Wykaz jednostek zaproszonych do udziału w Komitecie Programowym

Komunikat nr 2
Zarząd Klubu POLSKIE FORUM ISO 9000
zaprasza do udziału
w sympozjum
METROLOGIA
W SYSTEMACH ZARZĄDZANIA – 7
Praktyczne aspekty metrologii
Patronat:
Minister Gospodarki - Pan Janusz Piechociński
Patronat merytoryczny
Rektor Politechniki Świętokrzyskiej
– prof. dr hab. Stanisław Adamczak, dr h.c.
Współpraca:
TARGI KIELCE S.A.
XVIII Targi Przemysłowej Techniki Pomiarowej oraz Badań Nieniszczących
CONTROL-TECH
23-25 września 2013 r.
Hotel Ameliówka
26-001 Masłów
Mąchocice Kapitulne 176 k/KIELC
Klub POLSKIE FORUM ISO 9000 jest członkiem wspierającym
Polskiego Stowarzyszenie Jakości Zarządzania „POLISOLAB”
ul. Kłobucka 23A, 02-699 Warszawa, Tel. 22 46 45 503 fax. 22 46 45 556
www.pfiso9000.pl e-mail: [email protected]
Cel sympozjum
Prezentacja aktualnych trendów rozwoju, znaczenia i zastosowań Metrologii w praktyce
przemysłowej.
Sympozjum ukierunkowane jest na praktyczne aspekty metrologii.
Sympozjum będzie okazją do pogłębienia wiedzy merytorycznej, zdobycia nowych doświadczeń
i wymiany poglądów, będzie także ważnym krokiem w doskonaleniu systemu oceny zgodności
w Polsce.
Patronat medialny:
 Problemy Jakości
 Pomiary, Automatyka, Robotyka
 Pomiary, Automatyka, Kontrola
 Gazeta prawna – Forum biznesu
Współpraca Programowa:
 Instytut Metrologii i Inżynierii Biomedycznej, Wydział Mechatroniki
Politechniki Warszawskiej
 PKN Polski Komitet Normalizacyjny
 PCA Polskie Centrum Akredytacji
 GUM Główny Urząd Miar
 PCBC SA Polskie Centrum Badań i Certyfikacji SA
 PIAP Przemysłowy Instytut Automatyki i Pomiarów
 RADWAG Wagi Elektroniczne. Witold Lewandowski
 Instytut Zaawansowanych Technologii Wytwarzania
 Zakład Systemów Jakości i Zarządzania WAT
Menadżer Sympozjum – Prezes Klubu POLSKIE FORUM ISO 9000
dr inż. Elżbieta Krodkiewska-Skoczylas – IMiIB PW
Istnieje możliwość zaprezentowania – równolegle do obrad sympozjum - specjalistycznego
oprogramowania (własnego, zakupionego lub oferowanego do zakupu) wykorzystywanego
w zastosowaniach metrologii w systemach zarządzania, w tym w nadzorze metrologicznym wyposażenia
pomiarowego – zgodnie z ofertą dla wystawców lub wg uzgodnień.
RAMOWY PROGRAM SYMPOZJUM
23.09.2013 (poniedziałek)
Od 12.00 Rejestracja
uczestników
13:00 – 14:00 – obiad
14:00 – 16:00 – Sesja I
16:00 – 16.30 – przerwa
16:30 – 19:00 – Sesja II
19:30 – kolacja
24.09.2013 (wtorek)
8:00 – 9:00 – śniadanie
9:00 – 13:00 – sesja III
9:00 – 11:00 - obrady
11:00 – 11:30 – przerwa
11.30 – 13:00 – obrady
13:00 – 15:00 – przerwa,
obiad
15:00 – 18:30 – sesja IV
Przerwy po referatach
19:00 – kolacja
25.09.2013 (środa)
8:00 – 9:00 – śniadanie
9:00 – 11:00 – sesja V
11:00 podsumowanie,
zakończenie obrad
Sympozjum
11.30- lunch
12:30 – wyjazd
autokarami na Targi
Przemysłowej Techniki
Pomiarowej oraz Badań
Nieniszczących CONTROLTECH
13.00 - przegląd aktualnej
oferty rynkowej oraz
trendów rozwojowych
wyposażenia
pomiarowego
W programie sympozjum zostaną przedstawione następujące zagadnienia:
