Zakres Akredytacji - Laboratorium Pomiarów Radiologicznych GL

Transkrypt

Zakres Akredytacji - Laboratorium Pomiarów Radiologicznych GL
PCA
Zakres akredytacji Nr AB 1456
ZAKRES AKREDYTACJI
LABORATORIUM BADAWCZEGO
Nr AB 1456
wydany przez
POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI
01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42
Wydanie nr 3, Data wydania: 25 sierpnia 2015 r.
Nazwa i adres
GL CENTER Sp. z o.o.
Laboratorium Pomiarów Radiologicznych
ul. Bałuckiego 4
43-100 Tychy
AB 1456
Kod identyfikacji
dziedziny/przedmiotu
badań
N/14
Dziedzina/przedmiot badań:
Badania właściwości fizycznych wyposażenia medycznego – urządzenia radiologiczne
Wersja strony: A
KIEROWNIK
DZIAŁU AKREDYTACJI
LABORATORIÓW
TADEUSZ MATRAS
Niniejszy dokument jest załącznikiem do Certyfikatu Akredytacji Nr AB 1456 z dnia 30.08.2013 r.
Status akredytacji oraz aktualność zakresu akredytacji można potwierdzić na stronie internetowej PCA www.pca.gov.pl
Dział Akredytacji Laboratoriów
Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r. str. 1/13
PCA
Zakres akredytacji Nr AB 1456
Przedmiot badań/wyrób
Wyposażenie do
radiografii ogólnej
Laboratorium Pomiarów Radiologicznych
ul. Bałuckiego 4 Tychy 43-100
Rodzaj działalności/badane
Dokumenty odniesienia
cechy/metoda
Wysokie napięcie
PB-LPR-RO/06
Zakres: (38 – 160) kV
Wydanie 6 z dnia 29.06.2015 r.
Pomiar bezpośredni
Dokładność ustawienia wysokiego
napięcia
(z obliczeń)
Powtarzalność wartości wysokiego
napięcia
(z obliczeń)
Zmienność wysokiego napięcia przy
zmianie natężenia prądu
(z obliczeń)
Czas ekspozycji
Zakres: (0,02 – 8,0) s
Pomiar bezpośredni
Dokładność ustawienia czasu
ekspozycji
(z obliczeń)
Dawka pochłonięta w powietrzu
Zakres: (0,00000004 – 0,091) Gy
Pomiar bezpośredni
Całkowita Filtracja
(z obliczeń)
Warstwa półchłonna - HVL
(z obliczeń)
Wydajność lampy
(z obliczeń)
Powtarzalność wydajności lampy
(z obliczeń)
Zmienność wydajność lampy w funkcji
natężenia prądu
(z obliczeń)
Zmienność wydajności lampy w
funkcji obciążenia prądowoczasowego
(z obliczeń)
Wielkość ogniska lampy rtg
(z obliczeń)
Odchylenie pomiędzy osią wiązki a
płaszczyzną rejestratora obrazu od
kąta prostego
(z obliczeń)
Wersja strony: A
Dział Akredytacji Laboratoriów
Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r.
str. 2/13
PCA
Zakres akredytacji Nr AB 1456
Przedmiot badań/wyrób
Wyposażenie do
radiografii ogólnej
Rodzaj działalności/badane
cechy/metoda
Odległość osi wiązki promieniowania
rtg od środka rejestratora obrazu
Zakres: (0,1 – 5,0) cm
Pomiar odległości między elementami
obrazu rentgenowskiego
Odległość środka pola rtg od środka
pola świetlnego
Zakres: (0,1 – 5,0) cm
Pomiar odległości między elementami
obrazu rentgenowskiego
Odległość środka pola świetlnego od
środka rejestratora w szufladzie
Zakres: (0,1 – 5,0) cm
Pomiar odległości między elementami
obrazu rentgenowskiego
Odległość pomiędzy krawędziami
pola promieniowania a polem
świetlnym – kolimacja ręczna
Zakres: (0,1 – 5,0) cm
Pomiar odległości między elementami
obrazu rentgenowskiego
Odległość pomiędzy krawędziami
pola promieniowania a rejestratorem
obrazu – kolimacja automatyczna
Zakres: (0,1 – 5,0) cm
Pomiar odległości między elementami
obrazu rentgenowskiego
Odległość pomiędzy ogniskiem
optycznym lampy a rejestratorem
obrazu
Zakres: (0,6 – 1,5) m
Pomiar bezpośredni
Oświetlenie pola symulującego pole
promieniowania rentgenowskiego
Zakres: (0,5 – 1000,0) lx
Pomiar bezpośredni
Jednorodność obrazu kratki
przeciwrozproszeniowej
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Różnica gęstości optycznych przy
zmianie natężenia prądu
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Różnica gęstości optycznych przy
zmianie wysokiego napięcia
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Różnica gęstości optycznych przy
zmianie grubości fantomu
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Dokumenty odniesienia
PB-LPR-RO/06
Wydanie 6 z dnia 29.06.2015 r.
