LABORATORIUM BADAŃ RADIACYJNYCH Wykaz metod

LABORATORIUM BADAŃ RADIACYJNYCH
Wykaz metod akredytowanych
Aktualizacja: 2014-02-05
Badane obiekty / Grupa
obiektów
Wyroby konsumpcyjne - w tym
żywność
Produkty rolne - w tym pasze dla
zwierząt
Woda
Badane cechy i metody badawcze
Stężenie izotopu cezu Cs-137
Zakres: (0,7 – 10000) Bq/kg, Bq/l
Metoda spektrometrii gamma
Normy i/lub udokumentowane
procedury badawcze
PB_26
edycja 2 z dnia 2009-04-08
Natężenie pola elektrycznego w paśmie
częstotliwości :
Środowisko pracy - pola
elektromagnetyczne
-(0,01-99)kHz
Zakres (1-20 000) V/m
-(0,01-29)MHz
Zakres (0,3-900) V/m
-(0,1-300)MHz
Zakres (1,5-1100) V/m
- (0,003-18)GHz
Zakres (0,5-1000)V/m
- (0,3-50)GHz
Zakres (9,5-760)V/m
Metoda pomiarowa bezpośrednia
Natężenie pola magnetycznego w paśmie
częstotliwości :
PN-T-06580-3:2002
Rozporządzenie Ministra Pracy
i Polityki Społecznej z dnia 29
listopada 2002 r. (Dz. U. Nr 217,
poz.1833)
-(0,01 – 99) kHz
Zakres (0,8 – 7000) A/m
- (0,1-10)MHz
Zakres (0,11 – 150)A/m
-(10-20) MHz
Zakres (0,11-100) A/m
-(0,027– 1) GHz
Zakres (0,01 – 2,5) A/m
-0 Hz (pole stałe)
Zakres (420-790000) A/m (0,52-998 mT)
Metoda pomiarowa bezpośrednia
Wyposażenie do radiografii ogólnej
Wysokie napięcie
Zakres: (40 – 150)kV
Pomiar bezpośredni
Dokładność ustawienia wysokiego
napięcia
Metoda obliczeniowa
Powtarzalność wartości wysokiego
napięcia
Metoda obliczeniowa
Zmienność wysokiego napięcia przy
zmianie natężenia prądu
Metoda obliczeniowa
Czas ekspozycji
Zakres: (0 - 6)s
Pomiar bezpośredni
Dokładność ustawienia czasu ekspozycji
Metoda obliczeniowa
Dawka pochłonięta w powietrzu
Zakres: (0 – 0,1) Gy
Pomiar bezpośredni
PB_77 Edycja 5
z dnia 2013-06-27
Warstwa półchłonna – HVL
Metoda obliczeniowa
Wydajność lampy
Metoda obliczeniowa
Powtarzalność wydajności lampy
Metoda obliczeniowa
Zmienność wydajność lampy w funkcji
natężenia prądu
Metoda obliczeniowa
Zmienność wydajności lampy w funkcji
obciążenia prądowo-czasowego
Metoda obliczeniowa
Odległość osi wiązki promieniowania rtg
od środka rejestratora obrazu
Zakres: (0,001 – 0,30) m
Pomiar odległości między elementami
obrazu rentgenowskiego
Odległość środka pola rtg od środka
pola świetlnego
Zakres: (0,001 – 0,30) m
Pomiar odległości między elementami
obrazu rentgenowskiego
Wyposażenie do radiografii ogólnej
Odległość środka pola świetlnego od
środka rejestratora w szufladzie
Zakres : (0,001 – 0,30) m
Pomiar odległości między elementami
obrazu rentgenowskiego
Odległość pomiędzy krawędziami pola
promieniowania a krawędziami pola
świetlnego – kolimacja ręczna
Zakres : (0,001 – 0,30) m
Pomiar odległości między elementami
obrazu rentgenowskiego
Odległość pomiędzy krawędziami pola
promieniowania a rejestratorem obrazu –
kolimacja automatyczna
Zakres : (0,001 – 0,30) m
Pomiar odległości między elementami
obrazu rentgenowskiego
Odchylenie pomiędzy osią wiązki a
płaszczyzną rejestratora obrazu
Metoda obliczeniowa
Natężenie oświetlenia pola symulującego
pole promieniowania rtg
Zakres : (20-260) lx
Pomiar bezpośredni
Gęstość optyczna – wzmocnienie ekranu
Zakres: (0,00-4,00)
Metoda fotometryczna
Odchylenie standardowe gęstości
optycznej dla kasety kontrolnej
Metoda obliczeniowa
Maksymalna różnica gęstości
