UV VIS zal 4 - IEL Wrocław
Transkrypt
UV VIS zal 4 - IEL Wrocław
Dostawa – zakup spektrofotometru UV/VIS/NIR do Laboratorium Instytutu Elektrotechniki, Oddział Technologii i Materiałoznawstwa Elektrotechnicznego we Wrocławiu Załącznik nr 4 do SIWZ Znak: OW/635/2009 SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA: Dostawa spektrofotometru UV/VIS/NIR Lp. Parametr 1 Spektrofotometr dwuwiązkowy UV/VIS/NIR 2 Zestaw komputerowy + urządzenia peryferyjne 3 Oprogramowanie do obsługi spektrofotometru 4 Uchwyt do ciała stałego 5 6 7 8 9 Wymagania Oferowane charakterystyki Minimalny zakres pracy urządzenia: 190 – 2500 nm. Wykonywane pomiary A, T%, R%, Log (A) Zasilanie - 50 Hz, 230 V. Możliwości badania cienkich warstw o grubości 10 nm – 10 µm na podłożu o grubości 0,5 – 10 mm Komputer, który umożliwi współpracę ze spektrofotometrem. Urządzenia peryferyjne: monitor, klawiatura, mysz optyczna, drukarka. System operacyjny kompatybilny z oprogramowaniem używanym do sterowania spektrofotometrem (preferowane środowisko: Windows XP PL Profesional). Oprogramowanie ma umożliwić wykonanie pomiarów A (Abs), T%, R%, Log A, F(R) Uchwyty do ciała stałego mają umożliwić zamontowanie próbek o różnej geometrii. Dodatkowo do uchwytów ma zostać dostarczony zestaw montażowy. Minimalny rozmiar próbek 10x10 mm. Przystawka do pomiarów odbicia (R%) względnego, bezwzględnego i absolutnego. Przystawka Przystawka odbiciowa umożliwiające wykonanie odbiciowa pomiarów: - pod zmiennym kątem: minimalny zakres zmiany kątów 5 – 60 °. Minimalny rozmiar próbek 8x8 mm. Gwarancja 12 miesięcy Do siedziby zamawiającego: (ul. M. Skłodowskiej-Curie Transport 55/61, 50-369 Wrocław) na koszt dostawcy Instrukcja obsługi do spektrofotometru jak i oprogramowania sterującego spektrofotometrem w Instrukcja obsługi wersji papierowej i\lub elektronicznej w języku polskim i\lub angielskim Szkolenie na koszt wykonawcy w siedzibie Szkolenie zamawiającego w zakresie obsługi dostarczonego urządzenia 13