Equipment SEM HITACHI S-3500N Lokalizacja: Wydział Inżynierii

Equipment
SEM HITACHI S-3500N
Lokalizacja: Wydział Inżynierii Materiałowej PW, ul. Wołoska 141, pok. 306A
Skaningowy mikroskop elektronowy (SEM – scanning electron microscope) z możliwością
pracy w zmiennej próżni (LV – low vacuum). Napięcie przyspieszające 1 – 30KV, zdolność
rozdzielcza 2,5nm przy napięciu 25kV, powiększenie 300 – 300 000 x. Wyposażenie:
detektor elektronów wtórnych (SE - secondary electrons), dwa detektory elektronów
wstecznie rozproszonych (BSE – back scatter electrons): półprzewodnikowy i Robinsona,
energio-dyspersyjny spektrometr rentgenowski (EDS – energy dispersive spectrometer), stolik
do obciążania próbek z siła do 2000N
SEM Hitachi S-3500N
Obraz powierzchni przełomu kompozytu FeNi-W
Obraz w elektronach wtórnych (SE)
Obraz w elektronach wstecznie
rozproszonych (BSE)
Rozkład pierwiastków wzdłuż linii w stali 12H1MF
Ilość zliczeń
Obraz struktury
Eksperyment in situ odkształcenia plastycznego Al
Obraz powierzchni w stanie wyjściowym
Obraz powierzchni po odkształceniu
Obserwacje w niskiej próżni preparatów nieprzewodzących
Owad
Pyłek kwiatowy
Fragment oka owada
Pająk