcji
częstotliwości
czułość w funkcji
częstotliwości
czułość w funkcji
częstotliwości
czułość w funkcji
częstotliwości
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
0,5 Hz ÷ 100 Hz
metoda porównawcza
0,5 Hz ÷ 100 Hz
metoda porównawcza
0,5 Hz ÷ 100 Hz
metoda porównawcza
5 Hz ÷ 5 kHz
metoda porównawcza
5 Hz ÷ 5 kHz
metoda porównawcza
5 Hz ÷ 5 kHz
metoda porównawcza
CMC
0,9% ÷ 1,2% zależnie
TAK
od częstotliwości
0,9% ÷ 1,2% zależnie
TAK
od częstotliwości
0,9% ÷ 1,2% zależnie
TAK
od częstotliwości
0,9% ÷ 1,1% zależnie
TAK
od częstotliwości
0,9% ÷ 1,1% zależnie
TAK
od częstotliwości
0,9% ÷ 1,1% zależnie
TAK
od częstotliwości
Strona 104
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
PTB
PTB
PTB
GUM
GUM
GUM
G
G
G
G
G
G
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
kierunek drgań
poziomy;
przyspieszenie max.
1 m/s2
kierunek drgań
poziomy;
przyspieszenie max.
1 m/s2
kierunek drgań
poziomy;
przyspieszenie max.
1 m/s2
M24
Koszt dotyczy 1
wielkości mierzonej, 1
wzmocnienia i 1
typowego
piezoelektrycznego
650,00 przetwornika 1osiowego. Cena za
usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
M24
Koszt dotyczy 1
wielkości mierzonej, 1
wzmocnienia i 1
typowego
piezoelektrycznego
780,00 przetwornika 1osiowego. Cena za
usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
M24
Koszt dotyczy 1
wielkości mierzonej, 1
wzmocnienia i 1
typowego
piezoelektrycznego
910,00 przetwornika 1osiowego. Cena za
usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
M24
Koszt dotyczy 1
wielkości mierzonej, 1
wzmocnienia i 1
typowego
przetwornika 1390,00
osiowego. Cena za
usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
M24
Koszt dotyczy 1
wielkości mierzonej, 1
wzmocnienia i 1
typowego
przetwornika 1455,00
osiowego. Cena za
usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
M24
Koszt dotyczy 1
wielkości mierzonej, 1
wzmocnienia i 1
typowego
przetwornika 1520,00
osiowego. Cena za
usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
ID
Obiektu
M2-667
Dziedzina
Akustyka
i drgania
Subdziedzina
Drgania
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Przyrządy do pomiaru
Zestaw pomiarowy - 1
drgań mechanicznych
wzmocnienie
prostoliniowych
W
Wzorcowanie wielkość mierzona
czułość w funkcji
częstotliwości
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
5 Hz ÷ 5 kHz
metoda porównawcza
CMC
0,9% ÷ 1,1% zależnie
TAK
od częstotliwości
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
GUM
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
G
M24
M3-1
Masa i wielkości
pochodne
Masa
Wzorce masy i
obciążniki
W
masa
od 1 kg do 1 mg
od 0,150 mg do
0,0006 mg
TAK
GUM
G
za komplet od 23 do
29 sztuk od 1 kg do
1 mg
M3-2
Masa i wielkości
pochodne
Masa
Wzorce masy
i obciążniki
W
masa
od 2 kg do 50 kg
od 0,30 mg do
8,0 mg
TAK
GUM
G
za komplet 7 sztuk od
M31
2 kg do 50 kg
M3-3
M3-4
M3-5
M3-6
Masa i wielkości
pochodne
Masa i wielkości
pochodne
Masa i wielkości
pochodne
Masa i wielkości
pochodne
Masa
Masa
Masa
Masa
Wzorce masy
i obciążniki
Wzorce masy
i obciążniki
Wzorce masy
i obciążniki
Wzorce masy
i obciążniki
W
W
W
W
masa
masa
masa
masa
od 1 mg do 5 kg
od 1 mg do 5 kg
od 1 mg do 200 g
od 1 mg do 200 g
od 0,002 mg do
2,5 mg
od 0,002 mg do
2,5 mg
TAK
TAK
od 0,002 mg do 0,005
TAK
mg
od 0,002 mg do
0,10 mg
Strona 105
TAK
GUM
GUM
GUM
GUM
G
G
G
G
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
M31
Koszt dotyczy 1
wielkości mierzonej, 1
wzmocnienia i 1
typowego
przetwornika 1650,00
osiowego. Cena za
usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Dla kompletu wzorców
masy klasy
dokładności E1. Dla
6240,00 kompletów
nietypowych ceny
ustalane są
indywidualnie.
Dla kompletu wzorców
masy klasy
dokładności E1. Dla
5200,00 kompletów
nietypowych ceny
ustalane są
indywidualnie.
M31
Dla klasy dokładności
E2. Dla wzorców i
obciążników klas
390,00
dokładności od F1 do
M1 ceny ustalane są
indywidualnie.
M31
Dla klasy dokładności
E2. Dla wzorców i
obciążników klas
195,00
dokładności od F1 do
M1 ceny ustalane są
indywidualnie.
za komplet od 9 do 13
sztuk od 1 mg do 500 M31
mg
Dla klasy dokładności
E2. Dla wzorców i
obciążników klas
dokładności od F1 do
715,00
M1 oraz kompletów
nietypowych ceny
ustalane są
indywidualnie.
za komplet od 9 do 11
M31
sztuk od 1 g do 200 g
Dla klasy dokładności
E2. Dla wzorców i
obciążników klas
dokładności od F1 do
650,00
M1 oraz kompletów
nietypowych ceny
ustalane są
indywidualnie.
za pierwszą sztukę
za każdą następną
sztukę
ID
Obiektu
M3-7
M3-8
M3-9
Dziedzina
Masa i wielkości
pochodne
Masa i wielkości
pochodne
Masa i wielkości
pochodne
M3-10
Masa i wielkości
pochodne
M3-11
Masa i wielkości
pochodne
Subdziedzina
Masa
Masa
Masa
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorce masy
i obciążniki
Wzorce masy
i obciążniki
Wzorce masy
i obciążniki
W
W
W
Wzorcowanie wielkość mierzona
masa
masa
masa
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
od 1 mg do 200 g
od 1 mg do 200 g
od 10 kg do 50 kg
od 0,002 mg do
0,10 mg
od 0,002 mg do
0,10 mg
od 5 mg do 25 mg
CMC
TAK
TAK
TAK
Masa
Wzorce masy
i obciążniki
Masa
Wzorce masy
i obciążniki
M3-12
Masa i wielkości
pochodne
Masa
Wzorce masy
i obciążniki
W
masa
od 100 kg do 1000 kg
od 0,5 g do 5,0 g
TAK
M3-13
Masa i wielkości
pochodne
Masa
Gęstościomierze
zbożowe
W
masa
cały zakres
1,0 g
M3-14
Masa i wielkości
pochodne
Ciśnienie
W
ciśnienie względne
-100 kPa ÷ 250 MPa
M3-15
Masa i wielkości
pochodne
Ciśnienie
Ciśnieniomierz
elektroniczny ciśnienie względne
W
ciśnienie względne
-100 kPa ÷ 250 MPa
M3-16
Masa i wielkości
pochodne
Ciśnienie
Ciśnieniomierz
elektroniczny ciśnienie względne
Ciśnieniomierz
elektroniczny ciśnienie względne
W
W
W
masa
masa
ciśnienie względne
od 10 kg do 50 kg
od 100 kg do 1000 kg
-100 kPa ÷ 250 MPa
od 5 mg do 25 mg
od 0,5 g do 5,0 g
TAK
GUM
GUM
GUM
GUM
G
G
G
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
za komplet od 23 do
27 sztuk od 1 mg do
200 g
za komplet od 31 do
37 sztuk od 1 mg do
200 g
za pierwszą sztukę
za każdą następną
sztukę
M31
Dla klasy dokładności
E2. Dla wzorców i
obciążników klas
dokładności od F1 do
1170,00
M1 oraz kompletów
nietypowych ceny
ustalane są
indywidualnie.
M31
Dla klasy dokładności
E2. Dla wzorców i
obciążników klas
dokładności od F1 do
1755,00
M1 oraz kompletów
nietypowych ceny
ustalane są
indywidualnie.
M31
Dla klasy dokładności
E2. Dla wzorców i
obciążników klas
585,00
dokładności od F1 do
M1 ceny ustalane są
indywidualnie.
M31
Dla klasy dokładności
E2. Dla wzorców i
obciążników klas
260,00
dokładności od F1 do
M1 ceny ustalane są
indywidualnie.
M31
Dla klasy dokładności
F2. Dla klasy
585,00 dokładności M1 ceny
są ustalane
indywidualnie.
za pierwszą sztukę
GUM
G, P
za każdą następną
sztukę
M31
Dla klasy dokładności
F2. Dla klasy
390,00 dokładności M1 ceny
są ustalane
indywidualnie.
NIE
GUM
G
za każdą sztukę
M31
845,00
0,8 Pa ÷ 2,0E-04p
TAK
GUM, NPL, PTB
G
większe dokładności
niż klasa 0,02;
(1 zakres, 10 pkt.
pomiarowych)
M33
2210,00
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
0,8 Pa ÷ 2,0E-04p
TAK
GUM, NPL, PTB
G
klasa 0,02 i
dokładności większe
niż klasa 0,04
(1 zakres, 10 pkt.
pomiarowych)
M33
1950,00
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
G
klasa 0,04 i
dokładności większe
niż klasa 0,1
(1 zakres, 10 pkt.
pomiarowych)
M33
1300,00
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Strona 106
TAK
GUM
G
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
G, P
0,8 Pa ÷ 2,0E-04p
TAK
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
GUM, NPL, PTB
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
M3-17
Masa i wielkości
pochodne
Ciśnienie
Ciśnieniomierz
elektroniczny ciśnienie względne
W
ciśnienie względne
-100 kPa ÷ 250 MPa
0,8 Pa ÷ 2,0E-04p
TAK
GUM
G
klasa 0,1 i mniejsze
dokładności
(1
zakres, 10 pkt.
pomiarowych)
M33
1040,00
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
M3-18
Masa i wielkości
pochodne
Ciśnienie
Ciśnieniomierz
elektroniczny ciśnienie bezwględne
W
ciśnienie bezwzględne
3,5 kPa ÷ 7 MPa
(2,7 ÷ 3,0)E-05p
TAK
GUM, NPL
G
większe dokładności
niż klasa 0,04
(1 zakres, 10 pkt.
pomiarowych)
M33
2210,00
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
M3-19
Masa i wielkości
pochodne
Ciśnienie
Ciśnieniomierz
elektroniczny ciśnienie bezwględne
W
ciśnienie bezwzględne
3,5 kPa ÷ 7 MPa
(2,7 ÷ 3,0)E-05p
TAK
GUM, NPL
G
klasa od 0,04 do 0,2
(1 zakres, 10 pkt.
pomiarowych)
M33
1560,00
M3-20
Masa i wielkości
pochodne
Ciśnienie
Ciśnieniomierz
hydrostatyczny
W
wysokość słupa cieczy
(0 ÷ 4000) Pa
(0,14 ÷ 0,34) Pa
TAK
GUM
G
kompensacyjny
M33
(10 pkt. pomiarowych)
1300,00
M3-21
Masa i wielkości
pochodne
Ciśnienie
Ciśnieniomierz
obciążnikowo-tłokowy
W
przekrój czynny zespołu
pomiarowego + masa
obciążników
3,5 kPa ÷ 250 MPa
2,5E-05p ÷
2,0E-04p
TAK
GUM
G
klasa 0,05 do 0,2
M33
1690,00
M3-22
Masa i wielkości
pochodne
Ciśnienie
Ciśnieniomierz
obciążnikowo-tłokowy
W
przekrój czynny zespołu
pomiarowego
3,5 kPa ÷ 250 MPa
2,5E-05p ÷
2,0E-04p
TAK
GUM
G
klasa 0,05 do 0,2 (bez
wzorcowania
M33
obciążników)
1170,00
M3-23
Masa i wielkości
pochodne
Ciśnienie
Ciśnieniomierz
obciążnikowo-tłokowy
W
przekrój czynny zespołu
pomiarowego + masa
obciążników
3,5 kPa ÷ 250 MPa
2,5E-05p ÷
2,0E-04p
TAK
GUM
G
klasa 0,02
M33
2340,00
M3-24
Masa i wielkości
pochodne
Ciśnienie
Ciśnieniomierz
obciążnikowo-tłokowy
W
przekrój czynny zespołu
pomiarowego
3,5 kPa ÷ 250 MPa
2,5E-05p ÷
2,0E-04p
TAK
GUM
G
klasa 0,02 (bez
wzorcowania
obciążników)
M33
2080,00
M3-25
Masa i wielkości
pochodne
Ciśnienie
Ciśnieniomierz
obciążnikowo-tłokowy
W
przekrój czynny zespołu
pomiarowego + masa
obciążników
3,5 kPa ÷ 250 MPa
2,5E-05p ÷
2,0E-04p
TAK
GUM, NPL, PTB
G
klasa 0,015
M33
2990,00
M3-26
Masa i wielkości
pochodne
Ciśnienie
Ciśnieniomierz
obciążnikowo-tłokowy
W
przekrój czynny zespołu
pomiarowego
3,5 kPa ÷ 250 MPa
2,5E-05p ÷
2,0E-04p
TAK
GUM, NPL, PTB
G
klasa 0,015 (bez
wzorcowania
obciążników)
M33
2600,00
M3-27
Masa i wielkości
pochodne
Ciśnienie
Ciśnieniomierz
obciążnikowo-tłokowy
W
przekrój czynny zespołu
pomiarowego + masa
obciążników
3,5 kPa ÷ 250 MPa
2,5E-05p ÷
2,0E-04p
TAK
GUM, NPL, PTB
G
klasa 0,01
M33
3250,00
M3-28
Masa i wielkości
pochodne
Ciśnienie
Ciśnieniomierz
obciążnikowo-tłokowy
W
przekrój czynny zespołu
pomiarowego
3,5 kPa ÷ 250 MPa
2,5E-05p ÷
2,0E-04p
TAK
GUM, NPL, PTB
G
klasa poniżej 0,01
(bez wzorcowania
obciążników)
M33
3900,00
M3-29
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - rozciągająca
100 N
0,005%; 0,006%;
0,02%
NIE
GUM
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
403,00
M3-30
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - rozciągająca
250 N
0,005%; 0,006%;
0,02%
NIE
GUM
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
429,00
M3-31
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - rozciągająca
500 N
0,005%; 0,006%;
0,02%
NIE
GUM
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
715,00
M3-32
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - rozciągająca
1 kN
0,006%
TAK
GUM
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
780,00
Strona 107
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
M3-33
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - rozciągająca
2,5 kN
0,006%
TAK
GUM
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
845,00
M3-34
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - rozciągająca
5 kN
0,006%
TAK
GUM
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
975,00
M3-35
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - rozciągająca
10 kN
0,01%
TAK
GUM
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
975,00
M3-36
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - rozciągająca
30 kN
0,01%
TAK
GUM
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
1105,00
M3-37
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - rozciągająca
55 kN
0,01%
TAK
GUM
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
1170,00
M3-38
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - rozciągająca
100 kN
0,006%
TAK
GUM
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
1040,00
M3-39
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - rozciągająca
250 kN
0,006%
TAK
GUM
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
1170,00
M3-40
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - rozciągająca
500 kN
0,006%
TAK
GUM
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
1300,00
M3-41
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - rozciągająca
1000 kN
0,05%
NIE
PTB
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
1235,00
M3-42
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - rozciągająca
2000 kN
0,05%
NIE
PTB
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
1495,00
M3-43
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - rozciągająca
3000 kN
0,05%
NIE
PTB
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
1755,00
M3-44
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - ściskająca
100 N
0,005%; 0,006%;
0,02%
NIE
GUM
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
403,00
M3-45
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - ściskająca
250 N
0,005%; 0,006%;
0,02%
NIE
GUM
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
429,00
M3-46
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - ściskająca
500 N
0,005%; 0,006%;
0,02%
NIE
GUM
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
715,00
M3-47
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - ściskająca
1 kN
0,006%
TAK
GUM
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
780,00
M3-48
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - ściskająca
2,5 kN
0,006%
TAK
GUM
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
845,00
M3-49
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - ściskająca
5 kN
0,006%
TAK
GUM
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
975,00
Strona 108
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
M3-50
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - ściskająca
10 kN
0,01%
TAK
GUM
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
975,00
M3-51
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - ściskająca
30 kN
0,01%
TAK
GUM
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
1105,00
M3-52
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - ściskająca
55 kN
0,01%
TAK
GUM
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
1170,00
M3-53
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - ściskająca
100 kN
0,006%
TAK
GUM
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
1040,00
M3-54
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - ściskająca
250 kN
0,006%
TAK
GUM
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
1170,00
M3-55
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - ściskająca
500 kN
0,006%
TAK
GUM
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
1300,00
M3-56
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - ściskająca
1000 kN
0,05%
TAK
PTB
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
1170,00
M3-57
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - ściskająca
2000 kN
0,05%
TAK
PTB
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
1430,00
M3-58
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - ściskająca
3000 kN
0,05%
TAK
PTB
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
1690,00
M3-59
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - rozciągająca
i ściskająca
100 N
0,005%; 0,006%;
0,02%
NIE
GUM
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
481,00
M3-60
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - rozciągająca
i ściskająca
250 N
0,005%; 0,006%;
0,02%
NIE
GUM
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
533,00
M3-61
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - rozciągająca
i ściskająca
500 N
0,005%; 0,02%
NIE
GUM
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
975,00
M3-62
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - rozciągająca
i ściskająca
1 kN
0,006%
TAK
GUM
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
1105,00
M3-63
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - rozciągająca
i ściskająca
2,5 kN
0,006%
TAK
GUM
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
1235,00
M3-64
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - rozciągająca
i ściskająca
5 kN
0,006%
TAK
GUM
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
1495,00
M3-65
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - rozciągająca
i ściskająca
10 kN
0,01%
TAK
GUM
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
1495,00
M3-66
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - rozciągająca
i ściskająca
30 kN
0,01%
TAK
GUM
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
1755,00
Strona 109
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
M3-67
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - rozciągająca
i ściskająca
55 kN
0,01%
TAK
GUM
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
M3-68
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - rozciągająca
i ściskająca
100 kN
0,006%
TAK
GUM
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
M3-69
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - rozciągająca
i ściskająca
250 kN
0,006%
TAK
GUM
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
M3-70
Masa i wielkości
pochodne
Siła
Siłomierze,
tensometryczne
przetworniki siły
W
siła - rozciągająca
i ściskająca
500 kN
0,006%
TAK
GUM
G
do 10 punktów
pomiarowych, bez
adiustacji
M33
M3-71
M3-72
M3-73
M3-74
Masa i wielkości
pochodne
Masa i wielkości
pochodne
Masa i wielkości
pochodne
Masa i wielkości
pochodne
Przepływ płynu
Przepływ płynu
Przepływ płynu
Przepływ płynu
Przepływomierz do
wody
Przepływomierz do
wody
Wodomierz (temp.
wody od 0,1 °C do 30
°C)
Wodomierz (temp.
wody od 0,1 °C do 30
°C)
W
W
WE
WE
strumień objętości (wody) (0,006 ÷ 20) m3/h
strumień objętości (wody) (0,5 ÷ 120) m3/h
objętość przepływu
(wody)
objętość przepływu
(wody)
3
(0,006 ÷ 20) m /h
(0,5 ÷ 120) m3/h
(0,1 ÷ 0,4)%
(0,1 ÷ 0,4)%
(0,15 ÷ 0,4)%
(0,15 ÷ 0,4)%
Strona 110
TAK
TAK
TAK
TAK
GUM
GUM
GUM
GUM
G
G
G
G
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
do 5 pkt pom./
3-krot. pomiar
do 5 pkt pom./
3-krot. pomiar
do 5 pkt pom./
3-krot. pomiar
do 5 pkt pom./
3-krot. Pomiar
Cena za usługę
niestandardową
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
1625,00
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
1885,00
będzie ustalana
indywidualnie.
Cena za usługę
niestandardową
2145,00
będzie ustalana
indywidualnie.
1885,00
M32
Podano typowe
parametry usługi.
Laboratorium może
na życzenie klienta
wykonać wzorcowanie
1235,00
w innej, niż podana,
liczbie punktów
pomiarowych;
wówczas koszt usługi
ulegnie zmianie.
M32
Podano typowe
parametry usługi.
Laboratorium może
na życzenie klienta
wykonać wzorcowanie
1430,00
w innej, niż podana,
liczbie punktów
pomiarowych;
wówczas koszt usługi
ulegnie zmianie.
M32
Podano typowe
parametry usługi.
Laboratorium może
na życzenie klienta
wykonać wzorcowanie
1235,00
w innej, niż podana,
liczbie punktów
pomiarowych;
wówczas koszt usługi
ulegnie zmianie.
M32
Podano typowe
parametry usługi.
Laboratorium może
na życzenie klienta
wykonać wzorcowanie
1430,00
w innej, niż podana,
liczbie punktów
pomiarowych;
wówczas koszt usługi
ulegnie zmianie.
ID
Obiektu
M3-75
Dziedzina
Masa i wielkości
pochodne
Subdziedzina
Przepływ płynu
M3-77
Masa i wielkości
pochodne
Przepływ płynu
M3-78
Masa i wielkości
pochodne
Przepływ płynu
M3-79
Masa i wielkości
pochodne
M3-79
Masa i wielkości
pochodne
M3-80
Masa i wielkości
pochodne
Przepływ płynu
M3-81
Masa i wielkości
pochodne
Przepływ płynu
M3-82
Masa i wielkości
pochodne
Przepływ płynu
M3-83
Masa i wielkości
pochodne
Przepływ płynu
M3-84
Masa i wielkości
pochodne
Przepływ płynu
Przepływ płynu
Przepływ płynu
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wodomierz (temp.
wody od 30 °C do co
najmniej 90 °C)
Wodomierz (temp.
wody od 0,1 °C do co
najmniej 90 °C)
Rotametr do gazu
Rotametr do gazu
Rotametr do gazu
Przepływomierz do
gazu
(przepływomierz
elektroniczny do gazu:
PW-2001)
Przepływomierz do
gazu
(przepływomierz
elektroniczny do gazu:
PW-2001)
Przepływomierz do
gazu
(przepływomierz
elektroniczny do gazu:
PW-2001)
Przepływomierz do
gazu
(przepływomierz
elektroniczny do gazu:
PW-2001)
Przepływomierz do
gazu (elektroniczny
przepływomierz
błonkowy do gazu)
WE
WE
W
W
Wzorcowanie wielkość mierzona
objętość przepływu
(wody)
objętość przepływu
(wody)
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
(0,006 ÷ 20) m3/h
(0,15 ÷ 0,4)%
3
(0,006 ÷ 20) m /h
strumień objętości (gazu) (16 ÷ 120000) dm3/h
3
strumień objętości (gazu) (16 ÷ 120000) dm /h
3
CMC
TAK
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
GUM
G
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
do 5 pkt pom./
3-krot. pomiar
M32
Podano typowe
parametry usługi.
Laboratorium może
na życzenie klienta
wykonać wzorcowanie
1235,00
w innej, niż podana,
liczbie punktów
pomiarowych;
wówczas koszt usługi
ulegnie zmianie.
(0,15 ÷ 0,4)%
TAK
GUM
G
do 5 pkt pom./
3-krot. pomiar
M32
Podano typowe
parametry usługi.
Laboratorium może
na życzenie klienta
wykonać wzorcowanie
1235,00
w innej, niż podana,
liczbie punktów
pomiarowych;
wówczas koszt usługi
ulegnie zmianie.
(0,7 ÷ 4)%
TAK
GUM
G
1-10 pkt pomiarowych M32
W przypadku dużych
rotametrów
845,00 (wzorcowanych na
stanowisku S05)
należy doliczyć 390 zł.
G
11-20 pkt
pomiarowych
(0,7 ÷ 4) %
TAK
GUM
M32
W przypadku dużych
rotametrów
1105,00 (wzorcowanych na
stanowisku S05)
należy doliczyć 390 zł.
W przypadku dużych
rotametrów
1365,00 (wzorcowanych na
stanowisku S05)
należy doliczyć 390 zł.
W
strumień objętości (gazu) (16 ÷ 120000) dm /h
(0,7 ÷ 4) %
TAK
GUM
G
>21 pkt pomiarowych
M32
W
strumień objętości (gazu) (0,05 ÷ 4,4) dm3/min
(2 ÷ 25) cm3/min
TAK
GUM
G
2-6 pkt pomiarowych
M32
845,00
W
strumień objętości (gazu) (0,05 ÷ 4,4) dm3/min
(2 ÷ 25) cm3/min
TAK
GUM
G
7-8 pkt pomiarowych
M32
975,00
W
strumień objętości (gazu) (0,05 ÷ 4,4) dm3/min
(2 ÷ 25) cm3/min
TAK
GUM
G
9-10 pkt pomiarowych M32
1105,00
W
strumień objętości (gazu) (0,05 ÷ 4,4) dm3/min
(2 ÷ 25) cm3/min
TAK
GUM
G
11-12 pkt
pomiarowych
M32
1235,00
W
strumień objętości (gazu) (0,7 ÷ 18000) dm3/h
(0,17 ÷ 2)%
TAK
GUM
G
2-6 pkt pomiarowych
M32
845,00
Strona 111
Za każdy punkt
pomiarowy poniżej 6
dm3/h należy doliczyć
130 pln (netto)
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
M3-85
Masa i wielkości
pochodne
Przepływ płynu
Przepływomierz do
gazu (elektroniczny
przepływomierz
błonkowy do gazu)
W
strumień objętości (gazu) (0,7 ÷ 18000) dm3/h
(0,17 ÷ 2)%
TAK
GUM
G
7-8 pkt pomiarowych
M32
975,00
Za każdy punkt
pomiarowy poniżej 6
dm3/h należy doliczyć
130 pln (netto)
M3-86
Masa i wielkości
pochodne
Przepływ płynu
Przepływomierz do
gazu (elektroniczny
przepływomierz
błonkowy do gazu)
W
strumień objętości (gazu) (0,7 ÷ 18000) dm3/h
(0,17 ÷ 2)%
TAK
GUM
G
9-10 pkt pomiarowych M32
1105,00
Za każdy punkt
pomiarowy poniżej 6
3
dm /h należy doliczyć
130 pln (netto)
M3-87
Masa i wielkości
pochodne
Przepływ płynu
Przepływomierz do
gazu (elektroniczny
przepływomierz
błonkowy do gazu)
W
strumień objętości (gazu) (0,7 ÷ 18000) dm3/h
(0,17 ÷ 2)%
TAK
GUM
G
11-12 pkt
pomiarowych
M32
1235,00
Za każdy punkt
pomiarowy poniżej 6
dm3/h należy doliczyć
130 pln (netto)
M4-1
Elektryczność
i magnetyzm
Wzorcowe ogniwo
Westona
WE
1,018 V
(różnicowa)
0,5 µV/V
NIE
GUM
G
pojedyncza wartość
M41
390,00
TAK
GUM
G
dwie wartości
nominalne
M41
2783,00
NIE
GUM
G
pojedyncza dekada
M41
260,00
M41
455,00
M41
455,00
M41
455,00
M41
455,00
M41
650,00
M41
650,00
M41
650,00
Elektryczność
i magnetyzm
Elektryczność
i magnetyzm
Elektryczność
i magnetyzm
Elektryczność
i magnetyzm
Elektryczność
i magnetyzm
Elektryczność
i magnetyzm
Elektryczność
i magnetyzm
Elektryczność
i magnetyzm
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie
elektryczne stałe
(DC)
Napięcie
elektryczne stałe
(DC)
Napięcie
elektryczne stałe
(DC)
Rezystancja przy
prądzie stałym
Rezystancja przy
prądzie stałym
Rezystancja przy
prądzie stałym
Rezystancja przy
prądzie stałym
Rezystancja przy
prądzie stałym
Rezystancja przy
prądzie stałym
Rezystancja przy
prądzie stałym
Rezystancja przy
prądzie stałym
Rezystancja przy
prądzie stałym
Elektryczność
i magnetyzm
Rezystancja przy
prądzie stałym
Elektryczność
i magnetyzm
Impedancja
(rezystancja przy
prądzie
przemiennym)
M4-15
Elektryczność
i magnetyzm
Impedancja
(rezystancja przy
prądzie
przemiennym)
M4-16
Elektryczność
i magnetyzm
M4-17
Elektryczność
i magnetyzm
M4-18
Elektryczność
i magnetyzm
M4-2
Elektryczność
i magnetyzm
M4-3
Elektryczność
i magnetyzm
M4-4
M4-5
M4-6
M4-7
M4-8
M4-9
M4-10
M4-11
M4-12
M4-13
M4-14
Impedancja
(pojemność
elektryczna)
Impedancja
(pojemność
elektryczna)
Impedancja
(pojemność
elektryczna)
napięcie elektryczne
stałe
Półprzewodnikowe
źródło napięcia
WE
napięcie elektryczne
stałe
1 V; 1,018 V; 10 V
0,05 µV/V,
0,05 µV/V,
0,01 µV/V
Kompensatory
WE
napięcie elektryczne
stałe
od 1 mV do 2 V
(5E-0,5U+0,1) µV/V
pojedyncza wartość
lub dekada
pojedyncza wartość
lub dekada
pojedyncza wartość
lub dekada
pojedyncza wartość
lub dekada
pojedyncza wartość
lub dekada
pojedyncza wartość
lub dekada
pojedyncza wartość
lub dekada
Rezystory stałe
WE
rezystancja DC
od 0,0001 Ω do 1 Ω
(300 ÷ 0,5) µΩ/Ω
TAK
BIPM
G
Rezystory stałe
WE
rezystancja DC
od 1 Ω do 1 MΩ
(0,5 ÷ 1) µΩ/Ω
TAK
BIPM
G
Rezystory stałe
WE
rezystancja DC
od 1 MΩ do 1 GΩ
(1 ÷ 50) µΩ/Ω
TAK
BIPM/PTB
G
Rezystory regulowane
WE
rezystancja DC
od 1 Ω do 1 MΩ
(0,5 ÷ 1) µΩ/Ω
TAK
BIPM/PTB
G
Rezystory stałe
WE
rezystancja DC
od 1 GΩ do 100 TΩ
(300 ÷ 12000) µΩ/Ω
TAK
PTB
G
Rezystory
3-końcówkowe
WE
rezystancja DC
od 1 GΩ do 100 TΩ
(300 ÷ 12000) µΩ/Ω
TAK
PTB
G
Rezystory regulowane
WE
rezystancja DC
od 1 GΩ do 100 TΩ
(300 ÷ 12000) µΩ/Ω
TAK
PTB
G
Mostki rezystancyjne
WE
rezystancja DC
od 100 MΩ do 100 TΩ
(300 ÷ 12000) µΩ/Ω
NIE
PTB
G
punkt pomiarowy
M41
650,00
WE
rezystancja DC
1 MΩ, 100 ΤΩ
5 µΩ/Ω
NIE
BIPM
G
punkt pomiarowy
M41
390,00
WE
rezystancja DC
0,1 do 4
5 µΩ/Ω
NIE
BIPM
G
punkt pomiarowy
M41
260,00
M41
Cena za wzorzec
stały lub jedną dekadę
rezystora
455,00
dekadowego (każda
następna to kolejne
455,- zł)
Megaomomierze
cyfrowe
Urządzenie do
pomiaru stosunku
rezystancji
Rezystory stałe
WE
rezystancja AC
10 µΩ/Ω ÷
10 mΩ/Ω
0,1 Ω ÷ 1 MΩ
TAK
BIPM
G
Miernik RLC
WE
rezystancja AC
0,1 Ω ÷ 1 MΩ
10 µΩ/Ω ÷
10 mΩ/Ω
NIE
BIPM
G
M41
Cena za pierwszy
punkt pomiarowy dla
danej częstotliwości,
195,00
każdy następny to 91,zł (0,7 rbg x stawka za
1 rbg).
