załącznik nr 1.14: Opis przedmiotu zamówienia

Transkrypt

Znak sprawy: RA-TL-Z – 07/2014
załącznik nr 1.14 do SIWZ
OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENI CZĘŚĆ - CZĘŚĆ 14
Z E S T A W D O C H A R A K TE R Y S T Y K I N A N O M A T E R I A Ł Ó W
1. Tabela z wyszczególnieniem poszczególnych komponentów przedmiotu zamówienia.
Pozy
cja
Podp
ozycj
a
Przedmiot zamówienia i jego składowe oraz wymagane minimalne parametry techniczne
Ilość
Spektrometr FTIR wielozakresowy (NIR-MIR-FAR), spełniający następujące parametry techniczne:
1.
2.
A
1.
3.
4.
5.
6.
7.
8.
Źródło promieniowania: lampa wolframowa na zakres 27 000 – 2000 cm-1 oraz źródło ceramiczne z azotku krzemu na zakres
co najmniej 9 600 – 20 cm-1 niewymagające chłodzenia wodą. Monolityczna konstrukcja źródła ceramicznego zapewniająca
brak migracji punktu aktywnego. Średni czas życia > 10 lat. Gwarancja na źródło: min. 5 lat.
Automatyczny 4-pozycyjny układ przełączający:
a) dwa źródła wbudowane,
b) opcjonalny port emisyjny dla źródła zewnętrznego z przejściem przez układ regulacji średnicy wiązki ("J-stop"),
c) opcjonalny detektor InGaAs do modułu Ramana.
Automatyczny zmieniacz beamsplitterów, mieszczący na raz co najmniej 3 dzielniki wiązki. W zestawie beamsplittery:
Ge/KBr na zakres spektralny nie mniejszy niż 7 800 - 350 cm-1, Si/CaF2 na zakres co najmniej 14 500 -1 200 cm-1 oraz
pojedynczy beamsplitter far-IR na zakres co najmniej 700-20 cm-1. Możliwość rozbudowy o dodatkowe beamsplittery
gwarantujące pokrycie zakresu spektralnego co najmniej 27 000 - 20 cm-1. Automatyczne rozpoznawanie rodzaju
beamsplittera przez system,
Trójpozycyjny automatyczny układ zmiany detektorów,
Wbudowany detektor DLaTGS z okienkiem KBr na zakres 12 000 - 350 cm-1,
System obsługujący maksymalnie co najmniej 5 wbudowanych, automatycznie przełączanych detektorów,
Zdolność rozdzielcza lepsza niż 0.09 cm-1 (pomiar szerokości połówkowej pasma CO),
Interferometr Michelsona 90º, odporny na wibracje i wpływ zmian temperaturowych, justowany dynamicznie w trakcie
skanowania z częstotliwością odpowiadającą częstotliwości przejść przez zero sygnału lasera nawet przy maksymalnej
1 szt.
Projekt współfinansowany przez Unię Europejską ze środków Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego w ramach Lubuskiego Regionalnego Programu Operacyjnego na lata 2007 –2013
Tytuł Projektu: „Park Naukowo – Technologiczny Uniwersytetu Zielonogórskiego” Projekt realizowany w ramach Priorytetu II – Działanie 2.4 ”Transfer badań, nowoczesnych technologii i innowacji ze świata nauki do przedsiębiorstw”.
Strona 1 z 11
O PI S P R ZE DM IO T U ZAM Ó WI E NI A
- CZĘŚĆ 14
szybkości skanowania. Mechanizm dynamicznego justowania wykorzystujący wiązkę lasera He-Ne, padającą na
trójpozycyjny detektor laserowy, do monitorowania i utrzymywania idealnego względnego położenia kątowego zwierciadeł.