ZNACZENIE METROLOGII W PRAKTYCE PRZEMYSŁOWEJ
1. Rola Metrologii w systemie oceny zgodności – dr inż. Wojciech Henrykowski, PCBC SA
2. Normalizacja w zakresie metrologii – mgr inż. Jolanta Kochańska, PKN
3. Reforma międzynarodowego układu jednostek miar SI- aspekt metrologiczny i implikacje
praktyczne New SI – dr Wojciech T. Chyla, RADWAG Wagi Elektroniczne
4. Znaczenie NMI dla zapewnienia wiarygodności orzekania o zgodności z wymaganiami
w systemie ocenie zgodności – mgr inż. Jan Landowski, GUM
METROLOGIA W PROCESACH
1. Praktyczne podejście do zastosowań metrologii w procesach systemu zarządzania –
dr inż. Elżbieta Krodkiewska-Skoczylas, IMiIB PW
2. Praktyczne aspekty zastosowania metod statystycznych w procesach systemu
zarządzania - prof. nzw. dr hab. inż. Sabina Żebrowska - Łucyk, IMiIB PW
3. Monitorowanie procesów ciągłych na przykładzie głównego procesu realizowanego
w Górka Cement – MBA, mgr inż. Jerzy Szymański, Górka Cement, Dyrektor
Generalny
ZARZĄDZANIE POMIARAMI
1. Zarządzanie pomiarami w pracach rozwojowych na przykładzie instytutu
badawczego– dr inż. Włodzimierz Kosiński, dr inż. Joanna Wójcik., ITWL
2. Metrologiczne podejście do doboru wyposażenia pomiarowego - dr inż. Olga
Iwasińska- Kowalska, IMiIB PW
3. Nadzorowanie wyposażenia pomiarowego. Wzorcowanie, sprawdzanie, metrologia
prawna - mgr inż. Danuta Jonaszek, OUM Gdańsk
4. Biznesowe podejście do wzorcowania wyposażenia pomiarowego - mgr inż.
Ryszard Malesa, PCA
5. Nadzór metrologiczny nad przyrządami pomiarowymi w aspekcie ochrony interesu
publicznego – dr hab. inż. Alicja Maleszka, Uniwersytet Ekonomiczny Poznań, mgr
Joanna Wiśniewska, Okręgowy Urząd Miar w Poznaniu
6. Rola laboratorium wzorcującego w strukturze producenta przyrządów pomiarowych mgr Andrzej Hantz, RADWAG Wagi Elektroniczne
WYBRANE ZAAWANSOWANE TECHNIKI POMIAROWE W PROCESACH
1. Współrzędnościowa technika pomiarowa w kontroli jakości procesów produkcyjnych
– prof. dr inż. Eugeniusz Ratajczyk, IMiIB PW
2. Przegląd wybranych współczesnych metod pomiarów przestrzennych zarysów
nierówności powierzchni - prof. dr hab. inż. Stanisław Adamczak,
dr h.c., mgr inż. Jacek Świderski, Katedra Techn. Mech. i Metrologii Polit. Święt.
3. Nowe technologie pomiarów masy w zastosowaniach przemysłowych - wagi
narzędziem kontroli oraz źródłem oszczędności w liniach produkcyjnych –
mgr inż. Tomasz Misiewicz, RADWAG Wagi Elektroniczne
4. System kontrolno-pomiarowy plazmowego reaktora do utylizacji odpadów obwodów
drukowanych – mgr inż. Jakub Szałatkiewicz, prof. nzw. dr hab. inż . Roman
Szewczyk, prof. dr hab. inż. Eugeniusz Budny, prof. dr inż. Tadeusz Missala,
mgr inż. Wojciech Winiarski – PIAP
5. Szacowanie budżetów niepewności w przemysłowych pomiarach z zakresu
specyfikacji geometrii wyrobów (GPS) – mgr inż. Tatiana Miller, inż. Krzysztof Gajda,
mgr inż. Aneta Łętocha, IZTW
6. Dokładność stykowych pomiarów struktury geometrycznej powierzchni w kontekście
orzekania zgodności ze specyfikacją – dr hab. inż. Włodzimierz Makieła,
prof. P. Śk. mgr inż. Jacek Świderski – KTMiM P. Śk
Oprócz wymienionych referatów przedstawione zostaną – w formie komunikatów –
przykłady rozwiązań zastosowanych w wybranych organizacjach.
TABELA OPŁAT
Pierwszy przedstawiciel
Członka rzeczywistego Klubu PF ISO 9000
750,00 zł +
23% VAT
Kolejny przedstawiciel członka rzeczywistego Klubu PF
ISO 9000
Członek Polskiego Stowarzyszenia Jakości Zarządzania
POLISOLAB
Członek wspierający Klubu PF ISO 9000
830,00 zł +
23% VAT
Członek Klubu POLLAB
Członek Stowarzyszenia ISO 14000
Uczestnicy spoza Klubów
1180,00 zł + 23%
VAT
Uwaga:
1. Dla Członków Klubów obowiązuje preferencyjna opłata tyko przy opłaconych
składkach członkowskich za 2013r.
2. Faktury za udział w seminarium wystawiane będą przez Polskie Stowarzyszenie
Jakości Zarządzania POLISOLAB, które zapewnia obsługę finansową Klubu
POLSKIE FORUM ISO 9000.
Koszty uczestnictwa obejmują:







Zakwaterowanie i wyżywienie (od obiadu w poniedziałek do lunchu w środę),
Parking,
Udział w obradach,
Materiały szkoleniowe,
Udział w Targach Przemysłowej Techniki Pomiarowej oraz Badań Nieniszczących
Przerwy kawowe,
Koszty organizacji – nie dotyczą Członków rzeczywistych Klubu POLSKIE
FORUM ISO 9000
Informacji udziela i zgłoszenia przyjmuje:
Sekretariat Klubu POLSKIE FORUM ISO 9000
ul. Kłobucka 23A lok. 104
02 – 699 Warszawa
Tel. 22 46 45 503
Fax: 22 46 45 556
www.pfiso9000.pl
[email protected]