252A Podwójne, diodowe źródło światła 850 i 1300nm 252B
Transkrypt
252A Podwójne, diodowe źródło światła 850 i 1300nm 252B
Źródła promieniowania z LED 252A Podwójne, diodowe źródło światła 850 i 1300nm Lokalizacja pęknięć i strat na zagięciach czerwony (635nm) laser półprzewodnikowy ujawnia pęknięcia i miejsca strat przeznaczony do złączek dupleksowych MT-RJ zasięg do 1 km 252B Podwójne, diodowe źródło światła 850 i 1300nm Pomiary tłumienności wtrąceniowej i tłumienności złączy długość fali 850nm i 1300nm stabilna, kalibrowana moc promieniowania sprawdzona, niezawodna, zwarta konstrukcja dwie złączki UCI (Universal Connector Interface) 253B Diodowe źródło światła 660 nm Pomiary tłumienności wtrąceniowej i tłumienności łącza długość fali 660nm stabilna, kalibrowana moc promieniowania sprawdzona, niezawodna, zwarta konstrukcja 255A Diodowe źródło światła 1300nm Pomiary tłumienności wtrąceniowej i tłumienności łącza długość fali 1300nm stabilna, kalibrowana moc promieniowania sprawdzona, niezawodna, zwarta konstrukcja 255MT Podwójne, diodowe źródło światła 1300nm - wersja MT-RJ Pomiary tłumienności wtrąceniowej i tłumienności łącza długość fali 1300nm stabilna, kalibrowana moc promieniowania sprawdzona, niezawodna, zwarta konstrukcja 256A Diodowe źródło światła 1550nm Pomiary tłumienności wtrąceniowej i tłumienności łącza długość fali 1550nm stabilna, kalibrowana moc promieniowania sprawdzona, niezawodna, zwarta konstrukcja 257A Diodowe źródło światła 850nm Pomiary tłumienności wtrąceniowej i tłumienności łącza długość fali 850nm stabilna, kalibrowana moc promieniowania sprawdzona, niezawodna, zwarta konstrukcja 257MT Podwójne, diodowe źródła światła 850nm - wersja MT-RJ Pomiary tłumienności wtrąceniowej i tłumienności łącza długość fali 850nm stabilna, kalibrowana moc promieniowania sprawdzona, niezawodna, zwarta konstrukcja