docSPECYFIKACJA TECHNICZNA
download 
Reklamacja Transkrypt
SPECYFIKACJA TECHNICZNA
SPECYFIKACJA TECHNICZNA Załącznik nr 1 Zakup, dostawa i instalacja Spektrometru FT-Raman z zintegrowaną przystawką FT-IR oraz mikroskopu podczerwieni. 1. WYMAGANIA TECHNICZNE 1.1. Założenia ogólne Przedmiotem zakupu, dostawy oraz instalacji jest spektrometr ramanowski z transformacją Fouriera z zintegrowaną przystawką do pomiarów w podczerwieni oraz mikroskop podczerwieni FTIR typu "stand-alone" pracujący bez konieczności podłączania zewnętrznego spektrometru FTIR. Zakup jest realizowany dla Laboratorium Międzyuczelnianego w Stalowej Woli. W celu potwierdzenia, parametrów oferowanego przedmiotu zamówienia należy do oferty dołączyć opisy w formie papierowej, które w sposób jednoznaczny pozwolą stwierdzić, że parametry eksploatacyjno – techniczne oferowanego urządzenia będą zgodne z wymaganiami Zamawiającego. Urządzenie musi spełniać wymagania dyrektywy "Nowego Podejścia UE” - znak CE, oraz wymagania odpowiednich norm przedmiotowych. 1.2. Parametry techniczne urządzeń 1.2.1. SPEKTROMETR RAMANOWSKI – PODSTAWOWE WYMAGANIA TECHNICZNE Lp. 1. 2. 3. 4. Nazwa parametru Źródła Wielkość parametru Minimum dwa źródła promieniowania wybierane i przełączane komputerowo: lampa wolframowa na zakres 27.000÷2.000 cm-1 oraz źródło ceramiczne na zakres 9.600÷20 cm-1. Źródło ceramiczne o maksymalnej temp. pracy 1.577K, nie wymagające chłodzenia wodą Temperatura źródła kontrolowana elektronicznie. TAK Układ sterujący pozwalający na pracę w 3 trybach: oszczędnościowym, standardowym i maksymalnej energii. TAK TAK TAK Dzielnik wiązki (beamsplitter) 5. 6. Ge/KBr na zakres spektralny 7.800÷350 cm-1 i Si/CaF2 na zakres 14.500÷1.200 cm-1 Możliwość rozbudowy o dodatkowe beamsplittery gwarantujące pokrycie zakresu spektralnego co najmniej 27.000÷15 cm-1 TAK TAK Lp. Nazwa parametru Automatyczne rozpoznawanie rodzaju beamsplittera przez 7. Wielkość parametru TAK system 8. Miejsce na przechowanie 2 zapasowych beamsplitterów wewnątrz aparatu w głównym przedziale optyki – osuszanym i przedmuchiwanym Detektor TAK 9. Detektor DLaTGS z okienkiem KBr na zakres 12.000÷350 cm-1 Zdolność rozdzielcza TAK 10. 11. 12. Dwupozycyjny, komputerowo sterowany układ wyboru detektorów Łatwy dostęp i wymiana detektorów lepsza niż 0,09 cm-1 (pomiar szerokości połówkowej pasma CO) TAK TAK Interferometr Michelsona 13. 14. 15. 16. Interferometr Michelsona 90º TAK Nie wymagający zasilania sprężonym powietrzem, odporny na wibracje i wpływ zmian temperaturowych Justowany dynamicznie w trakcie skanowania z częstotliwością odpowiadającą częstotliwości przejść przez zero sygnału lasera nawet przy maksymalnej szybkości skanowania. Mechanizm dynamicznego justowania wykorzystujący wiązkę lasera He-Ne, padającą na trójpozycyjny detektor laserowy, do monitorowania i utrzymywania idealnego względnego położenia kątowego zwierciadeł. Inteligentny system włączania/wyłączania dynamicznego justowania interferometru w trakcie eksperymentów stepscan. Inne parametry TAK 17. Szybkość skanowania 18. System automatycznego rozpoznawania z poziomu oprogramowania akcesoriów (co najmniej: ATR – Golden Gate, Miracle, SplitPea, DRITFS, Specular