Kondensator
wzorcowy
WE
pojemność elektryczna
0,1 pF ÷ 10 nF
0,5 µF/F ÷ 40 µF/F
przy 1 kHz
TAK
BIPM
G
M41
455,00
Kondensator
wzorcowy
WE
współczynnik stratności
1E-06 ÷ 1E-03
1E-06 ÷ 2E-04
przy 1 kHz
NIE
M41
455,00
Kondensator stały
WE
pojemność elektryczna
0,001 pF ÷ 25 µF
30 µF/F ÷ 10 mF/F
TAK
M41
455,00
Strona 112
BIPM
G
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Impedancja
(pojemność
elektryczna)
Impedancja
(pojemność
elektryczna)
Impedancja
(pojemność
elektryczna)
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
M4-19
Elektryczność
i magnetyzm
M4-20
Elektryczność
i magnetyzm
M4-21
Elektryczność
i magnetyzm
M4-22
Elektryczność
i magnetyzm
Impedancja
(pojemność
elektryczna)
Kondensator
dekadowy
M4-23
Elektryczność
i magnetyzm
Impedancja
(pojemność
elektryczna)
Kondensator
dekadowy
Elektryczność
i magnetyzm
Impedancja
(pojemność
elektryczna)
Elektryczność
i magnetyzm
Impedancja
(pojemność
elektryczna)
Miernik RLC
Elektryczność
i magnetyzm
Elektryczność
i magnetyzm
Elektryczność
i magnetyzm
Elektryczność
i magnetyzm
Elektryczność
i magnetyzm
Elektryczność
i magnetyzm
Impedancja
(indukcyjność)
Impedancja
(indukcyjność)
Impedancja
(indukcyjność)
Impedancja
(indukcyjność)
Impedancja
(indukcyjność)
Impedancja
(indukcyjność)
Cewka indukcyjna
stała
Cewka indukcyjna
stała
Cewka indukcyjna
stała
Cewka indukcyjna
stała
Cewka indukcyjna
stała
Cewka indukcyjna
stała
M4-32
Elektryczność
i magnetyzm
Impedancja
(indukcyjność)
Cewka indukcyjna
zmienna
WE
indukcyjność własna
M4-33
Elektryczność
i magnetyzm
Impedancja
(indukcyjność)
Cewka indukcyjna
zmienna
WE
równoważna rezystancja
M4-34
Elektryczność
i magnetyzm
Impedancja
(indukcyjność)
Cewka indukcyjna
dekadowa
WE
indukcyjność własna
M4-35
Elektryczność
i magnetyzm
Impedancja
(indukcyjność)
Cewka indukcyjna
dekadowa
WE
równoważna rezystancja
M4-24
M4-25
M4-26
M4-27
M4-28
M4-29
M4-30
M4-31
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Kondensator stały
WE
współczynnik stratności
1E-06 ÷ 1E-03
1E-06 ÷ 2E-04
NIE
Kondensator
przełączalny
WE
pojemność elektryczna
1 pF ÷ 100 pF
60 µF/F
TAK
Kondensator
przełączalny
WE
współczynnik stratności
1E-05 ÷ 1E-03
1E-05 ÷ 2E-04
NIE
Mostek pojemności
WE
WE
WE
pojemność elektryczna
współczynnik stratności
pojemność elektryczna
0,001 pF ÷ 100 mF
1E-06 ÷ 1E-03
30 µF/F ÷ 10 mF/F
1E-06 ÷ 2E-04
0,01 pF ÷ 100 µF
10 µF/F ÷ 1 mF/F
TAK
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
BIPM
BIPM
G
G
NIE
NIE
BIPM
G
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
M41
455,00
M41
585,00
M41
585,00
M41
Cena za pierwszą
dekadę kondensatora,
494,00 każda następna to
390.- zł (3 rbg x
stawka za 1 rbg).
M41
Cena za pierwszą
dekadę kondensatora,
494,00 każda następna to
390.- zł (3 rbg x
stawka za 1 rbg).
M41
Cena za pierwszy
punkt pomiarowy dla
danej częstotliwości,
195,00
każdy następny to 91,zł (0,7 rbg x stawka za
1 rbg).
WE
pojemność elektryczna
0,01 pF ÷ 100 µF
10 µF/F ÷ 1 mF/F
NIE
BIPM
G
M41
Cena za pierwszy
punkt pomiarowy dla
danej częstotliwości,
195,00
każdy następny to 91,zł (0,7 rbg x stawka za
1 rbg).
WE
indukcyjność własna
1 µH ÷ 1mH
50 mH/H ÷
100 µH/H
TAK
PTB
G
M41
455,00
WE
równoważna rezystancja
NIE
BIPM/PTB
G
M41
455,00
WE
indukcyjność własna
1 mH ÷ 1H
40 µH/H ÷
100 µH/H
TAK
PTB
G
M41
455,00
WE
równoważna rezystancja
NIE
BIPM/PTB
G
M41
455,00
1 H ÷ 10 H
100 µH/H ÷
300 µH/H
WE
indukcyjność własna
WE
równoważna rezystancja
1 mH ÷ 1 H
1 mH ÷ 1 H
200 µH/H
200 µH/H
Strona 113
TAK
PTB
G
M41
455,00
NIE
BIPM/PTB
G
M41
455,00
TAK
PTB
G
M41
494,00
NIE
BIPM/PTB
G
M41
494,00
TAK
PTB
G
M41
494,00
NIE
BIPM/PTB
G
M41
494,00
Cena za pierwszą
dekadę cewki, każda
następna to 390,- zł
(3 rbg x stawka za 1
rbg).
Cena za pierwszą
dekadę cewki, każda
następna to 390,- zł
(3 rbg x stawka za 1
rbg).
Cena za pierwszą
dekadę cewki, każda
następna to 390,- zł
(3 rbg x stawka za 1
rbg).
Cena za pierwszą
dekadę cewki, każda
następna to 390,- zł
(3 rbg x stawka za 1
rbg).
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
M4-36
Elektryczność
i magnetyzm
Impedancja
(indukcyjność)
Cewka indukcyjna
zmienna
WE
indukcyjność własna
M4-37
Elektryczność
i magnetyzm
Impedancja
(indukcyjność)
Cewka indukcyjna
zmienna
WE
równoważna rezystancja
M4-38
Elektryczność
i magnetyzm
Impedancja
(indukcyjność)
Cewka indukcyjna
dekadowa
WE
indukcyjność własna
M4-39
Elektryczność
i magnetyzm
Impedancja
(indukcyjność)
Cewka indukcyjna
dekadowa
WE
równoważna rezystancja
M4-40
Elektryczność
i magnetyzm
Impedancja
(indukcyjność)
Cewka indukcyjna
zmienna
WE
indukcyjność własna
M4-41
Elektryczność
i magnetyzm
Impedancja
(indukcyjność)
Cewka indukcyjna
zmienna
WE
równoważna rezystancja
M4-42
Elektryczność
i magnetyzm
Impedancja
(indukcyjność)
Cewka indukcyjna
dekadowa
WE
indukcyjność własna
M4-43
Elektryczność
i magnetyzm
Impedancja
(indukcyjność)
Cewka indukcyjna
dekadowa
WE
równoważna rezystancja
M4-44
Elektryczność
i magnetyzm
Impedancja
(indukcyjność)
Miernik RLC
WE
indukcyjność
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
200 µH/H
1 H ÷ 10 H
200 µH/H
1 H ÷ 10 H
50 mH/H do
200 µH/H
1 µH ÷ 1 mH
50 mH/H do
200 µH/H
1 µH ÷ 1 mH
50 µH/H do
50 mH/H
1 µH ÷ 10 H
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
Cena za pierwszą
dekadę cewki, każda
następna to 390,- zł
(3 rbg x stawka za 1
rbg).
Cena za pierwszą
dekadę cewki, każda
następna to 390,- zł
(3 rbg x stawka za 1
rbg).
Cena za pierwszą
dekadę cewki, każda
następna to 390,- zł
(3 rbg x stawka za 1
rbg).
Cena za pierwszą
dekadę cewki, każda
następna to 390,- zł
(3 rbg x stawka za 1
rbg).
Cena za pierwszą
dekadę cewki, każda
następna to 390,- zł
(3 rbg x stawka za 1
rbg).
Cena za pierwszą
dekadę cewki, każda
następna to 390,- zł
(3 rbg x stawka za 1
rbg).
Cena za pierwszą
dekadę cewki, każda
następna to 390,- zł
(3 rbg x stawka za 1
rbg).
Cena za pierwszą
dekadę cewki, każda
następna to 390,- zł
(3 rbg x stawka za 1
rbg).
TAK
PTB
G
M41
494,00
NIE
BIPM/PTB
G
M41
494,00
TAK
PTB
G
M41
494,00
NIE
BIPM/PTB
G
M41
494,00
TAK
PTB
G
M41
494,00
NIE
BIPM/PTB
G
M41
494,00
TAK
PTB
G
M41
494,00
NIE
BIPM/PTB
G
M41
494,00
M41
Cena za pierwszy
punkt pomiarowy dla
danej częstotliwości,
195,00
każdy następny to 91,zł (0,7 rbg x stawka za
1 rbg).
NIE
PTB
G
M4-45
Elektryczność
i magnetyzm
Impedancja
(indukcyjność)
Miernik RLC
WE
dobroć
1 ÷ 500
0,1% ÷ 10%
NIE
M41
Cena za pierwszy
punkt pomiarowy dla
danej częstotliwości,
195,00
każdy następny to 91,zł (0,7 rbg x stawka za
1 rbg).
M4-46
Elektryczność
i magnetyzm
Impedancja
(indukcyjność)
Wzorzec Q
WE
współczynnik dobroci
1 ÷ 200
0,1% ÷ 10 %
NIE
M41
312,00
M4-47A1
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Przyrządy do pomiaru
napięcia, prądu i
rezystancji
M42
195,00
M4-48
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Nanowoltomierze
M42
26,00
Opłata stała związana ze
zleceniem,
przygotowaniem
przyrządu i stanowiska
pomiarowego pobierana
jednorazowo
W
napięcie elektryczne
stałe
poniżej lub równa
1 mV metoda
bezpośredniego
porównania
z kalibratorem
4E-04 V/V do
4E-03 V/V
Strona 114
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
Usługa nie
uwzgledniona
w CMC
Cena za punkt
pomiarowy
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
M4-49
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Mikrowoltomierze
W
napięcie elektryczne
stałe
poniżej lub równa
1 mV metoda
bezpośredniego
porównania
z kalibratorem
M4-50
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Woltomierze napięcia
stałego
W
napięcie elektryczne
stałe
M4-51
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Multimetry
W
M4-52
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Wielofunkcyjny
wzorzec
pośredniczący
M4-53
Elektryczność
i magnetyzm
M4-54
Elektryczność
i magnetyzm
M4-55
Elektryczność
i magnetyzm
M4-56
Elektryczność
i magnetyzm
M4-57
Elektryczność
i magnetyzm
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
1 mV ÷ 1000 V
metoda bezpośredniego 2,4E-06 V/V do
porównania
4,1E-04 V/V
z kalibratorem
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
napięcie elektryczne
stałe
1 mV ÷ 1000 V
metoda bezpośredniego 2,4E-06 V/V do
porównania
4,1E-04 V/V
z kalibratorem
TAK
W
napięcie elektryczne
stałe
1 mV ÷ 1000 V
metoda bezpośredniego 2,4E-06 V/V do
porównania
4,1E-04 V/V
z kalibratorem
TAK
Nanowoltomierze
W
napięcie elektryczne
stałe
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
Usługa nie
uwzgledniona
w CMC
M42
26,00
Cena za punkt
pomiarowy
G
M42
26,00
Cena za punkt
pomiarowy
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M42
26,00
Cena za punkt
pomiarowy
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M42
26,00
Cena za punkt
pomiarowy
M42
39,00
Cena za punkt
pomiarowy
M42
39,00
Cena za punkt
pomiarowy
G
M42
39,00
Cena za punkt
pomiarowy
G
M42
39,00
Cena za punkt
pomiarowy
G
M42
39,00
Cena za punkt
pomiarowy
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Mikrowoltomierze
W
napięcie elektryczne
stałe
Woltomierze napięcia
stałego
W
napięcie elektryczne
stałe
1 mV ÷ 1000 V
2,4E-06 V/V do
metoda podstawieniowa 4,1E-04 V/V
TAK
Multimetry
W
napięcie elektryczne
stałe
1 mV ÷ 1000 V
2,4E-06 V/V do
metoda podstawieniowa 4,1E-04 V/V
TAK
Wielofunkcyjny
wzorzec
pośredniczący
W
napięcie elektryczne
stałe
1 mV ÷ 1000 V
2,4E-06 V/V do
metoda podstawieniowa 4,1E-04 V/V
TAK
M4-58
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Woltomierze napięcia
stałego
W
napięcie elektryczne
stałe
100 mV ÷ 1000 V
metoda bezpośredniego
0,1E-06 V/V do
porównania
1E-05 V/V
z wzorcowym źródłem
napięcia
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
CMC 2,4E-06 V/V do
4,1E-04 V/V
M42
52,00
Cena za punkt
pomiarowy
M4-59
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Multimetry
W
napięcie elektryczne
stałe
100 mV ÷ 1000 V
metoda bezpośredniego
0,1E-06 V/V do
porównania
1E-05 V/V
z wzorcowym źródłem
napięcia
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
CMC 2,4E-06 V/V do
4,1E-04 V/V
M42
52,00
Cena za punkt
pomiarowy
M4-60
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Wielofunkcyjny
wzorzec
pośredniczący
W
napięcie elektryczne
stałe
100 mV ÷ 1000 V
metoda bezpośredniego
0,1E-06 V/V do
porównania
1E-05 V/V
z wzorcowym źródłem
napięcia
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
CMC 2,4E-06 V/V do
4,1E-04 V/V
M42
52,00
Cena za punkt
pomiarowy
M4-61
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Woltomierze napięcia
przemiennego
W
napięcie elektryczne
przemienne
1 mV ÷ 1000 V
(10 Hz ÷ 1 MHz)
4E-05 V/V do
metoda bezpośredniego
7E-03 V/V
porównania
z kalibratorem
TAK
PTB
G
M42
29,90
Cena za punkt
pomiarowy
M4-62
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
W
napięcie elektryczne
przemienne
1 mV ÷ 1000 V
(10 Hz ÷ 1 MHz)
4E-05 V/V do
metoda bezpośredniego
7E-03 V/V
porównania
z kalibratorem
TAK
PTB
G
M42
29,90
Cena za punkt
pomiarowy
Multimetry
poniżej lub równa
1 mV metoda
podstawieniowa
poniżej lub równa
1 mV metoda
podstawieniowa
4E-04 V/V do
4E-03 V/V
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
4E-04 V/V do
4E-03 V/V
NIE
4E-04 V/V do
4E-03 V/V
NIE
Strona 115
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
G
Usługa nie
uwzgledniona
w CMC
Usługa nie
uwzgledniona
w CMC
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
M4-63
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Wielofunkcyjny
wzorzec
pośredniczący
M4-64
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
M4-65
Elektryczność
i magnetyzm
M4-66
Wzorcowanie wielkość mierzona
W
napięcie elektryczne
przemienne
Woltomierze napięcia
przemiennego
W
napięcie elektryczne
przemienne
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Multimetry
W
napięcie elektryczne
przemienne
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Wielofunkcyjny
wzorzec
pośredniczący
W
napięcie elektryczne
przemienne
M4-67
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Woltomierze napięcia
przemiennego
W
M4-68
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Multimetry
M4-69
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
M4-70
Elektryczność
i magnetyzm
M4-71
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
1 mV ÷ 1000 V
(10 Hz ÷ 1 MHz)
4E-05 V/V do
metoda bezpośredniego
7E-03 V/V
porównania
z kalibratorem
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
TAK
PTB
G
M42
29,90
Cena za punkt
pomiarowy
8E-06 V/V do
5E-03 V/V
TAK
PTB
G
M42
65,00
Cena za punkt
pomiarowy
8E-06 V/V do
5E-03 V/V
TAK
PTB
G
M42
65,00
Cena za punkt
pomiarowy
8E-06 V/V do
5E-03 V/V
TAK
PTB
G
M42
65,00
Cena za punkt
pomiarowy
napięcie elektryczne
przemienne
1 mV ÷ 1000 V
4E-05 V/V do
(10 Hz ÷ 1 MHz)
4E-03 V/V
metoda podstawieniowa
TAK
PTB
G
M42
45,50
Cena za punkt
pomiarowy
W
napięcie elektryczne
przemienne
1 mV ÷ 1000 V
4E-05 V/V do
(10 Hz ÷ 1 MHz)
4E-03 V/V
Metoda podstawieniowa
TAK
PTB
G
M42
45,50
Cena za punkt
pomiarowy
Wielofunkcyjny
wzorzec
pośredniczący
W
napięcie elektryczne
przemienne
1 mV ÷ 1000 V
4E-05 V/V do
(10 Hz ÷ 1 MHz)
4E-03 V/V
metoda podstawieniowa
TAK
PTB
G
M42
45,50
Cena za punkt
pomiarowy
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Woltomierze napięcia
przemiennego
W
napięcie elektryczne
przemienne
1 mV ÷ 10 V
(DC ÷ 10 Hz)
5E-05 V/V do
metoda bezpośredniego 2,1E-03 V/V
porównania z DC
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
Usługa nie
uwzgledniona
w CMC
M42
52,00
Cena za punkt
pomiarowy
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Multimetry
W
napięcie elektryczne
przemienne
1 mV ÷ 10 V
(DC ÷ 10 Hz)
5E-05 V/V do
metoda bezpośredniego 2,1E-03 V/V
porównania z DC
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
Usługa nie
uwzgledniona
w CMC
M42
52,00
Cena za punkt
pomiarowy
M4-72
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Wielofunkcyjny
wzorzec
pośredniczący
W
napięcie elektryczne
przemienne
1 mV ÷ 10 V
(DC ÷ 10 Hz)
5E-05 V/V do
metoda bezpośredniego 2,1E-03 V/V
porównania z DC
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
Usługa nie
uwzgledniona
w CMC
M42
52,00
Cena za punkt
pomiarowy
M4-73
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Pikoamperomierze
W
prąd elektryczny stały
poniżej lub równa
0,1 mA
9,5E-05 A/A do
metoda bezpośredniego
6E-03 A/A
porównania
z kalibratorem
TAK
GUM, BIPM
G
M42
26,00
Cena za punkt
pomiarowy
M4-74
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Nanoamperomierze
W
prąd elektryczny stały
poniżej lub równa
0,1 mA
9,5E-05 A/A do
metoda bezpośredniego
6E-03 A/A
porównania
z kalibratorem
TAK
GUM, BIPM
G
M42
26,00
Cena za punkt
pomiarowy
M4-75
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Miliamperomierze
W
prąd elektryczny stały
poniżej lub równa
0,1 mA
9,5E-05 A/A do
metoda bezpośredniego
6E-03 A/A
porównania
z kalibratorem
TAK
GUM, BIPM
G
M42
26,00
Cena za punkt
pomiarowy
1 mV ÷ 1000 V
(10 Hz ÷ 1 MHz)
metoda pomiarowa
porównawcza przy
zastosowaniu
przetworników AC/DC
1 mV ÷ 1000 V
(10 Hz ÷ 1 MHz)
metoda pomiarowa
porównawcza przy
zastosowaniu
przetworników AC/DC
1 mV ÷ 1000 V
(10 Hz ÷ 1 MHz)
metoda pomiarowa
porównawcza przy
zastosowaniu
przetworników AC/DC
Strona 116
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
prąd elektryczny stały
poniżej lub równa
0,1 mA
9,5E-05 A/A do
metoda bezpośredniego
6E-03 A/A
porównania
z kalibratorem
TAK
GUM, BIPM
G
M42
26,00
Cena za punkt
pomiarowy
W
prąd elektryczny stały
poniżej lub równa
0,1 mA
9,5E-05 A/A do
metoda bezpośredniego
6E-03 A/A
porównania
z kalibratorem
TAK
GUM, BIPM
G
M42
26,00
Cena za punkt
pomiarowy
Miliamperomierze
W
prąd elektryczny stały
0,1 m A ÷ 11 A
metoda bezpośredniego 3,2E-05 A/A do
porównania
8,2E-04 A/A
z kalibratorem
TAK
GUM, BIPM
G
M42
26,00
Cena za punkt
pomiarowy
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Amperomierze prądu
stałego
W
prąd elektryczny stały
0,1 m A ÷ 11 A
metoda bezpośredniego 3,2E-05 A/A do
porównania
8,2E-04 A/A
z kalibratorem
TAK
GUM, BIPM
G
M42
26,00
Cena za punkt
pomiarowy
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Multimetry
W
prąd elektryczny stały
0,1 m A ÷ 11 A
metoda bezpośredniego 3,2E-05 A/A do
porównania
8,2E-04 A/A
z kalibratorem
TAK
GUM, BIPM
G
M42
26,00
Cena za punkt
pomiarowy
M4-81
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Wielofunkcyjny
wzorzec
pośredniczący
W
prąd elektryczny stały
0,1 m A ÷ 11 A
metoda bezpośredniego 3,2E-05 A/A do
porównania
8,2E-04 A/A
z kalibratorem
TAK
GUM, BIPM
G
M42
26,00
Cena za punkt
pomiarowy
M4-82
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Pikoamperomierze
W
prąd elektryczny stały
poniżej lub równa
1,6E-05 A/A do
0,1 mA
4,2E-04 A/A
metoda podstawieniowa
NIE
GUM, BIPM
G
CMC 9,5E-05 A/A do
6E-03 A/A
M42
39,00
Cena za punkt
pomiarowy
M4-83
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Nanoamperomierze
W
prąd elektryczny stały
poniżej lub równa
1,6E-05 A/A do
0,1 mA
4,2E-04 A/A
metoda podstawieniowa
NIE
GUM, BIPM
G
CMC 9,5E-05 A/A do
6E-03 A/A
M42
39,00
Cena za punkt
pomiarowy
M4-84
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Miliamperomierze
W
prąd elektryczny stały
poniżej lub równa
1,6E-05 A/A do
0,1 mA
4,2E-04 A/A
metoda podstawieniowa
NIE
GUM, BIPM
G
CMC 9,5E-05 A/A do
6E-03 A/A
M42
39,00
Cena za punkt
pomiarowy
M4-85
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Multimetry
W
prąd elektryczny stały
poniżej lub równa
1,6E-05 A/A do
0,1 mA
4,2E-04 A/A
metoda podstawieniowa
NIE
GUM, BIPM
G
CMC 9,5E-05 A/A do
6E-03 A/A
M42
39,00
Cena za punkt
pomiarowy
M4-86
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Wielofunkcyjny
wzorzec
pośredniczący
W
prąd elektryczny stały
poniżej lub równa
1,6E-05 A/A do
0,1 mA
4,2E-04 A/A
metoda podstawieniowa
NIE
GUM, BIPM
G
CMC 9,5E-05 A/A do
6E-03 A/A
M42
39,00
Cena za punkt
pomiarowy
M4-87
Elektryczność
i magnetyzm
Miliamperomierze
W
prąd elektryczny stały
0,1 m A ÷ 11 A
1,6E-05 A/A do
metoda podstawieniowa 4,2E-04 A/A
NIE
GUM, BIPM
G
CMC 3,2E-05 A/A do
8,2E-04 A/A
M42
39,00
Cena za punkt
pomiarowy
M4-88
Elektryczność
i magnetyzm
Amperomierze prądu
stałego
W
prąd elektryczny stały
0,1 m A ÷ 11 A
1,6E-05 A/A do
metoda podstawieniowa 4,2E-04 A/A
NIE
GUM, BIPM
G
CMC 3,2E-05 A/A do
8,2E-04 A/A
M42
39,00
Cena za punkt
pomiarowy
M4-89
Elektryczność
i magnetyzm
Multimetry
W
prąd elektryczny stały
0,1 m A ÷ 11 A
1,6E-05 A/A do
metoda podstawieniowa 4,2E-04 A/A
NIE
GUM, BIPM
G
CMC 3,2E-05 A/A do
8,2E-04 A/A
M42
39,00
Cena za punkt
pomiarowy
M4-90
Elektryczność
i magnetyzm
Wielofunkcyjny
wzorzec
pośredniczący
W
prąd elektryczny stały
0,1 m A ÷ 11 A
1,6E-05 A/A do
metoda podstawieniowa 4,2E-04 A/A
NIE
GUM, BIPM
G
CMC 3,2E-05 A/A do
8,2E-04 A/A
M42
39,00
Cena za punkt
pomiarowy
M4-91
Elektryczność
i magnetyzm
Pikoamperomierze
W
prąd elektryczny stały
poniżej lub równa
0,1 mA
metoda techniczna
NIE
GUM, BIPM
G
CMC 9,5E-05 A/A do
6E-03 A/A
M42
45,50
Cena za punkt
pomiarowy
M4-76
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Multimetry
M4-77
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Wielofunkcyjny
wzorzec
pośredniczący
M4-78
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
M4-79
Elektryczność
i magnetyzm
M4-80
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
W
1,2E-05 A/A do
7,3E-05 A/A
Strona 117
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
poniżej lub równa
0,1 mA
metoda techniczna
poniżej lub równa
0,1 mA
metoda techniczna
poniżej lub równa
0,1 mA
metoda techniczna
poniżej lub równa
0,1 mA
metoda techniczna
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
1,2E-05 A/A do
7,3E-05 A/A
NIE
GUM, BIPM
G
CMC 9,5E-05 A/A do
6E-03 A/A
M42
45,50
Cena za punkt
pomiarowy
1,2E-05 A/A do
7,3E-05 A/A
NIE
GUM, BIPM
G
CMC 9,5E-05 A/A do
6E-03 A/A
M42
45,50
Cena za punkt
pomiarowy
1,2E-05 A/A do
7,3E-05 A/A
NIE
GUM, BIPM
G
CMC 9,5E-05 A/A do
6E-03 A/A
M42
45,50
Cena za punkt
pomiarowy
1,2E-05 A/A do
7,3E-05 A/A
NIE
GUM, BIPM
G
CMC 9,5E-05 A/A do
6E-03 A/A
M42
45,50
Cena za punkt
pomiarowy
0,1 m A ÷ 11 A
metoda techniczna
1,2E-05 A/A do
7,3E-05 A/A
NIE
GUM, BIPM
G
CMC 3,2E-05 A/A do
8,2E-04 A/A
M42
45,50
Cena za punkt
pomiarowy
prąd elektryczny stały
0,1 m A ÷ 11 A
metoda techniczna
1,2E-05 A/A do
7,3E-05 A/A
NIE
GUM, BIPM
G
CMC 3,2E-05 A/A do
8,2E-04 A/A
M42
45,50
Cena za punkt
pomiarowy
W
prąd elektryczny stały
0,1 m A ÷ 11 A
metoda techniczna
1,2E-05 A/A do
7,3E-05 A/A
NIE
GUM, BIPM
G
CMC 3,2E-05 A/A do
8,2E-04 A/A
M42
45,50
Cena za punkt
pomiarowy
Amperomierze prądu
przemiennego
W
prąd elektryczny
przemienny
0,1 mA ÷ 10 A
(10 Hz ÷ 10 kHz)
1,3E-04 A/A do
metoda bezpośredniego 8E-03 A/A
porównania
TAK
PTB
G
M42
29,90
Cena za punkt
pomiarowy
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Multimetry
W
prąd elektryczny
przemienny
0,1 mA ÷ 10 A
(10 Hz ÷ 10 kHz)
1,3E-04 A/A do
metoda bezpośredniego 8E-03 A/A
porównania
TAK
PTB
G
M42
29,90
Cena za punkt
pomiarowy
M4-101
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Amperomierze prądu
przemiennego
W
prąd elektryczny
przemienny
7,5E-05 A/A do
3,8E-03 A/A
TAK
PTB
G
M42
65,00
Cena za punkt
pomiarowy
M4-102
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Multimetry
W
prąd elektryczny
przemienny
7,5E-05 A/A do
3,8E-03 A/A
TAK
PTB
G
M42
65,00
Cena za punkt
pomiarowy
M4-103
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Wielofunkcyjny
wzorzec
pośredniczący
W
prąd elektryczny
przemienny
7,5E-05 A/A do
3,8E-03 A/A
TAK
PTB
G
M42
65,00
Cena za punkt
pomiarowy
M4-104
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Multimetry
W
poniżej lub równa 1 Ω
rezystancja przy prądzie metoda bezpośredniego 7E-06 Ω/Ω do
stałym (DC)
4E-03 Ω/Ω
porównania
z kalibratorem
TAK
BIPM
G
M42
26,00
Cena za punkt
pomiarowy
M4-105
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Wielofunkcyjny
wzorzec
pośredniczący
W
poniżej lub równa 1 Ω
rezystancja przy prądzie metoda bezpośredniego 7E-06 Ω/Ω do
stałym (DC)
porównania
4E-03 Ω/Ω
z kalibratorem
TAK
BIPM
G
M42
26,00
Cena za punkt
pomiarowy
M4-106
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Omomierze
W
1 Ω ÷ 1 GΩ
rezystancja przy prądzie metoda bezpośredniego 7E-06 Ω/Ω do
stałym (DC)
porównania
