politechnika wrocławska_proforma invoice

THERMO ELECTRON X SERIES
INDUCTIVELY COUPLED PLASMA MASS SPECTROMETER
THERMO
ELECTRON X SERIES
jest
Spektrometrem
Masowym
z
Plazmą
Indukcyjnie Sprzężoną, w którym zastosowano
szereg
zaawansowanych
technologicznie
rozwiązań przyczyniających się do poszerzenia
możliwości analitycznych metody ICP MS i
automatyzacji
szeregu
istotnych
funkcji
analitycznych urządzenia.
Spektrometr X SERIES jest urządzeniem
piątej generacji produkowanym przez firmę
Thermo Electron, przy czym warto
podkreślić, że spektrometr ICP-MS tej firmy
został zainstalowany jako pierwszy w Polsce przez Intertech Corporation i z
powodzeniem pracuje już od ponad czterech lat w Instytucie Leków w Warszawie.
Spektrometry emisyjne ICP z detektorem półprzewodnikowym (podobnej klasy do
spektrometrów masowych ICP) zostały zainstalowane w takich placówkach jak
Mennica Państwowa, Państwowy Zakład Higieny w Warszawie, WIOŚ w Piotrkowie
Trybunalskim, Politechnika Poznańska, Politechnika Łódzka, Instytut Gospodarki
Odpadami w Katowicach, P.O.Ch. w Gliwicach, Energopomiar Gliwce czy też
POLCARGO Gdynia.
Spektrometr X SERIES może współpracować z dowolnymi układami komór
mgielnych i nebulizerów (koncentrycznym, krzyżowym, v-rowkowym, nebulizerem
Burgenera, mikrokoncentrycznym), dowolnym nebulizerem ultradźwiękowym,
autosamplerem, układem do odparowania elektrotermicznego i laserowego.
Spektrometr X SERIES dostarczany jako urządzenie stojące na stole (bench-top
model) o najmniejszych wymiarach wśród dostępnych na rynku (110×54 cm, 150
kg), z pompą rotacyjną i chłodziarką stojącą oddzielnie. Umożliwia to umieszczenie
urządzeń peryferyjnych w sąsiednim pomieszczeniu, przyczyniając się do
zmniejszenia poziomu hałasu. Ze względu na małe wymiary spektrometr X SERIES
może być umieszczony w strefie o kontrolowanej czystości powietrza (clean-box).
Układ wprowadzania próbki i źródło wyładowania plazmowego spektrometru X
SERIES zawierają:
 3-kanałową pompę perystaltyczną
 nebulizer koncentryczny
 stabilizowaną temperaturowo kwarcową komorę mgielną typu impact-bead
chłodzoną termoelektrycznie układem Peltiera. Zastosowana w celu zwiększenia
stabilności układu, minimalizacji interferencji wieloatomowych oraz kontaminacji.
 Kontrola temperatury z poziomu oprogramowania spektrometru. Minimalna
objętość martwa przyczynia się do szybszego odmycia układu po wprowadzaniu
roztworów o wyższych stężeniach pierwiastków.
 jednoczęściowy palnik kwarcowy z centralną rurką wtryskiwacza 1,5 mm (bez
konieczności każdorazowego ustawiania rurki centralnej wtryskiwacza po czyszczeniu).
 kontrolowany z poziomu oprogramowania PlasmaLab v. 2.1 zautomatyzowany
system sterowania przepływami gazów: nebulizującego (również z pomiarem
ciśnienia), plazmowego, pomocniczego, dwóch gazów stosowanych w komorze
zderzeniowej CCTED oraz szybkości pompowania pompy perystaltycznej.
Dzięki zastosowaniu nowoczesnego oprogramowania PlasmaLab v. 2.1, spektrometr
jest urządzeniem całkowicie zabezpieczonym przed przypadkowymi zmianami
parametrów dokonanymi przez operatora lub przez osoby niepowołane.
 kontrolowany z poziomu oprogramowania PlasmaLab v. 2.1. zautomatyzowany
system przestrzennej, w trzech kierunkach - XYZ regulacji położenia palnika
plazmowego w celu uzyskania maksymalnej czułości i niskich granic wykrywalności (z
możliwością manualnej zmiany ustawienia palnika).
 wygodny „system kasetowy” umożliwiający łatwy i szybki demontaż palnika
plazmowego jak również odtwarzalny montaż systemu układu wprowadzania próbki
o otwartej architekturze.