Reflectance, PAS) oraz elementów systemu takich jak detektory i beamsplittery Możliwość rozbudowy na dalsze zakresy spektralne i do pracy z technikami łączonymi: GC/IR, TG/IR, mikroskopia IR Apertura regulująca moc wiązki, o powtarzalnej regulacji średnicy w zakresie 0÷100% co 1% Elementy układu optycznego montowane stabilnie na ławie optycznej za pomocą kołków pozycjonujących Monolityczne zwierciadła w układzie optycznym pokrywane metalem szlachetnym Poziom szumów (amplituda międzyszczytowa) dla detektora DLaTGS 19. 20. 21. 22. 23. TAK TAK regulowana w zakresie min. 0,16÷6,2 cm/s TAK TAK TAK TAK TAK niższy niż 8,68×10-6 Abs (sygnał/szum >50.000:1) Lp. Nazwa parametru Maksymalna szybkość zbierania danych 24. Wielkość parametru nie gorsza niż 65 skanów/s dla rozdzielczości 16 cm-1 (odstęp danych 8 cm-1) TAK 25. Układ optyczny szczelny i osuszany z okienkami oddzielającymi przedział próbek 26. Podłączenia do opcjonalnego przedmuchu spektrometru i przedziału próbek osuszonym gazem Port do pomiarów emisyjnych z automatycznym przełączaniem lustra Wysokociśnieniowa przystawka ATR z kryształem diamentowym wyposażona w odchylane urządzenie dociskowe o regulowanej sile docisku Automatyczny system wyprowadzania promieniowania do pomiarów w modułach zewnętrznych zarówno po obu stronach aparatu Moduł FT-Raman TAK 30. Detektor InGaAs nie wymagający chłodzenia TAK 31. Detektor germanowy chłodzony ciekłym azotem TAK 32. TAK 33. Automatyczne przełączenie detektorów z poziomu oprogramowania Standaryzowane źródło światła białego 34. Źródło 35. Filtr promieniowania Rayleighowskiego 36. Zakres spektralny przesunięcia Raman 37. Apertura wiązki z płynną kontrolą ustawienia przesłony z oprogramowania Możliwość rozbudowy o polaryzator wiązki promieniowania ramanowskiego, umożliwiający badanie właściwości polaryzacyjnych próbek z automatycznym sterowaniem przez oprogramowanie Zasilacz spektrometru umieszczony na zewnątrz aparatu 27. 28. 29. 38. 39. TAK TAK TAK TAK min. 2W laser 1.064 nm Nd:YVO4 o mocy regulowanej z poziomu oprogramowania z krokiem 0,1W TAK nie mniejszy niż 50÷3.500 cm-1 TAK TAK TAK Przystawka makro/mikroskopowa 40. Mocowanie próbek 41. Stolik z automatyczną kontrolą przesuwu w osiach X – Y – Z TAK 42. Wbudowaną kolorową kamerą wideo do obserwacji pola TAK 43. Rozdzielczości przestrzennej (wielkość plamki lasera) w pomiarach mikroskopowych Krok przesuwu stolika we wszystkich płaszczyznach nie gorsza niż 50 µm (1 mm w trybie makro) nie gorszy niż 20 µm 44. Przystawka całkowicie zamknięta w przedziale próbek, zapewniająca pełne bezpieczeństwo pracy z laserem Oprogramowanie 45. horyzontalne TAK Lp. Nazwa parametru Komunikacja aparatu z jednostką sterującą 46. Wielkość parametru USB 2.0 Program obsługi spektrometru zarówno do eksperymentów IR jak Ramanowskich co najmniej w języku polskim i angielskim. Automatyczny wybór wersji językowej przy logowaniu Logowanie użytkowników z hasłami i różnymi poziomami dostępu Funkcja automatycznego doboru wzmocnienia sygnału TAK Funkcje wykonywania eksperymentów i analizy danych we wszystkich rodzajach eksperymentów step-scan i dwukanałowych Podgląd widm zapisanych na dysku przed ich