4E-03 Ω/Ω
z kalibratorem
TAK
BIPM
G
M42
26,00
Cena za punkt
pomiarowy
M4-107
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Megaomomierze
W
1 Ω ÷ 1 GΩ
rezystancja przy prądzie metoda bezpośredniego 7E-06 Ω/Ω do
stałym (DC)
porównania
4E-03 Ω/Ω
z kalibratorem
TAK
BIPM
G
M42
26,00
Cena za punkt
pomiarowy
M4-92
Elektryczność
i magnetyzm
M4-93
Elektryczność
i magnetyzm
M4-94
Elektryczność
i magnetyzm
M4-95
Elektryczność
i magnetyzm
M4-96
Elektryczność
i magnetyzm
M4-97
Elektryczność
i magnetyzm
M4-98
Elektryczność
i magnetyzm
M4-99
Elektryczność
i magnetyzm
M4-100
Nanoamperomierze
W
prąd elektryczny stały
Miliamperomierze
W
prąd elektryczny stały
Multimetry
W
prąd elektryczny stały
Wielofunkcyjny
wzorzec
pośredniczący
W
prąd elektryczny stały
Miliamperomierze
W
prąd elektryczny stały
Amperomierze prądu
stałego
W
Multimetry
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Elektryczność
i magnetyzm
10 mA ÷ 10 A
(10 Hz ÷ 10 kHz)
metoda pomiarowa
porównawcza przy
zastosowaniu
przetworników AC/DC
10 mA ÷ 10 A
(10 Hz ÷ 10 kHz)
metoda pomiarowa
porównawcza przy
zastosowaniu
przetworników AC/DC
1 mA ÷ 10 A
(10 Hz ÷ 10 kHz) metoda
pomiarowa
porównawcza przy
zastosowaniu
przetworników AC/DC
Strona 118
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
Zakres
pomiarowy/metoda
Niepewność
rozszerzona2)
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
M4-108
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Multimetry
W
1 Ω ÷ 1 GΩ
rezystancja przy prądzie metoda bezpośredniego 7E-06 Ω/Ω do
stałym (DC)
porównania
4E-03 Ω/Ω
z kalibratorem
TAK
BIPM
G
M42
26,00
Cena za punkt
pomiarowy
M4-109
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Wielofunkcyjny
wzorzec
pośredniczący
W
1 Ω ÷ 1 GΩ
rezystancja przy prądzie metoda bezpośredniego 7E-06 Ω/Ω do
stałym (DC)
porównania
4E-03 Ω/Ω
z kalibratorem
TAK
BIPM
G
M42
26,00
Cena za punkt
pomiarowy
M4-110
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Multimetry
W
poniżej lub równa 1 Ω
metoda bezpośredniego
0,5E-06 Ω/Ω do
rezystancja przy prądzie
porównania
stałym (DC)
4,5E-05 Ω/Ω
z rezystorami
wzorcowymi
NIE
BIPM
G
CMC 7E-06 Ω/Ω do
4E-03 Ω/Ω
M42
31,20
Cena za punkt
pomiarowy
M4-111
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Wielofunkcyjny
wzorzec
pośredniczący
W
poniżej lub równa 1 Ω
metoda bezpośredniego
0,5E-06 Ω/Ω do
rezystancja przy prądzie
porównania
stałym (DC)
4,5E-05 Ω/Ω
z rezystorami
wzorcowymi
NIE
BIPM
G
CMC 7E-06 Ω/Ω do
4E-03 Ω/Ω
M42
31,20
Cena za punkt
pomiarowy
M4-112
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
W
1 Ω ÷ 1 GΩ
metoda bezpośredniego
0,5E-06 Ω/Ω do
rezystancja przy prądzie
porównania
stałym (DC)
4,5E-05 Ω/Ω
z rezystorami
wzorcowymi
NIE
BIPM
G
CMC 7E-06 Ω/Ω do
4E-03 Ω/Ω
M42
31,20
Cena za punkt
pomiarowy
M4-113
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
W
1 Ω ÷ 1 GΩ
metoda bezpośredniego
0,5E-06 Ω/Ω do
rezystancja przy prądzie
porównania
stałym (DC)
4,5E-05 Ω/Ω
z rezystorami
wzorcowymi
NIE
BIPM
G
CMC 7E-06 Ω/Ω do
4E-03 Ω/Ω
M42
31,20
Cena za punkt
pomiarowy
M4-114
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Multimetry
W
1 Ω ÷ 1 GΩ
metoda bezpośredniego
0,5E-06 Ω/Ω do
rezystancja przy prądzie
porównania
stałym (DC)
4,5E-05 Ω/Ω
z rezystorami
wzorcowymi
NIE
BIPM
G
CMC 7E-06 Ω/Ω do
4E-03 Ω/Ω
M42
31,20
Cena za punkt
pomiarowy
M4-115
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Wielofunkcyjny
wzorzec
pośredniczący
W
1 Ω ÷ 1 GΩ
metoda bezpośredniego
0,5E-06 Ω/Ω do
rezystancja przy prądzie
porównania
stałym (DC)
4,5E-05 Ω/Ω
z rezystorami
wzorcowymi
NIE
BIPM
G
CMC 7E-06 Ω/Ω do
4E-03 Ω/Ω
M42
31,20
Cena za punkt
pomiarowy
M4-116
Elektryczność
i magnetyzm
Multimetry
W
8E-06 Ω/Ω do
rezystancja przy prądzie poniżej lub równa 1 Ω
stałym (DC)
metoda podstawieniowa 1,5E-03 Ω/Ω
TAK
BIPM
G
M42
39,00
Cena za punkt
pomiarowy
M4-117
Elektryczność
i magnetyzm
Wielofunkcyjny
wzorzec
pośredniczący
W
8E-06 Ω/Ω do
rezystancja przy prądzie poniżej lub równa 1 Ω
stałym (DC)
metoda podstawieniowa 1,5E-03 Ω/Ω
TAK
BIPM
G
M42
39,00
Cena za punkt
pomiarowy
M4-118
Elektryczność
i magnetyzm
Omomierze
W
8E-06 Ω/Ω do
rezystancja przy prądzie 1 Ω ÷ 1 GΩ
stałym (DC)
metoda podstawieniowa 1,5E-03 Ω/Ω
TAK
BIPM
G
M42
39,00
Cena za punkt
pomiarowy
M4-119
Elektryczność
i magnetyzm
Megaomomierze
W
8E-06 Ω/Ω do
rezystancja przy prądzie 1 Ω ÷ 1 GΩ
stałym (DC)
metoda podstawieniowa 1,5E-03 Ω/Ω
TAK
BIPM
G
M42
39,00
Cena za punkt
pomiarowy
M4-120
Elektryczność
i magnetyzm
Multimetry
W
8E-06 Ω/Ω do
rezystancja przy prądzie 1 Ω ÷ 1 GΩ
stałym (DC)
metoda podstawieniowa 1,5E-03 Ω/Ω
TAK
BIPM
G
M42
39,00
Cena za punkt
pomiarowy
M4-121
Elektryczność
i magnetyzm
Wielofunkcyjny
wzorzec
pośredniczący
W
8E-06 Ω/Ω do
rezystancja przy prądzie 1 Ω ÷ 1 GΩ
stałym (DC)
metoda podstawieniowa 1,5E-03 Ω/Ω
TAK
BIPM
G
M42
39,00
Cena za punkt
pomiarowy
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Omomierze
Megaomomierze
Strona 119
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
M4-122A2
Elektryczność
i magnetyzm
M4-123
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Kalibratory
wielofunkcyjne
W
napięcie elektryczne
stałe
1 mV ÷ 10 V
metoda bezpośredniego 2,4E-06 V/V do
porównania
4,2E-04 V/V
z multimetrem
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
M4-124
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Kalibratory
wielofunkcyjne
W
napięcie elektryczne
stałe
10 V ÷ 1000 V
metoda bezpośredniego 2,4E-06 V/V do
porównania
5,2E-06 V/V
z multimetrem
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
M4-125
Elektryczność
i magnetyzm
Kalibratory
wielofunkcyjne
W
napięcie elektryczne
stałe
1 mV ÷ 10 V
3,1E-06 V/V do
metoda podstawieniowa 4,2E-04 V/V
TAK
M4-126
Elektryczność
i magnetyzm
Kalibratory
wielofunkcyjne
W
napięcie elektryczne
stałe
10 V ÷ 1000 V
2,4E-06 V/V do
metoda podstawieniowa 5,2E-06 V/V
TAK
M4-127
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Kalibratory
wielofunkcyjne
W
napięcie elektryczne
stałe
1 mV ÷ 10 V
metoda porównania
z wzorcowym źródłem
napięcia
0,3E-06 V/V do
1,2E-05 V/V
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M4-128
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Kalibratory
wielofunkcyjne
W
napięcie elektryczne
stałe
10 V ÷ 1000 V
metoda porównania
z wzorcowym źródłem
napięcia
0,3E-06 V/V do
1,2E-05 V/V
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M4-129
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Kalibratory
wielofunkcyjne
W
napięcie elektryczne
przemienne
1 mV ÷ 1000 V
(10 Hz ÷ 1 MHz)
2,6E-05 V/V do
metoda bezpośredniego
2,1E-03 V/V
porównania
z multimetrem
TAK
PTB
M4-130
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Kalibratory
wielofunkcyjne
W
napięcie elektryczne
przemienne
1 mV ÷ 1000 V
1,1E-04 V/V do
(10 Hz ÷ 1 MHz)
6,1E-03 V/V
metoda podstawieniowa
TAK
M4-131
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Kalibratory
wielofunkcyjne
W
napięcie elektryczne
przemienne
1 mV ÷ 1000 V
(10 Hz ÷ 1 MHz)
metoda pomiarowa
porównawcza przy
zastosowaniu
przetworników AC/DC
M4-132
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Kalibratory
wielofunkcyjne
W
prąd elektryczny stały
M4-133
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Kalibratory
wielofunkcyjne
W
M4-134
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Kalibratory
wielofunkcyjne
M4-135
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Kalibratory
wielofunkcyjne
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
Opłata stała związana ze
zleceniem,
przygotowaniem
przyrządu i stanowiska
pomiarowego pobierana
jednorazowo
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Kalibratory
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
M42
195,00
G
M42
26,00
Cena za punkt
pomiarowy
G
M42
26,00
Cena za punkt
pomiarowy
G
M42
39,00
Cena za punkt
pomiarowy
G
M42
39,00
Cena za punkt
pomiarowy
CMC 2,4E-06 V/V do
4,2E-04 V/V
dodano nową usługę
do cennika
M42
52,00
Cena za punkt
pomiarowy
CMC 2,4E-06 V/V do
4,2E-04 V/V
dodano nową usługę
do cennika
M42
52,00
Cena za punkt
pomiarowy
G
M42
32,50
Cena za punkt
pomiarowy
PTB
G
M42
45,50
Cena za punkt
pomiarowy
TAK
PTB
G
M42
58,50
Cena za punkt
pomiarowy
poniżej lub równa
0,1 mA
2,2E-05 A/A
metoda bezpośredniego
porównania
z multimetrem
TAK
GUM, BIPM
G
M42
26,00
Cena za punkt
pomiarowy
prąd elektryczny stały
0,1 mA ÷ 10 A
metoda bezpośredniego 1,3E-05 A/A do
porównania
6E-05 A/A
z multimetrem
TAK
GUM, BIPM
G
M42
26,00
Cena za punkt
pomiarowy
W
prąd elektryczny stały
poniżej lub równa
4,2E-05 A/A do
0,1 mA
8,2E-04 A/A
metoda podstawieniowa
NIE
GUM, BIPM
G
M42
39,00
Cena za punkt
pomiarowy
W
prąd elektryczny stały
0,1 mA ÷ 10 A
3,2E-05 A/A do
metoda podstawieniowa 8,2E-04 A/A
NIE
GUM, BIPM
G
M42
39,00
Cena za punkt
pomiarowy
8E-06 V/V do
5E-03 V/V
Strona 120
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
CMC 6,4E-04 A/A
CMC 3,6E-05 A/A do
6,4E-4 A/A
CMC 6,4E-04 A/A
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Kalibratory
wielofunkcyjne
W
prąd elektryczny stały
poniżej lub równa
0,1 mA
metoda techniczna
Kalibratory
wielofunkcyjne
W
prąd elektryczny stały
0,1 mA ÷ 10 A
metoda techniczna
1,2E-05 A/A do
7,3E-05 A/A
NIE
GUM, BIPM
G
Kalibratory
wielofunkcyjne
W
prąd elektryczny
przemienny
0,1 mA ÷ 10 A
(10 Hz ÷ 10 kHz)
9,0E-05 A/A do
metoda bezpośredniego
8,0E-04 A/A
porównania
z multimetrem
TAK
PTB
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Kalibratory
wielofunkcyjne
W
prąd elektryczny
przemienny
0,1 mA ÷ 1 mA
(10 Hz ÷ 10 kHz)
metoda techniczna
NIE
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Kalibratory
wielofunkcyjne
W
prąd elektryczny
przemienny
0,1 mA ÷ 10 A
(10
1,3E-04 A/A do
Hz ÷ 10 kHz) metoda
8E-03 A/A
podstawieniowa
M4-141
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Kalibratory
wielofunkcyjne
W
M4-142
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Kalbratory rezystancji
W
M4-143
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Kalibratory
wielofunkcyjne
W
M4-144
Elektryczność
i magnetyzm
Kalibratory rezystancji
M4-145
Elektryczność
i magnetyzm
Kalibratory
wielofunkcyjne
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
M4-136
Elektryczność
i magnetyzm
M4-137
Elektryczność
i magnetyzm
M4-138
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
M4-139
Elektryczność
i magnetyzm
M4-140
M4-146A3
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
GUM, BIPM
G
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
45,50
Cena za punkt
pomiarowy
M42
45,50
Cena za punkt
pomiarowy
G
M42
29,90
Cena za punkt
pomiarowy
PTB
G
M42
45,50
Cena za punkt
pomiarowy
NIE
PTB
G
M42
45,50
Cena za punkt
pomiarowy
7,5E-05 A/A do
3,8E-03 A/A
TAK
PTB
G
M42
65,00
Cena za punkt
pomiarowy
4,3E-06 Ω/Ω do
5,4E-03 Ω/Ω
TAK
BIPM
G
M42
26,00
Cena za punkt
pomiarowy
4,3E-06 Ω/Ω do
5,4E-03 Ω/Ω
TAK
BIPM
G
M42
26,00
Cena za punkt
pomiarowy
W
0,5E-06 Ω/Ω do
rezystancja przy prądzie 1 Ω ÷ 1 GΩ
stałym (DC)
metoda podstawieniowa 4,5E-05 Ω/Ω
NIE
BIPM
G
M42
52,00
Cena za punkt
pomiarowy
W
0,5E-06 Ω/Ω do
rezystancja przy prądzie 1 Ω ÷ 1 GΩ
stałym (DC)
metoda podstawieniowa 4,5E-05 Ω/Ω
NIE
BIPM
G
M42
52,00
Cena za punkt
pomiarowy
M42
195,00
1 mA ÷ 10 A
(10 Hz ÷ 10 kHz)
metoda pomiarowa
porównawcza przy
zastosowaniu
przetworników AC/DC
1 Ω ÷ 1 GΩ
rezystancja przy prądzie metody pomiarowe
stałym (DC)
bezpośredniego
porównania
1 Ω ÷ 1 GΩ
rezystancja przy prądzie metody pomiarowe
stałym (DC)
bezpośredniego
porównania
NIE
Uwagi dot.
wzorcowania
M42
prąd elektryczny
przemienny
1,2E-05 A/A do
7,3E-05 A/A
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
9,0E-05 A/A
do
8,0E-04 A/A
CMC 6,4E-04 A/A
CMC 3,6E-05 A/A do
6,4E-04 A/A
Opłata stała związana ze
zleceniem,
przygotowaniem
przyrządu i stanowiska
pomiarowego pobierana
jednorazowo
Przetworniki
termoelektryczne
AC/DC
M4-147
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Przetwornik
termoelektryczny
AC/DC
W
różnica przetwarzania
AC/DC
M4-148
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Przetwornik
termoelektryczny
AC/DC
W
różnica przetwarzania
AC/DC
M4-149
Elektryczność
i magnetyzm
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Przetwornik
termoelektryczny
AC/DC
W
różnica przetwarzania
AC/DC
2 mV ÷ 0,5 V
(10 Hz ÷ 1 MHz)
metoda pomiarowa
porównawcza przy
zastosowaniu
wzorcowych
przetworników AC/DC
0,5 V ÷ 5 V
metoda pomiarowa
porównawcza przy
zastosowaniu
wzorcowych
przetworników AC/DC
5 V ÷ 1000 V
(10 Hz ÷ 1 MHz)
metoda pomiarowa
porównawcza przy
zastosowaniu
wzorcowych
przetworników AC/DC
5E-06 V/V do
1,7E-04 V/V
TAK
PTB
G
CMC 4,1E-05 V/V do
1,7E-04 V/V
M42
117,00
Cena za punkt
pomiarowy
3E-06 V/V do
4E-05 V/V
TAK
PTB
G
CMC 9E-06 V/V do
5,5E-04 V/V
M42
117,00
Cena za punkt
pomiarowy
3E-06 V/V do
2,5E-05 V/V
TAK
PTB
G
CMC 9E-06 V/V do
5E-03 V/V
M42
117,00
Cena za punkt
pomiarowy
Strona 121
ID
Obiektu
M4-150
M4-151
M4-152
M4-153
M4-154
M4-155
M4-156
Dziedzina
Elektryczność
i magnetyzm
Elektryczność
i magnetyzm
Elektryczność
i magnetyzm
Elektryczność
i magnetyzm
Elektryczność
i magnetyzm
Elektryczność
i magnetyzm
Elektryczność
i magnetyzm
Subdziedzina
Napięcie, prąd i
rezystancja DC i m.
cz.
Moc i energia
Moc i energia
Moc i energia
Moc i energia
Moc i energia
Moc i energia
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Przetwornik
termoelektryczny
AC/DC z bocznikiem
Licznik energii
Licznik energii
Miernik mocy
Miernik mocy
Licznik energii
Licznik energii
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
różnica przetwarzania
AC/DC
10 mA ÷ 20 A
(10 Hz ÷ 20 kHz)
metoda pomiarowa
porównawcza przy
zastosowaniu
wzorcowych
przetworników AC/DC
4E-06 A/A do
5E-04 A/A
energia w układzie
jednofazowym
U = (60 ÷ 500) V;
I = (0,05 ÷ 100) A;
f = (45 ÷ 65) Hz;
wsp. mocy (czynnej lub
biernej) od 1 do 0,5
niepewność
rozszerzona:
0,015%
(dla k = 1,65, przy
poziomie ufności
95%)
energia w układzie
jednofazowym
U = (60 ÷ 500) V;
I = (0,05 ÷ 100) A;
f = (45 ÷ 65) Hz;
wsp. mocy (czynnej lub
biernej) od 1 do 0,5
niepewność
rozszerzona:
0,007%
(dla k = 2, przy
poziomie ufności
95%)
moc w układzie
jednofazowym
U = (60 ÷ 500) V;
I = (0,05 ÷ 100) A;
f = (45 ÷ 65) Hz;
wsp. mocy (czynnej lub
biernej) od 1 do 0,5
niepewność
rozszerzona:
0,015%
(dla k = 1,65, przy
poziomie ufności
95%)
moc w układzie
jednofazowym
U = (60 ÷ 500) V;
I = (0,05 ÷ 100) A;
f = (45 ÷ 65) Hz;
wsp. mocy (czynnej lub
biernej) od 1 do 0,5
niepewność
rozszerzona:
0,007%
(dla k = 2, przy
poziomie ufności
95%)
WE
energia w układzie
trójfazowym
U = (60 ÷ 500) V;
I = (0,05 ÷ 100) A;
f = (45 ÷ 65) Hz;
wsp. mocy (czynnej lub
biernej) od 1 do 0,5
niepewność
rozszerzona:
0,015%
(dla k = 1,65, przy
poziomie ufności
95%)
WE
energia w układzie
trójfazowym
(faza po fazie i/lub
szeregoworównolegle)
U = (60 ÷ 500) V;
I = (0,05 ÷ 100) A;
f = (45 ÷ 65) Hz;
wsp. mocy (czynnej lub
biernej) od 1 do 0,5
niepewność
rozszerzona:
0,007%
(dla k = 2, przy
poziomie ufności
95%)
W
WE
WE
WE
WE
Strona 122
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
TAK
PTB
TAK
Wzorce
państwowe
napięcia stałego,
rezystancji
i czasu,
przechowywane
w GUM
G
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
CMC 6E-05 A/A do
1,4E-04 A/A
Cena za punkt
pomiarowy
M42
117,00
P, G
M42
Cena za pierwszy
punkt pomiarowy,
214,50 każdy następny to
0,15 rbg x stawka za
1 rbg.
TAK
Wzorce
państwowe
napięcia stałego,
rezystancji
i czasu,
przechowywane
w GUM
G
M42
221,00
Cena za pierwszy
punkt pomiarowy,
każdy następny to 0,2
rbg x stawka za 1 rbg.
TAK
Wzorce
państwowe
napięcia stałego,
rezystancji
i czasu,
przechowywane
w GUM
P, G
wzorcowanie
z wykorzystaniem
licznika energii
elektrycznej
M42
221,00
Cena za pierwszy
punkt pomiarowy,
każdy następny to 0,2
rbg x stawka za 1 rbg.
TAK
Wzorce
państwowe
napięcia stałego,
rezystancji
i czasu,
przechowywane
w GUM
G
wzorcowanie
z wykorzystaniem
licznika energii
elektrycznej
M42
Cena za pierwszy
punkt pomiarowy,
227,50 każdy następny to
0,25 rbg x stawka za
1 rbg.
TAK
Wzorce
państwowe
napięcia stałego,
rezystancji
i czasu,
przechowywane
w GUM
P, G
M42
Cena za pierwszy
punkt pomiarowy,
409,50 każdy następny to
0,15 rbg x stawka za
1 rbg.
TAK
Wzorce
państwowe
napięcia stałego,
rezystancji
i czasu,
przechowywane
w GUM
G
M42
416,00
Cena za pierwszy
punkt pomiarowy,
każdy następny to 0,2
rbg x stawka za 1 rbg.
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
Elektryczność
i magnetyzm
Przekładniki i
wysokie napięcie
Komparatory prądowe
M4-158
Elektryczność
i magnetyzm
Przekładniki i
wysokie napięcie
Komparator prądowy
W
błąd prądowy i kątowy
M4-159
Elektryczność
i magnetyzm
Przekładniki i
wysokie napięcie
Komparator prądowy
W
błąd prądowy i kątowy
M4-160
Elektryczność
i magnetyzm
Przekładniki i
wysokie napięcie
Komparator prądowy
W
błąd prądowy i kątowy
Elektryczność
i magnetyzm
Przekładniki i
wysokie napięcie
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Opłata stała związana ze
zleceniem,
przygotowaniem
przyrządu i stanowiska
pomiarowego pobierana
jednorazowo przy
realizacji usług na
komparatorze prądowym
z pozycji od 158 do 160.
M4-157A4
M4-161A5
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
znamionowy prąd
pierwotny
(2 ÷ 10000) A;
znamionowy prąd
wtórny 5 A i 1 A
znamionowy prąd
pierwotny
(2 ÷ 10000) A;
znamionowy prąd
wtórny 5 A i 1 A
znamionowy prąd
pierwotny
(2 ÷ 10000) A;
znamionowy prąd
wtórny 5 A i 1 A
M4-162
Elektryczność
i magnetyzm
Przekładniki i
wysokie napięcie
Przekładnik prądowy
WE
M4-163
Elektryczność
i magnetyzm
Przekładniki i
wysokie napięcie
Przekładnik prądowy
WE
M4-164
Elektryczność
i magnetyzm
Przekładniki i
wysokie napięcie
Przekładnik prądowy
WE
M4-165
Elektryczność
i magnetyzm
Przekładniki i
wysokie napięcie
Przekładnik
napięciowy
WE
znamionowy prąd
pierwotny
(0,05 ÷ 10000) A;
znamionowy prąd
błąd prądowy i kątowy
wtórny 5 A i 1 A ;
najwyższe napięcie
dopuszczalne
(720 ÷ 420000) V
znamionowy prąd
pierwotny
(0,05 ÷ 10000) A;
znamionowy prąd
błąd prądowy i kątowy
wtórny 5 A i 1 A ;
najwyższe napięcie
dopuszczalne
(720 ÷ 420000) V
znamionowy prąd
pierwotny
(0,05 ÷ 10000) A;
znamionowy prąd
błąd prądowy i kątowy
wtórny 5 A i 1 A ;
najwyższe napięcie
dopuszczalne
(720 ÷ 420000) V
Znamionowe napięcie
pierwotne
błąd napięciowy i kątowy (100 ÷ 1100) V;
znamionowe napięcie
wtórne 100 V i 110 V
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
M42
455,00
0,003 %,
0,3 minuty
(k =2, P =ok. 95 %)
TAK
PTB
G
M42
143,00
0,003 %,
0,3 minuty
(k = 2, P =ok. 95 %)
TAK
PTB
G
M42
Cena za jedną
273,00 przekładnię do 100 A
do 1000 A
0,003 %,
0,3 minuty
(k = 2, P =ok. 95 %)
TAK
PTB
G
M42
Cena za jedną
403,00 przekładnię powyżej
1000 A
M42
195,00
Opłata stała związana ze
zleceniem,
przygotowaniem
przyrządu i stanowiska
pomiarowego pobierana
jednorazowo przy
realizacji usług na
przekładniku
Przekładniki
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Cena za jedną
przekładnię do 100 A
> 0,003 %,
> 0,3 minuty
(k = 2, P =ok. 95 %)
TAK
PTB
P, G
M42
32,50
> 0,003 %,
> 0,3 minuty
(k = 2, P =ok. 95 %)
TAK
PTB
P, G
M42
Cena za jedną
58,50 przekładnię od 100 A
do 1000 A
> 0,003 %,
> 0,3 minuty
(k = 2, P =ok. 95 %)
TAK
PTB
P, G
M42
Cena za jedną
71,50 przekładnię od 1000
A
> 0,005 %,
> 0,5 minuty
(k = 2, P =ok. 95 %)
TAK
PTB
P, G
M42
Cena za jedną
45,50 przekładnię do 1100
V
Strona 123
Cena za jedną
przekładnię do 100 A
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
M4-166
Elektryczność
i magnetyzm
Przekładniki i
wysokie napięcie
Przekładnik
napięciowy
WE
M4-167
Elektryczność
i magnetyzm
Przekładniki i
wysokie napięcie
Przekładnik
napięciowy
WE
M4-168A6
Elektryczność
i magnetyzm
Przekładniki i
wysokie napięcie
Wzorcowanie wielkość mierzona
Znamionowe napięcie
pierwotne
(100 ÷ 400000) V;
znamionowe napięcie
błąd napięciowy i kątowy
wtórne 100 V i 110 V;
najwyższe napięcie
dopuszczalne
(720 ÷ 420000) V
Znamionowe napięcie
pierwotne
(100 ÷ 400000) V;
znamionowe napięcie
błąd napięciowy i kątowy
wtórne 100 V i 110 V;
najwyższe napięcie
dopuszczalne
(720 ÷ 420000) V
Przekładniki
kombinowane
Elektryczność
i magnetyzm
Przekładniki i
wysokie napięcie
Przekładnik
kombinowany
WE
błąd prądowy i
napięciowy oraz kątowy
M4-170
Elektryczność
i magnetyzm
Przekładniki i
wysokie napięcie
Przekładnik
kombinowany
WE
błąd prądowy i
napięciowy oraz kątowy
M4-172
Elektryczność
i magnetyzm
Elektryczność
i magnetyzm
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
znamionowy prąd
pierwotny
(0,05 ÷ 10000) A;
znamionowy prąd wtórny
5Ai1A;
znamionowe napięcie
pierwotne
(100 ÷ 400000) V;
znamionowe napięcie
wtórne 100 V i 110 V;
najwyższe napięcie
dopuszczalne
(720 ÷ 420000) V
znamionowy prąd
pierwotny
(0,05 ÷ 10000) A;
znamionowy prąd wtórny
5Ai1A;
znamionowe napięcie
pierwotne
(100 ÷ 400000) V;
znamionowe napięcie
wtórne 100 V i 110 V;
najwyższe napięcie
dopuszczalne
(720 ÷ 420000) V
Przekładniki i
wysokie napięcie
Mostek do pomiaru
błędów przekładników prądowy i prądowonapięciowy
Opłata stała związana ze
zleceniem,
przygotowaniem
przyrządu i stanowiska
pomiarowego pobierana
jednorazowo przy
realizacji usług na
mostek
Przekładniki i
wysokie napięcie
Mostek do pomiaru
błędów przekładników prądowo-napięciowy
znamionowy prąd
błąd prądowy
(1 ÷ 10) A,
i napięciowy oraz kątowy znamionowe napięcie
(33,3 ÷ 200) V
W
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
> 0,005 %,
> 0,5 minuty
(k = 2, P =ok. 95 %)
TAK
PTB
P, G
M42
Cena za jedną
58,50 przekładnię od 1100
V do 30000 V
> 0,005 %,
> 0,5 minuty
(k = 2, P =ok. 95 %)
TAK
PTB
P, G
M42
Cena za jedną
71,50 przekładnię od 30000
V
Opłata stała związana ze
zleceniem,
przygotowaniem
przyrządu i stanowiska
pomiarowego pobierana
jednorazowo przy
realizacji usług na
przekładniku
M4-169
M4-171A7
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
M42
260,00
> 0,005 %,
> 0,5 minuty
(k = 2, P =ok. 95 %)
TAK
PTB
P, G
część napięciowa
M42
71,50
Cena za jedną
przekładnię
> 0,005 %,
> 0,5 minuty
(k = 2, P =ok. 95 %)
TAK
PTB
P, G
część prądowa
M42
71,50
Cena za jedną
przekładnię
M42
260,00
M42
Cena za pierwszy
zakres napięcia, za
każdy następny
650,00
2 rbg x stawka za
1 rbg.