Wersja strony: A
Dział Akredytacji Laboratoriów
Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r.
str. 3/13
PCA
Zakres akredytacji Nr AB 1456
Przedmiot badań/wyrób
Wyposażenie do
radiografii ogólnej
Rodzaj działalności/badane
cechy/metoda
Różnica gęstości optycznych czułości komór AEC
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Gęstość optyczna - wzmocnienie
ekranu
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Odchylenie standardowe gęstości
optycznej dla kasety kontrolnej
(z obliczeń)
Maksymalna różnica gęstości
optycznych dla wszystkich kaset
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Różnica gęstości optycznych –
szczelność ciemni
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Różnica gęstości optycznych oświetlenie robocze ciemni
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Gęstość minimalna w procesie
wywoływania
Zakres: (0,00 – 0,50)
Metoda fotometryczna
Wskaźnik światłoczułości w procesie
wywoływania
Zakres: (0,70 – 2,00)
Metoda fotometryczna
Wskaźnik kontrastowości w procesie
wywoływania
(z obliczeń)
Luminancja negatoskopu
Zakres: (0,1 – 8700,0) cd/m2
Pomiar bezpośredni
Niejednorodność luminancji
powierzchni negatoskopu
(z obliczeń)
Natężenie oświetlenia zewnętrznego
negatoskopu
Zakres: (0,5 – 1000,0) lx
Pomiar bezpośredni
Dokumenty odniesienia
PB-LPR-RO/06
Wydanie 6 z dnia 29.06.2015 r.
Wersja strony: A
Dział Akredytacji Laboratoriów
Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r.
str. 4/13
PCA
Zakres akredytacji Nr AB 1456
Przedmiot badań/wyrób
Wyposażenie do
zdjęć panoramicznych oraz
cefalometrii
Rodzaj działalności/badane
cechy/metoda
Wysokie napięcie
Zakres: (40 – 120) kV
Pomiar bezpośredni
Dokładność ustawienia wysokiego
napięcia
(z obliczeń)
Powtarzalność wartości wysokiego
napięcia
(z obliczeń)
Zmienność wysokiego napięcia przy
zmianie natężenia prądu
(z obliczeń)
Czas ekspozycji
Zakres: (0,02 – 25,00) s
Pomiar bezpośredni
Dokładność ustawienia czasu
ekspozycji
(z obliczeń)
Dawka pochłonięta w powietrzu
Zakres: (0,00000004 – 0,091) Gy
Pomiar bezpośredni
Całkowita Filtracja
(z obliczeń)
Warstwa półchłonna - HVL
(z obliczeń)
Wydajność lampy
(z obliczeń)
Powtarzalność wydajności lampy
(z obliczeń)
Zmienność wydajność lampy w funkcji
natężenia prądu
(z obliczeń)
Zmienność wydajności lampy w
funkcji obciążenia prądowoczasowego
(z obliczeń)
Odległość pomiędzy ogniskiem
optycznym lampy a rejestratorem
obrazu
Zakres: (0,6 – 1,5) m
Pomiar bezpośredni
Dokumenty odniesienia
PB-LPR-RO/06
Wydanie 6 z dnia 29.06.2015 r.
Wersja strony: A
Dział Akredytacji Laboratoriów
Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r.
str. 5/13
PCA
Zakres akredytacji Nr AB 1456
Przedmiot badań/wyrób
Wyposażenie do
zdjęć panoramicznych oraz
cefalometrii
Rodzaj działalności/badane
cechy/metoda
Gęstość optyczna - wzmocnienie
ekranu
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Odchylenie standardowe gęstości
optycznej dla kasety kontrolnej
(z obliczeń)
Maksymalna różnica gęstości
optycznych dla wszystkich kaset
Zakres:(0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Różnica gęstości optycznych –
szczelność ciemni
Zakres:(0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Różnica gęstości optycznych oświetlenie robocze ciemni
Zakres:(0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Gęstość minimalna w procesie
wywoływania
Zakres: (0,00 – 0,50)
Metoda fotometryczna
Wskaźnik światłoczułości w procesie
wywoływania
Zakres: (0,70 – 2,00)
Metoda fotometryczna
Wskaźnik kontrastowości w procesie
wywoływania
(z obliczeń)
Luminancja negatoskopu
Zakres: (0,1 – 8700,0) cd/m2
Pomiar bezpośredni
Niejednorodność luminancji
powierzchni negatoskopu
(z obliczeń)
Natężenie oświetlenia zewnętrznego
negatoskopu
Zakres: (0,5 – 1000,0) lux
Pomiar bezpośredni
Dokumenty odniesienia
PB-LPR-RO/06
Wydanie 6 z dnia 29.06.2015 r.