otwarciem (jak podgląd dokumentów w pakiecie Office) Funkcje przetwarzania widm: korekcja linii bazowej – automatyczna i manualna, dekonwolucja, odejmowanie spektralne, wyznaczanie pochodnych, znajdowanie maksimów, wygładzanie, transformacja Kramersa Kroniga, korekcja ATR, pomiar wysokości i położenia pasma, pomiar pola powierzchni pasm - bezwględnej i względnej Funkcja rozkładu pasm na składowe z algorytmem konwergencji typu Fletcher-Powell-McCormick, uwzględniająca co najmniej następujące typy pasm: Gaussian, Lorentzian, mieszany Gaussian/Lorentzian, Voigt Przeszukiwanie bibliotek w celu identyfikacji widma nieznanej próbki oraz/lub porównania z widmem wzorca Tworzenie własnych bibliotek użytkownika, TAK TAK 57. Moduł oprogramowania do analiz chemometrycznych obejmujący algorytmy analizy ilościowej i klasyfikacyjnej – min. następujące: do analiz ilościowych: * Prawo Lamberta-Beera * CLS (klasyczna metoda najmniejszych kwadratów) do analiz klasyfikacyjnych * Search Standards (przeszukiwanie biblioteki wzorców z analizą korelacji, także dla pochodnych widm) * Similarity match (wektorowa analiza podobieństwa) * QC compare (analiza korelacyjna widm uśrednionych) Moduł do tworzenia i wykonywania makroinstrukcji 58. Moduł spektralnej interpretacji widm TAK 59. Automatyczna korekcja zawartości CO2 i pary wodnej przez oprogramowanie bez konieczności zbierania widm referencyjnych Wyświetlanie widm w czasie rzeczywistym (w trakcie pomiaru) TAK 47. 48. 49. 50. 51. 52. 53. 54. 55. 56. 60. TAK TAK TAK TAK TAK TAK TAK TAK TAK Lp. 61. Automatyczne 62. 63. 64. Nazwa parametru Wielkość parametru wykonywanie testów jakości widm z informowaniem użytkownika m.in. o niepożądanych pasmach spektralnych w widmie tła, nieprawidłowym kształcie pasm, obecności pasm całkowicie absorbujących, nachyleniu linii podstawowej, zbyt małej energii interferogramu Aktywna diagnostyka w trakcie pomiaru z ciągłym monitorowaniem stanu elementów systemu i wizualnym wskaźnikiem poprawnej pracy aparatu Wbudowany edytor do tworzenia raportów według własnych szablonów Archiwizowanie gotowych raportów w nieedytowalnych skoroszytach elektronicznych z funkcją przeszukiwania skoroszytów umożliwiającą szybkie dotarcie do każdego raportu Wyposażenie dodatkowe TAK TAK TAK TAK 65. Uniwersalny zestaw bibliotek widm 66. Dewar transportowy na ciekły azot 67. Stół laboratoryjny z blatem z wkładkami wibroizolacyjnymi 68. 73. Zestaw komputerowy umożliwiający sterowanie systemem z drukarką System do analizy danych z licencją na pakiet oprogramowania biurowego Przystawka Nanotwardościomierz/ Scratch tester Możliwość wykonywania testów typu: pomiar twardości, scratch, zużycie, trybologiczne, pełzanie. Konstrukcja modułowa, możliwość równoczesnego zamontowania modułów do testów w skali Micro i Nano Zintegrowany wyłącznik bezpieczeństwa oraz manipulator kontrolujący ruch stolika XY Regulacja prześwitu przy pomocy sprężyny powietrznej 74. Zmotoryzowany stolik XY 75. Rozdzielczość pozycjonowania stolika 76. Maksymalny prześwit w osi Z 77. Maksymalna prędkość przesuwu w osi Z co najmniej 50 mm/min 78. Maksymalna prędkość dla testów typu scratch co najmniej 240 mm/s 79. Maksymalna długość dla testów typu scratch 80. Maksymalny zakres pomiaru głębokości co najmniej 90 mm z kontrolą optyczną 150 mm bez kontroli optycznej co najmniej 50 mm 81. Maksymalny rozmiar próbki co najmniej 300 mm 82. Moduł do testów nano do przyst. nanotwardościomierza Możliwość wykonywania testów typu: scratch, twardość. TAK 69. 