optycznych dla wszystkich kaset
Metoda obliczeniowa
Wielkość ogniska lampy rtg
Metoda obliczeniowa
PB_77 Edycja 5
z dnia 2013-06-27 Wyposażenie do radiografii ogólnej
Wyposażenie do zdjęć
wewnątrzustnych (stomatologia)
Jednorodność obrazu kratki
przeciwrozproszeniowej
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Odległość pomiędzy ogniskiem
optycznym lampy a rejestratorem obrazu
Zakres: (0,001 – 3,00) m
Pomiar pośredni
Gęstość optyczna przy zmianie natężenia
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Gęstość optyczna przy zmianie
wysokiego napięcia
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Gęstość optyczna przy zmianie grubości
fantomu
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Gęstość optyczna - czułość komór AEC
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Różnica gęstości optycznych –
szczelność ciemni
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Różnica gęstości optycznych –
oświetlenie robocze ciemni
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Gęstość optyczna – gęstość minimalna
w procesie wywoływania
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Gęstość optyczna – wskaźnik
światłoczułości w procesie wywoływania
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Gęstość optyczna – wskaźnik
kontrastowości w procesie wywoływania
Metoda obliczeniowa
Luminancja negatoskopu
Zakres: (110 – 7000) cd/m2
Pomiar bezpośredni
Jednorodność luminancji powierzchni
negatoskopu
Metoda obliczeniowa
Natężenie oświetlenia zewnętrznego
Zakres: (20-260) lux
Pomiar bezpośredni
Wysokie napięcie
Zakres: (50 – 90)kV
Pomiar bezpośredni
Dokładność ustawienia wysokiego
napięcia
Metoda obliczeniowa
Powtarzalność wartości wysokiego
napięcia
Metoda obliczeniowa
Zmienność wysokiego napięcia przy
zmianie natężenia prądu
Metoda obliczeniowa
PB_77 Edycja 5
z dnia 2013-06-27 PB_76
Edycja 5 z dnia 2013-06-27
Czas ekspozycji
Zakres: (0,001 - 6)s
Pomiar bezpośredni
Powtarzalność czasu ekspozycji
Metoda obliczeniowa
Dokładność ustawienia czasu ekspozycji
Metoda obliczeniowa
Dawka pochłonięta w powietrzu
Zakres: (0 – 0,1) Gy
Pomiar bezpośredni
Warstwa półchłonna – HVL
Metoda obliczeniowa
Wyposażenie do zdjęć
wewnątrzustnych (stomatologia)
Wydajność lampy
Metoda obliczeniowa
Powtarzalność wydajności lampy
Metoda obliczeniowa
Wyposażenie do fluoroskopii
Zmienność wydajności lampy w funkcji
natężenia prądu
Metoda obliczeniowa
Zmienność wydajności lampy w funkcji
obciążenia prądowo-czasowego
Metoda obliczeniowa
Odległość: ognisko lampy –
powierzchnia czołowa tubusa
Zakres: (0,01 – 0,50) m
Pomiar bezpośredni
Wielkość ogniska lampy rtg
Metoda obliczeniowa
Odchylenie pomiędzy osią wiązki a
płaszczyzną rejestratora obrazu
Metoda obliczeniowa
Wysokie napięcie
Zakres: (40 – 150)kV
Pomiar bezpośredni
Dokładność ustawienia wysokiego
napięcia
Metoda obliczeniowa
Powtarzalność wartości wysokiego
napięcia
Metoda obliczeniowa
Zmienność wysokiego napięcia przy
zmianie natężenia prądu
Metoda obliczeniowa
Czas ekspozycji
Zakres: (0 - 900) s
Pomiar bezpośredni
Powtarzalność czasu ekspozycji
Metoda obliczeniowa
Dokładność ustawienia czasu ekspozycji
Metoda obliczeniowa
Dawka pochłonięta w powietrzu
