EDX 3600B

EDX 3600B
SPEKTROMETR FLUORESCENCJI RENTGENOWSKIEJ EDXRF DO
PEŁNEJ ANALIZY PIERWIASTKOWEJ
Energy dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer
Przeznaczony do analizy pierwiastkowej:
- w produkcji cementu,
- przy wydobyciu rud i minerałów,
- analiza metali żelaznych i szlaki,
- analiza stopów kolorowych,
- analiza stopów szlachetnych,
- oznaczania pierwiastków szkodliwych wg
dyrektywy RoHS i WEEE
Opis ogólny
EDX 3600B to spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z rozpraszaniem energii przeznaczony do analiz,
nieniszczących lub z niewielkim przygotowaniem próbki. Został zaprojektowany z przeznaczeniem do analizy
metali szlachetnych, stali, stopów metali nieżelaznych, rud, minerałów, cementu, oznaczania metali szkodliwych
wg RoHS i WEEE oraz do pełnych analiz pierwiastkowych różnych materiałów. Umożliwia również analizy i
pomiary grubości do 5 powłok galwanicznych lub plazmowych.
Spektrometr ten został zbudowany z zastosowaniem najlepszej obecnie na rynku lampy rentgenowskiej i równie
renomowanego, stabilnego zasilacza
wysokiego napięcia. Ich zastosowanie umożliwia wykonywanie
powtarzalnych analiz zgodnych z najwyższymi standardami praktyki laboratoryjnej, standardami narodowymi i
porównywalnych z innymi technikami analiz.
Wykorzystanie techniki fluorescencji rentgenowskiej umożliwia szybkie, dokładne a przy tym łatwe do wykonania
analizy i podręczne stosowanie w procesach produkcyjnych.
Analizator ten jest szczególnie przydatny do analiz w przemyśle jubilerskim, metalurgicznym i w produkcji
materiałów budowlanych.
Analizator daje możliwość dobrania niskoenergetycznego promieniowania rentgenowskiego, do pobudzenia
lekkich pierwiastków takich jak Si, S, Na, AL i Mg itp. Ponadto poprawiona została sprawność wykonywania
analizy przy krótkich testach.
EDX 3600D charakteryzuje się wysokimi parametrami pomiarowymi jak; liniowość energii, wysoka rozdzielczość
energetyczna, detekcja niskich koncentracji, wysoka szybkość zliczania, dobrze nasycone spektrum oraz wysoki
współczynnik redukcji tła (UHRD Detektor). Analizy są powtarzalne dzięki mechanizmowi automatycznej
stabilizacji spektrum. Zastosowanie detektora UHRD umożliwia także łatwe skalibrowanie wydzielonego
spektrum co podwyższa precyzję analiz pierwiastków lekkich. Dzięki zastosowaniu wieloparametrowej metody
regresji liniowej uzyskano redukcję efektów wzajemnej absorpcji i odpychania pierwiastków.
Do wykonywania analiz nie wymagane jest wykształcenie laboratoryjne. Analizy są całkowicie niezależne od
operatora.
Profesjonaliści stworzyli wyjątkowo sprawny analizator, którego jakość zdobywa nowe rynki.
Charakterystyka budowy analizatora
•
•
•
•
•
•
•
System próżniowy uniezależnia analizy od wpływu czynników atmosferycznych i znacznie zwiększa
zakres możliwości analitycznych. Komora pomiarowa otwiera się i zamyka po przyciśnięciu jednego
przycisku.
Zewnętrzna elegancka obudowa kryje wnętrze zbudowane z trwałych i odpornych podzespołów.
Automatyczna zmiana kolimatorów i filtrów pierwotnych czyni analizator przyjaznym dla użytkownika.
Potrójny system zabezpieczeń gwarantuje bezpieczeństwo operatora.
Niezależne modele korekcji efektu matrycy.
Wieloparametrowa, nieliniowa procedura regresji.
Niezależna analiza wzorców i procedura identyfikacyjna.
Cechy funkcjonalne analizatora
•
•
•
•
System SNE (Signal to Noise Enhancement) wielokrotnie zwiększa czułość analizy,
Zmiana kolimatorów i filtrów następuje automatycznie dla różnych próbek,
Chłodzony elektronicznie detektor krzemowy Si-PIN UHRD (Ultra High Resolution Detektor),
Wszechstronne i sprawne oprogramowanie do pełnej analizy wielo pierwiastkowej dorównuje jakością
rozwiązaniom sprzętowym.