70. 71. 72. obejmujący co najmniej 15.000 widm IR i 14.000 widm Ramana o pojemności min. 35 dm3 TAK TAK TAK TAK TAK TAK TAK o zakresie co najmniej 150×150 mm nie gorsza niż 10 nm co najmniej 140 mm Lp. Nazwa parametru Bezpośrednia kontrola obciążenia przy pomocy czujnika 83. Wielkość parametru 84. piezoelektrycznego, pracującego w pętli sprzężenia zwrotnego. Zakres obciążeń co najmniej: 0÷400 mN 85. Rozdzielczość czujnika siły nie gorsza niż: 0,08 μN 86. Zakres pomiaru głębokości co najmniej 100 μm 87. Rozdzielczość pomiaru głębokości 88. Rozszerzony zakres pomiaru głębokości 89. Wpływ zmiany temperatury otoczenia w trakcie badania 90. Maksymalna siła dla pomiarów tarcia nie gorsza niż: 0,003 nm co najmniej 50 mm (rozdzielczość 2,5 nm) nie większy niż <0,05 nm/sec co najmniej: 400 mN 91. Rozdzielczość czujnika siły dla pomiarów tarcia nie gorsza niż 0,03 μN 92. Certyfikat kalibracji producenta 93. Moduł do testów w skali Micro do przyst. nanotwardościomierza Możliwość wykonywania testów typu: scratch, twardość TAK TAK TAK 95. Bezpośrednia kontrola obciążenia przy pomocy czujnika piezoelektrycznego, pracującego w pętli sprzężenia zwrotnego. Zakres obciążeń 96. Rozdzielczość czujnika siły co najmniej: 0,05÷40 N nie gorsza niż: 0,6 mN 97. Zakres pomiaru głębokości co najmniej 300 μm 98. Rozdzielczość pomiaru głębokości nie gorsza niż: 0,2 nm 99. Rozszerzony zakres pomiaru głębokości 10 0. 10 1. 10 2. Maksymalna siła dla pomiarów tarcia co najmniej: 50mm (rozdzielczość 2,5 nm) co najmniej: 40 N Rozdzielczość czujnika siły dla pomiarów tarcia nie gorsza niż 0,6 mN 94. 10 3. 10 4. 10 5. 10 6. 10 7. Certyfikat kalibracji producenta TAK TAK Bezkontaktowy czujnik pomiaru głębokości do przyst. nanotwardościomierza Zakres pomiarowy co najmniej 300 μm Rozdzielczość nie gorsza niż 2 nm Możliwość instalacji różnych sond optycznych TAK Możliwość rejestracji obrazu (profilu) TAK Próbki wzorcowe TAK Mikroskopowy system obrazowania do przyst. nanotwardościomierza Lp. Nazwa parametru Wyposażony w kamerę cyfrową 10 8. 10 Zestaw obiektywów o powiększeniu 9. 11 Maksymalne dostępne powiększenie 0. Wielkość parametru o rozdzielczości co najmniej PAL 752x582 Min. x5, x20, x50 co najmniej 2000x Oprogramowanie do testów typu scratch do przyst. nanotwardościomierza TAK 111. Testy typu scratch przy stałym lub zmiennym obciążeniu 11 2. 11 3. 11 4. 11 5. 11 6. 11 7. 11 8. Możliwość podglądu panoramicznego TAK Wykonywanie testów seryjnych TAK Kontrola parametrów Możliwość eksportu zdjęcia próbki długość rysy, prędkość testu, obciążenie TAK Kontrola stolika XY TAK Możliwość programowania testów wielu próbek TAK Automatyczne raporty. TAK Oprogramowanie do pomiarów twardości do przyst. nanotwardościomierza TAK 11 Kontrola parametrów obciążenia 9. 12 0. 12 1. 