Zakres Akredytacji - Laboratorium Pomiarów Radiologicznych GL
Transkrypt
Zakres Akredytacji - Laboratorium Pomiarów Radiologicznych GL
PCA Zakres akredytacji Nr AB 1456 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 1456 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 3, Data wydania: 25 sierpnia 2015 r. Nazwa i adres GL CENTER Sp. z o.o. Laboratorium Pomiarów Radiologicznych ul. Bałuckiego 4 43-100 Tychy AB 1456 Kod identyfikacji dziedziny/przedmiotu badań N/14 Dziedzina/przedmiot badań: Badania właściwości fizycznych wyposażenia medycznego – urządzenia radiologiczne Wersja strony: A KIEROWNIK DZIAŁU AKREDYTACJI LABORATORIÓW TADEUSZ MATRAS Niniejszy dokument jest załącznikiem do Certyfikatu Akredytacji Nr AB 1456 z dnia 30.08.2013 r. Status akredytacji oraz aktualność zakresu akredytacji można potwierdzić na stronie internetowej PCA www.pca.gov.pl Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r. str. 1/13 PCA Zakres akredytacji Nr AB 1456 Przedmiot badań/wyrób Wyposażenie do radiografii ogólnej Laboratorium Pomiarów Radiologicznych ul. Bałuckiego 4 Tychy 43-100 Rodzaj działalności/badane Dokumenty odniesienia cechy/metoda Wysokie napięcie PB-LPR-RO/06 Zakres: (38 – 160) kV Wydanie 6 z dnia 29.06.2015 r. Pomiar bezpośredni Dokładność ustawienia wysokiego napięcia (z obliczeń) Powtarzalność wartości wysokiego napięcia (z obliczeń) Zmienność wysokiego napięcia przy zmianie natężenia prądu (z obliczeń) Czas ekspozycji Zakres: (0,02 – 8,0) s Pomiar bezpośredni Dokładność ustawienia czasu ekspozycji (z obliczeń) Dawka pochłonięta w powietrzu Zakres: (0,00000004 – 0,091) Gy Pomiar bezpośredni Całkowita Filtracja (z obliczeń) Warstwa półchłonna - HVL (z obliczeń) Wydajność lampy (z obliczeń) Powtarzalność wydajności lampy (z obliczeń) Zmienność wydajność lampy w funkcji natężenia prądu (z obliczeń) Zmienność wydajności lampy w funkcji obciążenia prądowoczasowego (z obliczeń) Wielkość ogniska lampy rtg (z obliczeń) Odchylenie pomiędzy osią wiązki a płaszczyzną rejestratora obrazu od kąta prostego (z obliczeń) Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r. str. 2/13 PCA Zakres akredytacji Nr AB 1456 Przedmiot badań/wyrób Wyposażenie do radiografii ogólnej Rodzaj działalności/badane cechy/metoda Odległość osi wiązki promieniowania rtg od środka rejestratora obrazu Zakres: (0,1 – 5,0) cm Pomiar odległości między elementami obrazu rentgenowskiego Odległość środka pola rtg od środka pola świetlnego Zakres: (0,1 – 5,0) cm Pomiar odległości między elementami obrazu rentgenowskiego Odległość środka pola świetlnego od środka rejestratora w szufladzie Zakres: (0,1 – 5,0) cm Pomiar odległości między elementami obrazu rentgenowskiego Odległość pomiędzy krawędziami pola promieniowania a polem świetlnym – kolimacja ręczna Zakres: (0,1 – 5,0) cm Pomiar odległości między elementami obrazu rentgenowskiego Odległość pomiędzy krawędziami pola promieniowania a rejestratorem obrazu – kolimacja automatyczna Zakres: (0,1 – 5,0) cm Pomiar odległości między elementami obrazu rentgenowskiego Odległość pomiędzy ogniskiem optycznym lampy a rejestratorem obrazu Zakres: (0,6 – 1,5) m Pomiar bezpośredni Oświetlenie pola symulującego pole promieniowania rentgenowskiego Zakres: (0,5 – 1000,0) lx Pomiar bezpośredni Jednorodność obrazu kratki przeciwrozproszeniowej Zakres: (0,00 – 4,00) Metoda fotometryczna Różnica gęstości optycznych przy zmianie natężenia prądu Zakres: (0,00 – 4,00) Metoda fotometryczna Różnica gęstości optycznych przy zmianie wysokiego napięcia Zakres: (0,00 – 4,00) Metoda fotometryczna Różnica gęstości optycznych przy zmianie grubości fantomu Zakres: (0,00 – 4,00) Metoda fotometryczna Dokumenty odniesienia PB-LPR-RO/06 Wydanie 6 z dnia 29.06.2015 r. Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r. str. 3/13 PCA Zakres akredytacji Nr AB 1456 Przedmiot badań/wyrób Wyposażenie do radiografii ogólnej Rodzaj działalności/badane cechy/metoda Różnica gęstości optycznych czułości komór AEC Zakres: (0,00 – 4,00) Metoda fotometryczna Gęstość optyczna - wzmocnienie ekranu Zakres: (0,00 – 4,00) Metoda fotometryczna Odchylenie standardowe gęstości optycznej dla kasety kontrolnej (z obliczeń) Maksymalna różnica gęstości optycznych dla wszystkich kaset Zakres: (0,00 – 4,00) Metoda fotometryczna Różnica gęstości optycznych – szczelność ciemni Zakres: (0,00 – 4,00) Metoda fotometryczna Różnica gęstości optycznych oświetlenie robocze ciemni Zakres: (0,00 – 4,00) Metoda fotometryczna Gęstość minimalna w procesie wywoływania Zakres: (0,00 – 0,50) Metoda fotometryczna Wskaźnik światłoczułości w procesie wywoływania Zakres: (0,70 – 2,00) Metoda fotometryczna Wskaźnik kontrastowości w procesie wywoływania (z obliczeń) Luminancja negatoskopu Zakres: (0,1 – 8700,0) cd/m2 Pomiar bezpośredni Niejednorodność luminancji powierzchni negatoskopu (z obliczeń) Natężenie oświetlenia zewnętrznego negatoskopu Zakres: (0,5 – 1000,0) lx Pomiar bezpośredni Dokumenty odniesienia PB-LPR-RO/06 Wydanie 6 z dnia 29.06.2015 r. Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r. str. 4/13 PCA Zakres akredytacji Nr AB 1456 Przedmiot badań/wyrób Wyposażenie do zdjęć panoramicznych oraz cefalometrii Rodzaj działalności/badane cechy/metoda Wysokie napięcie Zakres: (40 – 120) kV Pomiar bezpośredni Dokładność ustawienia wysokiego napięcia (z obliczeń) Powtarzalność wartości wysokiego napięcia (z obliczeń) Zmienność wysokiego napięcia przy zmianie natężenia prądu (z obliczeń) Czas ekspozycji Zakres: (0,02 – 25,00) s Pomiar bezpośredni Dokładność ustawienia czasu ekspozycji (z obliczeń) Dawka pochłonięta w powietrzu Zakres: (0,00000004 – 0,091) Gy Pomiar bezpośredni Całkowita Filtracja (z obliczeń) Warstwa półchłonna - HVL (z obliczeń) Wydajność lampy (z obliczeń) Powtarzalność wydajności lampy (z obliczeń) Zmienność wydajność lampy w funkcji natężenia prądu (z obliczeń) Zmienność wydajności lampy w funkcji obciążenia prądowoczasowego (z obliczeń) Odległość pomiędzy ogniskiem optycznym lampy a rejestratorem obrazu Zakres: (0,6 – 1,5) m Pomiar bezpośredni Dokumenty odniesienia PB-LPR-RO/06 Wydanie 6 z dnia 29.06.2015 r. Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r. str. 5/13 PCA Zakres akredytacji Nr AB 1456 Przedmiot badań/wyrób Wyposażenie do zdjęć panoramicznych oraz cefalometrii Rodzaj działalności/badane cechy/metoda Gęstość optyczna - wzmocnienie ekranu Zakres: (0,00 – 4,00) Metoda fotometryczna Odchylenie standardowe gęstości optycznej dla kasety kontrolnej (z obliczeń) Maksymalna różnica gęstości optycznych dla wszystkich kaset Zakres:(0,00 – 4,00) Metoda fotometryczna Różnica gęstości optycznych – szczelność ciemni Zakres:(0,00 – 4,00) Metoda fotometryczna Różnica gęstości optycznych oświetlenie robocze ciemni Zakres:(0,00 – 4,00) Metoda fotometryczna Gęstość minimalna w procesie wywoływania Zakres: (0,00 – 0,50) Metoda fotometryczna Wskaźnik światłoczułości w procesie wywoływania Zakres: (0,70 – 2,00) Metoda fotometryczna Wskaźnik kontrastowości w procesie wywoływania (z obliczeń) Luminancja negatoskopu Zakres: (0,1 – 8700,0) cd/m2 Pomiar bezpośredni Niejednorodność luminancji powierzchni negatoskopu (z obliczeń) Natężenie oświetlenia zewnętrznego negatoskopu Zakres: (0,5 – 1000,0) lux Pomiar bezpośredni Dokumenty odniesienia PB-LPR-RO/06 Wydanie 6 z dnia 29.06.2015 r. Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r. str. 6/13 PCA Zakres akredytacji Nr AB 1456 Przedmiot badań/wyrób Wyposażenie do zdjęć wewnątrzustnych Rodzaj działalności/badane cechy/metoda Wysokie napięcie Zakres: (50 - 80) kV Pomiar bezpośredni Dokładność ustawienia wysokiego napięcia (z obliczeń) Powtarzalność wartości wysokiego napięcia (z obliczeń) Czas ekspozycji Zakres: (0,02 – 4,8) s Pomiar bezpośredni Dokładność ustawienia czasu ekspozycji (z obliczeń) Powtarzalność czasu ekspozycji (zegar) (z obliczeń) Dawka pochłonięta w powietrzu Zakres: (0,00000004 – 0,091) Gy Pomiar bezpośredni Całkowita Filtracja (z obliczeń) Warstwa półchłonna – HVL (z obliczeń) Wydajność lampy (z obliczeń) Powtarzalność wydajności lampy (z obliczeń) Zmienność wydajność lampy w funkcji natężenia prądu (z obliczeń) Zmienność wydajności lampy w funkcji obciążenia prądowoczasowego (z obliczeń) Wielkość ogniska lampy rtg (z obliczeń) Odchylenie pomiędzy osią wiązki a płaszczyzną rejestratora obrazu od kąta prostego (z obliczeń) Odległość: ognisko lampy – powierzchnia czołowa tubusa Zakres: (0,1 – 0,3) m Pomiar bezpośredni Dokumenty odniesienia PB-LPR-RO/06 Wydanie 6 z dnia 29.06.2015 r. Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r. str. 7/13 PCA Zakres akredytacji Nr AB 1456 Przedmiot badań/wyrób Wyposażenie do fluoroskopii Rodzaj działalności/badane cechy/metoda Wysokie napięcie Zakres: (38 – 150) kV Pomiar bezpośredni Dokładność ustawienia wysokiego napięcia (z obliczeń) Powtarzalność wartości wysokiego napięcia (z obliczeń) Zmienność wysokiego napięcia przy zmianie natężenia prądu (z obliczeń) Moc dawki Zakres: (0,00000013 – 0,018) Gy/s Pomiar bezpośredni Warstwa półchłonna - HVL (z obliczeń) Całkowita Filtracja (z obliczeń) Wydajność lampy (z obliczeń) Powtarzalność wydajności lampy (z obliczeń) Zmienność wydajność lampy w funkcji natężenia prądu (z obliczeń) Zmienność wydajności lampy w funkcji obciążenia prądowoczasowego (z obliczeń) Dawka wejściowa na jeden obraz kinematografia Pomiar bezpośredni Czas ekspozycji Zakres: (1 - 650) s Pomiar bezpośredni Stosunek pola promieniowania X do pola widzenia wzmacniacza (z obliczeń) Dokumenty odniesienia PB-LPR-RO/06 Wydanie 6 z dnia 29.06.2015 r. Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r. str. 8/13 PCA Zakres akredytacji Nr AB 1456 Przedmiot badań/wyrób Wyposażenie do mammografii Rodzaj działalności/badane cechy/metoda Wielkość ogniska lampy rtg (z obliczeń) Odległość ognisko – rejestrator obrazu Zakres: (0,6 – 1,5) m Pomiar bezpośredni Odległość pomiędzy krawędziami promieniowania X a krawędziami rejestratora obrazu Zakres: (0,1 – 5,0) cm Pomiar bezpośredni Odległość pomiędzy krawędzią kratki przeciwrozproszeniowej a rejestratorem obrazu Zakres: (0,1 – 5,0) cm Pomiar bezpośredni Dawka pochłonięta w powietrzu Zakres: (0,00000004 – 0,091) Gy Pomiar bezpośredni Wydajność lampy (z obliczeń) Moc dawki Zakres: (0,00000013 – 0,018) Gy/s Pomiar bezpośredni Wysokie napięcie Zakres: (23 – 35) kV Pomiar bezpośredni Dokładność ustawienia wysokiego napięcia (z obliczeń) Powtarzalność wartości wysokiego napięcia (z obliczeń) Czas ekspozycji Zakres: (0,02 – 4,8) s Pomiar bezpośredni Warstwa półchłonna - HVL (z obliczeń) Gęstość optyczna w punkcie referencyjnym Zakres: (1,00 – 2,00) Metoda fotometryczna Różnica gęstości optycznych dla różnych poziomów zaczernienia Zakres: (0,00 – 4,00) Metoda fotometryczna Maksymalna różnica gęstości optycznych dla wszystkich dostępnych poziomów zaczernienia Zakres: (0,00 – 4,00) Metoda fotometryczna Powtarzalność dawki (z obliczeń) Dokumenty odniesienia PB-LPR-MA/05 Wydanie 5 z dnia 29.06.2015 r. Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r. str. 9/13 PCA Zakres akredytacji Nr AB 1456 Przedmiot badań/wyrób Wyposażenie do mammografii Rodzaj działalności/badane cechy/metoda Różnica gęstości optycznych przy zmianie grubości fantomu i wartości wysokiego napięcia Zakres: (0,00 – 4,00) Metoda fotometryczna Dawka wejściowa Zakres: (0,00000004 – 0,091) Gy Pomiar bezpośredni Siła kompresji piersi Zakres pomiaru masy: (10 – 25) kg Pomiar bezpośredni Stałość siły kompresji Zakres pomiaru masy: (10 – 25) kg Pomiar bezpośredni Zmiana położenia płytki uciskowej dla symetrycznego podparcia płytki uciskowej Zakres: (0,1 – 5,0) cm Pomiar bezpośredni Zmiana położenia płytki uciskowej dla niesymetrycznego podparcia płytki uciskowej Zakres: (0,1 – 5,0) cm Pomiar bezpośredni Współczynnik pochłaniania kratki przeciwrozproszeniowej (z obliczeń) Różnica gęstości optycznych wzmocnienie ekranu (z obliczeń) Różnica gęstości optycznych – szczelność ciemni Zakres: (0,00 – 4,00) Metoda fotometryczna Różnica gęstości optycznych oświetlenie robocze ciemni Zakres: (0,00 – 4,00) Metoda fotometryczna Różnica gęstości optycznych przepust ciemni Zakres: (0,00 – 4,00) Metoda fotometryczna Gęstość minimalna w procesie wywoływania Zakres: (0,00 – 0,50) Metoda fotometryczna Wskaźnik światłoczułości w procesie wywoływania Zakres: (0,70 – 2,00) Metoda fotometryczna Wskaźnik kontrastowości w procesie wywoływania (z obliczeń) Dokumenty odniesienia PB-LPR-MA/05 Wydanie 5 z dnia 29.06.2015 r. Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r. str. 10/13 PCA Zakres akredytacji Nr AB 1456 Przedmiot badań/wyrób Wyposażenie do mammografii Rodzaj działalności/badane cechy/metoda Luminancja negatoskopu Zakres: (0,1 – 8700,0) cd/m2 Pomiar bezpośredni Jednorodność luminancji powierzchni negatoskopu (z obliczeń) Natężenie oświetlenia zewnętrznego Zakres: (0,5 – 1000,0) lx Pomiar bezpośredni Dokumenty odniesienia PB-LPR-MA/05 Wydanie 5 z dnia 29.06.2015 r. Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r. str. 11/13 PCA Zakres akredytacji Nr AB 1456 Przedmiot badań/wyrób Wyposażenie do tomografii komputerowej Rodzaj działalności/ badane cechy/ metoda Wysokie napięcie Zakres: (70 – 160) kV Pomiar bezpośredni Dokładność ustawienia wysokiego napięcia (z obliczeń) Powtarzalność wartości wysokiego napięcia (z obliczeń) Zmienność wysokiego napięcia przy zmianie natężenia prądu (z obliczeń) Dawka pochłonięta w powietrzu Zakres: (0,00000004 – 0,091) Gy Pomiar bezpośredni Warstwa półchłonna - HVL (z obliczeń) Powtarzalność wydajności lampy (z obliczeń) Zmienność wydajność lampy w funkcji natężenia prądu (z obliczeń) Zmienność wydajności lampy w funkcji obciążenia prądowoczasowego (z obliczeń) Indeks dawki (z obliczeń) Grubość warstwy (z obliczeń) Dokumenty odniesienia PB-LPR-TK/01 Wydanie 1 z dnia 30.05.2015 r. Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r. str. 12/13 PCA Zakres akredytacji Nr AB 1456 Wykaz zmian Zakresu Akredytacji Nr AB 1456 Status zmian: wersja pierwotna - A Zatwierdzam status zmian KIEROWNIK DZIAŁU AKREDYTACJI LABORATORIÓW TADEUSZ MATRAS dnia: 25.08.2015 r. Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r. str. 13/13 PCA Zakres akredytacji Nr AB 1456 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 1456 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 3, Data wydania: 25 sierpnia 2015 r. Nazwa i adres GL CENTER Sp. z o.o. Laboratorium Pomiarów Radiologicznych ul. Bałuckiego 4 43-100 Tychy AB 1456 Kod identyfikacji dziedziny/przedmiotu badań N/14 Dziedzina/przedmiot badań: Badania właściwości fizycznych wyposażenia medycznego – urządzenia radiologiczne Wersja strony: A KIEROWNIK DZIAŁU AKREDYTACJI LABORATORIÓW TADEUSZ MATRAS Niniejszy dokument jest załącznikiem do Certyfikatu Akredytacji Nr AB 1456 z dnia 30.08.2013 r. Status akredytacji oraz aktualność zakresu akredytacji można potwierdzić na stronie internetowej PCA www.pca.gov.pl Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r. str. 1/13 PCA Zakres akredytacji Nr AB 1456 Przedmiot badań/wyrób Wyposażenie do radiografii ogólnej Laboratorium Pomiarów Radiologicznych ul. Bałuckiego 4 Tychy 43-100 Rodzaj działalności/badane Dokumenty odniesienia cechy/metoda Wysokie napięcie PB-LPR-RO/06 Zakres: (38 – 160) kV Wydanie 6 z dnia 29.06.2015 r. Pomiar bezpośredni Dokładność ustawienia wysokiego napięcia (z obliczeń) Powtarzalność wartości wysokiego napięcia (z obliczeń) Zmienność wysokiego napięcia przy zmianie natężenia prądu (z obliczeń) Czas ekspozycji Zakres: (0,02 – 8,0) s Pomiar bezpośredni Dokładność ustawienia czasu ekspozycji (z obliczeń) Dawka pochłonięta w powietrzu Zakres: (0,00000004 – 0,091) Gy Pomiar bezpośredni Całkowita Filtracja (z obliczeń) Warstwa półchłonna - HVL (z obliczeń) Wydajność lampy (z obliczeń) Powtarzalność wydajności lampy (z obliczeń) Zmienność wydajność lampy w funkcji natężenia prądu (z obliczeń) Zmienność wydajności lampy w funkcji obciążenia prądowoczasowego (z obliczeń) Wielkość ogniska lampy rtg (z obliczeń) Odchylenie pomiędzy osią wiązki a płaszczyzną rejestratora obrazu od kąta prostego (z obliczeń) Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r. str. 2/13 PCA Zakres akredytacji Nr AB 1456 Przedmiot badań/wyrób Wyposażenie do radiografii ogólnej Rodzaj działalności/badane cechy/metoda Odległość osi wiązki promieniowania rtg od środka rejestratora obrazu Zakres: (0,1 – 5,0) cm Pomiar odległości między elementami obrazu rentgenowskiego Odległość środka pola rtg od środka pola świetlnego Zakres: (0,1 – 5,0) cm Pomiar odległości między elementami obrazu rentgenowskiego Odległość środka pola świetlnego od środka rejestratora w szufladzie Zakres: (0,1 – 5,0) cm Pomiar odległości między elementami obrazu rentgenowskiego Odległość pomiędzy krawędziami pola promieniowania a polem świetlnym – kolimacja ręczna Zakres: (0,1 – 5,0) cm Pomiar odległości między elementami obrazu rentgenowskiego Odległość pomiędzy krawędziami pola promieniowania a rejestratorem obrazu – kolimacja automatyczna Zakres: (0,1 – 5,0) cm Pomiar odległości między elementami obrazu rentgenowskiego Odległość pomiędzy ogniskiem optycznym lampy a rejestratorem obrazu Zakres: (0,6 – 1,5) m Pomiar bezpośredni Oświetlenie pola symulującego pole promieniowania rentgenowskiego Zakres: (0,5 – 1000,0) lx Pomiar bezpośredni Jednorodność obrazu kratki przeciwrozproszeniowej Zakres: (0,00 – 4,00) Metoda fotometryczna Różnica gęstości optycznych przy zmianie natężenia prądu Zakres: (0,00 – 4,00) Metoda fotometryczna Różnica gęstości optycznych przy zmianie wysokiego napięcia Zakres: (0,00 – 4,00) Metoda fotometryczna Różnica gęstości optycznych przy zmianie grubości fantomu Zakres: (0,00 – 4,00) Metoda fotometryczna Dokumenty odniesienia PB-LPR-RO/06 Wydanie 6 z dnia 29.06.2015 r. Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r. str. 3/13 PCA Zakres akredytacji Nr AB 1456 Przedmiot badań/wyrób Wyposażenie do radiografii ogólnej Rodzaj działalności/badane cechy/metoda Różnica gęstości optycznych czułości komór AEC Zakres: (0,00 – 4,00) Metoda fotometryczna Gęstość optyczna - wzmocnienie ekranu Zakres: (0,00 – 4,00) Metoda fotometryczna Odchylenie standardowe gęstości optycznej dla kasety kontrolnej (z obliczeń) Maksymalna różnica gęstości optycznych dla wszystkich kaset Zakres: (0,00 – 4,00) Metoda fotometryczna Różnica gęstości optycznych – szczelność ciemni Zakres: (0,00 – 4,00) Metoda fotometryczna Różnica gęstości optycznych oświetlenie robocze ciemni Zakres: (0,00 – 4,00) Metoda fotometryczna Gęstość minimalna w procesie wywoływania Zakres: (0,00 – 0,50) Metoda fotometryczna Wskaźnik światłoczułości w procesie wywoływania Zakres: (0,70 – 2,00) Metoda fotometryczna Wskaźnik kontrastowości w procesie wywoływania (z obliczeń) Luminancja negatoskopu Zakres: (0,1 – 8700,0) cd/m2 Pomiar bezpośredni Niejednorodność luminancji powierzchni negatoskopu (z obliczeń) Natężenie oświetlenia zewnętrznego negatoskopu Zakres: (0,5 – 1000,0) lx Pomiar bezpośredni Dokumenty odniesienia PB-LPR-RO/06 Wydanie 6 z dnia 29.06.2015 r. Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r. str. 4/13 PCA Zakres akredytacji Nr AB 1456 Przedmiot badań/wyrób Wyposażenie do zdjęć panoramicznych oraz cefalometrii Rodzaj działalności/badane cechy/metoda Wysokie napięcie Zakres: (40 – 120) kV Pomiar bezpośredni Dokładność ustawienia wysokiego napięcia (z obliczeń) Powtarzalność wartości wysokiego napięcia (z obliczeń) Zmienność wysokiego napięcia przy zmianie natężenia prądu (z obliczeń) Czas ekspozycji Zakres: (0,02 – 25,00) s Pomiar bezpośredni Dokładność ustawienia czasu ekspozycji (z obliczeń) Dawka pochłonięta w powietrzu Zakres: (0,00000004 – 0,091) Gy Pomiar bezpośredni Całkowita Filtracja (z obliczeń) Warstwa półchłonna - HVL (z obliczeń) Wydajność lampy (z obliczeń) Powtarzalność wydajności lampy (z obliczeń) Zmienność wydajność lampy w funkcji natężenia prądu (z obliczeń) Zmienność wydajności lampy w funkcji obciążenia prądowoczasowego (z obliczeń) Odległość pomiędzy ogniskiem optycznym lampy a rejestratorem obrazu Zakres: (0,6 – 1,5) m Pomiar bezpośredni Dokumenty odniesienia PB-LPR-RO/06 Wydanie 6 z dnia 29.06.2015 r. Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r. str. 5/13 PCA Zakres akredytacji Nr AB 1456 Przedmiot badań/wyrób Wyposażenie do zdjęć panoramicznych oraz cefalometrii Rodzaj działalności/badane cechy/metoda Gęstość optyczna - wzmocnienie ekranu Zakres: (0,00 – 4,00) Metoda fotometryczna Odchylenie standardowe gęstości optycznej dla kasety kontrolnej (z obliczeń) Maksymalna różnica gęstości optycznych dla wszystkich kaset Zakres:(0,00 – 4,00) Metoda fotometryczna Różnica gęstości optycznych – szczelność ciemni Zakres:(0,00 – 4,00) Metoda fotometryczna Różnica gęstości optycznych oświetlenie robocze ciemni Zakres:(0,00 – 4,00) Metoda fotometryczna Gęstość minimalna w procesie wywoływania Zakres: (0,00 – 0,50) Metoda fotometryczna Wskaźnik światłoczułości w procesie wywoływania Zakres: (0,70 – 2,00) Metoda fotometryczna Wskaźnik kontrastowości w procesie wywoływania (z obliczeń) Luminancja negatoskopu Zakres: (0,1 – 8700,0) cd/m2 Pomiar bezpośredni Niejednorodność luminancji powierzchni negatoskopu (z obliczeń) Natężenie oświetlenia zewnętrznego negatoskopu Zakres: (0,5 – 1000,0) lux Pomiar bezpośredni Dokumenty odniesienia PB-LPR-RO/06 Wydanie 6 z dnia 29.06.2015 r. Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r. str. 6/13 PCA Zakres akredytacji Nr AB 1456 Przedmiot badań/wyrób Wyposażenie do zdjęć wewnątrzustnych Rodzaj działalności/badane cechy/metoda Wysokie napięcie Zakres: (50 - 80) kV Pomiar bezpośredni Dokładność ustawienia wysokiego napięcia (z obliczeń) Powtarzalność wartości wysokiego napięcia (z obliczeń) Czas ekspozycji Zakres: (0,02 – 4,8) s Pomiar bezpośredni Dokładność ustawienia czasu ekspozycji (z obliczeń) Powtarzalność czasu ekspozycji (zegar) (z obliczeń) Dawka pochłonięta w powietrzu Zakres: (0,00000004 – 0,091) Gy Pomiar bezpośredni Całkowita Filtracja (z obliczeń) Warstwa półchłonna – HVL (z obliczeń) Wydajność lampy (z obliczeń) Powtarzalność wydajności lampy (z obliczeń) Zmienność wydajność lampy w funkcji natężenia prądu (z obliczeń) Zmienność wydajności lampy w funkcji obciążenia prądowoczasowego (z obliczeń) Wielkość ogniska lampy rtg (z obliczeń) Odchylenie pomiędzy osią wiązki a płaszczyzną rejestratora obrazu od kąta prostego (z obliczeń) Odległość: ognisko lampy – powierzchnia czołowa tubusa Zakres: (0,1 – 0,3) m Pomiar bezpośredni Dokumenty odniesienia PB-LPR-RO/06 Wydanie 6 z dnia 29.06.2015 r. Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r. str. 7/13 PCA Zakres akredytacji Nr AB 1456 Przedmiot badań/wyrób Wyposażenie do fluoroskopii Rodzaj działalności/badane cechy/metoda Wysokie napięcie Zakres: (38 – 150) kV Pomiar bezpośredni Dokładność ustawienia wysokiego napięcia (z obliczeń) Powtarzalność wartości wysokiego napięcia (z obliczeń) Zmienność wysokiego napięcia przy zmianie natężenia prądu (z obliczeń) Moc dawki Zakres: (0,00000013 – 0,018) Gy/s Pomiar bezpośredni Warstwa półchłonna - HVL (z obliczeń) Całkowita Filtracja (z obliczeń) Wydajność lampy (z obliczeń) Powtarzalność wydajności lampy (z obliczeń) Zmienność wydajność lampy w funkcji natężenia prądu (z obliczeń) Zmienność wydajności lampy w funkcji obciążenia prądowoczasowego (z obliczeń) Dawka wejściowa na jeden obraz kinematografia Pomiar bezpośredni Czas ekspozycji Zakres: (1 - 650) s Pomiar bezpośredni Stosunek pola promieniowania X do pola widzenia wzmacniacza (z obliczeń) Dokumenty odniesienia PB-LPR-RO/06 Wydanie 6 z dnia 29.06.2015 r. Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r. str. 8/13 PCA Zakres akredytacji Nr AB 1456 Przedmiot badań/wyrób Wyposażenie do mammografii Rodzaj działalności/badane cechy/metoda Wielkość ogniska lampy rtg (z obliczeń) Odległość ognisko – rejestrator obrazu Zakres: (0,6 – 1,5) m Pomiar bezpośredni Odległość pomiędzy krawędziami promieniowania X a krawędziami rejestratora obrazu Zakres: (0,1 – 5,0) cm Pomiar bezpośredni Odległość pomiędzy krawędzią kratki przeciwrozproszeniowej a rejestratorem obrazu Zakres: (0,1 – 5,0) cm Pomiar bezpośredni Dawka pochłonięta w powietrzu Zakres: (0,00000004 – 0,091) Gy Pomiar bezpośredni Wydajność lampy (z obliczeń) Moc dawki Zakres: (0,00000013 – 0,018) Gy/s Pomiar bezpośredni Wysokie napięcie Zakres: (23 – 35) kV Pomiar bezpośredni Dokładność ustawienia wysokiego napięcia (z obliczeń) Powtarzalność wartości wysokiego napięcia (z obliczeń) Czas ekspozycji Zakres: (0,02 – 4,8) s Pomiar bezpośredni Warstwa półchłonna - HVL (z obliczeń) Gęstość optyczna w punkcie referencyjnym Zakres: (1,00 – 2,00) Metoda fotometryczna Różnica gęstości optycznych dla różnych poziomów zaczernienia Zakres: (0,00 – 4,00) Metoda fotometryczna Maksymalna różnica gęstości optycznych dla wszystkich dostępnych poziomów zaczernienia Zakres: (0,00 – 4,00) Metoda fotometryczna Powtarzalność dawki (z obliczeń) Dokumenty odniesienia PB-LPR-MA/05 Wydanie 5 z dnia 29.06.2015 r. Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r. str. 9/13 PCA Zakres akredytacji Nr AB 1456 Przedmiot badań/wyrób Wyposażenie do mammografii Rodzaj działalności/badane cechy/metoda Różnica gęstości optycznych przy zmianie grubości fantomu i wartości wysokiego napięcia Zakres: (0,00 – 4,00) Metoda fotometryczna Dawka wejściowa Zakres: (0,00000004 – 0,091) Gy Pomiar bezpośredni Siła kompresji piersi Zakres pomiaru masy: (10 – 25) kg Pomiar bezpośredni Stałość siły kompresji Zakres pomiaru masy: (10 – 25) kg Pomiar bezpośredni Zmiana położenia płytki uciskowej dla symetrycznego podparcia płytki uciskowej Zakres: (0,1 – 5,0) cm Pomiar bezpośredni Zmiana położenia płytki uciskowej dla niesymetrycznego podparcia płytki uciskowej Zakres: (0,1 – 5,0) cm Pomiar bezpośredni Współczynnik pochłaniania kratki przeciwrozproszeniowej (z obliczeń) Różnica gęstości optycznych wzmocnienie ekranu (z obliczeń) Różnica gęstości optycznych – szczelność ciemni Zakres: (0,00 – 4,00) Metoda fotometryczna Różnica gęstości optycznych oświetlenie robocze ciemni Zakres: (0,00 – 4,00) Metoda fotometryczna Różnica gęstości optycznych przepust ciemni Zakres: (0,00 – 4,00) Metoda fotometryczna Gęstość minimalna w procesie wywoływania Zakres: (0,00 – 0,50) Metoda fotometryczna Wskaźnik światłoczułości w procesie wywoływania Zakres: (0,70 – 2,00) Metoda fotometryczna Wskaźnik kontrastowości w procesie wywoływania (z obliczeń) Dokumenty odniesienia PB-LPR-MA/05 Wydanie 5 z dnia 29.06.2015 r. Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r. str. 10/13 PCA Zakres akredytacji Nr AB 1456 Przedmiot badań/wyrób Wyposażenie do mammografii Rodzaj działalności/badane cechy/metoda Luminancja negatoskopu Zakres: (0,1 – 8700,0) cd/m2 Pomiar bezpośredni Jednorodność luminancji powierzchni negatoskopu (z obliczeń) Natężenie oświetlenia zewnętrznego Zakres: (0,5 – 1000,0) lx Pomiar bezpośredni Dokumenty odniesienia PB-LPR-MA/05 Wydanie 5 z dnia 29.06.2015 r. Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r. str. 11/13 PCA Zakres akredytacji Nr AB 1456 Przedmiot badań/wyrób Wyposażenie do tomografii komputerowej Rodzaj działalności/ badane cechy/ metoda Wysokie napięcie Zakres: (70 – 160) kV Pomiar bezpośredni Dokładność ustawienia wysokiego napięcia (z obliczeń) Powtarzalność wartości wysokiego napięcia (z obliczeń) Zmienność wysokiego napięcia przy zmianie natężenia prądu (z obliczeń) Dawka pochłonięta w powietrzu Zakres: (0,00000004 – 0,091) Gy Pomiar bezpośredni Warstwa półchłonna - HVL (z obliczeń) Powtarzalność wydajności lampy (z obliczeń) Zmienność wydajność lampy w funkcji natężenia prądu (z obliczeń) Zmienność wydajności lampy w funkcji obciążenia prądowoczasowego (z obliczeń) Indeks dawki (z obliczeń) Grubość warstwy (z obliczeń) Dokumenty odniesienia PB-LPR-TK/01 Wydanie 1 z dnia 30.05.2015 r. Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r. str. 12/13 PCA Zakres akredytacji Nr AB 1456 Wykaz zmian Zakresu Akredytacji Nr AB 1456 Status zmian: wersja pierwotna - A Zatwierdzam status zmian KIEROWNIK DZIAŁU AKREDYTACJI LABORATORIÓW TADEUSZ MATRAS dnia: 25.08.2015 r. Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r. str. 13/13