Brak w CMC
0,002 %,
0,2 minuty
(k = 1,65;
P = ok. 95 %)
Strona 124
NIE
PTB
G
część napięciowa
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
M4-173
Elektryczność
i magnetyzm
Przekładniki i
wysokie napięcie
Mostek do pomiaru
błędów przekładników prądowy i prądowonapięciowy
M4-174
Elektryczność
i magnetyzm
Przekładniki i
wysokie napięcie
M4-175
Elektryczność
i magnetyzm
M4-176
Elektryczność
i magnetyzm
M4-177
Elektryczność
i magnetyzm
M4-178
Elektryczność
i magnetyzm
M4-179
Elektryczność
i magnetyzm
M4-180
Elektryczność
i magnetyzm
M4-181
Elektryczność
i magnetyzm
M4-182
Elektryczność
i magnetyzm
M4-183
Elektryczność
i magnetyzm
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
M42
PTB
G
M42
Cena za pierwszy
punkt pomiarowy, za
331,50 każdy następny 0,25
rbg x stawka za 1 rbg.
Brak w CMC
NIE
PTB
G
M42
Cena za pierwszy
zakres pomiarowy, za
520,00 każdy następny 1,5
rbg x stawka za 1 rbg.
Brak w CMC
(1E-05 ÷ 3,2E-02) V
NIE
PTB, NPL
G
kalibrator
M43
Podana cena jest
ceną średnią i dotyczy
742,30 typowego przyrządu i
typowego zakresu
wzorcowania.
(1E-05 ÷ 3,2E-02) V
NIE
PTB, NPL
G
kalibrator
M43
Podana cena jest
ceną średnią i dotyczy
742,30 typowego przyrządu i
typowego zakresu
wzorcowania.
M43
Podana cena jest
ceną średnią i dotyczy
742,30 typowego przyrządu i
typowego zakresu
wzorcowania.
M43
Podana cena jest
ceną średnią i dotyczy
819,00 typowego przyrządu i
typowego zakresu
wzorcowania.
M43
Podana cena jest
ceną średnią i dotyczy
429,00 typowego przyrządu i
typowego zakresu
wzorcowania.
M43
Podana cena jest
ceną średnią i dotyczy
494,00 typowego przyrządu i
typowego zakresu
wzorcowania.
M43
Podana cena jest
ceną średnią i dotyczy
975,00 typowego przyrządu i
typowego zakresu
wzorcowania.
W
składowa czynna
i bierna obciążenia
(1 ÷ 400) VA
0,1 %
(k = 1,65;
P = ok. 95 %)
NIE
PTB
Przekładniki i
wysokie napięcie
Napięciowe
obciążenie
przekładników
W
składowa czynna
i bierna obciążenia
(1 ÷ 400) VA
0,1 %
(k = 1,65;
P = ok. 95 %)
NIE
Przekładniki i
wysokie napięcie
Woltomierz i próbnik
wysokiego napięcia
WE
napięcie przemienne
Napięcie
(500 ÷ 300000) V
> 0,1 %
(k = 1,65;
P = ok. 95 %)
Kalibratory miernika
mocy
W
napięcie stałe,
impedancja
(0,04 ÷ 16) V
Kalibratory miernika
mocy
W
napięcie stałe,
impedancja
(0,04 ÷ 16) V
W
napięcie stałe,
impedancja
Mierniki mocy
Mierniki mocy
Źródła mocy
W
W
W
4)
realizację usługi
G
Prądowe obciążenie
przekładników
W
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
Cena za pierwszy
punkt pomiarowy, za
331,50 każdy następny 0,25
rbg x stawka za 1 rbg.
Brak w CMC
0,002 %,
0,2 minuty
(k = 1,65;
P = ok. 95 %)
Mierniki mocy
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
M42
znamionowy prąd
błąd prądowy
(1 ÷ 10) A,
i napięciowy oraz kątowy znamionowe napięcie
(33,3 ÷ 200) V
Kalibratory miernika
mocy
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena za pierwszy
zakres prądu, za
każdy następny
650,00
2 rbg x stawka za
1 rbg.
Brak w CMC
W
Wielkości
elektryczne przy
częstotliwościach
radiowych i pole
elektryczne i
magnetyczne
Wielkości
elektryczne przy
częstotliwościach
radiowych i pole
elektryczne i
magnetyczne
Wielkości
elektryczne przy
częstotliwościach
radiowych i pole
elektryczne i
magnetyczne
Wielkości
elektryczne przy
częstotliwościach
radiowych i pole
elektryczne i
magnetyczne
Wielkości
elektryczne przy
częstotliwościach
radiowych i pole
elektryczne i
magnetyczne
Wielkości
elektryczne przy
częstotliwościach
radiowych i pole
elektryczne i
magnetyczne
Wielkości
elektryczne przy
częstotliwościach
radiowych i pole
elektryczne i
magnetyczne
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
(30 ÷ 3200) Ω
(0,007 ÷ 0,7) Ω
moc bezwzględna
0,06 µW ÷ 101 mW
0,006 µW ÷
0,29 mW
moc bezwzględna
3,16 nW ÷ 100 mW
50 MHz
moc bezwzględna
1 µW ÷ 10 mW
50 MHz
metoda z wzorcem
termistorowym
moc bezwzględna
3,16 nW ÷ 100 mW
100 kHz ÷ 2 GHz
(0,024 ÷ 0,105) dB
(0,016 ÷ 0,02) dB
(0,024 ÷ 0,105) dB
Strona 125
NIE
NIE
NIE
NIE
NIE
TAK
PTB
PTB, NPL
PTB, NPL
NIST
NIST
PTB, NIST
G
część prądowa
G
kalibrator
G
graniczne wartości
podzakresów metodą
z kalibratorem
miernika mocy
G
pomiar wzorcowego
żródła mocy
G
pomiar wzorcowego
żródła mocy
G
generator do 2 GHz
(min. 10, max. 15
punktów
pomiarowych)
ID
Obiektu
Dziedzina
M4-184
Elektryczność
i magnetyzm
M4-185
Elektryczność
i magnetyzm
M4-186
Elektryczność
i magnetyzm
M4-187
Elektryczność
i magnetyzm
M4-188
Elektryczność
i magnetyzm
M4-189
Elektryczność
i magnetyzm
Subdziedzina
Wielkości
elektryczne przy
częstotliwościach
radiowych i pole
elektryczne i
magnetyczne
Wielkości
elektryczne przy
częstotliwościach
radiowych i pole
elektryczne i
magnetyczne
Wielkości
elektryczne przy
częstotliwościach
radiowych i pole
elektryczne i
magnetyczne
Wielkości
elektryczne przy
częstotliwościach
radiowych i pole
elektryczne i
magnetyczne
Wielkości
elektryczne przy
częstotliwościach
radiowych i pole
elektryczne i
magnetyczne
Wielkości
elektryczne przy
częstotliwościach
radiowych i pole
elektryczne i
magnetyczne
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Źródła mocy
W
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
moc bezwzględna
3,16 nW ÷ 100 mW
100 kHz ÷ 18 GHz
0,011 ÷ 0,027
TAK
(0,024 ÷ 0,105) dB
TAK
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
M43
Podana cena jest
ceną średnią i dotyczy
1495,00 typowego przyrządu i
typowego zakresu
wzorcowania.
G
czujnik mocy do
4 GHz (min. 15,
max. 20 punktów
pomiarowych)
M43
Podana cena jest
ceną średnią i dotyczy
910,00 typowego przyrządu i
typowego zakresu
wzorcowania.
G
generator do
18 GHz (min. 30,
max. 40 punktów
pomiarowych)
PTB, NIST
PTB, NIST
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Czujniki mocy
W
współczynnik kalibracji
0,75 ÷ 1,25
100 kHz ÷ 4 GHz
Czujniki mocy
W
współczynnik kalibracji
0,75 ÷ 1,25
100 kHz ÷ 18 GHz
0,011 ÷ 0,027
TAK
PTB, NIST
G
czujnik mocy do
18 GHz (max. 30
punktów
pomiarowych)
M43
Podana cena jest
ceną średnią i dotyczy
1430,00 typowego przyrządu i
typowego zakresu
wzorcowania.
Czujniki mocy
W
współczynnik kalibracji
0,75 ÷ 1,25
10 MHz ÷ 18 GHz
metoda z wzorcem
termistorowym
0,0045 ÷ 0,015
TAK
NIST
G
czujnik mocy do
18 GHz (max. 30
punktów
pomiarowych)
M43
Podana cena jest
ceną średnią i dotyczy
2340,00 typowego przyrządu i
typowego zakresu
wzorcowania.
Urządzenia bierne
W
skalarny współczynnik
odbicia
0,002 ÷ 0,5
0,00022 ÷ 0,0024
TAK
NIST
G
M43
Podana cena jest
ceną średnią i dotyczy
585,00 typowego przyrządu i
typowego zakresu
wzorcowania.
Urządzenia bierne
W
|Sii|: 0 ÷ 1
wektorowy współczynnik
arg(S): (-180 ÷ 180)º
odbicia
10 MHz ÷ 40 GHz
|Sii|: 0,0017 ÷ 0,13
arg(S): (0,33 ÷180)º
TAK
NIST
G
M43
Podana cena jest
ceną średnią i dotyczy
585,00 typowego przyrządu i
typowego zakresu
wzorcowania.
M43
Podana cena jest
ceną średnią i dotyczy
1170,00 typowego przyrządu i
typowego zakresu
wzorcowania.
M4-190
Elektryczność
i magnetyzm
Wielkości
elektryczne przy
częstotliwościach
radiowych i pole
elektryczne i
magnetyczne
Mierniki napięcia
wielkiej częstotliwości
W
napięcie w. cz.
(1E-06 ÷ 1) V
100 kHz ÷ 18 GHz
(0,75E-08 ÷
0,75E-02) V
NIE
NIST, GUM
G
miliwoltomierz (min.
15, max. 20 punktów
pomiarowych na
jednym poziomie
napięcia z jedną
sondą pomiarową)
M4-191
Elektryczność
i magnetyzm
Wielkości
elektryczne przy
częstotliwościach
radiowych i pole
elektryczne i
magnetyczne
Mierniki napięcia
wielkiej częstotliwości
W
napięcie w. cz.
(1E-06 ÷ 1) V
100 kHz ÷ 1 GHz
(0,75E-08 ÷
0,75E-02) V
NIE
NIST
G
odbiornik pomiarowy
do1GHz (min. 15,
max. 20 punktów
pomiarowych, jeden
poziom napięcia)
M43
Podana cena jest
ceną średnią i dotyczy
1235,00 typowego przyrządu i
typowego zakresu
wzorcowania.
M4-192
Elektryczność
i magnetyzm
Wielkości
elektryczne przy
częstotliwościach
radiowych i pole
elektryczne i
magnetyczne
Mierniki napięcia
wielkiej częstotliwości
W
napięcie w. cz.
(1E-06 ÷ 1) V
100 kHz ÷ 2 GHz
(0,75E-08 ÷
0,75E-02) V
NIE
NIST
G
odbiornik pomiarowy
do 2GHz (min. 15,
max. 20 punktów
pomiarowych, jeden
poziom napięcia)
M43
Podana cena jest
ceną średnią i dotyczy
1755,00 typowego przyrządu i
typowego zakresu
wzorcowania.
M4-193
Elektryczność
i magnetyzm
Wielkości
elektryczne przy
częstotliwościach
radiowych i pole
elektryczne i
magnetyczne
tłumienie
(0 ÷ 60) dB
100 kHz ÷ 40 GHz)
G
tłumik stały
(min. 20
max. 30 punktów
M43
pomiarowych w
pasmie częstotliwości
)
Podana cena jest
ceną średnią i dotyczy
676,00 typowego przyrządu i
typowego zakresu
wzorcowania.
Urządzenia bierne
W
(0,04 ÷ 0,07) dB
Strona 126
TAK
NIST, PTB
ID
Obiektu
M4-194
Dziedzina
Elektryczność
i magnetyzm
M4-195
Elektryczność
i magnetyzm
M4-196
Elektryczność
i magnetyzm
M4-197
M4-198
M4-199
M4-200
Elektryczność
i magnetyzm
Elektryczność
i magnetyzm
Elektryczność
i magnetyzm
Elektryczność
i magnetyzm
Subdziedzina
Wielkości
elektryczne przy
częstotliwościach
radiowych i pole
elektryczne i
magnetyczne
Wielkości
elektryczne przy
częstotliwościach
radiowych i pole
elektryczne i
magnetyczne
Wielkości
elektryczne przy
częstotliwościach
radiowych i pole
elektryczne i
magnetyczne
Wielkości
elektryczne przy
częstotliwościach
radiowych i pole
elektryczne i
magnetyczne
Wielkości
elektryczne przy
częstotliwościach
radiowych i pole
elektryczne i
magnetyczne
Wielkości
elektryczne przy
częstotliwościach
radiowych i pole
elektryczne i
magnetyczne
Wielkości
elektryczne przy
częstotliwościach
radiowych i pole
elektryczne i
magnetyczne
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Urządzenia bierne
Wielowrotniki
Wielowrotniki
Mierniki (sondy)
natężenia stałego pola
magnetycznego
(indukcji
magnetycznej)
Mierniki (sondy)
natężenia zmiennego
pola magnetycznego
(indukcji
magnetycznej)
Mierniki (sondy)
natężenia zmiennego
pola magnetycznego
(indukcji
magnetycznej)
Mierniki (sondy)
natężenia pola
elektrostatycznego
W
W
W
W
W
W
W
Wzorcowanie wielkość mierzona
tłumienie
(0 ÷ 60) dB
100 kHz ÷ 40 GHz)
kierunkowość
(0 ÷ 54) dB
10 MHz ÷ 2 GHz
kierunkowość
(0 ÷ 54) dB
10 MHz ÷ 18 GHz
gęstość strumienia
magnetycznego stałego
oraz natężenie pola
magnetycznego
gęstość strumienia
magnetycznego
przemiennego oraz
natężenie pola
magnetycznego
natężenie pola
magnetycznego
natężenie pola
elektrycznego
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
(0,04 ÷ 0,07) dB
(0,04 ÷ 0,8) dB
(0,04 ÷ 0,8) dB
Zakres wartości indukcji
2 ÷ 5%
pola magnetycznego:
od 1µT do 980 mT
Strona 127
NIE
NIE
TAK
7 ÷ 12%
Zakres pola od
100 V/m do 160 kV/m
TAK
TAK
(do
77 mT)
Zakres częstotliwości: od
2 ÷ 5%
10 Hz do 30 kHz
Zakres częstotliwości:
od 50 kHz do 500 MHz
CMC
TAK
5%
NIE
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
NIST, PTB
NIST
NIST
PTB
GUM
PTB
GUM
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
4)
G
G
sprzęgacz, mostek
kierunkowy do
2 GHz (min. 20, max.
30 punktów
pomiarowych)
G
sprzęgacz, mostek
kierunkowy do
18 GHz
G
G
G
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
realizację usługi
tłumik regulowany
(min. 20,
max. 50 punktów
pomiarowych
tłumienia) na jednej
częstotliwości
G
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
miernik lub sonda
miernik lub sonda
sonda
miernik
M43
Podana cena jest
ceną średnią i dotyczy
1196,00 typowego przyrządu i
typowego zakresu
wzorcowania.
M43
Podana cena jest
ceną średnią i dotyczy
1105,00 typowego przyrządu i
typowego zakresu
wzorcowania.
M43
Podana cena jest
ceną średnią i dotyczy
1755,00 typowego przyrządu i
typowego zakresu
wzorcowania.
M43
Podana cena jest
ceną za 10 pkt
pomiarowych i dotyczy
typowego przyrządu i
typowego zakresu
390,00 wzorcowania Za
każdy dodany/ odjety
punkt pomiarowy do
ceny należy
dodać/odjąć 26 zł
(0,2 rbg).
M43
Podana cena jest
ceną za 10 pkt
pomiarowych i dotyczy
typowego przyrządu i
typowego zakresu
390,00 wzorcowania. Za
każdy dodany/ odjety
punkt pomiarowy do
ceny należy
dodać/odjąć 26 zł
(0,2 rbg).
M43
Podana cena jest
ceną za 10 pkt
pomiarowych i dotyczy
typowego przyrządu i
typowego zakresu
390,00 wzorcowania. Za
każdy dodany/ odjety
punkt pomiarowy do
ceny należy
dodać/odjąć 26 zł
(0,2 rbg).
M43
Podana cena jest
ceną za 10 pkt
pomiarowych i dotyczy
typowego przyrządu i
typowego zakresu
390,00 wzorcowania. Za
każdy dodany/ odjety
punkt pomiarowy do
ceny należy
dodać/odjąć 26 zł
(0,2 rbg).
ID
Obiektu
M4-201
M4-202
M4-203
M4-204
M4-205
Dziedzina
Elektryczność
i magnetyzm
Elektryczność
i magnetyzm
Subdziedzina
Wielkości
elektryczne przy
częstotliwościach
radiowych i pole
elektryczne i
magnetyczne
Wielkości
elektryczne przy
częstotliwościach
radiowych i pole
elektryczne i
magnetyczne
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Mierniki (sondy)
natężenia zmiennego
pola elektrycznego
Mierniki (sondy)
natężenia zmiennego
pola elektrycznego
Elektryczność
i magnetyzm
Wielkości
elektryczne przy
częstotliwościach
radiowych i pole
elektryczne i
magnetyczne
Mierniki (sondy)
natężenia zmiennego
pola elektrycznego
Elektryczność
i magnetyzm
Wielkości
elektryczne przy
częstotliwościach
radiowych i pole
elektryczne i
magnetyczne
Odbiorniki pomiarowe:
odpowiedź na impulsy
wzorcowe "CISPR"
Czas
i częstotliwość
Przedział czasu
Zegary kwarcowe
cyfrowe i analogowe
W
W
Wzorcowanie wielkość mierzona
natężenie pola
elektrycznego
natężenie pola
elektrycznego
Zakres częstotliwości:
od 10 Hz do 120 kHz
Zakres częstotliwości:
od 50 kHz do 500 MHz
W
Zakres częstotliwości:
gęstość strumienia mocy od 300 MHz do
500 MHz
W
odpowiedź na impulsy
wzorcowe "Quasi peak"
wg wymagań Publ.
CISPR-16
WE
przedział czasu
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
Zakres częstotliwości:
od 0,15 MHz do 1 GHz
(-20 ÷ +20) s/d
pomiar za pomocą
chronokomparatora
1 ÷ 5%
7 ÷ 12%
7 ÷ 12%
2 ÷ 5%
od 0,020 s/d
Strona 128
CMC
TAK
(do
50 kHz)
TAK
TAK
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
GUM
PTB
PTB
NIE
TAK
G
G
G
G
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
M43
Podana cena jest
ceną za 10 pkt
pomiarowych i dotyczy
typowego przyrządu i
typowego zakresu
390,00 wzorcowania. Za
każdy dodany/ odjety
punkt pomiarowy do
ceny należy
dodać/odjąć 26 zł
(0,2 rbg).
M43
Podana cena jest
ceną za 10 pkt
pomiarowych i dotyczy
typowego przyrządu i
typowego zakresu
390,00 wzorcowania. Za
każdy dodany/ odjety
punkt pomiarowy do
ceny należy
dodać/odjąć 26 zł
(0,2 rbg).
M43
Podana cena jest
ceną za 10 pkt
pomiarowych i dotyczy
typowego przyrządu i
typowego zakresu
390,00 wzorcowania. Za
każdy dodany/ odjety
punkt pomiarowy do
ceny należy
dodać/odjąć 26 zł
(0,2 rbg).
M43
Podana cena jest
ceną średnią i dotyczy
585,00 typowego przyrządu i
typowego zakresu
wzorcowania
wartość niepewności
jest aktualizowana wg
świadectwa
M44
wzorcowania
chronokomparatora
Podana cena jest
określona dla średniej
liczby roboczogodzin
koniecznych do
przeprowadzenia
wzorcowania
typowego przyrządu i
typowych zakresów.
455,00
W przypadkach
wzorcowań
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie dla
każdego przyrządu liczba rbg x stawka za
1 rbg.
miernik lub sonda
sonda
sonda
miernik napięcia RF
ID
Obiektu
M4-206
M4-207
M4-208
Dziedzina
Czas
i częstotliwość
Czas
i częstotliwość
Czas
i częstotliwość
Subdziedzina
Przedział czasu
Przedział czasu
Przedział czasu
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Zegary kwarcowe
i mechaniczne
Zegary kwarcowe
z wyprowadzonym
sygnałem podstawy
czasu
Sekundomierze
i czasomierze
elektroniczne
sterowane:
elektryczne
(w tym również:
stanem styków
bezpotencjałowych zwarcie / rozwarcie)
WE
WE
W
Wzorcowanie wielkość mierzona
przedział czasu
przedział czasu
przedział czasu (w tym:
szerokość impulsu)
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
(-120 ÷ +120) s
odczyt wizualny
0,04 s
(-1 ÷ +1) s
pomiar sygnału 1pps
600 ns
(0 ns ÷ 100 s)
pomiar bezpośredni,
porównanie wskazań lub od 5 ns
pomiar wartości
wzorcowej
Strona 129
CMC
TAK
TAK
TAK
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
G
P, G
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
M44
Podana cena jest
określona dla średniej
liczby roboczogodzin
koniecznych do
przeprowadzenia
wzorcowania
typowego przyrządu i
typowych zakresów.
455,00
W przypadkach
wzorcowań
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie dla
każdego przyrządu liczba rbg x stawka za
1 rbg.
niepewność zależy od
użytego czasomierza
cyfrowego (może być
M44
lepsza niż podana),
wzorcowanie trwa
min. 4+12 dni
Podana cena jest
określona dla średniej
liczby roboczogodzin
koniecznych do
przeprowadzenia
wzorcowania
typowego przyrządu i
typowych zakresów.
624,00
W przypadkach
wzorcowań
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie dla
każdego przyrządu liczba rbg x stawka za
1 rbg.
zakres pomiarowy
może być większy
możliwość
wykonania
pomiarów poza
GUM tylko
w przypadku, gdy Pomiar błędu
pomiary można wskazania
wykonywać
jedynie
w miejscu
instalacji
M44
Podana cena jest
określona dla średniej
liczby roboczogodzin
koniecznych do
przeprowadzenia
wzorcowania
typowego przyrządu i
typowych zakresów.
Koszt wzorcowania
zależy również od
ilości podzakresów,
390,00
maksymalnych
długości mierzonych
przedziałów czasu,
itp. W przypadkach
wzorcowań
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie dla
każdego przyrządu liczba rbg x stawka za
1 rbg.
ID
Obiektu
M4-209
M4-210
M4-211
Dziedzina
Czas
i częstotliwość
Czas
i częstotliwość
Czas
i częstotliwość
Subdziedzina
Przedział czasu
Przedział czasu
Przedział czasu
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Sekundomierze
i czasomierze
elektroniczne
sterowane:
elektryczne
(w tym również:
stanem styków
bezpotencjałowych zwarcie / rozwarcie)
Sekundomierze
elektroniczne
z akustyczną
sygnalizację startu
i stopu
Sekundomierze
i czasomierze
z akustyczną
sygnalizację startu
i stopu
W
W
W
Wzorcowanie wielkość mierzona
przedział czasu (w tym:
szerokość impulsu)
przedział czasu
przedział czasu
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
(0 ns ÷ 10 000 s)
pomiar bezpośredni,
porównanie wskazań lub od 5 ns
pomiar wartości
wzorcowej
(0,1 s ÷ 24 h)
pomiar bezpośredni i
pomiar za pomocą
chronokomparatora
(0,1 s ÷ 10 000 s)
pomiar bezpośredni
i porównanie wskazań
(sprzężenie
akustyczne)
0,0006 s
0,0006 s
Strona 130
CMC
TAK
TAK
TAK
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
P, G
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
M44
Podana cena jest
określona dla średniej
liczby roboczogodzin
koniecznych do
przeprowadzenia
wzorcowania
typowego przyrządu i
typowych zakresów.
Koszt wzorcowania
zależy również od
ilości podzakresów,
650,00
maksymalnych
długości mierzonych
przedziałów czasu,
itp. W przypadkach
wzorcowań
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie dla
każdego przyrządu liczba rbh x stawka za
1 rbh.
M44
Podana cena jest
określona dla średniej
liczby roboczogodzin
koniecznych do
przeprowadzenia
wzorcowania
typowego przyrządu i
typowych zakresów.
273,00
W przypadkach
wzorcowań
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie dla
każdego przyrządu liczba rbg x stawka za
1 rbg
pomiar błędu
krótkoterminowego i
długoterminowego
M44
(brak możliwości
pomiaru za pomocą
chronokomparato- ra)
Podana cena jest
określona dla średniej
liczby roboczogodzin
koniecznych do
przeprowadzenia
wzorcowania
typowego przyrządu i
typowych zakresów.
Koszt wzorcowania
zależy również od
ilości podzakresów,
598,00
maksymalnych
długości mierzonych
przedziałów czasu,
itp. W przypadkach
wzorcowań
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie dla
każdego przyrządu liczba rbg x stawka za
1 rbg
Pomiar błędu
krótkoterminowego i
pomiar za pomocą
chronokomparatora
możliwość
wykonania
pomiarów poza
GUM tylko
w przypadku, gdy
pomiary można
wykonywać
jedynie
w miejscu
instalacji
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
realizację usługi
możliwość
wykonania
pomiarów poza
GUM tylko
pomiar błędu
w przypadku, gdy
krótkoterminowego i
pomiary można
długoterminowego
wykonywać
jedynie
w miejscu
instalacji
G
P, G
Uwagi dot.
wzorcowania
ID
Obiektu
M4-212
M4-213
M4-214A8
M4-215
Dziedzina
Czas
i częstotliwość
Czas
i częstotliwość
Czas
i częstotliwość
Czas
i częstotliwość
Subdziedzina
Przedział czasu
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Sekundomierze
elektroniczne
sterowane optycznie
Przedział czasu
Sekundomierze
elektroniczne
sterowane ręcznie
Częstotliwość i
przedział czasu
Generatory
częstotliwości, okresu i
przedziałów czasu ze
stabilizacją kwarcową
(w tym również:
syntezery
i generatory funkcyjne)
o stabilności podstawy
czasu lepszej niż
1E-6
Częstotliwość i
przedział czasu
Generatory
częstotliwości, okresu i
przedziałów czasu ze
stabilizacją kwarcową
(w tym również:
syntezery
i generatory funkcyjne)
o stabilności podstawy
czasu lepszej niż
1E-6
W
W
Wzorcowanie wielkość mierzona
przedział czasu
przedział czasu
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
(0,1 s ÷ 24 h)
porównanie wskazań
(0,1 s ÷ 24 h)
porównanie wskazań
od 0,00001 s
do 0,02 s
od 0,003 s
CMC
TAK
TAK
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
P, G
G
Opłata stała związana ze
zleceniem,
przygotowaniem
przyrządu i stanowiska
pomiarowego oraz 2dniowym badaniem
podstawy czasu
pobierana jednorazowo
W
częstotliwość
(0,1 Hz ÷ 14 GHz)
pomiar bezpośredni
od
(1 pHz + 2E-12*f)
Strona 131
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
możliwość
wykonania
pomiarów poza
GUM tylko
w przypadku, gdy
pomiary można
wykonywać
jedynie
w miejscu
instalacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
M44
Podana cena jest
określona dla średniej
liczby roboczogodzin
koniecznych do
przeprowadzenia
wzorcowania
typowego przyrządu i
typowych zakresów.
429,00
W przypadkach
wzorcowań
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie dla
każdego przyrządu liczba rbg x stawka za
1 rbg
M44
Podana cena jest
określona dla średniej
liczby roboczogodzin
koniecznych do
przeprowadzenia
wzorcowania
typowego przyrządu i
typowych zakresów.
260,00
W przypadkach
wzorcowań
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie dla
każdego przyrządu liczba rbg x stawka za
1 rbg.
M44
Podana cena jest
określona dla średniej
liczby roboczogodzin
koniecznych do
przeprowadzenia
wzorcowania
typowego przyrządu.