Wersja strony: A
Dział Akredytacji Laboratoriów
Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r.
str. 6/13
PCA
Zakres akredytacji Nr AB 1456
Przedmiot badań/wyrób
Wyposażenie do
zdjęć wewnątrzustnych
Rodzaj działalności/badane
cechy/metoda
Wysokie napięcie
Zakres: (50 - 80) kV
Pomiar bezpośredni
Dokładność ustawienia wysokiego
napięcia
(z obliczeń)
Powtarzalność wartości wysokiego
napięcia
(z obliczeń)
Czas ekspozycji
Zakres: (0,02 – 4,8) s
Pomiar bezpośredni
Dokładność ustawienia czasu
ekspozycji
(z obliczeń)
Powtarzalność czasu ekspozycji
(zegar)
(z obliczeń)
Dawka pochłonięta w powietrzu
Zakres: (0,00000004 – 0,091) Gy
Pomiar bezpośredni
Całkowita Filtracja
(z obliczeń)
Warstwa półchłonna – HVL
(z obliczeń)
Wydajność lampy
(z obliczeń)
Powtarzalność wydajności lampy
(z obliczeń)
Zmienność wydajność lampy w funkcji
natężenia prądu
(z obliczeń)
Zmienność wydajności lampy w
funkcji obciążenia prądowoczasowego
(z obliczeń)
Wielkość ogniska lampy rtg
(z obliczeń)
Odchylenie pomiędzy osią wiązki a
płaszczyzną rejestratora obrazu od
kąta prostego
(z obliczeń)
Odległość: ognisko lampy –
powierzchnia czołowa tubusa
Zakres: (0,1 – 0,3) m
Pomiar bezpośredni
Dokumenty odniesienia
PB-LPR-RO/06
Wydanie 6 z dnia 29.06.2015 r.
Wersja strony: A
Dział Akredytacji Laboratoriów
Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r.
str. 7/13
PCA
Zakres akredytacji Nr AB 1456
Przedmiot badań/wyrób
Wyposażenie do
fluoroskopii
Rodzaj działalności/badane
cechy/metoda
Wysokie napięcie
Zakres: (38 – 150) kV
Pomiar bezpośredni
Dokładność ustawienia wysokiego
napięcia
(z obliczeń)
Powtarzalność wartości wysokiego
napięcia
(z obliczeń)
Zmienność wysokiego napięcia przy
zmianie natężenia prądu
(z obliczeń)
Moc dawki
Zakres: (0,00000013 – 0,018) Gy/s
Pomiar bezpośredni
Warstwa półchłonna - HVL
(z obliczeń)
Całkowita Filtracja
(z obliczeń)
Wydajność lampy
(z obliczeń)
Powtarzalność wydajności lampy
(z obliczeń)
Zmienność wydajność lampy w funkcji
natężenia prądu
(z obliczeń)
Zmienność wydajności lampy w
funkcji obciążenia prądowoczasowego
(z obliczeń)
Dawka wejściowa na jeden obraz kinematografia
Pomiar bezpośredni
Czas ekspozycji
Zakres: (1 - 650) s
Pomiar bezpośredni
Stosunek pola promieniowania X do
pola widzenia wzmacniacza
(z obliczeń)
Dokumenty odniesienia
PB-LPR-RO/06
Wydanie 6 z dnia 29.06.2015 r.
Wersja strony: A
Dział Akredytacji Laboratoriów
Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r.
str. 8/13
PCA
Zakres akredytacji Nr AB 1456
Przedmiot badań/wyrób
Wyposażenie do
mammografii
Rodzaj działalności/badane
cechy/metoda
Wielkość ogniska lampy rtg
(z obliczeń)
Odległość ognisko – rejestrator
obrazu
Zakres: (0,6 – 1,5) m
Pomiar bezpośredni
Odległość pomiędzy krawędziami
promieniowania X a krawędziami
rejestratora obrazu
Zakres: (0,1 – 5,0) cm
Pomiar bezpośredni
Odległość pomiędzy krawędzią kratki
przeciwrozproszeniowej
a rejestratorem obrazu
Zakres: (0,1 – 5,0) cm
Pomiar bezpośredni
Dawka pochłonięta w powietrzu
Zakres: (0,00000004 – 0,091) Gy
Pomiar bezpośredni
Wydajność lampy
(z obliczeń)
Moc dawki
Zakres: (0,00000013 – 0,018) Gy/s
Pomiar bezpośredni
Wysokie napięcie
Zakres: (23 – 35) kV
Pomiar bezpośredni
Dokładność ustawienia wysokiego
napięcia
(z obliczeń)
Powtarzalność wartości wysokiego
napięcia
(z obliczeń)
Czas ekspozycji
Zakres: (0,02 – 4,8) s
Pomiar bezpośredni
Warstwa półchłonna - HVL
(z obliczeń)
Gęstość optyczna w punkcie
referencyjnym
Zakres: (1,00 – 2,00)
Metoda fotometryczna
Różnica gęstości optycznych dla
różnych poziomów zaczernienia
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Maksymalna różnica gęstości
optycznych dla wszystkich
dostępnych poziomów zaczernienia
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Powtarzalność dawki
(z obliczeń)
Dokumenty odniesienia
PB-LPR-MA/05
Wydanie 5 z dnia 29.06.2015 r.