12 2. Kontrola stolika XY TAK Wyznaczanie parametrów i właściwości mechanicznych TAK materiałów Możliwość programowania testów wielu próbek TAK Automatyczne raporty. Zestaw akcesoriów do testów typu scratch oraz do pomiarów twardości do przyst. nanotwardościomierza TAK 12 Wgłębnik diamentowy Vickers dla zakresu Nano i Micro 3. 12 4. 12 5. 12 6. 12 7. 12 8. 12 9. 13 0. Wgłębnik typu Berkovich dla zakresu Nano i Micro TAK Płtyka wzorcowa - silicat TAK Komputer klasy PC. TAK Zainstalowany system operacyjny TAK Monitor Kompresor o parametrach odpowiednich dla oferowanego urządzenia Stół antywibracyjny. min. 19” LCD. TAK TAK 1.2.2. SPEKTROMETR RAMANOWSKI – WYMAGANIA DODATKOWE Lp. Nazwa Opis TAK 4. Szkolenie (min. 3 dni) w zakresie obsługi przyrządu, urządzeń dodatkowych i pakietów oprogramowania w miejscu użytkowania aparatury w terminie uzgodnionym przez obie strony (dla min. 2 osób) Szkolenie (min. 2 dni) aplikacyjne w zakresie zaawansowanej obsługi aparatu i użytkowania oprogramowania w miejscu użytkowania aparatury w terminie uzgodnionym przez obie strony (dla min. 2 osób) Instrukcja obsługi i dokumentacja techniczna w języku polskim. Czas reakcji serwisu nie dłuższy niż 72 godziny1 5. Gwarancja na źródło ceramiczne 5 lat. minimum 5 lat 6. Gwarancja na interferometr: 5 lat. minimum 5 lat 7. Okres pełnej gwarancji na całe urządzenie i pozostałe jego podzespoły Bezpłatna obsługa serwisowa; co najmniej 2 lata 1. 2. 3. 8. TAK TAK TAK minimum 12miesięcy TAK 1.2.3. MIKROSKOP PODCZERWIENI – PODSTAWOWE WYMAGANIA TECHNICZNE Lp. 1. 2. 3. 4. 5. 6. 7. 8. 9. 10. 1 Nazwa parametru Wielkość parametru Zamknięta i osuszana optyka FTIR wraz z interferometrem dedykowana do mikroskopu IR znajdująca się w jednej obudowie z mikroskopem. Konwerter ADC Wskaźnik poziomu wilgotności Port do wymiany wkładów osuszających Optyka dichroiczna do równoczesnej obserwacji i pomiarów, zarówno w trybie transmisyjnym jak odbiciowym W pełni zautomatyzowana, kontrolowana komputerowo apertura z regulacją rozmiarów X, Y i kąta obrotu umożliwiająca jednoczesną obserwację obszaru aperturowanego i pełnego pola Automatyczne przełączanie trybu transmisyjnego i odbiciowego Automatyczne, sterowane z poziomu oprogramowania ogniskowanie na próbce obrazu wideo i maksymalizowanie sygnału IR Automatyczna kontrola kontaktu w trybie ATR z cyfrowym odczytem nacisku Niezależne systemy oświetlenia LED, sterowane z oprogramowania: TAK 24-bity zewnętrzny TAK TAK TAK TAK TAK TAK min.3: oświetlenie transmisyjne, odbiciowe i apertury Czas reakcji serwisu jest to okres czasu, jaki upływa od chwili zgłoszenia awarii do momentu przyjazdu serwisanta do miejsca zainstalowania urządzenia. Dotyczy to sytuacji, w której niemożliwe jest usunięcie awarii (usterki) na drodze konsultacji telefonicznych Lp. 14. Nazwa parametru Teleskopowe osłony obiektywu i kondensera zapewniające izolację od otoczenia strefy pomiaru próbki Zintegrowana kolorowa cyfrowa kamera CCD pikseli z komunikacją USB Zmotoryzowany stolik mikroskopu o wysokiej precyzji z wyposażony w system ułatwiający szybkie zakładanie/demontaż Ultraszybkie mapowanie 15. Maksymalna szybkość mapowania 16. Obiektyw 15x z wbudowanym uchwytem do łatwego zakładania opcjonalnego kryształu ATR 17. 