W diodzie wykorzystywane są właściwości złącza pn, polegające na
Transkrypt
W diodzie wykorzystywane są właściwości złącza pn, polegające na
DIODY PÓŁPRZEWODNIKOWE W diodzie wykorzystywane s wła ciwo ci zł cza p-n, polegaj ce na jednokierunkowym przewodzeniu pr du. W zwi zku z tym dioda wykazuje odmienne wła ciwo ci w kierunku przewodzenia i w kierunku zaporowym. W kierunku przewodzenia po przekroczeniu napi cia progowego (0,3...0,4 V dla Ge i 0,6...0,7 V dla Si) pr d zaczyna szybko wzrasta – rezystancja diody jest niewielka. Przy polaryzacji w kierunku zaporowym przez diod płynie niewielki pr d wsteczny, rz du pojedynczych mikroamperów (Ge) lub jeszcze mniejszy (Si) – w tym zakresie rezystancja diody jest bardzo du a. Ze wzgl du na te odmienne wła ciwo ci diody przy ró nym sposobie zasilania, podczas pomiaru jej charakterystyk nale y zastosowa odpowiedni układ pomiarowy. Pomiar charakterystyki diody w kierunku przewodzenia. 1. Zmontowa układ według schematu z rys. 1. Jest to układ poprawnie mierzonego napi cia. Nale y zwróci uwag na miejsce wł czenia przyrz dów oraz obecno rezystora ograniczaj cego pr d. R ID A + V UD Rys. 1. Układ do pomiaru charakterystyki statycznej diody w kierunku przewodzenia. 2. Nastawi na rezystorze warto ró n od zera. 3. Zwi ksza napi cie zasilaj ce diod i odczytywa wskazania przyrz dów. Pami ta o doborze odpowiednich zakresów pomiarowych. Poniewa zale no ID = f(UD) jest nieliniowa nale y odpowiednio dobra zmiany napi cia. Wyniki pomiarów wpisywa w arkuszu kalkulacyjnym: pierwsza kolumna warto ci osi X, druga kolumna – warto ci osi Y. Nie przekracza pr du 10 mA. 4. Wykre li zale no ID = f(UD). Pomiar charakterystyki diody w kierunku zaporowym. 1. Zmontowa układ według schematu z rys. 2 (zastanowi si jak przeprowadzi pomiar w przypadku diody Zenera). Jest to układ poprawnie mierzonego pr du. 2. Zwi ksza napi cie zasilaj ce diod i odczytywa wskazania przyrz dów. Pami ta o doborze odpowiednich zakresów pomiarowych. Wyniki pomiarów wpisywa w arkuszu kalkulacyjnym: pierwsza kolumna warto ci osi X, druga kolumna – warto ci osi Y. Nie przekracza napi cia 10 V na diodzie. R A + ID V UD Rys. 2. Układ do pomiaru charakterystyki statycznej diody w kierunku zaporowym. 3. Wykre li zale no ID = f(UD). Opracowanie wyników 1. Je eli dla jednej diody mierzone były charakterystyki w kierunku przewodzenia i zaporowym, przedstawi je na jednym wykresie. 2. Porówna charakterystyki diod wykonanych z ró nych materiałów (krzemowa, germanowa), oraz maj cych ró ne zastosowania (prostownicza, Zenera).