Wersja strony: A
Dział Akredytacji Laboratoriów
Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r.
str. 9/13
PCA
Zakres akredytacji Nr AB 1456
Przedmiot badań/wyrób
Wyposażenie do
mammografii
Rodzaj działalności/badane
cechy/metoda
Różnica gęstości optycznych przy
zmianie grubości fantomu i wartości
wysokiego napięcia
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Dawka wejściowa
Zakres: (0,00000004 – 0,091) Gy
Pomiar bezpośredni
Siła kompresji piersi
Zakres pomiaru masy: (10 – 25) kg
Pomiar bezpośredni
Stałość siły kompresji
Zakres pomiaru masy: (10 – 25) kg
Pomiar bezpośredni
Zmiana położenia płytki uciskowej dla
symetrycznego podparcia płytki
uciskowej
Zakres: (0,1 – 5,0) cm
Pomiar bezpośredni
Zmiana położenia płytki uciskowej dla
niesymetrycznego podparcia płytki
uciskowej
Zakres: (0,1 – 5,0) cm
Pomiar bezpośredni
Współczynnik pochłaniania kratki
przeciwrozproszeniowej
(z obliczeń)
Różnica gęstości optycznych wzmocnienie ekranu
(z obliczeń)
Różnica gęstości optycznych –
szczelność ciemni
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Różnica gęstości optycznych oświetlenie robocze ciemni
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Różnica gęstości optycznych przepust ciemni
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Gęstość minimalna w procesie
wywoływania
Zakres: (0,00 – 0,50)
Metoda fotometryczna
Wskaźnik światłoczułości w procesie
wywoływania
Zakres: (0,70 – 2,00)
Metoda fotometryczna
Wskaźnik kontrastowości w procesie
wywoływania
(z obliczeń)
Dokumenty odniesienia
PB-LPR-MA/05
Wydanie 5 z dnia 29.06.2015 r.
Wersja strony: A
Dział Akredytacji Laboratoriów
Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r.
str. 10/13
PCA
Zakres akredytacji Nr AB 1456
Przedmiot badań/wyrób
Wyposażenie do
mammografii
Rodzaj działalności/badane
cechy/metoda
Luminancja negatoskopu
Zakres: (0,1 – 8700,0) cd/m2
Pomiar bezpośredni
Jednorodność luminancji powierzchni
negatoskopu
(z obliczeń)
Natężenie oświetlenia zewnętrznego
Zakres: (0,5 – 1000,0) lx
Pomiar bezpośredni
Dokumenty odniesienia
PB-LPR-MA/05
Wydanie 5 z dnia 29.06.2015 r.
Wersja strony: A
Dział Akredytacji Laboratoriów
Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r.
str. 11/13
PCA
Zakres akredytacji Nr AB 1456
Przedmiot badań/wyrób
Wyposażenie do
tomografii komputerowej
Rodzaj działalności/ badane cechy/
metoda
Wysokie napięcie
Zakres: (70 – 160) kV
Pomiar bezpośredni
Dokładność ustawienia wysokiego
napięcia
(z obliczeń)
Powtarzalność wartości wysokiego
napięcia
(z obliczeń)
Zmienność wysokiego napięcia przy
zmianie natężenia prądu
(z obliczeń)
Dawka pochłonięta w powietrzu
Zakres: (0,00000004 – 0,091) Gy
Pomiar bezpośredni
Warstwa półchłonna - HVL
(z obliczeń)
Powtarzalność wydajności lampy
(z obliczeń)
Zmienność wydajność lampy w funkcji
natężenia prądu
(z obliczeń)
Zmienność wydajności lampy w
funkcji obciążenia prądowoczasowego
(z obliczeń)
Indeks dawki
(z obliczeń)
Grubość warstwy
(z obliczeń)
Dokumenty odniesienia
PB-LPR-TK/01
Wydanie 1 z dnia 30.05.2015 r.
Wersja strony: A
Dział Akredytacji Laboratoriów
Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r.
str. 12/13
PCA
Zakres akredytacji Nr AB 1456
Wykaz zmian
Zakresu Akredytacji Nr AB 1456
Status zmian: wersja pierwotna - A
Zatwierdzam status zmian
KIEROWNIK
DZIAŁU AKREDYTACJI
LABORATORIÓW
TADEUSZ MATRAS
dnia: 25.08.2015 r.
