Logo IFPAN po polsku - Instytut Fizyki PAN

DZPIE/012/2014
Specyfikacja istotnych warunków
zamówienia publicznego
Przedmiot postępowania: Spektrometr fourierowski klasy „research” na podczerwień z
akcesoriami
38.43.30.00-9
Kod CPV:
Postępowanie jest prowadzone w trybie przetargu
Tryb udzielenia
nieograniczonego zgodnie z Prawem Zamówień Publicznych z
zamówienia:
dn. 29 stycznia 2004 r.
Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk
Inwestor/Kupujący:
02-668 Warszawa, Al. Lotników 32/46.
NIP: 525-000-92-75; Regon: P-000326061
Ochrona prawna SIWZ: Dokument chroniony prawem autorskim
© Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk ©
§1. Opis przedmiotu zamówienia:
Przedmiotem zamówienia jest dostawa fourierowskiego spektrometru klasy „research” na
podczerwień z akcesoriami.
Wymagania techniczne (specyfikacja):
Spektrometr ma działać na zasadzie interferometru Michelsona 90º. Interferometr ma działać
bez konieczności zasilania sprężonym powietrzem, ma być odporny na wibracje i wpływ
zmian temperaturowych. Interferometr ma być justowany dynamicznie w trakcie skanowania
z częstotliwością odpowiadającą częstotliwości przejść przez zero sygnału lasera nawet przy
maksymalnej szybkości skanowania. Interferometr ma mieć mechanizm dynamicznego
justowania wykorzystujący wiązkę lasera He-Ne, padającą na trójpozycyjny detektor
laserowy, do monitorowania i utrzymywania idealnego względnego położenia kątowego
zwierciadeł.
Spektrometr ma osiągać zdolność rozdzielczą lepszą niż 0,1 cm-1 ustalaną poprzez pomiar
szerokości połówkowej pasma CO.
W skład wyposażenia spektrometru mają wchodzić następujące elementy:
 Źródło promieniowania: lampa wolframowa na zakres 27 000 – 2000 cm-1
 Źródło ceramiczne z azotku krzemu na zakres, co najmniej 9 600 – 20 cm-1 nie
wymagające chłodzenia wodą. Monolityczna konstrukcja źródła ceramicznego ma
zapewniać brak migracji punktu aktywnego. Średni czas życia > 10 lat.
 Automatyczny 4-pozycyjny układ przełączający wbudowane źródła i porty emisyjne.
 Automatyczny zmieniacz dzielników wiązki (beamsplitterów), mieszczący na raz co
najmniej 3 beamsplittery. W zestawie beamsplitter Ge/KBr na zakres spektralny nie
mniejszy niż 7 800 - 350 cm-1. Wymagana kompatybilność z posiadanymi przez
Zamawiającego beamsplitterami Solid Substrate (part no. 840-129400) i CaF2 (part
no. 840-129500) ze spektrometru Thermo-Nicolet Nexus 670 FTIR. W zestawie mają
być dostarczone wszystkie elementy niezbędne do zamontowania tych beamsplitterów
w zmieniaczu. System ma automatycznie rozpoznawać rodzaj beamsplittera.
 Trójpozycyjny automatyczny układ zmiany detektorów.
 Wbudowany detektor DLaTGS z okienkiem KBr na zakres 12 000 - 350 cm-1.
 Wysokoczuły detektor NIR InGaAs na zakres 12 000 - 3 800 cm-1 chłodzony
termoelektrycznie.
 Wysokoczuły detektor IR MCT chłodzony ciekłym azotem na zakres 11 700 – 600
cm-1.
 Podłączenia do przedmuchu spektrometru i przedziału próbek osuszonym powietrzem.
