kp - dr inż. Andrzej Rylski

POLITECHNIKA RZESZOWSKA im. I. Łukasiewicza
WYDZIAŁ
Wydział Elektrotechniki i Informatyki
KIERUNEK
Elektronika i telekomunikacja
SPECJALNOŚĆ
Elektroniczne systemy pomiarowe i diagnostyczne
FORMA I STOPIEŃ STUDIÓW
ET-DI
KARTA PRZEDMIOTU
NAZWA PRZEDMIOTU
Elektroniczne przyrządy i techniki pomiarowe
Nauczyciel odpowiedzialny za przedmiot:
Prof., dr inż. hab. Mykhaylo Dorozhovets
Kontakt dla studentów: tel. 17 865 1575,
e-mail: [email protected]
Nauczyciel/e prowadzący:
Katedra/Zakład/Studium Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych
Semestr
całkowita
liczba
godzin
W
7
45
30
C
L
P (S)
15
ECTS
3
PRZEDMIOTY POPRZEDZAJĄCE WRAZ Z WYMAGANIAMI
Metrologia
TREŚCI KSZTAŁCENIA WG PROWADZONYCH RODZAJÓW ZAJĘĆ
Wykład:
1.
Wzmacniacze instrumentalne, wzmacniacze izolujące
2.
Multipleksery
3.
Filtry analogowe pomiarowe
4.
Schematy układów elektronicznych woltomierze.
5.
Schematy układów elektronicznych amperomierze.
6.
Schematy układów elektronicznych omomierze.
7.
Elektroniczne przetworniki z układami mostkowymi.
8.
Źródła referencyjne napięciowe oraz prądowe.
9.
Schematy układów mierników LC oraz ładunku.
10.
Układy przyrządów parametrów napięcia zmiennego.
11.
Oscyloskopy
12.
Wirtualne przyrządy pomiarowe
13.
Elektroniczne przyrządy na bazie kart pomiarowych
14.
Struktury torów pomiarowych oraz analiza ich charakterystyk metrologicznych.
15.
Podsumowanie.
Ćwiczenia:
LICZBA
GODZIN
2
2
2
2
2
2
2
2
3
2
2
2
2
2
2
Wprowadzenie - zasady pracy w laboratorium.
1.
Zastosowania i budowa oscyloskopu cyfrowego
2.
Komputeryzacja pomiarów – pomiary z wykorzystaniem kart pomiarowych
3.
Mierniki parametrów czasowo-częstotliwościowych sygnałów z wykorzystaniem kart
pomiarowych
4.
Mierniki parametrów sygnałów AC z wykorzystaniem kart pomiarowych
5.
Linearyzacja charakterystyk statycznych przetworników i torów pomiarowych
6.
Korekcja oddziaływań systematycznych
Zaliczenie
Dyżury dydaktyczne (konsultacje): w terminach podanych w harmonogramie pracy jednostki
EFEKTY KSZTAŁCENIA - UMIEJĘTNOŚCI KSZTAŁCENIA
Umiejętność zastosowania nabytej wiedzy w zakresie budowy i parametrów metrologicznych mierników
elektronicznych, problemów i metod pomiaru podstawowych wielkości elektrycznych.
Zdolność analizy dokładności pomiarów
FORMA I WARUNKI ZALICZENIA PRZEDMIOTU (RODZAJU ZAJĘĆ)
WYKŁAD: kolokwium pisemne, ocena zależy od wyników kontroli bieżącej.
LABORATORIUM: ocena zależy od ocen realizacji ćwiczeń oraz sprawozdań
EGZAMIN: pisemno- ustny, ocena zależy od ocen kolokwium wykładów i zaliczeń laboratorium.
WYKAZ LITERATURY PODSTAWOWEJ
Stabrowski M. Miernictwo elektryczne. Cyfrowa technika pomiarowa. Warszawa. WPW. 1994.
Sydenham P.D. Podręcznik metrologii. Warszawa. WKiŁ. 1990.
Spiralski L. oraz in. Zakłócenia w aparaturze elektronicznej. Radioelektronik Sp. Z o.o. Warszawa, 1995.
Lesiak P. Świsulski D. Komputerowa technika pomiarowa. W przykładach. AW PAK. Warszawa. 2002.
Winiecki W. Organizacja komputerowych systemów pomiarowych. Warszawa. OWP. 1997.
Rudy van der Plasche. Scalone przetworniki analogowo-cyfrowe i cyfro-analogowe. WKiŁ, 2001.
Rydzewski J. Pomiary oscyloskopowe WNT,1999.
Nawrocki W. Komputerowe systemy pomiarowe. WKiŁ. Warszawa, 2002.
WYKAZ LITERATURY UZUPEŁNIAJĄCEJ
Rylski.A. Metrologia II. Prąd zmienny. OWPRz. Rzeszów. 2000.
Soklof S. Zastosowania analogowych układów scalonych. WKiŁ. Warszawa. 1991.
Horowitz D., HillW. Sztuka elektroniki. WKiŁ. Warszawa. 1996.
Gajda Ja., Szyper M. Modelowanie i badania symulacyjne systemów pomiarowych. Kraków, 1998.
Doebelin E. Measurement systems. Application and design. McGraw-Hill Publish. 1990.
Low level measurement. Precision DC Current, Voltage and Resistance Measurement. Keithley. 2004.
NATIONAL INSTRUMENTS - katalogi firmy
KEITLEY - katalogi firmy
ADVANTECH - katalogi firmy
IOTECH - katalogi firmy
ANALOG DEVICES - katalogi firmy
BURR BROUN - katalogi firmy.
2
2
2
2
2
2
2
1
Podpis nauczyciela odpowiedzialnego
za przedmiot
Podpis
kierownika
(zakładu/studium)
katedry
Data i podpis dziekana właściwego
wydziału