pomiar wielkości ziarna w metalach i stopach
Transkrypt
pomiar wielkości ziarna w metalach i stopach
Politechnika Opolska Wydział Mechaniczny Katedra Technologii Maszyn I Automatyzacji Produkcji Metaloznawstwo. Materiałoznawstwo. Metaloznawstwo i materiały konstrukcyjne POMIAR WIELKOŚCI ZIARNA W METALACH I STOPACH Cel ćwiczenia: Zapoznanie się z metodyką określania wielkości ziaren metali i stopów. Nabycie umiejętności weryfikacji stosowanych technik oceny parametrów struktury. 1. Wyposażenie stanowiska. - zdjęcia struktur metalograficznych wykonane przy różnych powiększeniach; norma PN-84/H-04507 instrukcja do ćwiczenia kalka techniczna 2. Przebieg ćwiczenia. Zadanie 1: Stosując metodę porównawczą, dokonać oceny parametrów struktury, przy użyciu skali wzorców ASTM, dla obrazów tej samej struktury wykonanych przy powiększeniu x100, x200: 1.1 dla obrazu struktury wykonanym przy powiększeniu g = x100, ze skali wzorców ASTM, odczytać nr wzorca G i obliczyć parametry struktury wg wzorów: średnia powierzchnia ziarna: liczba ziaren NA na mm2: ã = 488,2*2(8-G)*10-6 [mm2] NA = 8*2G średnia średnica ziarna: d= 4ã Otrzymane wartości parametrów struktury zamieścić w tabeli wyników. 1.2 dla obrazu struktury wykonanym przy powiększeniu g = x200, ze skali wzorców ASTM, odczytać nr wzorca W i obliczyć rzeczywisty nr wzorca G wg wzorów: K = 6,64*log(g/100) gdzie: g - powiększenie przy którym zrobiono zdjęcie (inne niż powiększenie x100), G=W+K gdzie: W – nr wzorca odczytany, dla zdjęcia struktury przy powiększeniu innym niż x100, ze skali ASTM. 1.3 Dla wyznaczonej wartości G obliczyć parametry struktury, korzystając ze wzorów zawartych w p. 1.1. Otrzymane wartości parametrów struktury zamieścić w tabeli wyników. Zadanie 2: Określić parametry ziaren metodą Jeffriesa – I wariant (kołowy): 2.1 na obrazie struktury wykonanej przy powiększeniu x100 wykonać: - wykreślić okrąg o średnicy D = 79,8 mm, zliczyć liczbę ziaren leżących w całości w okręgu (nw), zliczyć liczbę ziaren przeciętych przez okrąg (ni), obliczyć całkowitą liczbę ziaren (nt) na obserwowanej powierzchni A: nt = nw + 0,5ni 2.2 obliczyć parametry struktury: średnia powierzchnia ziarna: liczba ziaren NA na mm2: NA = nt / A ã = 1 / NA gdzie: średnia średnica ziarna: [1/mm2] 2 A = 0,50 [mm ] d= 4ã Otrzymane wartości parametrów struktury zamieścić w tabeli wyników. Zadanie 3: Określić parametry ziaren metodą Jeffriesa z poprawką Sałtykowa: 3.1 obliczyć wartość współczynnika korekcji k: k = 0,5 – d/(4D’) gdzie d – średnia średnica ziarna w [mm] (obl. pkt. 2.2), D’ – rzeczywista średnica pola obserwacji [mm] (D’ = 0,798 [mm]) 3.2 obliczyć całkowitą liczbę ziaren (nt) na obserwowanej powierzchni A ze wzoru: nt = nw + k*ni wartości nw i ni przyjąć z obliczeń w pkt. 2.1 3.3 dla obliczonej wartości nt (uwzględniającą poprawkę Sałtykowa) obliczyć ponownie parametry struktury NA, ã, d (jak w pkt. 2.1, 2.2), 3.4 Otrzymane wartości parametrów struktury zamieścić w tabeli wyników. Zadanie 4: Określić parametry ziaren metodą Jeffriesa (I wariant) i Jeffriesa z poprawką Sałtykowa dla obrazu struktury wykonanego