Gwarancja na interferometr: 5 lat,
9. System automatycznego rozpoznawania z poziomu oprogramowania akcesoriów (co najmniej: ATR – Golden Gate, Miracle,
SplitPea, DRITFS, Specular Reflectance, PAS) oraz elementów systemu takich jak detektory i beamsplittery,
10. Wbudowana przystawka diamentową ATR z własnym detektorem DTGS z okienkiem diamentowym na zakres podczerwieni i
dalekiej podczerwieni, nie zajmująca przedziału pomiarowego z funkcją automatycznego przełączania wiązki między
przedziałem próbek i przystawką,
11. Możliwość rozbudowy na dalsze zakresy spektralne (zakres maksymalny nie gorszy niż 27 000 - 20 cm-1) i do pracy z
technikami łączonymi: GC/IR, TG/IR, FT-Raman, mikroskopia IR,
12. Skanowanie liniowe z szybkością regulowaną w zakresie co najmniej 0.16 - 6.2 cm/s,
13. Możliwość rozbudowy do skanowania krokowego ("step-scan") zarówno z zatrzymaniem lustra (modulacja amplitudy,
pomiary czasowo-rozdzielcze) jak z oscylacją lustra wokół zatrzymanej pozycji (modulacja fazy - w tym pomiary
fotoakustyczne z profilowaniem w głąb próbki) oraz z modulacją wielokrotną,
14. Apertura regulująca moc wiązki, o powtarzalnej regulacji średnicy w zakresie 0-100% co 1%,
15. Elementy układu optycznego montowane stabilnie na ławie optycznej za pomocą kołków pozycjonujących,
16. Monolityczne zwierciadła w układzie optycznym,
17. Możliwość rozbudowy o układ wejścia-wyjście promieniowania obejmujący co najmniej:
a) wyprowadzenie wiązki na zewnątrz w prawo,
b) wyprowadzenie wiązki na zewnątrz w lewo,
c) wprowadzenie wiązki skolimowanej,
d) wprowadzanie wiązki zogniskowanej przez układ aperturowania wiązki,
18. Poziom szumów (amplituda międzyszczytowa) nie przekraczający 7.9 x 10-6Abs (sygnał/szum 55 000 : 1) dla detektora
DLaTGS, rozdzielczości 4 cm-1 przy pomiarze 1 min,
19. Maksymalna szybkość zbierania danych nie gorsza niż 65 skanów/s dla rozdzielczości 16 cm-1 (odstęp danych 8 cm-1) z opcją
Strona 2 z 11
- CZĘŚĆ 14
rozbudowy do co najmniej 90 skanów/s,
20. Układ optyczny szczelny i osuszany z oddzielającymi przedział próbek okienkami KBr z powłoką niehigroskopijną,
21. Możliwość rozbudowy o zastępujące okienka KBr automatycznie otwierane/zamykane przesłony między przedziałem próbek a
wnętrzem spektrometru,
22. Zestaw do przedmuchu obejmujący: generator powietrza bez CO2 i pary wodnej typu Balston, wąż pneumatyczny, złączki,
reduktor ciśnienia z filtrem ze wskaźnikiem stopnia osuszenia i regulator przepływu z rotametrem,
23. Duża komora pomiarowa o wymiarach podstawy co najmniej 21 x 26 cm z wysokością wiązki 3.5" ponad podstawą; proste
zdejmowanie pokrywy przedziału próbek bez używania narzędzi umożliwiające wygodną pracę w przypadku używania
różnorodnych akcesoriów,
24. Przyciski do szybkiego uruchomienia pomiaru w poszczególnych modułach pomiarowych,
25. Wbudowana na stałe w aparat automatyczna przystawka do testowania spektrometru z kołem z wzorcami, sterowana z
poziomu oprogramowania, zawierająca co najmniej następujące wzorce:
a) folia polistyrenowa o grubości ok. 38µm (1.5mil),
b) filtr szklany typu NG11.