Dział Akredytacji Laboratoriów
Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r.
str. 13/13
PCA
Zakres akredytacji Nr AB 1456
ZAKRES AKREDYTACJI
LABORATORIUM BADAWCZEGO
Nr AB 1456
wydany przez
POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI
01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42
Wydanie nr 3, Data wydania: 25 sierpnia 2015 r.
Nazwa i adres
GL CENTER Sp. z o.o.
Laboratorium Pomiarów Radiologicznych
ul. Bałuckiego 4
43-100 Tychy
AB 1456
Kod identyfikacji
dziedziny/przedmiotu
badań
N/14
Dziedzina/przedmiot badań:
Badania właściwości fizycznych wyposażenia medycznego – urządzenia radiologiczne
Wersja strony: A
KIEROWNIK
DZIAŁU AKREDYTACJI
LABORATORIÓW
TADEUSZ MATRAS
Niniejszy dokument jest załącznikiem do Certyfikatu Akredytacji Nr AB 1456 z dnia 30.08.2013 r.
Status akredytacji oraz aktualność zakresu akredytacji można potwierdzić na stronie internetowej PCA www.pca.gov.pl
Dział Akredytacji Laboratoriów
Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r. str. 1/13
PCA
Zakres akredytacji Nr AB 1456
Przedmiot badań/wyrób
Wyposażenie do
radiografii ogólnej
Laboratorium Pomiarów Radiologicznych
ul. Bałuckiego 4 Tychy 43-100
Rodzaj działalności/badane
Dokumenty odniesienia
cechy/metoda
Wysokie napięcie
PB-LPR-RO/06
Zakres: (38 – 160) kV
Wydanie 6 z dnia 29.06.2015 r.
Pomiar bezpośredni
Dokładność ustawienia wysokiego
napięcia
(z obliczeń)
Powtarzalność wartości wysokiego
napięcia
(z obliczeń)
Zmienność wysokiego napięcia przy
zmianie natężenia prądu
(z obliczeń)
Czas ekspozycji
Zakres: (0,02 – 8,0) s
Pomiar bezpośredni
Dokładność ustawienia czasu
ekspozycji
(z obliczeń)
Dawka pochłonięta w powietrzu
Zakres: (0,00000004 – 0,091) Gy
Pomiar bezpośredni
Całkowita Filtracja
(z obliczeń)
Warstwa półchłonna - HVL
(z obliczeń)
Wydajność lampy
(z obliczeń)
Powtarzalność wydajności lampy
(z obliczeń)
Zmienność wydajność lampy w funkcji
natężenia prądu
(z obliczeń)
Zmienność wydajności lampy w
funkcji obciążenia prądowoczasowego
(z obliczeń)
Wielkość ogniska lampy rtg
(z obliczeń)
Odchylenie pomiędzy osią wiązki a
płaszczyzną rejestratora obrazu od
kąta prostego
(z obliczeń)
Wersja strony: A
Dział Akredytacji Laboratoriów
Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r.
str. 2/13
PCA
Zakres akredytacji Nr AB 1456
Przedmiot badań/wyrób
Wyposażenie do
radiografii ogólnej
Rodzaj działalności/badane
cechy/metoda
Odległość osi wiązki promieniowania
rtg od środka rejestratora obrazu
Zakres: (0,1 – 5,0) cm
Pomiar odległości między elementami
obrazu rentgenowskiego
Odległość środka pola rtg od środka
pola świetlnego
Zakres: (0,1 – 5,0) cm
Pomiar odległości między elementami
obrazu rentgenowskiego
Odległość środka pola świetlnego od
środka rejestratora w szufladzie
Zakres: (0,1 – 5,0) cm
Pomiar odległości między elementami
obrazu rentgenowskiego
Odległość pomiędzy krawędziami
pola promieniowania a polem
świetlnym – kolimacja ręczna
Zakres: (0,1 – 5,0) cm
Pomiar odległości między elementami
obrazu rentgenowskiego
Odległość pomiędzy krawędziami
pola promieniowania a rejestratorem
obrazu – kolimacja automatyczna
Zakres: (0,1 – 5,0) cm
Pomiar odległości między elementami
obrazu rentgenowskiego
Odległość pomiędzy ogniskiem
optycznym lampy a rejestratorem
obrazu
Zakres: (0,6 – 1,5) m
Pomiar bezpośredni
Oświetlenie pola symulującego pole
promieniowania rentgenowskiego
Zakres: (0,5 – 1000,0) lx
Pomiar bezpośredni
Jednorodność obrazu kratki
przeciwrozproszeniowej
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Różnica gęstości optycznych przy
zmianie natężenia prądu
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Różnica gęstości optycznych przy
zmianie wysokiego napięcia
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Różnica gęstości optycznych przy
zmianie grubości fantomu
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Dokumenty odniesienia
PB-LPR-RO/06
Wydanie 6 z dnia 29.06.2015 r.