 Zestaw do przedmuchu obejmujący: generator powietrza bez CO2 i pary wodnej o
wydajności co najmniej 34 l/min, wąż pneumatyczny, złączki, reduktor ciśnienia z
filtrem ze wskaźnikiem stopnia osuszenia i regulator przepływu z rotametrem,
bezolejowy kompresor powietrza z silnikiem o mocy 2,2 kW sprężający do 10
atmosfer z prędkością 3,4 l/sek. Elementy, do wymiany w trakcie eksploatacji
osuszacza- wkłady zapasowe do filtra usuwającego wodę z powietrza (filter tubes) 4
sztuki.
 Wbudowana na stałe w aparat automatyczna przystawka do testowania spektrometru z
kołem z wzorcami, sterowana z poziomu oprogramowania, zawierająca co najmniej
następujące wzorce:
­ folia polistyrenowa o grubości ok. 38µm
­ filtr szklany typu NG11
 Polaryzator ręczny na podłożu KRS-5 z regulacją kąta obrotu i podziałką kątową.
 Okienko CsI o średnicy 50mm i grubości 5mm - 2 szt., okienko CsI o średnicy 25mm i
grubości 3mm - 1 szt.
 Pełny program dedykowany do obsługi spektrometru.
 Kompletny zestaw do sterowania i obsługi spektrometru z drukarką laserową czarnobiałą.
 System operacyjny Windows 7 professional (zgodny z oprogramowaniem
spektrometru),
 Mini Tower Chassis,
 64 bitowy procesor 4 rdzeniowy taktowany zegarem 3,3 GHz ,
 8GB RAM 1600MHZ DDR3,
 1TB Hard Drive,
 16X DVD+/-RW,
 Komunikacja: minimum 5 zewnętrznych portów USB 2, 3 porty USB 3, 1 Serial
Port, 1 VGA Port, 2 Display Port,
 4 Expansion Slots:1 Full Height PCI,1 Full Height PCIe x1, 2 Full Height PCIe
x16
 22" LCD monitor
 Drukarka: format A4, szybkość druku 15 str/min lub wyższa, rozdzielczość 1200
dpi.
 Zestaw komputerowy do analizy danych w trybie „off line”.
 System operacyjny Windows 7,
 Obudowa odpowiednia dla komputera stacjonarnego,

Procesor czterordzeniowy, taktowanie 3.2 GHz (lub lepiej) z co najmniej 4 MB
cache,
 Pamięć RAM
co najmniej 4 GB,
 Dysk twardy
1000 GB,
 Napęd optyczny Nagrywarka DVD+/-RW,
 Łączność LAN 10/100/1000 Mbps lub lepsza,
 Komunikacja: USB 2.0 – minimum 4 szt., USB 3.0 – co najmniej 2 szt.,
 22" LCD monitor, rozdzielczość 1920x1200 (ewentualnie1920x1080).
Spektrometr ma spełniać następujące wymagania:
 Wymagana kompatybilność z posiadanymi przez Zamawiającego detektorami ze
spektrometru Thermo-Nicolet Nexus 670 FTIR: detektor DTGS z okienkiem
polietylenowym na daleką podczerwień (part no. 840-070700), detektor InGaAs na
bliska podczerwień (part no. 840-073600). System musi zapewniać możliwość
montowania tych detektorów bez konieczności modyfikacji czy przeróbek.
 System ma obsługiwać co najmniej 3 wbudowane, automatycznie przełączane
detektory.
 System ma automatycznie rozpoznawać z poziomu oprogramowania akcesoria oraz
elementy systemu takie jak detektory i beamsplittery.
 Apertura regulująca moc wiązki, o powtarzalnej regulacji średnicy w zakresie 0-100%
co 1%.
 Elementy układu optycznego montowane stabilnie na ławie optycznej za pomocą
kołków pozycjonujących.
 Monolityczne zwierciadła w układzie optycznym. Zwierciadła mają być pokryte
złotem.
 Poziom szumów (amplituda międzyszczytowa) nie przekraczający 8 x 10 -6Abs
(sygnał/szum  50 000 : 1) dla detektora DLaTGS, rozdzielczości 4 cm-1 przy
pomiarze 1 min.