26. Możliwość rozbudowy o polaryzator z automatyzacją regulacji kąta obrotu i wprowadzenia/usunięcia polaryzatora z wiązki,
27. Zestaw do pomiarów metodą pastylek KBr: prasa hydrauliczna o nacisku co najmniej 2 tony, pastylkarka do przygotowania
pastylek o średnicy 7 mm, dwa dodatkowe pierścienie, uchwyt do pastylek, proszek KBr co najmniej 50g, moździerz z
tłuczkiem,
28. Sfera integrująca do pracy w NIR o wydajności zbierania promieniowania promieniowania > 95% ze zintegrowanym
detektorem InGaAs, okienkiem szafirowym i wbudowanym poniżej okienka zmotoryzowanym wzorcem do automatycznego
pomiaru tła. Sfera automatycznie rozpoznawana i sprawdzana przez system,
29. Komunikacja aparatu z jednostką sterującą przez szybki port USB 2.0,
30. Zasilacz spektrometru umieszczony na zewnątrz aparatu eliminujący wprowadzanie wysokiego napięcia (prądu zmiennego
230V) do aparatu i zapewniający podwyższoną stabilność termiczną systemu,
31. Pełny program obsługi spektrometru co najmniej w języku polskim i angielskim zgodny z systemem operacyjnym Windows
Strona 3 z 11
- CZĘŚĆ 14
XP, Vista, 7/8 32-bit i 64-bit. Automatyczny wybór wersji językowej przy logowaniu do Windows lub przez wybór opcji
regionalnych w panelu sterowania Windows.
Wymagana charakterystyka:
1) logowanie użytkowników z hasłami i różnymi poziomami dostępu,
2) funkcja automatycznego doboru wzmocnienia sygnału,
3) podgląd widm zapisanych na dysku przed ich otwarciem (jak podgląd dokumentów w pakiecie Office),
4) dostęp do surowych danych łącznie z interferogramem z możliwością ich przenoszenia (eksportu) do zewnętrznych
programów w postaci danych ASCII,
5) funkcje przetwarzania widm: korekcja linii bazowej – automatyczna i manualna, dekonwolucja, odejmowanie spektralne,
wyznaczanie pochodnych, znajdowanie maksimów, wygładzanie, transformacja Kramersa Kroniga, korekcja ATR, pomiar
wysokości i położenia pasma, pomiar pola powierzchni pasm - bezwględnej i względnej,
6) funkcja rozkładu pasm na składowe z algorytmem konwergencji typu Fletcher-Powell-McCormick, uzględniająca co najmniej
następujące typy pasm: Gaussian, Lorentzian, mieszany Gaussian/Lorentzian, Voigt,
7) przeszukiwanie bibliotek w celu identyfikacji widma nieznanej próbki oraz/lub porównania z widmem wzorca,
8) w zestawie biblioteka widm obejmująca co najmniej 10 000 widm związków nieorganicznych i organicznych,
9) tworzenie własnych bibliotek użytkownika,
10) moduł oprogramowania do analiz chemometrycznych obejmujący algorytmy analizy ilościowej i klasyfikacyjnej – co
najmniej następujące:
a) do analiz ilościowych:
Prawo Lamberta-Beera,
CLS (klasyczna metoda najmniejszych kwadratów),
b) do analiz klasyfikacyjnych:
Search Standards (przeszukiwanie biblioteki wzorców z analizą korelacji, także dla pochodnych widm),
Similarity match (wektorowa analiza podobieństwa),
QC compare (analiza korelacyjna widm uśrednionych),
Strona 4 z 11
- CZĘŚĆ 14
2.
11) moduł do tworzenia i wykonywania makroinstrukcji,
12) moduł spektralnej interpretacji widm,
13) automatyczna korekcja zawartości CO2 i pary wodnej przez oprogramowanie bez konieczności zbierania widm
referencyjnych,
14) wyświetlanie widm w czasie rzeczywistym (w trakcie pomiaru),
15) automatyczne wykonywanie testów jakości widm z informowaniem użytkownika m.in. o niepożądanych pasmach
spektralnych w widmie tła, nieprawidłowym kształcie pasm, obecności pasm całkowicie absorbujących, nachyleniu linii
podstawowej, zbyt małej energii interferogramu,
16) aktywna diagnostyka w trakcie pomiaru z ciągłym monitorowaniem stanu elementów systemu i wizualnym wskaźnikiem
poprawnej pracy aparatu,
17) wbudowany edytor do tworzenia raportów według własnych szablonów,
18) archiwizowanie gotowych raportów w nieedytowalnych skoroszytach elektronicznych z funkcją przeszukiwania
skoroszytów umożliwiającą szybkie dotarcie do każdego raportu
19) moduł rozszerzonej analizy widm obejmujący algorytm jednoczesnej wieloskładnikowej identyfikacji widm, pozwalający na
identyfikację składników mieszaniny w trakcie pojedynczego przeszukiwania biblioteki, bez konieczności stosowania
odejmowania widm poszczególnych składników.