 Półprzewodnikowy generator częstotliwości 27.12 MHz chłodzony cieczowo (moc
zmienna krokami co 10 W), kontrolowany piezoelektrycznie pozwala na uzyskanie
pulsacji mniejszej niż 1 %. Zastosowanie wyżej wymienionej częstotliwości przyczynia
się do polepszenia stosunku sygnału do szumu oraz uzyskania lepszych stosunków
sygnałów BaO+/Ba+ <0.2 % oraz Ba2+/Ba+ <3 % w stosunku do częstotliwości 40.68
MHz. Dynamic Tuning System zapewnia automatyczne dostrojenie wszystkich
parametrów plazmy ICP oraz potencjałów soczewek jonowych w celu uzyskania
maksymalnej czułości i precyzji oraz minimalnej fluktuacji poziomu tła.
Interfejs i optyka jonowa
Zoptymalizowana geometria interfejsu - High Performance Interface, chłodzonego wodą,
z opatentowanymi stożkami próbkowania i skimmera Nicone TM przyczynia się do
zminimalizowania obszaru indukowanego ładunku odpowiedzialnego za obniżenie
sygnału, co umożliwia dalsze obniżenie granic wykrywalności osiąganych w
analizowanych próbkach.
Rozwiązanie to zwiększa również żywotność stożków próbkowania i skimmera. Ze
względu na zawiasową konstrukcję interfejsu użytkownik posiada łatwy dostęp do
soczewek ekstrakcyjnych, wymagających okresowego czyszczenia.
Kontrola z poziomu oprogramowania PlasmaLab v. 2.1 potencjałów soczewek jonowych
(Improved Infinity Lens System) pozwala na uzyskanie maksymalnej transmisji jonów z
obszaru plazmy do wysokiej próżni kwadrupolowego separatora mas w obecności
różnorodnych matryc.
Przyczynia się to do uzyskania gwarantowanego poziomu tła mniejszego niż 0.5
zliczeń/s (przy masach 5 i 220) i gwarantowanej czułości 60 ×106 zliczeń•s-1•ppm-1 dla
indu.
Pozaosiowy kwadrupolowy analizator mas.
Umożliwia pomiar sygnałów mas w zakresie 2 - 255.
Zastosowanie kwadrupolowego filtru mas o geometrii
pozaosiowej pozwala na uzyskanie doskonałej transmisji
jonów i niskiej czułości szczątkowej. Większe w stosunku
do innych tego typu spektrometrów wymiary prętów
kwadrupola wykonanych z litego molibdenu długość 230 mm i promień 12 mm oraz elektronika
półprzewodnikowa pozwalają na uzyskanie:
 unikalnego,
niespotykanego
w
tej
klasie
6
spektrometrów stosunku sygnał/szum - 120•10 .
 doskonałej „czułości szczątkowej” przy sąsiadujących masach - dla 169Tm jest ona
mniejsza niż 1×10-6 przy masie 168 i 5×10-7 przy masie 170.
 doskonałej precyzji wyznaczanego stosunku izotopowego - lepsza niż 0.2 %
dla107Ag/109Ag.
 doskonałej stabilności krótko- i długookresowej - odpowiednio 2 % (10 minut) i 3 % (2
godziny) przy pomiarze wzorca wielopierwiastkowego 1 ppb, bez stosowania
standardu wewnętrznego.
 unikalnej stabilności kalibracji - fluktuacja mniejsza niż 0.05 AMU/dzień oraz 0.1
AMU/miesiąc.
 widma masowego w zakresie 2 do 255 AMU z szybkością 2500 AMU/s.
 komputerowej kontroli rozdzielczości - możliwość rozdzielenia np. sygnałów izotopów
45
Sc+ od 44,5Y2+
System zbierania danych.
Analizator wielokanałowy (64000) pozwala na przemiatanie i zapis pełnego widma
masowego z szybkością większą niż 2500 AMU/s. Cztery opcje uzyskiwania danych:
pełny skaning widma, skaning fragmentaryczny, monitorowanie sygnałów pojedynczych
izotopów oraz rejestracja sygnałów poszczególnych izotopów w czasie. Możliwość
wykonywania mieszanych pomiarów w trybie skanowania i „peak jumping” w
pojedynczym cyklu pomiarowym. Możliwość wykonywania mieszanych pomiarów
ilościowych i półilościowych w pojedynczym cyklu pomiarowym. Wielozadaniowe
oprogramowanie PlasmaLab v. 2.1. (PlasmaLab Intelligently Controlled Operations PICO Technology) pracuje w środowisku Windows 2000. Standardowo w skład
oprogramowania PlasmaLab v. 2.1. wchodzi system Time Resolved Acquisition,
umożliwiający rejestrację przebiegów sygnałów szybko zmieniających się w czasie
(chromatograficznych, powstających w analizie przepływowo-wstrzykowej lub
powstających w przypadku odparowania elektrotermicznego i laserowego).