598,00 W przypadkach
wzorcowań
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie dla
każdego przyrządu liczba rbg x stawka za
1 rbg
M44
Podana cena jest
określona dla
typowych zakresów
wzorcowania. W
przypadkach
260,00
wzorcowań
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie - liczba
rbg x stawka za 1 rbg
pomiar błędu
krótkoterminowego i
długoterminowego;
liczba roboczogodzin
zależy od zakresu
wzorcowania
pomiar błędu
krótkoterminowego i
pomiar za pomocą
chronokomparatora
ID
Obiektu
M4-216
M4-217
M4-218A9
M4-219
Dziedzina
Czas
i częstotliwość
Czas
i częstotliwość
Czas
i częstotliwość
Czas
i częstotliwość
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Częstotliwość i
przedział czasu
Generatory
częstotliwości, okresu i
przedziałów czasu ze
stabilizacją kwarcową
(w tym również:
syntezery
i generatory funkcyjne)
o stabilności podstawy
czasu lepszej niż
1E-6
Częstotliwość i
przedział czasu
Generatory
częstotliwości, okresu i
przedziałów czasu ze
stabilizacją kwarcową
(w tym również:
syntezery i generatory
funkcyjne) - o
stabilności podstawy
czasu lepszej niż
1E-6
Częstotliwość i
przedział czasu
Generatory
częstotliwości, okresu i
przedziałów czasu ze
stabilizacją kwarcową
o mniejszej
dokładności/
stabilności podstawy
czasu
(nie przekraczającej
1E-6),
w tym również zwykle
generatory stanowiące
integralną część
innych urządzeń
Częstotliwość i
przedział czasu
Generatory
częstotliwości, okresu i
przedziałów czasu ze
stabilizacją kwarcową
o mniejszej
dokładności/
stabilności podstawy
czasu (nie
przekraczającej
1E-06),
w tym również zwykle
generatory stanowiące
integralną część
innych urządzeń
W
W
Wzorcowanie wielkość mierzona
okres
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
(80 ps ÷ 10 s)
pomiar bezpośredni
przedział czasu
(w tym również:
(0 ns ÷ 10 000 s)
szerokość impulsu, czas pomiar bezpośredni
narastania/ opadania)
od
(2E-12+1 pHz *T)*T
od 0,2 ns
CMC
TAK
TAK
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
G
G
Opłata stała związana ze
zleceniem,
przygotowaniem
przyrządu i stanowiska
pomiarowego oraz
1-dniowym badaniem
podstawy czasu
pobierana jednorazowo
W
częstotliwość
(0,1 Hz ÷ 14 GHz)
pomiar bezpośredni
od
(1 pHz + 2E-12*f)
Strona 132
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
P, G
możliwość
wykonania
pomiarów poza
GUM tylko
w przypadku, gdy
pomiary można
wykonywać
jedynie
w miejscu
instalacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
M44
Podana cena jest
określona dla
typowych zakresów
wzorcowania. W
przypadkach
195,00
wzorcowań
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie - liczba
rbg x stawka za 1 rbg
M44
Podana cena jest
określona dla
typowych zakresów
wzorcowania. W
przypadkach
260,00
wzorcowań
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie - liczba
rbg x stawka za 1 rbg
M44
Podana cena jest
określona dla średniej
liczby roboczogodzin
koniecznych do
przeprowadzenia
wzorcowania
typowego przyrządu.
468,00 W przypadkach
wzorcowań
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie dla
każdego przyrządu liczba rbg x stawka za
1 rbg
M44
Podana cena jest
określona dla
typowych zakresów
wzorcowania. W
przypadkach
260,00
wzorcowań
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie - liczba
rbg x stawka za 1 rbg
ID
Obiektu
M4-220
M4-221
M4-222A10
M4-223
Dziedzina
Czas
i częstotliwość
Czas
i częstotliwość
Czas
i częstotliwość
Czas
i częstotliwość
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Częstotliwość i
przedział czasu
Generatory
częstotliwości, okresu i
przedziałów czasu ze
stabilizacją kwarcową
o mniejszej
dokładności/
stabilności podstawy
czasu
(nie przekraczającej
1E-6),
w tym również zwykle
generatory stanowiące
integralną część
innych urządzeń
Częstotliwość i
przedział czasu
Generatory
częstotliwości, okresu i
przedziałów czasu ze
stabilizacją kwarcową
o mniejszej
dokładności/
stabilności podstawy
czasu
(nie przekraczającej
1E-06),
w tym również zwykle
generatory stanowiące
integralną część
innych urządzeń
Częstotliwość i
przedział czasu
Generatory
częstotliwości, okresu i
przedziałów czasu bez
stabilizacji kwarcowej
lub
z pomocniczą
stabilizacją kwarcową
o wymaganej
dokładności/
stabilności podstawy
czasu
nie przekraczającej 1E05
Częstotliwość i
przedział czasu
Generatory
częstotliwości, okresu i
przedziałów czasu bez
stabilizacji kwarcowej
lub
z pomocniczą
stabilizacją kwarcową
o wymaganej
dokładności/
stabilności podstawy
czasu nie
przekraczającej
1E-05
W
W
Wzorcowanie wielkość mierzona
okres
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
(80 ps ÷ 10 s)
pomiar bezpośredni
przedział czasu
(w tym również:
(0 ns ÷ 10 000 s)
szerokość impulsu, czas pomiar bezpośredni
narastania/ opadania)
od
(2E-12+1 pHz *T)*T
od 0,2 ns
CMC
TAK
TAK
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
P, G
możliwość
wykonania
pomiarów poza
GUM tylko
w przypadku, gdy
pomiary można
wykonywać
jedynie
w miejscu
instalacji
P, G
możliwość
wykonania
pomiarów poza
GUM tylko
w przypadku, gdy
pomiary można
wykonywać
jedynie
w miejscu
instalacji
Opłata stała związana ze
zleceniem,
przygotowaniem
przyrządu i stanowiska
pomiarowego oraz
badaniem niestabilności
krótkoterminowej pobierana jednorazowo
W
częstotliwość
(0,1 Hz ÷ 14 GHz)
pomiar bezpośredni
od
(1 pHz + 2E-12*f)
Strona 133
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
P, G
możliwość
wykonania
pomiarów poza
GUM tylko
w przypadku, gdy
pomiary można
wykonywać
jedynie
w miejscu
instalacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
M44
Podana cena jest
określona dla
typowych zakresów
wzorcowania. W
przypadkach
195,00
wzorcowań
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie - liczba
rbg x stawka za 1 rbg
M44
Podana cena jest
określona dla
typowych zakresów
wzorcowania. W
przypadkach
260,00
wzorcowań
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie - liczba
rbg x stawka za 1 rbg
M44
Podana cena jest
określona dla średniej
liczby roboczogodzin
koniecznych do
przeprowadzenia
wzorcowania
typowego przyrządu.
403,00 W przypadkach
wzorcowań
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie dla
każdego przyrządu liczba rbg x stawka za
1 rbg
M44
Podana cena jest
określona dla
typowych zakresów
wzorcowania. W
przypadkach
390,00
wzorcowań
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie - liczba
rbg x stawka za 1 rbg
ID
Obiektu
M4-224
M4-225
M4-226
M4-227
Dziedzina
Czas
i częstotliwość
Czas
i częstotliwość
Czas
i częstotliwość
Czas
i częstotliwość
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Częstotliwość i
przedział czasu
Generatory
częstotliwości, okresu i
przedziałów czasu bez
stabilizacji kwarcowej
lub
z pomocniczą
stabilizacją kwarcową
o wymaganej
dokładności/
stabilności podstawy
czasu
nie przekraczającej 1E05
Częstotliwość i
przedział czasu
Generatory
częstotliwości, okresu i
przedziałów czasu bez
stabilizacji kwarcowej
lub
z pomocniczą
stabilizacją kwarcową
o wymaganej
dokładności/
stabilności podstawy
czasu
nie przekraczającej 1E05
Częstotliwość i
przedział czasu
Częstotliwość
Kalibratory
oscyloskopowe
Generatory
wysokostabilne
(wtórne wzorce
częstotliwości)
dyscyplinowane
W
W
W
W
Wzorcowanie wielkość mierzona
okres
(80 ps ÷ 10 s)
pomiar bezpośredni
przedział czasu (w tym
również: szerokość
(0 ns ÷ 10 000 s)
impulsu, czas narastania/ pomiar bezpośredni
opadania)
okres
częstotliwość
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
(80 ps ÷ 10 s)
pomiar bezpośredni
(0,1; 1; 5; 10) MHz
pomiar czasu fazowego
od
(2E-12+1 pHz *T)*T
od 0,2 ns
od
(2E-12+1 pHz *T)*T
2E-13 Hz/Hz
Strona 134
CMC
TAK
TAK
TAK
TAK
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
P, G
możliwość
wykonania
pomiarów poza
GUM tylko w
przypadku, gdy
pomiary można
wykonywać
jedynie w miejscu
instalacji
P, G
możliwość
wykonania
pomiarów poza
GUM tylko
w przypadku, gdy
pomiary można
wykonywać
jedynie
w miejscu
instalacji
G
G
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
M44
Podana cena jest
określona dla
typowych zakresów
wzorcowania. W
przypadkach
195,00
wzorcowań
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie - liczba
rbg x stawka za 1 rbg
M44
Podana cena jest
określona dla
typowych zakresów
wzorcowania. W
przypadkach
260,00
wzorcowań
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie - liczba
rbg x stawka za 1 rbg
M44
Podana cena jest
określona dla średniej
liczby roboczogodzin
koniecznych do
przeprowadzenia
wzorcowania
typowego przyrządu i
typowych zakresów.
1118,00
W przypadkach
wzorcowań
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie dla
każdego przyrządu liczba rbg x stawka za
1 rbg.
M44
Podana cena jest
określona dla średniej
liczby roboczogodzin
koniecznych do
przeprowadzenia
wzorcowania
typowego przyrządu i
typowych zakresów.
1391,00
W przypadkach
wzorcowań
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie dla
każdego przyrządu liczba rbg x stawka za
1 rbg.
ID
Obiektu
M4-228
M4-229
M4-230
Dziedzina
Czas
i częstotliwość
Czas
i częstotliwość
Czas
i częstotliwość
Subdziedzina
Częstotliwość
Częstotliwość
Częstotliwość
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Generatory
wysokostabilne
(wtórne wzorce
częstotliwości) o biegu
swobodnym
Generatory
wysokostabilne
(wtórne wzorce
częstotliwości)
dyscyplinowane
i o biegu swobodnym
Komparatory
częstotliwości
W
W
W
Wzorcowanie wielkość mierzona
częstotliwość
częstotliwość
częstotliwość
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
(0,1; 1; 5; 10) MHz
pomiar czasu fazowego
(0,1; 1; 5; 10) MHz
metoda GPS CV
(1 kHz ÷ 10 MHz)
pomiar wartości
wzorcowej
2E-13 Hz/Hz
2E-13 Hz/Hz
0,5E-06 Hz+2E-12*f
(przy założeniu
t =100 s)
Strona 135
CMC
TAK
TAK
TAK
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
G
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
G
P
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
użytkownik musi
posiadać system do
transferu czasu
metodę GPS CV
i przesłać dane
pomiarowe
zakres pomiarowy
może być szerszy,
M44
Podana cena jest
określona dla średniej
liczby roboczogodzin
koniecznych do
przeprowadzenia
wzorcowania
typowego przyrządu i
typowych zakresów.
1196,00
W przypadkach
wzorcowań
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie dla
każdego przyrządu liczba rbg x stawka za
1 rbg.
M44
Podana cena jest
określona dla średniej
liczby roboczogodzin
koniecznych do
przeprowadzenia
wzorcowania
typowego przyrządu i
typowych zakresów.
975,00
W przypadkach
wzorcowań
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie dla
każdego przyrządu liczba rbg x stawka za
1 rbg.
M44
Podana cena jest
określona dla średniej
liczby roboczogodzin
koniecznych do
przeprowadzenia
wzorcowania
typowego przyrządu i
typowych zakresów.
1209,00
W przypadkach
wzorcowań
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie dla
każdego przyrządu liczba rbg x stawka za
1 rbg.
ID
Obiektu
M4-231A11
M4-232
M4-233
M4-234
Dziedzina
Czas
i częstotliwość
Czas
i częstotliwość
Czas
i częstotliwość
Czas
i częstotliwość
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Częstotliwość i
przedział czasu
Częstościomierzeczasomierze,
częstościomierze
i czasomierze cyfrowe
i analogowe, w tym
również stanowiące
integralną część
innych urządzeń o dokładności
(w tym: stabilności
podstawy czasu)
lepszej niż 1E-06
Częstotliwość i
przedział czasu
Częstościomierzeczasomierze,
częstościomierze
i czasomierze cyfrowe
i analogowe, w tym
również stanowiące
integralną część
innych urządzeń o dokładności
(w tym: stabilności
podstawy czasu)
lepszej niż 1E-06
Częstotliwość i
przedział czasu
Częstościomierzeczasomierze,
częstościomierze
i czasomierze cyfrowe
i analogowe, w tym
również stanowiące
integralną część
innych urządzeń o dokładności
(w tym: stabilności
podstawy czasu)
lepszej niż 1E-06
Częstotliwość i
przedział czasu
Częstościomierzeczasomierze,
częstościomierze
i czasomierze cyfrowe
i analogowe, w tym
również stanowiące
integralną część
innych urządzeń o dokładności
(w tym: stabilności
podstawy czasu)
lepszej niż 1E-06
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Opłata stała związana ze
zleceniem,
przygotowaniem
przyrządu i stanowiska
pomiarowego oraz 2dniowym badaniem
podstawy czasu
pobierana jednorazowo
W
W
W
częstotliwość
okres
przedział czasu (w tym:
szerokość impulsu)
(0,1 Hz ÷ 20 GHz)
pomiar wartości
wzorcowej
(80 ps ÷ 10 s)
pomiar wartości
wzorcowej
od
(1 pHz + 2E-12*f)
od
(2E-12+1 pHz *T)*T
(6,25 ns ÷ 10 000 s)
pomiar wartości
wzorcowej
od 0,2 ns
Strona 136
TAK
TAK
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
G
G
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
M44
Podana cena jest
określona dla średniej
liczby roboczogodzin
koniecznych do
przeprowadzenia
wzorcowania
typowego przyrządu.
598,00 W przypadkach
wzorcowań
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie dla
każdego przyrządu liczba rbg x stawka za
1 rbg
M44
Podana cena jest
określona dla
typowych zakresów
wzorcowania. W
przypadkach
260,00
wzorcowań
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie - liczba
rbg x stawka za 1 rbg
M44
Podana cena jest
określona dla
typowych zakresów
wzorcowania. W
przypadkach
195,00
wzorcowań
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie - liczba
rbg x stawka za 1 rbg
M44
Podana cena jest
określona dla
typowych zakresów
wzorcowania. W
przypadkach
325,00
wzorcowań
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie - liczba
rbg x stawka za 1 rbg
ID
Obiektu
M4-235A12
M4-236
M4-237
M4-238
Dziedzina
Czas
i częstotliwość
Czas
i częstotliwość
Czas
i częstotliwość
Czas
i częstotliwość
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Częstotliwość i
przedział czasu
Częstościomierzeczasomierze,
częstościomierze
i czasomierze cyfrowe
i analogowe, w tym
również stanowiące
integralną część
innych urządzeń o dokładności
(w tym: stabilności
podstawy czasu)
gorszej lub równej 1E06
Częstotliwość i
przedział czasu
Częstościomierzeczasomierze,
częstościomierze
i czasomierze cyfrowe
i analogowe, w tym
również stanowiące
integralną część
innych urządzeń o dokładności
(w tym: stabilności
podstawy czasu)
gorszej lub równej 1E06
Częstotliwość i
przedział czasu
Częstościomierzeczasomierze,
częstościomierze
i czasomierze cyfrowe
i analogowe, w tym
również stanowiące
integralną część
innych urządzeń o dokładności
(w tym: stabilności
podstawy czasu)
gorszej lub równej 1E06
Częstotliwość i
przedział czasu
Częstościomierzeczasomierze,
częstościomierze
i czasomierze cyfrowe
i analogowe, w tym
również stanowiące
integralną część
innych urządzeń o dokładności
(w tym: stabilności
podstawy czasu)
gorszej lub równej 1E06
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Opłata stała związana ze
zleceniem,
przygotowaniem
przyrządu i stanowiska
pomiarowego oraz 1dniowym badaniem
podstawy czasu
pobierana jednorazowo
W
W
W
częstotliwość
okres
przedział czasu (w tym:
szerokość impulsu)
(0,1 Hz ÷ 20 GHz)
pomiar wartości
wzorcowej
(80 ps ÷ 10 s)
pomiar wartości
wzorcowej
od
(1 pHz + 2E-12*f)
od
(2E-12+1 pHz *T)*T
(6,25 ns ÷ 10 000 s)
pomiar wartości
wzorcowej lub
porównanie wskazań
od 0,2 ns
Strona 137
TAK
TAK
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
P, G
możliwość
wykonania
pomiarów poza
GUM tylko
w przypadku, gdy
pomiary można
wykonywać
jedynie
w miejscu
instalacji
P, G
możliwość
wykonania
pomiarów poza
GUM tylko
w przypadku, gdy
pomiary można
wykonywać
jedynie
w miejscu
instalacji
P, G
możliwość
wykonania
pomiarów poza
GUM tylko w
przypadku, gdy
pomiary można
wykonywać
jedynie w miejscu
instalacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
M44
Podana cena jest
określona dla średniej
liczby roboczogodzin
koniecznych do
przeprowadzenia
wzorcowania
typowego przyrządu.
468,00 W przypadkach
wzorcowań
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie dla
każdego przyrządu liczba rbg x stawka za
1 rbg
M44
Podana cena jest
określona dla
typowych zakresów
wzorcowania. W
przypadkach
260,00
wzorcowań
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie - liczba
rbg x stawka za 1 rbg
M44
Podana cena jest
określona dla
typowych zakresów
wzorcowania. W
przypadkach
195,00
wzorcowań
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie - liczba
rbg x stawka za 1 rbg
M44
Podana cena jest
określona dla
typowych zakresów
wzorcowania. W
przypadkach
260,00
wzorcowań
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie - liczba
rbg x stawka za 1 rbg
ID
Obiektu
M4-239
M4-240
M4-241
Dziedzina
Czas
i częstotliwość
Czas
i częstotliwość
Czas
i częstotliwość
Subdziedzina
Częstotliwość
Częstotliwość
Częstotliwość
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Chronokomparatory
cyfrowe (zasilanie
sieciowe)
Chronokomparatory
cyfrowe (zasilanie
bateryjne)
Chronokomparatory
analogowe
W
W
W
Wzorcowanie wielkość mierzona
częstotliwość
częstotliwość
częstotliwość
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
(-120 ÷ +120) s/d
pomiar wartości
wzorcowej
(-120 ÷ +120) s/d
pomiar wartości
wzorcowej
(-120 ÷ +120) s/d
pomiar wartości
wzorcowej
0,006 s/d
0,006 s/d
0,006 s/d
Strona 138
CMC
TAK
TAK
TAK
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
G
G
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
M44
Podana cena jest
określona dla średniej
liczby roboczogodzin
koniecznych do
przeprowadzenia
wzorcowania
typowego przyrządu i
typowych zakresów.
611,00
W przypadkach
wzorcowań
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie dla
każdego przyrządu liczba rbh x stawka za
1 rbh.
M44
Podana cena jest
określona dla średniej
liczby roboczogodzin
koniecznych do
przeprowadzenia
wzorcowania
typowego przyrządu i
typowych zakresów.
546,00
W przypadkach
wzorcowań
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie dla
każdego przyrządu liczba rbh x stawka za
1 rbh.
M44
Podana cena jest
określona dla średniej
liczby roboczogodzin
koniecznych do
przeprowadzenia
wzorcowania
typowego przyrządu i
typowych zakresów.
741,00
W przypadkach
wzorcowań
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie dla
każdego przyrządu liczba rbh x stawka za
1 rbh.
ID
Obiektu
M4-242
M4-243
M4-244
Dziedzina
Czas
i częstotliwość
Czas
i częstotliwość
Czas
i częstotliwość
Subdziedzina
Częstotliwość
Przedział czasu
Przedział czasu
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Chronokomparatory
cyfrowo-analogowe
Fazomierze
(przyrządy mierzące
różnicę faz sygnałów
napięciowych
Generatory sygnałów
napięciowych o
ustalonej różnicy faz
W
W
W
Wzorcowanie wielkość mierzona
częstotliwość
okres i przedział czasu
(faza)
okres i przedział czasu
(faza)
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
(-120 ÷ +120) s/d
pomiar wartości
wzorcowej
(0 ÷ 360) deg,
20 Hz ÷ 10 kHz
porównanie wskazań
(0 ÷ 360) deg,
20 Hz ÷ 10 kHz
pomiar bezpośredni
0,006 s/d
0,015 deg
0,015 deg
Strona 139
CMC
TAK
TAK
TAK
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
G
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
G
G
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
spójność pomiarowa
poprzez pomiar
okresu
i przedziału czasu
M44
Podana cena jest
określona dla średniej
liczby roboczogodzin
koniecznych do
przeprowadzenia
wzorcowania
typowego przyrządu i
typowych zakresów.
1001,00
W przypadkach
wzorcowań
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie dla
każdego przyrządu liczba rbh x stawka za
1 rbh.
M44
Podana cena jest
określona dla średniej
liczby roboczogodzin
koniecznych do
przeprowadzenia
wzorcowania
typowego przyrządu i
typowych zakresów.
936,00
W przypadkach
wzorcowań
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie dla
każdego przyrządu liczba rbh x stawka za
1 rbh.
M44
Podana cena jest
określona dla średniej
liczby roboczogodzin
koniecznych do
przeprowadzenia
wzorcowania
typowego przyrządu i
typowych zakresów.
897,00
W przypadkach
wzorcowań
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie dla
każdego przyrządu liczba rbh x stawka za
1 rbh.
ID
Obiektu
M4-245
Dziedzina
Czas
i częstotliwość
Subdziedzina
Liczba impulsów
(zdarzeń)
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Liczniki grup impulsów
E
Wzorcowanie wielkość mierzona
liczba impulsów
(zdarzeń)
M4-246
Czas
i częstotliwość
Liczba impulsów
(zdarzeń)
Źródła grup impulsów
E
liczba impulsów
(zdarzeń)
M4-247
Czas
i częstotliwość
Różnica skal czasu i
częstotliwość
Skale czasu
W
różnica skal czasu
względem UTC(PL)
M4-248
Czas
i częstotliwość
Różnica skal czasu i
częstotliwość
Skale czasu
W
różnica skal czasu
względem UTC
M4-249
Czas
i częstotliwość
Różnica skal czasu i
częstotliwość
Skale czasu
W
częstotliwość
M4-250
Czas
i częstotliwość
Różnica skal czasu i
częstotliwość
Skale czasu
W
różnica skal czasu
względem UTC(PL)
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
1 ÷ 499 990,
max f = 80 MHz
porównanie wskazań
---
1 ÷ 1 000 000,
max f = 225 MHz
porównanie wskazań
±1s
porównanie
bezpośrednie
±1s
porównanie
bezpośrednie
porównanie
bezpośrednie
CMC
NIE
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
P, G
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
możliwość
wykonania
pomiarów poza
GUM tylko
w przypadku,
gdy pomiary
można
wykonywać
jedynie
w miejscu
instalacji
możliwość
wykonania
pomiarów poza
GUM tylko
w przypadku, gdy
pomiary można
wykonywać
jedynie
w miejscu
instalacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
M44
Podana cena jest
określona dla średniej
liczby roboczogodzin
koniecznych do
przeprowadzenia
sprawdzenia
typowego przyrządu i
typowych zakresów.
W przypadkach
442,00
sprawdzeń
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie dla
każdego przyrządu liczba rbh x stawka za
1 rbh. Wystawiane
jest świadectwo
ekspertyzy.
M44
Podana cena jest
określona dla średniej
liczby roboczogodzin
koniecznych do
przeprowadzenia
sprawdzenia
typowego przyrządu i
typowych zakresów.
W przypadkach
442,00
sprawdzeń
nietypowych cenę
określa się
indywidualnie dla
każdego przyrządu liczba rbh x stawka za
1 rbh. Wystawiane
jest świadectwo
ekspertyzy.
łączna maksymalna
liczba impulsów
w grupie może być
większa;
liczba rbh
przeznaczona na
sprawdzenie zależy
od jego zakresu i
rodzaju przyrządu
łączna maksymalna
liczba impulsów
w grupie może być
większa
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
P, G
2 ns
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M44
1300,00
12 ns
NIE
BIPM
G
M44
1300,00
2E-13 Hz/Hz
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M44
1300,00
P
Użytkownik dostarcza
surowe dane
pomiarowe
z pomiarów
realizowanej przez
M44
siebie skali czasu za
pomocą
skalibrowanego
systemu do porównań
metodą GPS CV.
1105,00
---
±1s
porównanie metodą GPS 10 ns
CV
Strona 140
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
Wzorcowanie
zdalne
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
ID
Obiektu
M4-251
M4-252
M5-1
M5-2
M5-3
M5-4
M5-5
M5-6
Dziedzina
Czas
i częstotliwość
Czas
i częstotliwość
Liczność materii
Liczność materii
Liczność materii
Liczność materii
Liczność materii
Liczność materii
Subdziedzina
Opis
Różnica skal czasu i
częstotliwość
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Skale czasu
Różnica skal czasu i
częstotliwość
Skale czasu
Roztwory
nieorganiczne
Pierwiastki (kationy)
Wzorce do atomowej
spektrometrii
absorpcyjnej (ASA)
Gazy środowiskowe
Mieszanina gazowa
do kontroli
analizatorów spalin
samochodowych
(wzor.)
Gazy środowiskowe
Mieszanina gazowa
do kontroli
analizatorów spalin
samochodowych - do
5l (wyk. i wzor.)
Gazy środowiskowe
Mieszanina gazowa
do kontroli
analizatorów spalin
samochodowych - 10l
(wyk. i wzor.)
Gazy środowiskowe
Mieszanina gazowa
do kontroli
analizatorów spalin
samochodowych - 40l
(wyk. i wzor.)
Gazy środowiskowe
Mieszanina gazowa
do kontroli
analizatorów spalin
samochodowych - 5l
(św.mat.odn.)
Gazy
Gazy
Gazy
Gazy
Gazy
W
W
M
W
WM
WM
WM
M
Wzorcowanie wielkość mierzona
różnica skal czasu
względem UTC
częstotliwość
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
±1s
porównanie metodą GPS 14 ns
CV
porównanie metodą GPS
2E-13 Hz/Hz
CV
w zależności od
rodzaju pierwiastka:
0,0010;
0,0012;
0,0013;
0,0020 g/dm3
CMC
TAK
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
BIPM
P
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
wzorcowanie
zdalne
Użytkownik dostarcza
surowe dane
pomiarowe
z pomiarów
realizowanej przez
M44
siebie skali czasu za
pomocą
skalibrowanego
systemu do porównań
metodą GPS CV.
1105,00
wzorcowanie
zdalne
Użytkownik dostarcza
surowe dane
pomiarowe
z pomiarów
realizowanej przez
M44
siebie skali czasu za
pomocą
skalibrowanego
systemu do porównań
metodą GPS CV.
1105,00
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
P
NIE
GUM
G
M55
50,00
910,00
zawartość składnika
1 g/dm3
ułamek objętościowy
składnika
CO: 0,005 mol/mol ÷
0,035 mol/mol
CO2: 0,06 molmol ÷ 0,14
1%
mol/mol
C3H8: 0,0002 mol/mol ÷
0,002 mol/mol
TAK
GUM
G
M51
ułamek objętościowy
składnika
CO: 0,005 mol/mol ÷
0,035 mol/mol
CO2: 0,06 molmol ÷ 0,14
1%
mol/mol
C3H8: 0,0002 mol/mol ÷
0,002 mol/mol
TAK
GUM
G
M51
Do ceny całkowitej
2670,00 doliczono koszt
gazów (zł): 200
ułamek objętościowy
składnika
CO: 0,005 mol/mol ÷
0,035 mol/mol
CO2: 0,06 molmol ÷ 0,14
1%
mol/mol
C3H8: 0,0002 mol/mol ÷
0,002 mol/mol
TAK
GUM
G
M51
Do ceny całkowitej
2870,00 doliczono koszt
gazów (zł): 400
ułamek objętościowy
składnika
CO: 0,005 mol/mol ÷
0,035 mol/mol
CO2: 0,06 molmol ÷ 0,14
1%
mol/mol
C3H8: 0,0002 mol/mol ÷
0,002 mol/mol
TAK
GUM
G
M51
Do ceny całkowitej
3140,00 doliczono koszt
gazów (zł): 800
ułamek objętościowy
składnika
CO: 0,005 mol/mol ÷
0,035 mol/mol
CO2: 0,06 molmol ÷ 0,14
1%
mol/mol
C3H8: 0,0002 mol/mol ÷
0,002 mol/mol
TAK
GUM
G
M51
Do ceny całkowitej
2280,00 doliczono koszt
gazów (zł): 200
Strona 141
ID
Obiektu
M5-7
Dziedzina
Liczność materii
Subdziedzina
Gazy
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Gazy środowiskowe
Mieszanina gazowa
do kontroli
analizatorów spalin
samochodowych - 10l
(św.mat.odn.)
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
M
ułamek objętościowy
składnika
CO: 0,005 mol/mol ÷
0,035 mol/mol
CO2: 0,06 molmol ÷ 0,14
1%
mol/mol
C3H8: 0,0002 mol/mol ÷
0,002 mol/mol
W
ułamek objętościowy
składnika
zawartość składnika
≥0,05 mol/mol
> 1%
M5-8
Liczność materii
Gazy
Gazy środowiskowe
Mieszanina gazowa
(CO,CO2,O2)≥0,05
(wzor.)
M5-9
Liczność materii
Gazy
Gazy środowiskowe
Mieszanina gazowa
(CO,CO2,O2,NO)≥0,0
005 (wzor.)
W
ułamek objętościowy
składnika
zawartość składnika
≥0,0005 mol/mol
> 1%
M5-10
Liczność materii
Gazy
Gazy środowiskowe
Mieszanina gazowa
(CO,NO,SO2)<0,0005
(wzor.)
W
ułamek objętościowy
składnika
zawartość składnika
<0,0005 mol/mol
> 1%
M5-11
Liczność materii
Gazy
Inne
Mieszanina gazowa
(CH4,C2H6,H2)≥0,05;
(wzor.)
W
ułamek objętościowy
składnika
zawartość składnika
≥0,05 mol/mol
> 1%
CMC
TAK
CO; CO2
(0,06 ÷
0,14) TAK;
O2 - NIE
CO, NO TAK;
CO2, O2 NIE
CO
>0,00001,
NO
>0,00005 TAK;
SO2 - NIE
NIE
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
Do ceny całkowitej
2480,00 doliczono koszt
gazów (zł): 400
GUM
G
M51
GUM
G
M51
780,00
CO, CO2, O2 GUM; NO-VSL
G
M51
910,00
CO - GUM;
NO,SO2 - VSL
G
M51
1105,00
GUM
G
M51
1170,00
G
M51
1300,00
G
M51
1495,00
C3H8
<0,0,002
mol/mol TAK;
GUM
CH4,
C2H6,
C2H4, H2 NIE
(0,0002 ÷
0,0005)
GUM
mol/mol TAK
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
M5-12
Liczność materii
Gazy
Inne
Mieszanina gazowa
(CH4,C2H6,C2H4,C3
H8,H2)≥0,0005 (wzor.)
W
ułamek objętościowy
składnika
zawartość składnika
≥0,0005 mol/mol
> 1%
M5-13
Liczność materii
Gazy
Inne
Mieszanina gazowa
(C3H8)<0,0005
(wzor.)