Zestaw komputerowy:
Zestaw komputerowy o konfiguracji nie gorszej niż: komputer klasy PC o parametrach minimalnych:
1. procesor zaprojektowany do pracy w komputerach stacjonarnych, osiągający w teście wydajności PassMark PerformanceTest co
najmniej wynik 8000 punktów Passmark CPU Mark,
2. Pamięć RAM: 4GB,
3. 500 GB HDD,
4. Nagrywarka DVD-RW,
5. karta sieciowa: co najmniej 10/100/1000 Mbit/s,
6. klawiatura na złącze USB,
7. mysz optyczna bezprzewodowa,
1 szt.
Strona 5 z 11
- CZĘŚĆ 14
8. monitor LCD min. 22",
9. Kolorowa drukarka laserowa o rozdzielczości nie gorszej niż 600 x 600 dpi w kolorze i w czerni.
10. Zainstalowana
najnowsza
bieżąca
wersja
systemu
operacyjnego;
Wymagania systemu operacyjnego:
1) 64 bitowy system operacyjny klasy PC musi spełniać następujące wymagania poprzez natywne dla niego mechanizmy, bez
użycia dodatkowych aplikacji:
2) Możliwość dokonywania aktualizacji i poprawek systemu przez Internet z możliwością wyboru instalowanych poprawek;
3) Możliwość dokonywania uaktualnień sterowników urządzeń przez Internet - witrynę producenta systemu;
4) Darmowe aktualizacje w ramach wersji systemu operacyjnego przez Internet (niezbędne aktualizacje, poprawki, biuletyny
bezpieczeństwa muszą być dostarczane bez dodatkowych opłat) - wymagane podanie nazwy strony serwera WWW;
5) Internetowa aktualizacja zapewniona w języku polskim;
6) Wbudowana zapora internetowa (firewall) dla ochrony połączeń internetowych; zintegrowana z systemem konsola do
zarządzania ustawieniami zapory i regułami IP v4 i v6;
7) Wsparcie dla większości powszechnie używanych urządzeń peryferyjnych (drukarek, urządzeń sieciowych, standardów USB,
Plug & Play, WiFi);
8) Interfejs użytkownika działający w trybie graficznym w polskiej wersji językowej;
9) Możliwość zdalnej instalacji, konfiguracji, administrowania oraz aktualizowania systemu;
10) Zabezpieczony hasłem hierarchiczny dostęp do systemu;
11) Zintegrowany z systemem moduł wyszukiwania informacji;
12) Zintegrowane z systemem operacyjnym narzędzie zwalczające złośliwe oprogramowanie;
13) aktualizacje dostępne u producenta nieodpłatnie bez ograniczeń czasowych i licencyjnych;
14) Wbudowany system pomocy w języku polskim;
15) Certyfikat (dokument) producenta oprogramowania potwierdzający poprawność pracy systemu operacyjnego z dostarczonym
sprzętem;
16) Możliwość przystosowania stanowiska dla osób niepełnosprawnych (np. słabo widzących);
17) Zdalna pomoc i współdzielenie aplikacji - możliwość zdalnego przejęcia sesji zalogowanego użytkownika celem rozwiązania
problemu z komputerem;
18) Rozwiązanie służące do automatycznego zbudowania obrazu systemu wraz z aplikacjami. Obraz systemu służyć ma do
Strona 6 z 11
- CZĘŚĆ 14
automatycznego upowszechnienia systemu operacyjnego inicjowanego i wykonywanego w całości poprzez sieć komputerową;
19) Rozwiązanie umożliwiające wdrożenie nowego obrazu poprzez zdalną instalację;
20) Graficzne środowisko instalacji i konfiguracji;
21) Zarządzanie kontami użytkowników sieci oraz urządzeniami sieciowymi tj. drukarki, modemy, woluminy dyskowe, usługi
katalogowe;
22) Oprogramowanie dla tworzenia kopii zapasowych (backup); automatyczne wykonywanie kopii plików z możliwością
automatycznego przywrócenia wersji wcześniejszej.