 Maksymalna szybkość zbierania danych nie gorsza niż 90 skanów/s dla rozdzielczości
16 cm-1 (odstęp danych 8 cm-1).
 Układ optyczny szczelny i osuszany z automatycznie otwieranymi/zamykanymi
przesłonami między przedziałem próbek a wnętrzem spektrometru.
 Duża komora pomiarowa o wymiarach podstawy co najmniej 21 x 26 cm z
wysokością wiązki 3.5" ponad podstawą; proste zdejmowanie pokrywy przedziału
próbek, bez używania narzędzi.
 Możliwość rozbudowy na dalsze zakresy spektralne (zakres maksymalny nie gorszy
niż 27 000 - 15 cm-1) i do pracy z technikami łączonymi: GC/IR, TG/IR, FT-Raman,
mikroskopia IR.
 Zasilacz spektrometru umieszczony na zewnątrz aparatu eliminujący wprowadzanie
napięcia 230V prądu zmiennego do aparatu i zapewniający podwyższoną stabilność
termiczną systemu.
 Komunikacja aparatu z jednostką sterującą przez szybki port USB 2.0 lub lepszy.
 Program dedykowany do obsługi spektrometru co najmniej w języku polskim i
angielskim zgodny z systemem operacyjnym Windows XP, Vista, 7/8 32-bit i 64-bit.
Licencja 10-stanowiskowa.
Wymagana charakterystyka:
­ funkcja automatycznego doboru wzmocnienia sygnału;
­ podgląd widm zapisanych na dysku przed ich otwarciem (jak podgląd
dokumentów w pakiecie Office);
­ dostęp do surowych danych łącznie z interferogramem z możliwością ich
przenoszenia (eksportu) do zewnętrznych programów w postaci danych ASCII;
­ funkcje przetwarzania widm: korekcja linii bazowej – automatyczna i manualna,
dekonwolucja, odejmowanie spektralne, wyznaczanie pochodnych, znajdowanie
maksimów, wygładzanie, transformacja Kramersa Kroniga, pomiar wysokości i
położenia pasma, pomiar pola powierzchni pasm - bezwzględnej i względnej;
­ funkcja rozkładu pasm na składowe uwzględniająca co najmniej następujące typy
pasm: Gaussian, Lorentzian, mieszany Gaussian/Lorentzian, Voigt;
­ moduł do tworzenia i wykonywania makroinstrukcji;
­ automatyczna korekcja zawartości CO2 i pary wodnej przez oprogramowanie bez
konieczności zbierania widm referencyjnych;
­ wyświetlanie widm w czasie rzeczywistym (w trakcie pomiaru);
­ automatyczne wykonywanie testów jakości widm z informowaniem użytkownika
m.in. o niepożądanych pasmach spektralnych w widmie tła, nieprawidłowym
kształcie pasm, obecności pasm całkowicie absorbujących, nachyleniu linii
podstawowej, zbyt małej energii interferogramu;
­ aktywna diagnostyka w trakcie pomiaru z ciągłym monitorowaniem stanu
elementów systemu i wizualnym wskaźnikiem poprawnej pracy aparatu;
­ wbudowany edytor do tworzenia raportów według własnych szablonów.
Oferowany zestaw powinien zawierać kable łączące i zasilające oraz instrukcję obsługi.
Oferowany zestaw powinien być urządzeniem komercyjnym, a nie prototypem.
Oferowany zestaw powinien być fabrycznie nowy.
Powyższy zestaw powinien być dostosowany do zasilania prądem 230 V/50 Hz.
Gwarancja na dostarczony zestaw nie krótsza niż 12 miesięcy od dnia dostawy, dodatkowa
gwarancja na interferometr, na źródło ceramiczne z azotku krzemu - nie mniej niż 5 lat.
§2. Termin wykonania zamówienia:
Wymaga się, aby ostateczne dostarczenie przedmiotu zamówienia nastąpiło w terminie do 14
tygodni od daty podpisania umowy.