W
ułamek objętościowy
składnika
zawartość składnika
<0,0005 mol/mol
> 1%
M5-14
Liczność materii
Gazy
Paliwa gazowe
Mieszanina gazowa
zawierający gaz
ziemny do C4 (wzor.)
W
ułamek objętościowy
składnika
gaz ziemny do C4
> 1%
TAK
GUM
G
M51
1560,00
M5-15
Liczność materii
Gazy
Paliwa gazowe
Mieszanina gazowa
zawierający gaz
ziemny do C6 (wzor.)
W
ułamek objętościowy
składnika
gaz ziemny do C6
> 1%
NIE
GUM
G
M51
1950,00
> 1%
CO, CO2
(0,06 ÷
0,14) TAK; CH4, GUM
C2H6,
C3H8, O2 NIE
M51
Do ceny całkowitej
doliczono koszt
gazów (zł): 150
Wykonanie mieszanin
wieloskładniko1970,00
wych i o niższych
zawrtościach
składników wymagają
indywidualnej
kalkulacji ceny
> 1%
CO, CO2
(0,06 ÷
0,14) TAK; CH4, GUM
C2H6,
C3H8, O2 NIE
M51
Do ceny całkowitej
doliczono koszt
gazów (zł): 300
Wykonanie mieszanin
wieloskładniko2120,00
wych i o niższych
zawrtościach
składników wymagają
indywidualnej
kalkulacji ceny
M5-16
M5-17
Liczność materii
Liczność materii
Gazy
Gazy
Gazy środowiskowe
Gazy środowiskowe
Mieszanina gazowa
(CO,CO2,CH4,C2H6,
C3H8,O2)≥0,05;
H2≥0,5; 5l (wyk. i
wzor.)
Mieszanina gazowa
(CO,CO2,CH4,
C2H6,C3H8,O2)≥0,05
;H2≥0,5; 10l (wyk.i
wzor.)
WM
WM
ułamek objętościowy
składnika
ułamek objętościowy
składnika
zawartość składnika
≥0,05 mol/mol
(≥0,5 mol/mol dla H2)
zawartość składnika
≥0,05 mol/mol
(≥0,5 mol/mol dla H2)
Strona 142
G
G
ID
Obiektu
M5-18
Dziedzina
Liczność materii
Subdziedzina
Gazy
Opis
Gazy środowiskowe
M5-19
Liczność materii
Gazy
Gazy środowiskowe
M5-20
Liczność materii
pH/pX
Wzorce pH
M5-21
Liczność materii
pH/pX
Wzorce pH
M5-22
Liczność materii
pH/pX
Wzorce pH
M5-23
Liczność materii
pH/pX
Wzorce pH
M5-24
Liczność materii
pH/pX
Wzorce pH
M5-25
Liczność materii
pH/pX
Wzorce pH
M5-26
Liczność materii
pH/pX
Wzorce pH
M5-27
Liczność materii
pH/pX
Wzorce pH
M5-28
Liczność materii
pH/pX
Wzorce pH
M5-29
Liczność materii
pH/pX
Wzorce pH
M5-30
Liczność materii
pH/pX
Wzorce pH
M5-31
Liczność materii
pH/pX
Wzorce pH
M5-32
Liczność materii
pH/pX
Wzorce pH
M5-33
Liczność materii
pH/pX
Wzorce pH
M5-34
Liczność materii
pH/pX
Wzorce pH
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Mieszanina gazowa
(CO,CO2,CH4,C2H6,
C3H8,O2)≥0,05;
H2≥0,5; 5l
(św.mat.odn.)
Mieszanina gazowa
(CO,CO2,CH4,C2H6,
C3H8,O2)≥0,05;
H2≥0,5; 10l
(św.mat.odn.)
Wzorce pH
(wytworzenie +
wzorcowanie)
Wzorce pH
(wytworzenie +
wzorcowanie)
Wzorce pH
(wytworzenie +
wzorcowanie)
Wzorce pH
(wytworzenie +
wzorcowanie)
Wzorce pH
(wytworzenie +
wzorcowanie)
Wzorce pH
(wytworzenie +
wzorcowanie)
Wzorce pH
(wytworzenie +
wzorcowanie)
Wzorce pH
(wytworzenie +
wzorcowanie)
Wzorce pH
(wytworzenie +
wzorcowanie)
Wzorce pH
(wytworzenie +
wzorcowanie)
Wzorce pH
(wytworzenie +
wzorcowanie)
Wzorce pH
(wytworzenie +
wzorcowanie)
Wzorce pH
(wytworzenie +
wzorcowanie)
Wzorce pH
(wytworzenie +
wzorcowanie)
Wzorce pH
(wytworzenie +
wzorcowanie)
M
Wzorcowanie wielkość mierzona
ułamek objętościowy
składnika
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
zawartość składnika
≥0,05 mol/mol
(≥0,5 mol/mol dla H2)
> 1%
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
CO, CO2
(0,06 ÷
0,14) TAK; CH4, GUM
C2H6,
C3H8, O2 NIE
ułamek objętościowy
składnika
zawartość składnika
≥0,05 mol/mol
(≥0,5 mol/mol dla H2)
>1%
CO,CO2
(0,06-0,14) TAK;
GUM
CH4,C2H6,
C3H8, O2 NIE
MW
pH
1,68
0,01
TAK
MW
pH
4,01
0,01
TAK
MW
pH
6,86
0,01
TAK
MW
pH
7,00
0,01
TAK
MW
pH
7,41
0,01
TAK
MW
pH
9,18
0,02
TAK
MW
pH
10,01
0,02
TAK
MW
pH
12,4
0,01
TAK
MW
pH
1,68
0,01
TAK
MW
pH
4,01
0,01
TAK
MW
pH
6,86
0,01
TAK
MW
pH
7,00
0,01
TAK
MW
pH
7,41
0,01
TAK
MW
pH
9,18
0,02
TAK
MW
pH
10,01
0,02
TAK
M
Strona 143
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
M51
Do ceny całkowitej
doliczono koszt
gazów (zł): 150
Wykonanie mieszanin
wieloskładniko1385,00
wych i o niższych
zawrtościach
składników wymagają
indywidualnej
kalkulacji ceny
G
M51
Do ceny całkowitej
doliczono koszt
gazów (zł): 300
Wykonanie mieszanin
wieloskładniko1535,00
wych i o niższych
zawrtościach
składników wymagają
indywidualnej
kalkulacji ceny
G
M53
60,00 100 mL
G
M53
60,00 100 mL
G
M53
60,00 100 mL
G
M53
60,00 100 mL
G
M53
60,00 100 mL
G
M53
60,00 100 mL
G
M53
60,00 100 mL
G
M53
60,00 100 mL
G
M53
130,00 250mL
G
M53
130,00 250mL
G
M53
130,00 250mL
G
M53
130,00 250mL
G
M53
130,00 250mL
G
M53
130,00 250mL
G
M53
130,00 250mL
G
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
M5-35
Liczność materii
pH/pX
Wzorce pH
Wzorce pH
(wytworzenie +
wzorcowanie)
M5-36
Liczność materii
pH/pX
Wzorce pH
M5-37
Liczność materii
pH/pX
Wzorce pH
M5-38
Liczność materii
Przewodność
Wzorce
elektryczna
konduktometryczne
właściwa elektrolitów
M5-39
Liczność materii
Przewodność
Wzorce
elektryczna
konduktometryczne
właściwa elektrolitów
M5-40
Liczność materii
Przewodność
Wzorce
elektryczna
konduktometryczne
właściwa elektrolitów
M5-41
Liczność materii
Przewodność
Wzorce
elektryczna
konduktometryczne
właściwa elektrolitów
M5-42
Liczność materii
Przewodność
Wzorce
elektryczna
konduktometryczne
właściwa elektrolitów
M5-43
Liczność materii
Przewodność
Wzorce
elektryczna
konduktometryczne
właściwa elektrolitów
M5-44
Liczność materii
Przewodność
Wzorce
elektryczna
konduktometryczne
właściwa elektrolitów
M5-45
Liczność materii
Przewodność
Wzorce
elektryczna
konduktometryczne
właściwa elektrolitów
M5-46
Liczność materii
Przewodność
Wzorce
elektryczna
konduktometryczne
właściwa elektrolitów
M5-47
Liczność materii
Przewodność
Wzorce
elektryczna
konduktometryczne
właściwa elektrolitów
M5-48
Liczność materii
Przewodność
Wzorce
elektryczna
konduktometryczne
właściwa elektrolitów
M5-49
Liczność materii
Przewodność
Wzorce
elektryczna
konduktometryczne
właściwa elektrolitów
M5-50
Liczność materii
Przewodność
Wzorce
elektryczna
konduktometryczne
właściwa elektrolitów
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
MW
pH
12,4
0,01
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
Wzorce pH
(wzorcowanie - ogniwo
dwu-wodorowe)
W
pH
od 1 do 11
od 0,002 do 0,015
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
Wzorce pH
(wzorcowanie - ogniwo
z elektrodą szklaną)
W
pH
od 1 do 13
od 0,005 do 0,10
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
Wzorce
konduktometryczne
(wytworzenie +
wzorcowanie)
Wzorce
konduktometryczne
(wytworzenie +
wzorcowanie)
Wzorce
konduktometryczne
(wytworzenie +
wzorcowanie)
Wzorce
konduktometryczne
(wytworzenie +
wzorcowanie)
Wzorce
konduktometryczne
(wytworzenie +
wzorcowanie)
Wzorce
konduktometryczne
(wytworzenie +
wzorcowanie)
Wzorce
konduktometryczne
(wytworzenie +
wzorcowanie)
Wzorce
konduktometryczne
(wytworzenie +
wzorcowanie)
Wzorce
konduktometryczne
(wytworzenie +
wzorcowanie)
Wzorce
konduktometryczne
(wytworzenie +
wzorcowanie)
Wzorce
konduktometryczne
(wytworzenie +
wzorcowanie)
Wzorce
konduktometryczne
(wytworzenie +
wzorcowanie)
Wzorce
konduktometryczne
(wzorcowanie)
G
G
G
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
M53
130,00 250mL
M53
910,00
M53
260,00
MW
przewodność elektryczna
0,0148 S/m
właściwa elektrolitów
do 0,3%
TAK
DFM
G
M53
60,00 100 mL
MW
przewodność elektryczna
0,0293 S/m
właściwa elektrolitów
do 0,2%
TAK
DFM
G
M53
60,00 100 mL
MW
przewodność elektryczna
0,0720 S/m
właściwa elektrolitów
do 0,2%
TAK
DFM
G
M53
60,00 100 mL
MW
przewodność elektryczna
0,1410 S/m
właściwa elektrolitów
do 0,2%
TAK
DFM
G
M53
60,00 100 mL
MW
przewodność elektryczna
1,285 S/m
właściwa elektrolitów
do 0,1%
TAK
DFM
G
M53
60,00 100 mL
MW
przewodność elektryczna
11,13 S/m
właściwa elektrolitów
do 0,1%
TAK
DFM
G
M53
60,00 100 mL
MW
przewodność elektryczna
0,0148 S/m
właściwa elektrolitów
do 0,3%
TAK
DFM
G
M53
130,00 250 mL
MW
przewodność elektryczna
0,0293 S/m
właściwa elektrolitów
do 0,2%
TAK
DFM
G
M53
130,00 250 mL
MW
przewodność elektryczna
0,0720 S/m
właściwa elektrolitów
do 0,2%
TAK
DFM
G
M53
130,00 250 mL
MW
przewodność elektryczna
0,1410 S/m
właściwa elektrolitów
do 0,2%
TAK
DFM
G
M53
130,00 250 mL
MW
przewodność elektryczna
1,285 S/m
właściwa elektrolitów
do 0,1%
TAK
DFM
G
M53
130,00 250 mL
MW
przewodność elektryczna
11,13 S/m
właściwa elektrolitów
do 0,1%
TAK
DFM
G
M53
130,00 250 mL
przewodność elektryczna od 0,015 S/m do
właściwa elektrolitów
11,5 S/m
od 0,1 do 0,3%
TAK
DFM
M53
220,00
W
Strona 144
G
ID
Obiektu
M5-51
M5-52
M5-53
M5-54
M5-55
M5-56
Dziedzina
Liczność materii
Liczność materii
Liczność materii
Liczność materii
Liczność materii
Liczność materii
Subdziedzina
Przyrządy do
pomiaru wielkości
chemicznych i
fizykochemicznych
Przyrządy do
pomiaru wielkości
chemicznych i
fizykochemicznych
Przyrządy do
pomiaru wielkości
chemicznych i
fizykochemicznych
Przyrządy do
pomiaru wielkości
chemicznych i
fizykochemicznych
Przyrządy do
pomiaru wielkości
chemicznych i
fizykochemicznych
Przyrządy do
pomiaru wielkości
chemicznych i
fizykochemicznych
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Przyrządy do analizy
Analizatory gazów - 1
gazów (oprócz
tor gazowy w 5 pkt
spektrofotometrów) i
pomiarowych
systemy pomiarowe
Przyrządy do analizy
Analizatory gazów - 2
gazów (oprócz
tory gazowe w 5 pkt
spektrofotometrów) i
pomiarowych
systemy pomiarowe
Przyrządy do analizy
Analizatory gazów - 3
gazów (oprócz
tory gazowe w 5 pkt
spektrofotometrów) i
pomiarowych
systemy pomiarowe
Przyrządy do analizy
Analizatory gazów - 4
gazów (oprócz
tory gazowe w 5 pkt
spektrofotometrów) i
pomiarowych
systemy pomiarowe
Przyrządy do analizy
Analizatory gazów - 1
gazów (oprócz
tor gazowy w 4 pkt
spektrofotometrów) i
pomiarowych
systemy pomiarowe
Przyrządy do analizy
Analizatory gazów - 2
gazów (oprócz
tory gazowe
spektrofotometrów) i
w 4 pkt pomiarowych
systemy pomiarowe
W
W
W
W
W
W
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
zawartość składnika
CO-(0,000005 ÷ 0,05);
CO2-(0,0001 ÷ 1);
NO-(0,0000001 ÷ 0,001);
NO2-(0,0000001 ÷
0,001);
> 1%
SO2-(0,0000001 ÷
0,0001);
CH4-(0,0005 ÷ 1);
O2-(0,005 ÷ 0,42)
NIE
GUM
G
M51
Wzorcowanie w pięciu
975,00 punktach
pomiarowych
zawartość składnika
CO-(0,000005 ÷ 0,05);
CO2-(0,0001 ÷ 1);
NO-(0,0000001 ÷ 0,001);
NO2-(0,0000001 ÷
0,001);
> 1%
SO2-(0,0000001 ÷
0,0001);
CH4-(0,0005 ÷ 1);
O2-(0,005 ÷ 0,42)
NIE
GUM
G
M51
Wzorcowanie w pięciu
1820,00 punktach
pomiarowych
zawartość składnika
CO-(0,000005 ÷ 0,05);
CO2-(0,0001 ÷ 1);
NO-(0,0000001 ÷ 0,001);
NO2-(0,0000001 ÷
0,001);
> 1%
SO2-(0,0000001 ÷
0,0001);
CH4-(0,0005 ÷ 1);
O2-(0,005 ÷ 0,42)
NIE
GUM
G
M51
Wzorcowanie w pięciu
2665,00 punktach
pomiarowych
zawartość składnika
CO-(0,000005 ÷ 0,05);
CO2-(0,0001 ÷ 1);
NO-(0,0000001 ÷ 0,001);
NO2-(0,0000001 ÷
0,001);
> 1%
SO2-(0,0000001 ÷
0,0001);
CH4-(0,0005 ÷ 1);
O2-(0,005 ÷ 0,42)
NIE
GUM
G
M51
Wzorcowanie w pięciu
3510,00 punktach
pomiarowych
zawartość składnika
CO-(0,000005 ÷ 0,05);
CO2-(0,0001 ÷ 1);
NO-(0,0000001 ÷
0,001);
NO2-(0,0000001 ÷
0,001);
SO2-(0,0000001 ÷
0,0001);
CH4-(0,0005 ÷ 1);
O2-(0,005 ÷ 0,42)
> 1%
NIE
GUM
G
M51
Wzorcowanie w
845,00 czterech punktach
pomiarowych
zawartość składnika
CO-(0,000005 ÷ 0,05);
CO2-(0,0001 ÷ 1);
NO-(0,0000001 ÷ 0,001);
NO2-(0,0000001 ÷
0,001);
> 1%
SO2-(0,0000001 ÷
0,0001);
CH4-(0,0005 ÷ 1);
O2-(0,005 ÷ 0,42)
NIE
GUM
G
M51
Wzorcowanie w
1560,00 czterech punktach
pomiarowych
Strona 145
ID
Obiektu
M5-57
M5-58
M5-59
M5-60
M5-61
M5-62
Dziedzina
Liczność materii
Liczność materii
Liczność materii
Liczność materii
Liczność materii
Liczność materii
Subdziedzina
Przyrządy do
pomiaru wielkości
chemicznych i
fizykochemicznych
Przyrządy do
pomiaru wielkości
chemicznych i
fizykochemicznych
Przyrządy do
pomiaru wielkości
chemicznych i
fizykochemicznych
Przyrządy do
pomiaru wielkości
chemicznych i
fizykochemicznych
Przyrządy do
pomiaru wielkości
chemicznych i
fizykochemicznych
Przyrządy do
pomiaru wielkości
chemicznych i
fizykochemicznych
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Przyrządy do analizy
Analizatory gazów - 3
gazów (oprócz
tory gazowe
spektrofotometrów) i
w 4 pkt pomiarowych
systemy pomiarowe
Przyrządy do analizy
Analizatory gazów - 4
gazów (oprócz
tory gazowe
spektrofotometrów) i
w 4 pkt pomiarowych
systemy pomiarowe
Przyrządy do analizy
Analizatory gazów - 1
gazów (oprócz
tor gazowy w 3 pkt
spektrofotometrów) i
pomiarowych
systemy pomiarowe
Przyrządy do analizy
Analizatory gazów - 2
gazów (oprócz
tory gazowe
spektrofotometrów) i
w 3 pkt pomiarowych
systemy pomiarowe
Przyrządy do analizy
Analizatory gazów - 3
gazów (oprócz
tory gazowe
spektrofotometrów) i
w 3 pkt pomiarowych
systemy pomiarowe
Przyrządy do analizy
Analizatory gazów - 4
gazów (oprócz
tory gazowe
spektrofotometrów) i
w 3 pkt pomiarowych
systemy pomiarowe
W
W
W
W
W
W
Wzorcowanie wielkość mierzona
Zakres
pomiarowy/metoda
Niepewność
rozszerzona2)
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
zawartość składnika
CO-(0,000005 ÷ 0,05);
CO2-(0,0001 ÷ 1);
NO-(0,0000001 ÷ 0,001);
NO2-(0,0000001 ÷
0,001);
> 1%
SO2-(0,0000001 ÷
0,0001);
CH4-(0,0005 ÷ 1);
O2-(0,005 ÷ 0,42)
NIE
GUM
G
M51
Wzorcowanie w
2288,00 czterech punktach
pomiarowych
zawartość składnika
CO-(0,000005 ÷ 0,05);
CO2-(0,0001 ÷ 1);
NO-(0,0000001 ÷ 0,001);
NO2-(0,0000001 ÷
0,001);
> 1%
SO2-(0,0000001 ÷
0,0001);
CH4-(0,0005 ÷ 1);
O2-(0,005 ÷ 0,42)
NIE
GUM
G
M51
Wzorcowanie w
3003,00 czterech punktach
pomiarowych
zawartość składnika
CO-(0,000005 ÷ 0,05);
CO2-(0,0001 ÷ 1);
NO-(0,0000001 ÷ 0,001);
NO2-(0,0000001 ÷
0,001);
>1%
SO2-(0,0000001 ÷
0,0001);
CH4-(0,0005 ÷ 1);
O2-(0,005 ÷ 0,42)
NIE
GUM
G
M51
Wzorcowanie w
715,00 trzech punktach
pomiarowych
zawartość składnika
CO-(0,000005 ÷ 0,05);
CO2-(0,0001 ÷ 1);
NO-(0,0000001 ÷ 0,001);
NO2-(0,0000001 ÷
0,001);
> 1%
SO2-(0,0000001 ÷
0,0001);
CH4-(0,0005 ÷ 1);
O2-(0,005 ÷ 0,42)
NIE
GUM
G
M51
Wzorcowanie w
1313,00 trzech punktach
pomiarowych
zawartość składnika
CO-(0,000005 ÷ 0,05);
CO2-(0,0001 ÷ 1);
NO-(0,0000001 ÷ 0,001);
NO2-(0,0000001 ÷
0,001);
> 1%
SO2-(0,0000001 ÷
0,0001);
CH4-(0,0005 ÷ 1);
O2-(0,005 ÷ 0,42)
NIE
GUM
G
M51
Wzorcowanie w
1924,00 trzech punktach
pomiarowych
zawartość składnika
CO-(0,000005 ÷ 0,05);
CO2-(0,0001 ÷ 1);
NO-(0,0000001 ÷ 0,001);
NO2-(0,0000001 ÷
0,001);
> 1%
SO2-(0,0000001 ÷
0,0001);
CH4-(0,0005 ÷ 1);
O2-(0,005 ÷ 0,42)
NIE
GUM
G
M51
Wzorcowanie w
2522,00 trzech punktach
pomiarowych
Strona 146
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Przyrządy do analizy
gazów (oprócz
Tlenomierze
spektrofotometrów) i
systemy pomiarowe
W
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
zawartość tlenu
0,005 mol/mol ÷
0,42 mol/mol
> 1%
NIE
GUM
G
M51
Wzorcowanie w pięciu
punktach
780,00 pomiarowych
kompletu: przyrząd i
sonda pomiarowa
M5-63
Liczność materii
Przyrządy do
pomiaru wielkości
chemicznych i
fizykochemicznych
M5-64
Liczność materii
Przyrządy do
pomiaru wielkości
chemicznych i
fizykochemicznych
Przyrządy do analizy
gazów (oprócz
Analizator wydechu
spektrofotometrów) i
systemy pomiarowe
W
stężenie masowe
(0,0 ÷ 3,0) mg/l
symulator wydechu
(0,01 ÷ 0,05) mg/l
NIE
GUM
G
M55
345,00
M5-65
Liczność materii
Przyrządy do
pomiaru wielkości
chemicznych i
fizykochemicznych
Przyrządy do pomiaru
Symulator (zakres pH)
pH
W
pH
od -4,000 do 23,000
0,0002
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M53
507,00
M5-66
Liczność materii
Przyrządy do
pomiaru wielkości
chemicznych i
fizykochemicznych
Przyrządy do pomiaru Symulator (zakres pH i
pH
napięcia)
W
pH od -4,0 do 23,0;
pH; napięcie elektryczne od -2300 mV
do 2300 mV
0,0002; 0,01 mV
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M53
657,00
M5-67
Liczność materii
Przyrządy do
pomiaru wielkości
chemicznych i
fizykochemicznych
Przyrządy do pomiaru Pehametr - 1 zakres
pH
pH
W
pH
0,005
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M53
209,00
M5-68
Liczność materii
Przyrządy do
pomiaru wielkości
chemicznych i
fizykochemicznych
Pehametr - I kanał
Przyrządy do pomiaru
(zakres pomiaru pH i
pH
napięcia)
W
pH od -2,0 do 20,0;
pH; napięcie elektryczne od -2300 mV
do 2300 mV
0,0005; 0,05 mV
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M53
313,00
M5-69
Liczność materii
Przyrządy do
pomiaru wielkości
chemicznych i
fizykochemicznych
Pehametr - II kanały
Przyrządy do pomiaru
(zakres pomiaru pH i
pH
napięcia)
W
pH od -2,0 do 20,0;
pH; napięcie elektryczne od -2300 mV
do 2300 mV
0,0005; 0,05 mV
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M53
423,00
M5-70
Liczność materii
Przyrządy do
pomiaru wielkości
chemicznych i
fizykochemicznych
Przyrządy do pomiaru Pehametr zespolony z
pH
elektrodą
W
pH
od 1do 13
0,005
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M53
423,00
M5-71
Liczność materii
Przyrządy do
pomiaru wielkości
chemicznych i
fizykochemicznych
Przyrządy do pomiaru Elektroda
pH
pehametryczna
W
napięcie elektryczne
od 40 mV
do 80 mV
0,3 mV
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M53
260,00
M5-72
Liczność materii
Przyrządy do
pomiaru wielkości
chemicznych i
fizykochemicznych
Przyrządy do pomiaru
przewodności
Konduktometr elektrycznej właściwej 1 zakres
elektrolitów
W
przewodność elektryczna od 0,00001 S/m
właściwa elektrolitów
do 20S/m
0,005%
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M53
242,00
M5-73
Liczność materii
Przyrządy do
pomiaru wielkości
chemicznych i
fizykochemicznych
Przyrządy do pomiaru
przewodności
Konduktometr elektrycznej właściwej 2-4 zakresy
elektrolitów
W
przewodność elektryczna od 0,00001 S/m
właściwa elektrolitów
do 20S/m
0,005%
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M53
359,00
od 1do 13
Strona 147
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
M5-74
Liczność materii
Przyrządy do
pomiaru wielkości
chemicznych i
fizykochemicznych
Przyrządy do pomiaru
przewodności
Konduktometr elektrycznej właściwej 6 zakresów
elektrolitów
W
przewodność elektryczna od 0,00001 S/m
właściwa elektrolitów
do 20 S/m
0,005%
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M53
417,00
M5-75
Liczność materii
Przyrządy do
pomiaru wielkości
chemicznych i
fizykochemicznych
Przyrządy do pomiaru
przewodności
Konduktometr (model
elektrycznej właściwej nieznany)
elektrolitów
W
przewodność elektryczna od 0,00001 S/m
właściwa elektrolitów
do 20 S/m
0,005%
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M53
515,00
M5-76
Liczność materii
Przyrządy do
pomiaru wielkości
chemicznych i
fizykochemicznych
Przyrządy do pomiaru
Konduktometr wraz z
przewodności
elektrycznej właściwej czujnikiem
elektrolitów
W
przewodność elektryczna od 0,015 S/m
właściwa elektrolitów
do 11,5 S/m
0,1%
NIE
DFM
G
M53
416,00
M5-77
Liczność materii
Przyrządy do
pomiaru wielkości
chemicznych i
fizykochemicznych
Przyrządy do pomiaru
przewodności
Czujnik
elektrycznej właściwej konduktometryczny
elektrolitów
W
stała czujnika
od 5 m-1 do 10000 m-1
0,02 m-1
NIE
DFM
G
M53
312,00
Widmowe
właściwości
materiałów
Długość fali
Wzorce do
podczerwieni
(wzorcowanie)
W
liczba falowa - IR
(400 ÷ 4000) cm-1
(0,2 ÷ 0,6) cm-1
NIE
GUM
G
M55
1690,00 1 szt.
Widmowe
właściwości
materiałów
Długość fali
Wzorce do
podczerwieni
(wykonanie
i wzorcowanie)
WM
liczba falowa - IR
(400 ÷ 4000) cm
-1
(0,2 ÷ 0,6) cm-1
NIE
GUM
G
M55
1950,00 1 kpl = 2 szt.
wilgotność ciał stałych
1 punkt dla próbek
o niższej wilgotności, nie
wymagającej
podsuszenia / przez
porównanie
0,1% (wilgotności)
z suszarkowo-wagową
metodą odniesienia
oznacznia wilgotności
zboża i nasion oleistych
NIE
GUM
G
M54
325,00
wilgotność ciał stałych
2 punkty dla próbek
o niższej wilgotności nie
wymagającej
podsuszenia / przez
porównanie
0,1% (wilgotności)
z suszarkowo-wagową
metodą odniesienia
oznacznia wilgotności
zboża i nasion oleistych
NIE
GUM
G
M54
553,00
wilgotność ciał stałych
1 punkt dla próbek
wilgotnych
wymagających
podsuszenia / przez
porównanie
z suszarkowo-wagową
metodą odniesienia
oznacznia wilgotności
zboża i nasion oleistych
NIE
GUM
G
M54
390,00
M5-78
M5-79
M5-80
M5-81
M5-82
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Fotometria
i radiometria
(promieniowanie
optyczne)
Masa i wielkości
pochodne
Masa i wielkości
pochodne
Masa i wielkości
pochodne
Masa
Masa
Masa
Wilgotność ciał
stałych
Wilgotność ciał
stałych
Wilgotność ciał
stałych
Wilgotnościomierze do
ziarna zbóż
i nasion oleistych
Wilgotnościomierze do
ziarna zbóż
i nasion oleistych
Wilgotnościomierze do
ziarna zbóż
i nasion oleistych
W
W
W
0,1% (wilgotności)
Strona 148
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
wilgotność ciał stałych
2 punkty dla próbek
wilgotnych
wymagających
podsuszenia / przez
porównanie
z suszarkowo-wagową
metodą odniesienia
oznacznia wilgotności
zboża i nasion oleistych
W
gęstość ciała stałego
(0,0001 ÷ 0,001)
(0,8 ÷ 22) g/cm3
ważenie hydrostatyczne g/cm3
TAK
GUM
Waga hydrostatyczna
Gęstość ciała stałego do pomiaru gęstości
ciał stałych
W
gęstość ciała stałego
(0,0001 ÷ 0,001)
(0,8 ÷ 22,0) g/cm3
ważenie hydrostatyczne g/cm3
NIE
Gęstość
Gęstość cieczy
Areometr szklany
W
gęstość cieczy
(0,00002 ÷ 0,001)
(0,5 ÷ 2,5) g/cm3
3
ważenie hydrostatyczne g/cm
Masa i wielkości
pochodne
Gęstość
Gęstość cieczy
Termoareometr
szklany
W
gęstość cieczy
M5-88
Masa i wielkości
pochodne
Gęstość
Gęstość cieczy
Gęstościomierz
oscylacyjny,
w jednej temperaturze,
w GUM
W
M5-89
Masa i wielkości
pochodne
Gęstość
Gęstość cieczy
Gęstościomierz
oscylacyjny,
w jednej temperaturze,
w miejscu ustawienia
W
W
gęstość cieczy
M5-83
Masa i wielkości
pochodne
Wilgotnościomierze do
ziarna zbóż
i nasion oleistych
Masa
Wilgotność ciał
stałych
M5-84
Masa i wielkości
pochodne
Gęstość
Ciało stałe, w jednej
Gęstość ciała stałego
temperaturze
M5-85
Masa i wielkości
pochodne
Gęstość
M5-86
Masa i wielkości
pochodne
M5-87
W
M55
GUM
G
M55
1075,00
TAK
GUM
G
M55
154,00
(0,00002 ÷ 0,001)
(0,5 ÷ 2,5) g/cm3
ważenie hydrostatyczne g/cm3
TAK
GUM
G
M55
262,00
gęstość cieczy
(0,6 ÷ 2,0) g/cm3
gęstościomierz
oscylacyjny
(0,00002 ÷ 0,001)
g/cm3
NIE
GUM
G
M55
631,00
gęstość cieczy
(0,6 ÷ 2,0) g/cm3
gęstościomierz
oscylacyjny
(0,00002 ÷ 0,001)
g/cm3
NIE
GUM
P
M55
813,00
NIE
GUM
P
M55
*Cena za
wzorcowanie w
1300,00 dodatkowych
punktach wg stawki
godzinowej.