23) System operacyjny musi umożliwiać obsługę urządzenia oraz działanie oprogramowania wyspecyfikowanego w Części 14
Pozycji A Podpozycji 1 niniejszej specyfikacji (bez zastosowania dodatkowych emulatorów oraz konwerterów).
B
Profilometr interferencyjny do analizy materiałów nanowarstwowych, spełniający następujące wymagania:
1. Pomiar grubości pojedynczej warstwy w zakresie co najmniej od 10 nm do 50 m (dla szczeliny optycznej o szerokości 100 m) z
możliwością powiększenia zakresu badania grubości do co najmniej 200 m przy zastosowaniu wymiennych szczelin optycznych.
2. Możliwość rejestracji widma fluorescencji oraz światła odbitego.
3. Oświetlenie na bazie lampy deuterowo-halogenowej, zakres spektralny co najmniej od 190 nm do 2500 nm.
4. Wbudowany spektrometr o zakresie spektralnym co najmniej od 200 nm do 1100 nm. Posiadający wymienny zestaw co najmniej czterech
szczelin optycznych o szerokościach od 25 µm do 200 µm.
5. Możliwość ustawienia czasu integracji w zakresie co najmniej od 1,2 ms do 10 minut.
6. Rozdzielczość (szerokość połówkowa piku FWHM) nie gorsza niż 1,20 nm.
7. Sonda światłowodowa składająca się z siedmiu włókien światłowodowych o średnicy włókna 400 µm (jednego zbierającego sygnał do
detektora oraz sześciu włókien oświetlających), o długości co najmniej 2 metrów z możliwością pracy w zakresie temperatur od –30° do
+100 °C.
8. Statyw do sondy.
9. Wzorce do kalibracji pomiaru grubości wykonane z: SiO2 na podłożu Si.
10. Wzorzec pomiaru grubości wielowarstwowy, zawierający co najmniej 5 warstw.
11. Komunikacja z komputerem poprzez łącze USB.
12. Oprogramowanie sterujące pomiarem oraz umożliwiające rejestrację/wyznaczenie grubości warstw (oraz układów wielowarstwowych
co najmniej do 5 warstw).
1 szt.
Strona 7 z 11
- CZĘŚĆ 14
13. Dodatkowo wbudowana biblioteka warstw i materiałów.
14. Zestaw komputerowy współpracujący z profilometrem interferencyjnym.
15. Wyposażenie do przygotowania cienkich przekrojów próbek w parafinie, umożliwiające przygotowanie ścinków o grubości co
najmniej w zakresie od 0.5 do 60 um, wyposażony w niezbędne akcesoria, w tym noże stalowe w ilości co najmniej 50 sztuk,
zabezpieczenia przed przegrzaniem, kontrolę temperatury noża i stolika, z wyświetlaniem jej na wbudowanym wyświetlaczu
ciekłokrystalicznym.
Analizator powierzchni właściwej i porowatości metodą sorpcji gazów, spełniający wymagane parametry techniczne:
1.
2.
3.
4.
5.
C
1
6.
7.
8.
9.
10.
11.
12.
13.
Zakres mierzonych porów: 0,35 nm – 500 nm,
Zakres objętości porów: od 0,00005 cm3/g,
Zakres pomiaru powierzchni właściwej: od 0,01 m2/g z użyciem azotu, 0.0005 m2/g z użyciem kryptonu,
Powtarzalność pomiaru nie gorsza niż: 0,2%,
Wbudowane czujniki ciśnienia w bezpośrednim otoczeniu próbki pracujące w zakresie: 0 – 1000 mmHg, zapewniający
rozdzielczość nie gorszą niż 0.0001 mmHg, oraz w zakresie 0 – 10 mmHg, zapewniający rozdzielczość pomiaru nie gorszą niż
0.000001 mmHg,
Dodatkowy czujnik ciśnienia gazu dozowanego do komory pomiarowej na zakres co najmniej 0-1000 mmHg,
Możliwość rozbudowania systemu o przetworniki ciśnienia pracujące w zakresie 0-1 mmHg i 0-100 mmHg,
Analizator wyposażony w automatyczny system sterowania poziomem ciekłego azotu/argonu zapewniający stabilizację
poziomu ciekłego azotu/argonu z dokładnością do 0,02 mm,
Temperatura gazu wewnątrz kolektora mierzona z precyzją nie gorszą niż 0,01 OC,
Stabilność temperatury we wnętrzu kolektora nie gorsza niż: 0,05 OC,
Kolektor gazu wykonany ze stali nierdzewnej,
Przetworniki ciśnienia, przewody, zawory, kolektor umieszczone w przedziale stabilizowanym temperaturowo regulatorem
PID w temperaturze 350C z dokładnością nie gorszą niż 0,1 OC,
Przetwornik analogowo cyfrowy 24 bitowy, co najmniej 8-kanałowy, zapewniający ośmiocyfrową rozdzielczość odczytu
ciśnienia,
1 szt.