Standardowe wyposażenie analizatora:
•
•
•
•
•
•
•
System SNE (Signal to Noise Enhancement),
System optymalizacji wiązki światła,
Chłodzony elektronicznie detektor wysokiej rozdzielczości Si-PIN UHRD,
Wbudowana kamera CCD o rozdzielczości 1,4 mln. pikseli,
Automatyczna zmiana kolimatorów i filtrów pierwotnych,
Ruchomy stół pomiarowy,
Podwyższona czułość analizy metali
Główne zastosowania analizatora:
•
Wykonuje w pełne, wielopierwiastkowe analizy stali, cementu, minerałów, grubości powłok
galwanicznych, analizy stopów metali nieżelaznych, oznaczanie metali szlachetnych i oznaczanie
pierwiastków szkodliwych według RoHS i WEEE,
Specyfikacja techniczna
Zakres analizowanych pierwiastków: od Na11 do U92
Zakres oznaczania składu: od 1ppm do 99,99%
Możliwość jednoczesnej analiza: 24 pierwiastki
Postać analizowanych próbek: stałe, proszki i płynne
Dokładność analiz: 0,05% (>96%)
Czas analizy: 60 do 300 sek.
Dokładność pomiaru grubości powłok: 0,01 – 0,05 µm
Rozdzielczość energetyczna: 150±5 eV
Napięcie lampy rentgenowskiej: 5 – 50 kV
Prąd pomiaru: 50µA - 1000 µA
Zastosowania standardowe:
- pełna analiza pierwiastkowa cementu, stali, stopów
kolorowych i minerałów,
- Analizy wielowarstwowych powłok galwanicznych
do 11 powłok, każda o grubości 0,005 µm
Podstawowe parametry pracy:
Napięcie zasilania:
Pobierana moc:
Temperatura otoczenia:
Wilgotność względna:
Wymiary komory pomiarowej:
Wymiary urządzenia:
Waga urządzenia:
230V ±5V, 50Hz (zalecany zasilacz stabilizowany)
200W,
15ºC - 30ºC,
35% - 70% bez kondensacji,
średnica 320mm x wysokość 180mm,
650mm x 600mm x 460mm
75 Kg
Konfiguracja standardowa:
Duża komora pomiarowa
Detektor półprzewodnikowy Si-PIN
Lampa rentgenowska z anodą W
Automatyczna zmiana kolimatora: Φ8, 6, 4, 3, 2, 1, 0.5, 0.1(mm)
Automatyczna zmiana filtrów
Szybki analizator wielokanałowy
Wysoko stabilne zasilacze niskiego napięcia i HV
Potrójny system zabezpieczenia operatora
Niezależne modele korekcji matrycy
Procedura nieliniowej regresji wielu zmiennych
Arbitralna dodatkowa analiza wzorca i algorytmy rozpoznania
Kamera CCD wysokiej rozdzielczości do obserwacji próbki
Unikalny system wzmocnienia wiązki światła
Dostępne Oprogramowanie:
Oprogramowanie funkcjonalne do pracy pod systemem Windows 2000 lub Windows XP,
- do wielopierwiastkowej analizy XRF
- do pomiaru grubości powłok galwanicznych
- do analizy metali szlachetnych
- do oznaczania substancji szkodliwych według RoHS
Systemy zabezpieczenia operatora:
Urządzenie jest wyposażone w dwie osłony ekranujące w tym zewnętrzna pokryta warstwą ołowiu.
Osłony współdziałają z zasilaczem napięcia lampy rentgenowskiej, otwarcie osłony wyłącza lampę.
Jeśli software nie pracuje poprawnie, nie można uruchomić lampa rentgenowskiej.
Dłuższa przerwa w pracy powoduje automatyczne wyłączenie zasilania lampy rentgenowskiej, co przedłuża
żywotność lampy.
Zamknięta obudowa urządzenia całkowicie zabezpiecza przed promieniowaniem rozproszonym.
Przykład – Analiza cementu
Statystyka z 20 analiz składników cementu
Analiza surówki, gąsek
Pierwiastki oznaczane: Si, Mn, P, S,
Pierwiastek
Si
Skład
0,1 -1,0
Odchylenie Std
0,02
Mn
0,1 – 1,0
0,015
P
0,05 – 0,1
0,004
Analiza żelazo krzemu
Oznaczane pierwiastki: Si, Fe, Ca, AL, Mn, Cr, Ti
Pierwiastek
Si
Ca
Skład
˂50,00
0,10 – 2,00
Odchylenie Std
˂ 0,2
˂ 0,015
Fe
20,00–50,00
˂0,10
Analiza spieków surowych
Oznaczane pierwiastki: Fe, Ca, Si, AL., K, S, Mg
Pierwiastek
Ca
Si
Skład
5,00-20,00
5,00–15,00
Odchylenie Std
˂ 0,15
˂ 0,15
Fe
˂50,00
˂0,20
S
0,010-0,10
0,002
Mn
0,5
˂ 0,01
Producent: Skyray Instrument Co., Ltd.
Autoryzowany dystrybutor:
B&M TRADING / B&M COMPUTERS
05-126 Nieporęt, ul. Kmicica 17
Tel/Fax.(+48-22)772 47 46, Tel. komórkowy :+48-667 989 734,
www.bimtrading.eu, [email protected]