§3. Warunki udziału w postępowaniu oraz opis sposobu dokonywania
oceny spełniania tych warunków:
1
O udzielenie zamówienia mogą ubiegać się wykonawcy, którzy spełniają warunki z Art.
22 ust. 1 Ustawy PZP, dotyczące:
1) posiadania uprawnień do wykonywania określonej działalności lub czynności,
jeżeli przepisy prawa nakładają obowiązek ich posiadania;
2) posiadania wiedzy i doświadczenia;
3) dysponowania odpowiednim potencjałem technicznym oraz osobami zdolnymi
do wykonania zamówienia;
4) sytuacji ekonomicznej i finansowej,
i nie podlegają wykluczeniu z postępowania z trybie Art. 24 ust. 1.
§4. Wykaz oświadczeń i dokumentów, jakie maja dostarczyć wykonawcy w
celu potwierdzenia spełniania tych warunków:
1
2
3
Oświadczenie o spełnianiu warunków udziału w postępowaniu zgodnie z Art. 22 ust. 1
Ustawy PZP.
Oświadczenie o braku podstaw do wykluczenia z postępowania zgodnie z Art. 24 ust. 1
Ustawy PZP.
Informacja o przynależności lub braku przynależności do grupy kapitałowej wraz z listą
podmiotów należących do tej grupy kapitałowej.
§5. Informacje o sposobie porozumiewania się zamawiającego z
wykonawcami, a także wskazanie osób uprawnionych do
porozumiewania się z wykonawcami:
1
2
Zamawiający będzie kontaktował się z wykonawcami drogą faksu, lub na piśmie.
Osoby przewidziane do kontaktu z wykonawcami:
 Maciej Zajączkowski – fax: (+48 22) 847 00 82.
§6. Termin związania ofertą:
1
Zamawiający ustala termin związania ofertą na okres 30 dni od daty terminu składania
ofert.
§7. Opis sposobu przygotowania oferty:
1
2
3
4
5
6
7
Oferta powinna być sporządzona w języku polskim lub angielskim z zachowaniem
formy pisemnej, trwałą, czytelną techniką.
Każdy wykonawca może złożyć tylko jedną ofertę. Wykonawca, który przedłożył więcej
niż jedną ofertę, zostanie wyłączony z postępowania.
Nie dopuszcza się składania ofert częściowych.
Nie dopuszcza się składania ofert wariantowych.
Oferta powinna zawierać:
 specyfikację techniczną urządzeń potwierdzającą, że urządzenia spełniają
wymagania techniczne wymienione w § 1;
 termin dostawy;
 warunki gwarancji;
 dostępne materiały informacyjne (np. broszury, instrukcje) zawierające opisy
oraz rysunki lub zdjęcia oferowanych akcesoriów;
 cenę.
Wszystkie zapisane strony oferty powinny być ponumerowane, podpisane i zszyte.
Oferent powinien zamieścić ofertę w kopercie z adresem i nazwą Zamawiającego oraz
Oferenta, a także napisem:
"Postępowanie o udzielenie zamówienia publicznego w trybie przetargu
nieograniczonego na spektrometr fourierowski klasy „research”
na podczerwień z akcesoriami [DZPIE/010/2014]"
§8. Miejsce oraz termin składania i otwarcia ofert:
1
2
3
Ofertę należy złożyć w siedzibie Zamawiającego, budynek I pok. Nr. 101 (kancelaria
ogólna) w godzinach 9.00 ÷ 15.00 w dni robocze, do dnia 14 kwietnia 2014 r., do godz.
12:00.
W przypadku wysłania oferty pocztą (lub pocztą kurierską) za termin złożenia przyjmuje
się termin otrzymania oferty, a nie datę stempla pocztowego (nadania).
Otwarcie ofert odbędzie się w ostatnim dniu ich składania, w siedzibie Zamawiającego,
budynek I pok. 107 o godzinie 13:00.
§9. Opis sposobu obliczenia ceny:
1
2
Cena wyrażona w walucie polskiej PLN.