Strona 8 z 11
- CZĘŚĆ 14
14. Co najmniej 4 porty wprowadzające gazy z możliwością automatycznego wyboru z poziomu oprogramowania. Możliwość
rozbudowy o 4 dodatkowe porty gazów,
15. Możliwość pracy co najmniej z następującymi gazami: N2, Ar, CO2, He, Kr, H2, O2, CO, CH4, lekkie węglowodory,
16. W zestawie pompa turbomolekularna o wydajności 10-8 mmHg i zawory zapewniające wysoki poziom próżni,
17. Wbudowane w aparat urządzenie odgazowujące umożliwiające równoczesne odgazowanie dwóch próbek, zapewniające
temperaturę odgazowania w zakresie: do 450 OC, w sposób balistyczny oraz z programowanym tempem od 1 do 10 OC/min,
18. Oprogramowanie umożliwiające sterowanie urządzeniem i analizę wyników obejmującą m.in. następujące obliczenia:
1) Powierzchnia właściwa: BET 2 parametry, BET pełne równanie z regresją nieliniową, Langmuir, Dubinin-RadushkevichKaganer, ESW, t-plot, alpha-S-plot, MP-Plot,
2) Standardowe izotermy: Halsey, Fransil, Harkins-Jura, De Boer, Halenda, Lecloux, definiowane przez użytkownika,
3) Rozkład wielkości mezoporów: Barrett-Joyner-Halenda, Dollimore-Heal, Cranston-Inkley, metoda bez modelowa,
4) Rozkład wielkości mikroporów z potencjałem: Horvath-Kawazoe, Saito-Foley, Dubinin-Stoeckli,
5) Moduł NLDFT (Non Local Density Functional Theory): minimalizacja funkcji energii swobodnej względem gęstości w
celu obliczenie rozkładu wielkości mikro i mezoporów.
19. Zasilanie analizatora i urządzenia odgazowującego: 230V, 50-60 Hz, jednofazowe,
20. W zestawie co najmniej 5 biuret pomiarowych, olej odpowiedni do pracy pompy próżniowej,
21. Możliwość rozbudowy aparatu w opcję do analiz chemisorpcji gazów w zakresie do 450 deg C oraz kompletne wyposażenie
do analiz sorpcji CO2, zapewniające analizy w zakresie temperatur od co najmniej -20 do 80 deg C,
22. w zestawie dewar umieszczany w komorze pomiarowej aparatu oraz dewar transportowy o objętości co najmniej 25 litrów
wyposażony w podstawę na kółkach i głowicę ciśnieniową ze stali nierdzewnej do pobierania ciekłego azot, zaopatrzona w
wylewkę z separatorem faz, dwa zawory odcinające cieczowy i gazowy, manometr, dwa zawory bezpieczeństwa, klamrę
zaciskową z uszczelką.
Strona 9 z 11
- CZĘŚĆ 14
Zestaw komputerowy:
C
2
Zestaw sterujący obejmujący komputer klasy PC o parametrach nie gorszych niż:
1. Procesor zaprojektowany do pracy w komputerach stacjonarnych, osiągający w teście wydajności PassMark PerformanceTest
co najmniej wynik 6100 punktów Passmark CPU Mark,
2. 3 GB RAM,
3. HDD 500GB SATA,
4. złącze RS2,
5. monitor min. 22" LCD,
6. DVD-RW,
7. klawiatura na złącze USB,
8. mysz optyczna bezprzewodowa,
9. Zainstalowana
najnowsza
bieżąca
wersja
systemu
operacyjnego.