(1 ÷ 1000) cm3
grawimetryczna
(0,001 ÷ 0,1) cm3
NIE
GUM
G
M55
1042,00
gęstość cieczy
(0,6 ÷ 1,7) g/cm3
gęstościomierz
oscylacyjny
0,00005 g/cm3
NIE
GUM
G
M55
130,00
gęstość cieczy
(0,6 ÷ 1,7) g/cm3
gęstościomierz
oscylacyjny
0,00005 g/cm3
TAK
GUM
G
M55
100,00
gęstość cieczy
(0,6 ÷ 2,0) g/cm3
(0,00002 ÷ 0,001)
gęstościomierz
oscylacyjny albo ważenie g/cm3
hydrostatyczne
TAK
GUM
G
M55
150,00
Gęstość cieczy
M5-91
Masa i wielkości
pochodne
Gęstość
Gęstość cieczy
Piknometr
W
pojemność
Gęstość cieczy
Certyfikowany materiał
odniesienia – ciekły
wzorzec gęstości,
w zakresie
temperatury
(15÷50) °C
M
Gęstość cieczy
Certyfikowany materiał
odniesienia – ciekły
wzorzec gęstości,
w zakresie
temperatury
(15÷25) °C
M
Gęstość cieczy
Ciecz, w jednej
temperaturze
Masa i wielkości
pochodne
M5-94
Masa i wielkości
pochodne
Gęstość
Gęstość
W
W kosztach
wzorcowania
uwzględniono koszt
CRM
(0,0001 ÷ 0,001)
3
g/cm
Gęstość
M5-93
4)
realizację usługi
G
M5-90
Gęstość
G
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
Wykonanie pomiarów
o niepewności
mniejszej niż 0,0001
202,00
g/cm3 wymaga
indywidualnej
kalkulacji ceny
Masa i wielkości
pochodne
Masa i wielkości
pochodne
GUM
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
650,00
Gęstościomierz
przepływowy
w miejscu ustawienia,
w jednym punkcie
M5-92
NIE
Uwagi dot.
wzorcowania
M54
(0,6 ÷ 2,0) g/cm3
gęstościomierz
oscylacyjny lub
piknometr ciśnieniowy
0,1% (wilgotności)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Strona 149
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
Masa i wielkości
pochodne
Gęstość
Gęstość cieczy
Waga hydrostatyczna
do pomiaru gęstości
cieczy
W
gęstość cieczy
(0,6 ÷ 2,0) g/cm
gęstościomierz
oscylacyjny
M5-96
Masa i wielkości
pochodne
Gęstość
Gęstość cieczy
Przyrząd do pomiaru
gęstości
z zewnętrzną sondą
pomiarową,
w jednej temperaturze
W
gęstość cieczy
(0,6 ÷ 2,0) g/cm3
gęstościomierz
oscylacyjny
M5-97
Masa i wielkości
pochodne
Gęstość
Napięcie
powierzchniowe
cieczy
Certyfikowany materiał
odniesienia – ciekły
wzorzec napięcia
powierzchniowego, w
jednej temperaturze
M5-98
Masa i wielkości
pochodne
Lepkość
Lepkość cieczy
M5-99
Masa i wielkości
pochodne
Lepkość
M5-100
Masa i wielkości
pochodne
M5-101
Masa i wielkości
pochodne
M5-102
Masa i wielkości
pochodne
M5-103
Masa i wielkości
pochodne
M5-104
Masa i wielkości
pochodne
Lepkość
Lepkość
Lepkość
Lepkość
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
3
M5-95
Lepkość
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
(0,0001 ÷ 0,001)
g/cm3
NIE
GUM
G, P
M55
678,00
(0,0005 ÷ 0,001)
3
g/cm
NIE
GUM
G
M55
631,00
M
(18 ÷ 65) mN/m
napięcie powierzchniowe
tensjometryczna lub
(0,1 ÷ 0,2) mN/m
cieczy
wzniesienia kapilarnego
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M55
90,00
Certyfikowany materiał
odniesienia – ciekły
wzorzec lepkości –
ciecz newtonowska, w
jednej temperaturze
M
lepkość kinematyczna
(1 ÷ 1800) mm2/s
w temperaturze 20 °C
wiskozymetr kapilarny
szklany
(0,1 ÷ 0,3)%
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M55
110,00
Lepkość cieczy
Certyfikowany materiał
odniesienia – ciekły
wzorzec lepkości –
ciecz newtonowska, w
jednej temperaturze
M
lepkość kinematyczna
(1900 ÷ 65000) mm2/s
w temperaturze 20 °C
wiskozymetr kapilarny
szklany
(0,3 ÷ 0,5)%
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M55
160,00
Lepkość cieczy
Certyfikowany materiał
odniesienia – ciekły
wzorzec lepkości –
ciecz newtonowska, w
jednej temperaturze
lepkość kinematyczna
(70000 ÷
150000) mm2/s
w temperaturze 20 °C
wiskozymetr kapilarny
szklany
(0,5 ÷ 0,7)%
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M55
260,00
Lepkość cieczy
Certyfikowany materiał
odniesienia – ciekły
wzorzec lepkości –
ciecz newtonowska, w
jednej temperaturze
lepkość kinematyczna
(1 ÷ 140) mm2/s
w temperaturze
(25 ÷ 80) °C
wiskozymetr kapilarny
szklany
(0,2 ÷ 0,3)%
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M55
310,00 100 ml
Lepkość cieczy
Certyfikowany materiał
odniesienia – ciekły
wzorzec lepkości –
ciecz newtonowska, w
jednej temperaturze
lepkość kinematyczna
2
(1 ÷ 140) mm /s
w temperaturze
(25 ÷ 80) °C
wiskozymetr kapilarny
szklany
(0,2 ÷ 0,3)%
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M55
510,00 200 ml
Lepkość cieczy
Certyfikowany materiał
odniesienia – ciekły
wzorzec lepkości –
ciecz newtonowska, w
jednej temperaturze
lepkość kinematyczna
(1 ÷ 140) mm2/s
w temperaturze
(25 ÷ 80) °C
wiskozymetr kapilarny
szklany
(0,2 ÷ 0,3)%
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M55
610,00 300 ml
Lepkość cieczy
Certyfikowany materiał
odniesienia – ciekły
wzorzec lepkości –
ciecz newtonowska, w
jednej temperaturze
lepkość kinematyczna
(1 ÷ 140) mm2/s
w temperaturze
(25 ÷ 80) °C
wiskozymetr kapilarny
szklany
(0,2 ÷ 0,3)%
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M55
710,00 400 ml
M
M
M
M
M
Strona 150
ID
Obiektu
Dziedzina
M5-105
Masa i wielkości
pochodne
M5-106
Masa i wielkości
pochodne
M5-107
Masa i wielkości
pochodne
M5-108
Masa i wielkości
pochodne
M5-109
M5-110
M5-111
M5-112
M5-113
Masa i wielkości
pochodne
Masa i wielkości
pochodne
Masa i wielkości
pochodne
Masa i wielkości
pochodne
Masa i wielkości
pochodne
Subdziedzina
Lepkość
Lepkość
Lepkość
Lepkość
Lepkość
Lepkość
Lepkość
Lepkość
Lepkość
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Lepkość cieczy
Certyfikowany materiał
odniesienia – ciekły
wzorzec lepkości –
ciecz newtonowska, w
jednej temperaturze
Lepkość cieczy
Certyfikowany materiał
odniesienia – ciekły
wzorzec lepkości –
ciecz newtonowska, w
jednej temperaturze
Lepkość cieczy
Certyfikowany materiał
odniesienia – ciekły
wzorzec lepkości –
ciecz newtonowska, w
jednej temperaturze
Lepkość cieczy
Certyfikowany materiał
odniesienia – ciekły
wzorzec lepkości –
ciecz newtonowska, w
jednej temperaturze
Lepkość cieczy
Certyfikowany materiał
odniesienia – ciekły
wzorzec lepkości –
ciecz newtonowska, w
jednej temperaturze
Lepkość cieczy
Certyfikowany materiał
odniesienia – ciekły
wzorzec lepkości –
ciecz newtonowska, w
jednej temperaturze
Lepkość cieczy
Certyfikowany materiał
odniesienia – ciekły
wzorzec lepkości –
ciecz newtonowska, w
jednej temperaturze
Lepkość cieczy
Certyfikowany materiał
odniesienia – ciekły
wzorzec lepkości –
ciecz newtonowska, w
jednej temperaturze
Lepkość cieczy
Certyfikowany materiał
odniesienia – ciekły
wzorzec lepkości –
ciecz newtonowska, w
jednej temperaturze
M
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
lepkość kinematyczna
(1 ÷ 140) mm2/s
w temperaturze
(25 ÷ 80) °C
wiskozymetr kapilarny
szklany
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
(0,2 ÷ 0,3)%
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M55
810,00 500 ml
lepkość kinematyczna
(1 ÷ 140) mm /s
w temperaturze
(25 ÷ 80) °C
wiskozymetr kapilarny
szklany
(0,2 ÷ 0,3)%
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M55
910,00 600 ml
lepkość kinematyczna
(150 ÷ 2000) mm2/s
w temperaturze
(25 ÷ 80) °C
wiskozymetr kapilarny
szklany
(0,3 ÷ 0,5)%
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M55
310,00 100 ml
lepkość kinematyczna
(150 ÷ 2000) mm2/s
w temperaturze
(25 ÷ 80) °C
wiskozymetr kapilarny
szklany
(0,3 ÷ 0,5)%
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M55
510,00 200 ml
lepkość kinematyczna
(150 ÷ 2000) mm2/s
w temperaturze
(25 ÷ 80) °C
wiskozymetr kapilarny
szklany
(0,3 ÷ 0,5)%
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M55
610,00 300 ml
lepkość kinematyczna
(2100 ÷ 90000) mm /s w
temperaturze
(0,5 ÷ 0,7)%
(25 ÷ 80) °C
wiskozymetr kapilarny
szklany
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M55
310,00 100 ml
lepkość kinematyczna
(150 ÷ 2000) mm2/s
w temperaturze
(25 ÷ 80) °C
wiskozymetr kapilarny
szklany
(0,3 ÷ 0,5)%
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M55
710,00 400 ml
lepkość kinematyczna
(150 ÷ 2000) mm /s
w temperaturze
(25 ÷ 80) °C
wiskozymetr kapilarny
szklany
(0,3 ÷ 0,5)%
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M55
810,00 500 ml
lepkość kinematyczna
(150 ÷ 2000) mm2/s
w temperaturze
(25 ÷ 80) °C
wiskozymetr kapilarny
szklany
(0,3 ÷ 0,5)%
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M55
910,00 600 ml
2
M
M
M
M
2
M
M
2
M
M
Strona 151
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Lepkość cieczy
Certyfikowany materiał
odniesienia – ciekły
wzorzec lepkości –
ciecz newtonowska, w
jednej temperaturze
Lepkość
Lepkość cieczy
Certyfikowany materiał
odniesienia – ciekły
wzorzec lepkości –
ciecz newtonowska, w
jednej temperaturze
Lepkość
Wiskozymetr
kapilarny
Wiskozymetr
Ubbelohdego
Lepkość cieczy
Certyfikowany materiał
odniesienia – ciekły
wzorzec lepkości –
ciecz newtonowska, w
jednej temperaturze
Lepkość cieczy
Certyfikowany materiał
odniesienia – ciekły
wzorzec lepkości –
ciecz newtonowska, w
jednej temperaturze
Lepkość
Lepkość cieczy
Certyfikowany materiał
odniesienia – ciekły
wzorzec lepkości –
ciecz newtonowska, w
jednej temperaturze
Masa i wielkości
pochodne
Lepkość
Wiskozymetr
kapilarny
M5-121
Masa i wielkości
pochodne
Lepkość
M5-122
Masa i wielkości
pochodne
M5-123
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
lepkość kinematyczna
(2100 ÷ 90000) mm2/s
w temperaturze
(25 ÷ 80) °C
wiskozymetr kapilarny
szklany
M
W
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
(0,5 ÷ 0,7)%
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M55
510,00 200 ml
lepkość kinematyczna
(2100 ÷ 90000) mm /s
w temperaturze
(25 ÷ 80) °C
wiskozymetr kapilarny
szklany
(0,5 ÷ 0,7)%
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M55
610,00 300 ml
lepkość kinematyczna
2 2
(0,003 ÷ 100) mm /s
w temperaturze 20°C
(0,1 ÷ 0,4)%
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M55
715,00
lepkość kinematyczna
(2100 ÷ 90000) mm2/s
w temperaturze
(25 ÷ 80) °C
wiskozymetr kapilarny
szklany
(0,5 ÷ 0,7)%
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M55
710,00 400 ml
lepkość kinematyczna
(2100 ÷ 90000) mm2/s
w temperaturze
(25 ÷ 80) °C
wiskozymetr kapilarny
szklany
(0,5 ÷ 0,7)%
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M55
810,00 500 ml
M
lepkość kinematyczna
(2100 ÷ 90000) mm2/s
w temperaturze
(25 ÷ 80) °C
wiskozymetr kapilarny
szklany
(0,5 ÷ 0,7)%
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M55
910,00 600 ml
Wiskozymetr CannonFenske
W
lepkość kinematyczna
(0,003 ÷ 100) mm2/s2
w temperaturze 20°C
(0,1 ÷ 0,4)%
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M55
962,00
Wiskozymetr
kapilarny
Wiskozymetr CannonFenske dla cieczy
nieprzezroczystych
W
lepkość kinematyczna
(0,003 ÷ 100) mm2/s2
w temperaturze 20°C
(0,1 ÷ 0,4)%
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M55
962,00
Lepkość
Wiskozymetr
kapilarny
Wiskozymetr
Pinkiewicza
W
lepkość kinematyczna
(0,003 ÷ 100) mm2/s2
w temperaturze 20°C
(0,1 ÷ 0,4)%
TAK
G
M55
715,00
Masa i wielkości
pochodne
Lepkość
Wiskozymetr
kapilarny
Wiskozymetr typu
U-rurka
W
lepkość kinematyczna
(0,003 ÷ 100) mm2/s2
w temperaturze 20°C
(0,1 ÷ 0,4)%
TAK
G
M55
715,00
M5-124
Masa i wielkości
pochodne
Lepkość
Wiskozymetr
kapilarny
Wiskozymetr typu
U-rurka z odwrotnym
przepływem
W
lepkość kinematyczna
(0,003 ÷ 100) mm /s
w temperaturze 20°C
(0,1 ÷ 0,4)%
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M55
962,00
M5-125
Masa i wielkości
pochodne
Lepkość
Wiskozymetr
kapilarny
Kubek wypływowy
W
lepkość kinematyczna
w temperaturze 20 °C
wiskozymetr kapilarny
(0,5 ÷ 5)%
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M55
819,00 jedna dysza
(0,1 ÷ 0,7)%
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M55
M5-114
Masa i wielkości
pochodne
M5-115
Masa i wielkości
pochodne
M5-116
Masa i wielkości
pochodne
M5-117
Masa i wielkości
pochodne
M5-118
Masa i wielkości
pochodne
M5-119
Masa i wielkości
pochodne
M5-120
Lepkość
Lepkość
Lepkość
M
2
M
M
2
2
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
2
M5-126
Masa i wielkości
pochodne
Lepkość
Pomiar lepkości
Ciecz niutonowska, w
cieczy niutonowskich jednej temperaturze
W
lepkość kinematyczna
(1 ÷ 150000) mm /s
w temperaturze 20 °C
wiskozymetr kapilarny
szklany
Strona 152
1092,00
ID
Obiektu
M5-127
Dziedzina
Masa i wielkości
pochodne
Subdziedzina
Lepkość
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wiskozymetr kulkowy Wiskozymetr Höpplera
W
Wzorcowanie wielkość mierzona
lepkość dynamiczna
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
(1÷ 1800) mPa•s
w temperaturze 20 °C
(0,2 ÷ 0,3)%
CMC
TAK
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
M55
Każda z kulek 1-4;
następna wzorcowana
kulka 4 rbg x stawka
780,00 za rbg, wyznaczenie
gęstości i objętości
kulki 1 rbg x stawka
za rbg
M5-128
Masa i wielkości
pochodne
Lepkość
Wiskozymetr kulkowy Wiskozymetr Höpplera
W
lepkość dynamiczna
(2000 ÷ 55000) mPa•s w
(0,3 ÷ 1)%
temperaturze 20 °C
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M55
Każda z kulek 5-6;
następna wzorcowana
kulka 4 rbg x stawka
780,00 za rbg, wyznaczenie
gęstości i objętości
kulki 1 rbg x stawka
za rbg
M5-129
Masa i wielkości
pochodne
Objętość
Objętość statyczna
Kolby szklane
W
pojemność
(1 ÷ 100) ml
wagowa
(0,0001 ÷ 0,01) ml
TAK
GUM
G
M55
130,00
M5-130
Masa i wielkości
pochodne
Objętość
Objętość statyczna
Kolby szklane
W
pojemność
(200 ÷ 5000) ml
wagowa
(0,02 ÷ 0,5) ml
TAK
GUM
G
M55
241,00
M5-131
Masa i wielkości
pochodne
Objętość
Objętość statyczna
Cylindry pomiarowe
W
pojemność
(5 ÷ 100) ml
wagowa
(0,005 ÷ 0,01) ml
TAK
GUM
G
M55
M5-132
Masa i wielkości
pochodne
Objętość
Objętość statyczna
Cylindry pomiarowe
W
pojemność
(250 ÷ 2000) ml
wagowa
(0,025 ÷ 0,2) ml
TAK
GUM
G
M55
M5-133
Masa i wielkości
pochodne
Objętość
Objętość statyczna
Pipety laboratoryjne
wielomiarowe
W
pojemność
(0,5 ÷ 25) ml
wagowa
(0,0001÷
0,0025) ml
TAK
GUM
G
M55
M5-134
Masa i wielkości
pochodne
Objętość
Objętość statyczna
M5-135
Masa i wielkości
pochodne
Objętość
Objętość statyczna
M5-136
Masa i wielkości
pochodne
Objętość
Objętość statyczna
M5-137
Masa i wielkości
pochodne
Objętość
Objętość statyczna
M5-138
Masa i wielkości
pochodne
Objętość
Objętość statyczna
Pierwszy punkt
wzorcowania;
124,00 następny punkt
wzorcowania
dodatkowo 87 zł.
Pierwszy punkt
wzorcowania;
241,00 następny punkt
wzorcowania
dodatkowo 91 zł.
Pierwszy punkt
wzorcowania;
74,00 następny punkt
wzorcowania
dodatkowo 65 zł.
W
pojemność
(1 ÷ 500) ml
wagowa
(0,0001 ÷ 0,05) ml
TAK
GUM
G
M55
Pierwszy punkt
wzorcowania;
następny punkt
wzorcowania
dodatkowo 65 zł. Dla
74,00 biuret o poj. nom. od
400 ml i powyżej tej
pojemności, cena za
wzorcowanie
obliczana jest wg
stawki godzinowej.
W
pojemność
(0,5 ÷ 200) ml
wagowa
(0,0001 ÷ 0,02) ml
TAK
GUM
G
M55
61,00
W
pojemność
(50 ÷ 5000) ml
wagowa
(0,02 ÷ 2,5) ml
TAK
GUM
G
M55
403,00
Kolba metalowa
I rzędu
W
pojemność
(1000 ÷ 5000) ml
wagowa
(0,1 ÷ 0,5) ml
TAK
GUM
G
M55
585,00
Kolba metalowa
II rzędu
W
pojemność
(1000 ÷ 5000) ml
wagowa
(0,1 ÷ 0,5) ml
TAK
GUM
G
M55
520,00
Biurety
Pipety laboratoryjne
jednomiarowe
Pojemniki
przeznaczone do
pomiaru
i sprawdzania
objętości cieczy
Strona 153
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
M5-139
Masa i wielkości
pochodne
Objętość
Objętość statyczna
M5-140
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Komórki punktów
stałych
M5-141
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Komórki punktów
stałych
M5-142
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Komórki punktów
stałych
M5-143
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Komórki punktów
stałych
M5-144
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Komórki punktów
stałych
M5-145
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Komórki punktów
stałych
M5-146
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Komórki punktów
stałych
M5-147
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Komórki punktów
stałych
M5-148
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Komórki punktów
stałych
M5-149
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Wzorcowe platynowe
czujniki termometrów
rezystancyjnych
(SPRT)
M5-150
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
M5-151
Temperatura
i wilgotność
M5-152
Temperatura
i wilgotność
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Pipety tłokowe
jednokanałowe
o zmiennej i stałej
objętości
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
Wzorcowanie trzech
punktów pomiarowych
dla pipet tłokowych
o zmiennej objętości.
74,00 Dla pipet tłokowych o
stałej objętości, cena
za wzorcowanie
obliczana jest wg
stawki godzinowej.
W
objętość cieczy/µl
(1 ÷ 10 000) µl
(0,025 ÷ 15) µl
NIE
GUM
G
M55
W
temperatura
punkt potrójny Ar
0,90 mK
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M52
5200,00
W
temperatura
punkt potrójny H2O
0,11 mK
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M52
1820,00
W
temperatura
punkt potrójny Hg
0,7 mK
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M52
2483,00
W
temperatura
punkt topnienia Ga
0,6 mK
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M52
2483,00
W
temperatura
punkt krzepnięcia In
1,75 mK
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M52
2483,00
W
temperatura
punkt krzepnięcia Sn
1,3 mK
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M52
2483,00
W
temperatura
punkt krzepnięcia Zn
1,5 mK
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M52
2483,00
W
temperatura
punkt krzepnięcia Al.