Zakres: (0 – 0,1) Gy
Pomiar bezpośredni
Warstwa półchłonna – HVL
Metoda obliczeniowa
PB_76
Edycja 5 z dnia 2013-06-27
PB_78
Edycja 3 z dnia 2013-04-12
Wydajność lampy
Metoda obliczeniowa
Powtarzalność wydajności lampy
Metoda obliczeniowa
Wyposażenie do fluoroskopii
Wyposażenie do mammografii
Zmienność wydajności lampy w funkcji
natężenia prądu
Metoda obliczeniowa
Zmienność wydajności lampy w funkcji
obciążenia prądowo-czasowego
Metoda obliczeniowa
Wielkość ogniska lampy rtg
Metoda obliczeniowa
Jednorodność obrazu kratki
przeciwrozproszeniowej
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Odległość pomiędzy ogniskiem
optycznym lampy a rejestratorem obrazu
Zakres: (0,001 – 3,00) m
Pomiar pośredni
Moc dawki
Zakres: (0 – 0,1) Gy/s
Pomiar bezpośredni
Stosunek pola powierzchni
promieniowania X do pola widzenia
wzmacniacza
Zakres: ( 1 – 5)
Metoda obliczeniowa
Wielkość ogniska lampy rtg
Metoda obliczeniowa
Odległość ognisko – rejestrator
obrazu
Zakres (0,001 – 1,00) m
Pomiar pośredni
Odległość pomiędzy krawędziami
promieniowania X a krawędziami
rejestratora obrazu
Zakres: (0,001 – 0,05) m
Pomiar bezpośredni
Odległość pomiędzy krawędzią kratki
przeciwrozproszeniowej a rejestratorem
obrazu
Zakres: (0,001 – 0,05) m
Pomiar bezpośredni
Dawka w powietrzu
Zakres: (0 – 0,1) Gy
Pomiar bezpośredni
Wydajność lampy
Metoda obliczeniowa
Moc dawki
Zakres: (0 – 0,1) Gy/s
Pomiar bezpośredni
Warstwa półchłonna – HVL
Metoda obliczeniowa
Wysokie napięcie
Zakres: (22 – 40) kV
Pomiar bezpośredni
Dokładność ustawienia wysokiego
napięcia
Metoda obliczeniowa
PB_78
Edycja 3 z dnia 2013-04-12 PB_80
Edycja 3 z dnia 2013-04-12
Powtarzalność wartości wysokiego
napięcia
Metoda obliczeniowa
Gęstość optyczna w punkcie
referencyjnym
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Różnica gęstości optycznych dla
różnych poziomów zaczernienia
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Maksymalna różnica gęstości
optycznych dla wszystkich dostępnych
poziomów zaczernienia
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Powtarzalność dawki
Metoda obliczeniowa
Wyposażenie do mammografii
Różnica gęstości optycznych przy
zmianie grubości fantomu i wartości
wysokiego napięcia
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Dawka wejściowa
Zakres: 0,000001 Gy – 1 Gy
Pomiar bezpośredni
Siła kompresji piersi
Zakres pomiaru masy: (10 – 25) kg
Pomiar bezpośredni
Stałość siły kompresji
Zakres pomiaru masy: (10 - 25) kg
Pomiar bezpośredni
Zmiana położenia płytki uciskowej dla
symetrycznego podparcia płytki
uciskowej
Zakres: (0,0001 – 0,05) m
Pomiar bezpośredni
Zmiana położenia płytki uciskowej dla
niesymetrycznego podparcia płytki
uciskowej
Zakres: (0,0001 – 0,05) m
Pomiar bezpośredni
Współczynnik pochłaniania kratki
przeciwrozproszeniowej
Metoda obliczeniowa
Różnica gęstości optycznych wzmocnienie ekranu
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Różnica gęstości optycznych –
szczelność ciemni
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Różnica gęstości optycznych –
oświetlenie robocze ciemni
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Różnica gęstości optycznych przepust ciemni
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