Wymagania systemu operacyjnego:
1) 64 bitowy system operacyjny klasy PC musi spełniać następujące wymagania poprzez natywne dla niego mechanizmy,
bez użycia dodatkowych aplikacji:
2) Możliwość dokonywania aktualizacji i poprawek systemu przez Internet z możliwością wyboru instalowanych
poprawek;
3) Możliwość dokonywania uaktualnień sterowników urządzeń przez Internet - witrynę producenta systemu;
4) Darmowe aktualizacje w ramach wersji systemu operacyjnego przez Internet (niezbędne aktualizacje, poprawki,
biuletyny bezpieczeństwa muszą być dostarczane bez dodatkowych opłat) - wymagane podanie nazwy strony
serwera WWW;
5) Internetowa aktualizacja zapewniona w języku polskim;
6) Wbudowana zapora internetowa (firewall) dla ochrony połączeń internetowych; zintegrowana z systemem konsola do
zarządzania ustawieniami zapory i regułami IP v4 i v6;
7) Wsparcie dla większości powszechnie używanych urządzeń peryferyjnych (drukarek, urządzeń sieciowych,
standardów USB, Plug & Play, WiFi);
8) Interfejs użytkownika działający w trybie graficznym w polskiej wersji językowej;
1 szt.
Strona 10 z 11
- CZĘŚĆ 14
9) Możliwość zdalnej instalacji, konfiguracji, administrowania oraz aktualizowania systemu;
10) Zabezpieczony hasłem hierarchiczny dostęp do systemu;
11) Zintegrowany z systemem moduł wyszukiwania informacji;
12) Zintegrowane z systemem operacyjnym narzędzie zwalczające złośliwe oprogramowanie;
13) aktualizacje dostępne u producenta nieodpłatnie bez ograniczeń czasowych i licencyjnych;
14) Wbudowany system pomocy w języku polskim;
15) Certyfikat (dokument) producenta oprogramowania potwierdzający poprawność pracy systemu operacyjnego z
dostarczonym sprzętem;
16) Możliwość przystosowania stanowiska dla osób niepełnosprawnych (np. słabo widzących);
17) Zdalna pomoc i współdzielenie aplikacji - możliwość zdalnego przejęcia sesji zalogowanego użytkownika celem
rozwiązania problemu z komputerem;
18) Rozwiązanie służące do automatycznego zbudowania obrazu systemu wraz z aplikacjami. Obraz systemu służyć ma
do automatycznego upowszechnienia systemu operacyjnego inicjowanego i wykonywanego w całości poprzez sieć
komputerową;
19) Rozwiązanie umożliwiające wdrożenie nowego obrazu poprzez zdalną instalację;
20) Graficzne środowisko instalacji i konfiguracji;
21) Zarządzanie kontami użytkowników sieci oraz urządzeniami sieciowymi tj. drukarki, modemy, woluminy dyskowe,
usługi katalogowe;
22) Oprogramowanie dla tworzenia kopii zapasowych (backup); automatyczne wykonywanie kopii plików z
możliwością automatycznego przywrócenia wersji wcześniejszej.
23) System operacyjny musi umożliwiać obsługę urządzenia oraz działanie oprogramowania wyspecyfikowanego w
Części 14 Pozycji C Podpozycji 1 niniejszej specyfikacji (bez zastosowania dodatkowych emulatorów oraz
konwerterów).
10. 4 x USB 2.0,
11. drukarka kolorowa laserowa o rozdzielczości nie gorszej niż 600 x 600 dpi w kolorze i w czerni.
Strona 11 z 11

załącznik nr 1.14: Opis przedmiotu zamówienia

Transkrypt

Podobne dokumenty

Informacja dotyczaca siwz

Dziekan Wydziału Pedagogiki, Psychologii i Socjologii Uniwersytetu

Zapytanie ofertowe – podczerwień

zgoda na uzyskanie prawa jazdy

Pytania 1 z dn. 7.05.2010 r. - Instytut Chemii Organicznej PAN

Zadanie Nr 2 – Remont Domu Ludowego w miejscowości Lipa

opis przedmiot zamówienia