docmodułowy system do pomiaru i analizy topografii powierzchni topo
download 
Reklamacja Transkrypt
modułowy system do pomiaru i analizy topografii powierzchni topo
Tatiana MILLER MODUŁOWY SYSTEM DO POMIARU I ANALIZY TOPOGRAFII POWIERZCHNI TOPO 01 PROFILOMETR TOPO 01P KSZTAŁTOGRAF TOPO 01K PRZEZNACZENIE • pomiary i analiza profili chropowatości i falistości powierzchni oraz profilu pierwotnego • pomiary zarysu kształtu i jego wymiarowanie • pomiary i analiza przestrzenna 3D chropowatości, falistości i kształtu Modułowy system TOPO 01 umożliwia kompletowanie stanowisk do pomiaru i analizy struktury geometrycznej powierzchni, w zależności od potrzeb i wymagań użytkowników. Z modułów systemu można tworzyć stykowe przyrządy przeznaczone do pomiarów chropowatości, falistości i profilu pierwotnego - PROFILOMETR TOPO 01P oraz kształtu - KSZTAŁTOGRAF TOPO 01K, także z pomiarami i analizą przestrzenną. ZAKRES ZASTOSOWAŃ • • • • tradycyjnie stosowane obróbki ubytkowe (frezowanie, szlifowanie, toczenie, docieranie, honowanie, itp.), niekonwencjonalne obróbki - ultradźwiękowa, laserowa, strumieniem elektronów, jonów lub wiązką plazmy, obróbka strumieniowo – ścierna, elektrochemiczno – ścierna i inne, tribologia - ocena nacisków powierzchni w kontakcie, smarowania, pomiary rzeczywistej powierzchni kontaktu, analiza tarcia, zużycia, odkształceń oraz procesów chemicznych, obróbka plastyczna, powierzchnie po walcowaniu, itp. W dziedzinach nie związanych bezpośrednio z budową maszyn: • • • • • • bioinżynieria - badanie powierzchni skóry, kości, zębów, endoprotez, nauki medyczne -badania zębów, kości, stawów, biologia - analiza wpływu kosmetyków na skórę, sport - badania zachowania się nart na śniegu, elektronika - analiza układów scalonych, i wiele innych. 33 ELEMENTY SYSTEMU: • zespół pomiarowo-sterujący • kolumna z płytą granitową 750 x 450 mm • zespół przesuwu do pomiarów chropowatości TOPO L50 lub TOPO L120 • zespół przesuwu do pomiarów kształtu TOPO L200 lub TOPO L120 • czujniki do pomiaru chropowatości: S250, BS250, BS1000 • czujnik do pomiaru kształtu PG40 • komputer z monitorem i drukarką • programy pomiarowo-sterujące i analizy dla chropowatości i kształtu w wersjach 2D i 3D • stolik skaningowy do pomiarów 3D PROGRAM ANALIZY PROFILU 2D Analiza przeprowadzana jest dla następujących rodzajów profilu: Profil R - profil chropowatości Profil W - profil falistości Profil P - profil pierwotny • • parametry wg aktualnych norm ISO i PN oraz dodatkowo inne - nieznormalizowane programowe filtry profilu Gaussa z korekcją fazy • • • • • • najbardziej rozpowszechnione funkcje i charakterystyczne krzywe statystyka parametrów: XQ, s, Rs, MIN, MAX możliwość wymiarowania zarysów profilu obliczanie pól pod i nad profilem na wybranych odcinkach eksport punktów profilu i parametrów 2D - formaty txt, xls dowolne redagowanie protokołów pomiarowych Parametry 2D: wyznaczane dla profili R,W,P zgodnie z PN-EN ISO 4287, np. dla profilu R: Rp, Rv, Rz, Rc, Rt, Ra, Rq, Rsk, Rku, RSm, Rdq, Rmr oraz inne: Rz10p, RS, RLo, RLr, RD, RLa, RLq, Rda