Wersja strony: A
Dział Akredytacji Laboratoriów
Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r.
str. 3/13
PCA
Zakres akredytacji Nr AB 1456
Przedmiot badań/wyrób
Wyposażenie do
radiografii ogólnej
Rodzaj działalności/badane
cechy/metoda
Różnica gęstości optycznych czułości komór AEC
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Gęstość optyczna - wzmocnienie
ekranu
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Odchylenie standardowe gęstości
optycznej dla kasety kontrolnej
(z obliczeń)
Maksymalna różnica gęstości
optycznych dla wszystkich kaset
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Różnica gęstości optycznych –
szczelność ciemni
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Różnica gęstości optycznych oświetlenie robocze ciemni
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Gęstość minimalna w procesie
wywoływania
Zakres: (0,00 – 0,50)
Metoda fotometryczna
Wskaźnik światłoczułości w procesie
wywoływania
Zakres: (0,70 – 2,00)
Metoda fotometryczna
Wskaźnik kontrastowości w procesie
wywoływania
(z obliczeń)
Luminancja negatoskopu
Zakres: (0,1 – 8700,0) cd/m2
Pomiar bezpośredni
Niejednorodność luminancji
powierzchni negatoskopu
(z obliczeń)
Natężenie oświetlenia zewnętrznego
negatoskopu
Zakres: (0,5 – 1000,0) lx
Pomiar bezpośredni
Dokumenty odniesienia
PB-LPR-RO/06
Wydanie 6 z dnia 29.06.2015 r.
Wersja strony: A
Dział Akredytacji Laboratoriów
Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r.
str. 4/13
PCA
Zakres akredytacji Nr AB 1456
Przedmiot badań/wyrób
Wyposażenie do
zdjęć panoramicznych oraz
cefalometrii
Rodzaj działalności/badane
cechy/metoda
Wysokie napięcie
Zakres: (40 – 120) kV
Pomiar bezpośredni
Dokładność ustawienia wysokiego
napięcia
(z obliczeń)
Powtarzalność wartości wysokiego
napięcia
(z obliczeń)
Zmienność wysokiego napięcia przy
zmianie natężenia prądu
(z obliczeń)
Czas ekspozycji
Zakres: (0,02 – 25,00) s
Pomiar bezpośredni
Dokładność ustawienia czasu
ekspozycji
(z obliczeń)
Dawka pochłonięta w powietrzu
Zakres: (0,00000004 – 0,091) Gy
Pomiar bezpośredni
Całkowita Filtracja
(z obliczeń)
Warstwa półchłonna - HVL
(z obliczeń)
Wydajność lampy
(z obliczeń)
Powtarzalność wydajności lampy
(z obliczeń)
Zmienność wydajność lampy w funkcji
natężenia prądu
(z obliczeń)
Zmienność wydajności lampy w
funkcji obciążenia prądowoczasowego
(z obliczeń)
Odległość pomiędzy ogniskiem
optycznym lampy a rejestratorem
obrazu
Zakres: (0,6 – 1,5) m
Pomiar bezpośredni
Dokumenty odniesienia
PB-LPR-RO/06
Wydanie 6 z dnia 29.06.2015 r.
Wersja strony: A
Dział Akredytacji Laboratoriów
Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r.
str. 5/13
PCA
Zakres akredytacji Nr AB 1456
Przedmiot badań/wyrób
Wyposażenie do
zdjęć panoramicznych oraz
cefalometrii
Rodzaj działalności/badane
cechy/metoda
Gęstość optyczna - wzmocnienie
ekranu
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Odchylenie standardowe gęstości
optycznej dla kasety kontrolnej
(z obliczeń)
Maksymalna różnica gęstości
optycznych dla wszystkich kaset
Zakres:(0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Różnica gęstości optycznych –
szczelność ciemni
Zakres:(0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Różnica gęstości optycznych oświetlenie robocze ciemni
Zakres:(0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Gęstość minimalna w procesie
wywoływania
Zakres: (0,00 – 0,50)
Metoda fotometryczna
Wskaźnik światłoczułości w procesie
wywoływania
Zakres: (0,70 – 2,00)
Metoda fotometryczna
Wskaźnik kontrastowości w procesie
wywoływania
(z obliczeń)
Luminancja negatoskopu
Zakres: (0,1 – 8700,0) cd/m2
Pomiar bezpośredni
Niejednorodność luminancji
powierzchni negatoskopu
(z obliczeń)
Natężenie oświetlenia zewnętrznego
negatoskopu
Zakres: (0,5 – 1000,0) lux
Pomiar bezpośredni
Dokumenty odniesienia
PB-LPR-RO/06
Wydanie 6 z dnia 29.06.2015 r.
