Transmisyjny mikroskop elektronowy - JEOL JEM 1200Ex

Equipment
TEM JEOL JEM1200
Lokalizacja: Wydział Inżynierii Materiałowej, ul. Narbutta 85, pok. 9
Transmisyjny mikroskop elektronowy (TEM – transmission electron microscope) o napięciu przyśpieszającym 120kV,
powiększenie od 50x do 500 000x. Wyposażenie: goniometr +/- 60 stopni, uchwyt do nachylania preparatów w drugiej osi,
uchwyt do grzania preparatów do temperatury 1000 C, uchwyt do odkształcenia plastycznego, uchwyt preparatów do analizy
składu chemicznego (Be), przystawka skanująca (STEM – scanning transmission electron microscope), energio-dyspersyjny
spektrometr rentgenowski (EDS – energy dispersive spectrometer), kamera cyfrowa (CCD – couple charge device)
Page rendered in 0.0512 seconds
Transmisyjny mikroskop elektronowy - JEOL JEM 1200Ex
Obrazowanie struktury metalu
Preparat standartowy
Struktura stali 316L, pow.: 30 000 x
Struktura stali, pow.: 50 000 x
Obraz dyfrakcji elektronów
Obrazowanie nano-cząstek metalicznych
Powiększenie 50 000 x
Powiększenie 500 000x
Obrazowanie nano-rurek węglowych
Powiększenie 50 000 x
Powiększenie 500 000 x
Analiza rozkładu pierwiastków wzdłuż linii w stali 316L
Obraz struktury
Ilość zliczeń