Funkcje i charakterystyczne krzywe: • krzywe udziału materiału - Abbotta Firestona • krzywa gęstości amplitudowej • symetryczna krzywa nośności • rozkład liczby wierzchołków • funkcja autokorelacji • funkcja widmowej gęstości mocy Przykłady możliwości analizy 2D powierzchni zmierzonej profilometrem TOPO 01vP 34 PROGRAM ANALIZY KSZTAŁTU 2D • ZARYSU wymiarowanie odległości punktów z pomiaru oraz punktów wyznaczanych analitycznie, np. środków okręgów, punktów przecięcia prostych itp. • wyznaczanie prostych i okręgów wg różnych algorytmów, np. prostych równoległych, prostopadłych, stycznych, okręgów średniokwadratowych, stycznych itp. • wyznaczanie kątów • • • • • wyznaczanie promieni i odchyłek od promienia z wycinka okręgu obliczanie pól pod i nad profilem z wybranych odcinków automatyczne wymiarowanie zarysów kształtu jednakowych elementów eksport punktów zarysu kształtu formaty txt,xls dowolne redagowanie protokołów pomiarowych i wybór parametrów edycji okienek ekranów Przykłady możliwości wymiarowania zarysów kształtu powierzchni zmierzonej kształtografem TOPO 01vK 35 Przykłady moŜliwości analizy 3D powierzchni zmierzonej profilometrem TOPO 01vP PROGRAM ANALIZY PRZESTRZENNEJ 3D PROFILU I KSZTALTU • rysowanie widoku izometrycznego • tworzenie map warstwicowych • wyznaczanie parametrów przestrzennych chropowatości, falistości i powierzchni pierwotnej (R,W,P), np. dla powierzchni P: SPp, SPv, SPz, Spa, SPq, SPsk, SPku możliwość wybierania profili do analizy 2D oraz do wymiarowania • obliczanie objętości materiału lub ubytku materiału na wybranych obszarach powierzchni płaskiej, walcowej i kulistej • obliczanie promieni z wycinków kuli i walca • eksport punktów powierzchni i parametrów 3D - formaty txt, xls Przykłady moŜliwości analizy 3D powierzchni zmierzonej kształtografem TOPO 01vK 36 DANE TECHNICZNE SYSTEMU TOPO 01 POMIARY CHROPOWATOŚCI 2D • zakres pomiarowy czujników • • • odcinki pomiarowe znormalizowane dowolne prędkości pomiarowe czujniki pomiarowe indukcyjne - stykowe standardowe ostrze odwzorowujące kąt wierzchołkowy promień zaokrąglenia POMIARY KSZTAŁTU 2D • zakres pomiarowy czujnika • długość trasy pomiarowej • prędkości pomiarowe • ostrze odwzorowujące łopatka kąt ostrza promień zaokrąglenia ostrza stożek kąt wierzchołkowy promień zaokrąglenia ostrza POMIARY PRZESTRZENNE 3D • powierzchnia skanowania WYPOSAŻENIE DODATKOWE • stolik: przesuwy w osiach X i Y - 25 mm obrót ± 5° w płaszczyźnie XY, poziomowanie w płaszczyznach XZ i YZ • imadło obrotowe na przegubie kulowym 250 µm - czujniki S250, BS250 1000 µm - czujnik BS1000 0,4; 1,25; 4,0; 12,5; 40 mm do 50 mm z TOPO L50 do 120 mm z TOPO L120 0,1; 0,2; 0,5 mm/s S250 - ze ślizgaczem S250 - bez ślizgacza BS1000 - bez ślizgacza diament 90° ± 0,5 µm 40 mm max. 200 mm 0,1 do 2 mm/s węglik 11° ok. 30 µm 30° ok. 100 µm 50 x 25 mm z napędem TOPO L50 120 x 25 mm z napędem TOPO L120 200 x 25 mm z napędem TOPO L200 • stolik skaningowy z układem sterowania, standardowy zakres przesuwu w osi Y 25 mm, opcjonalnie do uzgodnienia