Wersja strony: A
Dział Akredytacji Laboratoriów
Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r.
str. 6/13
PCA
Zakres akredytacji Nr AB 1456
Przedmiot badań/wyrób
Wyposażenie do
zdjęć wewnątrzustnych
Rodzaj działalności/badane
cechy/metoda
Wysokie napięcie
Zakres: (50 - 80) kV
Pomiar bezpośredni
Dokładność ustawienia wysokiego
napięcia
(z obliczeń)
Powtarzalność wartości wysokiego
napięcia
(z obliczeń)
Czas ekspozycji
Zakres: (0,02 – 4,8) s
Pomiar bezpośredni
Dokładność ustawienia czasu
ekspozycji
(z obliczeń)
Powtarzalność czasu ekspozycji
(zegar)
(z obliczeń)
Dawka pochłonięta w powietrzu
Zakres: (0,00000004 – 0,091) Gy
Pomiar bezpośredni
Całkowita Filtracja
(z obliczeń)
Warstwa półchłonna – HVL
(z obliczeń)
Wydajność lampy
(z obliczeń)
Powtarzalność wydajności lampy
(z obliczeń)
Zmienność wydajność lampy w funkcji
natężenia prądu
(z obliczeń)
Zmienność wydajności lampy w
funkcji obciążenia prądowoczasowego
(z obliczeń)
Wielkość ogniska lampy rtg
(z obliczeń)
Odchylenie pomiędzy osią wiązki a
płaszczyzną rejestratora obrazu od
kąta prostego
(z obliczeń)
Odległość: ognisko lampy –
powierzchnia czołowa tubusa
Zakres: (0,1 – 0,3) m
Pomiar bezpośredni
Dokumenty odniesienia
PB-LPR-RO/06
Wydanie 6 z dnia 29.06.2015 r.
Wersja strony: A
Dział Akredytacji Laboratoriów
Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r.
str. 7/13
PCA
Zakres akredytacji Nr AB 1456
Przedmiot badań/wyrób
Wyposażenie do
fluoroskopii
Rodzaj działalności/badane
cechy/metoda
Wysokie napięcie
Zakres: (38 – 150) kV
Pomiar bezpośredni
Dokładność ustawienia wysokiego
napięcia
(z obliczeń)
Powtarzalność wartości wysokiego
napięcia
(z obliczeń)
Zmienność wysokiego napięcia przy
zmianie natężenia prądu
(z obliczeń)
Moc dawki
Zakres: (0,00000013 – 0,018) Gy/s
Pomiar bezpośredni
Warstwa półchłonna - HVL
(z obliczeń)
Całkowita Filtracja
(z obliczeń)
Wydajność lampy
(z obliczeń)
Powtarzalność wydajności lampy
(z obliczeń)
Zmienność wydajność lampy w funkcji
natężenia prądu
(z obliczeń)
Zmienność wydajności lampy w
funkcji obciążenia prądowoczasowego
(z obliczeń)
Dawka wejściowa na jeden obraz kinematografia
Pomiar bezpośredni
Czas ekspozycji
Zakres: (1 - 650) s
Pomiar bezpośredni
Stosunek pola promieniowania X do
pola widzenia wzmacniacza
(z obliczeń)
Dokumenty odniesienia
PB-LPR-RO/06
Wydanie 6 z dnia 29.06.2015 r.
Wersja strony: A
Dział Akredytacji Laboratoriów
Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r.
str. 8/13
PCA
Zakres akredytacji Nr AB 1456
Przedmiot badań/wyrób
Wyposażenie do
mammografii
Rodzaj działalności/badane
cechy/metoda
Wielkość ogniska lampy rtg
(z obliczeń)
Odległość ognisko – rejestrator
obrazu
Zakres: (0,6 – 1,5) m
Pomiar bezpośredni
Odległość pomiędzy krawędziami
promieniowania X a krawędziami
rejestratora obrazu
Zakres: (0,1 – 5,0) cm
Pomiar bezpośredni
Odległość pomiędzy krawędzią kratki
przeciwrozproszeniowej
a rejestratorem obrazu
Zakres: (0,1 – 5,0) cm
Pomiar bezpośredni
Dawka pochłonięta w powietrzu
Zakres: (0,00000004 – 0,091) Gy
Pomiar bezpośredni
Wydajność lampy
(z obliczeń)
Moc dawki
Zakres: (0,00000013 – 0,018) Gy/s
Pomiar bezpośredni
Wysokie napięcie
Zakres: (23 – 35) kV
Pomiar bezpośredni
Dokładność ustawienia wysokiego
napięcia
(z obliczeń)
Powtarzalność wartości wysokiego
napięcia
(z obliczeń)
Czas ekspozycji
Zakres: (0,02 – 4,8) s
Pomiar bezpośredni
Warstwa półchłonna - HVL
(z obliczeń)
Gęstość optyczna w punkcie
referencyjnym
Zakres: (1,00 – 2,00)
Metoda fotometryczna
Różnica gęstości optycznych dla
różnych poziomów zaczernienia
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Maksymalna różnica gęstości
optycznych dla wszystkich
dostępnych poziomów zaczernienia
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Powtarzalność dawki
(z obliczeń)
Dokumenty odniesienia
PB-LPR-MA/05
Wydanie 5 z dnia 29.06.2015 r.