Cena powinna uwzględniać:
 koszt towaru na warunkach DDP Warszawa,
 koszty opakowania,
 koszty ubezpieczenie i transportu towaru do IF PAN,
 koszty instalacji i szkolenia instalacyjnego.
§10. Opis kryteriów, którymi zamawiający będzie się kierował przy
wyborze oferty w celu zawarcia umowy w sprawie zamówienia
publicznego:
1
2
3
Cena
100 pkt.
Przy przeliczaniu punktów zamawiający posłuży się wzorem:
C min
 100
Cbad
gdzie:
Cmin – cena najtańszej oferty
Cbad – cena oferty badanej
Oferta z najwyższym bilansem punktowym, zostanie uznana za najkorzystniejszą.
§11. Informacje o formalnościach, jakie powinny zostać dopełnione po
wyborze oferty w celu zawarcia umowy w sprawie zamówienia
publicznego:
1
Wykonawca, który wygra postępowanie o udzielenie zamówienia publicznego,
powinien podpisać umowę w ciągu 7 dni od daty zakończenie terminu na wnoszenie
odwołań, na warunkach określonych w niniejszej specyfikacji istotnych warunków
zamówienia, jednak nie później niż termin związania ofertą.
§12. Istotne dla stron postanowienia, które zostaną wprowadzone do treści
zawieranej umowy w sprawie zamówienia publicznego:
1
2
3
4
5
Warunki dostawy: DDP Instytut Fizyki PAN.
Warunki płatności: 100% w ciągu 30 dni od daty odbioru protokolarnego, na podstawie
faktury.
W przypadku wystąpienia zwłoki w wykonaniu przedmiotu umowy, Wykonawca
zobowiązuje się zapłacić na rzecz Zamawiającego kary umowne w wysokości 0,1%
wartość umowy za każdy dzień zwłoki, począwszy od pierwszego dnia następującego po
umownym terminie wykonania. Suma kar umownych nie może przekroczyć 10%
wartości umowy.
W przypadku wystąpienia opóźnienia płatności Kupujący zobowiązany jest zapłacić na
rzecz Sprzedającego odsetki zgodnie z polskim prawem.
Wszelkie spory wynikłe na tle umowy będzie rozstrzygał sąd właściwy dla siedziby
Zamawiającego.
§13. Pouczenie o środkach ochrony prawnej:
Środki ochrony prawnej, przysługujące wszystkim wykonawcom, opisane są w Dziale VI
Prawa Zamówień Publicznych z dn. 29 stycznia 2004r (Dz. U. Nr 19, poz. 177 z dnia 9
lutego.
……………………………
……………………………
pieczęć adresowa Oferenta
data
Oświadczenie
Przystępując do postępowania w sprawie udzielenia zamówienia publicznego oświadczam/y,
że spełniam/y warunki udziału w niniejszym postępowaniu zawarte w art. 22 ust. 1
Ustawy - Prawo Zamówień Publicznych.
…………………………
podpis i pieczęć imienna Oferenta
……………………………
……………………………
pieczęć adresowa Oferenta
data
Oświadczenie
Przystępując do postępowania w sprawie udzielenia zamówienia publicznego oświadczam/y,
że nie podlegam/y wykluczeniu zgodnie z Art. 24 ust. 1 Ustawy - Prawo Zamówień
Publicznych.
…………………………
podpis i pieczęć imienna Oferenta
……………………………
……………………………
pieczęć adresowa Oferenta
data
Informacja
Przystępując do postępowania w sprawie udzielenia zamówienia publicznego informuję/emy,
iż zgodnie z art. 26 ust. 2d ustawy z dnia 29 stycznia 2004 r. Prawo zamówień publicznych
 Nie przynależymy do grupy kapitałowej.1
 Przynależymy do grupy kapitałowej, a lista podmiotów należących do tej grupy
kapitałowej zawarta jest w załączniku do niniejszej informacji.1
…………………………
podpis i pieczęć imienna Oferenta
1
Niepotrzebne skreślić