Publications - Politechnika Gdańska

Doctoral dissertation:
1. Kowalewski M.: Odporne na wpływ tolerancji, słownikowe metody diagnostyki
uszkodzeń układów elektronicznych ze specjalizowanym klasyfikatorem neuronowym.
Publiczna obrona 07.12.2010 r. Politechnika Gdańska, Wydział Elektroniki,
Telekomunikacji i Informatyki.
Chapters in books:
1. Zielonko R., Kowalewski M., Diagnostyka uszkodzeń analogowych układów
elektronicznych z zastosowaniem specjalizowanej sieci neuronowej, Inteligentne
wydobywanie informacji w celach diagnostycznych, PWNT, Gdańsk, 2007, s. 257-276.
Articles in journals:
1. Kowalewski M., A concept of measurement system based on the Z-Wave standard,
Przegląd Elektrotechniczny nr 11/2016, s. 35-38.
2. Kowalewski M., Zastosowanie sygnałów o projektowanych kształtach do diagnostyki
obiektów wysoko-impedancyjnych metodą spektroskopii impedancyjnej, Przegląd
Elektrotechniczny nr 8/2014, s. 182-185.
3. Kowalewski M., Czaja Z., Diagnostyka analogowych filtrów wielosekcyjnych oparta na
klasyfikatorach neuronowych z dwucentrowymi funkcjami bazowymi, Pomiary
Automatyka Kontrola, vol. 60, nr 9/2014, s. 733-736.
4. Kowalewski M., Selection of excitation signals for high-impedance spectroscopy, Journal
of Physics: Conference Series 459 (2013) 012060, IMEKO 2013 TC1 + TC7 + TC13.
5. Kowalewski M., Lentka G., Fast High-Impedance Spectroscopy Method Using SINC
Signal Excitation, Metrology and Measurement Systems, Vol. XX, iss. 4 (2013), s. 645654 (artykuł filadelfijski).
6. Czaja Z., Kowalewski M., Zielonko R., Wykorzystanie klasyfikatora z dwucentrowymi
funkcjami bazowymi do diagnostyki uszkodzeń części analogowych elektronicznych
systemów wbudowanych, Przegląd Elektrotechniczny nr 10/2011, s. 184-187.
7. Kowalewski M., Zielonko R., Specjalizowane sieci neuronowe z Dwucentrowymi
Funkcjami Bazowymi do zastosowań w testerach wbudowanych µBIST, Elektronika LII nr
9/2011, s. 144-147.
8. Toczek W., Kowalewski M., Built-in Test Scheme for detection, classification and
evaluation of nonlinearities, Metrology and Measurement Systems, Vol. XV, iss. 1
(2009), s. 47-59 (artykuł filadelfijski).
9. Kowalewski M., Zielonko R., Nowa, metrologicznie zorientowana sieć neuronowa i
metoda diagnostyki obiektów technicznych, Pomiary Automatyka Kontrola, vol. 54, nr
3/2008, s. 174-177.
10. Toczek W., Kowalewski M., A neural network based system for soft fault diagnosis in
electronic circuits, Metrology and Measurement Systems, Vol. XII, iss. 4 (2005), s. 463-476.
Articles in international conferences:
1. Czaja Z., Kowalewski M., A Method of self-testing of analog circuits based on fully
differential op-amps with the TCBF classifier, XXI IMEKO World Congress, Prague,
2015, Czech Republic.
2. Kowalewski M., Selection of excitation signals for high-impedance spectroscopy, 2013
Joint IMEKO TC1- TC7 - TC13 Symposium, Genova 2013, Italy.
3. Hoja J., Kowalewski M., Lentka G., Universal Laboratory Measurement System for
Evaluation of the Impedance Spectroscopy Method Based on Multi-harmonic Excitation
Signal, 19th IMEKO TC 4 Symposium, Barcelona 2013, Spain, s. 161-165.
4. Kowalewski M., Lentka G., Remote Monitoring System for Impedance Spectroscopy
using Wireless Sensor Network, XX IMEKO World Congress, Busan 2012, Republic of
Korea.
5. Kowalewski M., Czaja Z., Usage of Two-Center Basis Function Neural Classifiers in
Compact Smart Resistive Sensors, XX IMEKO World Congress, Busan 2012, Republic of
Korea.
6. Kowalewski M., Lentka G., Hoja J., Evaluation of the fast impedance spectroscopy
method in the laboratory measurement system, IEEE International Instrumentation and
Measurement Technology Conference (I2MTC), Graz 2012, Austria, s. 1735 – 1740.
7. G. Lentka, M. Kowalewski, Improvement of the fast impedance spectroscopy method
using square pulse excitation, Joint Int. IMEKO TC1+ TC7+ TC13 Symposium, Jena,
Germany, 2011.
8. Kowalewski M., Zielonko R., New Two-center Ellipsoidal Basis Function Neural
Network for Fault Diagnosis of Analog Electronic Circuits, International IEEE
Conference on Information Technology ICIT'2010, Gdańsk, 2010, s. 267 – 272.