Wersja strony: A
Dział Akredytacji Laboratoriów
Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r.
str. 9/13
PCA
Zakres akredytacji Nr AB 1456
Przedmiot badań/wyrób
Wyposażenie do
mammografii
Rodzaj działalności/badane
cechy/metoda
Różnica gęstości optycznych przy
zmianie grubości fantomu i wartości
wysokiego napięcia
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Dawka wejściowa
Zakres: (0,00000004 – 0,091) Gy
Pomiar bezpośredni
Siła kompresji piersi
Zakres pomiaru masy: (10 – 25) kg
Pomiar bezpośredni
Stałość siły kompresji
Zakres pomiaru masy: (10 – 25) kg
Pomiar bezpośredni
Zmiana położenia płytki uciskowej dla
symetrycznego podparcia płytki
uciskowej
Zakres: (0,1 – 5,0) cm
Pomiar bezpośredni
Zmiana położenia płytki uciskowej dla
niesymetrycznego podparcia płytki
uciskowej
Zakres: (0,1 – 5,0) cm
Pomiar bezpośredni
Współczynnik pochłaniania kratki
przeciwrozproszeniowej
(z obliczeń)
Różnica gęstości optycznych wzmocnienie ekranu
(z obliczeń)
Różnica gęstości optycznych –
szczelność ciemni
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Różnica gęstości optycznych oświetlenie robocze ciemni
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Różnica gęstości optycznych przepust ciemni
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Gęstość minimalna w procesie
wywoływania
Zakres: (0,00 – 0,50)
Metoda fotometryczna
Wskaźnik światłoczułości w procesie
wywoływania
Zakres: (0,70 – 2,00)
Metoda fotometryczna
Wskaźnik kontrastowości w procesie
wywoływania
(z obliczeń)
Dokumenty odniesienia
PB-LPR-MA/05
Wydanie 5 z dnia 29.06.2015 r.
Wersja strony: A
Dział Akredytacji Laboratoriów
Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r.
str. 10/13
PCA
Zakres akredytacji Nr AB 1456
Przedmiot badań/wyrób
Wyposażenie do
mammografii
Rodzaj działalności/badane
cechy/metoda
Luminancja negatoskopu
Zakres: (0,1 – 8700,0) cd/m2
Pomiar bezpośredni
Jednorodność luminancji powierzchni
negatoskopu
(z obliczeń)
Natężenie oświetlenia zewnętrznego
Zakres: (0,5 – 1000,0) lx
Pomiar bezpośredni
Dokumenty odniesienia
PB-LPR-MA/05
Wydanie 5 z dnia 29.06.2015 r.
Wersja strony: A
Dział Akredytacji Laboratoriów
Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r.
str. 11/13
PCA
Zakres akredytacji Nr AB 1456
Przedmiot badań/wyrób
Wyposażenie do
tomografii komputerowej
Rodzaj działalności/ badane cechy/
metoda
Wysokie napięcie
Zakres: (70 – 160) kV
Pomiar bezpośredni
Dokładność ustawienia wysokiego
napięcia
(z obliczeń)
Powtarzalność wartości wysokiego
napięcia
(z obliczeń)
Zmienność wysokiego napięcia przy
zmianie natężenia prądu
(z obliczeń)
Dawka pochłonięta w powietrzu
Zakres: (0,00000004 – 0,091) Gy
Pomiar bezpośredni
Warstwa półchłonna - HVL
(z obliczeń)
Powtarzalność wydajności lampy
(z obliczeń)
Zmienność wydajność lampy w funkcji
natężenia prądu
(z obliczeń)
Zmienność wydajności lampy w
funkcji obciążenia prądowoczasowego
(z obliczeń)
Indeks dawki
(z obliczeń)
Grubość warstwy
(z obliczeń)
Dokumenty odniesienia
PB-LPR-TK/01
Wydanie 1 z dnia 30.05.2015 r.
Wersja strony: A
Dział Akredytacji Laboratoriów
Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r.
str. 12/13
PCA
Zakres akredytacji Nr AB 1456
Wykaz zmian
Zakresu Akredytacji Nr AB 1456
Status zmian: wersja pierwotna - A
Zatwierdzam status zmian
KIEROWNIK
DZIAŁU AKREDYTACJI
LABORATORIÓW
TADEUSZ MATRAS
dnia: 25.08.2015 r.
Dział Akredytacji Laboratoriów
Wydanie nr 3, 25 sierpnia 2015 r.
str. 13/13

Podobne dokumenty