przy powiększeniu x200: - procedury obliczeniowe do wyznaczenia nw, ni, nt, takie jak w zadaniu 2 i w zadaniu 3), wartość k obliczamy przyjmując D’= 0,399 [mm], wartość NA, dla obrazu struktury o powiększeniu innym niż x100, obliczamy ze wzoru: NA = 2 (g/100)2 nt gdzie g – wartość powiększenia obrazu (inna niż x100), - parametry struktury ã, d obliczamy korzystając z wzorów zawartych w zad. 2 pkt. 2.2. Otrzymane wartości parametrów struktury zamieścić w tabeli wyników. Zadanie 5 Określić parametry struktury metodą Jeffriesa – II wariant (kwadrat): 5.1 na obrazie struktury uzyskanym przy powiększeniu x100 wykonać: - narysować kwadrat o boku b = 70 mm, - zliczyć liczbę ziaren leżących w całości w polu kwadratu (nw), - zliczyć liczbę ziaren przeciętych przez linie boków kwadratu (ni), (nie liczyć ziaren w narożach), - obliczyć całkowitą liczbę ziaren (nt) na obserwowanej powierzchni A: nt = nw + 0,5ni + 1 - obliczyć liczbę ziaren NA przypadającą na jeden mm2 powierzchni: NA = nt / A - [1/mm2] gdzie A = 0,50 [mm2] obliczyć pozostałe parametry struktury wykorzystując wzory z pkt. 2.2, otrzymane wartości parametrów struktury zamieścić w tabeli wyników. 5.2 na obrazie struktury wykonanym przy powiększeniu x200 wykonać: - narysować kwadrat o boku b = 70 mm, - obliczyć wartości (nw), (ni), (nt), - obliczyć NA, ze wzoru jak w zadaniu 4, - obliczyć pozostałe parametry struktury wykorzystując wzory z pkt. 2.2, - otrzymane wartości parametrów struktury zamieścić w tabeli wyników. WYNIKI UZYSKANE Z REALIZACJI ZADAŃ ZESTAWIĆ W TABELI: Metoda Powiększenie obrazu struktury nw ni nt Porównawcza ASTM X100 X200 - - - Jeffriesa (I wariant) X100 X200 Jeffriesa z popr. Sałtykowa X100 X200 Jeffriesa (II wariant) X100 X200 Parametry badanej struktury NA Ã [1/mm2] [mm2] d [mm] Uwagi do sprawozdania. Sprawozdanie powinno zawierać: - wstęp obejmujący krótką charakterystykę poszczególnych metod określania wielkości ziaren w metalach i stopach; kalki z przerysowanymi strukturami; obliczenia wybranych parametrów dla poszczególnych metod wnioski. Literatura: [1] PN-84/H-04507/01: Metale. Metalograficzne badania wielkości ziarna. Mikroskopowe metody określenia wielkości ziarna. Polski Komitet Normalizacji Miar i Jakości. [2] Ryś J.: Stereologia materiałów, Fotobit Design, Kraków 1995. [3] Ćwiczenia laboratoryjne z materiałoznawstwa pod red. Haimanna R., skrypt Politechnika Wrocławska, Wrocław 1980. [4] Sokołowski J., Hubner K., Nosiła M., Pluta B.: Metalografia ilościowa. Automatyczne metody pomiarów, skrypt Politechnika Śląska, Gliwice 1979. Zagadnienia do tematu: 1. Co to jest metalografia ilościowa? 2. Na czym polegają metody porównawcze w metalografii? 3. Metody określania objętościowego udziału faz lub składników mikrostruktury: planimetryczna, liniowa, punktowa. 4. Dla zadanej struktury wyznaczyć metodą liniową lub punktową objętościowy udział faz. Opisać poszczególne kroki zadania. (pytanie dotyczy tylko kolokwium). Zagadnienia 1-3 opracować jako wstęp teoretyczny do sprawozdania. UWAGI: na zajęcia proszę przynieść kalkę techniczna, linijkę, ołówek, kalkulator