9. Kowalewski M., Zielonko R., A New Two-center Ellipsoidal Basis Function Neural Network for Fault Diagnosis of Analog Electronic Circuits, Proceedings of the 2nd International Conference on Information Technology ICIT 2010, Gdańsk, 2010, s. 143-146.
10. Czaja Z., Kowalewski M., An Application of TCRBF Neural Network in Multi-node Fault
Diagnosis Method, IMEKO XIX World Congress, Lisbon, Portugal, 2009, s. 503 – 508.
11. Czaja Z., Kowalewski M., A New Method for Diagnosis of Analog Parts in Electronic
Embedded Systems with Two-Center Radial Basis Function Neural Networks, 16th
IMEKO TC4 Symposium, Florence, Italy, 2008, s. 743-748.
12. Kowalewski M., Two-center radial basis function network for classification of soft faults
in electronic analog circuits, 24th IEEE Instrumentation and Measurement Technology
Conference, Warsaw 2007, ISBN 1-4244-1080-0.
13. Toczek W., Kowalewski M., On-Board Detection, Classification and Evaluation of
Nonlinearities, Proceedings of the 23rd IEEE Instrumentation and Measurement
Technology Conference, Sorrento 2006, Italy, s. 1290-1295.
14. Toczek W., Kowalewski M., Zielonko R., Histogram-based feature extraction technique
applied for fault diagnosis of electronic circuits, Proceedings of the 10th IMEKO TC10
International Conference on Technical Diagnostics, Budapest 2005, s. 27-32.
Articles on national conferences:
1. Kowalewski M., A concept of measurement system based on the Z-Wave standard, VII
Kongres Metrologii, Nałęczów - Lublin, 2016.
2. Kowalewski M., Czaja Z., Diagnostyka analogowych filtrów wielosekcyjnych oparta na
klasyfikatorach neuronowych z dwucentrowymi funkcjami bazowymi, X Szkoła Konferencja, Metrologia Wspomagana Komputerowo, Waplewo 2014.
3. Kowalewski M., Zastosowanie sygnałów o projektowanych kształtach do diagnostyki
obiektów wysoko-impedancyjnych metodą spektroskopii impedancyjnej, X Szkoła Konferencja, Metrologia Wspomagana Komputerowo, Waplewo 2014.
2
4. Kowalewski M., Zielonko R., Specjalizowane sieci neuronowe z Dwucentrowymi
Funkcjami Bazowymi do zastosowań w testerach wbudowanych µBIST, IX Krajowa
Konferencja Elektroniki, Darłówko Wschodnie 2011, s. 872-877.
5. Czaja Z., Kowalewski M., Zielonko R., Wykorzystanie klasyfikatora z dwucentrowymi
funkcjami bazowymi do diagnostyki uszkodzeń części analogowych elektronicznych
systemów wbudowanych, IX Szkoła – Konferencja, Metrologia Wspomagana
Komputerowo, Waplewo 2011, ISBN 83-61486-99-2.
6. Kowalewski M., Sieć neuronowa z dwucentrowymi radialnymi funkcjami bazowymi do
klasyfikacji uszkodzeń parametrycznych, Konferencja Technologie Informacyjne, Gdańsk
2006, Zesz. Nauk. Wydz. ETI PG, Tom 9, s. 31-38.
7. Kowalewski M., Zastosowanie dwucentrowych radialnych funkcji bazowych do
klasyfikacji uszkodzeń parametrycznych układów elektronicznych analogowych,
Seminarium Naukowo-Techniczne TECHNICON`06, Gdańsk 2006,ISBN 83-88579-81-9.
8. Kowalewski M., Identyfikacja parametrów funkcjonalnych analogowych układów
elektronicznych z zastosowaniem sztucznych sieci neuronowych, XV Cykl Seminariów
PTETiS, Zastosowanie Komputerów w Nauce i Technice, Gdańsk 2005, s. 157-162.
9. Kowalewski M., System laboratoryjny do identyfikacji uszkodzeń parametrycznych
analogowych układów elektronicznych, VII Szkoła – Konferencja, Metrologia
Wspomagana Komputerowo, Waplewo 2005, Tom 2, s. 285-290.
10. Kowalewski M., Metoda testowania parametrów funkcjonalnych układów analogowych
w dziedzinie czasu, Kongres Metrologii, Wrocław 2004, Tom 2, s. 493-496.
11. Kowalewski M., Bartosiński B., Zastosowanie komputerów w Laboratorium Metrologii i
Techniki Eksperymentu, Kongres Metrologii, Wrocław 2004, Tom 1, s. 51-54.
12. Kowalewski M., Zielonko R., Toczek W., Komputerowe monitorowanie procesu
dydaktycznego w laboratorium podstaw miernictwa, VI Szkoła – Konferencja, Metrologia
Wspomagana Komputerowo, Waplewo 2003, Tom 2, s. 29-36.
13. Kowalewski M., Toczek W., System pomiarowo-diagnostyczny do lokalizacji uszkodzeń
metodą słownikową, I Krajowa Konferencja Elektroniki, Kołobrzeg – Dźwirzyno 2002, s.
235-240.
3