2 BADANIE BIERNYCH ELEMENTÓW ELEKTRONICZNYCH
Transkrypt
2 BADANIE BIERNYCH ELEMENTÓW ELEKTRONICZNYCH
LPE - Ćw.2. BADANIE BIERNYCH ELEMENTÓW ELEKTRONICZNYCH POLSKO-JAPOŃSKA WYśSZA SZKOŁA TECHNIK KOMPUTEROWYCH Ćw. 2 LABORATORIUM PODSTAW ELEKTRONIKI BADANIE BIERNYCH ELEMENTÓW ELEKTRONICZNYCH Imię i Nazwisko 1 Ocena Rok akad. Data wykonania ćwiczenia Prowadzący zajęcia 2.3.1. Badanie właściwości rezystora 2.3.1.1. Pomiar rezystancji omomierzem Tab.1. Roznacz Ω Rzakr R δR Ω Ω % R1 R2 R3 R4 Uwaga: • odczytać wartość rezystancji z rezystorów i wpisać do kolumny Roznacz • dla kaŜdego rezystora wybrać najniŜszy moŜliwy zakres pomiarowy omomierza • wynik pomiaru rezystancji podać z precyzją, jaką zapewnia przyrząd Wzory i obliczenia Dla multimetru M4650B Dla zakresu 200Ω: Ω: 5 δR = 0.2% + ⋅100% n Dla multimetru MX-620 dla pozostałych zakresów: Dla zakresu 2MΩ: Ω: dla pozostałych zakresów 3 δR = 0.15% + ⋅100% n 5 δR = 1.5% + ⋅100% n 4 δR = 0.8% + ⋅100% n gdzie: n – wskazanie multimetru z pominięciem kropki dziesiętnej LPE - Ćw.2. BADANIE BIERNYCH ELEMENTÓW ELEKTRONICZNYCH 2.3.1.2. Obserwacja zaleŜności fazowych między prądem i napięciem dla rezystora Cx = Cy1 = Cy2 = Wnioski Szkic obrazu z ekranu oscyloskopu 2.3.2.1. Obserwacja zaleŜności fazowych między prądem i napięciem dla kondensatora Cx = Cy1 = Cy2 = Wnioski Szkic obrazu z ekranu oscyloskopu 2.3.3.1. Obserwacja zaleŜności fazowych między prądem i napięciem dla cewki indukcyjnej Cx = Cy1 = Cy2 = Wnioski Szkic obrazu z ekranu oscyloskopu 2 LPE - Ćw.2. BADANIE BIERNYCH ELEMENTÓW ELEKTRONICZNYCH 3 2.3.2. Badanie właściwości kondensatora 2.3.2.2. Pomiar charakterystyki amplitudowej filtru dolnoprzepustowego RC Tab.2. f a Cy1 Uwe b Cy2 Uwy k1 k Hz dz V/dz V dz V/dz V V/V dB Lp. 1 2 3 4 5 6 7 8 a – odcinek odpowiadający na ekranie wartości między-szczytowej sygnału wejściowego (określony z precyzją 0.1 dz.) b – odcinek odpowiadający na ekranie wartości między-szczytowej sygnału wyjściowego (określony z precyzją 0.1 dz.) Wzory i obliczenia Napięcie wejściowe: Napięcie wyjściowe: U we = a ⋅ C y1 U wy = b ⋅ C y 2 [dB] Wzmocnienie: k1 = Wzmocnienie w dB: U wy k = 20 ⋅ log k 1 U we k f3dB z wykresu ≈ 0 f3dB doświadcz. ≈ -10 Wnioski -20 -30 f -40 2k 3k 300 500 100 1k 5k 20k 30k 50k 10k 200k 100k 500k 2M 1M Charakterystyka amplitudowa filtru dolnoprzepustowego RC [Hz] LPE - Ćw.2. BADANIE BIERNYCH ELEMENTÓW ELEKTRONICZNYCH 4 2.3.3. Badanie właściwości cewki indukcyjnej 2.3.3.2. Pomiar charakterystyki amplitudowej filtru dolnoprzepustowego LR Tab.3. f a Cy1 Uwe b Cy2 Uwy k1 k Hz dz V/dz V dz V/dz V V/V dB Lp. 1 2 3 4 5 6 7 8 a – odcinek odpowiadający na ekranie wartości między-szczytowej sygnału wejściowego (określony z precyzją 0.1 dz.) b – odcinek odpowiadający na ekranie wartości między-szczytowej sygnału wyjściowego (określony z precyzją 0.1 dz.) Wzory i obliczenia Napięcie wejściowe: Napięcie wyjściowe: U we = a ⋅ C y1 U wy = b ⋅ C y 2 [dB] Wzmocnienie: k1 = Wzmocnienie w dB: U wy k = 20 ⋅ log k 1 U we k f3dB z wykresu ≈ 0 f3dB doświadcz. ≈ -10 Wnioski -20 -30 f -40 2k 3k 300 500 100 1k 5k 20k 30k 50k 10k 200k 100k 500k 2M 1M Charakterystyka amplitudowa filtru dolnoprzepustowego LR Oszacowanie wartości indukcyjności cewki: [Hz] LPE - Ćw.2. BADANIE BIERNYCH ELEMENTÓW ELEKTRONICZNYCH 2.3.4. Badanie właściwości diody półprzewodnikowej 2.3.4.1. Pomiar charakterystyki statycznej diody półprzewodnikowej Tab.4. R1 = U UD ID V V mA Lp. 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 Charakterystyka statyczna diody ID=f(UD) Wzory i obliczenia NatęŜenie prądu wyliczyć ze wzoru: ID = U −UD R1 2.3.4.2. Obserwacja pracy układu prostowniczego Szkic obrazu z ekranu oscyloskopu 5