19. Zmotoryzowany kondenser 15x zapewniający utrzymywanie wyjustowanego położenia i automatyczne przesuwanie do pozycji spoczynkowej w przypadku pomiarów odbiciowych Możliwość podłączenia opcjonalnego zewnętrznego modułu FTIR zapewniającego możliwość wykonywania standardowych pomiarów IR Detektor Dedykowany mikroskopowy detektor DLaTGS 20. Zakres spektralny detektora DLaTGS 21. Gwarantowany pomiar próbek o wielkości 22. Matrycowy detektor MCT-A zapewniający pomiary w mikroskopie Zakres spektralnym co najmniej 7.600÷715 cm-1 11. 12. 13. 18. 23. Wielkość parametru TAK Rozdzielczość min. XGA 1024 x 768 z zakresem przesuwu co najmniej 5 cm x 12,5 cm zebranie mapy obszaru 1,2×1,2 mm z rozdzielczością 25 µm w czasie nie dłuższym niż 20 s, przy rozdzielczości 16 cm-1 nie gorsza niż 10 kroków stolika na sekundę (rozdzielczość 16 cm-1, zakres spektralny 4000÷715 cm-1) o aperturze numerycznej co najmniej 0,7 o aperturze numerycznej co najmniej 0,7 TAK TAK co najmniej 7.600÷450 cm-1 od 50 µm TAK TAK 26. Stosunek sygnału do szumu dla parametrów: rozdzielczość przestrzenna 25 µm, 4 skany, rozdzielczość spektralna 16 cm-1, zakres 2.000÷2.100 cm-1 System automatycznego sterowanego z komputera przełączania detektorów Interferometr Typ Interferometru 27. Nie wymagający zasilania sprężonym powietrzem, TAK 28. Odporny na wibracje i wpływ zmian temperaturowych, TAK 29. Ustawiany dynamicznie w trakcie skanowania z częstotliwością odpowiadającą częstotliwości przejść przez zero sygnału lasera nawet przy maksymalnej szybkości skanowania. TAK 24. 25. > 500 :1 TAK Michelsona 90º Lp. Nazwa parametru Mechanizm dynamicznego ustawiania wykorzystujący wiązkę lasera Interferometr wyposażony w wielowarstwowy dzielnik wiązki Ge/KBr posiadający zakres Laser HeNe 633nm zapewniający precyzyjną kontrolę ruchu interferometru i utrzymywanie kalibracji liczb falowych uzyskiwanych widm Źródło Trwałe źródło ceramiczne nie wymagające chłodzenia wodą, Dostępne z zewnątrz bez zdejmowania obudowy, wymienne przez użytkownika Oprogramowanie Pomiar widm i podgląd pomiaru w czasie rzeczywistym Wielkość parametru TAK TAK 44. Automatyczna korekcja atmosferyczną w czasie rzeczywistym Przeszukiwanie bibliotek widm w czasie rzeczywistym w trakcie podglądu Wyświetlanie obrazu cyfrowego z różnymi ustawieniami kamery CCD dopasowanymi do różnych próbek Przechwytywanie obrazu wideo, pomiar wielkości obiektów, wpisywanie komentarzy na obrazach Niezależna kontrola oświetlenia LED przy pracy w dbiciu, transmisji i dla apertury System ogniskowania automatycznego i ręcznego z poziomu oprogramowania Autoogniskowanie kondensera i przesuwanie do pozycji spoczynkowej Automatyczna kontrola rozmiarów x-y apertury i jej kąta obrotu Funkcje mapowania i kontroli obrazowania spektralnego 45. Praca z wirtualnym (w oprogramowaniu) joystickiem TAK 46. Automatyczne ustawianie kontaktu ATR i jego zwalniania z definiowanym poziomem wartości progowej nacisku Podgląd slajdu mikroskopowego z szybkim ładowaniem i wysuwaniem próbek Automatyczne lokalizowanie pozycji tła i jego pomiar w trybie odbiciowym Standardowe procedury prowadzące użytkownika za rękę w typowych pomiarach mikroanalizy IR Tworzenie i analiza map spektralnych, w tym: map liniowych, map obszarów, zestawów punktów dyskretnych wskazanych przez użytkownika Automatyczne tworzenie map mozaikowych (sklejanych) z obszarów większych niż pole obserwacji Interaktywna kontrola przesuwu stolika (m.in. przesunięcie stolika do punktu wskazanego myszą) Kalibracja wymiarów próbek TAK Tworzenie map spektralnych przekrojowych (konturowych) i trójwymiarowych TAK 30. 