Jednoczesny system detekcji Auto Range Plus (w standardzie)
Dyskretny dynodowy powielacz elektronowyz jednoczesnym systemem detekcji:
analogowym i trybem zliczania impulsów oraz automatycznym układem sterowania
zmianami trybu detekcji podczas analizy. Prowadzi to do uzyskania zakresu
dynamicznego 108, umożliwiając oznaczanie w jednym cyklu pomiarowym pierwiastków
głównych i śladowych, bez konieczności wstępnego skanowania widma i
rozcieńczania próbki.
System zimnej plazmy - PlasmaScreen Plus Torch System (w standardzie)
W pełni zautomatyzowany system PlasmaScreen Plus Torch umożliwia osiągnięcie
niskich granic wykrywalności w przypadku takich pierwiastków jak Li (<1 ppt), Ca, Na, K
(<20 ppt) oraz Fe (<10 ppt). Specjalny ekran niklowy (zatopiony w kwarcu w celu
zwiększenia trwałości) umieszczony pomiędzy palnikiem plazmowym i cewką indukcyjną
pozwala na uzyskanie „zimnej plazmy”, w której następuje znaczna redukcja interferencji
opartych na jonach argonu. Umożliwia oznaczenie wyżej wymienionych pierwiastków i
innych w jednym cyklu pomiarowym.
System gorącej ekranowanej plazmy - Hot Screen Plasma (w standardzie)
Umożliwia uzyskanie gwarantowanej czułości dla indu i uranu na poziomie 200 10 6
cps/ppm przy jednocześnie gwarantowanym niskim poziomie tła 1 cps.
4600259
Komora zderzeniowa - Collision Cell Technology CCTED
Rewolucyjnym rozwiązaniem zastosowanym w spektrometrze X SERIES jest komora
zderzeniowa pozwalająca na selektywną eliminację szeregu interferencji wielotomowych,
takich jak 40Ar+, 40Ar16O+, 40Ar35Cl+, 80Ar2+. Prowadzi to do uzyskania granic wykrywalności
na poziomie ng/l (ppt), w przypadku takich pierwiastków jak Ca, K, Fe, As i Se, bez
konieczności stosowania opcji „zimnej plazmy” lub metody generowania wodorków.
Wiązka jonów jest przepuszczana przez komorę zawierającą różne gazy, np. hel, wodór,
amoniak lub mieszaniny gazów. W wyniku zderzeń cząsteczki wieloatomowe ulegają
dysocjacji na obojętne atomy lub jony podczas gdy transmisja jonów pierwiastków
oznaczanych praktycznie nie ulega zmianie. Komora zderzeniowa CCTED pracująca w
trybie pasywnym lub w trybie reakcji dynamicznych pozwala na wprowadzenie
różnych gazów (He, , NH3, CH4) lub mieszanin gazów (He/H2), gdyż posiada dwa
kontrolery masowe przepływu gazów. Poprzez komputerową kontrolę dyskryminacji
energii kinetycznej uzyskiwana jest efektywna separacja jonów oznaczanego pierwiastka
od niepożądanych, ubocznych produktów reakcji. Umożliwia obniżenie poziomu
rejestrowanego tła przy masie 80 do 200 cps i uniknięcie szeregu interferencji
molekularnych i matrycowych przy oznaczaniu takich pierwiastków jak selen, żelazo i
arsen. W 2 % HCl gwarantowane czułości dla indu i selenu wynoszą odpowiednio:
20 i 1 mln cps/ppm.
GWARANCJA
Spektrometr oraz wszystkie
Corporation przez 12 miesięcy
szkła i części zużywalnych.
pogwarancyjny i dostępność
gwarancji.
akcesoria są objęte PEŁNĄ gwarancją INTERTECH
od momentu zainstalowania. Gwarancja nie obejmuje
Czas reakcji serwisowej 24 godziny. Serwis
części zamiennych - 7 lat od daty zakończenia
INSTALACJA I DODATKOWE SZKOLENIE
Instalacja i wieloetapowe szkolenie przeprowadzone będą przez inżyniera serwisowego
Thermo Electron i specjalistę do spraw naukowo-technicznych u użytkownika po
zgłoszeniu przez laboratorium gotowości, zgodnie z instrukcją przedinstalacyjną firmy
Thermo Electron.
 Firma INTERTECH Corporation oferuje dodatkową pomoc merytoryczną obejmującą
zagadnienia analityczne.
 Firma INTERTECH Corporation organizuje coroczne spotkania użytkowników
spektrometrów ICP-OES i ICP-MS firmy Thermo Electron, których głównym celem
jest prezentacja uzyskanych wyników i wymiana doświadczeń.