3,8 mK
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M52
3380,00
W
temperatura
punkt krzepnięcia Ag
4,6 mK
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M52
3380,00
Wzorcowy platynowy
czujnik termometru
rezystancyjnego
(SPRT) - długi
W
temperatura
w punkcie potrójnym
H2O (0,01 °C)
0,22 mK
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M52
494,00
Wzorcowe platynowe
czujniki termometrów
rezystancyjnych
(SPRT)
Wzorcowy platynowy
czujnik termometru
rezystancyjnego
(SPRT) - długi
W
temperatura
w punkcie potrójnym
Ar (-189,3442 °C)
Ar (1,1 mK)
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M52
1950,00
Temperatura realizacja MST-90
Wzorcowe platynowe
czujniki termometrów
rezystancyjnych
(SPRT)
Wzorcowy platynowy
czujnik termometru
rezystancyjnego
(SPRT) - długi
W
temperatura
w punkcie potrójnym
Hg (-38,8344 °C)
Hg (0,95mK)
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M52
819,00
Temperatura realizacja MST-90
Wzorcowe platynowe
czujniki termometrów
rezystancyjnych
(SPRT)
Wzorcowy platynowy
czujnik termometru
rezystancyjnego
(SPRT) - długi
W
temperatura
w punkcie topnienia
Ga (29,7646 °C)
Ga (0,85mK)
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M52
819,00
Komórka punktu
stałego (dla
termometrii
kontaktowej)
Komórka punktu
stałego (dla
termometrii
kontaktowej)
Komórka punktu
stałego (dla
termometrii
kontaktowej)
Komórka punktu
stałego (dla
termometrii
kontaktowej)
Komórka punktu
stałego (dla
termometrii
kontaktowej)
Komórka punktu
stałego (dla
termometrii
kontaktowej)
Komórka punktu
stałego (dla
termometrii
kontaktowej)
Komórka punktu
stałego (dla
termometrii
kontaktowej)
Komórka punktu
stałego (dla
termometrii
kontaktowej)
Strona 154
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
z wygrzewaniem
stabilizacyjnym
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
M5-153
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Wzorcowe platynowe
czujniki termometrów
rezystancyjnych
(SPRT)
Wzorcowy platynowy
czujnik termometru
rezystancyjnego
(SPRT) - długi
W
temperatura
w punkcie krzepnięcia
In (156,5985 °C)
In (1,8 mK)
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M52
1209,00
M5-154
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Wzorcowe platynowe
czujniki termometrów
rezystancyjnych
(SPRT)
Wzorcowy platynowy
czujnik termometru
rezystancyjnego
(SPRT) - długi
W
temperatura
w punkcie krzepnięcia
Sn (231,928 °C)
Sn (1,45 mK)
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M52
1209,00
M5-155
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Wzorcowe platynowe
czujniki termometrów
rezystancyjnych
(SPRT)
Wzorcowy platynowy
czujnik termometru
rezystancyjnego
(SPRT) - długi
W
temperatura
w punkcie krzepnięcia
Zn (419,527 °C)
Zn (1,65 mK)
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M52
1209,00
M5-156
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Wzorcowe platynowe
czujniki termometrów
rezystancyjnych
(SPRT)
Wzorcowy platynowy
czujnik termometru
rezystancyjnego
(SPRT) - długi
W
temperatura
w punkcie krzepnięcia
Al (660,323 °C)
Al. (3,95 mK)
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M52
1534,00
M5-157
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Wzorcowe platynowe
czujniki termometrów
rezystancyjnych
(SPRT)
Wzorcowy platynowy
czujnik termometru
rezystancyjnego
(SPRT) - długi
W
temperatura
w punkcie krzepnięcia
Ag (961,78 °C)
Ag (4,90 mK)
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M52
1534,00
M5-158
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Wzorcowe platynowe
czujniki termometrów
rezystancyjnych
(SPRT)
Wzorcowy platynowy
czujnik termometru
rezystancyjnego
(SPRT) - długi
W
temperatura
w punktach stałych:
Ar, Hg, H2O
Ar (1,1 mK),
Hg (0,95 mK),
H2O (0,22 mK)
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M52
3159,00
M5-159
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Wzorcowe platynowe
czujniki termometrów
rezystancyjnych
(SPRT)
Wzorcowy platynowy
czujnik termometru
rezystancyjnego
(SPRT) - długi
W
temperatura
w punktach stałych:
Ar, Hg, H2O, Ga
Ar (1,1 mK),
Hg (0,95 mK),
H2O (0,22 mK),
Ga (0,85 mK)
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M52
3874,00
M5-160
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Wzorcowe platynowe
czujniki termometrów
rezystancyjnych
(SPRT)
Wzorcowy platynowy
czujnik termometru
rezystancyjnego
(SPRT) - długi
W
temperatura
w punktach stałych:
Ar, Hg, H2O, In
Ar (1,1 mK),
Hg (0,95 mK),
H2O (0,22 mK),
In (1,8 mK)
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M52
4264,00
M5-161
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Wzorcowe platynowe
czujniki termometrów
rezystancyjnych
(SPRT)
Wzorcowy platynowy
czujnik termometru
rezystancyjnego
(SPRT) - długi
W
temperatura
w punktach stałych:
Ar, Hg, H2O, In, Sn
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M52
5369,00
M5-162
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Wzorcowe platynowe
czujniki termometrów
rezystancyjnych
(SPRT)
Wzorcowy platynowy
czujnik termometru
rezystancyjnego
(SPRT) - długi
W
temperatura
w punktach stałych:
Ar, Hg, H2O, Sn, Zn
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M52
5369,00
M5-163
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Wzorcowe platynowe
czujniki termometrów
rezystancyjnych
(SPRT)
Wzorcowy platynowy
czujnik termometru
rezystancyjnego
(SPRT) - długi
W
temperatura
w punktach stałych:
Ar, Hg, H2O, Sn, Zn, Al
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M52
6799,00
M5-164
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Wzorcowe platynowe
czujniki termometrów
rezystancyjnych
(SPRT)
Wzorcowy platynowy
czujnik termometru
rezystancyjnego
(SPRT) - długi
W
temperatura
w punktach stałych:
Hg, H2O, Ga
Hg (0,95 mK),
H2O (0,22 mK),
Ga (0,85 mK)
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M52
1924,00
M5-165
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Wzorcowe platynowe
czujniki termometrów
rezystancyjnych
(SPRT)
Wzorcowy platynowy
czujnik termometru
rezystancyjnego
(SPRT) - długi
W
temperatura
w punktach stałych:
Hg, H2O, Ga, In
Hg (0,95 mK),
H2O (0,22 mK),
Ga (0,85 mK),
In (1,8 mK)
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M52
3029,00
Ar (1,1 mK),
Hg (0,95 mK),
H2O (0,22 mK),
In (1,8 mK),
Sn (1,45 mK)
Ar (1,1 mK),
Hg (0,95 mK),
H2O (0,22 mK),
Sn (1,45 mK),
Zn (1,65 mK)
Ar (1,1 mK),
Hg (0,95 mK),
H2O (0,22 mK),
Sn (1,45 mK),
Zn (1,65 mK),
Al (3,95 mK)
Strona 155
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
M5-166
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Wzorcowe platynowe
czujniki termometrów
rezystancyjnych
(SPRT)
Wzorcowy platynowy
czujnik termometru
rezystancyjnego
(SPRT) - długi
W
temperatura
w punktach stałych:
Hg, H2O, Ga, In, Sn
M5-167
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Wzorcowe platynowe
czujniki termometrów
rezystancyjnych
(SPRT)
Wzorcowy platynowy
czujnik termometru
rezystancyjnego
(SPRT) - długi
W
temperatura
w punktach stałych:
Hg, H2O, Ga, Sn, Zn
M5-168
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Wzorcowe platynowe
czujniki termometrów
rezystancyjnych
(SPRT)
Wzorcowy platynowy
czujnik termometru
rezystancyjnego
(SPRT) - długi
W
temperatura
w punktach stałych:
Hg, H2O, Ga, Sn, Zn, Al
M5-169
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Wzorcowe platynowe
czujniki termometrów
rezystancyjnych
(SPRT)
Wzorcowy platynowy
czujnik termometru
rezystancyjnego
(SPRT) - długi
W
temperatura
M5-170
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Wzorcowe platynowe
czujniki termometrów
rezystancyjnych
(SPRT)
Wzorcowy platynowy
czujnik termometru
rezystancyjnego
(SPRT) - długi
W
M5-171
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Wzorcowe platynowe
czujniki termometrów
rezystancyjnych
(SPRT)
Wzorcowy platynowy
czujnik termometru
rezystancyjnego
(SPRT) - długi
M5-172
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Wzorcowe platynowe
czujniki termometrów
rezystancyjnych
(SPRT)
M5-173
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
M5-174
Temperatura
i wilgotność
M5-175
Hg (0,95 mK),
H2O (0,22 mK),
Ga (0,85 mK),
In (1,8 mK),
Sn (1,45 mK)
Hg (0,95 mK),
H2O (0,22 mK),
Ga (0,85 mK),
Sn (1,45 mK),
Zn (1,65 mK)
Hg (0,95mK),
H2O (0,22 mK),
Ga (0,85 mK),
Sn (1,45 mK),
Zn (1,65 mK),
Al (3,95 mK)
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M52
4134,00
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M52
4134,00
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M52
5564,00
w punktach stałych: H2O, H2O (0,22 mK),
Ga (0,85 mK)
Ga
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M52
1209,00
temperatura
w punktach stałych: H2O, H2O (0,22 mK),
In
In (1,8 mK)
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M52
1599,00
W
temperatura
H O (0,22 mK),
w punktach stałych: H2O, 2
In (1,8 mK),
In, Sn
Sn (1,45 mK)
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M52
2704,00
Wzorcowy platynowy
czujnik termometru
rezystancyjnego
(SPRT) - długi
W
temperatura
H O (0,22 mK),
w punktach stalych: H2O, 2
Sn (1,45 mK),
Sn, Zn
Zn (1,65 mK)
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M52
2704,00
Wzorcowe platynowe
czujniki termometrów
rezystancyjnych
(SPRT)
Wzorcowy platynowy
czujnik termometru
rezystancyjnego
(SPRT) - długi
W
temperatura
H2O (0,22 mK),
w punktach stalych: H2O, Sn (1,45 mK),
Sn, Zn, Al
Zn (1,65 mK),
Al (3,95 mK)
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M52
4134,00
Temperatura realizacja MST-90
Wzorcowe platynowe
czujniki termometrów
rezystancyjnych
(SPRT)
Wzorcowy platynowy
czujnik termometru
rezystancyjnego
(SPRT) - długi
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M52
5564,00
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
G
M52
273,00
M5-176
Temperatura
i wilgotność
G
M52
390,00
M5-177
G
M52
507,00
G
M52
624,00
G
M52
741,00
G
M52
273,00
G
M52
208,00
H2O (0,22 mK),
w punktach stalych: H2O, Sn (1,45 mK),
Zn (1,65 mK),
Sn, Zn, Al., Ag
Al (3,95 mK),
Ag (4,90 mK)
1 punkt w zakresie
(-80 ÷ 550) °C,
(od 0,01 do 0,2) °C
metoda porównawcza
2 punkty w zakresie
(-80 ÷ 550) °C,
(od 0,01 do 0,2) °C
metoda porównawcza
3 punkty w zakresie
(-80 ÷ 550) °C,
(od 0,01 do 0,2) °C
metoda porównawcza
4 punkty w zakresie
(-80 ÷ 550) °C,
(od 0,01 do 0,2) °C
metoda porównawcza
5 punktów w zakresie
(-80 ÷ 550) °C,
(od 0,01 do 0,2) °C
metoda porównawcza
W
temperatura
Czujniki termometrów Czujnik termometru
rezystancyjnych
rezystancyjnego
W
temperatura
Temperatura realizacja MST-90
Czujniki termometrów Czujnik termometru
rezystancyjnych
rezystancyjnego
W
temperatura
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Czujniki termometrów Czujnik termometru
rezystancyjnych
rezystancyjnego
W
temperatura
M5-178
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Czujniki termometrów Czujnik termometru
rezystancyjnych
rezystancyjnego
W
temperatura
M5-179
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Czujniki termometrów Czujnik termometru
rezystancyjnych
rezystancyjnego
W
temperatura
M5-180
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Czujniki termometrów Czujnik termometru
rezystancyjnych
rezystancyjnego
W
temperatura
w punkcie potrójnym H2O
0,005 °C
(0,01 °C)
TAK
M5-181
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Czujniki termometrów Czujnik termometru
rezystancyjnych
rezystancyjnego
W
temperatura
w punkcie topnienia lodu
0,02 °C
(0,0 °C)
TAK
Strona 156
TAK
TAK
TAK
TAK
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
w punktach stałych:
Al (660,323 °C),
Ag (961,78 °C) lub
Au (1064,18 °C) lub
Cu (1084,62 °C),
Pd (1553,5 °C)
w punktach stałych:
Zn (419,527 °C),
Al (660,323 °C),
Au (1064,18 °C) lub
Cu (1084,62 °C)
w punktach stałych:
Zn (419,527 °C),
Al (660,323 °C),
Ag (961,78 °C),
Au (1064,18 °C) lub
Cu (1084,62 °C)
CMC
M5-182
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Termoelementy
Termoelementy
z metali szlachetnych
(typ B)
W
temperatura
M5-183
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Termoelementy
Termoelementy
z metali szlachetnych
(typ S, R)
W
temperatura
M5-184
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Termoelementy
Termoelementy
z metali szlachetnych
(typ S, R)
W
temperatura
M5-185
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Termoelementy
Termoelementy
z metali szlachetnych
(typ B)
W
temperatura
M5-186
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Termometry szklane
cieczowe
Termometr szklany
cieczowy
W
temperatura
M5-187
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Termometry szklane
cieczowe
Termometr szklany
cieczowy
W
temperatura
M5-188
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Termometry szklane
cieczowe
Termometr szklany
cieczowy
W
temperatura
M5-189
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Termometry szklane
cieczowe
Termometr szklany
cieczowy
W
temperatura
M5-190
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Termometry szklane
cieczowe
Termometr szklany
cieczowy
W
temperatura
M5-191
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Termometry szklane
cieczowe
Termometr szklany
cieczowy
W
temperatura
M5-192
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Termometry szklane
cieczowe
Termometr szklany
cieczowy
W
temperatura
M5-193
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Termometry szklane
cieczowe
Termometr szklany
cieczowy
W
temperatura
M5-194
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Termometry szklane
cieczowe
Termometr szklany
cieczowy
W
temperatura
M5-195
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Termometry szklane
cieczowe
Termometr szklany
cieczowy
W
temperatura
10 punktów w zakresie
(-80 ÷ 550) °C,
metoda porównawcza
M5-196
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Termometry szklane
cieczowe
Termometr szklany
cieczowy
W
temperatura
w punkcie potrójnym H2O
0,005 °C
(0,01 °C)
TAK
M5-197
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Termometry szklane
cieczowe
Termometr szklany
cieczowy
W
temperatura
w punkcie topnienia lodu
0,02 °C
(0,0 °C)
TAK
M5-198
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Termometry
Termometr elektryczny
elektryczne (cyfrowe) (cyfrowy)
W
temperatura
M5-199
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Termometry
Termometr elektryczny
elektryczne (cyfrowe) (cyfrowy)
W
temperatura
M5-200
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Termometry
Termometr elektryczny
elektryczne (cyfrowe) (cyfrowy)
W
temperatura
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
Al, Ag, Au, Cu
(0,4 °C),
Pd (1,5 °C)
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M52
2340,00
Zn, Al (0,18 °C),
Au, Cu (0,2 °C)
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M52
2145,00
Zn, Al, Ag (0,18 °C),
Au, Cu (0,2 °C)
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M52
2795,00
w punkcie stałym Pd
(1553,5 °C)
1,5 °C
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M52
1040,00
1 punkt w zakresie
(-80 ÷ 550) °C,
metoda porównawcza
(od 0,02 do 0,2) °C
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M52
247,00
(od 0,02 do 0,2) °C
TAK
G
M52
364,00
(od 0,02 do 0,2) °C
TAK
G
M52
481,00
(od 0,02 do 0,2) °C
TAK
G
M52
598,00
(od 0,02 do 0,2) °C
TAK
G
M52
715,00
(od 0,02 do 0,2) °C
TAK
G
M52
832,00
(od 0,02 do 0,2) °C
TAK
G
M52
949,00
(od 0,02 do 0,2) °C
TAK
G
M52
1066,00
(od 0,02 do 0,2) °C
TAK
G
M52
1183,00
(od 0,02 do 0,2) °C
TAK
G
M52
1300,00
G
M52
286,00
G
M52
208,00
G
M52
234,00
G
M52
364,00
G
M52
494,00
2 punkty w zakresie
(-80 ÷ 550) °C,
metoda porównawcza
3 punkty w zakresie
(-80 ÷ 550) °C,
metoda porównawcza
4 punkty w zakresie
(-80 ÷ 550) °C,
metoda porównawcza
5 punktów w zakresie
(-80 ÷ 550) °C,
metoda porównawcza
6 punktów w zakresie
(-80 ÷ 550) °C,
metoda porównawcza
7 punktów w zakresie
(-80 ÷ 550) °C,
metoda porównawcza
8 punktów w zakresie
(-80 ÷ 550) °C,
metoda porównawcza
9 punktów w zakresie
(-80 ÷ 550) °C,
metoda porównawcza
1 punkt w zakresie
(-80 ÷ 550) °C,
metoda porównawcza
2 punkty w zakresie
(-80 ÷ 550) °C,
metoda porównawcza
3 punkty w zakresie
(-80 ÷ 550) °C,
metoda porównawcza
(od 0,02 do 0,2) °C
TAK
(od 0,02 do 0,2) °C
TAK
(od 0,02 do 0,2) °C
TAK
Strona 157
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
metoda drutowa
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
4 punkty w zakresie
(-80 ÷ 550) °C,
metoda porównawcza
5 punktów w zakresie
(-80 ÷ 550) °C,
metoda porównawcza
6 punktów w zakresie
(-80 ÷ 550) °C,
metoda porównawcza
7 punktów w zakresie
(-80 ÷ 550) °C,
metoda porównawcza
8 punktów w zakresie
(-80 ÷ 550) °C,
metoda porównawcza
9 punktów w zakresie
(-80 ÷ 550) °C,
metoda porównawcza
CMC
M5-201
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Termometr elektryczny
Termometry
elektryczne (cyfrowe) (cyfrowy)
W
temperatura
M5-202
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Termometr elektryczny
Termometry
elektryczne (cyfrowe) (cyfrowy)
W
temperatura
M5-203
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Termometry
Termometr elektryczny
elektryczne (cyfrowe) (cyfrowy)
W
temperatura
M5-204
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Termometry
Termometr elektryczny
elektryczne (cyfrowe) (cyfrowy)
W
temperatura
M5-205
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Termometr elektryczny
Termometry
elektryczne (cyfrowe) (cyfrowy)
W
temperatura
M5-206
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Termometry
Termometr elektryczny
elektryczne (cyfrowe) (cyfrowy)
W
temperatura
M5-207
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Termometry
Termometr elektryczny
elektryczne (cyfrowe) (cyfrowy)
W
temperatura
10 punktów w zakresie
(-80 ÷ 550) °C,
metoda porównawcza
M5-208
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Termometr elektryczny
Termometry
elektryczne (cyfrowe) (cyfrowy)
W
temperatura
w punkcie potrójnym H2O
0,005 °C
(0,01 °C)
TAK
M5-209
Temperatura
i wilgotność
Temperatura realizacja MST-90
Termometry
Termometr elektryczny
elektryczne (cyfrowe) (cyfrowy)
W
temperatura
w punkcie topnienia lodu
0,02 °C
(0,0 °C)
TAK
M5-210
Temperatura
i wilgotność
Higrometry
Higrometry punktu
rosy
Higrometry punktu
rosy
W
temperatura punktu rosy
M5-211
Temperatura
i wilgotność
Higrometry
Higrometry punktu
rosy
Higrometry punktu
rosy
W
temperatura punktu rosy
M5-212
Temperatura
i wilgotność
Higrometry
Higrometry punktu
rosy
Higrometry punktu
rosy
W
temperatura punktu rosy
M5-213
Temperatura
i wilgotność
Higrometry
Higrometry punktu
rosy
Higrometry punktu
rosy
W
temperatura punktu rosy
M5-214
Temperatura
i wilgotność
Higrometry
Higrometry punktu
rosy
Higrometry punktu
rosy
W
temperatura punktu rosy
M5-215
Temperatura
i wilgotność
Higrometry
Higrometry punktu
rosy
Higrometry punktu
rosy
W
temperatura punktu rosy
M5-216
Temperatura
i wilgotność
Higrometry
Higrometry punktu
rosy
Higrometry punktu
rosy
W
temperatura punktu rosy
M5-217
Temperatura
i wilgotność
Higrometry
Higrometry punktu
rosy
Higrometry punktu
rosy
W
temperatura punktu rosy
M5-218
Temperatura
i wilgotność
Higrometry
Higrometry punktu
rosy
Higrometry punktu
rosy
W
temperatura punktu rosy
1 punkt w zakresie
(-50 ÷ +50) °C
na stanowisku wzorca
odniesienia
2 punkty w zakresie
(-50 ÷ +50) °C
na stanowisku wzorca
odniesienia
3 punkty w zakresie
(-50 ÷ +50) °C
na stanowisku wzorca
odniesienia
4 punkty w zakresie
(-50 ÷ +50) °C
na stanowisku wzorca
odniesienia
5 punktów i więcej
w zakresie
(-50 ÷ +50) °C na
stanowisku wzorca
odniesienia
pierwszy punkt w
zakresie <-50 °C
i >+50 °C
na stanowisku wzorca
odniesienia
2 punkty w zakresie
<-50 °C i >+50 °C
na stanowisku wzorca
odniesienia
3 punkty w zakresie
<-50 °C i >+50 °C
na stanowisku wzorca
odniesienia
4 punkty w zakresie
<-50 °C i > +50 °C
na stanowisku wzorca
odniesienia
(od 0,02 do 0,2) °C
TAK
(od 0,02 do 0,2) °C
TAK
(od 0,02 do 0,2) °C
TAK
(od 0,02 do 0,2) °C
TAK
(od 0,02 do 0,2) °C
TAK
(od 0,02 do 0,2) °C
TAK
(od 0,02 do 0,2) °C
TAK
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
G
M52
624,00
G
M52
754,00
G
M52
884,00
G
M52
1014,00
G
M52
1144,00
G
M52
1274,00
G
M52
1404,00
G
M52
247,00
G
M52
169,00
(0,03 ÷ 0,1) °C
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M54
520,00
(0,03 ÷ 0,1) °C
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M54
806,00
(0,03 ÷ 0,1) °C
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M54
1092,00
(0,03 ÷ 0,1) °C
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M54
1378,00
(0,03 ÷ 0,1) °C
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M54
1664,00
(0,3 ÷ 0,1) °C
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M54
650,00
(0,3 ÷ 0,1) °C
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M54
1066,00
(0,3 ÷ 0,1) °C
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M54
1482,00
(0,3 ÷ 0,1) °C
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M54
1898,00
Strona 158
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
M5-219
Temperatura
i wilgotność
Higrometry
Higrometry punktu
rosy
Higrometry punktu
rosy
W
temperatura punktu rosy
M5-220
Temperatura
i wilgotność
Higrometry
Higrometry punktu
rosy
Higrometry punktu
rosy
W
temperatura punktu rosy
M5-221
Temperatura
i wilgotność
Higrometry
Higrometry punktu
rosy
Higrometry punktu
rosy
W
temperatura punktu rosy
M5-222
Temperatura
i wilgotność
Higrometry
Higrometry punktu
rosy
Higrometry punktu
rosy
W
temperatura punktu rosy
M5-223
Temperatura
i wilgotność
Higrometry
Higrometry punktu
rosy
Higrometry punktu
rosy
W
temperatura punktu rosy
M5-224
Temperatura
i wilgotność
Higrometry
Higrometry punktu
rosy
Higrometry punktu
rosy
W
temperatura punktu rosy
M5-225
Temperatura
i wilgotność
Higrometry
Higrometry punktu
rosy
Higrometry punktu
rosy
W
temperatura punktu rosy
M5-226
Temperatura
i wilgotność
Higrometry
Higrometry punktu
rosy
Higrometry punktu
rosy
W
temperatura punktu rosy
M5-227
Temperatura
i wilgotność
Higrometry
Higrometry punktu
rosy
Higrometry punktu
rosy
W
temperatura punktu rosy
M5-228
Temperatura
i wilgotność
Higrometry
Higrometry punktu
rosy
Higrometry punktu
rosy
W
temperatura punktu rosy
M5-229
Temperatura
i wilgotność
Higrometry
Psychrometry
Psychrometry
Assmanna
W
wilgotność względna
M5-230
Temperatura
i wilgotność
Higrometry
Psychrometry
Psychrometry
Assmanna
W
wilgotność względna
M5-231
Temperatura
i wilgotność
Higrometry
Psychrometry
Psychrometry
Assmanna
W
wilgotność względna
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
5 punktów w zakresie
<-50 °C i > +50 °C
na stanowisku wzorca
odniesienia
1 punkt w zakresie
-50 °C ÷ +20 °C
przez porównanie
z higrometrem
wzorcowym
2 punkty w zakresie
-50 °C ÷ +20 °C
przez porównanie
z higrometrem
wzorcowym
3 punkty w zakresie
-50 °C ÷ +20 °C
przez porównanie
z higrometrem
wzorcowym
4 punkty w zakresie
-50 °C ÷ +20 °C
przez porównanie
z higrometrem
wzorcowym
5 punktów w zakresie
- 50 °C ÷ +20 °C
przez porównanie
z higrometrem
wzorcowym
1 punkt w zakresie
<-50 °C
przez porównanie
z higrometrem
wzorcowym
2 punkty w zakresie
<-50 °C
przez porównanie
z higrometrem
wzorcowym
3 punkty w zakresie
<-50 °C
przez porównanie
z higrometrem
wzorcowym
4 punkty w zakresie
<-50 °C
przez porównanie
z higrometrem
wzorcowym
1 punkt (0 ÷ +50) °C
przez porównanie
z wzorcowym
higrometrem punktu rosy
i wzorcowym
termometrem
2 punkty (0 ÷ +50) °C
przez porównanie
z wzorcowym
higrometrem punktu rosy
i wzorcowym
termometrem
3 punkty (0 ÷ +50) °C
przez porównanie
z wzorcowym
higrometrem punktu rosy
i wzorcowym
termometrem
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
(0,3 ÷ 0,1) °C
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M54
2314,00
(0,03 ÷ 0,1) °C
TAK
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M54
455,00
(0,3 ÷ 0,1) °C
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M54
741,00
(0,3 ÷ 0,1) °C
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M54
1027,00
(0,3 ÷ 0,1) °C
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M54
1313,00
(0,3 ÷ 0,1) °C
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M54
1599,00
(0,3 ÷ 0,1) °C
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M54
650,00
(0,3 ÷ 0,1) °C
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M54
1066,00
(0,3 ÷ 0,1) °C
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M54
1482,00
(0,3 ÷ 0,1) °C
NIE
GUM
(WZORZEC
PIERWOTNY)
G
M54
1898,00
1%, 0,1 °C
NIE
GUM
G
M54
364,00
1%, 0,1 °C
NIE
GUM
G
M54
598,00
1%, 0,1 °C
NIE
GUM
G
M54
832,00
Strona 159
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
ID
Obiektu
Dziedzina
Subdziedzina
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Wzorcowanie wielkość mierzona
M5-232
Temperatura
i wilgotność
Higrometry
Psychrometry
Psychrometry
Assmanna
W
wilgotność względna
M5-233
Temperatura
i wilgotność
Higrometry
Psychrometry
Psychrometry
Assmanna
W
wilgotność względna pakiet standardowy
M5-234
Temperatura
i wilgotność
Higrometry
Higrometry,
Higrometry
termohigrometry
wilgotności względnej lub psychrometry
elektroniczne
W
GUM
G
M54
455,00
NIE
GUM
G
M54
455,00
(0,3 ÷ 1,0) %,
0,1 °C
NIE
GUM
G
M54
611,00
(0,3 ÷ 1,0) %,
0,1 °C
NIE
GUM
G
M54
767,00
(0,3 ÷ 1,0) %,
0,1 °C
NIE
GUM
G
M54
923,00
wilgotność względna
5 punktów wilgotności
względnej w zakresie
temperatur
(-20 ÷ +90)°C
(0,3 ÷ 1,0) %,
przez porównanie
0,1 °C
z wzorcowym
higrometrem punktu rosy
i wzorcowym
termometrem
NIE
GUM
G
M54
1079,00
wilgotność względna
6 punktów wilgotności
względnej w zakresie
temperatur
(-20 ÷ +90)°C
(0,3 ÷ 1,0) %,
przez porównanie
0,1 °C
z wzorcowym
higrometrem punktu rosy
i wzorcowym
termometrem
NIE
GUM
G
M54
1235,00
wilgotność względna
wilgotność względna
M5-236
Temperatura
i wilgotność
Higrometry
Higrometry,
Higrometry
termohigrometry
wilgotności względnej lub psychrometry
elektroniczne
W
wilgotność względna
M5-237
Temperatura
i wilgotność
Higrometry
Higrometry,
Higrometry
termohigrometry
wilgotności względnej lub psychrometry
elektroniczne
W
wilgotność względna
M5-239
Temperatura
i wilgotność
Higrometry
Higrometry,
Higrometry
termohigrometry
wilgotności względnej lub psychrometry
elektroniczne
W
4)
NIE
1 pierwszy punkt w
zakresie (-20 ÷ +90)°C
przez porównanie
(0,3 ÷ 1,0)% ,
z wzorcowym
0,1 °C
higrometrem punktu rosy
i wzorcowym
termometrem
2 punkty wilgotności
względnej w zakresie
temperatur
(-20 ÷ +90)°C
przez porównanie
z wzorcowym
higrometrem punktu rosy
i wzorcowym
termometrem
3 punkty wilgotności
względnej w zakresie
temperatur
(-20 ÷ +90)°C
przez porównanie
z wzorcowym
higrometrem punktu rosy
i wzorcowym
termometrem
4 punkty wilgotności
względnej w zakresie
temperatur
(-20 ÷ +90)°C
przez porównanie
z wzorcowym
higrometrem punktu rosy
i wzorcowym
termometrem
Strona 160
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
realizację usługi
1066,00
W
W
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
M54
Higrometry,
Higrometry
termohigrometry
wilgotności względnej lub psychrometry
elektroniczne
Higrometry,
Higrometry
termohigrometry
wilgotności względnej lub psychrometry
elektroniczne
Uwagi dot.
wzorcowania
G
Higrometry
Higrometry
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
GUM
Temperatura
i wilgotność
Temperatura
i wilgotność
4 punkty (0 ÷ +50) °C
przez porównanie
z wzorcowym
1%, 0,1 °C
higrometrem punktu rosy
i wzorcowym
termometrem
Pakiet standardowy w
temp. 23 ± 2 °C, od 2
do 3 pkt. RH,
przez porównanie
1%, 0,1 °C
z wzorcowym
higrometrem punktu rosy
i wzorcowym
termometrem
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
NIE
M5-235
M5-238
Niepewność
rozszerzona2)
Zakres
pomiarowy/metoda
ID
Obiektu
M5-240
M5-241
M5-242
M5-243
M5-244
M5-245
M5-246
Dziedzina
Temperatura
i wilgotność
Temperatura
i wilgotność
Temperatura
i wilgotność
Temperatura
i wilgotność
Temperatura
i wilgotność
Temperatura
i wilgotność
Temperatura
i wilgotność
Subdziedzina
Higrometry
Higrometry
Higrometry
Higrometry
Higrometry
Higrometry
Higrometry
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Higrometry,
Higrometry
termohigrometry
wilgotności względnej lub psychrometry
elektroniczne
Higrometry,
Higrometry
termohigrometry
wilgotności względnej lub psychrometry
elektroniczne
Higrometry,
termohigrometry
Higrometry
wilgotności względnej lub psychrometry
elektroniczne
Higrometry,
Higrometry
termohigrometry
wilgotności względnej lub psychrometry
elektroniczne
Higrometry,
Higrometry
termohigrometry
wilgotności względnej lub psychrometry
elektroniczne
Higrometry,
Higrometry
termohigrometry
wilgotności względnej lub psychrometry
elektroniczne
Higrometry,
Higrometry
termohigrometry
wilgotności względnej lub psychrometry
elektroniczne
Wzorcowanie wielkość mierzona
Zakres
pomiarowy/metoda
Niepewność
rozszerzona2)
CMC
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
4)
realizację usługi
wilgotność względna
7 punktów wilgotności
względnej w zakresie
temperatur
(-20 ÷ +90)°C
(0,3 ÷ 1,0) %,
przez porównanie
0,1 °C
z wzorcowym
higrometrem punktu rosy
i wzorcowym
termometrem
NIE
GUM
G
M54
1391,00
wilgotność względna
8 punktów wilgotności
względnej w zakresie
temperatur
(-20 ÷ +90)°C
(0,3 ÷ 1,0) %,
przez porównanie
0,1 °C
z wzorcowym
higrometrem punktu rosy
i wzorcowym
termometrem
NIE
GUM
G
M54
1547,00
wilgotność względna
9 punktów wilgotności
względnej w zakresie
temperatur
(-20 ÷ +90)°C
(0,3 ÷ 1,0) %,
przez porównanie
0,1 °C
z wzorcowym
higrometrem punktu rosy
i wzorcowym
termometrem
NIE
GUM
G
M54
1703,00
wilgotność względna
10 punktów wilgotności
względnej w zakresie
temperatur
(-20 ÷ +90)°C
(0,3 ÷ 1,0) %,
przez porównanie
0,1 °C
z wzorcowym
higrometrem punktu rosy
i wzorcowym
termometrem
NIE
GUM
G
M54
1859,00
W
wilgotność względna
pakiet standardowy
w temp. (23 oraz 10 lub
35) °C
(0,3 ÷ 1,0) %,
przez porównanie
z wzorcowym
0,1 °C
higrometrem punktu rosy
i wzorcowym
termometrem
W
Rozszerzony pakiet
standardowy w temp. (23
wilgotność względna oraz 10 i 35) °C
rozszerzony pakiet
przez porównanie
(0,3 ÷ 1,0) %,
standardowy w temp. (23 z wzorcowym
0,1 °C
oraz 10 i 35) °C
higrometrem punktu rosy
i wzorcowym
termometrem
NIE
GUM
W
Jeden punkt
wzorcowania w zakresie
(-40 ÷ -20) °C
(0,5 ÷ 1,1) %,
przez porównanie
0,1 °C
z wzorcowym
higrometrem punktu rosy
i wzorcowym
termometrem
NIE
GUM
W
W
W
W
wilgotność względna
Strona 161
NIE
GUM
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
M54
Pakiet standardowy w
temp. 23 °C 5 punktów wilgotności
455,00 względnej oraz
w 10 °C lub 35 °C
2 punkty wilgotności
względnej
G
M54
Rozszerzony pakiet
standardowy
w temp. 23°C 5 punktów wilgotności
650,00
względnej oraz
w 10 °C i 35 °C po
2 punkty wilgotności
względnej
G
M54
585,00
G
ID
Obiektu
M5-247
Dziedzina
Temperatura
i wilgotność
Subdziedzina
Higrometry
Opis
Rodzaj
Przyrząd pomiarowy
usługi
Higrometry,
Higrometry
termohigrometry
wilgotności względnej lub psychrometry
elektroniczne
W
Wzorcowanie wielkość mierzona
wilgotność względna
Zakres
pomiarowy/metoda
Niepewność
rozszerzona2)
2 punkty wzorcowania
w zakresie
(-40 ÷ -20) °C
przez porównanie
(0,5 ÷ 1,1) %,
z wzorcowym
0,1 °C
higrometrem punktu rosy
i wzorcowym
termometrem
1)
CMC
NIE
Źródło spójności Miejsce
pomiarowej
realizacji3)
GUM
G
Uwagi
dotyczące
miejsca
realizacji
Uwagi dot.
wzorcowania
Cena
Lab. całkowita za
wzorcowanie
Dodatkowe
informacje dot.
kalkulacji
wynagrodzenia za
4)
realizację usługi
M54
845,00
Niniejszy cennik nie stanowi oferty, w rozumieniu Kodeksu Cywilnego. Warunkiem wykonania usługi jest każdorazowo potwierdzenie zamówienia klienta przez GUM lub wynegocjowanie i zawarcie z klientem umowy, określającej warunki i całkowity koszt usługi
Niepewność pomiaru uzyskana podczas wzorcowania przyrządu pomiarowego klienta może być większa niż podana w kolumnie ze względu na stan tego przyrządu; zapis Q[a; b] oznacza zależność: Q[a; b] = [a2 + b2]1/2.
P - usługa wykonywana poza Głównym Urzędem Miar, G - usługa wykonywana w Głównym Urzędzie Miar. Szczegółowe informacje do uzyskania w konkretnym laboratorium GUM. W przypadku usługi wykonywanej poza Głównym Urzędem Miar dolicza się koszty związane z delegacją
pracownika i ubezpieczeniem przyrządu pomiarowego GUM.
4)
Kalkulacja wynagrodzenia za realizację usługi uwzględnia informacje zawarte w kolumnie.
2)
3)
Rodzaj usługi:
W - wzorcowanie
E - ekspertyza
M - materiały odniesienia
WE - wzorcowanie, ekspertyza
WM - wzorcowanie, materiał odniesienia
WEM - wzorcowanie, ekspertyza, materiały odniesienia
Opłata stała:
A1 - A12 Opłata stała związana ze zleceniem, przygotowaniem przyrządu i stanowiska pomiarowego pobierana jednorazowo.
Strona 162