31. 32. 33. 34. 35. 36. 37. 38. 39. 40. 41. 42. 43. 47. 48. 49. 50. 51. 52. 53. 54. co najmniej 7.600÷375 cm-1 TAK TAK TAK TAK TAK TAK TAK TAK TAK TAK TAK TAK TAK TAK TAK TAK TAK TAK TAK Lp. Nazwa parametru Analiza chemometryczna map metodą PCA (principle component analysis) i MCR (Multivariate Curve Resolution) Tworzenie obrazów chemicznych według położeń maksimów, wysokosci/pola pasm czy korelacji z widmami referencyjnymi Przełączanie trybów pomiarowych: odbicie, transmisja, ATR Wielkość parametru TAK TAK 60. Obsługa mikroskopu i opcjonalnego zewnętrznego modułu pomiarowego Kontrola opcjonalnego polaryzatora światła widzialnego (wstawianie w wiązkę i kąt obrotu) Standardowe funkcje przetwarzania widm 61. Przeszukiwanie bibliotek widm TAK 62. Menedżer bibliotek z możliwością tworzenia własnych bibliotek widm Tworzenie elektronicznych raportów TAK 64. Narzędzia odczytu i zapisu plików i bibliotek widm w różnych formatach Wyposażenie dodatkowe TAK 65. TAK 66. Podstawowy zestaw do przygotowania próbek mikroskopowych (co najmniej: pinceta, skalpel, płytki solne 13mm BaF2, slajdy mikroskopowe 1"x 3" do pomiarów transmisyjnych i odbiciowych) Dodatkowy joystick zewnętrzny 67. Stół laboratoryjny z blatem z wkładkami wibroizaolacyjnymi TAK 68. Zestaw komputerowy umożliwiający sterowanie systemem z drukarką System do analizy danych z licencją na pakiet oprogramowania biurowego TAK 55. 56. 57. 58. 59. 63. 69. TAK TAK TAK TAK TAK TAK TAK 1.2.2. MIKROSKOP PODCZERWIENI – WYMAGANIA DODATKOWE Lp. 1. 2. 3. 4. 2 Nazwa Opis Szkolenie (min. 3 dni) w zakresie obsługi przyrządu, urządzeń dodatkowych i pakietów oprogramowania w miejscu użytkowania aparatury w terminie uzgodnionym przez obie strony (dla min. 2 osób) Szkolenie (min. 2 dni) aplikacyjne w zakresie zaawansowanej obsługi aparatu i użytkowania oprogramowania oraz chemometrii w miejscu użytkowania aparatury lub zewnętrznym ośrodku w terminie uzgodnionym przez obie strony (dla min. 2 osób) Instrukcja obsługi i dokumentacja techniczna w języku polskim. Czas reakcji serwisu nie dłuższy niż 48 godzin2 TAK TAK TAK TAK Czas reakcji serwisu jest to okres czasu, jaki upływa od chwili zgłoszenia awarii do momentu przyjazdu serwisanta do miejsca zainstalowania urządzenia. Dotyczy to sytuacji, w której niemożliwe jest usunięcie awarii (usterki) na drodze konsultacji telefonicznych Lp. Nazwa 5. Gwarancja na interferometr 6. Okres pełnej gwarancji na całe urządzenie i pozostałe jego podzespoły Opis minimum 3 lata minimum 12 miesięcy 2. PARAMETRY TRANSPORTOWO – INSTALACYJNE Koszt transportu, instalacji i uruchomienia urządzenia ponosi dostawca. Odbiór urządzenia nastąpi w oparciu o przeprowadzone badanie detalu dostarczonego przez zamawiającego. 3. TERMIN WYKONANIA Czas realizacji dostawy urządzenia:– 1 czerwiec 2013 r – 31 październik 2013 r.