PB_80
Edycja 3 z dnia 2013-04-12
Wyposażenie do mammografii
Wyposażenie do
zdjęć panoramicznych oraz
cefalometrii
Gęstość minimalna w procesie
wywoływania
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Wskaźnik światłoczułości w procesie
wywoływania
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Wskaźnik kontrastowości w procesie
wywoływania
Metoda obliczeniowa
Czas ekspozycji
Zakres: (0 - 6) s
Pomiar bezpośredni
Luminancja negatoskopu
Zakres: (110 – 10000) cd/m2
Pomiar bezpośredni
Jednorodność luminancji powierzchni
negatoskopu
Metoda obliczeniowa
Natężenie oświetlenia zewnętrznego
Zakres: (20-260) lux
Pomiar bezpośredni
Wysokie napięcie
Zakres: (40 – 120) kV
Pomiar bezpośredni
Dokładność ustawienia wysokiego
napięcia
Metoda obliczeniowa
Powtarzalność wartości wysokiego
napięcia
Metoda obliczeniowa
Zmienność wysokiego napięcia przy
zmianie natężenia prądu
Metoda obliczeniowa
Czas ekspozycji
Zakres: (0 – 30)s
Pomiar bezpośredni
Dokładność ustawienia czasu
ekspozycji
Metoda obliczeniowa
Dawka pochłonięta w powietrzu
Zakres: (0 – 0,1) Gy
Pomiar bezpośredni
Warstwa półchłonna – HVL
Metoda obliczeniowa
Wydajność lampy
Metoda obliczeniowa
Powtarzalność wydajności lampy
Metoda obliczeniowa
Zmienność wydajności lampy w funkcji
natężenia prądu
Metoda obliczeniowa
Zmienność wydajności lampy w funkcji
obciążenia prądowo-czasowego
Metoda obliczeniowa
Odległość pomiędzy ogniskiem
optycznym lampy a rejestratorem
obrazu
Zakres: (0,4 – 2) m
Pomiar pośredni / bezpośredni
PB_80
Edycja 3 z dnia 2013-04-12
PB_77
Edycja 5 z dnia 2013-06-27
Wyposażenie do
zdjęć panoramicznych oraz
cefalometrii
Odchylenie standardowe gęstości
optycznej dla kasety kontrolnej
Metoda obliczeniowa
Maksymalna różnica gęstości
optycznych dla wszystkich kaset
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Różnica gęstości optycznych –
szczelność ciemni
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Różnica gęstości optycznych oświetlenie robocze ciemni
Zakres: (0,0 – 4,00)
Metoda fotometryczna
Gęstość minimalna w procesie
wywoływania
Zakres: (0,00 – 4,00)
Metoda fotometryczna
PB_77
Edycja 5 z dnia 2013-06-27
Wskaźnik światłoczułości w procesie
wywoływania
Zakres: (0,00– 4,00)
Metoda fotometryczna
Wskaźnik kontrastowości w procesie
wywoływania
Metoda obliczeniowa
Luminancja negatoskopu
Zakres: (110 – 7000) cd/m2
Pomiar bezpośredni
Jednorodność luminancji powierzchni
negatoskopu
Metoda obliczeniowa
Natężenie oświetlenia zewnętrznego
negatoskopu
Zakres: (20-260) lux
Pomiar bezpośredni
Wykaz metod nieakredytowanych
Badane obiekty / Grupa
obiektów
Aparatura rentgenowska
Instalacje wytwarzające pola
elektromagnetyczne
Badane cechy
Metoda badawcza
Normy i/lub
udokumentowane
procedury badawcze
Pomiar dawki i mocy dawki
promieniowania rentgenowskiego na
stanowiskach pracy oraz za osłonami
PB_46
Edycja 2 z dnia 2009-08-13
Pomiar pól i promieniowania
elektromagnetycznego w zakresie
0-300 GHz dla celów ochrony ludności
i środowiska
Rozporządzenie Ministra
Środowiska z dnia 30
października 2003 r. w sprawie
dopuszczalnych poziomów pól
elektromagnetycznych w
środowisku oraz sposobów
sprawdzania dotrzymywania
tych poziomów ( Dz. U. Nr 192,
poz. 1883)